JPS62151741A - 帯電粒子検出方法 - Google Patents

帯電粒子検出方法

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Publication number
JPS62151741A
JPS62151741A JP60295839A JP29583985A JPS62151741A JP S62151741 A JPS62151741 A JP S62151741A JP 60295839 A JP60295839 A JP 60295839A JP 29583985 A JP29583985 A JP 29583985A JP S62151741 A JPS62151741 A JP S62151741A
Authority
JP
Japan
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charged
particles
charging
uncharged
charged particle
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP60295839A
Other languages
English (en)
Inventor
Taishi Satsutani
薩谷 泰資
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Denpa KK
Original Assignee
Kobe Denpa KK
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Publication date
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Publication of JPS62151741A publication Critical patent/JPS62151741A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/1031Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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  • Biochemistry (AREA)
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  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は大気中の帯電粒子及び無帯電粒子を測定する
方法に関する。
(従来技術) 大気中には、大別すると、帯電粒子と無帯電粒子の2種
類が存在し、通常の検出装置では、帯電粒子の検出は出
来るが、無帯電粒子の検出は出来なかったので、従来よ
り大気中に存在する無帯電粒子に対しては、その測定に
際して帯電粒子を除いた後、人為的に帯電させることが
行われており、この無帯電粒子を人為的に帯電させた粒
子数を同一検出装置で計測しようとするものである。
(発明が解決しようとする問題点) しかし上記するように、大気中に存在する無帯電粒子の
検出には、人為的な強制帯電であるため、無帯電粒子に
対しては、粒子の初期状態、質等により帯電状態が異な
ったものとなり、精度高く検出することが出来ない面が
あった。
この発明は上記の点に鑑みなされたものであって、大気
中の無帯電粒子に対する帯電状態は帯電粒子の減衰特性
、帯電からの時間経過等を測定して検出精度を向上させ
る必要上から、帯電部と帯電粒子検出部との距離を相対
的に変化させることにより、帯電量の変化割合が検出出
来、大気中の無帯電粒子数及び帯電粒子数が精度良く測
定できるようにしたものである。
(問題点を解決するための手段) 上記の目的を達成するためのこの発明の要旨とするとこ
ろは、帯電粒子検出部に接続される気体取り込み部にお
いて、気体吸入口から取り込んだ気体中の帯電粒子を除
去して後、無帯電粒子に対して人為的に帯電させ、この
人為帯電粒子を可動部を経て帯電粒子検出部に至らしめ
て測定することを特徴とする帯電粒子検出方法にある。
(実施例) 以下、この発明の実施例を図面を参照しながら説明する
図に於いて、Aは気体取り込み部、Bは帯電粒子検出部
を示す。
前記気体取り込み部Aは、気体吸入口1から順次に、吸
入された気体中の帯電粒子を除去する帯電粒子除去部2
と、残る無帯電粒子に人為的に帯電させる帯電部3と、
この人為帯電粒子を検出部Bに導く可動部4とよりなる
可動部4は帯電部3と帯電粒子検出部Bとの距離、つま
り可動部4の長さを調整可能とするもので、少なくとも
その片方の接続端部は筒体嵌合構成にして長さの調整可
能にしている。
帯電粒子検出部Bは、前記気体取り込み部Aの可動部4
に接続される筒状をなすシールド電極5の内部に印加電
極6と集電極7がそれぞれ独立して絶縁物をもって支持
され、集電極7と外部測定機構8とを印加電極6より可
及的離間させた導線9を以て接続する。
印加電極6は直流電源装置10に対し、極性及び電圧を
制御可能な選択器11を介して接続され、又電源装置1
0と検出部Bとの間には、タイマー12を介装して検出
部已による検出時間を可変としている。
(作  用) 然して、この発明では、帯電粒子検出部に接続される気
体取り込み部において、気体吸入口から取り込んだ気体
中の帯電粒子を除去して後、無帯電粒子に対して人為的
に帯電させ、この人為帯電粒子を可動部を経て帯電粒子
検出部に至らしめ、この可動部の長さを大気中の無帯電
粒子に対する帯電粒子の減衰特性、帯電からの時間経過
等に適合させるように調整して測定するものである。
(効  果) 以上の説明から明らかなように、この発明では、気体中
の無帯電粒子の測定に対して、これを人為的に帯電させ
て測定°するのに、その測定精度を向上させる必要上か
ら、帯電部と帯電粒子検出部とを接続する通路長さ、つ
まりその距離を相対的に変化させることにより、帯電量
の変化割合が検出出来、無帯電粒子数及び帯電粒子数が
精度良く測定出来る。
【図面の簡単な説明】
図面はこの発明の実施例を示す構成図である。 A・・・気体取り込み部、B・・・帯電粒子検出部、1
・・・気体吸入口、2・・・帯電粒子除去部、3・・・
帯電部、4・・・可動部、5・・・シールド電極、6・
・・印加電極、7・・・集電極、8・・・外部測定機構
、9・・・導線、10・・・直流電源装置、11・・・
選択器、12・・・タイマー。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 帯電粒子検出部に接続される気体取り込み部において、
    気体吸入口から取り込んだ気体中の帯電粒子を除去して
    後、無帯電粒子に対して人為的に帯電させ、この人為帯
    電粒子を可動部を経て帯電粒子検出部に至らしめて測定
    することを特徴とする帯電粒子検出方法。
JP60295839A 1985-12-26 1985-12-26 帯電粒子検出方法 Expired - Lifetime JPS62151741A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100417377B1 (ko) * 2000-11-18 2004-02-05 박성근 실크 스크린 방법에 의하여 제작된 전극을 갖는 간극형하전입자 검출기 및 간극형 하전입자 검출기의 전극제작방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100417377B1 (ko) * 2000-11-18 2004-02-05 박성근 실크 스크린 방법에 의하여 제작된 전극을 갖는 간극형하전입자 검출기 및 간극형 하전입자 검출기의 전극제작방법

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