JPS6212475B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6212475B2 JPS6212475B2 JP278076A JP278076A JPS6212475B2 JP S6212475 B2 JPS6212475 B2 JP S6212475B2 JP 278076 A JP278076 A JP 278076A JP 278076 A JP278076 A JP 278076A JP S6212475 B2 JPS6212475 B2 JP S6212475B2
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- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- pulse height
- output
- analyzer
- voltage
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- Expired
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 13
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 18
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は比例計数管、シンチレーシヨン検出器
あるいは半導体検出器等で放射線を検出した場合
に得られる電気パルスの波高を制御して、これを
安定に保持する装置に関する。
あるいは半導体検出器等で放射線を検出した場合
に得られる電気パルスの波高を制御して、これを
安定に保持する装置に関する。
X線その他の放射線を比例計数管、シンチレー
シヨン検出器あるいは半導体検出器で検出する
と、そのエネルギに比例した波高のパルスが得ら
れる。従つて上述のような検出器の出力パルス列
を増幅して、パルスの波高を弁別することにより
放射線のエネルギを知り得ることは周知である。
しかしパルス波高は検出器に加えられる電圧ある
いは増幅器の利得等にも依存し、かつこれらは周
囲温度の変化等によつて変動するから、放射線の
エネルギと出力パルス波高との関係を長時間に亘
つて一定に保持することは困難である。このため
従来は、1つのスペクトルにおける極大値の両側
部をそれぞれ別個に検出する狭いチヤンネル幅の
2つの波高弁別器を設けて、各弁別器から常に相
等しい頻度のパルスが検出されるようにパルス波
高の制御を行う安定化装置が用いられていた。し
かし2つの波高弁別器を必要とするから装置が複
雑で、その調整が容易でない欠点があつた。かつ
特に半導体検出器の出力パルスは、スペクトルの
幅が極めて狭いためにその両側部を正確に検出す
ることが困難で、安定で確実に動作する装置を得
ることができなかつた。本発明は上述のような欠
点がなく、簡単でしかも安定確実に動作する装置
を提供するものである。
シヨン検出器あるいは半導体検出器で検出する
と、そのエネルギに比例した波高のパルスが得ら
れる。従つて上述のような検出器の出力パルス列
を増幅して、パルスの波高を弁別することにより
放射線のエネルギを知り得ることは周知である。
しかしパルス波高は検出器に加えられる電圧ある
いは増幅器の利得等にも依存し、かつこれらは周
囲温度の変化等によつて変動するから、放射線の
エネルギと出力パルス波高との関係を長時間に亘
つて一定に保持することは困難である。このため
従来は、1つのスペクトルにおける極大値の両側
部をそれぞれ別個に検出する狭いチヤンネル幅の
2つの波高弁別器を設けて、各弁別器から常に相
等しい頻度のパルスが検出されるようにパルス波
高の制御を行う安定化装置が用いられていた。し
かし2つの波高弁別器を必要とするから装置が複
雑で、その調整が容易でない欠点があつた。かつ
特に半導体検出器の出力パルスは、スペクトルの
幅が極めて狭いためにその両側部を正確に検出す
ることが困難で、安定で確実に動作する装置を得
ることができなかつた。本発明は上述のような欠
点がなく、簡単でしかも安定確実に動作する装置
を提供するものである。
第1図は本発明実施例のブロツク構成図で、半
導体検出器、シンチレーシヨン検出器あるいは比
例計数管のように放射線のエネルギに対応した波
高のパルスを送出する放射線検出器Sの出力パル
ス列を前置増幅器Aで増幅したのち波形の整形作
用を具備した比例増幅器Bを介して、破線で囲ん
だような本発明の波高安定化装置Cに加えて、そ
の出力パルス列を端子Pから送出するようにして
ある。上記安定化装置Cにおいては、入力パルス
列がパルス波高制御器Kを介して端子P並びにシ
ングルチヤンネル波高分析器Hに加わる。また適
宜の波形、例えば第2図aに示したような三角波
の交流電圧を送出する交流発生器Tおよび適当に
調整された直流電圧を送出する直流電源Vの出力
を加算器Mで合成して第2図bのような脈動電圧
を形成し、この脈動基準電圧を前記波高分析器H
に加えてある。すなわち波高分析器Hは任意の時
刻における上記基準電圧をe、また適当に定めら
れた一定の微小電圧を△eとするとき、常に波高
がeから(e+△e)までのパルスを弁別して単
安定マルチバイブレータWに加える。この波高分
析器Hの出力パルスは勿論ランダムに発生しかつ
ほぼ一定の波高を有するもので、マルチバイブレ
ータWは、波高分析器Hから1つのパルスを加え
られる毎に起動して一定の時間幅の矩形波を送出
し、その矩形波でスイツチ回路Gを閉成させる。
上記スイツチ回路G並びに積分抵抗Rを介して前
記交流発生器Tの出力を積分器Iに加えてある。
従つて積分器Iはスイツチ回路Gが閉成している
期間だけ交流発生器Tの出力電圧を積分して、そ
の出力を前記パルス波高制御器Kに加える。この
パルス制御器Kは、入力パルスの振幅を積分器I
から加えられる制御入力に応じて増大または減少
するように変調する。
導体検出器、シンチレーシヨン検出器あるいは比
例計数管のように放射線のエネルギに対応した波
高のパルスを送出する放射線検出器Sの出力パル
ス列を前置増幅器Aで増幅したのち波形の整形作
用を具備した比例増幅器Bを介して、破線で囲ん
だような本発明の波高安定化装置Cに加えて、そ
の出力パルス列を端子Pから送出するようにして
ある。上記安定化装置Cにおいては、入力パルス
列がパルス波高制御器Kを介して端子P並びにシ
ングルチヤンネル波高分析器Hに加わる。また適
宜の波形、例えば第2図aに示したような三角波
の交流電圧を送出する交流発生器Tおよび適当に
調整された直流電圧を送出する直流電源Vの出力
を加算器Mで合成して第2図bのような脈動電圧
を形成し、この脈動基準電圧を前記波高分析器H
に加えてある。すなわち波高分析器Hは任意の時
刻における上記基準電圧をe、また適当に定めら
れた一定の微小電圧を△eとするとき、常に波高
がeから(e+△e)までのパルスを弁別して単
安定マルチバイブレータWに加える。この波高分
析器Hの出力パルスは勿論ランダムに発生しかつ
ほぼ一定の波高を有するもので、マルチバイブレ
ータWは、波高分析器Hから1つのパルスを加え
られる毎に起動して一定の時間幅の矩形波を送出
し、その矩形波でスイツチ回路Gを閉成させる。
上記スイツチ回路G並びに積分抵抗Rを介して前
記交流発生器Tの出力を積分器Iに加えてある。
従つて積分器Iはスイツチ回路Gが閉成している
期間だけ交流発生器Tの出力電圧を積分して、そ
の出力を前記パルス波高制御器Kに加える。この
パルス制御器Kは、入力パルスの振幅を積分器I
から加えられる制御入力に応じて増大または減少
するように変調する。
上述の装置において、パルス波高制御器Kから
送出されるパルス列をエネルギスペクトルに分析
すると、検出器Sに入射する放射線のエネルギに
対応して一般に幾つかのスペクトルが観測され
る。このようなスペクトルの1つがモニタスペク
トルとして用いられるもので、第3図にそのモニ
タスペクトルを示してある。すなわち横軸はパル
スの波高E従つて放射線のエネルギを、また縦軸
はパルスの頻度Qである。今任意の時刻tにおい
て加算器Mからシングルチヤンネル波高分析器H
に加えられる基準電圧を第2図のようにeとする
と、該分析器は第3図における斜線部分の波高を
もつたパルスを抽出して、その出力パルスを単安
定マルチバイブレータMに加える。また上記基準
電圧eは蛇行矢線zで示したように時間と共に変
化し、かつその変化と同期して交流発生器Tの出
力電圧が第2図aのように変化する。すなわちモ
ニタスペクトルが実線のように基準位置e0にある
ときは交流発生器Tの出力が例えば零電圧のとき
最も高い頻度をもつてスイツチ回路Gが閉成し、
その前後の電圧においては閉成頻度が次第に減少
する。このモニタスペクトルの位置が室温の変化
等で、破線のように例えば波高Eの高い方向へ偏
倚すると交流発生器Tから正電圧が送出されてい
る状態でスイツチ回路Gが最も高い頻度をもつて
閉成するようになる。従つてモニタスペクトルが
基準位置にあるときは積分器Iの出力が零電圧を
保持する。しかし該スペクトルが破線のように移
動すると上記積分器の出力電圧はその極性反転作
用で逆に低下して、この積分器の出力で制御器K
が制御されてその出力パルスの波高が低下する。
このためモニタスペクトルは第3図に実線で示し
たような位置に復帰する。上述のような自動制御
動作によつてモニタスペクトルが常に基準位置e0
を保持するから、これに伴つて他のスペクトルの
波高も安定に一定の値を保持する。従つて端子P
から送出されるパルス列を任意の波高分析器に加
えることにより、正確に所望のエネルギの放射線
強度を検出することができる。
送出されるパルス列をエネルギスペクトルに分析
すると、検出器Sに入射する放射線のエネルギに
対応して一般に幾つかのスペクトルが観測され
る。このようなスペクトルの1つがモニタスペク
トルとして用いられるもので、第3図にそのモニ
タスペクトルを示してある。すなわち横軸はパル
スの波高E従つて放射線のエネルギを、また縦軸
はパルスの頻度Qである。今任意の時刻tにおい
て加算器Mからシングルチヤンネル波高分析器H
に加えられる基準電圧を第2図のようにeとする
と、該分析器は第3図における斜線部分の波高を
もつたパルスを抽出して、その出力パルスを単安
定マルチバイブレータMに加える。また上記基準
電圧eは蛇行矢線zで示したように時間と共に変
化し、かつその変化と同期して交流発生器Tの出
力電圧が第2図aのように変化する。すなわちモ
ニタスペクトルが実線のように基準位置e0にある
ときは交流発生器Tの出力が例えば零電圧のとき
最も高い頻度をもつてスイツチ回路Gが閉成し、
その前後の電圧においては閉成頻度が次第に減少
する。このモニタスペクトルの位置が室温の変化
等で、破線のように例えば波高Eの高い方向へ偏
倚すると交流発生器Tから正電圧が送出されてい
る状態でスイツチ回路Gが最も高い頻度をもつて
閉成するようになる。従つてモニタスペクトルが
基準位置にあるときは積分器Iの出力が零電圧を
保持する。しかし該スペクトルが破線のように移
動すると上記積分器の出力電圧はその極性反転作
用で逆に低下して、この積分器の出力で制御器K
が制御されてその出力パルスの波高が低下する。
このためモニタスペクトルは第3図に実線で示し
たような位置に復帰する。上述のような自動制御
動作によつてモニタスペクトルが常に基準位置e0
を保持するから、これに伴つて他のスペクトルの
波高も安定に一定の値を保持する。従つて端子P
から送出されるパルス列を任意の波高分析器に加
えることにより、正確に所望のエネルギの放射線
強度を検出することができる。
以上実施例について、その構成並びに動作を説
明したように、本発明は1つのシングルチヤンネ
ル波高分析器を用いて、その選別基準電圧をモニ
タスペクトルの前後で繰返えし走査すると共に上
記波高分析器で抽出されたパルスで閉成するスイ
ツチを介して該基準電圧と同期的に変化する電圧
を積分器に加え、その出力でパルスの波高を制御
するものである。従つて1つのシングルチヤンネ
ル波高分析器を必要とするだけで装置の構成が簡
単であると共に例えば直流電圧源Vの調整を必要
とするだけであるから、取扱も容易である。かつ
上述のように基準電圧の掃引によつてモニタスペ
クトルの位置を検出するから、半導体の放射線検
出器から得られるパルス列のようにスペクトルの
幅が極めて狭い場合においても安定で確実に動作
し、微妙な調整等を必要としないものである。
明したように、本発明は1つのシングルチヤンネ
ル波高分析器を用いて、その選別基準電圧をモニ
タスペクトルの前後で繰返えし走査すると共に上
記波高分析器で抽出されたパルスで閉成するスイ
ツチを介して該基準電圧と同期的に変化する電圧
を積分器に加え、その出力でパルスの波高を制御
するものである。従つて1つのシングルチヤンネ
ル波高分析器を必要とするだけで装置の構成が簡
単であると共に例えば直流電圧源Vの調整を必要
とするだけであるから、取扱も容易である。かつ
上述のように基準電圧の掃引によつてモニタスペ
クトルの位置を検出するから、半導体の放射線検
出器から得られるパルス列のようにスペクトルの
幅が極めて狭い場合においても安定で確実に動作
し、微妙な調整等を必要としないものである。
第1図は本発明実施例のブロツク構成図、第2
図は第1図の装置における一部の波形図、第3図
は本発明の装置の動作を説明する線図である。な
お図において、Sは放射線検出器、Aは前置増幅
器、Bは比例増幅器、Cはパルス波高安定化装
置、Kはパルス波高制御器、Hはシングルチヤン
ネル波高分析器、Vは直流電圧源、Tは交流発生
器、Mは加算器、Wは単安定マルチバイブレー
タ、Gはスイツチ回路、Iは積分器である。
図は第1図の装置における一部の波形図、第3図
は本発明の装置の動作を説明する線図である。な
お図において、Sは放射線検出器、Aは前置増幅
器、Bは比例増幅器、Cはパルス波高安定化装
置、Kはパルス波高制御器、Hはシングルチヤン
ネル波高分析器、Vは直流電圧源、Tは交流発生
器、Mは加算器、Wは単安定マルチバイブレー
タ、Gはスイツチ回路、Iは積分器である。
Claims (1)
- 1 放射線検出器から得られるパルス列を加えら
れて安定化した波高のパルス列を送出するパルス
波高制御器と、上記パルス波高制御器の出力パル
ス列を加えられるシングルチヤンネル波高分析器
と、上記波高分析器によつて抽出されるパルス波
高が時間と共に適宜の範囲で繰返えして変化する
ように脈動基準電圧を該波高分析器に加える電源
と、前記波高分析器の出力パルスによつて閉成す
るスイツチ回路と、上記スイツチ回路を介して前
記電源の脈動出力電圧を入力としかつその出力電
圧を前記パルス波高制御器に制御入力として加え
る積分器とよりなる放射線検出パルスの波高安定
化装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP278076A JPS5286385A (en) | 1976-01-14 | 1976-01-14 | Wave height stabilizing apparatus for radiation detecting pulse |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP278076A JPS5286385A (en) | 1976-01-14 | 1976-01-14 | Wave height stabilizing apparatus for radiation detecting pulse |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5286385A JPS5286385A (en) | 1977-07-18 |
JPS6212475B2 true JPS6212475B2 (ja) | 1987-03-18 |
Family
ID=11538845
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP278076A Granted JPS5286385A (en) | 1976-01-14 | 1976-01-14 | Wave height stabilizing apparatus for radiation detecting pulse |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5286385A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9778214B2 (en) | 2014-09-18 | 2017-10-03 | Rigaku Corporation | X-ray analyzing apparatus |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6046057U (ja) * | 1983-09-06 | 1985-04-01 | 理学電機工業株式会社 | 螢光x線測定装置 |
JPS6046056U (ja) * | 1983-09-06 | 1985-04-01 | 理学電機工業株式会社 | 螢光x線測定装置 |
JPS6046058U (ja) * | 1983-09-06 | 1985-04-01 | 理学電機工業株式会社 | 螢光x線測定装置 |
US6389102B2 (en) * | 1999-09-29 | 2002-05-14 | Jordan Valley Applied Radiation Ltd. | X-ray array detector |
-
1976
- 1976-01-14 JP JP278076A patent/JPS5286385A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9778214B2 (en) | 2014-09-18 | 2017-10-03 | Rigaku Corporation | X-ray analyzing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5286385A (en) | 1977-07-18 |
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