JPS62185114A - 自動平坦度計測器 - Google Patents

自動平坦度計測器

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Publication number
JPS62185114A
JPS62185114A JP2864886A JP2864886A JPS62185114A JP S62185114 A JPS62185114 A JP S62185114A JP 2864886 A JP2864886 A JP 2864886A JP 2864886 A JP2864886 A JP 2864886A JP S62185114 A JPS62185114 A JP S62185114A
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JP
Japan
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flatness
straight body
measuring device
display
value
Prior art date
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Pending
Application number
JP2864886A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Matsumi
松實 敏幸
Katsumasa Omaki
大牧 勝政
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP2864886A priority Critical patent/JPS62185114A/ja
Publication of JPS62185114A publication Critical patent/JPS62185114A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (gL業上の利用分野) 本発明は、平板状被測定物の平坦度を正確にかつリアル
タイムで、手際良く測定する計測器に関すものである。
(従来の技術) 例えば造船、橋梁等に使用される厚鋼板(以下単に厚板
と称す)は、溶接されて目的の鋼構造物になるわけであ
るが、溶接する厚板の平坦度が悪いとうまく開先処理が
できなかったり、溶接時の段違い等、不良溶接の原因と
なる。このため高い信頼度が要求される部材への平坦度
要求は非常に厳しい。たとえば距離1500mmの間で
凹凸が1〜2mm以下であることが要求されるのも希れ
ではない。
一般に、厚板の凹凸、即ち平坦度を定量的に扱うには、
第4図に示す如く、凸部頂点間距離1(通常ピッチとい
いPで表記する)と、最凹部落ち込み量2(通常波高値
といいHと表記する)の2つの物理量及び又は、その組
み合せパラメータ(例えばP / I−1)で表現する
従って、厚板の平坦度計測は、このピッチPと。
波高値IIを計測することになるが、従来の計測法は、
第5図に示す如く、測定しようとする厚板3の上に、ス
トレッチャー4と呼ばれる直状体を配置し、ストレッチ
ャー4と厚板3とのすき間5に、スキ間ゲージを何回も
差し込んで波高値■1を、また、ス1−レッチャ−4と
厚板3との接触位置からピッチ1〕を求めていた。
このため、当然のことながら1回の測定にかなりの時間
と労力を要するうえ、ピッチPの計a11精度もかなり
粗くならざるを得なかった。
一方、提案されたものとしては、被測定物上に計ill
 H:+を直接載置して計allするものは無く、わず
かに実開昭57−1568]0号公報に見られる如く、
ローラテーブル上を鋼板を移動させながらオンラインで
平坦度を計測する装置の提案がある。
しかるにこのものは搬送に伴う振動等の外乱により測定
1’+1度が粗いという不具合が避けられないうえに装
置が大型になり投資額が増大する欠点を伴う。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、このような事情に鑑み任意の位置に移動が自
在で測定が進退にでき、かつ精度の高い平坦度3 t’
 Kli Pubの提供を目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、上記の問題点を有利に解決するためになされ
たものでその要旨とするところは平板法被d111定物
上にtI!置して測定する平坦度計測器であって、剛性
を有する直状体と、該直状体の長さ方向に等間隔に配置
した複数個の偏位計と11汀記偏位計の初期値をセット
するプリセラ1ヘスイノチと、偏位工1から得られた信
号とプリセラ1〜値から平板状被測定物の平坦度を計算
する計算器を直状体に内蔵せしめて構成したことを特徴
とする自動平坦度肝/11!I器に関するものである。
(実施例) 以下、本発明を図面に示す実施例にもとすき、更に詳細
に説明する。
第1図は本発明の一実施例の外観を示す斜視図、第2図
は該実施例の電気系の構成を示すブロック図、第3a図
は第2図に示す計算器9の測定制御動作を示すフローチ
ャート、第3b図は、該実施例での平坦度測定原理、す
なわち測定対象面の凹凸のピーク及びボトムの求め方を
示す説明図である。
第1図および第2図で6は計測器本体となる剛性を有す
る直状体である。 1lllI定対象物が厚板の場合、
通常、その表面の平坦度評価はピッチ1500mmで行
うことが多いので、直状体6は、長さ2mとした。そし
て剛性をもたせたうえで、軽量化を図るために■聖断面
体としている。7は厚板との接触面にクラッドした耐摩
耗鋼で耐摩耗鋼の代りにセラミックをコーティングする
ことも直状体の保護として好ましいものである。8(8
8〜8t)はこの直状体6の長さ方向に10On+mピ
ッチの等間隔に配置した偏位計であり、例えば差動トラ
ンス方式等のものが利用可能で合計20個配置しである
。この差動トランス方式偏位計は、allI定レンジが
10 +n +nとかなり平坦度の悪いものも計測でき
るようにしであるが、測定レンジは被a1す宝物の内容
に合せて選択す、1シば良い。
9は直状体6に内蔵せしめた小型計算器であり、前記偏
位計8(8a〜8t)からの(3号が久方される。そし
て、偏位(ij号に基づき、ピッチP、波高値I(及び
P/[(の値を小型計算器って求める。
10 a 、  l Ob 、  10 cは直状体に
内臓させたLED (発光ダイオード)表示器で、小型
計算器9で求めた前記平坦度値をリアルタイムに表示す
るものである。11は、後で述べる、偏差計の初期セッ
トを与えるスイッチであり、12は、小型計算器の電源
となるソーラー電池で、13は把手である。
計算器9は、この例では、マイクロプロセッサ9aを主
体に、インターフェイス9b〜9cおよび電源回路9f
で構成されている。
インターフェイス9bは、各偏差計8a〜8tを付勢す
る電気回路、偏差測定信号を増幅する回路およびアナロ
グ測定信号(増幅出力)を、偏差計対応で選択するアナ
ログゲート回路1逍択されたアナログ測定信号をデジタ
ルデータに変換するA/Dコンバータで構成されており
、マイクロプロセッサ9aがアナログゲート制御データ
とA/D変換指示をこのインターフェイス9bに与えて
、インターフェイス9bが送り出すデジタルデータを取
込む。すなわち、1回(20組のデータ)の偏差読取に
おいて、マイクロプロセッサ9aは、偏差計8aから順
次に偏差計8tまでを指定してデジタル変換をインター
フェイス9bに指示して、インターフェイス9bが出力
する偏差データを偏差計8a宛てのものから順次に取込
む。
インターフェイス9Cは、データセレクタおよびラッチ
で構成されており、このインターフェイス9cに、マイ
クロプロセッサ9aが、表示器指示データと表示データ
を与える。インターフェイス9cは1表示器指示データ
で特定される出力ラッチに該表示データをラッチする。
マイクロプロセッサ9aは、P表示データ、H表示デー
タおよびP / l−1表示データを、それぞれ表示器
10a。
10bおよび10cを指定してインターフェイス9Gに
与えろ。インターフェイス9Cは、P表示データを表示
器IQaへの出力ラッチにセットし。
I(表示データを表示@ 101)への出力ラッチにセ
ットし、P/H表示データを表示器10cへの出力ラッ
チにセラ1〜する。表示器10a〜lOcは。
それぞれ4桁のキャラクタ(セグメント)ディスプレイ
、キャラクタデコーダおよびLED表示付勢回路を備え
るものであり、表示データが示す数値およびアルファベ
ットキャラクタを表示する。
電源回路9fは、ソーラーな池12によって充電される
充電回路(コンデンサを主体とする回路)および充電回
路の出力電圧を定電圧化して、計算器9およびその他の
電気回路要素に出力する定電圧回路で構成されている。
充電回路は、ソーラー電池12への光が遮られても、か
なりの長期間の間、定電圧回路出力を所定レベル以上に
維持させる。
次に、このように構成した自動平坦度計inl器の動作
を第2図、第3a図および第3b図を参照して詳述する
まず概要を説明すると、本計al’l器を厚板の上に載
置することにより20個の偏位計8a〜8tから得られ
た信号は、そのままでは、厚板3と直状体6との間隔を
示していない。そこで1本計6Iす器を使用する前に、
定盤へ持ってゆき、偏位計8a〜8tの初期値を、小形
計測器9内に記録しておく。この記録指令を出すのが、
プリセラ1−指令スイッチ11である。通常の平坦度計
測では、プリセット指令で読も込んだ値を差し引いて高
精度距離計aを行なうことができる。
このようにして得られた等間隔(Xi−Xiヤ12)の
、直状体6と厚板3との距離(Yi”Yi+12 )に
基づき、第3b図に示すように順次4個ずつ組み合せて
これを3次式で近似し、ラグランシュの補間公式により
ピーク点13a、13bを、距離Yの変化率=0からボ
トム点14aの位置と波高値I(を演算する。しかして
3次式の近似なので厚板凹凸の形状がピーク点(ボ1ヘ
ム点)に対して対象性を要求されることなくかつ、低次
の近似なので、演算処理時間も比較的早いという特徴が
ある。
次に第3a図を参照してマイクロプロセッサ9aの動作
を説明する。電源がオン(ソーラー電池12に光が当り
、電源回路9fの充電回路の電圧が所定値以上)になる
と(ステップ1)、マイクロプロセッサ9aは、内部レ
ジスタをクリアし、表示器10a〜10cに、アルファ
ベットのEの表示を指示するデータをインターフェイス
9Cに出力する(ステップ2)。これにより表示器10
a〜IOcのすべてがrEJを表示し、プリセットスイ
ッチ11が一度オンになるのを待つ。この表示は、初期
値をまだ読み込んでいない状態を示し。
このままでは平坦度は表示せず、表示はrE」のままに
留まる。
プリセットスイッチ11がオンになると(ステップ3)
、マイクロプロセッサ9aは、偏位計8a〜8tの検出
データを読込み、該データを初期値レジスタにメモリす
る(ステップ4)。これにより初期値が内部メモリにセ
ラ1−されたことになり、平坦度演算が可能となる。
初期値をメモリすると、T時限のタイマ(プログラムタ
イマ)をセソ゛トしくステップ5)、そのタイムオーバ
を待つ(ステップ6)。タイムオーバすると、偏位計8
a〜8tの検出データを読込んで、読込みデータより初
期値を減算して較正値を得て(ステップ7)、較正値に
基づいて前述のP。
HおよびP/[]の検出演算を行う(ステップ8)。
このようにしてPデータ、 I−1データおよびP /
 i(データを得ると、それらをそれぞれ表示器LOa
10bおよび10cの表示データとしてインターフェイ
ス9cに出力する(ステップ9)。
したがって、電源オン後一度ブリセットスイッチ11を
オンにした後は、T周期で偏位計8a〜8tの検出デー
タの読込、P、[(およびP / H演算およびそれら
の表示が行なわれる。その間、読取データの較正基準値
は、先にプリセットスイッチ11がオンにされたときの
、偏位計8a〜8tの検出データである。
さて、このようにT周期で検出データ読取、演算および
表示更新を行っている間に、プリセットスイッチ11が
またオンになると、ステップ6−ステップ11−ステッ
プ6のループからステップ12に進み、プリセットスイ
ッチオンフラグをセットする(ステップ12)。そして
、ステップ7−8−9と進んで、偏位計8a〜8tの検
出データを読込んでP、HおよびP/Hを演算して表示
する。この表示は、先にプリセットスイッチllがオン
したときに測定装置が置かれていた面(定盤)を完全平
面(基準)とした、今回測定装置が置か九でいる面(定
盤)の平坦度を示す。前回使用した定盤と今回使用する
定盤とが同じものであると!■=0となるはずであり、
I−1が0でないと、1]の値は定盤の平坦度誤差又は
測定誤差を示す。次いで、ステップlOから13に進ん
で、今回読込んだ偏位検出データを初期値レジスタに更
新メモリし、プリセラ1−スイラチオンフラグをクリア
して(ステップ14)T時限のタイマをセットする。
以下、前述の読取、演算9表示をT周期で繰り返す。
以上の通り本実施例では偏位計が100冊ピッチで配置
しであるので、波高値Hの計測精度は±0.1m、ピッ
チPのそれは±5fl闘と非常に高い精度を有している
。目的の精度によっては、偏位計の数を増減すれば良い
のは、説明を要しない。
電源としてソーラー電池を用いているが、それに代えて
、あるいはそれと共に、小型の1次電池又は2次電池を
用いてもよい。
また、薄板用に応用するのであれば、直状体の長さを短
くし、偏位計も、適当な数にすれば良い。
(5@明の効果) 上記の説明で分るごとく、本発明計測器は、軽量で、誰
でも簡単に取り扱うことができ、リアルタイムで平板状
被測定物の必要箇所の平坦度を精密に計測することがで
きかつ、設備費用も安価である。プリセットスイッチを
備えて初期値を入力し、その値でその後の読取値を較正
するようにしているので、偏位計の取付位[(H)方向
のばらつきや、直状体の曲りなどが実質上測定値に影響
を及ぼさないので、本発明の計測器は製造および調整が
容易であるという利点もある。又、測定対象物は鋼板の
みでなく、ガラス、合成樹脂機台板等にも適用可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の外観を示す斜視図、第2図
は該実施例の電気系の構成を示すブロック図、第3a図
は第2図に示すマイクロプロセッサ9aの動作を示すフ
ローチャート、第3b図は測定対象材の凹凸のピークお
よびボトムの求め方を示す説明図である。 第4図は平坦度の表現方法を示す説明図、第5図は従来
の平坦度測定方法を示す斜視図である。 1:ピッチ(P)   2:波高値(H)3:板厚  
    4:ストレッチャー5:すき間     6:
剛性を有する直状体8:偏位計     P:小型計測
器 9:計算@     10a、lOb、lOc : L
 E D表示器11ニブリセットスイッチ 12;ソーラー電池 特許出願人 新日本製鐵株式會社 第20 q− 第40 第50

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 平板状被測定物上に載置して測定する平坦度計測器であ
    って、剛性を有する直状体と、該直状体の長さ方向に等
    間隔に配置した複数個の偏位計と、前記偏位計の初期値
    をセットするプリセットスイッチと、偏位計から得られ
    た信号とプリセット値から、平板状被測定物の平坦度を
    計算する計算器を直状体に内蔵せしめて構成したことを
    特徴とする自動平坦度計測器。
JP2864886A 1986-02-12 1986-02-12 自動平坦度計測器 Pending JPS62185114A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2864886A JPS62185114A (ja) 1986-02-12 1986-02-12 自動平坦度計測器

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JP2864886A JPS62185114A (ja) 1986-02-12 1986-02-12 自動平坦度計測器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62185114A true JPS62185114A (ja) 1987-08-13

Family

ID=12254327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2864886A Pending JPS62185114A (ja) 1986-02-12 1986-02-12 自動平坦度計測器

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JP (1) JPS62185114A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5205046A (en) * 1991-06-05 1993-04-27 Ford Motor Company Method for measuring surface waviness
US5687487A (en) * 1995-09-25 1997-11-18 Dogwood Restorations Flatness tester

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6112010B2 (ja) * 1983-04-11 1986-04-05 Mitsubishi Seiko Kk

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