JPS62141730U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62141730U JPS62141730U JP2944286U JP2944286U JPS62141730U JP S62141730 U JPS62141730 U JP S62141730U JP 2944286 U JP2944286 U JP 2944286U JP 2944286 U JP2944286 U JP 2944286U JP S62141730 U JPS62141730 U JP S62141730U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spectroscopic crystal
- base
- adhesive
- mounting structure
- escape groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 5
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- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
第１図は本考案の実施例の分光結晶の取り付け
構造を示す分解斜視図、第２図は他の変形例を示
す分解斜視図、第３図は分光結晶の湾曲面に沿う
接着剤の厚さ変化を本考案実施例と従来例と比較
して示す図、第４図は分光結晶の格子面法線と基
台の湾曲面法線との方位角誤差を本考案実施例と
従来例と比較して示す図、第５図は分光結晶を基
台に接着剤で固定した状態を説明するための断面
図である。 １，１０……分光結晶、２，１２……基台、４
，１４……接着面、６，１６……逃げ溝。
構造を示す分解斜視図、第２図は他の変形例を示
す分解斜視図、第３図は分光結晶の湾曲面に沿う
接着剤の厚さ変化を本考案実施例と従来例と比較
して示す図、第４図は分光結晶の格子面法線と基
台の湾曲面法線との方位角誤差を本考案実施例と
従来例と比較して示す図、第５図は分光結晶を基
台に接着剤で固定した状態を説明するための断面
図である。 １，１０……分光結晶、２，１２……基台、４
，１４……接着面、６，１６……逃げ溝。
Claims (1)
- 分光結晶が接着される基台の接着面に接着剤の
逃げ溝を形成したことを特徴とする分光結晶の取
り付け構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2944286U JPS62141730U (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2944286U JPS62141730U (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62141730U true JPS62141730U (ja) | 1987-09-07 |
Family
ID=30833325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2944286U Pending JPS62141730U (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62141730U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH045664U (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-20 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59153152A (ja) * | 1983-02-04 | 1984-09-01 | エヌ・ベ−・フイリップス・フル−イランペンファブリケン | 二重収束ｘ線分光結晶及び該結晶を具えるｘ線検査装置 |
-
1986
- 1986-02-28 JP JP2944286U patent/JPS62141730U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59153152A (ja) * | 1983-02-04 | 1984-09-01 | エヌ・ベ−・フイリップス・フル−イランペンファブリケン | 二重収束ｘ線分光結晶及び該結晶を具えるｘ線検査装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH045664U (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-20 |