JPS62172773A - Manufacture of tunnel type josephson element - Google Patents
Manufacture of tunnel type josephson elementInfo
- Publication number
- JPS62172773A JPS62172773A JP61014587A JP1458786A JPS62172773A JP S62172773 A JPS62172773 A JP S62172773A JP 61014587 A JP61014587 A JP 61014587A JP 1458786 A JP1458786 A JP 1458786A JP S62172773 A JPS62172773 A JP S62172773A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- superconductor
- electrode layer
- substrate
- superconductor electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims abstract description 107
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 29
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 229910000750 Niobium-germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、絶縁表面を有する基板上に所要のパターンに
形成されている第1の超伝導体電極層と、該第1の超伝
導体電極層上にバリア層を介して上記第1の超伝導体′
:ti極層に比し小さなパターンに形成されている第2
の超伝導体重ff1層とを有するトンネル型ジョセフソ
ン素子の製法の改良に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a first superconductor electrode layer formed in a desired pattern on a substrate having an insulating surface; the first superconductor' with a barrier layer thereon;
:The second layer is formed in a smaller pattern than the Ti pole layer.
The present invention relates to an improvement in the manufacturing method of a tunnel-type Josephson device having a superconducting heavy ff1 layer.
従来の技術
従来、絶縁表面を有する基板上に所要のパタ−ンに形成
されている第1の超伝導体電極層と、その第1の超伝導
体電極層上にバリア層を介して第1の超伝導体電極層に
比し小さなパターンに形成されている第2の超伝導体電
極層とを有するトンネル型ジョセフソン素子として、第
2図を伴になって次に述べる構成を有するものが提案さ
れている。Conventional technology Conventionally, a first superconductor electrode layer is formed in a desired pattern on a substrate having an insulating surface, and a first superconductor electrode layer is formed on the first superconductor electrode layer via a barrier layer. A tunnel-type Josephson device having a second superconductor electrode layer formed in a smaller pattern than the superconductor electrode layer shown in FIG. Proposed.
1−なりち、例えば、熱酸化膜の表面を有する基板1上
に、所要のパターンを有し且つNbまたはNb 5n
SNb3AI、Nb3Ge、Nb S i 、V
Ga、 V3 S +などのA−15型化合物もしくは
MoN、ZnN、NbNなどの窒化物などの硬超伝導体
でなる超伝導体電極層2が、局部的に形成され、一方、
この超伝導体電極m2上に、例えば数10人のような薄
い厚さを有する例えばAI酸化物でなるバリア層3を介
して、超伝導体電極層2に比し小さなパターンを有し且
つ超伝導体電極層2と同様の硬超伝導体でなり得る伯の
超伝導体電極層4が、局部的に形成されている。1-For example, on a substrate 1 having a surface of a thermal oxide film, having a desired pattern and Nb or Nb 5n
SNb3AI, Nb3Ge, Nb S i , V
A superconductor electrode layer 2 made of a hard superconductor such as an A-15 type compound such as Ga, V3S + or a nitride such as MoN, ZnN, or NbN is formed locally, while
On this superconductor electrode m2, a barrier layer 3 made of, for example, AI oxide and having a thin thickness of, for example, several tens of layers is interposed, and a superconductor electrode m2 having a pattern smaller than that of the superconductor electrode layer 2 and A superconductor electrode layer 4, which can be made of a hard superconductor similar to the conductor electrode layer 2, is locally formed.
また、基板1上に、超伝導体電極層4及びバリア層3を
覆い且つ超伝導体電極層4を取囲んでいる絶縁層5が形
成され、一方、その絶縁層5上に、超伝導体電極層4に
連結している超伝導体配線層6が形成されている。Further, an insulating layer 5 is formed on the substrate 1, covering the superconductor electrode layer 4 and the barrier layer 3 and surrounding the superconductor electrode layer 4; A superconductor wiring layer 6 connected to the electrode layer 4 is formed.
以上が、従来提案されているトンネル型ジョセフソン素
子の構成である。The above is the configuration of the conventionally proposed tunnel type Josephson element.
このような構成を有するトンネル型ジ=It?フソン素
子によれば、超伝導体電極層2及び4中少なくとも超伝
導体電極層2が硬超伝導体でなるので、トンネル型ジョ
セフソン素子としての機能が、超伝導体電極層2が銅な
どの軟超伝導体でなる場合に比し、熱サイクル特性に優
れている、歩留り良く製造することができる、などの特
徴を有する。A tunnel-type di=It? having such a configuration? According to the Fuson device, at least the superconductor electrode layer 2 of the superconductor electrode layers 2 and 4 is made of a hard superconductor. Compared to soft superconductors, it has characteristics such as superior thermal cycle characteristics and can be manufactured with high yield.
また、このような特徴が得られるトンネル型ジョセフソ
ン素子の製法として、従来、第3図を伴なって次に述べ
る方法が提案されている。Furthermore, as a method for manufacturing a tunnel type Josephson element that can obtain such characteristics, the method described below with reference to FIG. 3 has heretofore been proposed.
予め得られた基板1(第3図A)上に、種々の堆積法及
びエツチング法を用いて、爾後、超伝導体電極層2にな
る超伝導体層12と、爾後、バリア層3になる絶縁層1
3と、爾後超伝導体電極層4になる超伝導体層14とを
、それらの順に、種々の堆積法を用いて、形成する(第
3図B)。On a previously obtained substrate 1 (FIG. 3A), a superconductor layer 12, which will later become a superconductor electrode layer 2, and a barrier layer 3, using various deposition and etching methods, are deposited. Insulating layer 1
3 and a superconductor layer 14, which will later become a superconductor electrode layer 4, are formed in that order using various deposition methods (FIG. 3B).
次に、超伝導体層12と、絶縁層13と、超伝導体層1
4とからなる積層体15から、種々のエツチング法を用
いて、超伝導体層12から形成された超伝導体電極層2
と、その上の絶縁層13から形成されたバリア層3と、
その上の超伝導体層14から形成された超伝導体1!1
16とを形成する(第3図C)。Next, the superconductor layer 12, the insulating layer 13, and the superconductor layer 1
A superconductor electrode layer 2 formed from a superconductor layer 12 using various etching methods from a laminate 15 consisting of
and a barrier layer 3 formed from an insulating layer 13 thereon,
Superconductor 1!1 formed from superconductor layer 14 thereon
16 (Fig. 3C).
次に、超伝導体層16から、種々のエツチング法を用い
て、超伝導体電極層4を形成する(第3図D)。Next, a superconductor electrode layer 4 is formed from the superconductor layer 16 using various etching methods (FIG. 3D).
次に、基板1上に、種々の堆積法を用いて、超伝導体電
極層2及びバリア層3を覆い且つ超伝導体電極層4を取
囲Iυでいる絶縁層5を形成する(第3図E)。Next, an insulating layer 5 covering the superconductor electrode layer 2 and the barrier layer 3 and surrounding the superconductor electrode layer 4 at Iυ is formed on the substrate 1 using various deposition methods (the third Figure E).
次に、絶縁層5上に、種々の堆積法及びエツチング法を
用いて、超伝導体電極層5に連結している超伝導体配線
層6を形成する(第3図F)以上が、従来提案されてい
る、第2図で上述したトンネル型ジョセフソン素子の製
法である。Next, a superconductor wiring layer 6 connected to the superconductor electrode layer 5 is formed on the insulating layer 5 using various deposition methods and etching methods (FIG. 3F). This is a proposed method for manufacturing the tunnel-type Josephson element described above in FIG.
このようなトンネル型ジョセフソン素子の製法によれば
、第2図で上述したトンネル型ジョセフソン素子を、比
較的容易に製造することができる。According to such a method for manufacturing a tunnel type Josephson element, the tunnel type Josephson element described above in FIG. 2 can be manufactured relatively easily.
発明が解決しようとする間 。While the invention is trying to solve the problem.
しかしながら、上述した従来の1−ンネル型ジョセフソ
ン素子の製法の場合、とくに、基板1に接触している超
伝導体電極層が、基板1上に形成された広い面積を有す
る超伝導体層14から、エツチング法を用いて、超伝導
体層14に比し狭い面積を有するものとして形成される
。However, in the case of the above-mentioned method of manufacturing the conventional 1-channel Josephson device, the superconductor electrode layer in contact with the substrate 1 is formed on the superconductor layer 14 having a large area and formed on the substrate 1. Then, using an etching method, it is formed to have a narrower area than the superconductor layer 14.
このため、超伝導体層14にその形成時に蓄積されてい
たストレスが、超伝導体電極層2の形成時に一気に緩和
し、よって、超伝導体電極層2が縮んで形成される。ぞ
の結果、超伝う休電極層2上に形成される絶縁層3が、
変形して形成され、また、ある場合は損10を有するも
のとして形成されるおそれを有していた。Therefore, the stress accumulated in the superconductor layer 14 during its formation is relieved at once during the formation of the superconductor electrode layer 2, and the superconductor electrode layer 2 is therefore formed to shrink. As a result, the insulating layer 3 formed on the superconducting dormant electrode layer 2 is
There was a risk that the material would be deformed and, in some cases, may be formed with a loss of 10.
このため、上述した従来のトンネル型ジョセフソン素子
の製法の場合、トンネル型ジョセフソン素子を、所期の
接合特性を有するものとして形成することが困難である
、という欠点を有していた。For this reason, the above-described conventional method for manufacturing a tunnel-type Josephson element has the disadvantage that it is difficult to form a tunnel-type Josephson element with desired junction characteristics.
問題点を解決するための手
よって、本発明は、上述した欠点のない、新規なトンネ
ル型ジョセフソン素子の製法を提案せんとするものであ
る。In order to solve the problem, the present invention proposes a novel method for manufacturing a tunnel-type Josephson device, which does not have the above-mentioned drawbacks.
本発明によるトンネル型ジョセフソン素子の製法によれ
ば、基板上に、最終的に得られるべき硬超伝導体でなる
第1の超伝導体電極層のパターンに対応したパターンを
有する素子形成用窓を有するマスク層を形成する工程と
、基板上への上記マスク層を用いた堆積処理によって、
上記基板上の上記素子形成用窓に臨む領域に、その第1
の超伝導体電極層または爾後上記第1の超伝導体電極層
に形成される第3の超伝導体電極層と、最終的に得られ
るべきバリア層または爾後そのバリア層に形成されるバ
リア層と、最終的に得られるべき第2の超伝導体電極層
に形成される第4の超伝導体電極層とをそれらの順に積
層して形成する工程と、上記マスク層を上記基板上から
除去して後または除去することなしに、上記第4の超伝
導体電極層に対するエツチング処理により、−F2第4
の超伝導体電極層から、上記ff12の超伝導体Ti極
層を形成する工程とを有して、目的とするトンネル型ジ
ョセフソン素子を製造する。According to the method for manufacturing a tunnel-type Josephson device according to the present invention, a window for forming the device has a pattern on the substrate corresponding to the pattern of the first superconductor electrode layer made of a hard superconductor to be finally obtained. and a deposition process using the mask layer on the substrate,
In the region facing the element formation window on the substrate, the first
or a third superconductor electrode layer to be formed on the first superconductor electrode layer, and a barrier layer to be finally obtained or a barrier layer to be formed on the barrier layer. and a fourth superconductor electrode layer to be formed on the second superconductor electrode layer to be finally obtained, a step of stacking them in that order, and removing the mask layer from the substrate. After or without removing, the fourth superconductor electrode layer is etched to form -F2 fourth
The target tunnel type Josephson device is manufactured by forming the superconductor Ti electrode layer of ff12 from the superconductor electrode layer of .
作用・効果
このような本発明によるトンネル型ジョセフソン素子の
製法によれば、基板に接触している第1の超伝導体電極
層またはm後そのMlの超伝導体電極層に形成される第
3の超伝導体電極層が、マスク層を用いて、その窓とほ
ぼ同じ面積に形成される。このため、その第3の超伝導
体電極層から、エツチング法を用いて、最終的な第1の
超伝導体電極層を形成するとしても、その第1の超伝導
体電極層が大ぎく縮んで形成されることがない。このた
め、絶R層が変形して形成されたり、損傷を有するもの
として形成されるおそれを有しない。Functions and Effects According to the method for manufacturing a tunnel-type Josephson device according to the present invention, the first superconductor electrode layer that is in contact with the substrate or the first superconductor electrode layer that is formed on the Ml superconductor electrode layer that is in contact with the substrate. A superconductor electrode layer of 3 is formed using a mask layer in approximately the same area as the window. Therefore, even if the final first superconductor electrode layer is formed from the third superconductor electrode layer using an etching method, the first superconductor electrode layer will shrink considerably. It is never formed. Therefore, there is no risk that the absolute R layer will be formed deformed or damaged.
従って、本発明による1−ンネル型ジョセフソン素子の
製法によれば、所期の接合特性を有するトンネル型ジョ
セフソン素子を容易に製造することができる。Therefore, according to the method for manufacturing a tunnel type Josephson device according to the present invention, a tunnel type Josephson device having desired junction characteristics can be easily manufactured.
実施例
次に、第1図を伴なって、本発明によるトンネル型ジョ
セフソン素子の実施例を述べよう。Embodiment Next, an embodiment of the tunnel type Josephson device according to the present invention will be described with reference to FIG.
予め得られた第3図Aで上述したと同様の基板1(第1
図A)上に、最終的に得られる第2図で−L述した超伝
導体電極層2のパターンに対応したパターンを有する素
子形成用窓10を有する、例えばフォトレジストでなる
マスク層11を、それ自体は公知の方法ににって、最終
的に1qられる第2図で上述した超伝導体電極層4の上
面よりも高い上面になる厚さに形成する(第1図B)。A substrate 1 similar to that described above in FIG. 3A obtained in advance (first
On Figure A), a mask layer 11 made of, for example, photoresist is formed, having an element forming window 10 having a pattern corresponding to the pattern of the superconductor electrode layer 2 shown in Figure 2 finally obtained. , by a method known per se, to a thickness that will ultimately result in a higher top surface than the top surface of the superconductor electrode layer 4 described above in FIG. 2, which is 1q (FIG. 1B).
次に、基板1上へのマスク層11を用いた、第3図へで
上述したと同様のそれ自体は公知の方法によって、基板
1上の素子形成用窓10に臨む領域に、第2図及び第3
図Cで上述した超伝導体電極層2と、第2図及び第3図
で上述したバリアF13と、第3図Cで上述した超伝導
体F116とを、それらの順に積層して形成する(第1
図C)、この場合、マスク層11上に6、超伝導体電極
w!I2、バリアWA3及σ超伝導体層16と同じ超伝
導体電極層2′、バリア層3′及び超伝導体層16′が
形成される。Next, by using a mask layer 11 on the substrate 1 and using a method known per se as described above with reference to FIG. and third
The superconductor electrode layer 2 described above in FIG. C, the barrier F13 described above in FIGS. 2 and 3, and the superconductor F116 described above in FIG. 1st
Figure C), in this case 6 superconductor electrodes w! on the mask layer 11! The same superconductor electrode layer 2', barrier layer 3' and superconductor layer 16' as I2, barrier WA3 and σ superconductor layer 16 are formed.
次に、マスク層11を溶去することによって、基板1上
から、マスク層11を、その土に形成されている超伝導
体電極層2′、バリア層3′及び超伝導体層16′とと
もに除去するく第1図D)。Next, by dissolving the mask layer 11, the mask layer 11 is removed from the substrate 1 along with the superconductor electrode layer 2', barrier layer 3', and superconductor layer 16' formed on the soil. Figure 1 D).
次に、超伝導体F116から、第3図りで上述したと同
様に、それ自体は公知の種々のエツチング法を用いて、
第2図で上述した超伝導体電極層1を形成する(第1図
E)。Next, the superconductor F116 is etched using various etching methods known per se, as described above in the third diagram.
The superconductor electrode layer 1 described above in FIG. 2 is formed (FIG. 1E).
次に、基板1上に、第3図Eで−F述したと同様に、そ
れ自体は公知の種々のIt &i法を用いて、超伝導体
電極層2及びバリア層3を覆い且つ超伝導体電極層4を
取囲/υでいる、第2図で上述した絶縁層5を形成する
く第1図F)。Next, a superconducting electrode layer 2 and a barrier layer 3 are covered and a superconducting layer is placed on the substrate 1 using various It & An insulating layer 5 as described above in FIG. 2 is formed surrounding the body electrode layer 4 (FIG. 1F).
次に、絶縁層5上に、第3図Fで上述したと同様に、そ
れ自体は公知の種々の堆積法及びエツチング法を用いて
、超伝導体電極層5に連結している、第2図で上述した
超伝導体配線層6を形成する(第1図G)。A second layer is then deposited on the insulating layer 5 and connected to the superconductor electrode layer 5 using various deposition and etching methods known per se, as described above in FIG. 3F. The superconductor wiring layer 6 described above in the figure is formed (FIG. 1G).
以上が、本発明によるトンネル型ジョセフソン素子の製
法の実施例である。The above is an embodiment of the method for manufacturing a tunnel type Josephson device according to the present invention.
このようなトンネル型ジョセフソン素子の製法によれば
、第2図で上述したトンネル型ジョセフソン素子を、所
期の優れた接合特性を有するものとして、容易に製造す
ることができる。According to such a method for manufacturing a tunnel type Josephson element, the tunnel type Josephson element described above in FIG. 2 can be easily manufactured as having the desired excellent junction characteristics.
ちなみに、上述した本発明による製法によって、サブキ
ャップ抵抗と常伝導トンネル抵抗との比が25あってリ
ーク電流が極めて少なく、且つ接合電流のばらつきも±
3.2%と極めて少ない、優れたトンネル型ジョセフソ
ン素子を、歩留り良く製造することができた。By the way, the above-mentioned manufacturing method according to the present invention has a ratio of subcap resistance to normal tunnel resistance of 25, which results in extremely low leakage current and ± variation in junction current.
It was possible to manufacture an excellent tunnel-type Josephson element with a very small amount of 3.2% at a high yield.
なお、」上述においては、マスク層11を除去し、それ
を用いない場合の実施例を述べたが、マスク層11を残
した構成のトンネル型ジョセフソン素子を製造すること
もできる。In the above description, an embodiment has been described in which the mask layer 11 is removed and is not used, but it is also possible to manufacture a tunnel type Josephson element with a configuration in which the mask layer 11 remains.
また、マスク層11を用いて形成された超伝導体電極層
2及びバリア層3を、最終的な超伝導体層44層及びバ
リア層とせず、マスクF411を用いて形成された超伝
導体電極層2及びバリア層3から、エツチング法を用い
て、最終的な超伝導体電極層及びバリア層を形成するこ
ともでき、その他、本発明の精神を脱することなしに種
々の変型、変更をなし得るであろう。Moreover, the superconductor electrode layer 2 and barrier layer 3 formed using the mask layer 11 are not used as the final superconductor layer 44 layer and the barrier layer, and the superconductor electrode formed using the mask F411. The final superconductor electrode layer and barrier layer can be formed from layer 2 and barrier layer 3 using an etching method, and various other modifications and changes can be made without departing from the spirit of the invention. It could be done.
第1図A−Gは、本発明によるトンネル型ジョセフソン
素子の製法の実施例を示す順次の工程における路線的断
面図である。
第2図は、本発明によるトンネル型ジョセフソン素子の
実施例を示す路線的断面図である。
第3図A〜Fは、従来のトンネル型ジョセフソン素子の
製法を示1順次の工程における路線的断面図である。
1・・・・・・・・・基板
2・・・・・・・・・超伝導体電極層
3・・・・・・・・・バリア層
4・・・・・・・・・超伝導体電極層
5・・・・・・・・・絶縁層
6・・・・・・・・・超伝導体配線層
10・・・・・・・・・窓
11・・・・・・・・・マスク層
12・・・・・・・・・超伝導体層
13・・・・・・・・・絶縁層
171・・・・・・・・・超伝導体層
15・・・・・・・・・積層体
16・・・・・・・・・超伝導体層
出願人 日本電信電話株式会社
代理人 弁理士 1)中 正 冶
第1図
第1図
矛2図
第8図FIGS. 1A to 1G are sectional views showing sequential steps in an embodiment of the method for manufacturing a tunnel-type Josephson device according to the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view showing an embodiment of a tunnel-type Josephson device according to the present invention. FIGS. 3A to 3F are sectional views showing one sequential process of manufacturing a conventional tunnel-type Josephson device. 1...Substrate 2...Superconductor electrode layer 3...Barrier layer 4...Superconductor Body electrode layer 5...Insulating layer 6...Superconductor wiring layer 10...Window 11...・Mask layer 12...Superconductor layer 13...Insulating layer 171...Superconductor layer 15... ...Laminated body 16...Superconductor layer Applicant Nippon Telegraph and Telephone Corporation Agent Patent Attorney 1) Seiji Naka
Claims (1)
つ硬超伝導体でなる第1の超伝導体電極層と、該第1の
超伝導体電極層上にバリア層を介して上記第1の超伝導
体電極層に比し小さなパターンに形成されている第2の
超伝導体電極層とを有するトンネル型ジョセフソン素子
の製法において、 上記基板上に、上記第1の超伝導体電極層のパターンに
対応したパターンを有する素子形成用意を有するマスク
層を形成する工程と、 上記基板上への上記マスク層を用いた堆積処理によつて
、上記基板上の上記素子形成用窓に臨む領域に、上記第
1の超伝導体電極層または爾後上記第1の超伝導体電極
層に形成される第3の超伝導体電極層と、上記バリア層
または爾後上記バリア層に形成されるバリア層と、上記
第2の超伝導体電極層に形成される第4の超伝導体電極
層とをそれらの順に積層して形成する工程と、 上記マスク層を上記基板上から除去して後または除去す
ることなしに、上記第4の超伝導体電極層に対するエッ
チング処理により、上記第4の超伝導体電極層から、上
記第2の超伝導体電極層を形成する工程とを有すること
を特徴とするトンネル型ジョセフソン素子の製法。[Claims] A first superconductor electrode layer formed in a desired pattern on a substrate having an insulating surface and made of a hard superconductor, and a barrier layer on the first superconductor electrode layer. a second superconductor electrode layer formed in a smaller pattern than the first superconductor electrode layer through the substrate; Forming the element on the substrate by forming a mask layer having a pattern corresponding to the pattern of the superconductor electrode layer and preparing for element formation, and depositing the mask layer on the substrate. In a region facing the window, the first superconductor electrode layer or a third superconductor electrode layer to be formed later on the first superconductor electrode layer, and the barrier layer or a third superconductor electrode layer later formed on the barrier layer. a step of laminating the barrier layer to be formed and a fourth superconductor electrode layer to be formed on the second superconductor electrode layer in that order; and removing the mask layer from the substrate. forming the second superconductor electrode layer from the fourth superconductor electrode layer by etching the fourth superconductor electrode layer after or without removing the fourth superconductor electrode layer; 1. A method for manufacturing a tunnel-type Josephson element, characterized by comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61014587A JPS62172773A (en) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | Manufacture of tunnel type josephson element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61014587A JPS62172773A (en) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | Manufacture of tunnel type josephson element |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62172773A true JPS62172773A (en) | 1987-07-29 |
Family
ID=11865296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61014587A Pending JPS62172773A (en) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | Manufacture of tunnel type josephson element |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62172773A (en) |
-
1986
- 1986-01-24 JP JP61014587A patent/JPS62172773A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6010773A (en) | Method of forming 1-element fet-memory capacitor circuit | |
JP2000349356A (en) | Use of ion injection for preparing normal layer in superconductive-normal-superconductive josephson junction | |
CN1060926A (en) | Direct current superconducting quantum interference device and manufacture method thereof | |
JPS6146081A (en) | Manufacture of josephson junction element | |
JPS62172773A (en) | Manufacture of tunnel type josephson element | |
JPS6257263A (en) | Manufacture of josephson integrated circuit | |
JPS61181178A (en) | Josephson junction element and manufacture thereof | |
JPH03125469A (en) | Structure for mim capacitor | |
JP2535539B2 (en) | Josephson circuit manufacturing method | |
JP2899308B2 (en) | Superconducting element manufacturing method | |
JP2989943B2 (en) | Superconducting integrated circuit manufacturing method | |
JPS61244078A (en) | Manufacture of superconducting lines | |
JP2959439B2 (en) | Method of forming multilayer high-temperature superconducting integrated circuit | |
JP3333279B2 (en) | Superconducting base transistor | |
JP2003198007A (en) | Method of forming tunnel junction and tunnel junction device | |
JPS59194482A (en) | Tunnel junction type josephson element | |
JPS6060786A (en) | Manufacture of superconducting circuit device | |
JPS6164178A (en) | Manufacture of superconductive circuit | |
JPS6150385B2 (en) | ||
JPS60113485A (en) | Manufacture of josephson junction element | |
JPS6142179A (en) | Semiconductor-coupled superconductive element and manufacture thereof | |
JPS6257264A (en) | Manufacture of superconducting integrated circuit | |
JPH058596B2 (en) | ||
JPH01184967A (en) | Josephson element and manufacture thereof | |
JPH0374512B2 (en) |