JPS62162687A - 燐化インジウムの製造方法 - Google Patents
燐化インジウムの製造方法Info
- Publication number
- JPS62162687A JPS62162687A JP227786A JP227786A JPS62162687A JP S62162687 A JPS62162687 A JP S62162687A JP 227786 A JP227786 A JP 227786A JP 227786 A JP227786 A JP 227786A JP S62162687 A JPS62162687 A JP S62162687A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- temperature gradient
- zone
- boat
- indium phosphide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
C技術分野〕
本発明は、m−v族化合物半導体の一種である燐化イン
ジウム(InP)の製造方法に関するものである。
ジウム(InP)の製造方法に関するものである。
第5図は温度勾配凝固法による従来の燐化インジウム製
造方法を示す0図において、1a−1hは加熱炉を構成
する分割ヒータ、2は加熱炉内に水平に設置された石英
アンプル、3はアンプル2内の一端側に設置された燐、
4は同じく他端側に設置されたインジウム入りのボート
である。単結晶育成の場合には、ボート4の結晶成長開
始端側にシード5が設けられる。グラフの横軸Xは加熱
炉内の軸線方向の位置、縦軸Tは加熱炉内の温度を示す
。加熱炉内は、分割ヒータ1a〜1hの発熱量を制御す
ることにより、燐3側が低温域、インジウム側が高温域
となるように、かつ高温域が所定の温度勾配を持つ温度
分布をなるように制御される。
造方法を示す0図において、1a−1hは加熱炉を構成
する分割ヒータ、2は加熱炉内に水平に設置された石英
アンプル、3はアンプル2内の一端側に設置された燐、
4は同じく他端側に設置されたインジウム入りのボート
である。単結晶育成の場合には、ボート4の結晶成長開
始端側にシード5が設けられる。グラフの横軸Xは加熱
炉内の軸線方向の位置、縦軸Tは加熱炉内の温度を示す
。加熱炉内は、分割ヒータ1a〜1hの発熱量を制御す
ることにより、燐3側が低温域、インジウム側が高温域
となるように、かつ高温域が所定の温度勾配を持つ温度
分布をなるように制御される。
実線Aは結晶成長開始時の温度プロファイルである。す
なわち結晶成長開始時には、温度勾配のある高温域内の
燐化インジウムの融点Qがボート4の結晶成長量始端に
位置する。この状態から分割ヒータ1d−1hを制御し
て所定の温度勾配を保ったまま徐々に高温域全体の温度
を低下させていくと、ボート4内に燐化インジウムの結
晶が育成される。そして結晶成長終了時には高温域の温
度プロファイルは点線Bのようになる。
なわち結晶成長開始時には、温度勾配のある高温域内の
燐化インジウムの融点Qがボート4の結晶成長量始端に
位置する。この状態から分割ヒータ1d−1hを制御し
て所定の温度勾配を保ったまま徐々に高温域全体の温度
を低下させていくと、ボート4内に燐化インジウムの結
晶が育成される。そして結晶成長終了時には高温域の温
度プロファイルは点線Bのようになる。
従来の燐化インジウムの製造方法は以上のとおりである
が、これには次のような問題がある。すなわちボート長
が長くなると、温度勾配を適正に保ったとしても、その
高温側では最高温度が1100℃以上になり、石英アン
プルが軟化するため、アンプル内外圧差の調整が正確に
行われないとアンプルが変形し、亀裂を生じたり破壊し
たりするおそれがある。これを回避するため温度勾配を
ゆるくすると、温度プロファイルを移行させる過程で、
融液が過冷却状態となり、ある温度以下で急激に固化す
るため、結晶中に多量の未反応インジウムが残存し、良
好な結晶を得ることができない。
が、これには次のような問題がある。すなわちボート長
が長くなると、温度勾配を適正に保ったとしても、その
高温側では最高温度が1100℃以上になり、石英アン
プルが軟化するため、アンプル内外圧差の調整が正確に
行われないとアンプルが変形し、亀裂を生じたり破壊し
たりするおそれがある。これを回避するため温度勾配を
ゆるくすると、温度プロファイルを移行させる過程で、
融液が過冷却状態となり、ある温度以下で急激に固化す
るため、結晶中に多量の未反応インジウムが残存し、良
好な結晶を得ることができない。
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するた
め、一端側に燐を、他端側にインジウム入りのボートを
配置して減圧密封したアンプルを、加熱炉内に水平に設
置し、上記加熱炉内の温度を燐側か低温域、インジウム
側が高温域となるように保ち、かつ高温域の温度プロフ
ァイルを変化させる、温度勾配凝固法により上記ボート
内に燐化インジウムの結晶を成長させる方法において、
上記高温域を、燐化インジウムの融点を含み温度勾配を
4℃7cm以上とした温度傾斜ゾーンと、その温度傾斜
ゾーンの高温側に隣接する融点〜1090℃の範囲内の
温度に保たれた均熱ゾーンとから構成し、上記温度傾斜
ゾーンをボートの結晶成長開始端側から終了端側へ平行
移動させることを特徴とするものである。
め、一端側に燐を、他端側にインジウム入りのボートを
配置して減圧密封したアンプルを、加熱炉内に水平に設
置し、上記加熱炉内の温度を燐側か低温域、インジウム
側が高温域となるように保ち、かつ高温域の温度プロフ
ァイルを変化させる、温度勾配凝固法により上記ボート
内に燐化インジウムの結晶を成長させる方法において、
上記高温域を、燐化インジウムの融点を含み温度勾配を
4℃7cm以上とした温度傾斜ゾーンと、その温度傾斜
ゾーンの高温側に隣接する融点〜1090℃の範囲内の
温度に保たれた均熱ゾーンとから構成し、上記温度傾斜
ゾーンをボートの結晶成長開始端側から終了端側へ平行
移動させることを特徴とするものである。
これを第1図につき、さらに具体的に説明すると、アン
プル2内にf:3とインジウム入りボート4を封入する
点および、加熱炉の分割ヒータ11〜1nによりf43
側が低温域(27気圧前後の適正な燐圧力を与える温度
)、ボート4側が高温域(燐化インジウムの融点近傍の
温度)となるように温度制御する点などは従来と同じで
あるが、高温域の温度プロファイルの移行のさせ方に大
きな特徴がある。
プル2内にf:3とインジウム入りボート4を封入する
点および、加熱炉の分割ヒータ11〜1nによりf43
側が低温域(27気圧前後の適正な燐圧力を与える温度
)、ボート4側が高温域(燐化インジウムの融点近傍の
温度)となるように温度制御する点などは従来と同じで
あるが、高温域の温度プロファイルの移行のさせ方に大
きな特徴がある。
すなわち高温域を、その中に燐化インジウムの融点Qを
含む温度傾斜ゾーンRと、その温度傾斜ゾーンRの高温
側に隣接する均熱ゾーンSとから構成し、最初は温度傾
斜ゾーンRを結晶成長開始端側に位置させ、これを図の
R+ Rt Rs・−・・−・のように徐々に結晶成長
方向へ平行移動させるのである。この平行移動は均熱ゾ
ーンSの前端側の分割ヒータを順次降温させていくこと
により行われる。またこの過程で高温域から低温域に熱
が流れ込むのを防止するため、アンプル2内の燐3とボ
ート4の間には石英ウールなどからなるサーマルバリア
6を設りである。
含む温度傾斜ゾーンRと、その温度傾斜ゾーンRの高温
側に隣接する均熱ゾーンSとから構成し、最初は温度傾
斜ゾーンRを結晶成長開始端側に位置させ、これを図の
R+ Rt Rs・−・・−・のように徐々に結晶成長
方向へ平行移動させるのである。この平行移動は均熱ゾ
ーンSの前端側の分割ヒータを順次降温させていくこと
により行われる。またこの過程で高温域から低温域に熱
が流れ込むのを防止するため、アンプル2内の燐3とボ
ート4の間には石英ウールなどからなるサーマルバリア
6を設りである。
温度傾斜ゾーンRの温度勾配は4℃/cff1以上に保
たれる。これは温度勾配を2℃/cm以下にして温度プ
ロファイルを移行させると、融液が過冷却状態から急激
に固化して、未反応のインジウムを多量に析出する結果
となるためである。
たれる。これは温度勾配を2℃/cm以下にして温度プ
ロファイルを移行させると、融液が過冷却状態から急激
に固化して、未反応のインジウムを多量に析出する結果
となるためである。
また均熱ゾーンSの温度は、燐化インジウムの融点(約
1062℃)〜1090℃の範囲に保たれる。従来の方
法ではボート長が30〜50cmになると、温度勾配を
2℃/clI程度としても、ボート端の温度が1100
℃を越え石英アンプルが軟化してしまうので、上記のよ
うな均熱ゾーンSを設け、その温度を上記の範囲に保つ
ことにより石英アンプル2の軟化を防止するものである
。
1062℃)〜1090℃の範囲に保たれる。従来の方
法ではボート長が30〜50cmになると、温度勾配を
2℃/clI程度としても、ボート端の温度が1100
℃を越え石英アンプルが軟化してしまうので、上記のよ
うな均熱ゾーンSを設け、その温度を上記の範囲に保つ
ことにより石英アンプル2の軟化を防止するものである
。
ところでボート内の融液の組成は、融液温度および燐圧
力によりストイキオメトリ (モル比l:1)からずれ
るため、このような融液から結晶を育成するには、固液
界面での組成がストイキオメトリとなるようにする必要
がある。そのためには固液界面のインジウムを融液側へ
拡散させるか、あるいは固液界面に燐が十分供給される
ようにすることが必要であり、それには結晶成長に十分
な時間をかける必要がある。このため温度傾斜ゾ−ンR
の移動速度はLoan/hr以下とすることが望ましい
。
力によりストイキオメトリ (モル比l:1)からずれ
るため、このような融液から結晶を育成するには、固液
界面での組成がストイキオメトリとなるようにする必要
がある。そのためには固液界面のインジウムを融液側へ
拡散させるか、あるいは固液界面に燐が十分供給される
ようにすることが必要であり、それには結晶成長に十分
な時間をかける必要がある。このため温度傾斜ゾ−ンR
の移動速度はLoan/hr以下とすることが望ましい
。
高温域の温度プロファイルは上記のほか第2図のように
移行させることもでき、また結晶成長を燐3と反対側の
端部から開始する場合は第3図または第4図のように移
行させることもできる。
移行させることもでき、また結晶成長を燐3と反対側の
端部から開始する場合は第3図または第4図のように移
行させることもできる。
なお本発明は、燐化インジウムの単結晶の育成にも、ま
た多結晶の育成にも適用できる。
た多結晶の育成にも適用できる。
(実施例〕
第1図の方法で燐化インジウムを製造した0石英アンプ
ル2の一端に純度99.9999%の燐500gを、他
端に同純度のインジウム1000 g入りのボート4を
収容し、それらの間にヒートバリア6を配置した。これ
を加熱炉内に挿入し、温度傾斜ゾーンRの温度勾配を4
℃IC−1均熱ゾーンSの温度を1070℃に保持した
状態で、温度傾斜ゾーンRを結晶成長開始端側から4〜
5 mm/hrの速度で終了端側へ平行移動させ、燐化
インジウム結晶を育成した。その後、50℃/hrの速
度で冷却した。これにより長さ30e+a、重量120
0 gの燐化インジウム結晶が得られた。この結晶は全
長にわたって未反応インジウムを含まず、組成は均一で
あった。また電気特性はファンデルバラ法によって測定
した結果、77にでキャリア濃度が2.1xlO”cm
−’、ホール移動度が34.000cn”/V sec
であった。
ル2の一端に純度99.9999%の燐500gを、他
端に同純度のインジウム1000 g入りのボート4を
収容し、それらの間にヒートバリア6を配置した。これ
を加熱炉内に挿入し、温度傾斜ゾーンRの温度勾配を4
℃IC−1均熱ゾーンSの温度を1070℃に保持した
状態で、温度傾斜ゾーンRを結晶成長開始端側から4〜
5 mm/hrの速度で終了端側へ平行移動させ、燐化
インジウム結晶を育成した。その後、50℃/hrの速
度で冷却した。これにより長さ30e+a、重量120
0 gの燐化インジウム結晶が得られた。この結晶は全
長にわたって未反応インジウムを含まず、組成は均一で
あった。また電気特性はファンデルバラ法によって測定
した結果、77にでキャリア濃度が2.1xlO”cm
−’、ホール移動度が34.000cn”/V sec
であった。
以上説明したように本発明によれば、温度勾配凝固法に
より石英アンプルを軟化させることなく、未反応インジ
ウムを含まない均一な組成の燐化インジウム結晶を製造
することができる。
より石英アンプルを軟化させることなく、未反応インジ
ウムを含まない均一な組成の燐化インジウム結晶を製造
することができる。
第1図ないし第4図はそれぞれ本発明の燐化インジウム
製造方法における温度プロファイルを示す説明図、第5
図は従来の製造方法における温度プロファイルを示す説
明図である。
製造方法における温度プロファイルを示す説明図、第5
図は従来の製造方法における温度プロファイルを示す説
明図である。
Claims (2)
- (1)一端側に燐を、他端側にインジウム入りのボート
を配置して減圧密封したアンプルを、加熱炉内に水平に
設置し、上記加熱炉内の温度を燐側が低温域、インジウ
ム側が高温域となるように保ち、かつ高温域の温度プロ
ファイルを変化させる、温度勾配凝固法により上記ボー
ト内に燐化インジウムの結晶を成長させる方法において
、上記高温域を、燐化インジウムの融点を含み温度勾配
を4℃/cm以上とした温度傾斜ゾーンと、その温度傾
斜ゾーンの高温側に隣接する融点〜1090℃の範囲内
の温度に保たれた均熱ゾーンとから構成し、上記温度傾
斜ゾーンをボートの結晶成長開始端側から終了端側へ平
行移動させることを特徴とする燐化インジウムの製造方
法 - (2)特許請求の範囲第1項記載の方法であって、温度
傾斜ゾーンの移動速度を10mm/hr以下としたこと
を特徴とするもの。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP227786A JPS62162687A (ja) | 1986-01-10 | 1986-01-10 | 燐化インジウムの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP227786A JPS62162687A (ja) | 1986-01-10 | 1986-01-10 | 燐化インジウムの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62162687A true JPS62162687A (ja) | 1987-07-18 |
Family
ID=11524869
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP227786A Pending JPS62162687A (ja) | 1986-01-10 | 1986-01-10 | 燐化インジウムの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62162687A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7167420B2 (en) | 2001-12-21 | 2007-01-23 | Kitagawa Industries Co., Ltd | Timepiece including base plate formed of resin and wheel train |
US7170827B2 (en) | 2001-12-21 | 2007-01-30 | Kitagawa Industries Co., Ltd | Timepiece, having bearing portion formed of resin and wheel train |
US7575800B2 (en) | 2001-11-02 | 2009-08-18 | Kitagawa Industries Co., Ltd. | Sliding parts, precision parts and timepieces and electronic equipment using the same |
-
1986
- 1986-01-10 JP JP227786A patent/JPS62162687A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7575800B2 (en) | 2001-11-02 | 2009-08-18 | Kitagawa Industries Co., Ltd. | Sliding parts, precision parts and timepieces and electronic equipment using the same |
US7167420B2 (en) | 2001-12-21 | 2007-01-23 | Kitagawa Industries Co., Ltd | Timepiece including base plate formed of resin and wheel train |
US7170827B2 (en) | 2001-12-21 | 2007-01-30 | Kitagawa Industries Co., Ltd | Timepiece, having bearing portion formed of resin and wheel train |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS62162687A (ja) | 燐化インジウムの製造方法 | |
JPS63252989A (ja) | 引上法による半導体単結晶の製造方法 | |
JPH07206597A (ja) | ZnSeバルク単結晶の製造方法 | |
US5840115A (en) | Single crystal growth method | |
JP3152322B2 (ja) | 無双晶(Nd,La)GaO3単結晶およびその製造方法 | |
JP3443766B2 (ja) | 化合物半導体多結晶の合成方法 | |
JP2781857B2 (ja) | 単結晶の製造方法 | |
JPH06239699A (ja) | 化合物半導体多結晶およびその合成方法 | |
JP3132034B2 (ja) | 化合物半導体結晶の育成方法 | |
JPS63270392A (ja) | 化合物半導体結晶の製造方法 | |
JPH0280391A (ja) | 半導体単結晶引上げにおけるドーパントの添加方法 | |
JPH0567598B2 (ja) | ||
JP2773441B2 (ja) | GaAs単結晶の製造方法 | |
JP3651855B2 (ja) | CdTe結晶の製造方法 | |
JPS5997591A (ja) | 単結晶育成法および装置 | |
JPS61136987A (ja) | 単結晶成長容器 | |
JPH0568439B2 (ja) | ||
JPH0458438B2 (ja) | ||
JPH03137085A (ja) | 2―6族化合物半導体結晶の製造方法 | |
JPH0222200A (ja) | 3−5族化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JP2002029881A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPS63134594A (ja) | 3−v族化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPH02217393A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
JPH0458440B2 (ja) | ||
JPS63252990A (ja) | 大口径結晶の成長方法 |