JPS62195929A - Switch element for ladder resistance network - Google Patents

Switch element for ladder resistance network

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JPS62195929A
JPS62195929A JP3879786A JP3879786A JPS62195929A JP S62195929 A JPS62195929 A JP S62195929A JP 3879786 A JP3879786 A JP 3879786A JP 3879786 A JP3879786 A JP 3879786A JP S62195929 A JPS62195929 A JP S62195929A
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JP
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switch element
potential
buffer circuit
resistance
increase
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JP3879786A
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Yoshihiro Iwamoto
岩本 美宏
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

PURPOSE:To decrease the element dimension and the pattern area by using a push-pull buffer circuit formed by an N-channel MOS transistor (TR) only as a switch element. CONSTITUTION:A push-pull buffer circuit BUF comprising N-channel MOS TRs N3, N4 is used as a switch element SWi, and a bit ai of a digital input and an output ai' of a CMOS inverter I1 of the pre-stage are given as complementary input signals. The TRs N3, N4 are connected in series between a reference voltage Vref node and a VSS potential node in the buffer circuit BUF and each base is connected to respective sources. Since the potential of the base of the TR N3 at the reference voltage node side of the buffer circuit BUF is the same potential as the source, even under the condition that there is a potential difference between the power potential VDD for each bit of the digital input and a switch element reference potential Vref, no back gate bias is applied, the effect of the back gate bias effect (increase in on-resistance) is not received, and the increase in the pattern area attended with the increased current amplification factor beta to suppress the increase of the on-resistance is not incurred.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分If) 本発明は、各種電子装置に使用されるラダー抵抗型デジ
タル・アナログ( D/A )変換回路に係り、特に集
積回路化されたラダー抵抗網用のMOS型スイッチ回路
に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application If) The present invention relates to a ladder resistance type digital-to-analog (D/A) conversion circuit used in various electronic devices, and in particular to an integrated circuit. The present invention relates to a MOS type switch circuit for a ladder resistance network.

(従来の技術) この種の従来のラダー抵抗型D/A変換回路は、第2図
に示すように抵抗R。−Rnと抵抗r1〜rn−1とが
梯子形配列となるように接続され、入力端(抵抗R。の
一端)1に入力電圧v1が加えられ、抵抗R1〜Rnの
各端にはそれぞれスイッチ素子SW1〜SWnを介して
デ・ゾタル入力の各ピッ}a1〜&nが加えられ、出力
端(抵抗ryl−1と抵抗Rnとの相互接続点)2から
アナログ変換出力電圧Voutを得るように構成されて
いる。この場合、抵抗rH(1;=1。
(Prior Art) This type of conventional ladder resistance type D/A conversion circuit has a resistor R as shown in FIG. -Rn and resistors r1 to rn-1 are connected in a ladder arrangement, input voltage v1 is applied to input terminal (one end of resistor R) 1, and each terminal of resistor R1 to Rn is connected to a switch. Each pitch {a1~&n of the dezotal input is applied via the elements SW1~SWn, and the analog conversion output voltage Vout is obtained from the output terminal (interconnection point between the resistor ryl-1 and the resistor Rn) 2. has been done. In this case, the resistance rH(1;=1.

・・・n−1)の抵抗値をRとすれば、抵抗J(+ =
0。
... n-1) resistance value is R, then resistance J(+ =
0.

・・・n)の抵抗値は2Rに選定されている。いま、デ
ジタル入力の任意のビットal(1≦l≦n)の電位を
V+(=”01レペル)あるいはV2(=”19レベル
)に設定すると、出力電圧Voutは・・・(1) となる。但し、a(−=V1のときに、 、 = n 
Q″、a 1 = V2のときに81=″1”である。
. . . The resistance value of n) is selected to be 2R. Now, if the potential of any bit al (1≦l≦n) of the digital input is set to V+ (=”01 level) or V2 (=”19 level), the output voltage Vout will be...(1) . However, when a(-=V1, , = n
Q″, when a 1 =V2, 81=″1″.

上記したように、第2図に示したラダー抵抗型D/A変
換回路は、各ビット毎に対応して設けられた抵抗値がR
,2Rの2種の抵抗を梯子形抵抗回路網となるように接
続しているので、抵抗値は2種類だけで済み、回路構成
も簡単であり、集積回路化するのに極めて好都合である
という特徴があり、一般的に広く用いられている。また
、上記回路の特性面での特徴としては、梯子形抵抗回路
網において正確な電流の分布を行なう必要があるので、
抵抗値R,2Rの絶対精度はそれほど必要ないが、抵抗
値R,2Hの相対比(抵抗比)は高精度が要求され、こ
の要求はD/A変換の分解能が増すほど厳しくなる。ま
た、各ビット毎に対応して設けられた抵抗値2Rの抵抗
に接続される電圧モードのスイッチ素子のオン抵抗値が
基準となる抵抗値RK対して無視できない場合はD/A
変換誤差の原因となることが知られている。したがって
、スイッチ素子のオン抵抗値を前記基準抵抗値Hに対し
て十分に小さくする必要がある。
As mentioned above, in the ladder resistance type D/A conversion circuit shown in FIG. 2, the resistance value provided corresponding to each bit is R.
, 2R, two types of resistors are connected to form a ladder-shaped resistor network, so only two types of resistance values are required, the circuit configuration is simple, and it is extremely convenient for integrated circuits. It has characteristics and is widely used. In addition, the characteristic feature of the above circuit is that it is necessary to perform accurate current distribution in the ladder resistor network.
Although the absolute accuracy of the resistance values R and 2R is not so necessary, the relative ratio (resistance ratio) of the resistance values R and 2H is required to have high accuracy, and this requirement becomes stricter as the resolution of D/A conversion increases. In addition, if the on-resistance value of the voltage mode switch element connected to the resistor with a resistance value of 2R provided corresponding to each bit cannot be ignored with respect to the reference resistance value RK, the D/A
This is known to cause conversion errors. Therefore, it is necessary to make the on-resistance value of the switch element sufficiently smaller than the reference resistance value H.

ところで、従来、前記スイッチ素子s′w1〜swnは
それぞれたとえば第3図に示すようにN型シリコン基板
上に作られてカスケード接続された2段(Z) 0MO
8(7ハーク11 、 I2が用いられていた。
By the way, conventionally, the switch elements s'w1 to swn are each made on an N-type silicon substrate and cascade-connected in two stages (Z)0MO, as shown in FIG.
8 (7 Haak 11, I2 was used.

前段のCMOSインバータI1は、vDD電位ノードと
Vllll電位端との間にPチャネルMOsトランリス
タP1とNチャネルMOS トランジスタN1とが直列
に接続されてなり、それぞれの基板はそれぞれのソース
Sに接続されておシ、f−ト相互接続端(大刀ノード)
にrジタル入力のビットa1が与えられる。
The preceding stage CMOS inverter I1 has a P-channel MOS transistor P1 and an N-channel MOS transistor N1 connected in series between the vDD potential node and the Vllll potential node, and each substrate is connected to the respective source S. Oshi, f-to interconnection end (long sword node)
is given bit a1 of the r digital input.

後段のCMOSインバータI2は、基準電圧Vrefノ
ードとvs8電位端との間にPチャネルMO8トランジ
スタP2とNチャネルMOS )ランリスタN2とが直
列に接続され、その出力ノードが抵抗値2Rの抵抗R1
の一端に接続されている。この場合、NチャネルMOS
 )ランリスタN2は基板がソースSfC接続されてい
るが、PチャネルMO8)ランリスタP2の基板はvD
D電位ノードに接続されている。上記CMOSインバー
タh + I2をスイッチ素子として用いたD/A変換
回路において、デ・ゾタル入力の各ピッ)alの゛0″
レベルが接地電位、′1″レベルがvDD電位(たとえ
ば5v)、出力電圧Voutの最大振幅が2vとすると
、基準電圧Vref= ”l、 v 、 V  電位は
s 接地電位に設定される。一般に、MOS )ランノスタ
におけるオン抵抗R6Nは、非飽和領域1vcs−vt
l>IVD81(ここで、vo8はダート・ソース間電
圧、vTはゲート閾値電圧、VDllはドレイン・ソー
ス間電圧)でのオン抵抗であり、次式のように表わされ
る。
In the subsequent CMOS inverter I2, a P-channel MO8 transistor P2 and an N-channel MOS) run resistor N2 are connected in series between the reference voltage Vref node and the vs8 potential end, and the output node thereof is connected to a resistor R1 having a resistance value of 2R.
connected to one end of the In this case, N-channel MOS
) The substrate of run lister N2 is connected to the source SfC, but the substrate of P channel MO8) run lister P2 is connected to vD.
Connected to the D potential node. In the D/A conversion circuit using the above CMOS inverter h + I2 as a switching element, each pin of the dezotal input
Assuming that the level is the ground potential, the '1'' level is the vDD potential (for example, 5V), and the maximum amplitude of the output voltage Vout is 2V, the reference voltage Vref=''l, v, V potential is set to the s ground potential. Generally, the on-resistance R6N in a MOS) runnostar is in the non-saturation region 1vcs-vt
l>IVD81 (here, vo8 is the dart-source voltage, vT is the gate threshold voltage, and VDll is the drain-source voltage), and is expressed as the following equation.

ここで、IDaはドレイン・ソース間電流、βは電流増
幅率である。一方、後段のCMOSインバータI2のP
チャネルトラ/ノスタP2は、ソースに基準電圧Vre
f (= 2 v )が与えられるが、基板は”DD電
位(= 5 v )に接続されるので、基板とソースと
の間に3vのパックダートバイアスが加わることになる
。これによシ、上記PチャネルトランジスタP2のオン
抵抗R8NP2は、前式(2)とは異な9次式のように
表わされる。
Here, IDa is a drain-source current, and β is a current amplification factor. On the other hand, P of the CMOS inverter I2 in the subsequent stage
Channel controller/nostar P2 has a reference voltage Vre at its source.
f (= 2 v) is given, but since the substrate is connected to the DD potential (= 5 v), a pack dart bias of 3 v is applied between the substrate and the source. The on-resistance R8NP2 of the P-channel transistor P2 is expressed as a ninth-order equation different from the previous equation (2).

ここで、書はパックダートバイアスによる閾値電圧の変
化量である。したがって、上記Pチャネルトランジスタ
P2は閾値電圧が大きくなることによってオン抵抗R0
NP□が大きくなる。しかし、このことによって前述し
たようにスイッチ素子SW。
Here, is the amount of change in threshold voltage due to pack dart bias. Therefore, the P-channel transistor P2 has an on-resistance R0 due to an increase in the threshold voltage.
NP□ increases. However, due to this, as mentioned above, the switch element SW.

〜SWnのオン抵抗値が基準抵抗値Rに対して無視でき
なくなる場合は変換誤差の原因となるので好ましくない
。そこで、上記したようなパックゲートバイアス効果に
よるオン抵抗の増加を抑える手段として、MOS )ラ
ンリスタの素子寸法要素であるチャネル幅を大きくする
ことにより電流増幅率βを大きくする方法が採られてい
たが、この方法ではチャネル幅が大きくなることにより
集積回路上のスイッチ素子のツクターン面積の増大を招
くという欠点があった。
If the on-resistance value of ~SWn cannot be ignored with respect to the reference resistance value R, this is not preferable because it causes a conversion error. Therefore, as a means to suppress the increase in on-resistance due to the pack gate bias effect as described above, a method has been adopted in which the current amplification factor β is increased by increasing the channel width, which is an element dimension element of the MOS (MOS) run lister. However, this method has the disadvantage that the channel width increases, leading to an increase in the circuit area of the switch element on the integrated circuit.

(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、上述したようにデジタル入力用の電源電位v
DDとスイッチ素子用の基準電位Vrefとの間に電位
差があるような条件下において、スイッチ素子のパック
ゲートバイアス効果によるオン抵抗の増加を抑えるため
にスイッチ素子の/fターン面積の増大を招いてしまう
という欠点を除去すべくなされたもので、スイッチ素子
のオン抵抗がパックデートバイアス効果の影響を受けな
くなり、スイッチ素子のツクターン面積が小さくて済む
ラダー抵抗網用スイ、チ素子を提供することを目的とす
るO 〔発明の構成〕 (問題点を解決するための手段) 本発明のラダー抵抗網用スイッチ素子は、NチャネルM
O3トランジスタのみにより形成されたブツシュデル形
バッファ回路を用いたことを特徴とするものである。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, the present invention solves the problem of the power supply voltage v for digital input.
Under conditions where there is a potential difference between DD and the reference potential Vref for the switch element, the /f turn area of the switch element is increased in order to suppress an increase in on-resistance due to the pack gate bias effect of the switch element. The present invention has been made in order to eliminate the drawbacks of the switching elements being packed together, and to provide a switch element for a ladder resistor network in which the on-resistance of the switch element is not affected by the packed date bias effect and the turn area of the switch element is small. [Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The switch element for a ladder resistance network of the present invention is an N-channel M
It is characterized by using a Bushdel type buffer circuit formed only of O3 transistors.

(作用) 上記プッシュプル形バッファ回路の基準1圧ノード側の
Nチャネルトランジスタは、その基板とソースとが同電
位であるので、デジタル入力用の電源電位VDDと上記
バッファ回路用の電源電位(基準電位Vref )との
間に電位差があるような条件下においてもパ、りr−ト
バイアスが加わらないので、バックゲートバイアス効果
の影響(オン抵抗の増加)を受けなくなり、オン抵抗の
増加を抑制しようとしてスイッチ素子のパターン面積を
大きくする必要は生じない。
(Function) Since the substrate and source of the N-channel transistor on the reference 1 voltage node side of the push-pull buffer circuit are at the same potential, the power supply potential VDD for digital input and the power supply potential for the buffer circuit (reference Since no gate bias is applied even under conditions where there is a potential difference with the potential (Vref), it is no longer affected by the back gate bias effect (increase in on-resistance), and the increase in on-resistance can be suppressed. Therefore, there is no need to increase the pattern area of the switch element.

(実施例) 以下1図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
(Example) An example of the present invention will be described in detail below with reference to one drawing.

第1図に示すラダー抵抗網用スイッチ素子は、第3図を
参照して前述した従来のスイッチ素子における後段のC
MOSインバータエ2に代えてNチャネルMO8)ラン
リスタN3 、 N4からなるプツシ−グル形バッファ
回路BUFが用いられ、このバッファ回路BUFの一対
の入力ノードの相補的な入力信号としてデジタル入力の
ピッ)alおよび前段のCMOSインバータ11の出力
嶋が与えられるように変更されたものであり、第3図中
と同一部分には同一符号を付してその説明を省略してい
る。
The ladder resistor network switch element shown in FIG. 1 is a rear-stage C
In place of the MOS inverter E2, a push-glue buffer circuit BUF consisting of N-channel MO8) run-listers N3 and N4 is used, and a digital input signal BUF is used as a complementary input signal of a pair of input nodes of this buffer circuit BUF. The output voltage of the CMOS inverter 11 at the previous stage is also changed, and the same parts as in FIG. 3 are given the same reference numerals and their explanations are omitted.

上記バッファ回路BUFは、基準電圧Vr@fノードと
v0電位ノードとの間にNチャネルMO8)ランリスタ
N3.N4が直列に接続されてなり、それぞれの基板は
それぞれのソースSに接続されている。
The buffer circuit BUF has an N-channel MO8) run lister N3. between the reference voltage Vr@f node and the v0 potential node. N4 are connected in series, each substrate being connected to its respective source S.

上記したようなスイッチ素子によれば、第2図に示した
ラダー抵抗型D/A変換回路の各ビット毎に設けられた
抵抗値2Rの抵抗R1の一端にNチャネルMO8)ラン
ゾスタNs、N4のみからなるプッシュプル形バッファ
回路BUFの出力ノードが接続されている。したがって
、上記バッファ回路BUFの基準電圧ノード側のNチャ
ネルトランノスタNSは、基板がソースと同電位である
ので、デジタル入力の各ビット用の電源電位VDDとス
イッチ素子用の基準電位Vrefとの間に電位差がある
ような条件下においてもパックゲートバイアスが加わら
ず、パックダートバイアス効果の影響(オン抵抗の増加
)を受けなくて済み、オン抵抗の増加を抑制しようとし
て1流増幅率βを大きくすることに伴なうノ4ターン面
積の増大をまねくこともない。しかも、NチャネルMO
Sトランジスタの電流増幅率βNは、PチャネルMOS
トランジスタの電流増幅率βPに対して同一の素子寸法
において約2倍程度大きいので、同じオン抵抗のスイッ
チ素子を実現するのに、従来のようにCMOSインバー
タ(第3図I2)で作る場合に比べて本例のようにNチ
ャネルトランジスタのみによるグツツユグル形バッファ
回路BUFを作る方が素子寸法およびノーターフ面積が
小さくて済むという集積回路化に適した利点をも兼ね備
えている。
According to the switch element described above, only the N-channel MO8) Lanzostar Ns, N4 is connected to one end of the resistor R1 with a resistance value of 2R provided for each bit of the ladder resistance type D/A conversion circuit shown in FIG. The output node of a push-pull buffer circuit BUF consisting of the following is connected. Therefore, since the substrate of the N-channel transnostor NS on the reference voltage node side of the buffer circuit BUF has the same potential as the source, there is a gap between the power supply potential VDD for each bit of the digital input and the reference potential Vref for the switch element. Even under conditions where there is a potential difference between This does not result in an increase in the four-turn area due to this. Moreover, N channel MO
The current amplification factor βN of the S transistor is the P channel MOS
It is about twice as large as the current amplification factor βP of a transistor for the same element dimensions, so it takes more time to realize a switch element with the same on-resistance than when it is made using a conventional CMOS inverter (I2 in Figure 3). However, as in this example, fabricating a loose buffer circuit BUF using only N-channel transistors has the advantage that the element size and no-turf area can be smaller, which is suitable for integrated circuit implementation.

なお、上記実施例のプッシュプル形バッファ回路BUF
の一対の入力ノードにはデジタル入力のビットaIおよ
びその相補信号iが入力すればよく、前段のCMOSイ
ンバータ11は必要に応じて省略したり他の回路に変更
してもよい。
Note that the push-pull buffer circuit BUF of the above embodiment
The digital input bit aI and its complementary signal i may be input to the pair of input nodes, and the CMOS inverter 11 at the previous stage may be omitted or replaced with another circuit as necessary.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

上述したように本発明のラダー抵抗網用スイッチ素子に
よれば、デジタル入力用の電源電位とデジタル入力の各
ビット毎に設けられた戒圧モードのスイッチ素子用の電
源電位(基準電位)との間に電位差があるような条件下
においても、スイッチ素子にパックデートバイアスが加
わらないのでパックr−)バイアス効果によるオン抵抗
の増加の影響を受けることがない。また、PチャネルM
OSトラ/:)スタよシも電流増幅率の大きなNチャネ
ルMO8)ランゾスタのみによってスイッチ素子を構成
しているので、素子寸法および・セターン面積が小さく
て済む利点がある。
As described above, according to the switch element for a ladder resistance network of the present invention, the power supply potential for digital input and the power supply potential (reference potential) for the switch element in the pressure mode provided for each bit of the digital input are Even under conditions where there is a potential difference between them, no pack date bias is applied to the switch element, so it is not affected by an increase in on-resistance due to the pack r-) bias effect. Also, P channel M
Since the switching element is formed only by the N-channel MOSFET 8) which has a large current amplification factor, the device size and set-up area are advantageously small.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明のラダー抵抗網用スイッチ素子の一実施
例を示す回路図、第2図はラダー抵抗型D/A変換回路
を示す構成説明図、第3図は第2図の回路におけるラダ
ー抵抗網用スイッチ素子の従来例を示す回路図である。 r l〜rn−1”’抵抗(抵抗値R) 、RO−Rn
・・・抵抗(抵抗値2 R) 、a1〜an・・・デジ
タル入力、BUF・・・プッシュプル形バッファ回路、
N5.N4・・・NチャネルMOSトランジスタ、vD
D・・・デシタル入力用電源電位、Vref・・・プツ
シ−プル形バッファ回路用電源電位。
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of the ladder resistance network switch element of the present invention, FIG. 2 is a configuration explanatory diagram showing a ladder resistance type D/A conversion circuit, and FIG. FIG. 2 is a circuit diagram showing a conventional example of a switch element for a ladder resistance network. r l~rn-1"'resistance (resistance value R), RO-Rn
...Resistance (resistance value 2 R), a1-an...Digital input, BUF...Push-pull type buffer circuit,
N5. N4...N channel MOS transistor, vD
D: Power supply potential for digital input, Vref: Power supply potential for pushpull type buffer circuit.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)抵抗値がRの複数個の抵抗と抵抗値が2Rの複数
個の抵抗とを梯子形となるように接続してなるラダー抵
抗網におけるデジタル入力の各ビットに対応する前記抵
抗値が2Rの抵抗の各一端に接続されるスイッチ素子と
して、NチャネルMOSトランジスタからなるプッシュ
プル形バッファ回路を用いてなることを特徴とするラダ
ー抵抗網用スイッチ素子。
(1) The resistance value corresponding to each bit of the digital input in a ladder resistance network formed by connecting a plurality of resistors with a resistance value of R and a plurality of resistors with a resistance value of 2R in a ladder shape is A switch element for a ladder resistor network, characterized in that a push-pull type buffer circuit consisting of an N-channel MOS transistor is used as a switch element connected to each end of a 2R resistor.
(2)上記プッシュプル形バッファ回路の入力となるデ
ジタル入力用の電源電位と上記プッシュプル形バッファ
回路用の電源電位との間に電位差があることを特徴とす
る前記特許請求の範囲第1項記載のラダー抵抗網用スイ
ッチ素子。
(2) Claim 1, characterized in that there is a potential difference between a power supply potential for a digital input serving as an input of the push-pull buffer circuit and a power supply potential for the push-pull buffer circuit. Switch element for the ladder resistance network described.
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