JPS62149300A - スピ−カ−のパワ−リニアリテイ−測定法 - Google Patents
スピ−カ−のパワ−リニアリテイ−測定法Info
- Publication number
- JPS62149300A JPS62149300A JP29008185A JP29008185A JPS62149300A JP S62149300 A JPS62149300 A JP S62149300A JP 29008185 A JP29008185 A JP 29008185A JP 29008185 A JP29008185 A JP 29008185A JP S62149300 A JPS62149300 A JP S62149300A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wave
- composite wave
- input signal
- composite
- sound pressure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の目的：
［産業上の利用分野］
この発明はスピーカーのパワーリニアリティー測定法に
関する。
関する。
［従来の技術］
従来は、単一周波数のトーンバースト波を順次増大して
スピーカーに印加しスピーカーの音圧を測定することに
より、入力対音圧のリニアリティを測定していた。
スピーカーに印加しスピーカーの音圧を測定することに
より、入力対音圧のリニアリティを測定していた。
この測定法の欠陥は単一周波数でのパワーリニアリティ
ーであり、ダイナミックな測定でない。
ーであり、ダイナミックな測定でない。
また、周波数特性を測定するのに膨大な時間を必要とす
る欠点があった。。
る欠点があった。。
この発明は上記欠点に鑑みて為されたものである。
発明の構成：
この発明のスピーカーのパワーリニアリティー測定法は
、或る角周波数ωの正弦波が次式、ｔｏ＝２ｍπ／ω （但し、ｍ：正の整数） で与えられる時刻１ｏから次式、 ｔｎ＝２ （ｍ＋ｒｌ）π／ω （但し、ｎ：正の整数） で与えられる時刻ｔｎまでの間に、角周波数ωより大な
る角周波数の敵数種類の正弦波を時刻が、ｔｏ＝２ｍπ
／ω 及び、 ｊｎ ＝２ （ｍ＋ｎ）π／ω においで（膜幅が零となるように合成した合成波を入力
信号とし、その入力信号の振幅を順次増大あるいは順次
減少させてスピーカーに入力し、その出力信号を合成波
の各周波数成分毎にレベル分析することを特徴とする構
成したものであり、また入力信号が合成波を合成波周期
の複数倍の長さにした信号であることを特徴とする構成
のものである。
、或る角周波数ωの正弦波が次式、ｔｏ＝２ｍπ／ω （但し、ｍ：正の整数） で与えられる時刻１ｏから次式、 ｔｎ＝２ （ｍ＋ｒｌ）π／ω （但し、ｎ：正の整数） で与えられる時刻ｔｎまでの間に、角周波数ωより大な
る角周波数の敵数種類の正弦波を時刻が、ｔｏ＝２ｍπ
／ω 及び、 ｊｎ ＝２ （ｍ＋ｎ）π／ω においで（膜幅が零となるように合成した合成波を入力
信号とし、その入力信号の振幅を順次増大あるいは順次
減少させてスピーカーに入力し、その出力信号を合成波
の各周波数成分毎にレベル分析することを特徴とする構
成したものであり、また入力信号が合成波を合成波周期
の複数倍の長さにした信号であることを特徴とする構成
のものである。
［実施例］
スピーカーが低音響用のウーハ−を例に説明する。合成
波に、その周波数成分の最低周波数を５０Ｈ２として、
ｎ＝１０の１周期のものを選ぶ。
波に、その周波数成分の最低周波数を５０Ｈ２として、
ｎ＝１０の１周期のものを選ぶ。
合成波の１周期は、
Ｔ＋＝２ＸπＸ１０／（２Ｘπ×５０）＝０．２ ［Ｓ
ｅＣ］ ＝２００ ［ｍ ５ｅｃｌ となる。合成波の周波数成分が、５０Ｈ２より高周波の
ものを、例えば、５０Ｈｚ、６５Ｈｚ、８０Ｈｚ、１０
０Ｈｚ、１２５Ｈｚ、１６０Ｈｚ。
ｅＣ］ ＝２００ ［ｍ ５ｅｃｌ となる。合成波の周波数成分が、５０Ｈ２より高周波の
ものを、例えば、５０Ｈｚ、６５Ｈｚ、８０Ｈｚ、１０
０Ｈｚ、１２５Ｈｚ、１６０Ｈｚ。
２００１−１ｚ、２５０Ｈｚ、３１５Ｈｚ、４００Ｈｚ
、５００Ｈ２，６３０Ｈｚ、７９５Ｈｚ、１０００Ｈｚ
とし、夫々の周波数成分をもつ正弦波を、５０Ｈｚの周
波数成分をもつ正弦波はその１０波、６５Ｈｚの周波数
成分をもつ正弦波はその１３波、８０Ｈｚの周波数成分
をもつ正弦波はその１６波、１００Ｈ２の周波数成分を
もつ正弦波はその２０波、１２５Ｈ２の周波数成分をも
つ正弦波はその２５波、１６０Ｈ２の周波数成分をもつ
正弦波はその３２波、２００Ｈｚの周波数成分をもつ正
弦波はその４０波、２５０Ｈ２の周波数成分をもつ正弦
波はその５０波、３１５Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波
はその６３波、４００Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波は
その８０波、５００Ｈｚの周波数成分をもつ正弦波はそ
の１００波、６３０Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波はそ
の１２６波、７９５Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波はそ
の１５９波、１０００Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波は
その２００波を、Ｑｍｓｅｃと２００ｍ５ｅＣに於て夫
々振幅が零となるように合成して、入力信号の合成波が
得られる。この入力信号は理論的には１周期（＝Ｔ＋
）でよいが、１周期では不安定なことがありこの場合に
は入力信号として合成波の１周期の複数倍のものを用い
ればよい。尚、合成波の周波数成分は音圧波数特性を得
るためにＬＯＧスケールでほぼ等間隔になるように、モ
してＦＦＴアナライザーの分析周波数に合致するように
選んである。
、５００Ｈ２，６３０Ｈｚ、７９５Ｈｚ、１０００Ｈｚ
とし、夫々の周波数成分をもつ正弦波を、５０Ｈｚの周
波数成分をもつ正弦波はその１０波、６５Ｈｚの周波数
成分をもつ正弦波はその１３波、８０Ｈｚの周波数成分
をもつ正弦波はその１６波、１００Ｈ２の周波数成分を
もつ正弦波はその２０波、１２５Ｈ２の周波数成分をも
つ正弦波はその２５波、１６０Ｈ２の周波数成分をもつ
正弦波はその３２波、２００Ｈｚの周波数成分をもつ正
弦波はその４０波、２５０Ｈ２の周波数成分をもつ正弦
波はその５０波、３１５Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波
はその６３波、４００Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波は
その８０波、５００Ｈｚの周波数成分をもつ正弦波はそ
の１００波、６３０Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波はそ
の１２６波、７９５Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波はそ
の１５９波、１０００Ｈ２の周波数成分をもつ正弦波は
その２００波を、Ｑｍｓｅｃと２００ｍ５ｅＣに於て夫
々振幅が零となるように合成して、入力信号の合成波が
得られる。この入力信号は理論的には１周期（＝Ｔ＋
）でよいが、１周期では不安定なことがありこの場合に
は入力信号として合成波の１周期の複数倍のものを用い
ればよい。尚、合成波の周波数成分は音圧波数特性を得
るためにＬＯＧスケールでほぼ等間隔になるように、モ
してＦＦＴアナライザーの分析周波数に合致するように
選んである。
この合成波の１周期ないし複数周期下の入力信号を被測
定物のウーハ−に入力し、その出力音圧をマイクロフォ
ンによりピックアップし、そのピックアップ信号をＦＦ
Ｔアナライザーを用いて合成波の周波数成分を分析する
と共にその音圧レベルを記録して音圧数特性を得る。そ
して合成波のレベルを順次上げて夫々の音圧波数特性を
得ることによりウーハ−のパワーリニアリティー特性を
得ることになる。
定物のウーハ−に入力し、その出力音圧をマイクロフォ
ンによりピックアップし、そのピックアップ信号をＦＦ
Ｔアナライザーを用いて合成波の周波数成分を分析する
と共にその音圧レベルを記録して音圧数特性を得る。そ
して合成波のレベルを順次上げて夫々の音圧波数特性を
得ることによりウーハ−のパワーリニアリティー特性を
得ることになる。
発明の効果：
この発明のスピーカーのパワーリニアリティー測定法は
、合成波をもちいるので使用状態に即した測定法でおり
、またスピーカーに合成波を１回しかも短時間（２００
ＩＩＩＳｅＣ〜数ｓｅｃ ）入力してその音圧波数特性
を得ることができ従ってパワーリニアリティー測定の時
間が短くなり、また大ｊ膜幅の合成波を入力した場合に
その入力時間が２０Ｑ ｍ ５−ｅＣ〜数ＳｅＣと非常
に短かいのでスピーカーを破損させる確立が少なくなる
等々の長所を備えるものである。
、合成波をもちいるので使用状態に即した測定法でおり
、またスピーカーに合成波を１回しかも短時間（２００
ＩＩＩＳｅＣ〜数ｓｅｃ ）入力してその音圧波数特性
を得ることができ従ってパワーリニアリティー測定の時
間が短くなり、また大ｊ膜幅の合成波を入力した場合に
その入力時間が２０Ｑ ｍ ５−ｅＣ〜数ＳｅＣと非常
に短かいのでスピーカーを破損させる確立が少なくなる
等々の長所を備えるものである。
第１図はこの発明に用いる合成波の説明図、第２図はこ
の発明の実施例に用いた合成波の波形図を示す。 特許出願人 オンキヨー株式会社 ・耶 １１′４ 第２図
の発明の実施例に用いた合成波の波形図を示す。 特許出願人 オンキヨー株式会社 ・耶 １１′４ 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 或る角周波数ωの正弦波が次式、 ｔ＿０＝２ｍπ／ω （但し、ｍ：正の整数） で与えられる時刻ｔ＿０から次式、 ｔ＿ｎ＝２（ｍ＋ｎ）π／ω （但し、ｎ：正の整数） で与えられる時刻ｔ＿ｎまでの間に前記角周波数ωより
大なる角周波数の敵数種類の正弦波を時刻が、ｔ＿０＝
２ｍπ／ω 及び、 ｔ＿ｎ＝２（ｎ＋ｍ）π／ω において振幅が零となるように合成した合成波を入力信
号とし、該入力信号の振幅を順次増大あるいは順次減少
させてスピーカーに入力し、その出力信号を前記合成波
の各周波数毎にレベル分析することを特徴とするスピー
カーのパワーリニアリティー測定法。 ２ 入力信号が合成波を該合成波の周期の複数倍の長さ
にした信号であることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載のスピーカーのパワーリニアリティー測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29008185A JPS62149300A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | スピ−カ−のパワ−リニアリテイ−測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29008185A JPS62149300A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | スピ−カ−のパワ−リニアリテイ−測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62149300A true JPS62149300A (ja) | 1987-07-03 |
Family
ID=17751549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29008185A Pending JPS62149300A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | スピ−カ−のパワ−リニアリテイ−測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62149300A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5555311A (en) * | 1994-04-01 | 1996-09-10 | Electronic Engineering And Manufacturing, Inc. | Electro-acoustic system analyzer |
-
1985
- 1985-12-23 JP JP29008185A patent/JPS62149300A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5555311A (en) * | 1994-04-01 | 1996-09-10 | Electronic Engineering And Manufacturing, Inc. | Electro-acoustic system analyzer |
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