JPS62170938A - 液晶素子 - Google Patents
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- JPS62170938A JPS62170938A JP1233786A JP1233786A JPS62170938A JP S62170938 A JPS62170938 A JP S62170938A JP 1233786 A JP1233786 A JP 1233786A JP 1233786 A JP1233786 A JP 1233786A JP S62170938 A JPS62170938 A JP S62170938A
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、液晶表示素子や液晶−光シャッタ等で用いる
液晶素子、特に強誘電性液晶を用いた液晶素子に関し、
更に詳しくは液晶分子の初期配向状態を改善することに
より、表示特性を改善した液晶素子に関するものである
。
液晶素子、特に強誘電性液晶を用いた液晶素子に関し、
更に詳しくは液晶分子の初期配向状態を改善することに
より、表示特性を改善した液晶素子に関するものである
。
強誘電性液晶分子の屈折率異方性を利用して偏光素子と
の組み合わせにより透過光線を制御する型の表示素子が
クラーク(C1ark)及びラガーウオル(Lager
wall)により提案されている(特開昭56−107
216号公報、米国特許第4367924号明細書等)
。この強誘電性液晶は、一般に特定の温度域において、
カイラルスメクチックC相(SmC* )又はH相(S
mH*)を有し、この状態において、加えられる電界に
応答して第1の光学的安定状態と第2の光学的安定状態
のいずれかを取り、且つ電界の印加のないときはその状
態を維持する性質、すなわち双安定性を有し、また電界
の変化に対する応答も速やかであり、高速ならびに記憶
型の表示素子としての広い利用が期待されている。
の組み合わせにより透過光線を制御する型の表示素子が
クラーク(C1ark)及びラガーウオル(Lager
wall)により提案されている(特開昭56−107
216号公報、米国特許第4367924号明細書等)
。この強誘電性液晶は、一般に特定の温度域において、
カイラルスメクチックC相(SmC* )又はH相(S
mH*)を有し、この状態において、加えられる電界に
応答して第1の光学的安定状態と第2の光学的安定状態
のいずれかを取り、且つ電界の印加のないときはその状
態を維持する性質、すなわち双安定性を有し、また電界
の変化に対する応答も速やかであり、高速ならびに記憶
型の表示素子としての広い利用が期待されている。
この双安定性を有する液晶、を用いた光学変調素子が所
定の駆動特性を発揮するためには、一対の平行基板間に
配置される液晶が、電界に印加状態とは無関係に、上記
2つの安定状態の間での変換が効果的に起るような分子
配列状態にあることが必要である。たとえばS m C
*またはSmH*相を有する強誘電性液晶については、
SmC*またはS m H*相を有する液晶分子相が基
板面に対して垂直で、したがって液晶分子軸が基板面に
ほぼ平行に配列した領域(モノドメイン)が形成される
必要がある。
定の駆動特性を発揮するためには、一対の平行基板間に
配置される液晶が、電界に印加状態とは無関係に、上記
2つの安定状態の間での変換が効果的に起るような分子
配列状態にあることが必要である。たとえばS m C
*またはSmH*相を有する強誘電性液晶については、
SmC*またはS m H*相を有する液晶分子相が基
板面に対して垂直で、したがって液晶分子軸が基板面に
ほぼ平行に配列した領域(モノドメイン)が形成される
必要がある。
ところで、強誘電性液晶の配向方法としては、一般にラ
ビング処理や斜方蒸着処理などによる一軸性配向処理を
施した配向制御膜を用いる方法が知られている。
ビング処理や斜方蒸着処理などによる一軸性配向処理を
施した配向制御膜を用いる方法が知られている。
この従来からの配向方法は、そのほとんどが双安定性を
示さないらせん構造をもつ強誘電性液晶に対するもので
あった。例えば、特開昭60−230635号公報に開
示された配向方法は、双安定性を示さないらせん構造の
状態下で強誘電性液晶をラビング処理したポリイミド膜
によって配向制御するものであった。゛ しかしながら、前述した如きの従来の配向制御膜をクラ
ークとラガーウオルによって発表された双安定性を示す
非らせん構造の強誘電性液晶に対する配向制御に適用し
た場合には、上述の如き問題点を有していた。
示さないらせん構造をもつ強誘電性液晶に対するもので
あった。例えば、特開昭60−230635号公報に開
示された配向方法は、双安定性を示さないらせん構造の
状態下で強誘電性液晶をラビング処理したポリイミド膜
によって配向制御するものであった。゛ しかしながら、前述した如きの従来の配向制御膜をクラ
ークとラガーウオルによって発表された双安定性を示す
非らせん構造の強誘電性液晶に対する配向制御に適用し
た場合には、上述の如き問題点を有していた。
すなわち、本発明者らの実験によれば、従来の配向制御
膜によって配向させて得られた非らせん構造の強誘電性
液晶でのチルト角(後述の第2図に示す角度)がらせん
構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角(後述の第1図に
示す五角錐の頂角■)と較べて小さくなっていることが
判明した。特に、従来の配向制御膜によって配向させて
得た非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角θは、一
般に80°程度で、その時の透過率はせいぜい3〜5%
程度であった。
膜によって配向させて得られた非らせん構造の強誘電性
液晶でのチルト角(後述の第2図に示す角度)がらせん
構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角(後述の第1図に
示す五角錐の頂角■)と較べて小さくなっていることが
判明した。特に、従来の配向制御膜によって配向させて
得た非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角θは、一
般に80°程度で、その時の透過率はせいぜい3〜5%
程度であった。
この様に、クラークとラガーウオルによれば双安定性を
実現する非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角がら
せん構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角と同一の角度
をもつはずである。が、実際には非らせん構造でのチル
ト角θの方がらせん構造でのチルト角■より小さくなっ
ている。しかも、この非らせん構造でのチルト角θがら
せん構造でのチルト角■より小さくなる原因が非らせん
構造での液晶分子のねじれ配列に帰因していることが判
明した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電性液晶では
、液晶分子が第3図に示す様に基板の法線に対して上基
板に隣接する液晶分子の軸32より下基板に隣接する液
晶分子の軸33(ねじれ配列の方向34)へ連続的にね
じれ角δでねじれて配列しており、このことが非らせん
構造でのチルト角δがらせん構造でのチルト角■より小
さくなる原因となっていると考えられる。
実現する非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角がら
せん構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角と同一の角度
をもつはずである。が、実際には非らせん構造でのチル
ト角θの方がらせん構造でのチルト角■より小さくなっ
ている。しかも、この非らせん構造でのチルト角θがら
せん構造でのチルト角■より小さくなる原因が非らせん
構造での液晶分子のねじれ配列に帰因していることが判
明した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電性液晶では
、液晶分子が第3図に示す様に基板の法線に対して上基
板に隣接する液晶分子の軸32より下基板に隣接する液
晶分子の軸33(ねじれ配列の方向34)へ連続的にね
じれ角δでねじれて配列しており、このことが非らせん
構造でのチルト角δがらせん構造でのチルト角■より小
さくなる原因となっていると考えられる。
尚、図中31は上下基板に形成したラビング処理や斜方
蒸着処理によって得られたー軸性配同軸を表わしている
。
蒸着処理によって得られたー軸性配同軸を表わしている
。
ところで、液晶の複屈折を利用した液晶素子の場合、直
交ニコル下での透過率は、 で表わされる。前述の非らせ構造におけるチルトθは第
1と第2の配向状態でのねじれ配列した液晶分子の平均
分子軸方向の角度として現われることになる。上式によ
れば、かかるチルトθが22.5゜の角度の時最大の透
過率となるが、双安定性を実現する非らせん構造でのチ
ルト角θは大きくて9゜程度の角度であり、従って表示
装置としての適用を考慮した時にはその透過率は3〜5
%程度で十分なものとはならない問題がある。
交ニコル下での透過率は、 で表わされる。前述の非らせ構造におけるチルトθは第
1と第2の配向状態でのねじれ配列した液晶分子の平均
分子軸方向の角度として現われることになる。上式によ
れば、かかるチルトθが22.5゜の角度の時最大の透
過率となるが、双安定性を実現する非らせん構造でのチ
ルト角θは大きくて9゜程度の角度であり、従って表示
装置としての適用を考慮した時にはその透過率は3〜5
%程度で十分なものとはならない問題がある。
[問題点を解決するための手段]及び[作用コ従って、
本発明の目的は、前述の問題点を解決すること、すなわ
ち少なくとも2つの安定状態、特に双安定性を実現する
非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角を増大し、こ
れによって画素シャッタ開口時の透過率を向上させた液
晶素子を提供。
本発明の目的は、前述の問題点を解決すること、すなわ
ち少なくとも2つの安定状態、特に双安定性を実現する
非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角を増大し、こ
れによって画素シャッタ開口時の透過率を向上させた液
晶素子を提供。
することにある。
本発明の別の目的は、強誘電性液晶のモノドメイン形成
に適した配向制御膜を用いた液晶素子を提供することに
ある。
に適した配向制御膜を用いた液晶素子を提供することに
ある。
すなわち、本発明は、一対の平行基板と、該一対の平行
基板の面に対して実質的に垂直な複数の層を形成してい
る分子の配列をもつ強誘電性液晶とを有する液晶素子に
おいて、前記一対の平行基板のうちの少なくとも一方の
基板が、前記複数の層を一方向に優先して配向させる効
果をもつ下記一般式で示された単位をもつ高分子物質の
被膜を有している液晶素子に特徴を有している。
基板の面に対して実質的に垂直な複数の層を形成してい
る分子の配列をもつ強誘電性液晶とを有する液晶素子に
おいて、前記一対の平行基板のうちの少なくとも一方の
基板が、前記複数の層を一方向に優先して配向させる効
果をもつ下記一般式で示された単位をもつ高分子物質の
被膜を有している液晶素子に特徴を有している。
一般式
〔式中Rは、式
基板上に上記ポリイミド系高分子膜を設ける為にはポリ
アミック酸をN−メチルピロリドン(NMP)、ジメチ
ルホルムアミド(DMF)、ジメチルアセトアミド(D
MAC)、ジメチルスルホキサイド(DMSO)、硫酸
ジメチル、スルホラン、ブチルラクトン、クレゾール、
フェノール、ハロゲン化フェノール、シクロヘキサノン
、ジオキサンなどに溶解し、基板上に塗布した後、加熱
処理して脱水閉環してイミド結合を持たせた。
アミック酸をN−メチルピロリドン(NMP)、ジメチ
ルホルムアミド(DMF)、ジメチルアセトアミド(D
MAC)、ジメチルスルホキサイド(DMSO)、硫酸
ジメチル、スルホラン、ブチルラクトン、クレゾール、
フェノール、ハロゲン化フェノール、シクロヘキサノン
、ジオキサンなどに溶解し、基板上に塗布した後、加熱
処理して脱水閉環してイミド結合を持たせた。
ポリイミド前駆体のポリアミック酸はテトラカルボン酸
の無水物とジアミンの縮合により合成される。用いられ
るテトラカルボン酸無水物としては下記構造式(1)の
テトラカルボン酸二無水物が有用である。
の無水物とジアミンの縮合により合成される。用いられ
るテトラカルボン酸無水物としては下記構造式(1)の
テトラカルボン酸二無水物が有用である。
ジアミンとしては、p−フェニレンジアミン、4゜4′
−ジアミノジフェニルエーテル、4.4’ −ジアミノ
ジフェニルメタン、ベンジジン、4.4’ −ジアミノ
ターフェニル、4,4′ −ジアミノジフェニルスルフ
ィド、4.4’ −ジアミノフェニルスルホン、l、5
−ジアミノナフタレン、5(6)アミノ−1(4′ −
アミノフェニル) 1,3.3−トリメチルインダン、
3.3′ −ベンゾフェノンジアミン等が用いられる。
−ジアミノジフェニルエーテル、4.4’ −ジアミノ
ジフェニルメタン、ベンジジン、4.4’ −ジアミノ
ターフェニル、4,4′ −ジアミノジフェニルスルフ
ィド、4.4’ −ジアミノフェニルスルホン、l、5
−ジアミノナフタレン、5(6)アミノ−1(4′ −
アミノフェニル) 1,3.3−トリメチルインダン、
3.3′ −ベンゾフェノンジアミン等が用いられる。
このようにして得られたポリアミック酸は極限粘度(〔
η)) 0.1〜5.0が好ましい。得られたポリアミ
ック酸を溶剤により希釈したのち基板に塗布することで
薄膜を形成する。塗布後、100〜400℃で脱水閉環
してポリイミド高分子薄膜を設ける。
η)) 0.1〜5.0が好ましい。得られたポリアミ
ック酸を溶剤により希釈したのち基板に塗布することで
薄膜を形成する。塗布後、100〜400℃で脱水閉環
してポリイミド高分子薄膜を設ける。
くテトラカルボン酸二無水物の構造式〉〔実施例〕
第1図は、らせん構造を用いた強誘電性液晶セルの例を
模式的に描いたものである。llaとllbは、In2
0a、SnO2やITO(Indium Tin
0xide)等の透明電極がコートされた基板(ガラス
板)であり、その間に複数の液晶分子層12がガラス基
板面に対して垂直な層となるよう配向したSmC*(カ
イラルスメクチックC相)の液晶が封入されている。太
線で示した線13が液晶分子を表わしており、この液晶
分子13は、その分子に直交した方向に双極子モーメン
ト(P工) 14を有している。
模式的に描いたものである。llaとllbは、In2
0a、SnO2やITO(Indium Tin
0xide)等の透明電極がコートされた基板(ガラス
板)であり、その間に複数の液晶分子層12がガラス基
板面に対して垂直な層となるよう配向したSmC*(カ
イラルスメクチックC相)の液晶が封入されている。太
線で示した線13が液晶分子を表わしており、この液晶
分子13は、その分子に直交した方向に双極子モーメン
ト(P工) 14を有している。
この時の三角錐の頂角をなす角度がかかるらせん構造の
カイラルスメクチック相でのチルト角■を表わしている
。基板11aとllb上の電極間に一定の閾値以上の電
圧を印加すると、液晶分子13のらせん構造がほどけ、
双極子モーメント(P土) 14はすべて電界方向に向
くよう、液晶分子13の配向方向を変えることができる
。
カイラルスメクチック相でのチルト角■を表わしている
。基板11aとllb上の電極間に一定の閾値以上の電
圧を印加すると、液晶分子13のらせん構造がほどけ、
双極子モーメント(P土) 14はすべて電界方向に向
くよう、液晶分子13の配向方向を変えることができる
。
しかし、このらせん構造を用いた強誘電性液晶は、電界
無印加時には、ちとのらせん構造に復帰するもので、下
達する双安定性を示さない。
無印加時には、ちとのらせん構造に復帰するもので、下
達する双安定性を示さない。
本発明の好ましい具体例では、少なくとも2つの安定状
態、特に双安定状態をもつ第2図に示す強誘電性液晶素
子を用いることができる。すなわち、液晶セルの厚さを
充分に薄くした場合(例えば1μ)には、第2図に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造はほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントPa又はpbは上向き(24a)又は下向き(24
b)のどちらかの状態をとり、双安定状態が形成される
。このようなセルに第2図に示す如(一定の閾値以上の
極性の異る電界Ea又はEbを付与すると、双極子モー
メント電界Ea又はEbは電界ベクトルに対応して上向
き24a又は、下向き24bと向きを変え、それに応じ
て液晶分子は第1の安定状態23aかあるいは第2の安
定状態23bの何れか一方に配向する。この時の第1と
第2の安定状態のなす角度の1/2がチルト角θに相当
している。
態、特に双安定状態をもつ第2図に示す強誘電性液晶素
子を用いることができる。すなわち、液晶セルの厚さを
充分に薄くした場合(例えば1μ)には、第2図に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造はほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントPa又はpbは上向き(24a)又は下向き(24
b)のどちらかの状態をとり、双安定状態が形成される
。このようなセルに第2図に示す如(一定の閾値以上の
極性の異る電界Ea又はEbを付与すると、双極子モー
メント電界Ea又はEbは電界ベクトルに対応して上向
き24a又は、下向き24bと向きを変え、それに応じ
て液晶分子は第1の安定状態23aかあるいは第2の安
定状態23bの何れか一方に配向する。この時の第1と
第2の安定状態のなす角度の1/2がチルト角θに相当
している。
このような強誘電性液晶を光学変調素子として用いるこ
との利点が2つある。第1に、応答速度が極めて速い・
こと、第2に液晶分子の配向が双安定性を有することで
ある。第2の点を、例えば第2図によって説明すると、
電界Eaを印加すると液晶分子は第1の安定状態23a
に配向するが、この状態は電界を切っても安定である。
との利点が2つある。第1に、応答速度が極めて速い・
こと、第2に液晶分子の配向が双安定性を有することで
ある。第2の点を、例えば第2図によって説明すると、
電界Eaを印加すると液晶分子は第1の安定状態23a
に配向するが、この状態は電界を切っても安定である。
又、逆向きの電界Ebを印加すると、液晶分子は第2の
安定状態23bに配向して、その分子の向きを変えるが
、やはり電界を切ってもこの状態に留っている。又、与
える電界Eaが一定の閾値を越えない限り、それぞれの
配向状態にやはり維持されている。このような応答速度
の速さと、双安定性によるメモリー効果が有効に実現さ
れるには、セルとしては出来るだけ薄い方が好ましく、
一般的には、0.5μ〜20μ、特に1μ〜5μが適し
ている。この種の強誘電性液晶を用いたマトリクス電極
構造を有する液晶−電気光学装置は、例えばクラークと
ラガバルにより、米国特許第4367924号明細書で
提案されている。
安定状態23bに配向して、その分子の向きを変えるが
、やはり電界を切ってもこの状態に留っている。又、与
える電界Eaが一定の閾値を越えない限り、それぞれの
配向状態にやはり維持されている。このような応答速度
の速さと、双安定性によるメモリー効果が有効に実現さ
れるには、セルとしては出来るだけ薄い方が好ましく、
一般的には、0.5μ〜20μ、特に1μ〜5μが適し
ている。この種の強誘電性液晶を用いたマトリクス電極
構造を有する液晶−電気光学装置は、例えばクラークと
ラガバルにより、米国特許第4367924号明細書で
提案されている。
本発明の液晶素子で用いることができる強誘電性液晶と
しては、例えばp−デシロキシベンジリデン−p゛−ア
ミノ−2−メチルブチルシンナメート(DOBAMBC
)、p−へキシロキシベンジリデン−p′−アミノ−2
−クロルプロピルシンナメート(HOBACPC)、p
−デシロキシベンジリデン−p′−アミノ−2−メチル
ブチル−α−シアノシンナメート(DOBAMBCC)
、p−テトラデシロキシベンジリデン−p′−アミノ−
2−メチルブチル−α−シアノシンナメート(TDOB
AMBCC)、p−オクチルオキシベンジリデン−p′
−アミノ−2−メチルブチル−α−クロロシンナメート
(OOBAMBCC)、p−オクチルオキシベンジリデ
ン−p′−アミノ−2−メチルプチルーα−メチルシン
ナメート、4.4’−アゾキシシンナミックアシッド−
ビス(2−メチルブチル)エステル、4−o−(2−メ
チル)プチルレゾルシリデンー4′−オクチルアニリン
、4−(2′−メチルブチル)フェニル−4′−オクチ
ルオキシビフェニル−4−カルボキシレート、4−へキ
シルオキシフェニル−4−(2”−メチルブチル)ビフ
ェニル−4′−カルボキシレート、4−オクチルオキシ
フェニル−4−(2”−メチルブチル)ビフェニル−4
′−カルボキシレート、4−へブチルフェニル−4−(
4”−メチルヘキシル)ビフェニル−4′−力ルポキシ
レート、4−(2” −メチルブチル)フェニル−4−
(4”−メチルヘキシル)ビフェニル−4′−カルボキ
シレートなどを挙げることができ、これらの単独又は2
種以上組合せて用いることができ、又強誘電性を示す範
囲で他のコレステリック液晶やスメクチック液晶を含有
させることができる。
しては、例えばp−デシロキシベンジリデン−p゛−ア
ミノ−2−メチルブチルシンナメート(DOBAMBC
)、p−へキシロキシベンジリデン−p′−アミノ−2
−クロルプロピルシンナメート(HOBACPC)、p
−デシロキシベンジリデン−p′−アミノ−2−メチル
ブチル−α−シアノシンナメート(DOBAMBCC)
、p−テトラデシロキシベンジリデン−p′−アミノ−
2−メチルブチル−α−シアノシンナメート(TDOB
AMBCC)、p−オクチルオキシベンジリデン−p′
−アミノ−2−メチルブチル−α−クロロシンナメート
(OOBAMBCC)、p−オクチルオキシベンジリデ
ン−p′−アミノ−2−メチルプチルーα−メチルシン
ナメート、4.4’−アゾキシシンナミックアシッド−
ビス(2−メチルブチル)エステル、4−o−(2−メ
チル)プチルレゾルシリデンー4′−オクチルアニリン
、4−(2′−メチルブチル)フェニル−4′−オクチ
ルオキシビフェニル−4−カルボキシレート、4−へキ
シルオキシフェニル−4−(2”−メチルブチル)ビフ
ェニル−4′−カルボキシレート、4−オクチルオキシ
フェニル−4−(2”−メチルブチル)ビフェニル−4
′−カルボキシレート、4−へブチルフェニル−4−(
4”−メチルヘキシル)ビフェニル−4′−力ルポキシ
レート、4−(2” −メチルブチル)フェニル−4−
(4”−メチルヘキシル)ビフェニル−4′−カルボキ
シレートなどを挙げることができ、これらの単独又は2
種以上組合せて用いることができ、又強誘電性を示す範
囲で他のコレステリック液晶やスメクチック液晶を含有
させることができる。
また、本発明では強誘電性液晶としてカイラルスメクチ
ック相を用いることができ、具体的には、カイラルスメ
クチックC相(S m C* )、H相(S m H*
)、I相(S m I * )、K相(SmK*)や
G相(SmG*)を用いることができる。
ック相を用いることができ、具体的には、カイラルスメ
クチックC相(S m C* )、H相(S m H*
)、I相(S m I * )、K相(SmK*)や
G相(SmG*)を用いることができる。
第4図は、本発明の液晶素子の1つの態様を表わす断面
図である。第4図に示す液晶素子は、一対の平行配置し
た上基板41a及び下基板41bと、それぞれの基板に
配線した透明電極42aと42bを備えている。上基板
41aと下基板41bとの間には強誘電性液晶、好まし
くは少なくとも2つの安定状態を非らせん構造の強誘電
性液晶43が配置されている。
図である。第4図に示す液晶素子は、一対の平行配置し
た上基板41a及び下基板41bと、それぞれの基板に
配線した透明電極42aと42bを備えている。上基板
41aと下基板41bとの間には強誘電性液晶、好まし
くは少なくとも2つの安定状態を非らせん構造の強誘電
性液晶43が配置されている。
前述して透明電極42aと42bは、強誘電性液晶43
をマルチプレクシング駆動するために、それぞれストラ
イブ形状で配線され、且つそのストライプ形状が互いに
交差させて配置されていることが好ましい。
をマルチプレクシング駆動するために、それぞれストラ
イブ形状で配線され、且つそのストライプ形状が互いに
交差させて配置されていることが好ましい。
本発明の液晶素子は、基板41aと41bにそれぞれ前
記一般式で示された高分子物質の被膜で形成した配向制
御膜44aと44bが配置されている。
記一般式で示された高分子物質の被膜で形成した配向制
御膜44aと44bが配置されている。
前記一般式で示される単位を繰返しもつポリイミドの配
向制御膜の具体例としては、下記のものが挙げられる。
向制御膜の具体例としては、下記のものが挙げられる。
(史不主上I
(1)前記構造式(1)の化合物とp−フェニレンジア
ミンをl:lのモル比で加熱によって縮合させてポリア
ミック酸を作成した後、100℃〜400℃の温度で加
熱することによって、脱水閉環させて形成したポリイミ
ド(1)。
ミンをl:lのモル比で加熱によって縮合させてポリア
ミック酸を作成した後、100℃〜400℃の温度で加
熱することによって、脱水閉環させて形成したポリイミ
ド(1)。
(2)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルエ
ーテルに代えて作成したポリイミド(2)。
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルエ
ーテルに代えて作成したポリイミド(2)。
(3)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルメ
タンに代えて作成したポリイミド(3)。
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルメ
タンに代えて作成したポリイミド(3)。
(4)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンをベンジジンに代えて作成したポリ
イミド(4)。
フェニレンジアミンをベンジジンに代えて作成したポリ
イミド(4)。
(5)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンを4,4′−ジアミノターフェニル
に代えて作成したポリイミド(5)。
フェニレンジアミンを4,4′−ジアミノターフェニル
に代えて作成したポリイミド(5)。
(6)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルス
ルフィドに代えて作成したポリイミド(6)。
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルス
ルフィドに代えて作成したポリイミド(6)。
(7)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルス
ルホンに代えて作成したポリイミド(7)。
フェニレンジアミンを4.4′−ジアミノジフェニルス
ルホンに代えて作成したポリイミド(7)。
(8)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンを1,5−ジアミノナフタレンに代
えて作成したポリイミド(8)。
フェニレンジアミンを1,5−ジアミノナフタレンに代
えて作成したポリイミド(8)。
(9)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp−
フェニレンジアミンを5(6)アミノ−1−(4′−ア
ミノフェニル) −1,3,3−)リメチルインダンに
代えて作成したポリイミド(9)。
フェニレンジアミンを5(6)アミノ−1−(4′−ア
ミノフェニル) −1,3,3−)リメチルインダンに
代えて作成したポリイミド(9)。
(lO)前記ポリイミド(1)を作成する時に用いたp
−フェニレンジアミンを3,3′−ベンゾフェノンジア
ミンに代えて作成したポリイミド(10)。
−フェニレンジアミンを3,3′−ベンゾフェノンジア
ミンに代えて作成したポリイミド(10)。
これらの高分子物質の被膜は、絶縁膜としての機能をも
たせることが可能で、通常100人〜1μ程度、好まし
くは500人〜2000人の範囲の膜厚で形成される。
たせることが可能で、通常100人〜1μ程度、好まし
くは500人〜2000人の範囲の膜厚で形成される。
又、これら高分子物質の被膜の形成法としては、この高
分子物質の溶液あるいはその前駆体溶液をスピンナー塗
布法、浸漬塗布法や、スクリーン印刷法、スプレー塗布
法やロール塗布法などの方法によって塗布した後、所定
の硬化条件(例えば加熱)下で硬化させる方法を用いる
ことができる。
分子物質の溶液あるいはその前駆体溶液をスピンナー塗
布法、浸漬塗布法や、スクリーン印刷法、スプレー塗布
法やロール塗布法などの方法によって塗布した後、所定
の硬化条件(例えば加熱)下で硬化させる方法を用いる
ことができる。
前述した配向制御膜44aと44bは、前述の高分子物
質の被膜表面をラビング処理などの一軸性配向処理を施
すことによって得ることができる。この際、本発明では
、ラビング軸などの一軸性配同軸を互いに平行又は交差
させることができる。
質の被膜表面をラビング処理などの一軸性配向処理を施
すことによって得ることができる。この際、本発明では
、ラビング軸などの一軸性配同軸を互いに平行又は交差
させることができる。
特に、本発明では、第5図に示す様に一軸性配同軸を交
差させることが好ましい。すなわち、第5図に示す様に
、上基板と下基板に形成する一軸性配向処理面では、無
電界時にそれぞれの一軸性配向軸51と52が第3図に
示すねじれ配列の方向34コは反対方向55の角度で交
差している。この様な一軸性配向処理面の存在下にカイ
ラルスメクチック相を該相より高温側の相よりの降温で
配向させた時に、上下基板に隣接する液晶分子の軸53
は互いに平行となる。このカイラルスメクチック相では
降温下で一軸性配向軸5Iと52の中間の角度をもって
配向したスメクチックA相(SmA)での液晶分子の軸
54からチルト角θ(又は−〇)をもって安定状態)を
形成することが、できる。
差させることが好ましい。すなわち、第5図に示す様に
、上基板と下基板に形成する一軸性配向処理面では、無
電界時にそれぞれの一軸性配向軸51と52が第3図に
示すねじれ配列の方向34コは反対方向55の角度で交
差している。この様な一軸性配向処理面の存在下にカイ
ラルスメクチック相を該相より高温側の相よりの降温で
配向させた時に、上下基板に隣接する液晶分子の軸53
は互いに平行となる。このカイラルスメクチック相では
降温下で一軸性配向軸5Iと52の中間の角度をもって
配向したスメクチックA相(SmA)での液晶分子の軸
54からチルト角θ(又は−〇)をもって安定状態)を
形成することが、できる。
この液晶素子では、直交ニコルの一方の偏光軸56を第
1の安定状態における分子軸方向に対応する液晶分子の
軸53と平行として、他方の偏光軸57を偏光軸56と
直交させた時に最大コントラストを得ることができる。
1の安定状態における分子軸方向に対応する液晶分子の
軸53と平行として、他方の偏光軸57を偏光軸56と
直交させた時に最大コントラストを得ることができる。
■と等しいか、あるいは同程度の角度まで増大させるこ
とができる。この時のチルト角をθ′とする。
とができる。この時のチルト角をθ′とする。
この際に用いる交流としては、電圧20〜500ボルト
、好ましくは30〜150ポルトで周波数10〜500
Hz。
、好ましくは30〜150ポルトで周波数10〜500
Hz。
好ましくはlO〜200Hzを用いることができ、その
印加時間を数秒〜lO分間程度で交流印加前処理を施す
ことができる。又、かかる交流印加前処理は、液晶素子
を例えば映像信号や情報信号に応じて書込みを行う前の
段階で行なわれ、好ましくはかかる液晶素子を装置に組
込み、かかる装置を操作する時のウェイトタイムで前述
の交流印加前処理を行なうか、あるいはかかる液晶素子
の製造時でも交流印加前処理を施すことができる。
印加時間を数秒〜lO分間程度で交流印加前処理を施す
ことができる。又、かかる交流印加前処理は、液晶素子
を例えば映像信号や情報信号に応じて書込みを行う前の
段階で行なわれ、好ましくはかかる液晶素子を装置に組
込み、かかる装置を操作する時のウェイトタイムで前述
の交流印加前処理を行なうか、あるいはかかる液晶素子
の製造時でも交流印加前処理を施すことができる。
かかる交流印加前処理は、本発明者らが行なった実験、
すなわち第3図又は第5図に示す双安定状ジ ■と同程度にまで増大させたチルト°角θ′とすること
ができ、しかも第5図に示す状態の場合ではかかる交流
印加を一去した後であうでもその増大されたチルト角θ
′を維持することができる。
すなわち第3図又は第5図に示す双安定状ジ ■と同程度にまで増大させたチルト°角θ′とすること
ができ、しかも第5図に示す状態の場合ではかかる交流
印加を一去した後であうでもその増大されたチルト角θ
′を維持することができる。
又、かかる交流印加前処理は、自発分極の大きい強誘電
性液晶(例えば25℃で5nc/cr+f以上、好まし
くは1one/cnf〜300nc/crrr ; n
cはナノクーロンを示す単位である)に対して有効であ
る。
性液晶(例えば25℃で5nc/cr+f以上、好まし
くは1one/cnf〜300nc/crrr ; n
cはナノクーロンを示す単位である)に対して有効であ
る。
この自発分極は100μセルで三角波印加法1により測
定することができる。
定することができる。
1ジヤパニーズ・ジャーナル・オブ・アプライド・フイ
ジイツクス(Japanese Journal of
AppliedPhysics) 22 (10)号
、661〜663頁(1983年)に掲載されたケー・
ミャサト(K、Miyasato)らの共著の“グイレ
ツクト・メソッド・ウィズ・ドライアングラ−・ウエー
ブス・フォー・メジャーリング・スポンタナス・ポーラ
リゼーション・イン・フェロエレクトリック・リキッド
・クリスタル″(“Direct Method
with TriangularW a v e s
f o r M e a s u r i n
g S p o n t a n e o u sP
o1arization in Ferroele
ctric LiquidCrystaビ)による。
ジイツクス(Japanese Journal of
AppliedPhysics) 22 (10)号
、661〜663頁(1983年)に掲載されたケー・
ミャサト(K、Miyasato)らの共著の“グイレ
ツクト・メソッド・ウィズ・ドライアングラ−・ウエー
ブス・フォー・メジャーリング・スポンタナス・ポーラ
リゼーション・イン・フェロエレクトリック・リキッド
・クリスタル″(“Direct Method
with TriangularW a v e s
f o r M e a s u r i n
g S p o n t a n e o u sP
o1arization in Ferroele
ctric LiquidCrystaビ)による。
本発明では、前述した配向制御膜44aと44bのうち
、一方の配向制御膜の使用を省略することができる。又
、本発明の別の具体例では、前述した配向制御膜44a
と44bのうち、一方の配向制御膜を別の配向制御膜と
することも可能である。この他の配向制御膜を形成する
被膜としては、例えばポリビニルアルコール、ポリアミ
ド、ポリエステル、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポ
リエステルイミドなどの被膜を挙げることができる。又
、他の配向制御膜としてSiOや5iOzなどの無機物
質を斜方蒸着によって形成したものも使用可能である。
、一方の配向制御膜の使用を省略することができる。又
、本発明の別の具体例では、前述した配向制御膜44a
と44bのうち、一方の配向制御膜を別の配向制御膜と
することも可能である。この他の配向制御膜を形成する
被膜としては、例えばポリビニルアルコール、ポリアミ
ド、ポリエステル、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポ
リエステルイミドなどの被膜を挙げることができる。又
、他の配向制御膜としてSiOや5iOzなどの無機物
質を斜方蒸着によって形成したものも使用可能である。
以下、本発明を具体例を挙げて説明する。
実施例1
2枚の0 、7 m m厚のガラス板を用意し、それぞ
れのガラス板の上に1000人のITO膜を形成した。
れのガラス板の上に1000人のITO膜を形成した。
このITO膜付きのガラス板のそれぞれにテトラカルボ
ン酸無水物である前記構造式(1)の化合物と1血藍1 p−フェニレンジアミンをl:lのモル比で縮合し、合
成したポリアミック酸をNMPで2重量%に稀釈した液
を回転数350Or、p、mのスピンナーで40秒間塗
布した。塗布後、約1時間の加熱処理を施した〔ポリイ
ミド(1)〕。この時のポリイミド(1)の塗膜の膜厚
は約1000人であった。
ン酸無水物である前記構造式(1)の化合物と1血藍1 p−フェニレンジアミンをl:lのモル比で縮合し、合
成したポリアミック酸をNMPで2重量%に稀釈した液
を回転数350Or、p、mのスピンナーで40秒間塗
布した。塗布後、約1時間の加熱処理を施した〔ポリイ
ミド(1)〕。この時のポリイミド(1)の塗膜の膜厚
は約1000人であった。
その被膜には、布によりラビング処理がなされ、それぞ
れの配向制御膜におけるラビング軸を互いに平行となる
様に2枚のガラス基板をセル組みした。
れの配向制御膜におけるラビング軸を互いに平行となる
様に2枚のガラス基板をセル組みした。
セル厚(上下基板の間隔)は下基板に予め形成しておい
たフォトレジストスペーサーで保持した。
たフォトレジストスペーサーで保持した。
この液晶セル(これを1.8μmセルという)に上述の
混合液晶を等吉相下で真空注入してから、等吉相から0
.5℃/hで30℃まで徐冷することにより配向させる
ことができた。以後の実験は30℃で行った。
混合液晶を等吉相下で真空注入してから、等吉相から0
.5℃/hで30℃まで徐冷することにより配向させる
ことができた。以後の実験は30℃で行った。
上2つの最暗状態の位置は、液晶の安定な平均約分(重
量比) H3 (S m C”の温度範囲;3〜35℃)直交ニコル下
でこのセルを観察すると、一様で欠陥のない非らせん構
造のカイラルスメクチックC相を形成したモノドメイン
が得られていた。
量比) H3 (S m C”の温度範囲;3〜35℃)直交ニコル下
でこのセルを観察すると、一様で欠陥のない非らせん構
造のカイラルスメクチックC相を形成したモノドメイン
が得られていた。
この液晶セルにパルス電界(20V、500μ5ec)
を印加することにより、一方の安定状態に液晶分子方向
をそろえ、直交ニコル下で、液晶セルを回転させながら
透過光量が最も低くなる最暗状態となる位置を見つけ、
次に、前のパルスと逆極性のパルス電界(−20V、5
00μ5ec)を印加し、もう一方の安定分子配列状態
に転移させ、液晶セルを回転させて最暗状態となる角度
を見つけた。息子軸検出していることに対応し、これら
の間の角度がチルト角2θに相当している。
を印加することにより、一方の安定状態に液晶分子方向
をそろえ、直交ニコル下で、液晶セルを回転させながら
透過光量が最も低くなる最暗状態となる位置を見つけ、
次に、前のパルスと逆極性のパルス電界(−20V、5
00μ5ec)を印加し、もう一方の安定分子配列状態
に転移させ、液晶セルを回転させて最暗状態となる角度
を見つけた。息子軸検出していることに対応し、これら
の間の角度がチルト角2θに相当している。
こうして前述の液晶セルのチルト角を測定したところ1
2°であった。すなわち、本例の液晶セルは、双安定性
カイラルスメクチック相で実現したメモリー状態下で、
そのチルト角が従来のものにはない大きなチルト角を示
していた。又、この液晶セルにおける最明状態での透過
光量を測定したところ、10%であうた。この時の透過
光量の測定は、フォトマルによって行なった。
2°であった。すなわち、本例の液晶セルは、双安定性
カイラルスメクチック相で実現したメモリー状態下で、
そのチルト角が従来のものにはない大きなチルト角を示
していた。又、この液晶セルにおける最明状態での透過
光量を測定したところ、10%であうた。この時の透過
光量の測定は、フォトマルによって行なった。
次に、本発明者らは、前述の液晶セルにおける基板の法
線方向に対する液晶分子のねじれ配列角度とその方向を
測定した。測定のために、前述の液晶セルで用いた1、
8μmのフォトレジストスペーサに代えて、3.0μm
のアルミナビーズをスペーサとして用いたほかは、全く
同様の方法で液晶セル(3,0μmセルという)を作成
した。
線方向に対する液晶分子のねじれ配列角度とその方向を
測定した。測定のために、前述の液晶セルで用いた1、
8μmのフォトレジストスペーサに代えて、3.0μm
のアルミナビーズをスペーサとして用いたほかは、全く
同様の方法で液晶セル(3,0μmセルという)を作成
した。
液晶分子のねじれ配列角度の測定は、直交ニコル下での
最暗状態時の交差角から、一方の検光子を回転させて、
その交差角を変化させ、さらに暗い状態となる位置を見
つけ、直交時から一方の検光子を回転させた角度を測定
した。この角度は、前述のねじれ角δに相当している。
最暗状態時の交差角から、一方の検光子を回転させて、
その交差角を変化させ、さらに暗い状態となる位置を見
つけ、直交時から一方の検光子を回転させた角度を測定
した。この角度は、前述のねじれ角δに相当している。
従って、前述の3.0μmセルに関して、観察者から見
て、時計まわりを正(+)とし、反時計まわりを負(−
)とすると、検光子を直交ニコルから負方向に、10’
程度回転し、次いで液晶セルを回転して暗状態を捜すこ
とができた。また、偏光子を直交ニコルから正方向にl
O°程度回転しても同様に暗状態が得られた。従って、
この素子での液晶分子は、正方向にねじれ配列を形成し
ており、上下基板の隣接面にある液晶分子の長軸がlO
°程度のねじれ角δをもってねじれていることが判った
。
て、時計まわりを正(+)とし、反時計まわりを負(−
)とすると、検光子を直交ニコルから負方向に、10’
程度回転し、次いで液晶セルを回転して暗状態を捜すこ
とができた。また、偏光子を直交ニコルから正方向にl
O°程度回転しても同様に暗状態が得られた。従って、
この素子での液晶分子は、正方向にねじれ配列を形成し
ており、上下基板の隣接面にある液晶分子の長軸がlO
°程度のねじれ角δをもってねじれていることが判った
。
実施例2
実施例1の1.8μmセルで用いた平行なうピング軸に
代えて、負方向(−)に45°及び20°の角度で交差
したラビング軸を用いたほかは、全く同様の方法で液晶
セルを作成した。
代えて、負方向(−)に45°及び20°の角度で交差
したラビング軸を用いたほかは、全く同様の方法で液晶
セルを作成した。
この液晶セルのチルト角を測定したところ、何れも12
°であった。これら2つの液晶セルは、何れもS m
C”の高温側にSmAが存在しているが、S m Aの
光軸は交差したラビング軸のなす角度の二等分線上に存
在していることが判った。
°であった。これら2つの液晶セルは、何れもS m
C”の高温側にSmAが存在しているが、S m Aの
光軸は交差したラビング軸のなす角度の二等分線上に存
在していることが判った。
次いで、上述した2種の液晶セルにそれぞれ電圧70ポ
ルトで周波数70Hzの高電界交流を約5分間印加した
(交流印加前処理)。この時のチルト角θ′を測定した
。この結果を下表1に示す。
ルトで周波数70Hzの高電界交流を約5分間印加した
(交流印加前処理)。この時のチルト角θ′を測定した
。この結果を下表1に示す。
表 1
この2種の液晶セルについて、前述の3μmセルの液晶
素子でのねじれ角δを測定した時の方法と同様の方法で
第3図に示すねじれ角δを測定したところ、交差角−4
5° と−206の交差ラビング軸を用いた液晶素子で
は、上下基板の法線に対する液晶分子のねじれ角δは観
察されず、上下基板に隣接する液晶分子軸は互いに平行
であることが判った。しかも交差角−45° と−20
’ の交差ラビング軸を用いた液晶素子では+21ボト
ルと一21ボルトの駆動用矩形パルスを1 m5ecで
交互に印加し続けても表1のチルト角θ′ を維持する
ことができた。これは、実際に映像信号や情報信号に応
じて、この液晶素子に例えば特開昭59−193426
号公報や同59−19347号公報に記載された様な時
分割駆動法を適用した場合であっても、最大チルト角θ
′ を維持することができる点に対応したものである。
素子でのねじれ角δを測定した時の方法と同様の方法で
第3図に示すねじれ角δを測定したところ、交差角−4
5° と−206の交差ラビング軸を用いた液晶素子で
は、上下基板の法線に対する液晶分子のねじれ角δは観
察されず、上下基板に隣接する液晶分子軸は互いに平行
であることが判った。しかも交差角−45° と−20
’ の交差ラビング軸を用いた液晶素子では+21ボト
ルと一21ボルトの駆動用矩形パルスを1 m5ecで
交互に印加し続けても表1のチルト角θ′ を維持する
ことができた。これは、実際に映像信号や情報信号に応
じて、この液晶素子に例えば特開昭59−193426
号公報や同59−19347号公報に記載された様な時
分割駆動法を適用した場合であっても、最大チルト角θ
′ を維持することができる点に対応したものである。
又、この時の透過率を測定したところ、何れも約15%
であった。
であった。
ねじれ角δをもつねじれ配列状態の方向は、基板とその
界面付近の液晶との相互作用により決まる。つまり、界
面付近の液晶分子の分極方向が基板に対して内向きか、
外向きかが、基板の性質により決められ、上下基板とも
同一の配向制御膜を用いた場合、基板間の液晶は強制的
にねじれ配列をもって配向させられる。
界面付近の液晶との相互作用により決まる。つまり、界
面付近の液晶分子の分極方向が基板に対して内向きか、
外向きかが、基板の性質により決められ、上下基板とも
同一の配向制御膜を用いた場合、基板間の液晶は強制的
にねじれ配列をもって配向させられる。
基板の法線に沿ったねじれ配列の方向と一軸性配向軸の
ずらし方向が同一方向の場合、基板の界面付近の分子は
各基板の配向軸方向に配列するため、ねじれ配列状態が
より安定化され、前述の交流印加前処理の後のチルト角
θ′ の状態では準安定の配向状態となる。
ずらし方向が同一方向の場合、基板の界面付近の分子は
各基板の配向軸方向に配列するため、ねじれ配列状態が
より安定化され、前述の交流印加前処理の後のチルト角
θ′ の状態では準安定の配向状態となる。
前述の交流印加前処理の後のチルト角θ′ の状態では
界面付近の分子の分極が、一方の基板では内向きで、他
の基板では外向きの配列をとる必要がある。
界面付近の分子の分極が、一方の基板では内向きで、他
の基板では外向きの配列をとる必要がある。
液晶のねじれ配列方向と反対方向に一軸性配向軸をずら
した場合、すなわち、ねじれ配列方向と反対方向の角度
で一軸性配向軸を交差した場合、分子分極と界面との相
互作用による安定化エネルギーよりも、−軸性配向軸に
よる強制的なアンカリングによる安定化エネルギーの方
が大きく、従って安定なチルト角θ′ をもつ状態が実
現できる。
した場合、すなわち、ねじれ配列方向と反対方向の角度
で一軸性配向軸を交差した場合、分子分極と界面との相
互作用による安定化エネルギーよりも、−軸性配向軸に
よる強制的なアンカリングによる安定化エネルギーの方
が大きく、従って安定なチルト角θ′ をもつ状態が実
現できる。
従、7て、透過率が高い強誘電性液晶素子を実現するた
めには、ねじれ配列状態を解消し、しかも交流印加前処
理によって付加された理想的な配列状態を安定化する方
向に一軸性配向軸に互いにずらすことが必要である。そ
の方向とは、液晶と基板界面によって決められるねじれ
角δをもつ液晶のねじれ配列方向の反対方向である。
めには、ねじれ配列状態を解消し、しかも交流印加前処
理によって付加された理想的な配列状態を安定化する方
向に一軸性配向軸に互いにずらすことが必要である。そ
の方向とは、液晶と基板界面によって決められるねじれ
角δをもつ液晶のねじれ配列方向の反対方向である。
比較例1
実施例1の1.8μmセルを作成した時に用いた配向制
御膜として、3.3’ 、4.4’ −ジフェニルテト
ラカルボン酸無水物トp−フ二二レンジアミンとをl:
1のモル比で脱水縮合反応させて得たポリアミック酸の
3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液による塗布
膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラビング処
理したものに代えて使用したほかは、全(同様の方法で
液晶セルを作成した。
御膜として、3.3’ 、4.4’ −ジフェニルテト
ラカルボン酸無水物トp−フ二二レンジアミンとをl:
1のモル比で脱水縮合反応させて得たポリアミック酸の
3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液による塗布
膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラビング処
理したものに代えて使用したほかは、全(同様の方法で
液晶セルを作成した。
この液晶セルにおけるチルト角θと透過率を実施例1と
同様の方法で測定したところ、チルト角θは6°〜8°
で、その時の透過率は3〜5%程度であった。すなわち
、本比較セルは、双安定性カイラルスメクチック相で実
現したメモリー状態下でのチルト角が小さく、又その透
過率は表示装置に適用するには全(不十分である。
同様の方法で測定したところ、チルト角θは6°〜8°
で、その時の透過率は3〜5%程度であった。すなわち
、本比較セルは、双安定性カイラルスメクチック相で実
現したメモリー状態下でのチルト角が小さく、又その透
過率は表示装置に適用するには全(不十分である。
比較例2
実施例1の1.8μmセルを作成した時に用いた配向制
御膜として、3.3’ 、4.4’ −ジフェニルテト
ラカルボン酸無水物と4.4′ −ジアミノジフェニル
とを1−1のモル比で脱水縮合反応させて得たポリアミ
ック酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液に
よる塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラ
ビング処理したものに代えて使用したほかは、全(同様
の方法で液晶セルを作成した。
御膜として、3.3’ 、4.4’ −ジフェニルテト
ラカルボン酸無水物と4.4′ −ジアミノジフェニル
とを1−1のモル比で脱水縮合反応させて得たポリアミ
ック酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液に
よる塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラ
ビング処理したものに代えて使用したほかは、全(同様
の方法で液晶セルを作成した。
この液晶セルにおけるチルト角θと透過率を実施例1と
同様の方法で測定したところ、チルト角θは6°〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であった。
同様の方法で測定したところ、チルト角θは6°〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であった。
比較例3
実施例1の1.8μmセルを作成した時に用いた配向制
御膜として、3.3’ 、4.4’ −ジフェニルテト
ラカルボン酸無水物と4.4′−ジアミノターフェニル
とを1:lのモル比で脱水縮合反応させて得たポリアミ
ック酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液に
よる塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラ
ビング処理したものに代えて使用したほかは、全く同様
の方法で液晶セルを作成した。
御膜として、3.3’ 、4.4’ −ジフェニルテト
ラカルボン酸無水物と4.4′−ジアミノターフェニル
とを1:lのモル比で脱水縮合反応させて得たポリアミ
ック酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液に
よる塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラ
ビング処理したものに代えて使用したほかは、全く同様
の方法で液晶セルを作成した。
この液晶セルにおけるチルト角θと透過率を実施例1と
同様の方法で測定したところ、チルト角θは5°〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であっ テこ 。
同様の方法で測定したところ、チルト角θは5°〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であっ テこ 。
実施例3−11
実施例1の1.8μmセルで用いた配向制御膜を下記表
2に挙げた被膜をラビング処理したもにに代えて使用し
たほかは、実施例1と全く同様の方法で液晶セルを作成
してから、同様の方法で液晶セルにおけるチルト角θと
、その時の透過率を測定した。
2に挙げた被膜をラビング処理したもにに代えて使用し
たほかは、実施例1と全く同様の方法で液晶セルを作成
してから、同様の方法で液晶セルにおけるチルト角θと
、その時の透過率を測定した。
その結果を表2に示す。
ll
−1ζ、:′j
表 2
3 前述のポリイミド(2) 12°
11%4 前述のポリイミド(3)
14’ 12%5 前述のポリイ
ミド(4) 11’ 10%6
前述のポリイミド(5) 12°
10%7 前述のポリイミド(6)9°
9%8 前述のポリイミド(7)
14° 12%9 前述のポリイミド(
8) 15° 14%10
前述のポリイミド(9) 15°
15%〔発明の効果〕 本発明の配向制御によれば、強誘電性液晶、特に非らせ
ん構造によって得られる少なくとも2つの安定状態をも
つ強誘電性液晶のモノドメインを得ることができる点に
第1の効果を有し、さらに強誘電性液晶の非らせん構造
によって発現する少なくとも2つの安定状態下、特に双
安定状態下(すなわち、メモリー状態下)でのチルト角
θを増大させることができる点に第2の効果を有してい
る。
11%4 前述のポリイミド(3)
14’ 12%5 前述のポリイ
ミド(4) 11’ 10%6
前述のポリイミド(5) 12°
10%7 前述のポリイミド(6)9°
9%8 前述のポリイミド(7)
14° 12%9 前述のポリイミド(
8) 15° 14%10
前述のポリイミド(9) 15°
15%〔発明の効果〕 本発明の配向制御によれば、強誘電性液晶、特に非らせ
ん構造によって得られる少なくとも2つの安定状態をも
つ強誘電性液晶のモノドメインを得ることができる点に
第1の効果を有し、さらに強誘電性液晶の非らせん構造
によって発現する少なくとも2つの安定状態下、特に双
安定状態下(すなわち、メモリー状態下)でのチルト角
θを増大させることができる点に第2の効果を有してい
る。
第1図は、らせん構造の強誘電性液晶を用いた液晶素子
を模式的に表わす斜視図である。第2図は、非らせん構
造の強誘電性液晶を用いた液晶素子を模式的に表わす斜
視図である。第3図は、基板の法線に沿ってねじれ配列
した液晶分子を模式的に表わす平面図である。第4図は
、本発明の液晶素子の1つの態様を表わす断面図である
。第5図は本発明の液晶素子で用いた一軸配向軸と液晶
分子の軸との関係を表わす平面図である。 1+lb 出BR’t’&
を模式的に表わす斜視図である。第2図は、非らせん構
造の強誘電性液晶を用いた液晶素子を模式的に表わす斜
視図である。第3図は、基板の法線に沿ってねじれ配列
した液晶分子を模式的に表わす平面図である。第4図は
、本発明の液晶素子の1つの態様を表わす断面図である
。第5図は本発明の液晶素子で用いた一軸配向軸と液晶
分子の軸との関係を表わす平面図である。 1+lb 出BR’t’&
Claims (6)
- (1)一対の平行基板と、該一対の平行基板の面に対し
て実質的に垂直な複数の層を形成している分子の配列を
もつ強誘電性液晶を有する液晶素子において、前記一対
の平行基板のうちの少なくとも一方の基板が、前記複数
の層を一方向に優先して配向させる効果をもつ下記一般
式で示された単位をもつ高分子物質の被膜を有している
ことを特徴とする液晶素子。 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、Rは少なくとも1つのアリール基をもつ2価の
残基である。) - (2)前記一般式中のRが ▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、
表等があります▼、▲数式、化学式、表等があります▼
、 ▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、
表等があります▼、 ▲数式、化学式、表等があります▼、▲数式、化学式、
表等があります▼、▲数式、化学式、表等があります▼
、 ▲数式、化学式、表等があります▼又は▲数式、化学式
、表等があります▼ で示される2価の残基である特許請求の範囲第1項記載
の液晶素子。 - (3)前記強誘電性液晶が、少なくとも2つの安定状態
をもつ液晶である特許請求の範囲第1項記載の液晶素子
。 - (4)前記強誘電性液晶が双安定性をもつ液晶である特
許請求の範囲第1項記載の液晶素子。 - (5)前記強誘電性液晶がカイラルスメクチツク液晶で
ある特許請求の範囲第1項記載の液晶素子。 - (6)前記強誘電性液晶が非らせん構造のカイラルスメ
クチツク液晶である特許請求の範囲第1項記載の液晶素
子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1233786A JPS62170938A (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 | 液晶素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1233786A JPS62170938A (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 | 液晶素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62170938A true JPS62170938A (ja) | 1987-07-28 |
Family
ID=11802480
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1233786A Pending JPS62170938A (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 | 液晶素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62170938A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6398632A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-04-30 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶電気光学装置 |
-
1986
- 1986-01-22 JP JP1233786A patent/JPS62170938A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6398632A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-04-30 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶電気光学装置 |
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