JPS6243540A - 超微粒子測定装置 - Google Patents
超微粒子測定装置Info
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- JPS6243540A JPS6243540A JP60183487A JP18348785A JPS6243540A JP S6243540 A JPS6243540 A JP S6243540A JP 60183487 A JP60183487 A JP 60183487A JP 18348785 A JP18348785 A JP 18348785A JP S6243540 A JPS6243540 A JP S6243540A
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- electrode
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- SUDBRAWXUGTELR-HPFNVAMJSA-N 5-[[(2r,3r,4s,5s,6r)-3,4,5-trihydroxy-6-(hydroxymethyl)oxan-2-yl]oxymethyl]-1h-pyrimidine-2,4-dione Chemical compound O[C@@H]1[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O[C@H]1OCC1=CNC(=O)NC1=O SUDBRAWXUGTELR-HPFNVAMJSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ガス中に浮遊する粒径0.1ミクロン以下
の超微粒子の個数濃度と粒径分布を測定するための装置
である。
の超微粒子の個数濃度と粒径分布を測定するための装置
である。
従来のこの種の分離装置は1粒子に電荷を与えたのち直
流電界中を流通せしめ、その電気的移動度の差を粒子電
荷による微少電流を測定することによって検出する型式
のエアロゾル電気的移動度分析装置が用いられている。
流電界中を流通せしめ、その電気的移動度の差を粒子電
荷による微少電流を測定することによって検出する型式
のエアロゾル電気的移動度分析装置が用いられている。
上記型式の電気的移動度分析装置では1粒径が0.1ミ
クロン以下と極度に小さく、且つその個数濃度が低い場
合9粒子電荷による電流値が極めて小さくなって、誤差
の増大をさけられず、遂には測定自体が不可能となる。
クロン以下と極度に小さく、且つその個数濃度が低い場
合9粒子電荷による電流値が極めて小さくなって、誤差
の増大をさけられず、遂には測定自体が不可能となる。
この発明は、それ自体公知である電気的移動度分析装置
において微少電流計による粒子電荷検出の代りに負電荷
をもたせた粒子が正コロナ電極に到来する度に生ずるバ
ースト・コロナのパルスを検出することにより粒子検出
を行う。
において微少電流計による粒子電荷検出の代りに負電荷
をもたせた粒子が正コロナ電極に到来する度に生ずるバ
ースト・コロナのパルスを検出することにより粒子検出
を行う。
すなわち1本発明はガス中に浮遊する超微粒子に負コロ
ナ放電、ラヂオアイソトープ等を利用して。
ナ放電、ラヂオアイソトープ等を利用して。
粒子1個毎に電荷電量e(0)の負電荷を与えるための
「粒子予備荷電部」と、同心円筒電極、平行平板電極等
の平行電極系と、その両電極間に可変直流電圧V(V)
’!i−印加するための可変直流電源から成る「粒子分
離部」と、該平行電極系の一端より清浄キャリヤガスを
供給してこれを両電極間に層流状に他端へと流通せしめ
るためのガス吸引口、ガス除塵用フィルター、ポンプ等
より成る「キャリヤガス流通系」を有し、更に該粒子予
備荷電部の出口より負帯電超微粒子を浮遊せしめたガス
を一定の流量で該平行電極系上流側の負電極附近に一様
に供給するため帯電超微粒子供給口と供給管路より成る
所の[連結部」と、該平行電極系下流側の正電極附近よ
り一様に流通ガスの一部(以下抽出ガスと呼ぶ)ととも
にその場所に到達せる帯電超微粒子を抽出するための帯
電超微粒子抽出口と、吸引管路、吸引ポンプ等より成る
「抽出ガス吸引系」を有し、更に該吸引管路る板状、金
網状1円筒状等の対向電極より成るコロナ電極系と、そ
の両電極間に放電極が正となる如くコロナ開始電圧直前
の電圧を印加するための直流電源と、該放電極より発生
するバースト・コロナをその際、該コロナ電極系に流れ
るパルス電流又は発光により検出計数するためのバース
ト・コロナ計数器より成る「負帯電超微粒子計数部」か
ら成る超微粒子測定装置である。
「粒子予備荷電部」と、同心円筒電極、平行平板電極等
の平行電極系と、その両電極間に可変直流電圧V(V)
’!i−印加するための可変直流電源から成る「粒子分
離部」と、該平行電極系の一端より清浄キャリヤガスを
供給してこれを両電極間に層流状に他端へと流通せしめ
るためのガス吸引口、ガス除塵用フィルター、ポンプ等
より成る「キャリヤガス流通系」を有し、更に該粒子予
備荷電部の出口より負帯電超微粒子を浮遊せしめたガス
を一定の流量で該平行電極系上流側の負電極附近に一様
に供給するため帯電超微粒子供給口と供給管路より成る
所の[連結部」と、該平行電極系下流側の正電極附近よ
り一様に流通ガスの一部(以下抽出ガスと呼ぶ)ととも
にその場所に到達せる帯電超微粒子を抽出するための帯
電超微粒子抽出口と、吸引管路、吸引ポンプ等より成る
「抽出ガス吸引系」を有し、更に該吸引管路る板状、金
網状1円筒状等の対向電極より成るコロナ電極系と、そ
の両電極間に放電極が正となる如くコロナ開始電圧直前
の電圧を印加するための直流電源と、該放電極より発生
するバースト・コロナをその際、該コロナ電極系に流れ
るパルス電流又は発光により検出計数するためのバース
ト・コロナ計数器より成る「負帯電超微粒子計数部」か
ら成る超微粒子測定装置である。
前記粒子荷電部から連結部を経て9粒子分離部の上流側
負電極附近に供給された負電荷e(C)’i有する超微
粒子は、クーロン力により正電極に向って平均速度 で移動する。但し、E=V/d=正負電極間の平均電界
強度(V/m)、d=電極間距離〔m〕、2=ガス粘度
(Nsろf3.a=粒子半径(m) 、 Cm = 1
+2.514(λ/2α)+o、8(λ/α)xexp
(−0,55(2α/λ)〕。
負電極附近に供給された負電荷e(C)’i有する超微
粒子は、クーロン力により正電極に向って平均速度 で移動する。但し、E=V/d=正負電極間の平均電界
強度(V/m)、d=電極間距離〔m〕、2=ガス粘度
(Nsろf3.a=粒子半径(m) 、 Cm = 1
+2.514(λ/2α)+o、8(λ/α)xexp
(−0,55(2α/λ)〕。
λ=ガス分子の平均自由行程で、?/eは粒子半径αと
印加電圧Vの関数となる。すなわち。
印加電圧Vの関数となる。すなわち。
杭=?/e(α、V) (2)いま電極
間のキャリヤガスの平均流通速度をV、9(m/S)。
間のキャリヤガスの平均流通速度をV、9(m/S)。
帯電超微粒子の供給口と抽出口間の距離をL (m )
とすると、下記条件を満足する粒子半径α(m)の粒子
のみが上記抽出口より検出ガスと共に抽出され負帯電超
微粒子計数部のコロナ電極系に導入される。
とすると、下記条件を満足する粒子半径α(m)の粒子
のみが上記抽出口より検出ガスと共に抽出され負帯電超
微粒子計数部のコロナ電極系に導入される。
この負帯電超微粒子は、直ちにクーロン力によって正の
放電極近傍に到達し、その場所の強力な電界によって電
子を離脱放出、この電子が放電極に向って走行中に衝突
電離による電子崩れを発生して大きナパルス電流および
発光を伴う正のバースト・コロナを生ずる。したがって
、このパルス電流又は発光を上記バースト・コロナ計数
器で一定時間検出計数することによって、所定の粒子半
径aの粒子の個数濃度TL((Z) (m ” )が測
定でき、更に印加電圧■を変えることにより9種々のα
に対する個数濃度、さらには粒径分布を測定することが
可能となる。この場合、バースト・コロナは1個の超微
粒子到来毎に1個宛発生するから、如何にその個数濃度
が小さく。
放電極近傍に到達し、その場所の強力な電界によって電
子を離脱放出、この電子が放電極に向って走行中に衝突
電離による電子崩れを発生して大きナパルス電流および
発光を伴う正のバースト・コロナを生ずる。したがって
、このパルス電流又は発光を上記バースト・コロナ計数
器で一定時間検出計数することによって、所定の粒子半
径aの粒子の個数濃度TL((Z) (m ” )が測
定でき、更に印加電圧■を変えることにより9種々のα
に対する個数濃度、さらには粒径分布を測定することが
可能となる。この場合、バースト・コロナは1個の超微
粒子到来毎に1個宛発生するから、如何にその個数濃度
が小さく。
またその粒径が小さくても正確に’rL<α)と粒径分
布を測定することが可能となるのである。
布を測定することが可能となるのである。
本発明の特徴を実施例および図面により説明すると、第
1図において、1は粒子分離部で、接地せる外部円筒2
と絶縁3を介してこれより絶縁支持せる内部円筒4より
成る同心円筒状の平行電極系5と。
1図において、1は粒子分離部で、接地せる外部円筒2
と絶縁3を介してこれより絶縁支持せる内部円筒4より
成る同心円筒状の平行電極系5と。
両電極間に4を2に対して正とする如き極性をもって可
変直流電圧Vを印加する所の可変直流電源6より成る。
変直流電圧Vを印加する所の可変直流電源6より成る。
7,8はそれぞれ外部円筒2の上下端を密閉する円板で
、7と内部円筒4の半球状頂部9の中ヤリャガス人口1
2があり、空気取入口13ヲ有する除塵用高性能フィル
ター14に連結されている。半球状頂部9のつけ根の位
置に対向する外部円筒4の内壁に帯電超微粒子供給口と
しての円環状ス’) ノ) 15が環状スリッソ叱玉あ
り、更にその下方に延長部17を有してその中に負帯電
超微粒子計数部18を内蔵していその下部空間加の側壁
にキャリヤガス出口21があり。
、7と内部円筒4の半球状頂部9の中ヤリャガス人口1
2があり、空気取入口13ヲ有する除塵用高性能フィル
ター14に連結されている。半球状頂部9のつけ根の位
置に対向する外部円筒4の内壁に帯電超微粒子供給口と
しての円環状ス’) ノ) 15が環状スリッソ叱玉あ
り、更にその下方に延長部17を有してその中に負帯電
超微粒子計数部18を内蔵していその下部空間加の側壁
にキャリヤガス出口21があり。
ガス流量計a、弁りを介して吸引ポンプ讃に連結さ円筒
4のスリット16から上の部分9を支持する支柱で、
+6から下の部分(9)への抽出ガスの流通をさまたげ
ない。負帯電超微粒子計数部18は内部円筒下方部課 を有する所の金属円旗対向電極あと、これと対向してそ
の下方に絶縁碍管あにより支持されて円筒軸上に配設さ
れた放電極調と、30の下端を密閉する金属円板Iとあ
の間に挿入され、放電極に正のコロナ開始電圧直前の直
流電圧を印加するための可変直流電植 源37と、上記円磯対向電極おに接続された内蔵電源を
有するバースト・コロナ電流測定用の電流計あ。
4のスリット16から上の部分9を支持する支柱で、
+6から下の部分(9)への抽出ガスの流通をさまたげ
ない。負帯電超微粒子計数部18は内部円筒下方部課 を有する所の金属円旗対向電極あと、これと対向してそ
の下方に絶縁碍管あにより支持されて円筒軸上に配設さ
れた放電極調と、30の下端を密閉する金属円板Iとあ
の間に挿入され、放電極に正のコロナ開始電圧直前の直
流電圧を印加するための可変直流電植 源37と、上記円磯対向電極おに接続された内蔵電源を
有するバースト・コロナ電流測定用の電流計あ。
その出力パルス信号を光信号としてパルス計数器刃に供
給するための光ファイバー40.放電極尖端41のバー
スト・パルスに伴う発光を光電子倍増管42上に集光す
るための凹面鏡4.42の出力をあに供給する空間47
の側壁に抽出ガス出口絽があり、ガス流量計49、弁間
を介して吸引ポンプ51に連結されている。
給するための光ファイバー40.放電極尖端41のバー
スト・パルスに伴う発光を光電子倍増管42上に集光す
るための凹面鏡4.42の出力をあに供給する空間47
の側壁に抽出ガス出口絽があり、ガス流量計49、弁間
を介して吸引ポンプ51に連結されている。
いま吸引ポンプ24.51を作動させ、それぞれの吸引
ガス流竜を調節して、内外円筒電極4,2間の間隙52
を下方に流れる清浄キャリヤガスが層流状に所定平均流
速Vg〔m/s〕をもって流れる如くシ、かつスリッ)
15より供給される負帯電超微粒子を浮遊せるガスの
供給量が上記層流を乱さない程度の低い値とし、かつス
リット16からのガス抽出流量がこの供給量とほぼ見合
うものになる如く設定する。この時。
ガス流竜を調節して、内外円筒電極4,2間の間隙52
を下方に流れる清浄キャリヤガスが層流状に所定平均流
速Vg〔m/s〕をもって流れる如くシ、かつスリッ)
15より供給される負帯電超微粒子を浮遊せるガスの
供給量が上記層流を乱さない程度の低い値とし、かつス
リット16からのガス抽出流量がこの供給量とほぼ見合
うものになる如く設定する。この時。
印加電圧Vに対して9式(1)、 (2)を満足する粒
子半径α〔m〕を有する所の負電荷−e (C’)を有
する超微粒子が点線田に沿って間隙52の内部を運動の
上スリット16より下方内部円筒I内に入り、金網ηを
通過してクーロン力により放電極あの尖端41へと移動
し。
子半径α〔m〕を有する所の負電荷−e (C’)を有
する超微粒子が点線田に沿って間隙52の内部を運動の
上スリット16より下方内部円筒I内に入り、金網ηを
通過してクーロン力により放電極あの尖端41へと移動
し。
その結果、すでに述べた機構により粒子1個毎に1つの
バースト・コロナを発生する。これに伴うパルはコンピ
ューターで刃の積算計数値、流量計nの指示出力(入口
部からの吸引ガス流と一定の比例関係にある)、可変直
流電源6の電圧計55の指示出力全それぞれ導線%、5
7.58を介して供給することにより、超微粒子の各粒
径毎の絶対個数濃度と粒径分布を記録計59に記録する
。
バースト・コロナを発生する。これに伴うパルはコンピ
ューターで刃の積算計数値、流量計nの指示出力(入口
部からの吸引ガス流と一定の比例関係にある)、可変直
流電源6の電圧計55の指示出力全それぞれ導線%、5
7.58を介して供給することにより、超微粒子の各粒
径毎の絶対個数濃度と粒径分布を記録計59に記録する
。
第2図、第3図、第4図はそれぞれ負帯電超微粒子計数
部のコロナ電極系の異る構成様態を示す図である。
部のコロナ電極系の異る構成様態を示す図である。
第2図においてωは円錐状の抽出ガス通路で、その内部
に円筒状金網対向電極61が絶縁物62.63を介して
半球状及び円筒状のガード電極例、65を具備して配設
され、その中心軸上に絶縁物印、碍管67に支持された
線状放電線絽がある。図における37より柘までの要素
の名稍と機能は、第1図における同一番号のそれと同じ
である。このコロナ電極系では、負ントの可能性が少く
なる。
に円筒状金網対向電極61が絶縁物62.63を介して
半球状及び円筒状のガード電極例、65を具備して配設
され、その中心軸上に絶縁物印、碍管67に支持された
線状放電線絽がある。図における37より柘までの要素
の名稍と機能は、第1図における同一番号のそれと同じ
である。このコロナ電極系では、負ントの可能性が少く
なる。
第3図は接地せる針状放電極的の尖端70部に、それを
同心状にとりまく漏計状ガイド71のしぼられた下端π
から抽出負帯電超微粒子を供給する方式のもので、この
場合、対向電極nは周辺部に多数のガス地函体諷に対し
て印加されている。nは接地された外室、78は抽出ガ
ス出口である。この方式の特徴は。
同心状にとりまく漏計状ガイド71のしぼられた下端π
から抽出負帯電超微粒子を供給する方式のもので、この
場合、対向電極nは周辺部に多数のガス地函体諷に対し
て印加されている。nは接地された外室、78は抽出ガ
ス出口である。この方式の特徴は。
バースト・コロナに伴う放電極からの正イオン放出によ
り後続負帯電超微粒子が正に荷電され、ミスカウントす
ることがないので9粒子個数濃度の高い場合に好適であ
る。
り後続負帯電超微粒子が正に荷電され、ミスカウントす
ることがないので9粒子個数濃度の高い場合に好適であ
る。
第4図はコロナ放電極79を鋭くとがった円筒刃状とし
、その中心部に同心的に半球状のガスのガイド80を設
けて2円環状スリット81より79近傍に負帯電超微粒
子を供給する様にしたもので、第3図の例において抽出
ガス流路の端部1積を大きくシ、抽出ガス流量の増大を
容易ならしめたものである。図におけるその他の要素は
、第3図における同一番号のそれと同じである。lらツ
’1alllt、+、=イL1叙°基ツJ支電オ伽と1
1iJ・−〔発明の効果〕 本発明は上記のような構成とすることにより2粒径がナ
ノメーター領域の超微粒子の個数濃度と粒径分布を個数
濃度の大小に拘わらず、極めて正確に測定することを可
能ならしめる。
、その中心部に同心的に半球状のガスのガイド80を設
けて2円環状スリット81より79近傍に負帯電超微粒
子を供給する様にしたもので、第3図の例において抽出
ガス流路の端部1積を大きくシ、抽出ガス流量の増大を
容易ならしめたものである。図におけるその他の要素は
、第3図における同一番号のそれと同じである。lらツ
’1alllt、+、=イL1叙°基ツJ支電オ伽と1
1iJ・−〔発明の効果〕 本発明は上記のような構成とすることにより2粒径がナ
ノメーター領域の超微粒子の個数濃度と粒径分布を個数
濃度の大小に拘わらず、極めて正確に測定することを可
能ならしめる。
第1図は本発明の実施例の縦断面図、第2図、第3図、
第4図はそれぞれその負帯電超微粒子計数部のコロナ電
極系の異る構成様態を示す縦断面図であるO 1 ・・・・・・・・・・・・・・・・・粒子分離部2
・・・・・・・・・・・・・・・・・・外部円筒電極4
・・・・・・・・・・・・・・・・・・内部円筒電極5
・・・・・・・・・・・・・・・・・・平行電極系6・
・・・・・・・・・・・・・・・・・可変直流電源13
.26 ・・・・・・・・・ガス吸引口14・・・・・
・・・・・・・・・・・・・ガス除塵用フィルター15
・・・・・・・・・・・・・・・・・・供給口16・・
・・・・・・・・・・・・・・・・抽出口18・・・・
・・・・・・・・・・・・・・負帯電超微粒子計数部2
2.49・・・・・・・・・ガス流量計24.51 ・
・・・・・・・・吸引ポンプ6・・・・・・・・・・・
・・・・・・・粒子予備荷電部℃・・・・・・・・・・
・・・・・・・・金網舛褥電桶お・・・・・・・・・・
・・・・・・・・島碩状対向電極胛、75 ・・・・・
・・・・直流電源あ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・電流計刃・・・・・・・・・・・・・・・・・・パ
ルス計数器41.69・・・・・・・・・針状放電極4
2・・・・・・・・・・・・・・・・・・光電子倍増管
61・・・・・・・・・・・・・・・・・・円筒状金網
対向電極銘・・・・・・・・・・・・・・・・・・線状
放電極71.80 ・・・・・・・・・ガスガイドn・
・・・・・・・・・・・・・・・・・板状対向電極四・
・・・・・・・・・・・・・・・・・円筒刃状放電極以
上
第4図はそれぞれその負帯電超微粒子計数部のコロナ電
極系の異る構成様態を示す縦断面図であるO 1 ・・・・・・・・・・・・・・・・・粒子分離部2
・・・・・・・・・・・・・・・・・・外部円筒電極4
・・・・・・・・・・・・・・・・・・内部円筒電極5
・・・・・・・・・・・・・・・・・・平行電極系6・
・・・・・・・・・・・・・・・・・可変直流電源13
.26 ・・・・・・・・・ガス吸引口14・・・・・
・・・・・・・・・・・・・ガス除塵用フィルター15
・・・・・・・・・・・・・・・・・・供給口16・・
・・・・・・・・・・・・・・・・抽出口18・・・・
・・・・・・・・・・・・・・負帯電超微粒子計数部2
2.49・・・・・・・・・ガス流量計24.51 ・
・・・・・・・・吸引ポンプ6・・・・・・・・・・・
・・・・・・・粒子予備荷電部℃・・・・・・・・・・
・・・・・・・・金網舛褥電桶お・・・・・・・・・・
・・・・・・・・島碩状対向電極胛、75 ・・・・・
・・・・直流電源あ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・電流計刃・・・・・・・・・・・・・・・・・・パ
ルス計数器41.69・・・・・・・・・針状放電極4
2・・・・・・・・・・・・・・・・・・光電子倍増管
61・・・・・・・・・・・・・・・・・・円筒状金網
対向電極銘・・・・・・・・・・・・・・・・・・線状
放電極71.80 ・・・・・・・・・ガスガイドn・
・・・・・・・・・・・・・・・・・板状対向電極四・
・・・・・・・・・・・・・・・・・円筒刃状放電極以
上
Claims (3)
- (1)ガス中に浮遊する超微粒子に負電荷を与えるため
のガス吸引口26とガス出口を備えた粒子予備荷電部2
5と、間隙52にガス通路を形成する平行電極系5、そ
の両電極間に可変直流電圧を印加するための可変直流電
源6より成る粒子分離部1と、該平行電極系の一端から
清浄キャリヤガスを供給してこれを上記間隙52に層流
状に他端へと流通せしめるためのガス吸引口13、ガス
除塵用フィルター14、ポンプ24より成るキャリヤガ
ス流通系を有し、更に該粒子予備荷電部25のガス出口
より負帯電超微粒子を浮遊せしめたガスを、該平行電極
系5の上流側の負電極附近に供給するための供給口15
と供給管路27を備えた連結部と、該平行電極系5の下
流側の正電極附近より流通ガスの一部を到達負帯電超微
粒子とともに抽出するための抽出口16と、抽出ガスの
吸引管路、吸引ポンプ51より成る抽出ガス吸引系を有
し、更に該吸引管路に介入して抽出負帯電超微粒子を検
出計数するための負帯電超微粒子計数部18を有する所
のエアロゾル電気的移動度分析装置において、該負帯電
超微粒子計数部18が放電極34と、これと絶縁対向せ
る対向電極とより成るコロナ電極系と、その 両電極間に放電極34を正とする如き極性をもってコロ
ナ開始電圧直前の電圧を印加するための直流電源37と
、該放電極より発生せるバースト・コロナを検出計数す
るためのバースト・コロナ計数器より成ることを特徴と
する所の超微粒子測定装置。 - (2)バースト・コロナ計数器が、該コロナ電極系と該
直流電源37より成る回路に介入してバースト・コロナ
発生時に流れる電流パルスを検出するための電流計38
と、これに接続せるパルス計数器39より成ることを特
徴とする所の、特許請求の範囲1に記載の超微粒子測定
装置。 - (3)バースト・コロナ計数器が該放電極34の尖端4
1にバースト・コロナ発生時に生ずる発光を検出するた
めの光検出器42とこれに接続せるパルス計数器39よ
り成ることを特徴とする所の、特許請求の範囲1に記載
の超微粒子測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60183487A JPH0652233B2 (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | 超微粒子測定装置 |
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- 1985-08-21 JP JP60183487A patent/JPH0652233B2/ja not_active Expired - Lifetime
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