JPS62174679A - 中性子検出器 - Google Patents
中性子検出器Info
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- JPS62174679A JPS62174679A JP1659686A JP1659686A JPS62174679A JP S62174679 A JPS62174679 A JP S62174679A JP 1659686 A JP1659686 A JP 1659686A JP 1659686 A JP1659686 A JP 1659686A JP S62174679 A JPS62174679 A JP S62174679A
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- neutrons
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- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 7
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は中性子検出器、さらに詳しく言えば、中性子の
入射位置の二次元情報を得ることができる中性子検出器
に関する。
入射位置の二次元情報を得ることができる中性子検出器
に関する。
（従来の技術）
マイクロチャンネルプレートを用いた中性子の入射位置
の二次元情報を得ることができる中性子検出器はすでに
提案されている。第３図は従来の中性子検出器を示す断
面図である。
の二次元情報を得ることができる中性子検出器はすでに
提案されている。第３図は従来の中性子検出器を示す断
面図である。
シンチレータ４に中性子１が入射するとシンチレータ４
により光が発生させられる。
により光が発生させられる。
図において、２は発光点、３は光の経路を示す。
この光は光学結合材５を介してファイバプレート６に入
射し、光電面７に導かれる。
射し、光電面７に導かれる。
光電面７により発生させられた電子はマイクロチャンネ
ルプレート８に入射させられて、増倍される。
ルプレート８に入射させられて、増倍される。
増倍された電子はレジステイブアノード９に入射させら
れ、レジステイブアノード９により中性子の入射位置に
関する情報が取り出される。
れ、レジステイブアノード９により中性子の入射位置に
関する情報が取り出される。
（発明が解決しようとする問題点）
前記従来の中性子検出器では、シンチレータ４中やシン
チレータ４とファイバプレート６間の光字詰合材５にお
いて光の拡がりが生ずる。
チレータ４とファイバプレート６間の光字詰合材５にお
いて光の拡がりが生ずる。
また（１）中性子を荷電粒子に変換する過程、（２）荷
電粒子を光に変換する過程、 （３）光を光電面に導く過程、 （４）光を光電子に変換する過程、 （５）光電子を増倍する過程、 （６）位置信号の出力を得る過程、 といったいくつもの過程を経るために信号量のロスや信
号の統計的変動の増加を生ずる。
電粒子を光に変換する過程、 （３）光を光電面に導く過程、 （４）光を光電子に変換する過程、 （５）光電子を増倍する過程、 （６）位置信号の出力を得る過程、 といったいくつもの過程を経るために信号量のロスや信
号の統計的変動の増加を生ずる。
そのために中性子検出器の位置分解能はあまり良くない
。
。
本発明の目的は、上述の問題点を解決し中性子の入射位
置の分解性能を向上させた中性子検出器を提供すること
にある。
置の分解性能を向上させた中性子検出器を提供すること
にある。
（問題点を解決するための手段）
前記目的を達成するために、本発明による中性子検出器
は、マイクロチャンネルプレートの入力面側のチャンネ
ルの入口内面に中性子を荷電粒子に変換する物質を配置
し、中性子を荷電粒子に変換してマイクロチャンネルプ
レートのチャンネル内で増倍して検出するように構成さ
れている。
は、マイクロチャンネルプレートの入力面側のチャンネ
ルの入口内面に中性子を荷電粒子に変換する物質を配置
し、中性子を荷電粒子に変換してマイクロチャンネルプ
レートのチャンネル内で増倍して検出するように構成さ
れている。
（実施例）
以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する
。
。
第１図は、本発明による中性子検出器の実施例を示す断
面図である。
面図である。
真空容器１１内に入射方向線に対して傾きをもつチャン
ネルを持つマイクロチャンネルプレート８ａと８ｂが重
ねて挿入されている。
ネルを持つマイクロチャンネルプレート８ａと８ｂが重
ねて挿入されている。
中性子線の入射する側のマイクロチャンネルプレート８
のチャンネルの入射方向に向かう面に中性子を荷電粒子
に変換する物質（ホウ素およびガドリニウム）１０を蒸
着法により付着させである。
のチャンネルの入射方向に向かう面に中性子を荷電粒子
に変換する物質（ホウ素およびガドリニウム）１０を蒸
着法により付着させである。
中性子を荷電粒子に変換する物質１０に中性子１が入射
すると、ここで核反応をおこし荷電粒子を発生する。
すると、ここで核反応をおこし荷電粒子を発生する。
この荷電粒子はマイクロチャンネルプレート８ａ、８ｂ
のチャンネル中で電子に変換および増倍され、レジステ
イブアノード９上に電子のシャワーとなって入射させら
れる。
のチャンネル中で電子に変換および増倍され、レジステ
イブアノード９上に電子のシャワーとなって入射させら
れる。
レジステイブアノード９の出力を演算して、電流分布の
重心計算により中性子の入射位置が算出される。
重心計算により中性子の入射位置が算出される。
次に、第２図を参照してエツジレスポンスファンクショ
ン法による前記実施例の性能評価方法を説明する。
ン法による前記実施例の性能評価方法を説明する。
第２図は前記評価を行うための装置の配置を示す略図で
ある。
ある。
中性子源１１１より放出された中性子は減速材１１２に
より減速、加熱される。
より減速、加熱される。
Ｔ線遮蔽体１１３を通過して中性子は前記実施例装置に
入射させられる。
入射させられる。
なお、実施例装置の入射面の半分を中性子吸収体１１４
で覆う。
で覆う。
中性子源１１１と検出器との距離を十分に保ち、中性子
ビームが十分な平行度を保って入射するようにする。
ビームが十分な平行度を保って入射するようにする。
前記実施例装置では、測定結果０．０５ｍｍの位置分解
が得られた。
が得られた。
第３図に示した従来の検出装置についても同様な測定を
行ったが位置分解は０．５ｍｍの値が得られた。
行ったが位置分解は０．５ｍｍの値が得られた。
（発明の効果）
以上詳しく説明したように、中性子に原因する信号の取
り出し過程を簡略化したため、従来の検出器で生じてい
る光の拡がりや多段過程による統計的ゆらぎの増加を除
くことができる。
り出し過程を簡略化したため、従来の検出器で生じてい
る光の拡がりや多段過程による統計的ゆらぎの増加を除
くことができる。
また、位置分解能は前述したように、１０倍程度向上さ
せることができる。
せることができる。
また応答速度も約１１５に改善することができるように
なった。
なった。
第１図は、本発明による中性子検出器の実施例を示す断
面図である。 第２図は、中性子検出器の性能評価方法を示す略図であ
る。 第３図は、従来の中性子検出器を示す断面図である。 ■・・・入射中性子 ２・・・発光点３・・・光の
パス ４・・・シンチレータ５・・・光学結合材
６・・・ファイバプレート７・・・光電面 ８・・・マイクロチャンネルプレート ９・・・レジステイブアノード １０・・・中性子を荷電粒子に変換する物質１１１・・
・中性子線源 １１２・・・減速材１１３・・・γ線遮
蔽体 １１４・・・中性子吸収体１１６・・・位置演算
処理装置 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 溝 片１図 第２閾
面図である。 第２図は、中性子検出器の性能評価方法を示す略図であ
る。 第３図は、従来の中性子検出器を示す断面図である。 ■・・・入射中性子 ２・・・発光点３・・・光の
パス ４・・・シンチレータ５・・・光学結合材
６・・・ファイバプレート７・・・光電面 ８・・・マイクロチャンネルプレート ９・・・レジステイブアノード １０・・・中性子を荷電粒子に変換する物質１１１・・
・中性子線源 １１２・・・減速材１１３・・・γ線遮
蔽体 １１４・・・中性子吸収体１１６・・・位置演算
処理装置 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 溝 片１図 第２閾
Claims (3)
- （１）マイクロチャンネルプレートの入力面側のチャン
ネルの入口内面に中性子を荷電粒子に変換する物質を配
置し、中性子を荷電粒子に変換してマイクロチャンネル
プレートのチャンネル内で増倍して検出する中性子検出
器。 - （２）前記中性子を荷電粒子に変換する物質はホウ素お
よびガドリニウムである特許請求の範囲第１項記載の中
性子検出器。 - （３）前記マイクロチャンネルプレートのチャンネルは
入射方向線に対して傾斜させられており、前記中性子を
荷電粒子に変換する物質は、入射方向線に面するチャン
ネルの入口表面に付着させられている特許請求の範囲第
１項記載の中性子検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1659686A JPS62174679A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 中性子検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1659686A JPS62174679A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 中性子検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62174679A true JPS62174679A (ja) | 1987-07-31 |
| JPH0569393B2 JPH0569393B2 (ja) | 1993-09-30 |
Family
ID=11920665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1659686A Granted JPS62174679A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 中性子検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62174679A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0732705A1 (fr) * | 1995-03-14 | 1996-09-18 | Commissariat A L'energie Atomique | Dispositif de microcollimation de particules, détecteur et procédé de détection de particules, procédé de fabrication et utilisation dudit dispositif de microcollimation |
| WO2004023161A1 (en) * | 2002-09-07 | 2004-03-18 | University Of Leicester | Method and device for detecting fast neutrons |
| GB2415086A (en) * | 2004-06-08 | 2005-12-14 | Univ Wales Aberystwyth | Charge detector array |
| CN104215998A (zh) * | 2014-08-20 | 2014-12-17 | 中国原子能科学研究院 | 一种微通道中子示踪仪 |
| CN112269204A (zh) * | 2020-10-23 | 2021-01-26 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 微通道型快中子飞行时间探测器 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5863878A (ja) * | 1981-10-13 | 1983-04-15 | Toshiba Corp | 中性子空間分布測定装置 |
| JPS5897676A (ja) * | 1981-12-08 | 1983-06-10 | Toshiba Corp | 中性子検出装置 |
-
1986
- 1986-01-28 JP JP1659686A patent/JPS62174679A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5863878A (ja) * | 1981-10-13 | 1983-04-15 | Toshiba Corp | 中性子空間分布測定装置 |
| JPS5897676A (ja) * | 1981-12-08 | 1983-06-10 | Toshiba Corp | 中性子検出装置 |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0732705A1 (fr) * | 1995-03-14 | 1996-09-18 | Commissariat A L'energie Atomique | Dispositif de microcollimation de particules, détecteur et procédé de détection de particules, procédé de fabrication et utilisation dudit dispositif de microcollimation |
| FR2731832A1 (fr) * | 1995-03-14 | 1996-09-20 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de microcollimation de particules, detecteur et procede de detection de particules, procede de fabrication et utilisation dudit dispositif de microcollimation |
| WO2004023161A1 (en) * | 2002-09-07 | 2004-03-18 | University Of Leicester | Method and device for detecting fast neutrons |
| US7265359B2 (en) | 2002-09-07 | 2007-09-04 | University Of Leicester | Method and device for detecting fast neutrons |
| GB2415086A (en) * | 2004-06-08 | 2005-12-14 | Univ Wales Aberystwyth | Charge detector array |
| CN104215998A (zh) * | 2014-08-20 | 2014-12-17 | 中国原子能科学研究院 | 一种微通道中子示踪仪 |
| CN112269204A (zh) * | 2020-10-23 | 2021-01-26 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 微通道型快中子飞行时间探测器 |
| CN112269204B (zh) * | 2020-10-23 | 2022-11-18 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 微通道型快中子飞行时间探测器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0569393B2 (ja) | 1993-09-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |