JPS62160822A - Evaluation device for digital-analog converter - Google Patents

Evaluation device for digital-analog converter

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JPS62160822A
JPS62160822A JP275286A JP275286A JPS62160822A JP S62160822 A JPS62160822 A JP S62160822A JP 275286 A JP275286 A JP 275286A JP 275286 A JP275286 A JP 275286A JP S62160822 A JPS62160822 A JP S62160822A
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JP
Japan
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signal
converter
settling
output
binary
Prior art date
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Pending
Application number
JP275286A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akiharu Machida
明春 町田
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Publication of JPS62160822A publication Critical patent/JPS62160822A/en
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Abstract

PURPOSE:To realize the continuous evaluation of the settling characteristic by using plural binary-coding pseudo random signals so as to form an impulse response waveform and its timing pulse relating to the settling of an A/D converter of object of evaluation. CONSTITUTION:A binary-coding pseudo random signal S1 is generated (6) based on a reference clock CL1 and fed to an evaluation object D/A converter 2. Further, a binary-coding pseudo random signal S2 is generated (8) based on a clock CL2 deviated timewise slightly from the clock CL1. Then an output signal S2 of the converter 2 and a signal S2 are multiplied (10), the result is fed to an LPF 12 and an impulse response waveform relating to the settling of the converter 2 is obtained at the output. Further, the signals S1, S2 are multiplied (11), the result is fed to an LPF 14 and a timing pulse to the impulse response waveform is obtained at the output.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、D/A変1!i!!器評価装置に関するもの
であり、詳しくは、高速型のD/A変換器のセトリング
特性の評価に好適な装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention provides D/A variation 1! i! ! The present invention relates to an apparatus for evaluating settling characteristics of high-speed D/A converters, and more specifically, to an apparatus suitable for evaluating settling characteristics of high-speed D/A converters.

(従来の技術) 高速型D/A変換器の特性を評価する項目の一つに、変
換すべきデジタル入力信号の変化に対するアナログ出力
信号の時間的な応答特性を表わすセトリング特性がある
(Prior Art) One of the items for evaluating the characteristics of a high-speed D/A converter is the settling characteristic, which represents the temporal response characteristic of an analog output signal to changes in the digital input signal to be converted.

第5図は、従来の高速型D/A変換器のセトリング特性
を評価する装置の一例を示すブロック図である。第5図
において、1はデジタル信号Viの入力端子であり、デ
ジタル信号viは評価対象D/A変換器2の必要なピッ
ト入力端子に加えられるとともに可変遅延回路3に加え
られている。
FIG. 5 is a block diagram showing an example of a device for evaluating the settling characteristics of a conventional high-speed D/A converter. In FIG. 5, reference numeral 1 is an input terminal for a digital signal Vi, and the digital signal vi is applied to necessary pit input terminals of the D/A converter 2 to be evaluated and also to the variable delay circuit 3.

評価対象D/A変換器2の出力信号はサンプルホールド
回路4に加えられ、可変遅延回路3の出力信号に従って
サンプルホールドされる。
The output signal of the D/A converter 2 to be evaluated is applied to a sample and hold circuit 4, and sampled and held according to the output signal of the variable delay circuit 3.

(発明が解決しようとする問題点) しかし、このような従来の偶成によれば、1回の測定で
はセトリング波形の1点しか測定できないことになり、
連続的なセトリング波形を測定することはできない。ま
た、高速のサンプルホールド回路および高精度の可変遅
延回路を用いなければならず、コストが高くなってしま
う。
(Problems to be Solved by the Invention) However, according to such a conventional combination, only one point of the settling waveform can be measured in one measurement.
It is not possible to measure a continuous settling waveform. Furthermore, a high-speed sample-and-hold circuit and a highly accurate variable delay circuit must be used, which increases the cost.

本発明は、このような点に着目してなされたものであつ
て、その目的は、比較的簡単な構成で、D/A変換器の
セトリング特性を連続的に評価できる装置を提供するこ
とにある。
The present invention has been made with attention to these points, and its purpose is to provide a device that has a relatively simple configuration and can continuously evaluate the settling characteristics of a D/A converter. be.

(問題点を解決するための手段) このような目的を達成する本発明は、評価対象D/A変
換器に111の11化疑似ランダム信号を加える手段と
、評価対象D/A変換器の出力イロ号と評価対象D/A
変換器に加えられる第1の2(a化疑似ランダム信号に
対して時間関係が異なる第2の2値化疑似ランダム信号
を乗停する第1の乗算手段と、第1の2値化疑似ランダ
ム信号と第2の2fa化疑似ランうム信号を乗算する第
2の乗算手段と、第1の乗算手段の出力信号から評価対
象D/A変換器のセトリングに関連したインパルス応答
波形を出力する手段と、第2の乗算手段の出力信号から
インパルス応答波形のタイミングパルスを出力する手段
とで構成されたことを特徴とする。
(Means for Solving the Problems) The present invention that achieves the above object includes a means for adding a 111 pseudorandom signal to the D/A converter to be evaluated, and Iro issue and evaluation target D/A
a first multiplier for multiplying and subtracting a second binary pseudorandom signal having a different time relationship with respect to the first 2(a) pseudorandom signal applied to the converter; and a first binary pseudorandom signal. a second multiplier for multiplying the signal by a second 2fa pseudo-random signal; and a means for outputting an impulse response waveform related to settling of the D/A converter to be evaluated from the output signal of the first multiplier. and means for outputting a timing pulse of an impulse response waveform from the output signal of the second multiplication means.

(実施例) 以下、図面を用いて、本発明の詳細な説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

第1図において、5は周波数がfOの基準りDツク信号
CL+の入力端子であり、第1の2fifl化疑似ラン
ダムう号発生器6に接続されている。7は周波数が基準
クロック信号OL+よりもわずかにずれた(例えばfo
+δ)クロック信号CL2の入力端子であり、第2の2
値化疑似ランダム信号発生器8に接続されている。第1
の2値化疑似ランダム信号発生器6から出力される2(
0化疑似うンダム信号S1はロジック回路9で適当なロ
ジック変換が施されてD/A変換器2の各ピット入力端
子に加えられている。すなわら、ロジック回路9は、D
/A変換器2に入力される全ビットの状態が一斉に変化
するように、例えば4ビツト入力の場合にはデジタル入
力信号が[0−1−1−IJの状態からrl−0−0−
OJの状態に変化するように変換する。これにより、最
も厳しいデジタル入力条件でWI11i対蒙D/対置D
/A変換器ることになる。10.11はそれぞれ乗算器
である。第1の乗算器10の一方の入力端子にはD/A
変換器2のアナログ出力信号S3が加えられ、他方の入
力端子には第2の2値化疑似ランダム信口発生器8の出
力信号S2が加えられている。第2の乗算器11の一方
の入力端子には第1の2wi化疑似ランうム信号発生器
6の出力信号S曹が加えられ、他方の入力端子には第2
の2値化疑似ランダム信号発生器8の出力信号S2が加
えられている。第1の乗算器10の出力信号S4はロー
パスフィルタ(以下LPFという)12に加えられて周
波数6以上の成分が除去された後第2図(a)に示すよ
うな評価対10/A!挽器2のセトリングに1311運
したインパルス応答波形信号Sうとして出力端子13に
出力され、第2の乗算器11の出力信号S6はLPFl
4に加えられて周波数6以上の成分が除去された後第2
図(b)に示すようなインパルス応答波形信号S5の時
刻零を示すタイミングパルス信号S7として出力端子1
5に出力されている。なお、これら乗眸器10゜11と
しては、例えばアナログ入力端子とデジタル入力端子ア
ナログ出力端子を有し、デジタル入力端子に加えられる
デジタル信号が1−ルベルのときにはアナログ入力端子
に加えられるアナログ入力信号が反転されることなくア
ナログ出力端子に出力され、デジタル入力端子に加えら
れるデジタル信号がLレベルのときにはアナログ入力端
子に加えられるアナログ入力信号が反転されてアナログ
出力端子に出力されるように構成されたリング変調器を
用いる。
In FIG. 1, reference numeral 5 denotes an input terminal for a reference D-check signal CL+ having a frequency of fO, and is connected to a first 2fifl pseudo-random noise generator 6. 7, the frequency is slightly shifted from the reference clock signal OL+ (for example, fo
+δ) is an input terminal for the clock signal CL2, and is the input terminal for the second 2
It is connected to a value pseudorandom signal generator 8. 1st
2(
The zeroed pseudo random signal S1 is subjected to appropriate logic conversion in the logic circuit 9 and is applied to each pit input terminal of the D/A converter 2. In other words, the logic circuit 9 is D
For example, in the case of a 4-bit input, the digital input signal changes from the state of [0-1-1-IJ to rl-0-0-
Convert so that it changes to the OJ state. As a result, WI11i vs. Mongolia D/opposite D under the most severe digital input conditions
/A converter. 10 and 11 are multipliers, respectively. One input terminal of the first multiplier 10 has a D/A
The analog output signal S3 of the converter 2 is applied, and the output signal S2 of the second binary pseudo-random tip generator 8 is applied to the other input terminal. The output signal S of the first 2wi pseudo-run signal generator 6 is applied to one input terminal of the second multiplier 11, and the second
The output signal S2 of the binary pseudorandom signal generator 8 is added. The output signal S4 of the first multiplier 10 is applied to a low-pass filter (hereinafter referred to as LPF) 12 to remove components with a frequency of 6 or higher, and then an evaluation pair 10/A! shown in FIG. 2(a) is obtained. The impulse response waveform signal S which has been applied to the settling of the multiplier 2 is outputted to the output terminal 13, and the output signal S6 of the second multiplier 11 is outputted to the LPF1.
4 and the components with frequencies 6 and above are removed.
The output terminal 1 is used as a timing pulse signal S7 indicating time zero of the impulse response waveform signal S5 as shown in FIG.
5 is output. Note that these multipliers 10 and 11 have, for example, an analog input terminal, a digital input terminal, and an analog output terminal, and when the digital signal applied to the digital input terminal is 1-level, the analog input signal applied to the analog input terminal is is output to the analog output terminal without being inverted, and when the digital signal applied to the digital input terminal is at L level, the analog input signal applied to the analog input terminal is inverted and output to the analog output terminal. A ring modulator is used.

このように構成された装置の動作について説明する。The operation of the device configured in this way will be explained.

第1図において、評価対象D/A変換器2の出力信号S
3をy (t)、LPFl 2の出力に碍Ss ヲg(
t ) 、 m 1 (7)21fl(t、疑似ランダ
ム信号発生器6の出力信号S1をs+  (t)、第2
の2値化疑似うンダム信丹発生器8の出力信@S2をS
z (t)とし、評111Ii対象D / A変換器2
のデジタル入力信号とアナログ出力信号との間の応答を
h(τ)で表わすものとすると、 V (t) =fh (τ)・5t(t−τ)dt・・
・(1) の式が成り立つ。
In FIG. 1, the output signal S of the D/A converter 2 to be evaluated is
3 to y (t), and the output of LPFl 2 to Ss wog (
t ), m 1 (7) 21fl(t, the output signal S1 of the pseudorandom signal generator 6 is expressed as s+ (t), the second
The output signal of the binarized pseudo-endum Shintan generator 8 @S2 is S
z (t), evaluation 111Ii target D/A converter 2
If the response between the digital input signal and analog output signal of is expressed by h(τ), then V (t) = fh (τ)・5t(t−τ)dt...
・Equation (1) holds true.

そして、乗算器1oの出力信号s4をGo(t)とづる
と、 Qo  (t)=82 (j)  ・V(j>    
 −(2)となる。
Then, if the output signal s4 of the multiplier 1o is written as Go(t), then Qo (t)=82 (j) ・V(j>
-(2).

さらに、LPFl2の時定数を1/δに比べて十分大さ
くすることにより、LPFl 2の出力信号S5はQo
(t)をある期間積分したものに比例りることになり、
次の関係が成立する。
Furthermore, by making the time constant of LPFl2 sufficiently larger than 1/δ, the output signal S5 of LPFl2 becomes Qo
It is proportional to the integral of (t) over a certain period,
The following relationship holds true.

CJ=fg。(t)dt =fS2 (t)・y(t)dt =fd t  Sz (t ) ・ fh (τ) ・
 s富(t−τ)dt =fdr  h (r) ・fdt  S+  (t−
Z’)82(t>                 
   ・・・(3)ここで、Sz (j>は、Sz  
(j)とほぼ同じ周波数のクロックによって作られてい
る。従って、これらクロックの周波数の差δが十分小さ
い場合、すなわち2値化疑似ランダム信号の周期が1/
δに比べて十分大きい場合には、82(t)は51(1
)に対して時間τ0だけずれた信号と考えることができ
、次式で表わすことができる。
CJ=fg. (t) dt = fS2 (t)・y(t) dt = fd t Sz (t) ・ fh (τ) ・
s wealth (t-τ) dt = fdr h (r) ・fdt S+ (t-
Z')82(t>
...(3) Here, Sz (j> is Sz
It is generated by a clock with almost the same frequency as (j). Therefore, if the difference δ between the frequencies of these clocks is sufficiently small, that is, the period of the binary pseudorandom signal is 1/
If it is sufficiently large compared to δ, 82(t) becomes 51(1
) can be considered as a signal shifted by time τ0, and can be expressed by the following equation.

82  (t>=SI  (t−τ。)     ・・
・(4)なお、τ0はクロックの周波数の差δのために
刻々変化することになる。
82 (t>=SI (t-τ.)...
-(4) Note that τ0 changes every moment due to the difference δ in the clock frequencies.

(4)式を(3)式に代入すると、 Q−fdτ h(τ)・fdts+(j−τ)・S+(
i−τ0〉         ・・・(5)になる。こ
こで、Slは疑似ランダム信号であり、その自己相関は
、はぼ第3図に示すようになる。
Substituting equation (4) into equation (3), Q-fdτ h(τ)・fdts+(j-τ)・S+(
i−τ0〉...(5). Here, Sl is a pseudo-random signal, and its autocorrelation is as shown in FIG.

そして、このSlのランダム性を理想的なものとすると
、 /dts+(i−τ)・S、(t、−τ0)−δ(τ−
τ0)          ・・・(6)となり、(5
)式は(7)式のようになる。
If the randomness of Sl is ideal, /dts+(i-τ)・S, (t,-τ0)-δ(τ-
τ0) ...(6), and (5
) becomes as shown in equation (7).

Q=、/’dτ h(τ)・δ(τ−τ0)−h+ (
τ0)            ・・・(7)この(7
)式で表わされる9が、第2図(a)に示すような出力
端子13に出力される評価対ftD/A変換器2のセト
リングに関連したインパルス応答波形信号S5を表わす
ことになる。なお、第2図(a)、(b)における時間
軸は、fo/δ倍に拡大されている。
Q=, /'dτ h(τ)・δ(τ−τ0)−h+ (
τ0) ... (7) This (7
) represents the impulse response waveform signal S5 related to the settling of the evaluation pair ftD/A converter 2, which is output to the output terminal 13 as shown in FIG. 2(a). Note that the time axes in FIGS. 2(a) and 2(b) are expanded by fo/δ times.

このように構成することにより、比較的簡単な構成で評
価対客D/A変換器のセトリング波形を連続的に測定す
ることができ、セトリング波形の時間軸を拡大すること
もできる。
With this configuration, the settling waveform of the evaluation customer D/A converter can be continuously measured with a relatively simple configuration, and the time axis of the settling waveform can also be expanded.

なお、第1図の実施例では、評価対象D/A変換思を最
も厳しいデジタル入力条件で測定するために、第1の2
 f(i化疑似うンダム信号発生鼎の出力信号をロジッ
ク回路で所定のロジック変換を行って各ビット入力端子
に加える例を示したが、ビットψ位毎に順次評価する場
合にはロジック変換を行うためのロジック回路を省略で
きる。
In the embodiment shown in FIG. 1, in order to measure the evaluation target D/A conversion under the strictest digital input conditions,
We have shown an example in which the output signal of the pseudo random signal generator is subjected to a predetermined logic conversion using a logic circuit and then added to each bit input terminal. The logic circuit for performing this can be omitted.

また、上記実施例では、2系統の21直化疑似ランダム
信号の周波数をわずかに異ならせることによって実質的
にセトリング波形全体をスイープする例について説明し
たが、第4図に示すように1系統の2値化疑似ランダム
信号を2系統に分岐して両系統の信号間に可変遅延回路
16で所定の遅延時間を与えるようにすることによって
も同様の機能を得ることができる。このような構成によ
れば、測定に必要な時間だけ21直化疑似ランダム信号
の遅延時間を一定にしておくことができることから、第
1図のLPFl2,14の代りに積5)器17.18お
よびサンプルホールド回路19,20を用いて2値化疑
似ランダム信号の周期の区間だけ積分することができる
。なお、21は基準りOツク信号CL+を2値化疑似ラ
ンダム信号の周期の区間に応じて分周する分周器である
Furthermore, in the above embodiment, an example was explained in which the entire settling waveform is swept by slightly different frequencies of the two systems of 21-directed pseudorandom signals, but as shown in FIG. A similar function can also be obtained by branching the binary pseudorandom signal into two systems and providing a predetermined delay time between the signals of both systems using the variable delay circuit 16. According to such a configuration, the delay time of the 21 rectified pseudo-random signal can be kept constant for the time required for measurement, so the multipliers 17 and 18 can be used instead of the LPFs 12 and 14 in FIG. Using the sample and hold circuits 19 and 20, it is possible to integrate only the period of the binary pseudorandom signal. Note that 21 is a frequency divider that divides the reference clock signal CL+ according to the period section of the binary pseudorandom signal.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な構
成で、D/A変換器のセトリング特性を連続的に計1曲
できるD/△変換器評+11[i装置が実現できる。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, the settling characteristics of the D/A converter can be continuously evaluated for one song with a relatively simple configuration. can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図お
よび第3図は第1図の動作説明図、第4図は本発明の他
の実施例を示ずブロック図、第5図は従来の高速型D/
△変換器のセトリング特性を評IIIIiする装置の一
例を示すブロック図である。 2・・・波計!11iD / A ’El:換器、5.
7・・・入力端子、6.8・・・2値化疑似ランダム信
号発生器、9・・・ロジック回路、10.11・・・乗
算器、12.14・・・ローパスフィルタ、13.15
出力端子、16・・・可′!i遅延回路、17.18・
・・積分器、19.20・・・リンプルホールド回路、
21・・・分周器。 第5図
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are explanatory diagrams of the operation of FIG. 1, FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the present invention, and FIG. The figure shows a conventional high-speed type D/
FIG. 3 is a block diagram showing an example of a device for evaluating the settling characteristics of a Δ converter. 2... Wave meter! 11iD/A'El: Exchanger, 5.
7... Input terminal, 6.8... Binarized pseudo-random signal generator, 9... Logic circuit, 10.11... Multiplier, 12.14... Low pass filter, 13.15
Output terminal, 16...possible'! i delay circuit, 17.18・
...integrator, 19.20...ripple hold circuit,
21... Frequency divider. Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 評価対象D/A変換器に第1の2値化疑似ランダム信号
を加える手段と、評価対象D/A変換器の出力信号と評
価対象D/A変換器に加えられる第1の2値化疑似ラン
ダム信号に対して時間関係が異なる第2の2値化疑似ラ
ンダム信号を乗算する第1の乗算手段と、第1の2値化
疑似ランダム信号と第2の2値化疑似ランダム信号を乗
算する第2の乗算手段と、第1の乗算手段の出力信号か
ら評価対象D/A変換器のセトリングに関連したインパ
ルス応答波形を出力する手段と、第2の乗算手段の出力
信号からインパルス応答波形のタイミングパルスを出力
する手段とで構成されたことを特徴とするD/A変換器
評価装置。
means for applying a first binary pseudorandom signal to the D/A converter to be evaluated; and a first binary pseudorandom signal applied to the output signal of the D/A converter to be evaluated and the D/A converter to be evaluated; a first multiplier that multiplies the random signal by a second binarized pseudo-random signal having a different time relationship; and a first multiplier that multiplies the first binarized pseudo-random signal and the second binarized pseudo-random signal. a second multiplication means; a means for outputting an impulse response waveform related to settling of the D/A converter to be evaluated from the output signal of the first multiplication means; 1. A D/A converter evaluation device comprising means for outputting a timing pulse.
JP275286A 1986-01-09 1986-01-09 Evaluation device for digital-analog converter Pending JPS62160822A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11085142B2 (en) 2016-06-24 2021-08-10 Lg Electronics Inc. Garment processing device

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11085142B2 (en) 2016-06-24 2021-08-10 Lg Electronics Inc. Garment processing device
US11624144B2 (en) 2016-06-24 2023-04-11 Lg Electronics Inc. Garment processing device

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