JPS62188978A - Pattern checker for conductive thin film - Google Patents

Pattern checker for conductive thin film

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Publication number
JPS62188978A
JPS62188978A JP61030266A JP3026686A JPS62188978A JP S62188978 A JPS62188978 A JP S62188978A JP 61030266 A JP61030266 A JP 61030266A JP 3026686 A JP3026686 A JP 3026686A JP S62188978 A JPS62188978 A JP S62188978A
Authority
JP
Japan
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glass plate
stage
pattern
measuring
stopper
Prior art date
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Pending
Application number
JP61030266A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshitake Sakami
酒見 良武
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP61030266A priority Critical patent/JPS62188978A/en
Publication of JPS62188978A publication Critical patent/JPS62188978A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To enable a quick and accurate pattern inspection, by checking a pattern on a glass plate with measuring pins in contact with the pattern. CONSTITUTION:A glass plate being conveying by a conveying device 21 is stopped with a stopper 37 and the glass plate is placed on a stage 23 as separated from the device 21. The glass plate is positioned at a specified checking position by pressing it on the stage 23 on reference rollers 44-46 with a gauging 47. After positioned, the glass plate is sucked securely on the stage 23 and a measuring pin 52 provided on a measuring head 24 is brought into contact with the pattern on the glass plate to check. Therefore, the measuring pin 52 contacts a pattern at a point to reduce the checking time of the pattern substantially. This can also make the contact pressure of the measuring pin 52 the same thereby stabilizing measurement.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、液晶ディスプレイ用ガラス基板等の製造工程
に用いられる導電性薄膜のパターンチェック装置に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a pattern checking device for conductive thin films used in the manufacturing process of glass substrates for liquid crystal displays and the like.

(従来の技術) 液晶ディスプレイ用のガラス基板は、ガラス板上にIJ
?iR性薄膜によるストライブ状のパターンを形成した
ものである。このパターンは大きく分けて、パターン間
が0.3mm〜0.4ae+と狭くて200〜640本
と多数のストライブ状のものと、パターン間が数層と比
較的広くて20〜200本と少数のものとに分けられる
(Prior art) A glass substrate for a liquid crystal display has an IJ on a glass plate.
? A stripe-like pattern is formed using an iR thin film. These patterns can be roughly divided into strip-like patterns with a narrow spacing of 0.3 mm to 0.4 ae+ and a large number of 200 to 640 lines, and relatively wide patterns with a few layers of spacing between patterns and a small number of 20 to 200 lines. It can be divided into

このようなガラス基板では各パターンの導通(断線)状
態および各パターン相互間の絶縁状態を検査するいわゆ
るパターンチェックが行なわれる。このパターンチェッ
クは、パターン間が狭く、かつ本数が多いために従来第
17図で示すようにして行なわれていた。
On such a glass substrate, a so-called pattern check is performed to inspect the conduction (disconnection) state of each pattern and the insulation state between each pattern. This pattern check has conventionally been performed as shown in FIG. 17 because the spacing between patterns is narrow and the number of patterns is large.

すなわち、まず導電性薄膜によるストライブ状のパター
ン11が形成されたガラス板12を固定テーブル13上
にガイド14に合わせて位置決めし、かつ吸着固定する
。この後、数本のタングステンによる測定針15を持つ
測定ヘッド16を上記測定!115の先端がガラス板1
2の表面に軽く接触する状態で矢印方向に移動させる。
That is, first, the glass plate 12 on which the striped pattern 11 of a conductive thin film is formed is positioned on the fixing table 13 in alignment with the guide 14 and fixed by suction. After this, the measuring head 16 with several tungsten measuring needles 15 is used to measure the above! The tip of 115 is glass plate 1
Move it in the direction of the arrow while lightly touching the surface of 2.

この移動に伴って測定釦15の先端が各パターン11上
を順次通過することにより隣り合わゼたパターン11間
の絶縁および同一パターン内の導通(断線)検査を行な
う。
With this movement, the tip of the measurement button 15 passes over each pattern 11 in sequence, thereby testing insulation between adjacent patterns 11 and continuity (disconnection) within the same pattern.

(発明が解決しようとする問題点) しかし、上記パターンチェックによるとタングステンに
よる測定針15の接触圧の調整が吐しく、IJ導電性薄
膜よるパターン11に引かき傷をつけてしまう。この引
かき傷をつけると、これが原因でその部分の被覆がはが
れ、lli!i等の不良が発生する。また、パターン1
1間が狭いと、測定針15の接触位置の調整が困難を極
める上に、パターン11の貨なるガラス板12を検査す
る度に位置の調整を行なうか、別の検査機を準備する必
要があり、自動化が困難であった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, according to the pattern check described above, adjustment of the contact pressure of the measuring needle 15 using tungsten is difficult and causes scratches on the pattern 11 made of the IJ conductive thin film. If you make this scratch, this will cause the coating to come off in that area and lli! Defects such as i occur. Also, pattern 1
1, it is extremely difficult to adjust the contact position of the measuring needle 15, and it is necessary to adjust the position each time the glass plate 12, which is the symbol of the pattern 11, is to be inspected, or to prepare another inspection machine. However, automation was difficult.

本発明の目的は、測定針による引かき傷を生じることな
く点接触によりパターンを短時間のうちに適確に検査す
ることができ、多品種、多面取りのガラス基板にも容易
に対応でき、さらに自動化をも可能とした導電性薄膜の
パターンチェック装置を提供することにある。
The purpose of the present invention is to be able to accurately inspect a pattern in a short time by point contact without causing scratches caused by a measuring needle, and to be able to easily handle a wide variety of glass substrates with multiple bevels. Another object of the present invention is to provide a pattern checking device for conductive thin films that can be automated.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(問題点を解決するための手段) 本発明は、ガラス板の表面に形成された導電性薄膜によ
るパターンの導通および絶縁状態を検査する導電性薄膜
のパターンチェック装置において、前記ガラス板を所定
方向に搬送する搬送装置と、この搬送装置の搬送路上に
出没可能に設けられ突出時前記ガラス板と当接してこれ
を停止させるストッパと、このストッパによって停止さ
れたガラス板の下方に上下動可能に設けられ上昇時この
ガラス板を前記搬送装置との分離位置で載支するステー
ジと、このステージ上に載支されたガラス板の周辺部と
当接しこのガラス板を所定のチェック位置に位置決めす
る位置決めllImと、前記ステージ上に設けられガラ
ス板が上記所定のヂエツク位置に位置決めされたことを
条件にこのガラス板をステージ上に吸着させる吸着部と
、パターンチェック用の測定ピンを有しこの測定ピンが
ステージ上に吸着されたガラス板上の前記パターンと対
向する如く配四されかつこのパターンと測定ピンとが接
触可能なように前記ステージに対してその上下動方向に
沿って相対的に可動な関係で設けられた測定ヘッドとを
備えたものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention provides a pattern checking device for a conductive thin film that inspects the continuity and insulation state of a pattern formed on the surface of a glass plate, in which the glass plate is moved in a predetermined direction. a conveying device that conveys the glass plate, a stopper that is retractably provided on the conveyance path of the conveying device and that stops the glass plate by coming into contact with the glass plate when the glass plate is protruded; a stage for supporting the glass plate at a position separated from the conveyance device when the glass plate is raised; and a positioning stage for abutting the peripheral portion of the glass plate supported on the stage and positioning the glass plate at a predetermined check position. llIm, a suction unit provided on the stage to attract the glass plate onto the stage on the condition that the glass plate is positioned at the predetermined pickup position, and a measuring pin for pattern checking. are arranged so as to face the pattern on the glass plate adsorbed on the stage, and are movable relative to the stage along the vertical movement direction so that the pattern and the measurement pin can come into contact with each other. It is equipped with a measuring head provided with a.

(作用) 本発明は、搬送装置によって搬送されてくるガラス板を
ストッパによって停止させ、このガラス板を搬送装置か
ら分離した状態でステージ上に載支し、このステージ上
のガラス板を位置決め機構により所定のヂエック位置に
位置決めした後、ガラス板をステージ上に吸着固定し、
測定ヘッドに設けた測定ピンをガラス板上のパターンに
接触させてそのチェックを行なうものである。
(Function) In the present invention, a glass plate conveyed by a conveyance device is stopped by a stopper, this glass plate is placed on a stage in a state separated from the conveyance device, and the glass plate on this stage is moved by a positioning mechanism. After positioning the glass plate at the predetermined position, the glass plate is fixed on the stage by suction.
A measurement pin provided on a measurement head is brought into contact with a pattern on a glass plate to check the pattern.

(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面を参照して詳細に説明す
る。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図において、21は搬送装置で、第2図で示すガラ
ス板12を所定の方向に搬送する。22は品種別別装置
で、搬送装!21によって搬送されてくるガラス板12
に形成されたパターン11の種類を判別する。23は検
査用のステージで、搬送装置21によって搬送されてく
るガラス板12を戟支し、後述する位置決め後、上方に
配置された測定ヘッド24にガラス板12上のパターン
11を接触させる。25は測定器で、測定ヘッド24か
らの信号によりパターン11の導通(断線)状態および
絶縁状態を判別する。26は分岐装ばで、上記パターン
チェック後、搬送装置Z21によって搬送されるくるガ
ラス板12を測定器25の測定結果に従って良品と不良
品とを区分けする。以下上記各部を詳細に説明する。
In FIG. 1, reference numeral 21 denotes a conveying device that conveys the glass plate 12 shown in FIG. 2 in a predetermined direction. 22 is a type-specific device, a conveyor! Glass plate 12 conveyed by 21
The type of pattern 11 formed in the image is determined. Reference numeral 23 denotes an inspection stage that supports the glass plate 12 transported by the transport device 21, and after positioning, which will be described later, brings the pattern 11 on the glass plate 12 into contact with a measuring head 24 disposed above. A measuring device 25 determines whether the pattern 11 is conductive (broken) or insulated based on a signal from the measuring head 24. Reference numeral 26 denotes a branching unit which, after the pattern check, separates the glass plates 12 transported by the transport device Z21 into non-defective products and defective products according to the measurement results of the measuring device 25. Each of the above parts will be explained in detail below.

まず、第2図によって本発明装置によりパターンチェッ
クされるガラス基板を説明する。このガラス基板は、従
来と同じくガラス板12上に導電性薄膜によるストライ
ブ状のパターン11を形成したものであり、第1図の搬
送装置21による搬送方向前縁部には、パターン種類判
別用の品種判別パターン28が設けられている。また、
このガラス板12の搬送方向前端部から寸法a隔てた側
辺部には位置決め用の基準点Aを設定する。さらにこの
ガラス板12の前端辺部には、側端部から寸法す隔てた
位置に基埋点Bを、さらにこれから寸法C隔てた位置に
基準点Cをそれぞれ設定する。これら各基準点A、B、
Cの位置すなわち寸法a、b、cは全品種等しくする。
First, a glass substrate whose pattern is checked by the apparatus of the present invention will be explained with reference to FIG. This glass substrate has a striped pattern 11 made of a conductive thin film formed on a glass plate 12 as in the conventional case, and a stripe-like pattern 11 is formed on a glass plate 12 in the direction of conveyance by the conveyance device 21 shown in FIG. A type discrimination pattern 28 is provided. Also,
A reference point A for positioning is set on a side portion of the glass plate 12 that is spaced by a dimension a from the front end in the conveyance direction. Further, on the front edge of the glass plate 12, a base point B is set at a position spaced apart from the side edge by a dimension, and a reference point C is set at a position spaced a dimension C away from the side edge. Each of these reference points A, B,
The position of C, that is, the dimensions a, b, and c, are the same for all types.

また、ガラス板12の幅寸法dも全品種等しい。Further, the width dimension d of the glass plate 12 is also the same for all types.

次に、第3図において、21aは前記搬送装置21を構
成する第1の搬送コンベアで、スピードコントロールモ
ータ30によって駆動され、ローディング側(図示右方
)で載鐙されたガラス板12を図示左方に搬送する。3
1はストッパで、エアシリンダ32により搬送コンベア
21aによるガラス板12の搬送路上に出没可能に設け
られており、突出時(上昇時)、搬送コンベア21aに
よって搬送されてくるガラス板12の前端部と当接し、
これを停止させる。前記判別装置22はピンヘッド33
およびその上下動8!1834を有し、ピンヘッド33
には先端がスプリングアクションをもった数本のピン3
5が設けられている。そして、前記ストッパ31によっ
て停止されたガラス板12の品種判別パターン28に対
し、前記上下動機構34によりピンヘッド33を下降さ
せ、前記数本のピン35を品種判別パターン28上に押
し付け、これらピン35間の導通パターンによって品種
を判別する。この判別した品種が予定していた品種と異
なった場合は、このパターンチェックは行なわず不良品
扱いとする。
Next, in FIG. 3, reference numeral 21a denotes a first conveyor constituting the conveying device 21, which is driven by a speed control motor 30 and carries the glass plate 12 placed in the stirrup on the loading side (right side in the figure). Transport to the direction. 3
Reference numeral 1 denotes a stopper, which is provided so as to be able to appear and retract on the conveyance path of the glass plate 12 by the conveyor 21a by an air cylinder 32, and when protruding (when rising), it touches the front end of the glass plate 12 conveyed by the conveyor 21a. abutting,
Stop this. The discrimination device 22 has a pin head 33.
and its vertical movement 8!1834, and the pin head 33
There are several pins with spring action tips 3.
5 is provided. Then, the pin head 33 is lowered by the vertical movement mechanism 34 with respect to the type discrimination pattern 28 of the glass plate 12 stopped by the stopper 31, and the several pins 35 are pressed onto the type discrimination pattern 28. The type is determined by the conduction pattern between them. If the determined product type is different from the expected product type, this pattern check is not performed and the product is treated as defective.

次に、パターンチェックを行なう部分を第4図および第
5図によって説明する。21bは前記搬送装置21の第
2の搬送コンベアで、前記第1の搬送コンベア21aに
よって送られてきたガラス板12を受け、図示左方に搬
送する。37はストッパで、搬送コンベア21bによる
ガラス板12の搬送路上に出没自在に設けられ、搬送路
への突出時、搬送コンベア21bによって搬送されてく
るガラス板12の前端部と当接し、これを停止させる。
Next, the portion where the pattern check is performed will be explained with reference to FIGS. 4 and 5. Reference numeral 21b denotes a second conveyor of the conveying device 21, which receives the glass plate 12 sent by the first conveyor 21a and conveys it to the left in the figure. Reference numeral 37 denotes a stopper, which is provided so as to be able to appear and disappear on the conveyance path of the glass plate 12 by the conveyor 21b, and when protruding onto the conveyance path, comes into contact with the front end of the glass plate 12 being conveyed by the conveyor 21b and stops it. let

なお、このストッパ37は、前記ステージ23の前端部
(図示左端部)に回仙可能に設けられており、図示しな
いエアシリンダ等の駆動*eiにより回動駆動され、そ
の回動によって先端が前記搬送路に対し出没動作するも
のである。ステージ23は、ストッパ37で停止された
ガラス板12の下方に上下動可能に設けられる。すなわ
ち、ステージ23は基台38上に設けらたステージ上下
動機構39により2駆動作で上下動する。ステージ上下
動1!1llli39は傾斜辺を有するカム板40とこ
れを進退動作させる2駆動作のエアシリンダ41とで構
成される。そしてエアシリンダ41によりカム板40を
その傾斜辺の中間部まで押し込むことにより、ステージ
23を前記搬送コンベア21bからの分離位lまで1段
上昇させる。さらにエアシリンダ41によりカム板40
を押し込むことにより、後述するパターンチェック位置
まで上昇させる2駆動作を行なう。
The stopper 37 is provided at the front end (left end in the figure) of the stage 23 so that it can be rotated, and is rotated by an air cylinder (not shown) or the like. It moves in and out of the conveyance path. The stage 23 is provided below the glass plate 12 stopped by a stopper 37 so as to be movable up and down. That is, the stage 23 is moved up and down by two drive operations by a stage up and down movement mechanism 39 provided on the base 38. The stage vertical movement 1!1lli39 is composed of a cam plate 40 having an inclined side and a two-drive air cylinder 41 that moves the cam plate 40 forward and backward. Then, the air cylinder 41 pushes the cam plate 40 to the middle of its inclined side, thereby raising the stage 23 by one step to a separation position l from the conveyor 21b. Furthermore, the cam plate 40 is
By pushing in, a two-drive operation is performed to raise it to the pattern check position, which will be described later.

次に、ガラス板12を上記ステージ23上で所定のチェ
ック位置に位置決めする位置決め機構43を説明する。
Next, the positioning mechanism 43 for positioning the glass plate 12 at a predetermined check position on the stage 23 will be explained.

44.45は第1の基準ローラで、ステージ23の前端
部(図示左方)の第2図で示したガラス板12上に基準
点B、Cと対応する位置に設けられる。46は第2の基
準ローうで、第2図で示したガラス板12上の基準点A
と対応する基台38上の位釘に設【プられ、かつガラス
板12の側辺部に向って進退可能に構成されている。4
7は第1のゲージングで、ステージ23の後部(図示右
方)に進退可能に設けられ、作動時ガラス板12を前記
基準ローラ44、45に押し付ける。48は第2のゲー
ジングで、前記第2の基準ローラ46と対向する如く基
台38上に配設され、かつガラス板12の側辺部に向っ
て進退可能に構成されており、作動時ガラス板12を第
2の基準ローラ46に押し付ける。49はステージ移動
msで、搬送コンベア21bの搬送方向に沿って設けら
れ、ステージ23側に螺合するボールねじ49aおよび
これを駆動するパルスモータ49bからなり、パルスモ
ータ49bの回転によりステージ23を搬送コンベア2
1bの搬送り向に移動させる。
Reference numerals 44 and 45 designate first reference rollers, which are provided at positions corresponding to reference points B and C on the glass plate 12 shown in FIG. 2 at the front end of the stage 23 (on the left in the figure). 46 is a second reference row, which is a reference point A on the glass plate 12 shown in FIG.
It is installed on a dowel on the base 38 corresponding to the base 38, and is configured to be movable toward the side of the glass plate 12. 4
Reference numeral 7 denotes a first gauging, which is movably provided at the rear of the stage 23 (on the right side in the figure) and presses the glass plate 12 against the reference rollers 44 and 45 during operation. Reference numeral 48 denotes a second gauging, which is disposed on the base 38 so as to face the second reference roller 46, and is configured to be able to advance and retreat toward the side portion of the glass plate 12. The plate 12 is pressed against the second reference roller 46. Reference numeral 49 denotes stage movement ms, which is provided along the conveyance direction of the conveyor 21b and consists of a ball screw 49a screwed into the stage 23 side and a pulse motor 49b that drives this.The stage 23 is conveyed by rotation of the pulse motor 49b. conveyor 2
1b in the transport direction.

ここで、位置決めを行なうに当っては、まず、第2の基
準ローラ46の突出位置をこの基準ロー546に側辺部
が接する状態で、第2図で示した基準点B、Cが第1の
基準ローラ44.45と一致するように設定しておく。
Here, when performing positioning, first, the protruding position of the second reference roller 46 is set so that the side part is in contact with this reference row 546, and the reference points B and C shown in FIG. The rollers are set to match the reference rollers 44 and 45 of .

また、ガラス板12の前端部が第1の基準ローラ44.
45に接した状態で、第2図で示した拉準点Aが第2の
基準ロー546と一致するようにステージ23の位置を
設定しておく。このように各基準ローラ44.45.4
6の位置を設定しておけば、ガラス板12を各ゲージン
グ47.48で前記各基準ローラ44.45.、46に
押し付けることにより、ガラス板12を精麿よく、所定
のチェック位置に位置決めできる。
Further, the front end of the glass plate 12 is connected to the first reference roller 44.
45, the position of the stage 23 is set so that the reference point A shown in FIG. 2 coincides with the second reference row 546. In this way each reference roller 44.45.4
6, the glass plate 12 is moved to each of the reference rollers 44, 45, . , 46, the glass plate 12 can be swiftly positioned at a predetermined check position.

50は吸着部で、ステージ23上にスリット穴として設
けられ、前述した位置決めが完了したことを条件にガラ
ス板12をバキュームによりステージ23上に吸着させ
る。なお、この吸着部50は、前述した位置決め時には
反対にエアブロ−を行ない、ガラス板12を若干浮かせ
て位置決めが容易に行なえるようにする。
Reference numeral 50 denotes a suction section, which is provided as a slit hole on the stage 23, and suctions the glass plate 12 onto the stage 23 by vacuum on the condition that the above-mentioned positioning is completed. Incidentally, this suction section 50 performs air blowing in the opposite manner during the above-described positioning, so that the glass plate 12 is slightly lifted to facilitate positioning.

第5図において、測定ヘッド24は多数の測定ピン52
を設けた絶縁材によるピンボード53を架台54により
、ステージ23の上方に支持したものである。55はマ
イクロヘッドで、前記測定ピン52が、ステージ23上
に吸着固定されたガラス板12上の各パターン11と対
向するようにピンボード53の位置合わゼを行なうもの
である。また、各測定ピン52は先端がスプリングアク
ションを持っており、前記ステージ上下機構39による
ステージ23の2段上昇によりガラス板12上にパター
ン11と接触する。
In FIG. 5, the measuring head 24 has a number of measuring pins 52.
A pinboard 53 made of an insulating material and provided with a pin board 53 is supported above the stage 23 by a pedestal 54. Reference numeral 55 denotes a micro head which aligns the pin board 53 so that the measurement pins 52 face each pattern 11 on the glass plate 12 which is suctioned and fixed on the stage 23. Further, each measurement pin 52 has a spring action at its tip, and comes into contact with the pattern 11 on the glass plate 12 when the stage 23 is raised two steps by the stage up and down mechanism 39.

ここで、測定ピン52はピンボード53に対して第6図
で示すように千鳥状に設けられており、ガラス板12上
のパターン11に対し、第7図または第8図で示すよう
に接触する。第7図は各パターン11罰の絶縁をチェッ
クする場合で、測定ピン(A−1) −(a−1)(B
−1)(b−1)間、(B−1) −(’a−1)(b
−1)(C−1)(c−1)間、・・・・・・のように
隣り合う測定ピン52間の導通でチェックする。また、
第8図は同一パターン11内の断線をチェックする場合
で、測定ピン(八−1) −(a−1)間、(B−2)
 −(b−2)間、・・・・・・のように同一パターン
11内の測定ピン52の導通にてチェックする。
Here, the measuring pins 52 are provided in a staggered manner with respect to the pin board 53 as shown in FIG. 6, and are brought into contact with the pattern 11 on the glass plate 12 as shown in FIG. 7 or 8. do. Figure 7 shows the case of checking the insulation of each pattern 11, measuring pin (A-1) - (a-1) (B
-1) (b-1), (B-1) -('a-1) (b
-1) Check the continuity between adjacent measurement pins 52 as shown in (C-1) and (c-1). Also,
Figure 8 shows the case of checking for disconnection within the same pattern 11, between measuring pins (8-1) and (a-1), and between (B-2).
-(b-2), the continuity of the measurement pins 52 in the same pattern 11 is checked as shown.

なお、第1図で示した測定器25におけるソフトウェア
上のチェック数を少なくするため、各測定ピン52fi
の配線のグルーピングを行なってもよい。すなわち、第
6図の例では測定ピン((A−1)(^−2)(A−3
) )、((B−1)(B−2)(B−3) )・・・
・・・、((a−1)(a−2)(a−3)  ) 、
 ((b−1)(b−2)(b−3)  ) ・・・・
・・と各グループ毎接続して測定器25への配線数を減
らすことにより測定器25が縮小されかつ測定スピード
が向上する。
In addition, in order to reduce the number of checks on the software in the measuring device 25 shown in FIG.
The wiring may be grouped. That is, in the example of Fig. 6, the measurement pins ((A-1) (^-2) (A-3
) ), ((B-1) (B-2) (B-3) )...
..., ((a-1) (a-2) (a-3) ),
((b-1) (b-2) (b-3) ) ...
By connecting each group to reduce the number of wires to the measuring device 25, the measuring device 25 can be downsized and the measurement speed can be improved.

次に、第9図によってパターンチェック後に良品、不良
品を区分する分岐装置26を説明する。
Next, referring to FIG. 9, the branching device 26 that separates good products and defective products after pattern checking will be explained.

21cは前記搬送装膜21の第3の搬送コンベアで、第
2の搬送コンベア21bで搬送されてくるパターンチェ
ック済のガラス板12を受け、これを図示左方に搬送す
る。57はストッパで、搬送コンベア21cによるガラ
ス板12の搬送路上に対し、エアシリンダ58によって
出没可能に設けられており、搬送路への突出時、ガラス
板12と当接し、これを停止さゼる。前記分岐装置2B
は、搬送コンベア21Cと直交する方向に配設された一
対のガイドロッド59により進退可能に支持されたベー
ス60を持つ。
Reference numeral 21c denotes a third conveyor for the conveying membrane 21, which receives the pattern-checked glass plate 12 conveyed by the second conveyor 21b and conveys it to the left in the figure. Reference numeral 57 denotes a stopper, which is provided so as to be able to protrude and retract from the conveyance path of the glass plate 12 by the conveyor 21c by means of an air cylinder 58, and when protruding onto the conveyance path, comes into contact with the glass plate 12 and stops it. . The branching device 2B
has a base 60 supported so as to be movable forward and backward by a pair of guide rods 59 disposed in a direction perpendicular to the conveyor 21C.

このベース60の一側部からは垂直にブラケット61が
立上がっており、このブラケット61により水平方向に
沿う移載台62が上下動可能に支持されている。63は
前記ベース60をガイドロッド59に沿って進退動作さ
せるエアシリンダ、64は前記移載台62をブラケット
61に沿って上下動させるエアシリンダである。21d
は前記搬送装置21の第4の搬送コンベアで、第3の搬
送コンベア21Cの側方に並列に設けられており、分岐
装置26により第3の搬送コンベア21c上から移載さ
れてくるガラス板12(不良品)を図示左方に搬送する
。この第4の搬送コンベア21dの搬送先には、第10
図で示すエレベータi構66により保持された不良品判
別用のカセット67が設けられている。すなわち、エレ
ベータ機構66はブラケット68に設けられたたて方向
のガイドロッド69により昇舒台70を上下動可能に支
持し、モータ71にり回転されるボールねじ72によっ
て昇時台70を上下動させるものである。前記カセット
67は4降台70の上面に、その四隅に設けたガイド7
3によって位置決めされ、載置される。
A bracket 61 stands up vertically from one side of the base 60, and a transfer table 62 along the horizontal direction is supported by this bracket 61 so as to be movable up and down. An air cylinder 63 moves the base 60 forward and backward along the guide rod 59, and an air cylinder 64 moves the transfer table 62 up and down along the bracket 61. 21d
is the fourth conveyor of the conveying device 21, which is provided in parallel to the side of the third conveyor 21C, and which handles the glass plates 12 transferred from above the third conveyor 21c by the branching device 26. (defective product) is transported to the left in the diagram. The conveyance destination of this fourth conveyor 21d includes the tenth
A cassette 67 for identifying defective products is provided which is held by the elevator i structure 66 shown in the figure. That is, the elevator mechanism 66 supports the lifting platform 70 in a vertically movable manner by means of a vertical guide rod 69 provided on a bracket 68, and vertically moves the lifting platform 70 by means of a ball screw 72 rotated by a motor 71. It is something that makes you The cassette 67 has guides 7 provided on the top surface of the four descending platforms 70 at its four corners.
3 and placed.

このカセット61はガラス板12を段積収納するもので
、空の状態で最下段まで薪ろされており、不良品のガラ
ス板12が1枚ずつ収納される毎にモータ71によって
1段ずつ持ち上げられる。
This cassette 61 stores glass plates 12 in stacks, and is empty until it reaches the lowest level. Each time a defective glass plate 12 is stored, it is lifted one by one by a motor 71. It will be done.

上記構成において、第1図で示す本発明のパターンチェ
ック装置は、第12図で示すように前工程のコンベアま
たはローダ75と後工程のコンベアまたはアンローダ7
6との間に設けられ使用される。
In the above configuration, the pattern check apparatus of the present invention shown in FIG.
6 and is used.

前工程のコンベアまたはローダ75からのガラス板12
は、パターンチェック装置の第3図で示す第1の搬送コ
ンベア21a上に載せられて搬送される。そしてストッ
パ31の手前で減速され、このストッパ31によりまず
位llPO3,1に停止される。
Glass plate 12 from the previous process conveyor or loader 75
is placed on the first conveyor 21a shown in FIG. 3 of the pattern checking device and conveyed. Then, the speed is decelerated before the stopper 31, and the stopper 31 first stops the motor at position 1PO3,1.

この位lPO3,1で品種判別装【22によりパターン
の種類が判定される。この後、ストッパ31は没動作し
、ガラス板12は再び搬送され、第4図で示す第2の搬
送コンベア2Ib上に渡される。ガラス板12は第2の
搬送コンベア21bにより同方向に搬送され、ストッパ
37の手前で減速され、このストッパ37により位IU
PO8,2に停止される。この位EPO8,2でステー
ジ上下機構39が動作してステージ23を1段上昇させ
、ストッパ37によって停止されているガラス板12を
第4図0で示すように搬送コンベア21bから数厘上昇
した分離位置で載支する。次に、ステージ23上に設け
た吸着部(スリット穴)50から少量のエアを吹き、ガ
ラス板12をステージ23上から少し浮かせるとともに
、ストッパ37を引込める。次に第2の基準ローラ46
を予め設定した基準位置まで前進させる。この後、第1
のゲージング47によりガラス板12を第1の基準ロー
ラ44.45に押し付け、かつ第2のゲージング48に
よりガラス板12を第2の基準ローラ46に押し付け、
位置決めを行なう。
At this point, the type of pattern is determined by the type discriminator [22] at lPO3,1. Thereafter, the stopper 31 is retracted, and the glass plate 12 is conveyed again and passed onto the second conveyor 2Ib shown in FIG. 4. The glass plate 12 is conveyed in the same direction by the second conveyor 21b, decelerated before the stopper 37, and the stopper 37
Stopped at PO8,2. At this time, the stage up and down mechanism 39 operates at EPO8,2 to raise the stage 23 by one step, and the glass plate 12, which is stopped by the stopper 37, is separated from the conveyor 21b by several feet as shown in FIG. 40. Load it in position. Next, a small amount of air is blown from an adsorption section (slit hole) 50 provided on the stage 23 to lift the glass plate 12 slightly above the stage 23 and retract the stopper 37. Next, the second reference roller 46
advance to a preset reference position. After this, the first
gauging 47 presses the glass plate 12 against the first reference roller 44.45, and a second gauging 48 presses the glass plate 12 against the second reference roller 46;
Perform positioning.

このようにして、ガラス板12をステージ23上に粘度
よく位置決めした後、ステージ23の表面のエアブロ−
を止め、バキュームに切換える。このバキュームにより
ガラス板12は′M度よくゲージングされたままステー
ジ23上に吸着固定される。この後、ゲージング47.
48を戻し、かつ第2の基準ローラ46を退避位置に後
退させ、ステージ23が搬送コンベア21bに沿って後
述するシフトが行なえるようにする。
After positioning the glass plate 12 on the stage 23 with good viscosity in this way, air blowing on the surface of the stage 23 is performed.
Stop and switch to vacuum. By this vacuum, the glass plate 12 is suctioned and fixed onto the stage 23 while being well gauged. After this, gauging 47.
48 is returned, and the second reference roller 46 is retreated to the retracted position, so that the stage 23 can be shifted along the conveyor 21b as described later.

この状態で、再びステージ上下11椙39が動作し、ス
テージ23を2段目に上層させる。この動作により、ス
テージ23上に固定されたガラス板12上のパターン1
1は第5図で示した測定ヘッド24の測定ピン52と第
7図または第8図で示すように接触する。第1図で示し
た測定器25は前述した如く、各測定ピン52間の導通
チェックを行なうことによりパターン間の絶縁不良およ
びパターンの1Jililを検出する。
In this state, the upper and lower stages 39 operate again to move the stage 23 to the second stage. This operation causes the pattern 1 on the glass plate 12 fixed on the stage 23 to
1 comes into contact with the measuring pin 52 of the measuring head 24 shown in FIG. 5 as shown in FIG. 7 or 8. As described above, the measuring device 25 shown in FIG. 1 detects insulation defects between patterns and 1 Jilil of patterns by checking continuity between each measuring pin 52.

ここで、ガラス板12に形成されたパターン11が、第
15図で示すように1面だけの場合は、上記パターンチ
ェック後はシフトを行なわず、ステージ上下1i415
39によりステージ23は2段目が下降し、吸@部50
のバキュームをオフしてエア10−を行ない、ガラス板
12をステージ23上より浮かせる。この後、ステージ
上下va91.39により1段目を下降させる。この動
作によりガラス板12は搬送コンベア2Ib上に載り、
下流側に搬送される。
Here, if the pattern 11 formed on the glass plate 12 is on only one surface as shown in FIG.
39, the second stage of the stage 23 is lowered, and the suction part 50
The vacuum is turned off and air 10- is applied to lift the glass plate 12 above the stage 23. After this, the first stage is lowered by stage up/down VA91.39. Due to this operation, the glass plate 12 is placed on the conveyor 2Ib,
It is transported to the downstream side.

これに対し、ガラス板12に形成されたパターン11が
第16図で示すように多面(図の例は3面)の場合は、
前述のようにして1面のパターンチェックを行なった後
、2段目を下降させた状態(第4図0)で次の面の測定
位置までステージ23をシフトし、再び2段目を上昇さ
せてパターンチェックを行なう。なお、このシフトは、
パルスモータ49bおよびボールねじ49aからなるス
テージ移動el1849により、予め設定した距離、ス
テージ23を移動させて行なう。このように、シフト毎
に2段目の上下動を繰り返し、多面に形成されたパター
ン11を順次チェックする。
On the other hand, if the pattern 11 formed on the glass plate 12 is multifaceted (three faces in the example shown) as shown in FIG.
After checking the pattern on the first surface as described above, the stage 23 is shifted to the measurement position for the next surface with the second stage lowered (Fig. 4, 0), and the second stage is raised again. Check the pattern. Furthermore, this shift is
The stage 23 is moved by a preset distance using a stage movement el1849 consisting of a pulse motor 49b and a ball screw 49a. In this way, the vertical movement of the second stage is repeated for each shift, and the pattern 11 formed on multiple surfaces is sequentially checked.

上述したパターンチェック後、ガラス板12は第2の搬
送コンベア21bにより下流側に搬送され、次に第9図
で示す第3の搬送コンベア21cに載せられる。そして
、ストッパ57の手前で減速されストッパ57に当って
位12PO8,3に止まる。この位置PO8,3では、
パターンチェックされた結束により良品と不良品とを区
分する。すなわち不良品は分岐装置26の移載台62に
よって第3の搬送コンベア21c上から持ち上げられ、
ガイドロッド59に沿って移動した後、移載台62の下
降により第4の搬送コンベア21d上の位1!!2PO
8,4に移載される。そして、第4の搬送コンベア21
dにより第11図で示したカセット67内に1個ずつ段
積収納される。これに対し良品の場合はストッパ57が
没動作し、ガラス板12は第3の搬送コンベア21cに
より、第12図の後工程コンベアまたはアンローダ76
に搬送される。
After the pattern check described above, the glass plate 12 is transported downstream by the second transport conveyor 21b, and then placed on the third transport conveyor 21c shown in FIG. Then, it is decelerated before the stopper 57, hits the stopper 57, and stops at 12PO8,3. At this position PO8,3,
Good products and defective products are separated by pattern-checked bundling. That is, the defective products are lifted from the third conveyor 21c by the transfer table 62 of the branching device 26, and
After moving along the guide rod 59, the transfer table 62 is lowered to move the first place on the fourth conveyor 21d! ! 2PO
Transferred to 8.4. And the fourth conveyor 21
d, one by one is stacked and stored in the cassette 67 shown in FIG. On the other hand, if the product is good, the stopper 57 is retracted, and the glass plate 12 is transferred to the post-process conveyor or unloader 76 in FIG. 12 by the third conveyor 21c.
transported to.

本発明のパターンチェック装置は、第12図のように用
いられるが、第13図のように位lPO3,1とPOS
、3にガラス板12の回転装置78を設けて用いられる
こともある。この場合、ガラス板12の流れは図示のよ
うになり、ガラス板収納カセットへの方向が常に一定と
なる。
The pattern check device of the present invention is used as shown in FIG. 12, and as shown in FIG.
, 3 may be provided with a rotating device 78 for the glass plate 12. In this case, the glass plate 12 flows as shown in the figure, and the direction toward the glass plate storage cassette is always constant.

上記回転装置78としては、第14図で示すものを用い
る。図において、79はバキューム用スリットの入った
円板で、この円板79を180°回転させるロータリシ
リンダ80に取付けられている。
As the rotating device 78, one shown in FIG. 14 is used. In the figure, reference numeral 79 denotes a disc with a vacuum slit, which is attached to a rotary cylinder 80 that rotates the disc 79 by 180°.

上記円板79は2段モーション可能なエアシリンダ81
により上下スライドメカ82を介して上下方向に駆動さ
れる。
The disk 79 is an air cylinder 81 capable of two-stage motion.
is driven in the vertical direction via the vertical slide mechanism 82.

上記構成において、まずエアシリンダ81による1段上
昇により、位lPO3,1またはpos。
In the above configuration, first, the air cylinder 81 raises the position 1PO3,1 or pos.

3に停止しているガラス板12を搬送コンベア21aま
たは21c上から少し浮かせる。次にガラス板12を円
板79上にバキュームチャックし、さらにエアシリンダ
81により2段目の上昇で、ガラス板12を搬送コンベ
ア21aまたは21cから充分外れた位置まで持ち上げ
、ロータリシリンダ80によりガラス板12を180°
回転させる。この後、2段目の上昇位置から1段目の位
置まで円板79を戻し、バキュームチャックをやめ、エ
アブロ−により円板79からガラス板12を頗し、円板
79を元の位置に戻す。
3, the glass plate 12 stopped at step 3 is slightly lifted off the top of the conveyor 21a or 21c. Next, the glass plate 12 is vacuum chucked onto the disk 79, and then the air cylinder 81 is used to raise the glass plate 12 to the second stage until it is sufficiently removed from the conveyor 21a or 21c. 12 to 180°
Rotate. After this, the disc 79 is returned from the second raised position to the first stage position, the vacuum chuck is stopped, the glass plate 12 is removed from the disc 79 by air blowing, and the disc 79 is returned to its original position. .

このため円板79は搬送コンベア21aまたは21C上
に戻る。
Therefore, the disk 79 returns onto the conveyor 21a or 21C.

このようにして回転装@78によりガラス板12の方向
を変えることにより第13図のような流れによるパター
ンチェックも可能となる。
In this way, by changing the direction of the glass plate 12 using the rotating device @78, it is also possible to check the pattern according to the flow as shown in FIG.

なお、上記実施例では、位lHPO3,2において、ス
テージ23を2段上昇させ、ガラス板12のパターン1
1を測定ピン52に接触させているが、本発明はこれに
限定されず、ステージ23は位置決めのため1段上昇さ
せるだけとし、この状態のガラス板12上のパターン1
1に対し、測定ヘッド24側を下降させ、測定ピン52
を接触させるようにしてもよい。
In the above embodiment, the stage 23 is raised two steps at position 1HPO3,2, and the pattern 1 of the glass plate 12 is
1 is brought into contact with the measuring pin 52, but the present invention is not limited to this, and the stage 23 is only raised by one step for positioning, and the pattern 1 on the glass plate 12 in this state is
1, the measuring head 24 side is lowered, and the measuring pin 52
may be brought into contact with each other.

すなわち、測定ヘッド24はステージ23に対し、その
上下動方向に沿って相対的に可動な関係で設ける。
That is, the measurement head 24 is provided in a movable relationship relative to the stage 23 along the vertical movement direction thereof.

なお、パターンの異なる別の品種のガラス基板をパター
ンチェックする場合は、単に測定ヘッドを取換えるだけ
で容易に対処でき、小ロツド生産、多酊生産共に自動化
が可能となる。
In addition, when checking the pattern of a different type of glass substrate with a different pattern, it can be easily handled by simply replacing the measuring head, making it possible to automate both small-lot production and high-volume production.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば、導電性薄膜によるパター
ンへの測定ピンの接触が点接触となるので、従来のよう
に引かき傷が生じたり、それによるパターン断線を防止
できる。また、点接触であるため多数のパターンに対す
るパターンチェック時間が短時間になるとともに、各測
定ピンの接触圧を同一にでき、測定の安定化かに1れる
。このため自動ローディング製餡やアンローディング装
置を接続することにより高速の自動化処理が可能になる
。さらに、別品種に対しても測定ヘッドを取換えるだけ
でよく、従来のように測定針の接触圧の調整?7難しい
調整を行なう必要はなく、準備時間も短縮される。
As described above, according to the present invention, the contact of the measurement pin to the pattern formed by the conductive thin film is a point contact, so that it is possible to prevent the occurrence of scratches and the resulting pattern disconnection as in the prior art. In addition, since point contact is used, pattern checking time for a large number of patterns is shortened, and the contact pressure of each measurement pin can be made the same, which contributes to stable measurement. Therefore, by connecting an automatic loading and unloading device, high-speed automated processing becomes possible. Furthermore, for different types of products, all you have to do is replace the measuring head, and the contact pressure of the measuring needle can be adjusted as before. 7 There is no need to make difficult adjustments, and preparation time is shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明によるl電性薄膜のパターンチェック装
置の一実施例を示す全体斜視図、第2図は本発明装置に
てパターンチェックされるガラス基板における基準点の
関係を示す図、第3図は第1図における品種判別部分を
示す斜視図、第4図@(ハ)は第1図におけるパターン
チェック部を示す斜視図および部分1面図、第5図は第
1図における測定ヘッド部を示す斜v2図、第6図は第
5図の測定ヘッドへの測定ピンの取付状態を示す図、第
7図および第8図は第6図の測定ピンとパターンとの接
触状態を示す図、第9図は第1図における分岐装置部分
を示す斜視図、第10図および第11図は第9図の装置
と組合わされるエレベータ装置および不良品収納カセッ
トを示す斜視図、第12図および第13図は本発明装置
の使用状態を示す図、第14図は第13図にて用いる回
転装「の構成例を示す斜視図、第15図および第16図
はガラス雄板の種類を示す斜視図、第17図は従来のパ
ターンチェック装置の斜視図である。 11・争パターン、12・・ガラス板、21・・搬送装
置、23・・ステージ、24・測定ヘッド、37・・ス
トッパ、43・位置決め機構、50・・吸着部、52・
・測定ピン。 $4v 鮮
FIG. 1 is an overall perspective view showing an embodiment of an electroconductive thin film pattern checking device according to the present invention, FIG. Fig. 3 is a perspective view showing the type discrimination part in Fig. 1, Fig. 4 @ (c) is a perspective view and partial front view showing the pattern check part in Fig. 1, and Fig. 5 is the measuring head in Fig. 1. FIG. 6 is a diagram showing how the measuring pin is attached to the measuring head in FIG. 5, and FIGS. 7 and 8 are diagrams showing the contact state between the measuring pin and the pattern in FIG. 6. , FIG. 9 is a perspective view showing the branching device part in FIG. Fig. 13 is a diagram showing the usage state of the device of the present invention, Fig. 14 is a perspective view showing an example of the configuration of the rotating device used in Fig. 13, and Figs. 15 and 16 show the types of male glass plates. 17 is a perspective view of a conventional pattern checking device. 11. Contest pattern, 12. Glass plate, 21. Conveying device, 23. Stage, 24. Measuring head, 37. Stopper. 43・Positioning mechanism, 50・Adsorption part, 52・
・Measuring pin. $4v Fresh

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ガラス板の表面に形成された導電性薄膜によるパ
ターンの導通および絶縁状態を検査する導電性薄膜のパ
ターンチェック装置において、前記ガラス板を所定方向
に搬送する搬送装置と、 この搬送装置の搬送路上に出没可能に設けられ突出時前
記ガラス板と当接してこれを停止させるストッパと、 このストッパによって停止されたガラス板の下方に上下
動可能に設けられ上昇時このガラス板を前記搬送装置と
の分離位置で載支するステージと、 このステージ上に載支されたガラス板の周辺部と当接し
このガラス板を所定のチェック位置に位置決めする位置
決め機構と、 前記ステージ上に設けられガラス板が上記所定のチェッ
ク位置に位置決めされたことを条件にこのガラス板をス
テージ上に吸着させる吸着部と、パターンチェック用の
測定ピンを有しこの測定ピンがステージ上に吸着された
ガラス板上の前記パターンと対向する如く配置されかつ
このパターンと測定ピンとが接触可能なように前記ステ
ージに対してその上下動方向に沿って相対的に可動な関
係で設けられた測定ヘッドと、 を備えたことを特徴とする導電性薄膜のパターンチェッ
ク装置。
(1) A conductive thin film pattern checking device that inspects the conductivity and insulation state of a pattern formed on the surface of a glass plate, including a conveying device that conveys the glass plate in a predetermined direction; A stopper is provided so as to be retractable on the conveyance path and comes into contact with the glass plate to stop it when it is projected; and a stopper is provided so as to be movable up and down below the glass plate stopped by the stopper so that the glass plate can be moved up and down by the conveyance device. a stage supported at a separate position from the glass plate; a positioning mechanism that abuts the peripheral portion of the glass plate supported on the stage and positions the glass plate at a predetermined check position; It has a suction unit that suctions the glass plate onto the stage on the condition that the glass plate is positioned at the predetermined check position, and a measurement pin for pattern checking, and this measurement pin is used to attach the glass plate to the stage. a measuring head disposed to face the pattern and movable relative to the stage along the vertical movement direction of the stage so that the pattern and the measuring pin can come into contact with each other; A conductive thin film pattern checking device featuring:
(2)ステージとしてガラス板上に複数面形成されたパ
ターンがそれぞれ測定ヘッドと対向するように上記ガラ
ス板を吸着した状態でシフト動作するものを用いたこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の導電性薄膜の
パターンチェック装置。
(2) As a stage, a stage is used which moves while holding the glass plate by suction so that a plurality of patterns formed on the glass plate face the measuring head. A pattern checking device for a conductive thin film as described in 1.
JP61030266A 1986-02-14 1986-02-14 Pattern checker for conductive thin film Pending JPS62188978A (en)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01124740A (en) * 1987-11-10 1989-05-17 Tokyo Electron Ltd Inspecting device
JPH01296172A (en) * 1988-05-24 1989-11-29 Nippon Typewriter Co Ltd Conductivity testing device of a plurality of conductive portions and substrate having electrodes thereof juxtaposed thereon
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JP2005227263A (en) * 2004-02-12 2005-08-25 Applied Materials Inc Electron beam test system equipped with integrated substrate conveyance module
JP2011098430A (en) * 2009-11-09 2011-05-19 Sharp Corp Positioning device

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