JPS62150926A - アナログスイツチ回路 - Google Patents
アナログスイツチ回路Info
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- JPS62150926A JPS62150926A JP29053285A JP29053285A JPS62150926A JP S62150926 A JPS62150926 A JP S62150926A JP 29053285 A JP29053285 A JP 29053285A JP 29053285 A JP29053285 A JP 29053285A JP S62150926 A JPS62150926 A JP S62150926A
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- Japan
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- timing
- circuit
- timing signal
- mosfets
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明はアナログスイッチ、例えばCMOSスイッチに
適用して有効な技術に関する。
適用して有効な技術に関する。
Pチャンネル型MOSFET及びNチャンネル型MOS
FETが並列接続され、夫々のゲートに相補レベルのタ
イミング信号を受けてスイッチ制御されるCMOSスイ
ッチにおいて、それがオン状態からオフ状態にされると
き、Nチャンネル型MOSFETのゲートに供給される
タイミング信号はハイレベルからロウレベルに立ち下げ
られ、一方Pチャンネル型MOSFETのゲートに供給
されるタイミング信号はロウレベルからハイレベルに立
ち上げられる。ここで、MOSFETにおいては、ゲー
ト電極とソース・ドレイン領域との重なりによって生ず
るようなゲートオーバラップ容量や、ゲート電極下の半
導体表面にチャンネル領域が誘起されたときにゲート電
極とチャンネル領域との間に形成されるチャンネル容量
から成るようなゲート容量が存在する。このゲート容量
は、不所望なカップリング容量とみなされる。そこで、
Nチャンネル型及びPチャンネル型MOSFETのため
のタイミング信号がそれぞれ上記のように変化された場
合、夫々のMOSFETに結合された出力ノードにはゲ
ート容量を介して電荷が注入されることになる。注入さ
れた電荷は、夫々のMOSFETがオフ状態にされてハ
イインピーダンス状態を採ることによってそのまま保持
される。
FETが並列接続され、夫々のゲートに相補レベルのタ
イミング信号を受けてスイッチ制御されるCMOSスイ
ッチにおいて、それがオン状態からオフ状態にされると
き、Nチャンネル型MOSFETのゲートに供給される
タイミング信号はハイレベルからロウレベルに立ち下げ
られ、一方Pチャンネル型MOSFETのゲートに供給
されるタイミング信号はロウレベルからハイレベルに立
ち上げられる。ここで、MOSFETにおいては、ゲー
ト電極とソース・ドレイン領域との重なりによって生ず
るようなゲートオーバラップ容量や、ゲート電極下の半
導体表面にチャンネル領域が誘起されたときにゲート電
極とチャンネル領域との間に形成されるチャンネル容量
から成るようなゲート容量が存在する。このゲート容量
は、不所望なカップリング容量とみなされる。そこで、
Nチャンネル型及びPチャンネル型MOSFETのため
のタイミング信号がそれぞれ上記のように変化された場
合、夫々のMOSFETに結合された出力ノードにはゲ
ート容量を介して電荷が注入されることになる。注入さ
れた電荷は、夫々のMOSFETがオフ状態にされてハ
イインピーダンス状態を採ることによってそのまま保持
される。
この場合、Nチャンネル型MOSFETとPチャンネル
型MOSFETとに加えられるタイミング信号の変化が
上記のように互いに逆方向であるので、これら2つのM
OSFETを介して出力ノードに加えられる電荷は、実
質的に逆極性にあるとみなせる。しかしながら、注入電
荷量が両MOSFETで異なれば、CMOSスイッチの
オフ状態前に出力ノードに伝達された入力信号レベルが
その注入電荷量の差に応じて変動する所謂フィードスル
ーを生ずる。
型MOSFETとに加えられるタイミング信号の変化が
上記のように互いに逆方向であるので、これら2つのM
OSFETを介して出力ノードに加えられる電荷は、実
質的に逆極性にあるとみなせる。しかしながら、注入電
荷量が両MOSFETで異なれば、CMOSスイッチの
オフ状態前に出力ノードに伝達された入力信号レベルが
その注入電荷量の差に応じて変動する所謂フィードスル
ーを生ずる。
そこで本発明者は、相互に注入電荷を相殺可能にしてC
MOSスイッチにおける上記フィードスルーを低減する
ため、ゲート容量の等しいMOSFETを用いることを
検討した。しかし本発明者等の更にの検討によって斯る
技術においても、CMOSスイッチのオフ状態直前にお
けるその入力信号レベルによっては、両MOSFETが
オフ状態にされるタイミングが相互にずれ、そのため実
質的な注入電荷量が相違して充分にフィードスルーを低
減することができないということが明らかにされた。
MOSスイッチにおける上記フィードスルーを低減する
ため、ゲート容量の等しいMOSFETを用いることを
検討した。しかし本発明者等の更にの検討によって斯る
技術においても、CMOSスイッチのオフ状態直前にお
けるその入力信号レベルによっては、両MOSFETが
オフ状態にされるタイミングが相互にずれ、そのため実
質的な注入電荷量が相違して充分にフィードスルーを低
減することができないということが明らかにされた。
なお、CMOSスイッチについて記載された文献の例と
しては昭和59年11月30日オーム社発行のrLSI
ハンドブックJ P145がある。
しては昭和59年11月30日オーム社発行のrLSI
ハンドブックJ P145がある。
本発明の目的は、フィードスルーを充分に低減すること
ができるアナログスイッチ回路を提供することにある。
ができるアナログスイッチ回路を提供することにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書及び添付図面から明らかになるであろう。
本明細書及び添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば下記の通りである。
を簡単に説明すれば下記の通りである。
すなわち、CMOSスイッチのオン状態からオフ状態へ
の遷移過程における両タイミング信号を、そのCMOS
スイッチの入力信号レベルとほぼ同じレベルで交叉させ
てレベル変化させるタイミング信号発生回路を設け、C
MOSスイッチを構成する両MOSFETがオフ状態に
されるタイミングを、CMOSスイッチの入力信号レベ
ルに応じて同一にすることにより、フィードスルーの低
減を達成するものである。
の遷移過程における両タイミング信号を、そのCMOS
スイッチの入力信号レベルとほぼ同じレベルで交叉させ
てレベル変化させるタイミング信号発生回路を設け、C
MOSスイッチを構成する両MOSFETがオフ状態に
されるタイミングを、CMOSスイッチの入力信号レベ
ルに応じて同一にすることにより、フィードスルーの低
減を達成するものである。
〔実施例1〕
第1図は本発明の第1実施例を示す回路図である。同図
に示されるアナログスイッチ回路は、特に制限されない
が、図示しないサンプルアンドホールド回路へ入力信号
を供給する伝達ゲートとして機能するものである。
に示されるアナログスイッチ回路は、特に制限されない
が、図示しないサンプルアンドホールド回路へ入力信号
を供給する伝達ゲートとして機能するものである。
同図においてSWはCMOSスイッチであり、並列接続
されたNチャンネル型MOSFETQI及びPチャンネ
ル型MOSFETQ2から構成される。このCMOSス
イッチは、MOSFETQ1、C2のゲートに夫々に供
給される相補レベルのタイミング信号φn、φpによっ
てスイッチ制御される。CMOSスイッチSWは、MO
SFETQ1のドレイン及びMOSFETQ2のソース
に入力信号Vinを受け、オン状態においてMOSFE
TQIのソース及びMOSFETQ2のドレインから出
力信号Voutを図示しないサンプルアンドホールド回
路へ供給する。なお、MOSFETQ1及びQ2のそれ
ぞれの2つの電流移送電極のうちどちらがソースとして
作用し、どちらがドレインとして作用するかは、入力V
inと出力Voutとの間の電位差によって決る。それ
故に、図示及び以下の説明におけるソース・ドレインの
記号及び用語は便宜上のものであると理解されたい。
されたNチャンネル型MOSFETQI及びPチャンネ
ル型MOSFETQ2から構成される。このCMOSス
イッチは、MOSFETQ1、C2のゲートに夫々に供
給される相補レベルのタイミング信号φn、φpによっ
てスイッチ制御される。CMOSスイッチSWは、MO
SFETQ1のドレイン及びMOSFETQ2のソース
に入力信号Vinを受け、オン状態においてMOSFE
TQIのソース及びMOSFETQ2のドレインから出
力信号Voutを図示しないサンプルアンドホールド回
路へ供給する。なお、MOSFETQ1及びQ2のそれ
ぞれの2つの電流移送電極のうちどちらがソースとして
作用し、どちらがドレインとして作用するかは、入力V
inと出力Voutとの間の電位差によって決る。それ
故に、図示及び以下の説明におけるソース・ドレインの
記号及び用語は便宜上のものであると理解されたい。
同図においてTgeはタイミング信号発生回路であり、
上記タイミング信号φpはそれに含まれる第1コントロ
ールゲート回路Gcmから出力され、また上記タイミン
グ信号φnはそれに含まれる第2コントロールゲート回
路Gc2から出力される。
上記タイミング信号φpはそれに含まれる第1コントロ
ールゲート回路Gcmから出力され、また上記タイミン
グ信号φnはそれに含まれる第2コントロールゲート回
路Gc2から出力される。
第1コントロールゲート回路Gcmは、例えば第2図に
示されるように、夫々ソースが一方の基準電源端子+■
oに結合されたPチャンネル型MOSFETQ3.Q4
から成るカレントミラー回路と、夫々ソースが他方の基
準電源端子−■。に結合されたNチャンネル型MOSF
ETQ5.Q6から成るカレントミラー回路とを含む。
示されるように、夫々ソースが一方の基準電源端子+■
oに結合されたPチャンネル型MOSFETQ3.Q4
から成るカレントミラー回路と、夫々ソースが他方の基
準電源端子−■。に結合されたNチャンネル型MOSF
ETQ5.Q6から成るカレントミラー回路とを含む。
上記MOSFETQ4及びQ6のドレイン間にはPチャ
ンネル型MOSFETQ7及びNチャンネル型MOSF
ETQ8から成るCMOSインバータ回路が結合される
。そのCMOSインバータ回路の入力端子はクロック信
号φ。が供給され、そのクロック信号φ6のレベルに応
じて反転されたレベルのタイミング信号φnがそのCM
OSインバータ回路の出力端子から出力される。
ンネル型MOSFETQ7及びNチャンネル型MOSF
ETQ8から成るCMOSインバータ回路が結合される
。そのCMOSインバータ回路の入力端子はクロック信
号φ。が供給され、そのクロック信号φ6のレベルに応
じて反転されたレベルのタイミング信号φnがそのCM
OSインバータ回路の出力端子から出力される。
上記MOSFETQ3及びQ5のドレイン間には、ゲー
トがドレインに結合されたPチャンネル型MOSFET
Q9及びバイアス電流決定用のNチャンネル型入力MO
SFETQIOが順次結合される。入力MOSFETQ
IOのゲートは、第1図に示される電圧発生回路Vge
からの制御電圧VCを受ける。電圧発生回路Vgeは、
上記CMOSスイッチSWによってスイッチされるべき
アナログ入力信号Vinを受け、そのレベルに比例した
ようなアナログ制御電圧VCを出力するものである。し
たがって、入力MOSFETQIOのオン抵抗若しくは
バイアス電流は制御電圧Vcのレベル即ち入力信号Vi
nのレベルにほぼ比例して増減する。その結果、上記カ
レントミラー回路を構成するMOSFETQ4及びQ6
に流れる電流が入力信号Vinのレベルにほぼ比例して
増減するから、タイミング信号φnのレベル反転速度、
言い換えるなら、MOSFETQIのゲートに対する充
放電時間は上記入力信号Vinのレベルにほぼ比例して
変化される。例えば、クロック信号φ。のレベル変化に
基づいてロウレベルからへイレベルに変化するときのタ
イミング信号φpは、0〔■〕の入力信号Vinに対し
て第4図の実線で示されるレベル反転速度に設定される
。入力信号Vinのレベルが0〔73以上の+A (V
)のときは、その入力信号レベルの増大に応じてMOS
FETQ4から供給される電流が増大され、それによっ
てそのときのレベル反転速度は第4図の鎖線で示される
ように速くなる。一方、入力信号Vinのレベルが0〔
■〕以下の−A EV)のときは、その入力信号レベル
の減少に応じてMOSFETQ4から供給される電流が
減少され、それによってそのときのレベル反転速度は第
4図の破線で示されるように遅くなる。
トがドレインに結合されたPチャンネル型MOSFET
Q9及びバイアス電流決定用のNチャンネル型入力MO
SFETQIOが順次結合される。入力MOSFETQ
IOのゲートは、第1図に示される電圧発生回路Vge
からの制御電圧VCを受ける。電圧発生回路Vgeは、
上記CMOSスイッチSWによってスイッチされるべき
アナログ入力信号Vinを受け、そのレベルに比例した
ようなアナログ制御電圧VCを出力するものである。し
たがって、入力MOSFETQIOのオン抵抗若しくは
バイアス電流は制御電圧Vcのレベル即ち入力信号Vi
nのレベルにほぼ比例して増減する。その結果、上記カ
レントミラー回路を構成するMOSFETQ4及びQ6
に流れる電流が入力信号Vinのレベルにほぼ比例して
増減するから、タイミング信号φnのレベル反転速度、
言い換えるなら、MOSFETQIのゲートに対する充
放電時間は上記入力信号Vinのレベルにほぼ比例して
変化される。例えば、クロック信号φ。のレベル変化に
基づいてロウレベルからへイレベルに変化するときのタ
イミング信号φpは、0〔■〕の入力信号Vinに対し
て第4図の実線で示されるレベル反転速度に設定される
。入力信号Vinのレベルが0〔73以上の+A (V
)のときは、その入力信号レベルの増大に応じてMOS
FETQ4から供給される電流が増大され、それによっ
てそのときのレベル反転速度は第4図の鎖線で示される
ように速くなる。一方、入力信号Vinのレベルが0〔
■〕以下の−A EV)のときは、その入力信号レベル
の減少に応じてMOSFETQ4から供給される電流が
減少され、それによってそのときのレベル反転速度は第
4図の破線で示されるように遅くなる。
第2コントロールゲート回路Gc2は、第3図に示され
るように、上記第1コントロールゲート回路Gc、同様
MOSFETQII乃至Q16から成るカレントミラー
回路及びCMOSインバータ回路を含む。そのCMOS
インバータ回路の入力端子は第1図に示されるインバー
タ回路Invによってレベル反転されたクロック信号φ
。が供給され。
るように、上記第1コントロールゲート回路Gc、同様
MOSFETQII乃至Q16から成るカレントミラー
回路及びCMOSインバータ回路を含む。そのCMOS
インバータ回路の入力端子は第1図に示されるインバー
タ回路Invによってレベル反転されたクロック信号φ
。が供給され。
そのクロック信号φ。のレベルに応じて反転されたレベ
ルのタイミング信号φnがそのCMOSインバータ回路
の出力端子から出力される。
ルのタイミング信号φnがそのCMOSインバータ回路
の出力端子から出力される。
上記カレントミラー回路を構成するMOSFETQII
及びQ13のドレイン間には、上記電圧発生回路vgs
からの制御電圧Vcを受けるPチャンネル型入力MOS
FETQ17とダイオード接続されたNチャンネル型M
OSFETQ18とが順次結合される。入力MOSFE
TQ17の導電型は上記第1コントロールゲート回路G
c、のそれと異なるから、入力MOSFETQ17のオ
ン抵抗は逆に制御電圧vcのレベル即ち入力信号Vin
のレベルにほぼ反比例して増減する。その結果、上記カ
レントミラー回路を構成するMOSFETQ12及びQ
14に流れる電流は入力信号Vinのレベルにほぼ反比
例して増減するから、タイミング信号φPのレベル反転
速度、言い換えるなら、MOSFETQ2のゲートに対
する充放電時間は上記入力信号Vinのレベルにほぼ反
比例して可変とされる。
及びQ13のドレイン間には、上記電圧発生回路vgs
からの制御電圧Vcを受けるPチャンネル型入力MOS
FETQ17とダイオード接続されたNチャンネル型M
OSFETQ18とが順次結合される。入力MOSFE
TQ17の導電型は上記第1コントロールゲート回路G
c、のそれと異なるから、入力MOSFETQ17のオ
ン抵抗は逆に制御電圧vcのレベル即ち入力信号Vin
のレベルにほぼ反比例して増減する。その結果、上記カ
レントミラー回路を構成するMOSFETQ12及びQ
14に流れる電流は入力信号Vinのレベルにほぼ反比
例して増減するから、タイミング信号φPのレベル反転
速度、言い換えるなら、MOSFETQ2のゲートに対
する充放電時間は上記入力信号Vinのレベルにほぼ反
比例して可変とされる。
クロック信号φ。のレベル変化に基づいてハイレベルか
らロウレベルに変化するときのタイミング信号φnは、
0〔v〕の入力信号Vinに対して第4図の実線で示さ
れるように、上記第1コントロールゲート回路Gc1の
レベル反転速度と等しく設定され、レベル反転の遷移過
程においてタイミング信号φpと相互にOCv〕で交叉
する。入力信号VinのレベルがOEV)以上の+A
EV)のときは、その入力信号レベルの増大に応じてM
OSFETQ14に流れる電流が減少され、それによっ
てそのときのレベル反転速度は第4図の鎖線で示される
ように遅くなる。このときタイミング信号φnは、レベ
ル反転の遷移過程においてタイミング信号φpと相互に
+A (V)で交叉する。
らロウレベルに変化するときのタイミング信号φnは、
0〔v〕の入力信号Vinに対して第4図の実線で示さ
れるように、上記第1コントロールゲート回路Gc1の
レベル反転速度と等しく設定され、レベル反転の遷移過
程においてタイミング信号φpと相互にOCv〕で交叉
する。入力信号VinのレベルがOEV)以上の+A
EV)のときは、その入力信号レベルの増大に応じてM
OSFETQ14に流れる電流が減少され、それによっ
てそのときのレベル反転速度は第4図の鎖線で示される
ように遅くなる。このときタイミング信号φnは、レベ
ル反転の遷移過程においてタイミング信号φpと相互に
+A (V)で交叉する。
一方、入力信号Vinのレベルが0〔v〕以下の−A
(V〕のときは、その入力信号レベルの減少に応じてM
OSFETQ14に流れる電流が増大され、それによっ
てそのときのレベル反転速度は第4図の破線で示される
ように速くなる。このときタイミング信号φnは、レベ
ル反転の遷移過程においてタイミング信号φpと相互に
−A (V)で交叉する。このように、レベル反転の遷
移過程において両タイミング信号φn、φpが入力信号
Vinのレベルで交叉する相関は、第1コントロールゲ
ート回路Gcm及び第2コントロールゲート回路Gc2
を夫々構成するMOSFETのサイズやしきい値電圧な
どを相互に整合させることによって実現可能である。な
お、特に制限されないが、第2図及び第3図の回路は、
それぞれIC化を考慮したような単位回路から構成され
ている。すなわち、各単位回路は、配線変更によりその
構成を容易に変更できるように構成されている。第2図
及び第3図のMOSFETQ9及びQ18は、それぞれ
の回路動作のために本質的に必要とされるものではない
。
(V〕のときは、その入力信号レベルの減少に応じてM
OSFETQ14に流れる電流が増大され、それによっ
てそのときのレベル反転速度は第4図の破線で示される
ように速くなる。このときタイミング信号φnは、レベ
ル反転の遷移過程においてタイミング信号φpと相互に
−A (V)で交叉する。このように、レベル反転の遷
移過程において両タイミング信号φn、φpが入力信号
Vinのレベルで交叉する相関は、第1コントロールゲ
ート回路Gcm及び第2コントロールゲート回路Gc2
を夫々構成するMOSFETのサイズやしきい値電圧な
どを相互に整合させることによって実現可能である。な
お、特に制限されないが、第2図及び第3図の回路は、
それぞれIC化を考慮したような単位回路から構成され
ている。すなわち、各単位回路は、配線変更によりその
構成を容易に変更できるように構成されている。第2図
及び第3図のMOSFETQ9及びQ18は、それぞれ
の回路動作のために本質的に必要とされるものではない
。
ここで、上記CMOSスイッチSWを構成するMOSF
ETQI、Q2は、特に制限されないが、ゲート容量及
びしきい値電圧vthが夫々等しく設定される。斯るC
MOSスイッチSWのオフ動作をみると、MOSFET
QIはタイミング信号φnのレベルが入力信号Vinの
レベルに対してそのしきい値電圧台vthだけ高い所で
オフ状態にされ、また、MOSFETQ2はタイミング
信号φpのレベルが入力信号Vinのレベルに対してそ
のしきい値電圧台vthだけ低い所でオフ状態にされる
。
ETQI、Q2は、特に制限されないが、ゲート容量及
びしきい値電圧vthが夫々等しく設定される。斯るC
MOSスイッチSWのオフ動作をみると、MOSFET
QIはタイミング信号φnのレベルが入力信号Vinの
レベルに対してそのしきい値電圧台vthだけ高い所で
オフ状態にされ、また、MOSFETQ2はタイミング
信号φpのレベルが入力信号Vinのレベルに対してそ
のしきい値電圧台vthだけ低い所でオフ状態にされる
。
したがって、上記第1コントロールゲート回路Gc工及
び第2コントロールゲート回路GC2によれば、第4図
に示されるようにレベル反転の遷移過程において両タイ
ミング信号φn、φpが入力信号Vinのレベルで交叉
する相関を有するから、クロック信号φ。のレベル反転
に基づいてCMOSスイッチSWが制御されるとき、そ
のCMOSスイッチSWを構成する両MOSFETQI
及びQ2はほぼ同じタイミングでオフ状態が達成される
。
び第2コントロールゲート回路GC2によれば、第4図
に示されるようにレベル反転の遷移過程において両タイ
ミング信号φn、φpが入力信号Vinのレベルで交叉
する相関を有するから、クロック信号φ。のレベル反転
に基づいてCMOSスイッチSWが制御されるとき、そ
のCMOSスイッチSWを構成する両MOSFETQI
及びQ2はほぼ同じタイミングでオフ状態が達成される
。
厳密に言うなら、入力信号VinのレベルがO(V)の
ときは両タイミング信号φn、φpのレベル反転速度が
相互に等しくなるから、同じタイミングでオフ状態が達
成される。一方、入力信号Vinのレベルが0〔v〕以
外の場合には両タイミング信号φn、φpのレベル反転
速度が相互に相違するようになるから、そのレベル変化
の傾きの差に応じて極めて僅かながらタイミングがずれ
ることになる。
ときは両タイミング信号φn、φpのレベル反転速度が
相互に等しくなるから、同じタイミングでオフ状態が達
成される。一方、入力信号Vinのレベルが0〔v〕以
外の場合には両タイミング信号φn、φpのレベル反転
速度が相互に相違するようになるから、そのレベル変化
の傾きの差に応じて極めて僅かながらタイミングがずれ
ることになる。
上記CMOSスイッチSWが両タイミング信号φn、φ
pによってオン状態からオフ状態に制御される遷移過程
において、レベル反転されるタイミング信号φn、φp
を夫々ゲートに受けるMOSFETQI、Q2は、相互
に等しいゲート容量を通してCMOSスイッチSWの出
力端子側に相互に逆極性の電荷を注入する。このとき、
上述の第1コントロールゲート回路Gc1及び第2コン
トロールゲート回路Gc、の作用により、CMOSスイ
ッチSWを構成する両MOSFETQI及びQ2は、入
力信号Vinのレベルに拘らずほぼ同じタイミングでオ
フ状態にされる。言い換えるなら、両MOSFETQI
及びQ2は、はぼ同時に高出力インピーダンス状態にさ
れる。その結果、各MOSFETQI、Q2のゲートか
らCMOSスイッチSWの出力端子側に実質的に注入保
持される逆極性の電荷は、入力信号Vinのレベルに拘
らず相互にほぼ等量になり、はぼ完全に相殺される。し
たがって、CMOSスイッチSWのオフ状態前に出力ノ
ードに伝達された入力信号レベルがその注入電荷量の差
に応じて変動する所謂フィードスルーを、入力信号Vi
nのレベルに拘らず著しく低減することができる。よっ
て、本実施例のようにCMOSスイッチ制御が図示しな
いサンプルアンドホールド回路に適用される場合には、
そのサンプルアンドホールド回路におけるゲインエラー
が防止される。
pによってオン状態からオフ状態に制御される遷移過程
において、レベル反転されるタイミング信号φn、φp
を夫々ゲートに受けるMOSFETQI、Q2は、相互
に等しいゲート容量を通してCMOSスイッチSWの出
力端子側に相互に逆極性の電荷を注入する。このとき、
上述の第1コントロールゲート回路Gc1及び第2コン
トロールゲート回路Gc、の作用により、CMOSスイ
ッチSWを構成する両MOSFETQI及びQ2は、入
力信号Vinのレベルに拘らずほぼ同じタイミングでオ
フ状態にされる。言い換えるなら、両MOSFETQI
及びQ2は、はぼ同時に高出力インピーダンス状態にさ
れる。その結果、各MOSFETQI、Q2のゲートか
らCMOSスイッチSWの出力端子側に実質的に注入保
持される逆極性の電荷は、入力信号Vinのレベルに拘
らず相互にほぼ等量になり、はぼ完全に相殺される。し
たがって、CMOSスイッチSWのオフ状態前に出力ノ
ードに伝達された入力信号レベルがその注入電荷量の差
に応じて変動する所謂フィードスルーを、入力信号Vi
nのレベルに拘らず著しく低減することができる。よっ
て、本実施例のようにCMOSスイッチ制御が図示しな
いサンプルアンドホールド回路に適用される場合には、
そのサンプルアンドホールド回路におけるゲインエラー
が防止される。
例えば、第4図に示されるように入力信号Vinが+A
(V)のときにCMOSスイッチSWがオフ動作され
る場合、MOSFETQIは時刻t1においてオフ状態
にされ、MOSFETQ2はそれよりも僅かに遅れた時
刻t2においてオフ状態にされる。これに対して仮に、
上記と同じ場合にCMOSスイッチSWをクロック信号
φ。で直接的にスイッチ制御するなら、第4図に示され
るようにMOSFETQIは時刻t。においてオフ状態
にされ、MOSFETQ2はそれよりもはるかに遅れた
時刻t3においてオフ状態にされる。
(V)のときにCMOSスイッチSWがオフ動作され
る場合、MOSFETQIは時刻t1においてオフ状態
にされ、MOSFETQ2はそれよりも僅かに遅れた時
刻t2においてオフ状態にされる。これに対して仮に、
上記と同じ場合にCMOSスイッチSWをクロック信号
φ。で直接的にスイッチ制御するなら、第4図に示され
るようにMOSFETQIは時刻t。においてオフ状態
にされ、MOSFETQ2はそれよりもはるかに遅れた
時刻t3においてオフ状態にされる。
この場合のフィードスルー量は、次のようになる。すな
わち、各MOSFETQI、Q2は、それがオン状態に
されているなら、ゲート・チャンネル間容量とゲート・
ソース又はゲート・ドレイン間オーバラップ容量との和
に等しいような大きいゲート容量をもち、それがオフ状
態にされているなら、斯るオーバラップ容量に等しいよ
うな小さいゲート容量を持つ。タイミング信号φnがロ
ウレベルに向けて変化され始め且つMOSFETQ1が
時刻t。においてオフ状態にされるまでにおいて、出力
ノードVoutには、MOSFETQ1の大きいゲート
容量を介して電位変動が与えられる。しかしながら、こ
の場合、MOSFETQ2はね時刻t3までオン状態に
維持される。オン状態のMOSFETQ2は、出力ノー
ドV outの電位を入力ノードVinの電位に等しく
させるように作用する。これに応じて、MOSFETQ
Iによって出力ノードVoutに与えられる電位変動成
分は、小さくされてしまう。MOSFETQIがオフ状
態にされてからMOSFETQ2がオフ状態にされるま
での間において、出力ノードvoutには、MOSFE
TQ2のチャンネル容量によって決るような電位変動が
与えられる。言い換えると、この場合は、MOSFET
QIとQ2の動作によってフィードスルー量のキャンセ
ルが実質的に期待されず、出力ノードVoutに、実質
的にMOSFETQ2によってのみ決るような大きい電
位変化が与えられてしまうようになる。
わち、各MOSFETQI、Q2は、それがオン状態に
されているなら、ゲート・チャンネル間容量とゲート・
ソース又はゲート・ドレイン間オーバラップ容量との和
に等しいような大きいゲート容量をもち、それがオフ状
態にされているなら、斯るオーバラップ容量に等しいよ
うな小さいゲート容量を持つ。タイミング信号φnがロ
ウレベルに向けて変化され始め且つMOSFETQ1が
時刻t。においてオフ状態にされるまでにおいて、出力
ノードVoutには、MOSFETQ1の大きいゲート
容量を介して電位変動が与えられる。しかしながら、こ
の場合、MOSFETQ2はね時刻t3までオン状態に
維持される。オン状態のMOSFETQ2は、出力ノー
ドV outの電位を入力ノードVinの電位に等しく
させるように作用する。これに応じて、MOSFETQ
Iによって出力ノードVoutに与えられる電位変動成
分は、小さくされてしまう。MOSFETQIがオフ状
態にされてからMOSFETQ2がオフ状態にされるま
での間において、出力ノードvoutには、MOSFE
TQ2のチャンネル容量によって決るような電位変動が
与えられる。言い換えると、この場合は、MOSFET
QIとQ2の動作によってフィードスルー量のキャンセ
ルが実質的に期待されず、出力ノードVoutに、実質
的にMOSFETQ2によってのみ決るような大きい電
位変化が与えられてしまうようになる。
これに対して、本実施例のようにMOSFETQ1、Q
2のオフタイミングのずれが極めて少ない場合には夫々
のMOSFETQi、Q2のゲートからCMOSスイッ
チSWの出力端子側に実質的に注入保持される逆極性の
電荷量の差が極めて小さくなり、その結果フィードスル
ー量が低減される。
2のオフタイミングのずれが極めて少ない場合には夫々
のMOSFETQi、Q2のゲートからCMOSスイッ
チSWの出力端子側に実質的に注入保持される逆極性の
電荷量の差が極めて小さくなり、その結果フィードスル
ー量が低減される。
〔実施例2〕
第5図は本発明の第2実施例を示す回路図である。上記
実施例1においては入力信号Vinのレベルに応じてタ
イミング信号発生回路TBeをフィードホワード制御す
る構成を示したが、本実施例は、フィードスルー量を検
出し、それに基づいてタイミング信号発生回路Tgeを
フィードバック制御する構成である。
実施例1においては入力信号Vinのレベルに応じてタ
イミング信号発生回路TBeをフィードホワード制御す
る構成を示したが、本実施例は、フィードスルー量を検
出し、それに基づいてタイミング信号発生回路Tgeを
フィードバック制御する構成である。
第5図においてSenは、フィードスルー量検出回路で
あり、CMOSスイッチSWの入出力信号V j、n
、 V outを受けその差に応じた電圧を出力する比
較器Comと、比較器Comからの出力電圧及びクロッ
ク信号φ。を受け、クロック信号φ。がハイレベルから
ロウレベルに変化したとき、言い換えるなら、CMOS
スイッチSWがオン状態からオフ状態に変化したときに
比較器Comからの出力電圧をサンプリングし、そのサ
ンプリング電圧をクロック信号φ。の次の変化までホー
ルドするサンプルアンドホールド回路S&Hとから構成
される。
あり、CMOSスイッチSWの入出力信号V j、n
、 V outを受けその差に応じた電圧を出力する比
較器Comと、比較器Comからの出力電圧及びクロッ
ク信号φ。を受け、クロック信号φ。がハイレベルから
ロウレベルに変化したとき、言い換えるなら、CMOS
スイッチSWがオン状態からオフ状態に変化したときに
比較器Comからの出力電圧をサンプリングし、そのサ
ンプリング電圧をクロック信号φ。の次の変化までホー
ルドするサンプルアンドホールド回路S&Hとから構成
される。
ここで、フィードスルー量検出回路Senによって検出
されるフィードスルー量は、サンプルアンドホールド回
路S&Hから出力される制御電圧VCに対応し、入力信
号Vinが0〔71以上のときはその信号レベルの大き
さに応じた十極性の制御電圧としてサンプルアンドホー
ルド回路S&Hから得られる。また、入力信号Vinが
0〔v〕以下のときはその信号レベルの絶対値に応じた
一極性の制御電圧としてサンプルアンドホールド回路S
&Hから得られる。
されるフィードスルー量は、サンプルアンドホールド回
路S&Hから出力される制御電圧VCに対応し、入力信
号Vinが0〔71以上のときはその信号レベルの大き
さに応じた十極性の制御電圧としてサンプルアンドホー
ルド回路S&Hから得られる。また、入力信号Vinが
0〔v〕以下のときはその信号レベルの絶対値に応じた
一極性の制御電圧としてサンプルアンドホールド回路S
&Hから得られる。
タイミング信号発生回路Tgeは、上記実施例同様イン
バータ回路Inv、第1コントロールゲート回路Gc1
及び第2コントロールゲート回路GC2を備える。本実
施例において、コントロールゲート回路Gc、、Gc2
の夫々の入力MOSFETQIO。
バータ回路Inv、第1コントロールゲート回路Gc1
及び第2コントロールゲート回路GC2を備える。本実
施例において、コントロールゲート回路Gc、、Gc2
の夫々の入力MOSFETQIO。
Q17にはサンプルアンドホールド回路S&Hがらの制
御電圧Vcが供給される。例えば、クロック信号φ。の
レベル反転に基づいてCMOSスイッチSWがオン状態
からオフ状態にされる場合、サンプルアンドホールド回
路S&Hから第1コントロールゲート回路Gc1に供給
される制御電圧VCが十極性のとき、第6図の鎖線で示
されるなようにそこからの出力信号φ1はレベル反転速
度が増大される傾向を採り、逆に一極性のときは第6図
の破線で示されるように出方信号φ□はレベル反転速度
が減少される傾向を採る。第2コントロールゲート回路
Gc2からの出力信号φ□に関しては上記第1コントロ
ールゲート回路Gcmの場合とは逆になる。
御電圧Vcが供給される。例えば、クロック信号φ。の
レベル反転に基づいてCMOSスイッチSWがオン状態
からオフ状態にされる場合、サンプルアンドホールド回
路S&Hから第1コントロールゲート回路Gc1に供給
される制御電圧VCが十極性のとき、第6図の鎖線で示
されるなようにそこからの出力信号φ1はレベル反転速
度が増大される傾向を採り、逆に一極性のときは第6図
の破線で示されるように出方信号φ□はレベル反転速度
が減少される傾向を採る。第2コントロールゲート回路
Gc2からの出力信号φ□に関しては上記第1コントロ
ールゲート回路Gcmの場合とは逆になる。
第1コントロールゲート回路Gc1及び第2コントロー
ルゲート回路Gc2の出力端子は、夫々所定の論理しき
い値電圧vthが設定された図示しないインバータ回路
やヒステリシス回路などによって構成された波形整形回
路Wc1.Wc2の入力端子に結合される。各波形整形
回路We工、We2は、クロック信号φ。のレベル反転
に基づいてCMOSスイッチSWがオン状態からオフ状
態にされる遷移過程において上記コントロールゲート回
路Gc1゜Gc2から出力される所定の傾斜信号φ1.
φ1を波形整形回路Wc1.Wc2の論理しきい値電圧
vthに応じて急峻に立ち上げ又は立ち下げるように波
形整形する。したがって、各波形整形回路Wc、、Wc
2からは、第6図に対応した第7図に示されるように、
論理しきい値電圧vthに応じて相互に遅延された信号
φ2.φ2が出力される。両信号φ2.φ2の遅延関係
についてみれば、第6図の説明からも明らかな如く、制
御電圧VcがOCV)のとき両信号φ2.φ、は相互に
遅延せず、また、制御電圧vcが十極性のときは第7図
の鎖線で示されるように信号φ2のレベル反転時期が遅
れ、逆に制御電圧vcが一極性のときは第7図の破線で
示されるように信号φ2のレベル反転時期が遅れる。
ルゲート回路Gc2の出力端子は、夫々所定の論理しき
い値電圧vthが設定された図示しないインバータ回路
やヒステリシス回路などによって構成された波形整形回
路Wc1.Wc2の入力端子に結合される。各波形整形
回路We工、We2は、クロック信号φ。のレベル反転
に基づいてCMOSスイッチSWがオン状態からオフ状
態にされる遷移過程において上記コントロールゲート回
路Gc1゜Gc2から出力される所定の傾斜信号φ1.
φ1を波形整形回路Wc1.Wc2の論理しきい値電圧
vthに応じて急峻に立ち上げ又は立ち下げるように波
形整形する。したがって、各波形整形回路Wc、、Wc
2からは、第6図に対応した第7図に示されるように、
論理しきい値電圧vthに応じて相互に遅延された信号
φ2.φ2が出力される。両信号φ2.φ2の遅延関係
についてみれば、第6図の説明からも明らかな如く、制
御電圧VcがOCV)のとき両信号φ2.φ、は相互に
遅延せず、また、制御電圧vcが十極性のときは第7図
の鎖線で示されるように信号φ2のレベル反転時期が遅
れ、逆に制御電圧vcが一極性のときは第7図の破線で
示されるように信号φ2のレベル反転時期が遅れる。
波形整形回路We工、Wc2の出力端子は、夫々第2図
同様の構成を有する第3コントロールゲート回路Gc3
.第3図同様の構成を有する第4コントロールゲート回
路GC4に含まれる夫々のCMOSインバータ回路の入
力端子に結合される。両コントロールゲート回路Gc、
、Gc4の入力MOSFETには固定電圧Vfiが印加
され、入力信号φ2.φ2に基づきともに同じ速度でレ
ベル反転されたタイミング信号φp、φnを出力する。
同様の構成を有する第3コントロールゲート回路Gc3
.第3図同様の構成を有する第4コントロールゲート回
路GC4に含まれる夫々のCMOSインバータ回路の入
力端子に結合される。両コントロールゲート回路Gc、
、Gc4の入力MOSFETには固定電圧Vfiが印加
され、入力信号φ2.φ2に基づきともに同じ速度でレ
ベル反転されたタイミング信号φp、φnを出力する。
したがって、CMOSスイッチSWがオン状態からオフ
状態にされる遷移過程において両コントロールゲート回
路Gc3.Gc4から出力されるタイミング信号φp。
状態にされる遷移過程において両コントロールゲート回
路Gc3.Gc4から出力されるタイミング信号φp。
φnは、第8図に示されるように、上記第7図で説明し
た遅延関係を有して相互に同じ速度、言い換えるなら、
同じ傾きでレベル反転される。
た遅延関係を有して相互に同じ速度、言い換えるなら、
同じ傾きでレベル反転される。
ここで、十極性の制御電圧Vcに基づいて発生されるタ
イミング信号φp、φnは、第8図の鎖線で示されるよ
うに、その制御電圧Vcを得るにあたって上記フィード
スルー量検出回路Senで検出された入力信号vinの
レベル+A (V)に等しいレベルで相互に交叉するよ
うになっている。また、−極性の制御電圧Vcに基づい
て発生されるタイミング信号φp、φnは、第8図の破
線で示されるように、その制御電圧VCを得るにあたっ
て上記フィードスルー量検出回路Senで検出された入
力信号Vinのレベル−A (V)に等しいレベルで相
互に交叉するようになっている。このような関係は、制
御電圧Vcのレベルに対して信号φ2.φ2を相互にど
れだけ遅延させるかによって決るから、コントロールゲ
ート回路Gcm、Gc2及び波形整形回路We、、We
2の構成素子のサイズや回路構成次第で適宜得ることが
できる。
イミング信号φp、φnは、第8図の鎖線で示されるよ
うに、その制御電圧Vcを得るにあたって上記フィード
スルー量検出回路Senで検出された入力信号vinの
レベル+A (V)に等しいレベルで相互に交叉するよ
うになっている。また、−極性の制御電圧Vcに基づい
て発生されるタイミング信号φp、φnは、第8図の破
線で示されるように、その制御電圧VCを得るにあたっ
て上記フィードスルー量検出回路Senで検出された入
力信号Vinのレベル−A (V)に等しいレベルで相
互に交叉するようになっている。このような関係は、制
御電圧Vcのレベルに対して信号φ2.φ2を相互にど
れだけ遅延させるかによって決るから、コントロールゲ
ート回路Gcm、Gc2及び波形整形回路We、、We
2の構成素子のサイズや回路構成次第で適宜得ることが
できる。
このように、タイミング信号φp、φnのレベル反転の
遷移過程において両タイミング信号φn。
遷移過程において両タイミング信号φn。
φpが入力信号Vinのレベルで交叉する相関を有する
から、クロック信号φ。のレベル反転に基づいてCMO
SスイッチSWが制御されるとき、そのCMOSスイッ
チSWを構成する両MOSFETQI及びQ2は同じタ
イミングでオフ状態が達成される。したがって、上記実
施例同様、CMOSスイッチSWがオン状態からオフ状
態にされるとき、各MOSFETQI、Q2のゲートか
らCMOSスイッチSWの出力端子側に実質的に注入保
持される逆極性の電荷は、入力信号Vinのレベルに拘
らず相互に等量になって完全に相殺され、それによって
入力信号Vinのレベルに拘らずフィードスルーを著し
く低減することができる。
から、クロック信号φ。のレベル反転に基づいてCMO
SスイッチSWが制御されるとき、そのCMOSスイッ
チSWを構成する両MOSFETQI及びQ2は同じタ
イミングでオフ状態が達成される。したがって、上記実
施例同様、CMOSスイッチSWがオン状態からオフ状
態にされるとき、各MOSFETQI、Q2のゲートか
らCMOSスイッチSWの出力端子側に実質的に注入保
持される逆極性の電荷は、入力信号Vinのレベルに拘
らず相互に等量になって完全に相殺され、それによって
入力信号Vinのレベルに拘らずフィードスルーを著し
く低減することができる。
特に、本実施例2においては、実施例1と異なりタイミ
ング信号φp、φnのレベル反転速度が常に等しく維持
されるから、タイミング信号発生回路Tge自体の構成
は実施例1に比べて複雑になるが、MOSFETQI、
Q2(7)オフタイミングを原理的に完全に一致させる
ことができ、実施例1よりも一層フイードスルー量を低
減可能である。
ング信号φp、φnのレベル反転速度が常に等しく維持
されるから、タイミング信号発生回路Tge自体の構成
は実施例1に比べて複雑になるが、MOSFETQI、
Q2(7)オフタイミングを原理的に完全に一致させる
ことができ、実施例1よりも一層フイードスルー量を低
減可能である。
(以下余白)
〔発明の効果〕
本願において開示された発明によれば、以下の効果を得
るものである。
るものである。
(1)CMOSスイッチのスイッチ制御用タイミング信
号を、そのCMOSスイッチのオン状態からオフ状態へ
の遷移過程においてそのCMOSスイッチの入力信号レ
ベルとほぼ同じレベルで交叉させるようにしたから、C
MOSスイッチを構成する一対のMOSFETのオフタ
イミングを入力信号レベルに拘らずほぼ一致させること
ができる。
号を、そのCMOSスイッチのオン状態からオフ状態へ
の遷移過程においてそのCMOSスイッチの入力信号レ
ベルとほぼ同じレベルで交叉させるようにしたから、C
MOSスイッチを構成する一対のMOSFETのオフタ
イミングを入力信号レベルに拘らずほぼ一致させること
ができる。
(2)上記効果より、CMOSスイッチのオン状態から
オフ状態への遷移過程においてCMOSスイッチを構成
する一対のMOSFETのゲートに注入される相互に逆
極性の電荷量がほぼ等しくなり、それによって注入電荷
がほぼ相殺されてフィードスルーが低減される。
オフ状態への遷移過程においてCMOSスイッチを構成
する一対のMOSFETのゲートに注入される相互に逆
極性の電荷量がほぼ等しくなり、それによって注入電荷
がほぼ相殺されてフィードスルーが低減される。
(3)特に、CMOSスイッチのスイッチ制御用タイミ
ング信号のレベル変化速度を入力信号レベルに応じて変
えることによって、そのタイミング信号をCMOSスイ
ッチの入力信号レベルとほぼ一次− 同じレベルで交叉させるようにすれば、タイミング信号
発生回路の構成を簡素化することが可能である。
ング信号のレベル変化速度を入力信号レベルに応じて変
えることによって、そのタイミング信号をCMOSスイ
ッチの入力信号レベルとほぼ一次− 同じレベルで交叉させるようにすれば、タイミング信号
発生回路の構成を簡素化することが可能である。
(4)また、CMOSスイッチのスイッチ制御用タイミ
ング信号のレベル変化速度を相互に一定に維持した状態
で入力信号レベルに応じてレベル反転開始時期を相互に
遅延させることによって、そのタイミング信号をCMO
Sスイッチの入力信号レベルとほぼ同じレベルで交叉さ
せるようにすれば、フィードスルーを完全に解消するこ
とが可能である。
ング信号のレベル変化速度を相互に一定に維持した状態
で入力信号レベルに応じてレベル反転開始時期を相互に
遅延させることによって、そのタイミング信号をCMO
Sスイッチの入力信号レベルとほぼ同じレベルで交叉さ
せるようにすれば、フィードスルーを完全に解消するこ
とが可能である。
以上本発明者によって成された発明に実施例に基づいて
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々
変更可能である。
具体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々
変更可能である。
例えば、実施例1において両タイミング信号φp、φn
ともにレベル変化速度を可変にしたが、一方のタイミン
グ信号のレベル変化速度だけを可変にすることもできる
。即ち、コントロールゲート回路Gc2の入力MOSF
ETQ17のゲートを接地させてタイミング信号φnの
レベル変化速度を第4図の実線で示されるように固定し
、コントロールゲート回路GC1によるタイミング信号
φpのレベル反転速度を更に大きく変化させるようにす
ればよい。また、逆にタイミング信号φpのレベル反転
速度を固定することも可能である。また、実施例2につ
いても両タイミング信号φρ、φnともにレベル反転開
始時期を遅延可能に構成したが、上記同様一方のタイミ
ング信号のレベル反転開始時期だけを可変にすることも
できる。
ともにレベル変化速度を可変にしたが、一方のタイミン
グ信号のレベル変化速度だけを可変にすることもできる
。即ち、コントロールゲート回路Gc2の入力MOSF
ETQ17のゲートを接地させてタイミング信号φnの
レベル変化速度を第4図の実線で示されるように固定し
、コントロールゲート回路GC1によるタイミング信号
φpのレベル反転速度を更に大きく変化させるようにす
ればよい。また、逆にタイミング信号φpのレベル反転
速度を固定することも可能である。また、実施例2につ
いても両タイミング信号φρ、φnともにレベル反転開
始時期を遅延可能に構成したが、上記同様一方のタイミ
ング信号のレベル反転開始時期だけを可変にすることも
できる。
また、タイミング信号発生回路Tgeの制御手段は上記
実施例に限定されるものではなく、例えば実施例1のタ
イミング信号発生回路Tgeを実施例2のフィードスル
ー量検出回路Senで制御してもよく、また逆に、実施
例2のタイミング信号発生回路Tgeを実施例]の電圧
発生回路Vgeで制御することも可能である。
実施例に限定されるものではなく、例えば実施例1のタ
イミング信号発生回路Tgeを実施例2のフィードスル
ー量検出回路Senで制御してもよく、また逆に、実施
例2のタイミング信号発生回路Tgeを実施例]の電圧
発生回路Vgeで制御することも可能である。
また、コントロールゲート回路は、第2図及び第3図に
示されるように、カレントミラー回路と入力MOSFE
Tとを組み合わせた一対の可変定電流源を含むものに限
定されるものではなく、少なくとも、CMOSスイッチ
のオン状態からオフ状態への遷移過程においてタイミン
グ信号のレベル反転速度やレベル反転開始時期を可変に
することができれば充分であるから、1つのコントロー
ルゲート回路に対してはそれに応じた1つの可変定電流
源だけを有するように構成することもでき、更に可変定
電流源をその他の回路構成に置き変えることも可能であ
る。
示されるように、カレントミラー回路と入力MOSFE
Tとを組み合わせた一対の可変定電流源を含むものに限
定されるものではなく、少なくとも、CMOSスイッチ
のオン状態からオフ状態への遷移過程においてタイミン
グ信号のレベル反転速度やレベル反転開始時期を可変に
することができれば充分であるから、1つのコントロー
ルゲート回路に対してはそれに応じた1つの可変定電流
源だけを有するように構成することもでき、更に可変定
電流源をその他の回路構成に置き変えることも可能であ
る。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった技術分野であるサンプルアンドホー
ルド回路へ入力信号を供給する伝達ゲートに適用した場
合について説明したが、これに限定されるものではなく
、アナログスイッチ単体のIC,C,0DEC又は電力
量計などMOSFETを含む半導体集積回路全般に広く
利用することができる。
をその背景となった技術分野であるサンプルアンドホー
ルド回路へ入力信号を供給する伝達ゲートに適用した場
合について説明したが、これに限定されるものではなく
、アナログスイッチ単体のIC,C,0DEC又は電力
量計などMOSFETを含む半導体集積回路全般に広く
利用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例を示す回路図、第2図は第
1コントロールゲート回路の詳細を示す回路図、 第3図は第2コントロールゲート回路の詳細を示す回路
図、 第4図は第1実施例におけるタイミング信号φn、φp
のレベル反転過程を示す作用説明図、第5図は本発明の
第2実施例を示す回路図、第6図は第2実施例における
信号φ0.φ、のレベル反転過程を示す作用説明図、 第7図は第2実施例における信号φ2.φ2のレベル反
転過程を示す作用説明図、 第8図は第2実施例におけるタイミング信号φn、φp
のレベル反転過程を示す作用説明図である。 SW・・・CMOSスイッチ、Tge・・・タイミング
信号発生回路、Vge・・・電圧発生回路、Sen・・
・フィードスルー量検出回路、φn、φp・・・タイミ
ング信第 1 図
1コントロールゲート回路の詳細を示す回路図、 第3図は第2コントロールゲート回路の詳細を示す回路
図、 第4図は第1実施例におけるタイミング信号φn、φp
のレベル反転過程を示す作用説明図、第5図は本発明の
第2実施例を示す回路図、第6図は第2実施例における
信号φ0.φ、のレベル反転過程を示す作用説明図、 第7図は第2実施例における信号φ2.φ2のレベル反
転過程を示す作用説明図、 第8図は第2実施例におけるタイミング信号φn、φp
のレベル反転過程を示す作用説明図である。 SW・・・CMOSスイッチ、Tge・・・タイミング
信号発生回路、Vge・・・電圧発生回路、Sen・・
・フィードスルー量検出回路、φn、φp・・・タイミ
ング信第 1 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、アナログ信号が与えられる第1ノード、互いにその
電流通路が並列接続されたPチャンネル型MOSFET
及びNチャンネル型MOSFET、上記両MOSFET
を介してアナログ信号が与えられる第2ノード、及び上
記両MOSFETのゲートに供給されるべき相補的タイ
ミング信号を形成するタイミング信号発生回路を備え、
上記タイミング信号発生回路は、上記両MOSFETの
アナログ信号レベルに対するスイッチングタイミングの
変化を抑制するように、アナログ信号に応じて上記相補
的タイミング信号を制御するように構成されてなること
を特徴とするアナログスイッチ回路。 2、上記タイミング信号発生回路は、上記両MOSFE
Tの入力アナログ信号レベルに応じた制御電圧を受け、
その電圧に基づいてタイミング信号のレベル変化速度を
可変にするものであることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載のアナログスイッチ回路。 3、上記タイミング信号発生回路は、上記第1、第2ノ
ード間電圧の差に応じた制御電圧を受け、その電圧に基
づいて相補的タイミング信号のレベル変化開始時期を相
対的に変移させるものであることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載のアナログスイッチ回路。 4、上記タイミング信号発生回路は、上記制御電圧に基
づいて電流値が可変とされる可変定電流源が結合された
CMOSインバータ回路を含み、その可変定電流源の電
流値に応じてCMOSインバータ回路からの出力レベル
反転速度を可変にし、それに基づいてタイミング信号を
形成するものであることを特徴とする特許請求の範囲第
1項又は第2項記載のアナログスイッチ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29053285A JPH0693622B2 (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | アナログスイツチ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29053285A JPH0693622B2 (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | アナログスイツチ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62150926A true JPS62150926A (ja) | 1987-07-04 |
JPH0693622B2 JPH0693622B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=17757242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29053285A Expired - Lifetime JPH0693622B2 (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | アナログスイツチ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0693622B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5369172A (en) * | 1991-06-19 | 1994-11-29 | General Electric Company | Polymer blend with low gloss |
JP2010008522A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Sony Corp | 表示装置 |
JP2014082566A (ja) * | 2012-10-15 | 2014-05-08 | Hioki Ee Corp | スイッチ装置 |
JP2015208016A (ja) * | 2009-08-14 | 2015-11-19 | ザット コーポレーション | 低歪みのプログラマブルゲインアンプ用の動的スイッチドライバ |
-
1985
- 1985-12-25 JP JP29053285A patent/JPH0693622B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5369172A (en) * | 1991-06-19 | 1994-11-29 | General Electric Company | Polymer blend with low gloss |
JP2010008522A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Sony Corp | 表示装置 |
JP2015208016A (ja) * | 2009-08-14 | 2015-11-19 | ザット コーポレーション | 低歪みのプログラマブルゲインアンプ用の動的スイッチドライバ |
JP2014082566A (ja) * | 2012-10-15 | 2014-05-08 | Hioki Ee Corp | スイッチ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0693622B2 (ja) | 1994-11-16 |
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