JPS62115461A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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Publication number
JPS62115461A
JPS62115461A JP25606785A JP25606785A JPS62115461A JP S62115461 A JPS62115461 A JP S62115461A JP 25606785 A JP25606785 A JP 25606785A JP 25606785 A JP25606785 A JP 25606785A JP S62115461 A JPS62115461 A JP S62115461A
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JP
Japan
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layer
photoconductive
gas
electrophotographic photoreceptor
atom selected
Prior art date
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Pending
Application number
JP25606785A
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Japanese (ja)
Inventor
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Wataru Mitani
渉 三谷
Akira Miki
明 三城
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
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Publication date
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Publication of JPS62115461A publication Critical patent/JPS62115461A/en
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
    • G03G5/08242Silicon-based comprising three or four silicon-based layers at least one with varying composition

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the photoconductive characteristics (electrophotographic characteristics) and environmental resistance of an electrophotographic sensitive body by forming a laminate consisting of amorphous silicon and microcrystalline silicon as the photoconductive layer. CONSTITUTION:A blocking layer 102 of muC-Si and a photoconductive layer 103 are laminated on an electrically conductive support 101. The blocking layer 102 contains at least one among C, N and O and at least one kind of atom selected among the group III and V atoms in the periodic table and at least one kind of atom in the layer 102 forms an ununiform concn. distribution in the thickness direction. The photoconductive layer 103 is formed by laminating a muC-Si layer 104, th3 1st a-Si layer 105 and the 2nd a-Si layer 106. The layer 106 contains at least one among C, O and N and at least one among C, O and N in the layer 106 forms an ununiform concn. distribution in the thickness direction so that the concn. is made higher on the surface side.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、帯電特性、光感度特性及び耐環境性等が優
れた電子写真感光体に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having excellent charging characteristics, photosensitivity characteristics, environmental resistance, and the like.

[従来技術とその問題点] 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、Zn○、Se、5e−Te若しくはアモルフ
ァスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(T
NF>等の有機材料が使用されている。しかしながら、
これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性上
、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システムの
特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材
料を使い分けている。
[Prior art and its problems] Conventionally, inorganic materials such as CdS, Zn○, Se, 5e-Te, or amorphous silicon, or poly-N-vinylcarbazole (PVCz) have been used as materials for forming the photoconductive layer of electrophotographic photoreceptors. ) or trinitrofluorene (T
Organic materials such as NF> are used. however,
These conventional photoconductive materials have various problems in terms of photoconductive properties or manufacturing, and these materials are used depending on the purpose of use, sacrificing the properties of the photoreceptor system to some extent.

例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造8置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残雪等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
For example, Se and CdS are materials that are harmful to the human body, and special consideration must be given to safety measures when manufacturing them. Therefore, there are problems in that the manufacturing process is complicated and the manufacturing cost is high, and in particular, Se needs to be recovered, which adds to the recovery cost. Also,
In the Se or 5e-Te system, the crystallization temperature is 65°C
Therefore, during repeated copying, problems with the photoconductive properties arise due to residual snow, etc., and therefore, the service life is short and practicality is low.

更に、ZnOは、酸化還元が生じゃすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
Furthermore, ZnO is susceptible to oxidation and reduction and is significantly affected by the environmental atmosphere, so there is a problem in that it has low reliability in use.

更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健東上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
Furthermore, organic photoconductive materials such as PVCz and TNF are suspected of being carcinogenic, and in addition to posing health problems for the human body, organic materials have poor thermal stability and abrasion resistance. , has the disadvantage of short lifespan.

一方、アモルファスシリコン(以下、a−3iと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太l
it電池、簿膜トランジスタ及びイメージセンサへの応
用が活発になされている。このa−8iの応用の一環と
して、a−8iを電子写真感光体の光導電性材料として
使用する試みがなされており、a−8iを使用した感光
体は、無公害の材料であるから回収処理の必要がないこ
と、他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を有す
ること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が滞れて
いること等の利点を有する。
On the other hand, amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-3i)
has recently attracted attention as a photoconductive conversion material, and
It is actively being applied to IT batteries, film transistors, and image sensors. As part of this application of a-8i, attempts have been made to use a-8i as a photoconductive material for electrophotographic photoreceptors, and photoreceptors using a-8i are collected because they are non-polluting materials. It has the advantages of not requiring any treatment, having higher spectral sensitivity in the visible light region than other materials, and having high surface hardness and low abrasion resistance and impact resistance.

このa−3iは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間にブロッ
キング層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた
積層型の構造にすることにより、このような要求を満足
させている。
This a-3i is being studied as a photoreceptor based on the Carlson method, but in this case, the photoreceptor characteristics are required to be high resistance and photosensitivity. Since it is difficult to satisfy the requirements with a photoreceptor, a layered structure is created in which a blocking layer is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a surface charge retention layer is provided on the photoconductive layer. It satisfies these demands.

ところで、a−3iは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
3i11中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気
的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−8i膜
に侵入する水素の量が多くなると、光学的バンドギャッ
プが大きくなり、a−3iの抵抗が高くなるが、それに
ともない、長波長光に対する光感度が低下してしまうの
で、例えば、半導体レーザを搭載したレーザヒームプリ
ンタに使用することが困難である。また、a−3i腹中
の水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって、(S
iH2)n及びs r H2等の結合構造を有するもの
が膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうすると
、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増加
するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体として
使用不能になる。逆に、a−3i中に侵入する水素の量
が低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、そ
の抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増加
する。しかし、水素含有量が少ないと、シリコンダング
リングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が少
なくなる。このため、発生するキャリアの移動度が低下
し、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してしま
い、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
By the way, a-3i is usually formed by a glow discharge decomposition method using silane gas, but at this time, a-3i is
Hydrogen is incorporated into 3i11, and the electrical and optical characteristics vary greatly due to the difference in the amount of hydrogen. That is, as the amount of hydrogen that enters the a-8i film increases, the optical bandgap increases and the resistance of a-3i increases, but as a result, the photosensitivity to long wavelength light decreases. For example, it is difficult to use it in a laser beam printer equipped with a semiconductor laser. In addition, if the hydrogen content in the a-3i anisotropy is large, depending on the film formation conditions, (S
Those having bonding structures such as iH2)n and s r H2 may occupy most of the area in the film. In this case, voids increase and silicon dangling bonds increase, resulting in deterioration of photoconductive properties and rendering the material unusable as an electrophotographic photoreceptor. Conversely, reducing the amount of hydrogen penetrating into a-3i reduces the optical bandgap and its resistance, but increases photosensitivity to long wavelength light. However, when the hydrogen content is low, there is less hydrogen to combine with and reduce silicon dangling bonds. For this reason, the mobility of the generated carriers is reduced, the life span is shortened, and the photoconductive properties are deteriorated, making it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.

尚、長波長光に対する感度を高める技術として、シラン
系ガスとゲルマンGet−14とを混合し、グロー放電
分解することにより、光学的バンドギャップが狭い膿を
生成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH
+とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構
造欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない
。また、GeH+の廃ガスは酸化さ修ると有毒ガスとな
るので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような
技術は実用性がない。
In addition, as a technique to increase the sensitivity to long wavelength light, there is a method of mixing silane-based gas and germane Get-14 and decomposing it by glow discharge to generate pus with a narrow optical band gap. System gas and GeH
Since the optimum substrate temperature differs between + and +, the produced film has many structural defects and cannot obtain good photoconductive properties. Further, waste gas treatment is complicated because GeH+ waste gas becomes a toxic gas when oxidized. Therefore, such technology is not practical.

この発明は、かかる事情に鑑みてなされたちのであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、広い波長領域
に亘って感度が高く、耐環境性が優れた電子写真感光体
を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an electrophotographic photoreceptor that has excellent charging ability, low residual potential, high sensitivity over a wide wavelength range, and excellent environmental resistance. The purpose is to

[問題点を解決するための手段] この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体上に形成されたブロッキング層と、この
ブロッキング層の上に形成された光導電層と、を有する
電子写真感光体において、前記ブロッキング層は、炭素
、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並
びに周期律表第■族及び第■族から選択された少なくと
も一種の原子を含有し、前記選択された原子の肉受なく
とも一種の原子が層厚方向に不均一な濃度分布を形成し
ているマイクロクリスタリンシリコンで形成され、前記
光導電層は、マイクロクリスタリンシリコン層と、第1
のアモルファスシリコン層と、炭素、窒素及び酸素から
選択された少なくとも一種の原子を含有し、1記炭素、
窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子が層
厚方向に濃度分布を形成している第2のアモルファスシ
リコン層との積層体から成ることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] The electrophotographic photoreceptor according to the present invention includes a conductive support, a blocking layer formed on the conductive support, and a photoreceptor formed on the blocking layer. In the electrophotographic photoreceptor having a conductive layer, the blocking layer contains at least one kind of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen, and at least one kind of atom selected from Groups 1 and 2 of the periodic table. The photoconductive layer is formed of microcrystalline silicon containing at least one kind of atoms forming a non-uniform concentration distribution in the layer thickness direction, even if the selected atoms are not included, and the photoconductive layer is a microcrystalline silicon layer; 1st
an amorphous silicon layer containing at least one kind of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen;
It is characterized by being composed of a laminate including a second amorphous silicon layer in which at least one kind of atoms selected from nitrogen and oxygen forms a concentration distribution in the layer thickness direction.

この発明の電子写真感光体は、前述の従来技術の欠点を
解消し、優れた光導電特性(N子写真特性)と耐環境性
とを兼備えた電子写真感光体を開発すべく本願発明者等
が種々実験研究を重ねた結果、光導電層の一部又は全部
が、種としてマイクロクリスタリンから成るか、又はア
モルファスシリコンとマイクロクリスタリンシリコンと
の積層体とすることにより、この目的を達成することが
できることに想到して、この発明を完成させたものであ
る。
The present inventor has developed an electrophotographic photoreceptor according to the present invention in order to overcome the drawbacks of the prior art described above and to develop an electrophotographic photoreceptor that has both excellent photoconductive properties (N-photographic properties) and environmental resistance. As a result of various experimental studies, they found that this objective could be achieved by making part or all of the photoconductive layer consist of microcrystalline as a seed, or by making it a laminate of amorphous silicon and microcrystalline silicon. This invention was completed after coming up with the idea that this could be done.

以下、この発明について具体的に説明する。This invention will be specifically explained below.

この発明の電子写真感光体のブロッキング層には、半導
体としてのアモルファスシリコン(以下a−3iとする
)又はマイクロクリスタリンシリコン(以下μC−8i
とする)が使用される。
The blocking layer of the electrophotographic photoreceptor of the present invention may be made of amorphous silicon (hereinafter referred to as a-3i) or microcrystalline silicon (hereinafter referred to as μC-8i) as a semiconductor.
) is used.

μC−8iは、以下のような物性上の特徴により、a−
3i及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−3iは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μC−8iは
、2θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パター
ンを示す。
μC-8i is a-
3i and polycrystalline silicon (polycrystalline silicon)
clearly distinguished from That is, in X-ray diffraction measurement, since a-3i is amorphous, only a halo appears;
Although no diffraction pattern can be observed, μC-8i shows a crystal diffraction pattern with a 2θ of around 27 to 28.5°.

また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が10BΩ・
αであるのに対し、μC−8iは10ツΩ・α以上の暗
抵抗を有する。このμC−8iは粒径が約数十オングス
トローム以上である微結晶が集合して形成されている。
In addition, polycrystalline silicon has a dark resistance of 10BΩ.
α, whereas μC-8i has a dark resistance of 10Ω·α or more. This μC-8i is formed by agglomeration of microcrystals having a grain size of approximately several tens of angstroms or more.

このようなμC−S +を有するブロッキング層は、a
−3iと同様に、高周波グロー放電分解法により、シラ
ンガスを原料として、導電性支持体上にμC−8iを堆
積させることにより製造することができる。この場合に
、支持体の温度をa−3iを形成する場合よりも高く設
定し、高周波電力もa−3iの場合よりも高く設定する
と、μC−8iを形成しやすくなる。また、支持体温度
及び高周波電力を高くすることにより、シランガスなど
の原料ガスの流量を増大させることができ、その結果、
成膜速度を早くすることができる。
A blocking layer with such μC-S+ is a
Similarly to -3i, it can be produced by depositing μC-8i on a conductive support using silane gas as a raw material using a high frequency glow discharge decomposition method. In this case, if the temperature of the support is set higher than in the case of forming a-3i, and the high frequency power is also set higher than in the case of forming a-3i, it becomes easier to form μC-8i. In addition, by increasing the support temperature and high frequency power, the flow rate of raw material gas such as silane gas can be increased, and as a result,
The film formation speed can be increased.

また、原料ガスのSiH+及び5i2Hs等の高次のシ
ランガスを水素で希釈したガスを使用することにより、
μC−8iを一層高効率で形成することができる。
In addition, by using gas obtained by diluting the raw material gas SiH+ and high-order silane gas such as 5i2Hs with hydrogen,
μC-8i can be formed with higher efficiency.

第1図は、この発明に係る電子写真感光体を製造する装
置を示す図である。ガスボンベ1,2゜3.4には、例
えば、夫々SiH+ 、B2 H6。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to the present invention. For example, the gas cylinders 1 and 2°3.4 contain SiH+ and B2 H6, respectively.

H2、CH4等の原料ガスが収容されている。これらの
ガスボンベ1,2.3.4内のガスは、流量調整用のバ
ルブ6及び配管7を介して混合器8に供給されるように
なっている。各ボンベには、圧力計5が設置されており
、この圧力計5を監視しつつ、バルブ6を調整すること
により、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合
比を調節することができる。混合器8にて混合されたガ
スは反応容器9に供給される。反応容器9の底部11に
は、回転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけ
られており、この回転軸10の上端に、円板状の支持台
12がその面を回転軸10に垂直にして固定されている
。反応容器9内には、円筒状の電極13がその軸中心を
回転軸10の軸中心と一致させて底部11上に設置され
ている。
Source gases such as H2 and CH4 are contained. The gas in these gas cylinders 1, 2, 3, 4 is supplied to a mixer 8 via a valve 6 and piping 7 for flow rate adjustment. Each cylinder is equipped with a pressure gauge 5, and by monitoring the pressure gauge 5 and adjusting the valve 6, the flow rate and mixing ratio of each raw material gas supplied to the mixer 8 can be adjusted. can. The gases mixed in the mixer 8 are supplied to a reaction vessel 9. A rotating shaft 10 is attached to the bottom 11 of the reaction vessel 9 so as to be rotatable around the vertical direction, and a disk-shaped support 12 is attached to the upper end of the rotating shaft 10 with its surface perpendicular to the rotating shaft 10. It has been fixed. Inside the reaction vessel 9, a cylindrical electrode 13 is installed on the bottom 11 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10.

感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中心を
回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒータ
15が配設されている。電極13とドラム基体14との
間には、高周波電源16が接続されており、電極13及
びドラム基体14間に高周波電流が供給されるようにな
っている。回転軸10はモータ18により回転駆動され
る。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視され
、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。
A drum base 14 of a photoreceptor is placed on a support base 12 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10, and a heater 15 for heating the drum base is arranged inside the drum base 14. It is set up. A high frequency power source 16 is connected between the electrode 13 and the drum base 14, so that a high frequency current is supplied between the electrode 13 and the drum base 14. The rotating shaft 10 is rotationally driven by a motor 18. The pressure inside the reaction vessel 9 is monitored by a pressure gauge 17, and the reaction vessel 9 is connected via a gate valve 18 to an appropriate evacuation means such as a vacuum pump.

このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ1
.2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混合
して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器9
内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0.1
乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ18
を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15に
よりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高周
波′R′rA16により電極13とドラム基体14との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体14上°にμC−8iが
堆積する。なお、原Fljス中にN20.NH3、NO
2、N2 。
When manufacturing a photoreceptor using the apparatus configured as described above, after installing the drum base 14 in the reaction vessel 9, the gate valve 19 is opened to control the inside of the reaction vessel 9 at approximately 0.1 Torr. Evacuate to below pressure. Next, cylinder 1
.. From 2.3.4, the required reaction gases are mixed at a predetermined mixing ratio and introduced into the reaction vessel 9. In this case, reaction vessel 9
The gas flow rate introduced into the reaction vessel 9 is such that the pressure inside the reaction vessel 9 is 0.1.
Set it so that it is between 1 Torr and 1 Torr. Next, the motor 18
is activated to rotate the drum base 14, and the heater 15 heats the drum base 14 to a constant temperature, and at the same time, a high frequency current is supplied between the electrode 13 and the drum base 14 by the high frequency 'R'rA16, and the temperature is increased between the two. to form a glow discharge. As a result, μC-8i is deposited on the drum base 14. In addition, N20. NH3, NO
2, N2.

CH4、C2H4,02ガス等を使用することにより、
これらの原子をμC−8i中に含有させることができる
By using CH4, C2H4,02 gas, etc.
These atoms can be included in μC-8i.

このように、この発明に係る電子写真感光体は従来のa
−3iを使用したものと同様に、クローズドシステムの
製造装置で製造することができるため、人体に対して安
全である。また、この電子写真感光体は、耐熱性、耐湿
性及び耐摩耗性が優れているため、長期に亘り繰り返し
使用しても劣化が少なく、寿命が長いという利点がある
。さらに、GeH4等の長波長増感用ガスが不要である
ので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産
性が著しく高い。
In this way, the electrophotographic photoreceptor according to the present invention has a conventional a
Similar to those using -3i, it can be manufactured using closed system manufacturing equipment, so it is safe for the human body. Furthermore, this electrophotographic photoreceptor has excellent heat resistance, moisture resistance, and abrasion resistance, so it has the advantage of having a long lifespan with little deterioration even after repeated use over a long period of time. Furthermore, since a long wavelength sensitizing gas such as GeH4 is not required, there is no need to provide waste gas treatment equipment, and industrial productivity is extremely high.

μC−S +には、水素を0.1乃至30原子%含有さ
せることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが
調和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μC
−8iの光学的エネルギギャップEaは、a−3iの光
学的エネルギギャップEa (1,65乃至1.70e
V)に比較して小さい。つまり、μC−8iの光学的エ
ネルギギヤ □ツブは、μC−8i微結晶の結晶粒径及
び結晶化度により変化し、結晶粒径及び結晶化度の増加
により、その光学的エネルギギャップが低下して、結晶
シリコンの光学的エネルギギャップ1.1eVに近づく
。ところで、μC−8i層及びa−8i層は、この光学
的エネルギギャップよりも大きなエネルギの光を吸収し
、小さなエネルギの光は透過する。このため、a−8i
は可視光エネルギしか吸収しないが、a−3iより光学
的エネルギギャップが小さなμC−8iは、可視光より
長波長であってエネルギが小さな近赤外光までも吸収す
ることができる。従って、μC−8iは広い波長領域に
亘って高い光感度を有する。
It is preferable that μC-S + contains 0.1 to 30 atom % of hydrogen. As a result, the dark resistance and bright resistance become harmonious, and the photoconductive properties are improved. μC
-8i optical energy gap Ea is a-3i optical energy gap Ea (1,65 to 1.70e
V) is small compared to V). In other words, the optical energy gear □ of μC-8i changes depending on the crystal grain size and crystallinity of μC-8i microcrystals, and as the crystal grain size and crystallinity increase, the optical energy gap decreases. , approaches the optical energy gap of crystalline silicon, 1.1 eV. By the way, the μC-8i layer and the a-8i layer absorb light with a larger energy than this optical energy gap, and transmit light with a smaller energy. For this reason, a-8i
absorbs only visible light energy, but μC-8i, which has a smaller optical energy gap than a-3i, can even absorb near-infrared light, which has a longer wavelength and lower energy than visible light. Therefore, μC-8i has high photosensitivity over a wide wavelength range.

このような特性を有するμC−8iは、半導体レーザを
光源に使用したレーザプリンタ用の感光体材料として好
適である。a−8iをレーザプリンタ用の感光体に使用
すると、半導体レーザの光波長が790nmとa−8:
が高感度である波長領域より長いため、感光体感度が不
十分になり、このため、半導体レーザの能力以上のレー
ザ強度を感光体に印加する必要があって、実用上問題が
ある。一方、μC−8iで感光体を形成した場合には、
その高感度領域が近赤外領域にまでのびているので、光
感度特性が極めて優れた半導体レーザプリンタ用の感光
体を得ることができる。
μC-8i having such characteristics is suitable as a photoreceptor material for a laser printer using a semiconductor laser as a light source. When a-8i is used as a photoreceptor for a laser printer, the light wavelength of the semiconductor laser is 790 nm.
Since the wavelength range is longer than the wavelength region in which the wavelength is highly sensitive, the sensitivity of the photoreceptor becomes insufficient. Therefore, it is necessary to apply a laser intensity to the photoreceptor that exceeds the capability of the semiconductor laser, which poses a practical problem. On the other hand, when the photoreceptor is formed with μC-8i,
Since the high-sensitivity region extends to the near-infrared region, it is possible to obtain a photoreceptor for semiconductor laser printers with extremely excellent photosensitivity characteristics.

口のような優れた光感度特性を有する μC−8iの光導電特性を一層向上させるために、μC
−8iに水素を含有させることが好ましい。
In order to further improve the photoconductive properties of μC-8i, which has excellent photosensitivity characteristics like a mouth, μC
-8i preferably contains hydrogen.

μC−8ilへの水素′のドーピングは、例えば、グロ
ー放電分解法による場合は、SiH4及び5t2Hs等
のシラン系の原料ガスと、水素等のキャリアガスとを反
応容器内に導入してグロー放電させるか、S i F4
及び3iCI4等のハロゲン化ケイ素と、水素ガスとの
混合ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガスと、
ハロゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい。更
に、グロー放電分解法によらず、スパッタリング等の物
理的な方法によってもμC−5i層を形成することがで
きる。なお、μC−8iを含む光導電層は、光導電特性
上、1乃至80μmの膜厚を有することが好ましく、更
に膜厚を5乃至50μmにすることが望ましい。
For example, when hydrogen is doped into μC-8il by a glow discharge decomposition method, a silane-based raw material gas such as SiH4 and 5t2Hs and a carrier gas such as hydrogen are introduced into a reaction vessel and a glow discharge is performed. Or, S i F4
A mixed gas of silicon halide such as and 3iCI4 and hydrogen gas may be used, or a silane-based gas and
The reaction may be performed using a mixed gas with silicon halide. Furthermore, the μC-5i layer can be formed not only by the glow discharge decomposition method but also by a physical method such as sputtering. In view of photoconductive properties, the photoconductive layer containing μC-8i preferably has a thickness of 1 to 80 μm, and more preferably 5 to 50 μm.

光導電層は、実質的に全ての領域をμC−3iで形成し
てもよいし、a−3iとμC−8iとの混合体又は積層
体で形成してもよい。帯電能は、積層体の方が高く、光
感度は、その体積比にもよるが、赤外領域の長波長領域
では混合体の方が高(、可視光領域では両者はほとんど
同一である。
Substantially the entire region of the photoconductive layer may be formed of μC-3i, or may be formed of a mixture or a laminate of a-3i and μC-8i. The chargeability is higher in the laminate, and the photosensitivity is higher in the long wavelength region of the infrared region, although it depends on their volume ratio (but in the visible light region, the two are almost the same).

このため、感光体の用途により、実質的に全ての領域を
μC−8iにするか、又は混合体若しくは積層体で構成
すればよい。
Therefore, depending on the use of the photoreceptor, substantially all the regions may be made of μC-8i, or may be made of a mixture or a laminate.

μC−8iに、窒素N、炭素C及び酸素Oから選択され
た少なくとも1種の原子をドーピングすることが好まし
い。これにより、μC−5iの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
Preferably, μC-8i is doped with at least one type of atom selected from nitrogen N, carbon C, and oxygen O. Thereby, the dark resistance of μC-5i can be increased and the photoconductive properties can be improved.

これらの原子はμC−8iの粒界に析出し、またシリコ
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制布中に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。
These atoms precipitate at the grain boundaries of μC-8i and act as terminators for silicon dangling bonds,
It is believed that the density of states existing in the forbidden cloth between the bands is reduced, thereby increasing the dark resistance.

導電性支持体と光導電層との間に、ブロッキング層を配
設することが好ましい。このブロッキング層は、導電性
支持体と、光導電層との間の電荷の流れを抑制すること
により、光導電性部材の表面における電荷の保持機能を
高め、光導電性部材の帯電能を高める。カールソン方式
においては、感光体表面に正帯電させる場合には、支持
体側から光導電層へ電子が注入されることを防止するた
めに、ブロッキング層をp型にする。一方、感光体表面
に負帯電させる場合には、支持体側から光導電層へ正孔
が注入されることを防止するために、ブロッキング層を
n型にする。また、ブロッキング層として、絶縁性の膜
を支持体の上に形成することも可能である。ブロッキン
グ層はμC−8iを使用して形成してもよいし、a−3
iを使用してブロッキング層を構成することも可能であ
る。
Preferably, a blocking layer is provided between the conductive support and the photoconductive layer. This blocking layer suppresses the flow of charge between the conductive support and the photoconductive layer, thereby increasing the charge retention function on the surface of the photoconductive member and increasing the charging ability of the photoconductive member. . In the Carlson method, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the blocking layer is made p-type in order to prevent electrons from being injected from the support side to the photoconductive layer. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged, the blocking layer is made n-type in order to prevent holes from being injected from the support side to the photoconductive layer. It is also possible to form an insulating film on the support as a blocking layer. The blocking layer may be formed using μC-8i or a-3
It is also possible to use i to construct a blocking layer.

μC−8i及びa−3iをp型にするためには、周期律
表の第■族に属する原子、例えば、ボウ素B1アルミニ
ウムAI、ガリウムGa、インジウムIn、及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μC−3i
層をn型にするためには、周期律表の第V族に属する原
子、例えば、窒素N、リンP、ヒ素As1アンチモンS
b、及びビスマスBi等をドーピングすることが好まし
い。
In order to make μC-8i and a-3i p-type, it is necessary to dope them with atoms belonging to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B1 aluminum AI, gallium Ga, indium In, and thallium T1. Preferably μC-3i
In order to make the layer n-type, atoms belonging to group V of the periodic table, such as nitrogen N, phosphorus P, arsenic As1 antimony S
It is preferable to dope with B, bismuth Bi, or the like.

このp型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側から光導1i層へ電荷が移動することが防止され
る。
This doping with p-type impurities or n-type impurities prevents charges from moving from the support side to the light guide layer 1i.

光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。Preferably, a surface layer is provided on top of the photoconductive layer.

光導電層のμC−8iは、その屈折率が3乃至4と比較
的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよう
な光反射が生じると、光導電層に吸収される光量の割合
いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層を
設けて反射を防止することが好ましい。また、表面層を
設けることにより、光導電層が損傷から保護される。さ
らに、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、
表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成する材
料としては、Si3N4 、SiO2,5iC1AFO
3、a−8’N:Ella−3iO:Hs及びa−8i
C:H等の無機化合物及びポリ塩化ビニル及びポリアミ
ド等の有機材料がある。
Since μC-8i of the photoconductive layer has a relatively large refractive index of 3 to 4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of the amount of light absorbed by the photoconductive layer decreases, increasing optical loss. For this reason, it is preferable to provide a surface layer to prevent reflection. Also, by providing the surface layer, the photoconductive layer is protected from damage. Furthermore, by forming a surface layer, charging ability is improved,
The surface becomes more charged. Materials forming the surface layer include Si3N4, SiO2, 5iC1AFO
3, a-8'N:Ella-3iO:Hs and a-8i
There are inorganic compounds such as C:H and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.

電子写真感光体に適用される光導電性部材としては、上
述のごとく、支持体上にブロッキング層を形成し、この
ブロッキング層上に光導電層を形成し、この光導電層の
上に表面層を形成したものに限らず、支持体の上に電荷
移動層(CTL)を形成し、電荷移動層の上に電荷発生
層(CGL)を形成した機能分離型の形態に構成するこ
ともできる。この場合に、電荷移動層と、支持体との間
に、ブロッキング層を設けてもよい。電荷発生層は、光
の照射によりキャリアを発生する。この電荷発生層は、
層の一部又は全部がμC−8i又はa−8iでできてお
り、その厚さは0.1乃至10μmにすることが好まし
い。電荷移動層は電荷発生層で発生したキャリアを高効
率で支持体側に到達させる層であり、このため、キャリ
アの寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いことが必
要である。電荷移動層はμC−8iで形成することがで
きる。暗抵抗を高めて帯電能を向上させるために、周期
律表の第■族又は第V族のいずれか一方に属する原子を
ライトドーピングすることが好ましい。また、帯電能を
一層向上させ、電荷移動層と電荷発生層との両機能を持
たせるために、C,N、Oの原子のうち、いずれか1種
以上を含有させてもよい。電荷移動層は、その膜厚が薄
過ぎる場合及び厚過ぎる場合はその機能を充分に発揮し
ない。このため、電荷移動層の厚さは3乃至80μmで
あることが好ましい。
As described above, a photoconductive member applied to an electrophotographic photoreceptor includes a blocking layer formed on a support, a photoconductive layer formed on this blocking layer, and a surface layer formed on this photoconductive layer. The structure is not limited to one in which a charge transfer layer (CTL) is formed on a support, and a functionally separated structure in which a charge transfer layer (CTL) is formed on the charge transfer layer and a charge generation layer (CGL) is formed on the charge transfer layer is also possible. In this case, a blocking layer may be provided between the charge transfer layer and the support. The charge generation layer generates carriers upon irradiation with light. This charge generation layer is
Part or all of the layer is made of .mu.C-8i or a-8i, preferably with a thickness of 0.1 to 10 .mu.m. The charge transfer layer is a layer that allows carriers generated in the charge generation layer to reach the support side with high efficiency, and therefore, the carriers need to have a long life, high mobility, and high transportability. The charge transport layer can be formed of μC-8i. In order to increase the dark resistance and improve the charging ability, it is preferable to light-dope atoms belonging to either Group Ⅰ or Group V of the periodic table. Furthermore, in order to further improve the charging ability and to have the functions of both a charge transfer layer and a charge generation layer, one or more of C, N, and O atoms may be contained. If the charge transport layer is too thin or too thick, it will not function satisfactorily. Therefore, the thickness of the charge transport layer is preferably 3 to 80 μm.

ブロッキング層を設け゛ることにより、電荷移動層と電
荷発生層とを有する機能分離型の感光体においても、そ
の電荷保持機能を高め、帯電能を向上させることができ
る。なお、ブロッキング層をp型にするか、又はn型に
するかは、その帯電特性に応じて決定される。このブロ
ッキング層は、μC−3iで形成されている。
By providing a blocking layer, even in a functionally separated photoreceptor having a charge transfer layer and a charge generation layer, its charge retention function and charging ability can be improved. Note that whether the blocking layer is p-type or n-type is determined depending on its charging characteristics. This blocking layer is made of μC-3i.

この出願に係る発明の特徴は、ブロッキング層が、炭素
、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並
びに周期律表第■族及び第■族から選択された少なくと
も一種の原子を含有し、前記選択された原子の内少なく
とも一種の原子が層厚方向に不均一な濃度分布を形成し
ているマイクロクリスタリンシリコンで形成され、光導
電層が、マイクロクリスタリンシリコン層と、第1のア
モルファスシリコン層と、炭素、窒素及び酸素から選択
された少なくとも一種の原子を含有し、前記炭素、窒素
及び酸素から選択された少なくとも一種の原子が層厚方
向に不均一な濃度分布を形成している第2のアモルファ
スシリコン層との積層体から成ることにある。
The feature of the invention according to this application is that the blocking layer contains at least one kind of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen, and at least one kind of atom selected from Groups Ⅰ and Ⅲ of the periodic table; The photoconductive layer is formed of microcrystalline silicon in which at least one of the selected atoms forms a non-uniform concentration distribution in the layer thickness direction, and the photoconductive layer includes the microcrystalline silicon layer and the first amorphous silicon layer. , a second layer containing at least one kind of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen, in which the at least one kind of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen forms a nonuniform concentration distribution in the layer thickness direction. It consists of a laminate with an amorphous silicon layer.

[実施例コ 次に、第2及び3図を参照してこの発明を具体化した電
子写真感光体の層の構成について説明する。
[Example 2] Next, the structure of the layers of an electrophotographic photoreceptor embodying the present invention will be described with reference to FIGS. 2 and 3.

第2図に示す電子写真感光体において、アルミニウム製
導電性支持体101の上には、μC−8iからなるブロ
ッキング1102と、光導電層103とが積層されてい
る。ブロッキング11102は、炭素、窒素及び酸素か
ら選択された少なくとも一種の原子並びに周期律表第m
族及び第1V族から選択された少なくとも一種の原子を
含有するとともに、選択された原子の内少なくとも一種
の原子が層厚方向に不均一な濃度分布を形成している。
In the electrophotographic photoreceptor shown in FIG. 2, a blocking 1102 made of μC-8i and a photoconductive layer 103 are laminated on a conductive support 101 made of aluminum. Blocking 11102 includes at least one type of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen, and m-th atom of the periodic table.
The layer contains at least one type of atom selected from Group 1 and Group 1V, and at least one of the selected atoms forms a non-uniform concentration distribution in the layer thickness direction.

光導電層103は、μC−8i層104と、第1の8−
3i層105と、第2のa−3i層106とが積層され
、この第2のa−8i層106には、C,O,Nの原子
の少なくとも1つ以上の原子が含有されている。更に、
この第2のa−8i層106に含有されている、C10
、Nの原子の少なくとも1つ以上の原子は層厚み方向で
あって、支持体側が濃くなるように不均一な濃度分布が
形成されている。尚、第2のa−8i層106上には表
面層107が積層されている。
The photoconductive layer 103 includes a μC-8i layer 104 and a first 8-
The 3i layer 105 and the second a-3i layer 106 are stacked, and the second a-8i layer 106 contains at least one or more atoms of C, O, and N atoms. Furthermore,
C10 contained in this second a-8i layer 106
, N atoms have a non-uniform concentration distribution in the layer thickness direction such that the concentration is higher on the support side. Note that a surface layer 107 is laminated on the second a-8i layer 106.

この発明の電子写真感光体によれば、光導電層103に
は支持体101から順次μC−81層104、光導電性
の第1のa−8i1105、且つ第2a−3i層106
の順序で積層している。
According to the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the photoconductive layer 103 includes, in order from the support 101, the μC-81 layer 104, the photoconductive first a-8i layer 1105, and the second a-3i layer 106.
They are stacked in this order.

このような電子写真感光体の構成によれば、電子写真感
光体に可視光付近の光が照射された場合は、主に第1の
a−3i層105が吸収し、ここで吸収しきれない光を
マイクロクリスタリンシリコンμc−s 1層104が
吸収する。また、近赤外線付近の波長の光が照射された
場合には、第1のa−3i層105は数十%しか吸収せ
ず、その残り全てをμC−8i層104が吸収すること
ができる。
According to the structure of the electrophotographic photoreceptor, when the electrophotographic photoreceptor is irradiated with light near visible light, the first a-3i layer 105 absorbs the light, and the light is not completely absorbed here. The microcrystalline silicon μc-s 1 layer 104 absorbs the light. Furthermore, when light with a wavelength around near infrared rays is irradiated, the first a-3i layer 105 absorbs only several tens of percent, and the μC-8i layer 104 can absorb the rest.

a−8iのみを光導電層として用いた場合には、可視光
付近の感度が高く、通常レーザプリンタに用いられる近
い赤外線付近の波長の光に対して光感度が急激に落ちる
ので、画像のカプリ、ツブシ、カプリ、緩衝績による画
像の濃度分布ムラ等画像欠陥が生じるという不都合があ
る。しかし、本願の電子写真感光体によれば、上述した
ように、μC−8i層104を備えているから、広い範
囲の波長の光を吸収することができ、その結果鮮明な画
像を得ることができる。
When only a-8i is used as a photoconductive layer, it has high sensitivity near visible light, but the photosensitivity drops rapidly to light with a wavelength near infrared, which is normally used in laser printers, so the image capacitance is low. However, there are disadvantages in that image defects such as unevenness in image density distribution due to blemishes, spots, capri, and buffering occur. However, according to the electrophotographic photoreceptor of the present application, as described above, since it is provided with the μC-8i layer 104, it is possible to absorb light in a wide range of wavelengths, and as a result, it is possible to obtain clear images. can.

電子写真感光体が帯電された場合には、第2のa−8i
層106は、その自由表面側に電荷を保持し、次に、光
が照射された場合には、第1のa−3i層105とμc
−81層104とに光キャリヤが発生する。発生した光
キャリヤは瞬時に輸送され第2のアモルファスシリコン
1ii1106の自由表面側に保持されている電荷を中
和する。この場合、光導電層が第1のa−3i層105
とμC−8i層104とを含有しているから、帯電能が
向上し、且つ高いコントラストを得ることができる。
When the electrophotographic photoreceptor is charged, the second a-8i
The layer 106 retains a charge on its free surface side, and then when irradiated with light, the first a-3i layer 105 and the μc
-81 layer 104 and optical carriers are generated. The generated optical carriers are instantaneously transported and neutralize the charges held on the free surface side of the second amorphous silicon 1ii1106. In this case, the photoconductive layer is the first a-3i layer 105
and μC-8i layer 104, charging ability is improved and high contrast can be obtained.

第2のa−3i層106には、C,O,Nの原子の少な
くとも1つの原子が含有されているが、この含有物の濃
度分布は層圧方向に不均一に形成されている。この場合
、層の剥がれまたはクラックの発生が防止でき、更に、
キャリヤのトラップが防止されるから、画像のぼけ又は
流れを防止できる。もし、含有物の濃度分布が層圧方向
に一定であると、この層に光学的禁止帯幅の比較的大き
い苦を形成する場合、成膜後、これらの2層間の密着性
が悪いという問題がある。その結果、2層間の密着性が
悪く剥がれあるいはクラックが生じる。又は、2層の特
質が相違するためこれらの眉間にキャリヤがトラップさ
れ、画像がボケたり流れたりする。
The second a-3i layer 106 contains at least one of C, O, and N atoms, but the concentration distribution of this contained material is nonuniform in the layer pressure direction. In this case, peeling of the layer or occurrence of cracks can be prevented, and furthermore,
Since trapping of the carrier is prevented, blurring or blurring of the image can be prevented. If the concentration distribution of the inclusions is constant in the layer pressure direction and a relatively large optical bandgap width is formed in this layer, there will be a problem of poor adhesion between these two layers after film formation. There is. As a result, the adhesion between the two layers is poor and peeling or cracking occurs. Or, because the characteristics of the two layers are different, carriers may be trapped between the eyebrows, causing the image to blur or flow.

ブロッキング層102においても、そこに含有されてい
る含有物の濃度分布は層圧方向に不均一に形成されてい
るから、特にブロッキング層102とμC−8i層10
4との境界面での層の剥がれまたはクラックの発生、更
に、キャリヤのトラップが防止できる。
Also in the blocking layer 102, the concentration distribution of the inclusions contained therein is formed non-uniformly in the layer pressure direction.
It is possible to prevent layer peeling or cracking at the interface with 4, as well as carrier trapping.

ブロッキング層102に含有されるC、O,Nの原子の
含有量は1゛乃至20原子%が好ましく、また周期律表
の第■族又は第V族に属する原子の含有量は、1X10
’ないし5原子%が好ましい。
The content of C, O, and N atoms contained in the blocking layer 102 is preferably 1 to 20 atomic %, and the content of atoms belonging to Group Ⅰ or Group V of the periodic table is 1×10
' to 5 atomic % is preferable.

ブロッキング層の層厚は100人ないし10umに形成
することが好ましくより好ましくは0.1ないし3μm
が好ましい。
The thickness of the blocking layer is preferably 100 μm to 10 μm, more preferably 0.1 μm to 3 μm.
is preferred.

この発明によれば、可視光から近赤外線までの波長の光
に対して高い感度であるため、長波長光に対して高感度
であり、レーザプリンタ用の感光体として使用すること
ができ、更に高い解像度及び高いコストで帯電能が優れ
た感光体を提供することができる。
According to this invention, it is highly sensitive to light with wavelengths from visible light to near infrared rays, so it is highly sensitive to long wavelength light, and can be used as a photoreceptor for laser printers. A photoreceptor with high resolution, high cost, and excellent charging ability can be provided.

第3図は、この発明による電子写真感光体の他の層構成
を示している。この第3図に示す層構成では、第2図に
示す層構成に比較してマイクロクリスタリンシリコン層
104と第1のa−8i層105とが入替わっている。
FIG. 3 shows another layer structure of the electrophotographic photoreceptor according to the present invention. In the layer structure shown in FIG. 3, compared to the layer structure shown in FIG. 2, the microcrystalline silicon layer 104 and the first a-8i layer 105 are exchanged.

即ち、光導電層103には支持体101側から順次光導
電性の第117)a−8iti105、tlc−8i 
R104、ソして第2のa−8i層106の順序で積層
している。この場合、前述した第2図に示す層構造と同
様な効果を得ることができる。
That is, the photoconductive layers 117) a-8 iti 105 and tlc-8 i are sequentially coated on the photoconductive layer 103 from the support 101 side.
The layers are laminated in this order: R104, and then the second a-8i layer 106. In this case, the same effect as the layered structure shown in FIG. 2 described above can be obtained.

更に、第2のa−8i、111106に、uいrC,O
Furthermore, in the second a-8i, 111106, uirC,O
.

Nの原子の少なくとも1つ以上の原子は層厚方向であっ
て、支持体側が濃くなるように不均一な濃度分布が形成
されてている。従って、光導電層103に光が照−射さ
れた際に、光導電層では帯電した電極と同極性の電荷と
逆極性の電荷とが発生し、同極性の電荷は帯電側に流れ
、帯電した電荷を打消し、一方、逆極性の電荷は支持体
側に流れるが、濃度を形成することにより、この逆極性
の電荷の流れを許可し、且つ電荷保持機能を保持するこ
とができる。
At least one N atom has a non-uniform concentration distribution in the layer thickness direction such that the concentration is higher on the support side. Therefore, when the photoconductive layer 103 is irradiated with light, charges of the same polarity as the charged electrode and charges of the opposite polarity are generated in the photoconductive layer, and the charges of the same polarity flow toward the charged side, On the other hand, charges of opposite polarity flow toward the support, but by forming a concentration, it is possible to allow the flow of charges of opposite polarity and maintain the charge retention function.

次に、この発明の実施例について説明する。Next, embodiments of the invention will be described.

m上 導電性基板としてのAI製トドラム直径80mm、長さ
350mm>をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
後、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面が酸処理、アルカリ処理又はサンドプラ、ス
ト処理され、その干渉防止が図られる。ドラム基体10
1を加熱し、約320℃に保持する。次いで、SiH+
ガス流量に対する流量比が3X10”の82 Hsガス
、45%のCH4ガス、600%のH2ガスを混合して
反応容器に供給した。その後、メカニカルブースタポン
プ及びロータリポンプにより反応容器内を排気し、反応
圧力を1TOr(トル)に調整した。モータ18により
基体14を回転させながら、電極に700W(ワット)
の高周波電力を印加して、電極とドラム基体との間に、
5i)14゜B2 H6及びCH4のプラズマを生起さ
せ(グロー放電)成膜した。成膜中に、82 Hs及び
CH4ガスの流量を徐々に絞り、最終的にCl−14ガ
ス20%、B2 H6ガス104に下げた。この条件下
で、約30分間成膜を続け、支持体101上に、膜厚0
.4μm、結晶粒径40人、結晶化度70%のμC−8
iのブロッキング層102を形成した。
An AI drum (diameter: 80 mm, length: 350 mm) serving as a conductive substrate was degreased with trichlene, washed and dried, and then loaded into a reaction vessel. The surface of this drum is subjected to acid treatment, alkali treatment, sand plasty treatment, or sand treatment as necessary to prevent interference. Drum base 10
1 is heated and maintained at approximately 320°C. Then, SiH+
82 Hs gas, 45% CH4 gas, and 600% H2 gas with a flow rate ratio of 3 x 10'' to the gas flow rate were mixed and supplied to the reaction vessel.Then, the inside of the reaction vessel was evacuated using a mechanical booster pump and a rotary pump. The reaction pressure was adjusted to 1 TOr (torr).700 W (watt) was applied to the electrode while rotating the base 14 by the motor 18.
between the electrode and the drum base by applying high frequency power of
5i) 14° B2 H6 and CH4 plasma was generated (glow discharge) to form a film. During film formation, the flow rates of 82 Hs and CH4 gas were gradually reduced to 20% Cl-14 gas and 104% B2 H6 gas. Under these conditions, film formation was continued for about 30 minutes, and a film with a thickness of 0 was formed on the support 101.
.. μC-8 with a grain size of 4μm, a crystallinity of 40%, and a crystallinity of 70%.
A blocking layer 102 of i was formed.

ブロッキング層の成膜終了後、82 H6及びCH4ガ
スの流入を止め、5時開成膜を続け、膜厚15μm、結
晶粒径30人、結晶化度60%のμC−8il104を
形成した。次に、SIH+ガス流量に対してH2ガスを
100%、B2 Hsガスを10−6の流量比で供給し
、反応圧力が0.6トル、100Wの高周波電力を印加
して、グロー放電を生起させる。この条件で1時間成膜
を続け、膜厚3μmの第1のa−3i層105を形成し
た。続いて、SiH+ガス流量に対してCH4ガスの流
層を1%供給し、その後、S i H4ガス流山に対し
て、 Cl−14の供給量を次第に増し続け、CH4ガ
スの流量を500%にまで増した。この間、40分間成
膜し、3μmの第2のa−8i層106と2μmの表面
層107(第2図に示す)とを形成した。
After the blocking layer was formed, the inflow of 82 H6 and CH4 gases was stopped, and film formation was continued at 5 o'clock to form μC-8il104 having a thickness of 15 μm, a crystal grain size of 30 μm, and a crystallinity of 60%. Next, H2 gas was supplied at 100% and B2 Hs gas at a flow rate ratio of 10-6 with respect to the SIH+ gas flow rate, and a reaction pressure of 0.6 Torr and 100 W of high frequency power was applied to generate a glow discharge. let Film formation was continued under these conditions for 1 hour to form the first a-3i layer 105 with a thickness of 3 μm. Next, a flow layer of CH4 gas was supplied at 1% of the SiH+ gas flow rate, and then, the flow rate of CH4 gas was gradually increased to 500% by continuing to gradually increase the supply amount of Cl-14 to the SiH4 gas flow rate. It increased to During this time, film formation was carried out for 40 minutes to form a 3 μm thick second a-8i layer 106 and a 2 μm thick surface layer 107 (shown in FIG. 2).

±1」」− この比較例ではa−3i層のみからなる感光体を形成し
た。この場合、ブロッキング層102は、S i H4
ガス流山に対して、B2 H6ガスを10°3の流量比
で供給し、反応圧力が0.5トル、150Wの高周波電
力を印加して、10分間成膜した。光導電層は1、実施
例1の第1のa−8i層105と同様の条件、即ち、第
S i H4ガス流量に対してH2ガスを10096、
B2 H6ガスを10−6の流量比で供給し、反応圧力
がO,’6トル、100Wの高周波電力を印加して、4
時間成膜した。光導電層の成膜後、SiH+ガス流農に
流層て、500%の流量のC)−14を供給し、反応圧
力が0.6トル、100Wの高周波電力を印加して、グ
ロー放電を生起させ、5分間成膜して表面層を形成した
。この場合ブロッキング層の膜厚は0.5μm、光導電
層の膜厚は12μm1表面層の膜厚は0.1μmであっ
た。
±1'' - In this comparative example, a photoreceptor consisting of only the a-3i layer was formed. In this case, the blocking layer 102 is S i H4
B2 H6 gas was supplied to the gas stream at a flow rate ratio of 10°3, reaction pressure was 0.5 Torr, and high frequency power of 150 W was applied to form a film for 10 minutes. The photoconductive layer was formed under the same conditions as the first a-8i layer 105 of Example 1, that is, the H2 gas was 10096 ml for the S i H4 gas flow rate;
B2 H6 gas was supplied at a flow rate ratio of 10-6, the reaction pressure was O, '6 Torr, and high frequency power of 100 W was applied.
The film was formed for an hour. After forming the photoconductive layer, C)-14 was supplied at a flow rate of 500% to the SiH + gas flow chamber, and a reaction pressure of 0.6 Torr and high frequency power of 100 W was applied to generate a glow discharge. A surface layer was formed by forming a film for 5 minutes. In this case, the thickness of the blocking layer was 0.5 μm, the thickness of the photoconductive layer was 12 μm, and the thickness of the surface layer was 0.1 μm.

以上のように形成した実施例1と比較例1との感光体に
ついて、比較実験をした。各感光体に6.5KV(キロ
ボルト〉の電圧を印加したところ、実施例1の表面電位
は500V、15秒の保持率は65%であった。一方、
比較例の表面電位は400Vであり、保持率は30%で
あった。
A comparative experiment was conducted on the photoreceptors of Example 1 and Comparative Example 1 formed as described above. When a voltage of 6.5 KV (kilovolts) was applied to each photoreceptor, the surface potential of Example 1 was 500 V, and the retention rate for 15 seconds was 65%. On the other hand,
The surface potential of the comparative example was 400V, and the retention rate was 30%.

更に、第4図のグラフに示すように、夫々の感光体につ
いて波長に対する光感度を測定した。この第4図は、横
軸に光の波長(nm) 、縦軸に感度(Cm/era)
を取り、多光の波長における感度を測定した。このグラ
フにおいて、実線は実絶倒1の測定結果、破断線は比較
例1による測定結果を示す。このグラフから明らかなよ
うに、この実施例1によれば約700乃至800nmの
長波長領域の光について良好な感度を得ることができた
Further, as shown in the graph of FIG. 4, the photosensitivity of each photoreceptor to wavelength was measured. In this Figure 4, the horizontal axis shows the wavelength of light (nm), and the vertical axis shows the sensitivity (Cm/era).
We measured the sensitivity at multiple wavelengths. In this graph, the solid line indicates the measurement results of Actual Example 1, and the broken line indicates the measurement results of Comparative Example 1. As is clear from this graph, according to this Example 1, good sensitivity could be obtained for light in the long wavelength region of about 700 to 800 nm.

次に、各感光体をレーザプリンタに装着し、このレーザ
プリンタにより画像を形成し、この画像を比較した。こ
の場合、実施例1では高い解像度且つ高いコントラスト
の鮮明な画像が得られた。
Next, each photoreceptor was attached to a laser printer, an image was formed by the laser printer, and the images were compared. In this case, in Example 1, a clear image with high resolution and high contrast was obtained.

一方、比較例1の場合には、カブリまたは干渉縞による
画像の濃度ムラ等が生じた。
On the other hand, in the case of Comparative Example 1, image density unevenness caused by fogging or interference fringes occurred.

実施例2 実施例1において、a−3i層106を形成する場合に
、SiH+ガス流量に対するCH4ガスの流量比を様々
に変化させて第2のa−8i層106を形成した。その
他の点については実施例1と同じ条件で成膜し、炭素C
の添加濃度をその層厚方向に濃度分布を形成した。第2
のa−3i層106における層厚と、SiH+ガス流量
に対するCH4ガスの流量比との関係を第5乃至第13
図に示す。第5乃至第13図において、横軸にガス流量
比、縦軸に層の厚みを示し、実線はC10、Nの原子内
すくなくともいずれか1つを含むガスの流量、破断線は
周期律表の第1族又は第V族の原子の内生なくとも一種
の原子を含むガスの流量を示している。いずれの場合に
おいても、それぞれのガスに含まれている原子の濃度は
層の厚み方向に不均一に形成されている。この実施例2
の場合、実施例1と同様の効果を得ることができた。
Example 2 In Example 1, when forming the a-3i layer 106, the second a-8i layer 106 was formed by varying the flow rate ratio of CH4 gas to the SiH+ gas flow rate. For other points, the film was formed under the same conditions as in Example 1.
The concentration distribution of the added concentration was formed in the direction of the layer thickness. Second
The relationship between the layer thickness in the a-3i layer 106 and the flow rate ratio of CH4 gas to SiH+ gas flow rate is shown in the fifth to thirteenth
As shown in the figure. In Figures 5 to 13, the horizontal axis shows the gas flow rate ratio, and the vertical axis shows the layer thickness, the solid line shows the flow rate of gas containing at least one of C10 and N atoms, and the broken line shows the periodic table. It shows the flow rate of a gas containing at least one type of group 1 or group V atoms. In either case, the concentration of atoms contained in each gas is non-uniform in the thickness direction of the layer. This example 2
In this case, the same effect as in Example 1 could be obtained.

夫1」」− この実施例の場合には、実施例2において用いたCH4
ガスに変えてN2ガスを使用して電子写真感光体を形成
した。即ち、第2のa−3i層106の成膜時に、窒素
Nを添加するとともに、窒素Nの添加濃度をその層厚方
向に濃度分布を形成した。この実施例3の場合にも実施
例1と同様な効果を得ることができた。
"Husband 1" - In the case of this example, CH4 used in Example 2
An electrophotographic photoreceptor was formed using N2 gas instead of gas. That is, when forming the second a-3i layer 106, nitrogen N was added, and the concentration of nitrogen N was distributed in the layer thickness direction. In the case of Example 3 as well, the same effects as in Example 1 could be obtained.

友11玉 実施例4では、光導i!層103を第1のa−3i層1
05、uc−8i層104、第2のa−8il!110
6の順序でブロッキング11102上に積層している。
In Friend 11 Ball Example 4, light guide i! layer 103 as first a-3i layer 1
05, uc-8i layer 104, second a-8il! 110
They are stacked on the blocking 11102 in the order of 6.

導電性基板としてのAi製トドラム直径80mm、長さ
350mm)をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
後、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面が酸処理、アルカリ処理又はサンドブラスト
処理され、その干渉防止が図られる。ドラム基体を加熱
し、約320℃に保持する。次いで、SiH+ガス流最
に流量る流量比が5X10”の821−1sガス、10
%のN2ガス、700%のH2ガスを混合して反応容器
に供給した。その後、メカニカルブースタポンプ及びロ
ータリポンプにより反応容器内を排気し、その圧力を0
.1トルに調整した。モータ18により基体14を回転
させながら、電極に500W(ワット)の高周波電力を
印加して成膜した。成膜中、82 Hsガ、スの流量を
徐々に絞り、流量比を5 X 10 ’にした。この条
件下で、約1時間成膜し、支持体101上に、結晶粒径
30人、結晶化度60%のμC−8+のブロッキング層
102を形成した。
An Ai drum (diameter: 80 mm, length: 350 mm) serving as a conductive substrate was degreased with trichlene, washed and dried, and then loaded into a reaction vessel. The surface of this drum is subjected to acid treatment, alkali treatment, or sandblasting treatment as necessary to prevent interference. The drum substrate is heated and held at approximately 320°C. Next, 821-1s gas with a flow rate ratio of 5×10”, which is the highest in the SiH+ gas flow, is
% N2 gas and 700% H2 gas were mixed and supplied to the reaction vessel. After that, the inside of the reaction vessel is evacuated using a mechanical booster pump and a rotary pump, and the pressure is reduced to 0.
.. Adjusted to 1 Torr. While the base 14 was rotated by the motor 18, a high frequency power of 500 W (watts) was applied to the electrode to form a film. During film formation, the flow rate of the 82 Hs gas was gradually reduced to a flow rate ratio of 5 x 10'. Under these conditions, film formation was carried out for about 1 hour, and a blocking layer 102 of μC-8+ having a crystal grain size of 30% and a crystallinity of 60% was formed on the support 101.

ブロッキング層102の成膜終了後、SiH4ガス流量
に対してArガスを150%、82 Hsガスを3xl
O−sの流量比で供給し、反応圧力が0.4トル、10
0Wの高周波電力を印加して、グロー放電を生起させる
。この条件で約1時開成膜を続け、膜厚3μmの第1の
a−8i層105を形成した。
After forming the blocking layer 102, Ar gas was added at 150% and 82 Hs gas was added at 3xl with respect to the SiH4 gas flow rate.
The reaction pressure was 0.4 Torr, 10
High frequency power of 0 W is applied to generate glow discharge. Open film formation was continued for about 1 hour under these conditions to form the first a-8i layer 105 with a thickness of 3 μm.

第1のa−8i層105成膜終了後、SiH+ガス流量
に対してH2ガスを8倍の流量比で供給し、反応圧力が
1.0トル、400Wの高周波電力を印加して、グロー
放電を生起させる。この条件で5時間成膜を続け、層厚
10μm、結晶粒径30人、結晶化度60%のμC−S
 r層104を形成した。
After the first a-8i layer 105 has been formed, H2 gas is supplied at a flow rate ratio of 8 times the flow rate of SiH+ gas, the reaction pressure is 1.0 Torr, and high frequency power of 400 W is applied to cause glow discharge. cause to occur. Film formation was continued under these conditions for 5 hours.
An r layer 104 was formed.

続いて、5i)−14ガス流吊に対して、N2ガスを5
0%、Arガスを1001%の混合比で供給し、反応圧
力が0.5トル、200Wの高周波電力を印加して、N
2ガスの流mを500%にまで次第に増して、膜厚2,
5μmの第2のa−8i層106を形成した。
Subsequently, for 5i)-14 gas flow suspension, add N2 gas to 5
0%, Ar gas was supplied at a mixing ratio of 1001%, the reaction pressure was 0.5 Torr, and high frequency power of 200 W was applied.
2. Gradually increase the gas flow m up to 500% to obtain a film thickness of 2,
A second a-8i layer 106 of 5 μm was formed.

L炎11 この比較例では、ブロッキング層と光導電層と表面層と
をa−3iのみで形成した。ブロッキング層は、SiH
4ガス流量に対してN2ガスを100%、B2 Hsガ
スを10°3の流量比で供給し、反応圧力が0.4トル
、150Wの高周波電力を印加して、グロー放電を生起
させた。この条件で約30分開成膜を続け、膜厚2μm
のブロッキング層を形成した。光導電層は、実施例2の
第1のアモルファスシリコン層105と同様な条件、即
ち、5in4ガス流量に対してArガスを150%、8
2H6ガスを3X10−sの流m比で供給し、反応圧力
が0.4トル、100Wの高周波電力を印加して、約5
時開成膜を続け、膜厚15μmの層を形成する。更に、
SiH+ガス流量に対してN2ガスを500%供給し、
反応圧力が0.7トル、300Wの高周波電力を印加し
て、約5分間成膜を続け0.1μmの表面保護層を形成
した。
L Flame 11 In this comparative example, the blocking layer, photoconductive layer, and surface layer were formed only from a-3i. The blocking layer is SiH
4 gas flow rate, N2 gas was supplied at 100% and B2 Hs gas was supplied at a flow rate ratio of 10°3, reaction pressure was 0.4 Torr, and high frequency power of 150 W was applied to generate glow discharge. Open film formation was continued under these conditions for about 30 minutes, and the film thickness was 2 μm.
A blocking layer was formed. The photoconductive layer was formed under the same conditions as the first amorphous silicon layer 105 of Example 2, that is, Ar gas was 150% and 8 in.
2H6 gas was supplied at a flow m ratio of 3X10-s, the reaction pressure was 0.4 Torr, and a high frequency power of 100 W was applied to generate about 5
The film formation is continued intermittently to form a layer with a thickness of 15 μm. Furthermore,
Supply N2 gas at 500% of the SiH+ gas flow rate,
A reaction pressure of 0.7 Torr and a high frequency power of 300 W were applied, and film formation was continued for about 5 minutes to form a surface protective layer of 0.1 μm.

以上のように形成した実施例4と比較例2との電子写真
感光体について、比較実験をした。各電子写真感光体に
6.5KV(キロボルト)の電圧を印加したところ、実
施例4の表面電位は550■、15秒の保持率は60%
であった。一方、比較例2の表面電位は400V、保持
率は30%、であった。
A comparative experiment was conducted on the electrophotographic photoreceptors of Example 4 and Comparative Example 2 formed as described above. When a voltage of 6.5 KV (kilovolts) was applied to each electrophotographic photoreceptor, the surface potential of Example 4 was 550 ■, and the retention rate for 15 seconds was 60%.
Met. On the other hand, the surface potential of Comparative Example 2 was 400 V, and the retention rate was 30%.

光の波長による感度を測定したところ、前述した第4図
に示す様に、実施例1の場合と同様の結果が得られた。
When the sensitivity according to the wavelength of light was measured, the same results as in Example 1 were obtained, as shown in FIG. 4 described above.

更に、実施例4、比較例2による電子写真感光体を夫々
複写機及びレーザプリンタに用いたところ、実施例1の
場合と同様な結果が得られた。即ち、比較例では、画像
にカブリや干渉縞が生じたが、実施例4による感光体で
は画像欠陥が無く、良好な画像を得ることができた。更
に、10万枚の連続使用試験をした結果、実施例4では
画像に異常や変化をきたさなかったが、比較例4では約
2万枚から画像流れを生じ始めた。
Furthermore, when the electrophotographic photoreceptors of Example 4 and Comparative Example 2 were used in a copying machine and a laser printer, the same results as in Example 1 were obtained. That is, in the comparative example, fogging and interference fringes occurred in the image, but in the photoreceptor according to Example 4, there was no image defect and a good image could be obtained. Further, as a result of a continuous use test of 100,000 sheets, Example 4 did not cause any abnormality or change in the image, but Comparative Example 4 started to have image blurring after approximately 20,000 sheets.

叉m 前述の実施例4に於いて、μC−81層104の成膜時
に、SiH+ガス流量に対するCH4ガスの流山比を更
に0.3%供給した。他の層の成膜は実施例4と同様の
条件で成膜した。この実施例5の電子写真感光体に6.
5KVの電圧を印加したところ、実施例4より表面電位
が20%向上し、この実施例5による電子写真感光体を
実装置に用いた場合、実施例4よりも良好な画像を得る
ことができた。
叉m In the above-mentioned Example 4, when forming the μC-81 layer 104, the flow rate ratio of CH4 gas to the SiH+ gas flow rate was further supplied by 0.3%. The other layers were formed under the same conditions as in Example 4. 6. To the electrophotographic photoreceptor of Example 5.
When a voltage of 5 KV was applied, the surface potential was improved by 20% compared to Example 4, and when the electrophotographic photoreceptor of Example 5 was used in an actual device, a better image than that of Example 4 could be obtained. Ta.

寒1」1Σ 実施例4に於いて、μC−8i層104の成膜時に、S
 i H4ガス流量に対するN2ガスの流量比を1.5
%で供給した。他の層の成膜は実施例4と同様の条件で
成膜した。この実施例6の電子写真感光体に6.5KV
の電圧を印加したところ、実施例4より表面電位が25
%向上し、更に、実施例4より良好な画像を得ることが
できた。
In Example 4, when forming the μC-8i layer 104, S
i The flow rate ratio of N2 gas to H4 gas flow rate is 1.5
%. The other layers were formed under the same conditions as in Example 4. 6.5KV to the electrophotographic photoreceptor of Example 6
When a voltage of 25% was applied, the surface potential was found to be 25
%, and a better image than in Example 4 could be obtained.

! 実施例4に於いて、μc−s 1層104の成膜時に、
SiH4に対するB2 Hs 2の比を10−7で供給
した。他の層の成膜は実施例4と同様の条件で成膜した
。この実施例7の電子写真感光体によれば、実施例4よ
り長波長感度が15%向上し、この実施例7による電子
写真感光体を実装置に用いた場合、実施例4より良好な
画像を得ることができた。
! In Example 4, when forming the μc-s 1 layer 104,
A ratio of B2 Hs2 to SiH4 of 10-7 was provided. The other layers were formed under the same conditions as in Example 4. According to the electrophotographic photoreceptor of Example 7, the long wavelength sensitivity is improved by 15% than that of Example 4, and when the electrophotographic photoreceptor of Example 7 is used in an actual device, a better image than that of Example 4 can be obtained. I was able to get

実施例8 実施例4においてN2ガスの代わりにCH4ガスを供給
し、CH4を10%から300%まで変化させた。この
実施例8による電子写真感光体を実装置に用いた場合、
実施例4と同様に良好な画像を得ることができた。
Example 8 In Example 4, CH4 gas was supplied instead of N2 gas, and CH4 was varied from 10% to 300%. When the electrophotographic photoreceptor according to Example 8 is used in an actual device,
As in Example 4, a good image could be obtained.

支tti 実施例4において、第2のa−8i層106を形成する
場合に、S i H4ガス流量に対するN2ガスの流暢
比を、第5乃至第13図に示す様に、様々に変化させて
第2のa−8i層106を形成した。その他の点につい
ては実施例4と同じ条件で成膜し、窒素Nの添加1度を
その層厚方向に1度分布を形成した。この実施例9によ
る電子写真感光体を実装置に用いた場合、実施例4と同
様に良好な画像を得ることができた。
In Example 4, when forming the second a-8i layer 106, the flow ratio of N2 gas to the SiH4 gas flow rate was varied variously as shown in FIGS. 5 to 13. A second a-8i layer 106 was formed. For other points, the film was formed under the same conditions as in Example 4, and nitrogen N was added once to form a distribution in the layer thickness direction. When the electrophotographic photoreceptor according to Example 9 was used in an actual device, good images could be obtained as in Example 4.

LLLL釘 実施例8において、SiH+ガス流量に対するCH4ガ
スの流量比を、第5乃至第13図に示す様に、様々に変
化させて第2のa−3i層106を形成した。その他の
点については実施例4と同じ条件で成膜し、窒素Nの添
加濃度をその層厚方向に濃度勾配を形成した。この実施
例10による電子写真感光体を実装置に用いた場合、実
施例4と同様に良好な画像を得ることができた。
In LLLL Nail Example 8, the second a-3i layer 106 was formed by varying the flow rate ratio of CH4 gas to SiH+ gas flow rate as shown in FIGS. 5 to 13. The film was formed under the same conditions as in Example 4 in other respects, and a concentration gradient of nitrogen N was formed in the direction of the layer thickness. When the electrophotographic photoreceptor according to Example 10 was used in an actual device, good images could be obtained as in Example 4.

[発明の効果] この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光感度特性を有し
、製造が容易であり、実用性が高い電子写真感光体を得
ることができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, electrophotography has high resistance, excellent charging characteristics, high photosensitivity in the visible light and near-infrared light regions, is easy to manufacture, and has high practicality. A photoreceptor can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明に係′8N子写真感光体の製造装置を
示す図、第2図及び第3図はこの発明の実施例に係る電
子写真感光体を示す断面図、第4図は光の波長と感度と
の関係を示すグラフ図、第5乃至第13図は層を形成す
る場合の層厚とC,OlNのガス流量との関係を示すブ
ラフ図である。 1.2,3.4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8;混合器、9:反応容器、10;回転軸、1
3:電極、14;ドラム基体、15:ヒータ、16:高
周波電源、19:ゲートバルブ、101;支持体、10
2;ブロッキング層、103:光導電層、106;表面
層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図 第5図 第6図  第7図 第8図  第9図 第10図 第、1図 第12図 第13図 1、事件の表示 特願昭60−256067号 2、発明の名称 電子尊重感光体 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 5、自発−車圧 6、補正の対象            、、、、、、
7、補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙のとおり訂正する。 (2)明細書中、第8頁第11行目、第21頁第7行目
、第22頁第9行目に、それぞれ「第■族」とあるのを
「第V族」に訂正する。 (3)  明細書中、第9頁第6行目に、「種」とある
のを「主」に訂正する。 (4)明細書中、第23頁第20行目に、「緩衝縞」と
あるのを「干渉縞」に訂正する。 (5)明細書中、第24頁第19行目、第25頁第3行
目、第25員第12行目に、それぞれ「層圧」とあるの
を「層厚」に訂正する。 (6)明細書中、第22頁第19行目、第27頁第2行
目に、それぞれ「支持体」とあるのを「表面」に訂正す
る。 (力 明細書中、第40頁第4行目に、「ブラフ」とあ
るのを「グラフ」に訂正する。 2、特許請求の範囲 (1)導電性支持体と、この導電性支持(水上に形成さ
れたブロッキング層と、このブロッキング層の上に形成
された光導電層と、を有する電子写真感光体において、
前記ブロッキング層は、炭素、窒素及び酸素から選択さ
れた少なくとも一種の原子並びに周期律表第■族及び第
V族から選択された少なくとも一種の原子を含有し、前
記選択された原子の内少なくとも一種の原子が層厚方向
に不均一な濃度分布を形成しているマイクロクリスタリ
ンシリコンで形成され、前記光導電層は。 マイクロクリスタリンシリコン層と、第1のアモルファ
スシリコン層と、炭素、3累及び酸素から選択された少
なくとも一種の原子、を含有し、前記炭素、窒素及び酸
素から選択された少なくとも一種の原子が層厚方向に不
均一な濃度分布を形成しているW、2のアモルファスシ
リコン層との積層体から成ることを特徴とする電子写真
感光体。 (2)前記ブロッキング層に含有されている炭素、4(
素及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並びに
周期律表第■族及び第V族から選択された少なくとも一
種の原子の内少なくとも一種の原子の濃度分布は、導電
性支持体側の濃度が(3)前記光導電層は、導電性支持
体側から。 マイクロクリスタリンシリコン層と、第1のアモルファ
スシリコン層と、第2のアモルファスシリコン層との順
序で積層されていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項又は第2項に記載の電子写真感光体。 (4)前記光導電層は、導電性支持体側から。 第1のアモルファスシリコン層と、マイクロクリスタリ
ンシリコン層と、第2のアモルファスシリコン層との順
序で積層されていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項又は第2項に記載の電子写真感光体。 (5)前記光導電;ζうの第2のアモルファスシリコン
層に添加されている炭素、窒素及び酸素から選択された
少なくとも一種の原子の濃度は、導電性支持体側の濃度
が低く形成されていることを特徴とする特許請求の範囲
第3項又は第4項に記載の電子写真感光体。 (6)前記光導電層の前記各層は1周期律表の第■族又
は第V族に属する原子から選択された少なくとも一種の
原子を含有することを特徴とする特許請求の範囲第1項
乃至第5項のいずれか一項に記載の電子写真感光体。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing an 8N photographic photoreceptor according to the present invention, FIGS. 2 and 3 are cross-sectional views showing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the invention, and FIG. 5 to 13 are graphs showing the relationship between the layer thickness and the C and OIN gas flow rates when forming layers. 1.2, 3.4; cylinder, 5; pressure gauge, 6; valve, 7
; Piping, 8; Mixer, 9: Reaction container, 10; Rotating shaft, 1
3: electrode, 14; drum base, 15: heater, 16: high frequency power supply, 19: gate valve, 101; support, 10
2: blocking layer, 103: photoconductive layer, 106: surface layer. Applicant's Representative Patent Attorney Takehiko Suzue Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8 Figure 9 Figure 10 Figure 1 Figure 12 Figure 13 Figure 1 Display of the case Patent Application No. 60-256067 2, Name of the invention Electronic photoreceptor 3, Relationship with the case of the person making the amendment Patent applicant 5, Spontaneous - Vehicle pressure 6, Subject of the amendment .
7. Contents of amendment (1) The scope of claims is amended as shown in the attached sheet. (2) In the specification, "Group ■" is corrected to "Group V" on page 8, line 11, page 21, line 7, and page 22, line 9, respectively. . (3) In the specification, on page 9, line 6, the word "species" is corrected to "main". (4) In the specification, on page 23, line 20, "buffer fringes" is corrected to "interference fringes." (5) In the specification, "layer pressure" is corrected to "layer thickness" on page 24, line 19, page 25, line 3, and member 25, line 12, respectively. (6) In the specification, on page 22, line 19, and page 27, line 2, the words "support" are corrected to "surface." (In the specification, on page 40, line 4, the word "bluff" is corrected to "graph.") 2. Claims (1) An electrically conductive support, In an electrophotographic photoreceptor, the electrophotographic photoreceptor has a blocking layer formed on the blocking layer and a photoconductive layer formed on the blocking layer,
The blocking layer contains at least one type of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen, and at least one type of atom selected from Groups IV and V of the periodic table, and at least one of the selected atoms The photoconductive layer is made of microcrystalline silicon in which atoms form a non-uniform concentration distribution in the layer thickness direction. a microcrystalline silicon layer, a first amorphous silicon layer, and at least one kind of atom selected from carbon, triad, and oxygen; the at least one kind of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen has a layer thickness; An electrophotographic photoreceptor comprising a laminate of W and two amorphous silicon layers forming a non-uniform concentration distribution in the direction. (2) Carbon contained in the blocking layer, 4(
The concentration distribution of at least one atom selected from element and oxygen, and at least one atom selected from Groups I and V of the Periodic Table, is such that the concentration on the conductive support side is (3 ) The photoconductive layer is applied from the conductive support side. The electrophotographic photosensitive material according to claim 1 or 2, characterized in that a microcrystalline silicon layer, a first amorphous silicon layer, and a second amorphous silicon layer are laminated in this order. body. (4) The photoconductive layer is applied from the conductive support side. The electrophotographic photosensitive material according to claim 1 or 2, characterized in that the first amorphous silicon layer, the microcrystalline silicon layer, and the second amorphous silicon layer are laminated in this order. body. (5) The concentration of at least one type of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen added to the second amorphous silicon layer of the photoconductive layer is formed such that the concentration on the conductive support side is low. An electrophotographic photoreceptor according to claim 3 or 4, characterized in that: (6) Each layer of the photoconductive layer contains at least one type of atom selected from atoms belonging to Group 1 or Group V of the Periodic Table. The electrophotographic photoreceptor according to any one of Item 5.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性支持体と、この導電性支持体上に形成され
たブロッキング層と、このブロッキング層の上に形成さ
れた光導電層と、を有する電子写真感光体において、前
記ブロッキング層は、炭素、窒素及び酸素から選択され
た少なくとも一種の原子並びに周期律表第III族及び第
IV族から選択された少なくとも一種の原子を含有し、前
記選択された原子の内少なくとも一種の原子が層厚方向
に不均一な濃度分布を形成しているマイクロクリスタリ
ンシリコンで形成され、前記光導電層は、マイクロクリ
スタリンシリコン層と、第1のアモルファスシリコン層
と、炭素、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種
の原子を含有し、前記炭素、窒素及び酸素から選択され
た少なくとも一種の原子が層厚方向に不均一な濃度分布
を形成している第2のアモルファスシリコン層との積層
体から成ることを特徴とする電子写真感光体。
(1) In an electrophotographic photoreceptor having a conductive support, a blocking layer formed on the conductive support, and a photoconductive layer formed on the blocking layer, the blocking layer comprises: At least one atom selected from carbon, nitrogen and oxygen, and Group III and Group III of the periodic table.
The photoconductive material is formed of microcrystalline silicon containing at least one type of atom selected from Group IV, and at least one of the selected atoms forms a non-uniform concentration distribution in the layer thickness direction. The layer includes a microcrystalline silicon layer, a first amorphous silicon layer, and at least one type of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen, and the at least one type of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen is in the layer. An electrophotographic photoreceptor comprising a laminate including a second amorphous silicon layer forming a non-uniform concentration distribution in the thickness direction.
(2)前記ブロッキング層に含有されている炭素、窒素
及び酸素から選択された少なくとも一種の原子並びに周
期律表第III族及び第IV族から選択された少なくとも一
種の原子の内少なくとも一種の原子の濃度分布は、導電
性支持体側の濃度が高く形成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第2項又は第3項に記載の電子写真感
光体。
(2) At least one atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen and at least one atom selected from Groups III and IV of the Periodic Table contained in the blocking layer. The electrophotographic photoreceptor according to claim 2 or 3, wherein the concentration distribution is such that the concentration on the conductive support side is higher.
(3)前記光導電層は、導電性支持体側から、マイクロ
クリスタリンシリコン層と、第1のアモルファスシリコ
ン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で積層
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は
第2項に記載の電子写真感光体。
(3) A patent claim characterized in that the photoconductive layer is laminated in the order of a microcrystalline silicon layer, a first amorphous silicon layer, and a second amorphous silicon layer from the conductive support side. The electrophotographic photoreceptor according to item 1 or 2.
(4)前記光導電層は、導電性支持体側から、第1のア
モルファスシリコン層と、マイクロクリスタリンシリコ
ン層と、第2のアモルファスシリコン層との順序で積層
されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は
第2項にに記載の電子写真感光体。
(4) A patent claim characterized in that the photoconductive layer is laminated in the order of a first amorphous silicon layer, a microcrystalline silicon layer, and a second amorphous silicon layer from the conductive support side. The electrophotographic photoreceptor according to item 1 or 2.
(5)前記光導電層の第2のアモルファスシリコン層に
添加されている炭素、窒素及び酸素から選択された少な
くとも一種の原子の濃度は、導電性支持体側の濃度が低
く形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第3
項又は第4項に記載の電子写真感光体。
(5) The concentration of at least one type of atom selected from carbon, nitrogen, and oxygen added to the second amorphous silicon layer of the photoconductive layer is such that the concentration on the conductive support side is low. Characteristic Claim No. 3
The electrophotographic photoreceptor according to item 1 or 4.
(6)前記光導電層の前記各層は、周期律表の第III族
又は第V族に属する原子から選択された少なくとも一種
の原子を含有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項乃至第5項のいずれか一項に記載の電子写真感光体。
(6) Each layer of the photoconductive layer contains at least one type of atom selected from atoms belonging to Group III or Group V of the periodic table.
The electrophotographic photoreceptor according to any one of Items 1 to 5.
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