JPS6292965A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

Info

Publication number
JPS6292965A
JPS6292965A JP23310485A JP23310485A JPS6292965A JP S6292965 A JPS6292965 A JP S6292965A JP 23310485 A JP23310485 A JP 23310485A JP 23310485 A JP23310485 A JP 23310485A JP S6292965 A JPS6292965 A JP S6292965A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrophotographic photoreceptor
charge transfer
charge generation
charge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23310485A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP23310485A priority Critical patent/JPS6292965A/en
Publication of JPS6292965A publication Critical patent/JPS6292965A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08221Silicon-based comprising one or two silicon based layers
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain the titled body having an excellent electrostatic chargeability, a low residual potential, a high sensitivity, a good sticking property for a substrate and an excellent antienvironment by laminating an electrostatic charge transfer layer comprising a fine crystalline of Si contg. at least one kind of elements selected among C, N and O, and an electrostatic charge generating layer contg. a-Si in a prescribed thickness of the layers in order on a conductive substrate. CONSTITUTION:The electrostatic charge transfer layer 23 which contains a microcrystalline (muC)Si contg. at least one kind of element selected among C, N and O and has 3-80mum a thickness is formed on the conductive substrate. The electrostatic charge generating layer which contains a-Si and has 1-10mum a thickness is formed on said electrostatic charge generating layer 23. The barrier layer 22 contg. muC-Si or a-Si (contg. C, O, N) is preferably inserted between the substrate 21 and the layer 23. The substrate layer 25 is preferably formed on the layer 24. And the muC-Si contains preferably 0.1-30atom% H. Thus, the titled body having the improved photoconductive characteristics is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、帯電特性、光感度特性及び耐環境性等が優
れた電子写真感光体に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having excellent charging characteristics, photosensitivity characteristics, environmental resistance, and the like.

[従来の技術及びその問題点] 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO,Se、5e−Te若しくはアモルフ
ァスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(T
NF)等の有機材料が使用されている。しかしながら、
これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性上
、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システムの
特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材
料を使い分けている。
[Prior art and its problems] Conventionally, as materials for forming the photoconductive layer of an electrophotographic photoreceptor, inorganic materials such as CdS, ZnO, Se, 5e-Te, or amorphous silicon, or poly-N-vinylcarbazole (PVCz) have been used. ) or trinitrofluorene (T
Organic materials such as NF) are used. however,
These conventional photoconductive materials have various problems in terms of photoconductive properties or manufacturing, and these materials are used depending on the purpose of use, sacrificing the properties of the photoreceptor system to some extent.

例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−7e系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残留電位等に
より光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短い
ので実用性が低い。
For example, Se and CdS are materials that are harmful to the human body, and special consideration must be given to safety measures when manufacturing them. Therefore, there are problems in that the manufacturing equipment becomes complicated and the manufacturing cost is high, and in particular, Se needs to be recovered, which adds to the recovery cost. Also,
In Se or 5e-7e system, the crystallization temperature is 65℃
Therefore, during repeated copying, problems arise in the photoconductive properties due to residual potential, and therefore, the service life is short and the practicality of the photoconductor is low.

更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
Furthermore, ZnO is susceptible to oxidation-reduction and is significantly affected by the environmental atmosphere, resulting in a problem of low reliability in use.

更にまた、pvcz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
Furthermore, organic photoconductive materials such as pvcz and TNF are suspected carcinogens and present human health concerns, and organic materials have poor thermal stability and abrasion resistance. , has the disadvantage of short lifespan.

一方、アモルファスシリコン(以下、a−3iと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太陽
電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応用が
活発になされている。このa−8iの応用の一環として
、a−8iを電子写真感光体の光導電性材料として使用
する試みがなされており、a−3iを使用した感光体は
、無公害の材料であるから回収処理の必要がないこと、
他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を有するこ
と、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れている
こと等の利点を有する。
On the other hand, amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-3i)
has recently attracted attention as a photoconductive conversion material, and is being actively applied to solar cells, thin film transistors, and image sensors. As part of this application of a-8i, attempts have been made to use a-8i as a photoconductive material for electrophotographic photoreceptors, and photoreceptors using a-3i are recycled because they are non-polluting materials. No processing required;
Compared to other materials, it has advantages such as high spectral sensitivity in the visible light region, high surface hardness, and excellent wear resistance and impact resistance.

このa−3iは、カールソン方式に基づく電子写真法に
適用されうる感光体として検討が進められているが、こ
の場合に、感光体特性として抵抗及び光感度が高いこと
が要求される、しかしながら、この両特性を単一層の感
光体で満足させることが困難であるため、光導電層と導
電性支持体との間に障壁層を設け、光導電層上に表面電
荷保持層を設けた積層型の構造にすることにより、この
ような要求を満足させている。
This a-3i is being studied as a photoreceptor that can be applied to electrophotography based on the Carlson method, but in this case, the photoreceptor characteristics are required to be high in resistance and photosensitivity. Since it is difficult to satisfy both of these characteristics with a single-layer photoreceptor, a multilayer type is used in which a barrier layer is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a surface charge retention layer is provided on the photoconductive layer. This structure satisfies these requirements.

ところで、a−3iは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
8i膜中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気的
及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a”−8il
llに侵入する水素の徂が多くなると、光学的バンドギ
ャップが大きくなり、a−8iの抵抗が高くなるが、そ
れにともない、長波長光に対する光感度が低下してしま
うので、例えば、半導体レーザを搭載したレーザご−ム
プリンタに使用することが困難である。また、a−3i
膜中の水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって、
(SiH2)n及び5iHz等の結合構造を有するもの
が膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうすると
、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増加
するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体として
使用不能になる。逆に、a−3i中に侵入する水素の市
が低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、そ
の抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増加
する。しかし、水素含有徂が少ないと、シリコンダング
リングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が少
なくなる。このため、発生するキャリアの移動度が低下
し、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してしま
い、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
By the way, a-3i is usually formed by a glow discharge decomposition method using silane gas, but at this time, a-3i is
Hydrogen is incorporated into the 8i film, and the electrical and optical characteristics vary greatly due to the difference in the amount of hydrogen. That is, a”-8il
As more hydrogen enters the ll, the optical bandgap becomes larger and the resistance of a-8i becomes higher, but this also reduces the photosensitivity to long wavelength light. It is difficult to use it with the installed laser beam printer. Also, a-3i
If the hydrogen content in the film is high, depending on the film forming conditions,
(SiH2)n and those having a bonding structure such as 5iHz may occupy most of the area in the film. In this case, voids increase and silicon dangling bonds increase, resulting in deterioration of photoconductive properties and rendering the material unusable as an electrophotographic photoreceptor. Conversely, when the amount of hydrogen penetrating into a-3i is reduced, the optical bandgap becomes smaller and its resistance decreases, but the photosensitivity to longer wavelength light increases. However, when the hydrogen content is small, there is less hydrogen to combine with and reduce silicon dangling bonds. For this reason, the mobility of the generated carriers is reduced, the life span is shortened, and the photoconductive properties are deteriorated, making it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.

なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH+とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH4
とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構造
欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。
In addition, as a technique to increase the sensitivity to long wavelength light, there is a method of mixing silane-based gas and germane GeH+ and generating a film with a narrow optical band gap by glow discharge decomposition, but in general, silane-based gas and GeH4
Since the optimum substrate temperature is different between the two methods, the produced film has many structural defects and cannot obtain good photoconductive properties.

また、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなる
ので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような技
術は実用性がない。
Further, waste gas treatment of GeH4 is complicated because it becomes a toxic gas when oxidized. Therefore, such technology is not practical.

この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。
This invention was made in view of the above circumstances, and has excellent charging ability, low residual potential, high sensitivity over a wide wavelength range up to the near infrared region, and good adhesion to the substrate. An object of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor having good environmental resistance.

[問題点を解決するための手段] この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、電
荷発生層と、この電荷発生層と導電性支持体との間に形
成された電荷移IIJ層と、を有する電子写真感光体に
おいて、前記電荷発生層は、アモルファスシリコンで形
成され1乃至10μmの層厚を有し、前記電荷移動層は
、炭素、窒素及び酸素から選択された少なくとも一種の
元素を含有するマイクロクリスタリンシリコンで形成さ
れ3乃至80μmの層厚を有することを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] The electrophotographic photoreceptor according to the present invention includes a conductive support, a charge generation layer, and a charge transfer layer IIJ formed between the charge generation layer and the conductive support. In the electrophotographic photoreceptor having a layer, the charge generation layer is made of amorphous silicon and has a layer thickness of 1 to 10 μm, and the charge transfer layer is made of at least one kind selected from carbon, nitrogen, and oxygen. It is characterized by being formed of microcrystalline silicon containing elements and having a layer thickness of 3 to 80 μm.

この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を
重ねた結果、マイクロクリスタリンシリコン(以下、μ
c−3iと略す)を電子写真感光体の少なくとも一部に
使用することにより、この目的を達成することができる
ことに想到して、この発明を完成させたものである。
The present invention was achieved by the inventors of the present invention, who have conducted various experimental studies in order to overcome the drawbacks of the prior art described above and to develop an electrophotographic photoreceptor that has both excellent photoconductive properties (electrophotographic properties) and environmental resistance. As a result, microcrystalline silicon (hereinafter referred to as μ
The present invention was completed based on the idea that this object could be achieved by using a photoreceptor (abbreviated as c-3i) for at least a portion of an electrophotographic photoreceptor.

以下、この発明について具体的に説明する。この発明の
特徴は、従来のa−8iの替りにμC−3iを使用した
ことにある。つまり、電子写真感光体の全ての領域又は
一部の領域がマイクロクリスタリンシリコン(μc−8
i)で形成されているか、マイクロクリスタリンシリコ
ンとアモルファスシリコン(a−8i)との混合体で形
成されているか、又はマイクロクリスタリンシリコンと
アモルファスシリコンとの積層体で形成されている。ま
た、機能分離型の電子写真感光体においては、少なくと
も電荷移動層にμc−3iを使用している。
This invention will be explained in detail below. The feature of this invention is that μC-3i is used instead of the conventional a-8i. In other words, all or a part of the electrophotographic photoreceptor is covered with microcrystalline silicon (μc-8
i), a mixture of microcrystalline silicon and amorphous silicon (a-8i), or a laminate of microcrystalline silicon and amorphous silicon. Further, in a functionally separated type electrophotographic photoreceptor, μc-3i is used at least in the charge transfer layer.

電子写真感光体としては、導電性支持体の上に障壁層を
形成し、この障壁層の上に光導N層を形成し、この光導
電層の上に表面層を形成したものもあるが、この発明は
、支持体の上に電荷移動層(CTL)を形成し、電荷移
動層の上に電荷発生層(CGL)を形成した機能分離型
の電子写真感光体に関する。この場合に、電荷移動層と
、支持体との間に、障壁層を設けてもよい。
Some electrophotographic photoreceptors have a barrier layer formed on a conductive support, a photoconductive N layer formed on this barrier layer, and a surface layer formed on this photoconductive layer. The present invention relates to a functionally separated electrophotographic photoreceptor in which a charge transfer layer (CTL) is formed on a support and a charge generation layer (CGL) is formed on the charge transfer layer. In this case, a barrier layer may be provided between the charge transfer layer and the support.

この出願に係る発明の特徴は、電荷移#J層が。The invention according to this application is characterized by a charge transfer #J layer.

その層厚が3乃至80μmであって、C,O,Nから選
択された少なくとも一層の元素を含有するμc−3iで
形成されており、電荷発生層が、そのH厚が1乃至10
μmであって、a−3iで形成されていることにある。
The charge generation layer has a layer thickness of 3 to 80 μm and is formed of μc-3i containing at least one element selected from C, O, and N, and the charge generation layer has an H thickness of 1 to 10 μm.
μm and is made of a-3i.

電荷発生層は、光の照射によりキャリアを発生する。電
荷発生層の層厚は、1乃至10μmである。電荷発生層
の層厚が10μmを超えると、成膜に長時間を必要とし
、また、層が剥離しやすくなる。一方、電荷発生層の層
厚が1μm未満であると、キャリアの発生効率が低い。
The charge generation layer generates carriers upon irradiation with light. The layer thickness of the charge generation layer is 1 to 10 μm. When the thickness of the charge generation layer exceeds 10 μm, a long time is required for film formation, and the layer is likely to peel off. On the other hand, when the thickness of the charge generation layer is less than 1 μm, carrier generation efficiency is low.

以上のような理由から、電荷発生層24の層厚を1乃至
10μmにし、更に好ましくは、Rfgは4乃至8μm
にする。電荷移動層は電荷発生層で発生したキャリアを
高効率で支持体側に到達させる層であり、このため、キ
ャリアの寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いこと
が必要である。電荷移動層はμc−3iで形成されてい
る。暗抵抗を高めて帯電能を向上させるために、周期律
表の第■族又は第V族のいずれか一方に属する元素をラ
イトドーピングすることが好ましい。
For the above reasons, the layer thickness of the charge generation layer 24 is set to 1 to 10 μm, and more preferably, Rfg is set to 4 to 8 μm.
Make it. The charge transfer layer is a layer that allows carriers generated in the charge generation layer to reach the support side with high efficiency, and therefore, the carriers need to have a long life, high mobility, and high transportability. The charge transfer layer is made of μc-3i. In order to increase dark resistance and improve chargeability, it is preferable to light-dope with an element belonging to either Group Ⅰ or Group V of the periodic table.

また、帯電能を一層向上させ、電荷移動層と電荷発生層
との両機能を持たせるために、C,N、0の元素のうち
、いずれか1種以上を含有させてもよい。電荷移動層は
、その層厚が薄過ぎる場合及び厚過ぎる場合はその機能
を充分に発揮しない。
Furthermore, in order to further improve the charging ability and to have the functions of both a charge transfer layer and a charge generation layer, one or more of the elements C, N, and 0 may be contained. If the charge transport layer is too thin or too thick, it will not function satisfactorily.

つまり、電荷移動層の帯電能を高く維持するためには、
層厚を厚くすることが必要である一方、電荷移動層が厚
すぎると、キャリアが走行しにくくなり、キャリアが支
持体まで到達することが困難になる。このため、電荷移
動層の厚さは3乃至80μmであることが必要である。
In other words, in order to maintain a high charging ability of the charge transfer layer,
While it is necessary to increase the layer thickness, if the charge transport layer is too thick, it becomes difficult for carriers to travel, making it difficult for carriers to reach the support. Therefore, the thickness of the charge transport layer needs to be 3 to 80 μm.

この電荷移動層に周期律表第■族に属する元素をライト
ドープすることにより、その暗抵抗を高め、電荷保持1
能を間接的に高めることができる。また、電荷移動層に
、電荷のημで積が低下しない程度にC1○、Nを含有
させてもよい。μc−8iにC90゜Nをドーピングす
ることにより、可視光に対する感度を高めることができ
、その10%の添加でa−3iと同様の作用を期待する
ことができる。
By light-doping this charge transfer layer with an element belonging to Group Ⅰ of the periodic table, its dark resistance is increased and the charge retention is increased.
ability can be indirectly increased. Further, the charge transfer layer may contain C1◯ and N to the extent that the product with ημ of the charge does not decrease. By doping μc-8i with C90°N, the sensitivity to visible light can be increased, and by adding 10% of C90°N, the same effect as a-3i can be expected.

電荷移動層は、キャリアを捕獲するトラップ(状態密度
)が存在しないことが理想的である。このため、トラッ
プとなるシリコンダングリングボンドを除去するために
、微量のC,O,Nを電荷移vJ層に含有させることが
好ましい。このC,O。
Ideally, the charge transfer layer does not have traps (density of states) that trap carriers. Therefore, in order to remove silicon dangling bonds that serve as traps, it is preferable to include a trace amount of C, O, and N in the charge transfer vJ layer. This C,O.

Nの量は、キャリアの走行性を考慮すると、20原子%
以下であることが好ましい。
Considering carrier mobility, the amount of N is 20 atomic%.
It is preferable that it is below.

μc−5iは、以下のような物性上の特徴により、a−
5i及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−8iは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μc−8iは
、2θが28乃至28.5’付近にある結晶回折パター
ンを示す。また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が
106Ω・crnであるのに対し、μc−3iは101
LΩ・cIR以上の暗抵抗を有する。このμC−8iは
粒径が約数十オングストローム以上である微結晶が集合
して形成されている。
μc-5i is a-
5i and polycrystalline silicon (polycrystalline silicon)
clearly distinguished from That is, in X-ray diffraction measurement, since a-8i is amorphous, only a halo appears;
Although no diffraction pattern can be observed, μc-8i shows a crystal diffraction pattern with a 2θ of around 28 to 28.5′. In addition, the dark resistance of polycrystalline silicon is 106 Ω・crn, whereas the dark resistance of μc-3i is 101
It has a dark resistance of LΩ・cIR or more. This μC-8i is formed by agglomeration of microcrystals having a grain size of approximately several tens of angstroms or more.

μc−8iとa−8iとの混合体とは、μC−81の結
晶領域がa−8i中に混在していて、μc−8t及びa
−3iが同程度の体積比で存在するものをいう。また、
μc−3iとa−8iとの積層体とは、大部分がa−8
iからなる層と、μc−3iが充填された層とが積層さ
れているものをいう。
A mixture of μc-8i and a-8i is a mixture in which the crystalline region of μC-81 is mixed in a-8i, and μc-8t and a
-3i exists in a similar volume ratio. Also,
The laminate of μc-3i and a-8i is mostly a-8
A layer consisting of i and a layer filled with μc-3i are laminated.

このようなμc−3iを有する電子写真感光体は、a−
3iと同様に、高周波グロー放電分解法により、シラン
ガスを原料として、導電性支持体上にμc−3iを堆積
させることにより製造することができる。この場合に、
支持体の温度をa−81を形成する場合よりも高く設定
し、高周波電力もa−8iの場合よりも高く設定すると
、μC−3iを形成しやすくなる。また、支持体温度及
び高周波電力を高くすることにより、シランガスなどの
原料ガスの流量を増大させることができ、その結果、成
膜速度を早くすることができる。また、原料ガスのSi
H+及び5i2He等の高次のシランガスを水素で希釈
したガスを使用することにより、μc−3’iを一層高
効率で形成することができる。
An electrophotographic photoreceptor having such μc-3i has a-
Similarly to 3i, it can be produced by depositing μc-3i on a conductive support using silane gas as a raw material by a high frequency glow discharge decomposition method. In this case,
If the temperature of the support is set higher than in the case of forming a-81, and the high frequency power is also set higher than in the case of a-8i, it becomes easier to form μC-3i. Furthermore, by increasing the support temperature and high frequency power, the flow rate of source gas such as silane gas can be increased, and as a result, the film formation rate can be increased. In addition, Si of the raw material gas
By using a gas obtained by diluting a high-order silane gas such as H+ and 5i2He with hydrogen, μc-3'i can be formed with higher efficiency.

第1図は、この発明に係る電子写真感光体を製造する装
置を示す図である。ガスボンベ1,2゜3.4には、例
えば、夫々SiH+ 、 B21−1s 。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to the present invention. For example, the gas cylinders 1 and 2°3.4 contain SiH+ and B21-1s, respectively.

H2、CH4等の原料ガスが収容されている。これらの
ガスボンベ1.2,3.4内のガスは、流量調整用のバ
ルブ6及び配管7を介して混合器8に供給されるように
なっている。各ボンベには、圧力計5が設置されており
、この圧力計5を監視しつつ、バルブ6を調整すること
により、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合
比を調節することができる。混合器8にて混合されたガ
スは反応容器9に供給される。反応容器9の底部11に
は、回転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけ
られており、この回転軸10の上端に、円板状の支持台
12がその面を回転軸10に垂直にして固定されている
。反応容器9内には、円筒状の電極13がその軸中心を
回転軸10の軸中心と一致させて底部11上に設置され
ている。
Source gases such as H2 and CH4 are contained. The gas in these gas cylinders 1.2, 3.4 is supplied to a mixer 8 via a flow rate regulating valve 6 and piping 7. Each cylinder is equipped with a pressure gauge 5, and by monitoring the pressure gauge 5 and adjusting the valve 6, the flow rate and mixing ratio of each raw material gas supplied to the mixer 8 can be adjusted. can. The gases mixed in the mixer 8 are supplied to a reaction vessel 9. A rotating shaft 10 is attached to the bottom 11 of the reaction vessel 9 so as to be rotatable around the vertical direction, and a disk-shaped support 12 is attached to the upper end of the rotating shaft 10 with its surface perpendicular to the rotating shaft 10. It has been fixed. Inside the reaction vessel 9, a cylindrical electrode 13 is installed on the bottom 11 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10.

感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中心を
回転軸10の軸中心と一致させて載置され −でおり、
このドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒ
ータ15が配設されている。電極13とドラム基体14
との間には、高周波MiI!16が接続されており、電
極13及びドラム基体14間に高周波電流が供給される
ようになっている。回転軸10はモータ18により回転
駆動される。反応容器9内の圧力は、圧力計17により
監視され、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真
空ポンプ等の適宜の排気手段に連結されている。
A drum base 14 of a photoreceptor is placed on a support base 12 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10.
A heater 15 for heating the drum base is disposed inside the drum base 14. Electrode 13 and drum base 14
There is a high frequency MiI! 16 is connected so that a high frequency current is supplied between the electrode 13 and the drum base 14. The rotating shaft 10 is rotationally driven by a motor 18. The pressure inside the reaction vessel 9 is monitored by a pressure gauge 17, and the reaction vessel 9 is connected via a gate valve 18 to an appropriate evacuation means such as a vacuum pump.

このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(To r r )の圧力以下に排気する。次いで、ボ
ンベ1.2,3.4から所要の反応ガスを所定の混合比
で混合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応
容器9内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が
0.1乃至1トルになるように設定する。次いで、モー
タ18を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ
15によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源16により電極13とドラム基体14との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体14上にマイクロクリス
タリンシリコン(μC−8i )が堆積する。なお、原
料ガス中にN20.NH3、NO2、N2 、CH4゜
C2H4,02ガス等を使用することにより、これらの
元素をμc−3i中に含有させることができる。
When manufacturing a photoreceptor using an apparatus configured as described above, after installing the drum base 14 in the reaction vessel 9, the gate valve 19 is opened to increase the inside of the reaction vessel 9 to approximately 0.1 Torr. evacuate to below the pressure of r). Next, the required reaction gases from the cylinders 1.2 and 3.4 are mixed at a predetermined mixing ratio and introduced into the reaction vessel 9. In this case, the flow rate of the gas introduced into the reaction vessel 9 is set so that the pressure within the reaction vessel 9 is 0.1 to 1 Torr. Next, the motor 18 is operated to rotate the drum base 14, the heater 15 heats the drum base 14 to a constant temperature, and the high frequency power supply 16 supplies high frequency current between the electrode 13 and the drum base 14. A glow discharge is formed between the two. As a result, microcrystalline silicon (μC-8i) is deposited on the drum base 14. Note that N20. By using NH3, NO2, N2, CH4°C2H4,02 gas, etc., these elements can be contained in μc-3i.

このように、この発明に係る電子写真感光体は従来のa
−8iを使用したものと同様に、クローズドシステムの
製造装置で製造することができるため、人体に対して安
全である。また、この電子写真感光体は、耐熱性、耐湿
性及び耐摩耗性が優れているため、長期に亘り繰り返し
使用しても劣化が少なり、寿命が長いという利点がある
。ざらに、GeH+等の長波長増感用ガスが不要である
ので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産
性が著しく高い。
In this way, the electrophotographic photoreceptor according to the present invention has a conventional a
Similar to those using -8i, it can be manufactured using closed system manufacturing equipment, so it is safe for the human body. Further, since this electrophotographic photoreceptor has excellent heat resistance, moisture resistance, and abrasion resistance, there is little deterioration even after repeated use over a long period of time, and there is an advantage that it has a long life. Furthermore, since a long wavelength sensitizing gas such as GeH+ is not required, there is no need to provide waste gas treatment equipment, and industrial productivity is extremely high.

μc−3iには、水素を0.1乃至30原子%含有させ
ることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが調
和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μG−
3iの光学的エネルギギャップEaは、a−8iの光学
的エネルギギャップEa (1,65乃至1.70eV
)に比較して小さい。つまり、μc−3iの光学的エネ
ルギギャップは、μc−3i微結晶の結晶粒径及び結晶
化度により変化し、結晶粒径及び結晶化度の増加により
、その光学的エネルギギャップが低下して、結晶シリコ
ンの光学的エネルギギャップ1.1eVに近づく。とこ
ろで、μc−8i層及びa−3i11iは、この光学的
エネルギギャップよりも大きなエネルギの光を吸収し、
小ざなエネルギの光は透過する。このため、a−3iは
可視光エネルギしか吸収しないが、a−3iより光学的
エネルギギャップが小さなμc−8iは、可視光より長
波長であってエネルギが小さな近赤外光までも吸収する
ことができる。従って、μc−3iは広い波長領域に亘
って高い光感度を有する。
It is preferable that μc-3i contain 0.1 to 30 at % of hydrogen. As a result, the dark resistance and bright resistance become harmonious, and the photoconductive properties are improved. μG-
The optical energy gap Ea of 3i is equal to the optical energy gap Ea of a-8i (1,65 to 1.70 eV
) is small compared to In other words, the optical energy gap of μc-3i changes depending on the crystal grain size and crystallinity of the μc-3i microcrystal, and as the crystal grain size and crystallinity increase, the optical energy gap decreases. The optical energy gap approaches the 1.1 eV of crystalline silicon. By the way, the μc-8i layer and the a-3i11i absorb light with energy larger than this optical energy gap,
Light with small amounts of energy passes through it. Therefore, a-3i absorbs only visible light energy, but μc-8i, which has a smaller optical energy gap than a-3i, can also absorb near-infrared light, which has a longer wavelength and lower energy than visible light. I can do it. Therefore, μc-3i has high photosensitivity over a wide wavelength range.

このような特性を有するμc−3iは、半導体レーザを
光源に使用したレーザプリンタ用の感光体材料として好
適である。このa−3iをレーザプリンタ用の感光体に
使用すると、半導体レーザの光波長が790nmとa−
8iが高感度である波長領域より長いため、感光体感度
が不十分になり、このため、半導体レーザの能力以上の
レーザ強度を感光体に印加する必要があって、実用上問
題がある。一方、μC−8iで感光体を形成した場合に
は、その高感度領域が近赤外領域にまでのびているので
、光感度特性が極めて優れた半導体レーザプリンタ用の
感光体を得ることができる。
μc-3i having such characteristics is suitable as a photoreceptor material for a laser printer using a semiconductor laser as a light source. When this a-3i is used as a photoreceptor for a laser printer, the light wavelength of the semiconductor laser is 790 nm.
Since 8i is longer than the wavelength range in which it is highly sensitive, the sensitivity of the photoreceptor becomes insufficient, and therefore it is necessary to apply a laser intensity to the photoreceptor that exceeds the ability of the semiconductor laser, which poses a practical problem. On the other hand, when the photoreceptor is formed from μC-8i, its high sensitivity region extends to the near-infrared region, so that it is possible to obtain a photoreceptor for semiconductor laser printers with extremely excellent photosensitivity characteristics.

このような優れ・た光感度特性を有するμc−3iの光
導電特性を一層向上させるために、μc−3iに水素を
含有させることが好ましい。
In order to further improve the photoconductive properties of μc-3i, which has such excellent photosensitivity characteristics, it is preferable to incorporate hydrogen into μc-3i.

μc−8ililへの水素のドーピングは、例えば、グ
ロー放電分解法による場合は、S i H4及び5i2
Hs等のシラン系の原料ガスと、水素等のキャリアガス
とを反応容器内に導入してグロー放電させるか、S i
 F4及び5iCl+等のハロゲン化ケイ素と、水素ガ
スとの混合ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガ
スと、ハロゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよ
い。更に、グロー放電分解法によらず、スパッタリング
等の物理的な方法によってもμc−3i層を形成するこ
とができる。
For example, in the case of doping μc-8ilil with hydrogen by the glow discharge decomposition method, S i H4 and 5i2
Either a silane-based source gas such as Hs and a carrier gas such as hydrogen are introduced into the reaction vessel to cause glow discharge, or Si
A mixed gas of silicon halide such as F4 and 5iCl+ and hydrogen gas may be used, or a mixed gas of silane-based gas and silicon halide may be used. Furthermore, the μc-3i layer can also be formed by a physical method such as sputtering instead of the glow discharge decomposition method.

電荷移動層は、実質的に全ての領域をμC−81で形成
してもよいし、a−3iとμc−3iとの混合体又は積
層体で形成してもよい。帯電能は、積層体の方が高く、
光感度は、その体積比にもよるが、赤外領域の長波長領
域では混合体の方が高く、可視光領域では両者はほとん
ど同一である。このため、感光体の用途により、実質的
に全ての領域をμc−8iにするか、又は混合体若しく
は積層体で構成すればよい。
Substantially the entire region of the charge transfer layer may be formed of μC-81, or may be formed of a mixture or a laminate of a-3i and μc-3i. The charging ability is higher in the laminate,
Although the photosensitivity depends on the volume ratio, the mixture is higher in the long wavelength region of the infrared region, and the two are almost the same in the visible light region. Therefore, depending on the use of the photoreceptor, substantially all the regions may be made of μc-8i, or may be made of a mixture or a laminate.

μc−3iに、窒素N、炭素C及び酸素Oから選択され
た少なくとも1種の元素をドーピングすることが好まし
い。これにより、μc−3iの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
Preferably, μc-3i is doped with at least one element selected from nitrogen N, carbon C, and oxygen O. Thereby, the dark resistance of μc-3i can be increased and the photoconductive properties can be improved.

これらの元素はμc−3iの粒界に析出し、またシリコ
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制帯中に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。
These elements precipitate at the grain boundaries of μc-3i and act as terminators of silicon dangling bonds,
It is thought that the density of states existing in the forbidden band between bands is reduced, thereby increasing the dark resistance.

μc−8i自体は、若干、n型であるが、主としてこの
μc−3iからなる電荷移動層に周期律表の第1族に屈
する元素をライトドープ(10−7乃至10−3原子%
)することにより、電荷移動層は、i型(真性)半導体
になり、暗抵抗が高くなり、SN比と帯電能が向上する
μc-8i itself is somewhat n-type, but the charge transfer layer mainly made of μc-3i is lightly doped with elements belonging to Group 1 of the periodic table (10-7 to 10-3 atomic %).
), the charge transfer layer becomes an i-type (intrinsic) semiconductor, has a high dark resistance, and improves the S/N ratio and charging ability.

導電性支持体と電荷移動層との間に、障壁層を配設する
ことが好ましい。この障壁層は、導電性支持体から電荷
移動層への電荷の流れを抑制することにより、電子写真
感光体の表面における電荷の保持機能を高め、その帯電
能を高める。カールソン方式においては、感光体表面に
正帯電させる場合には、支持体側から電荷移動層へ電子
が注入されることを防止するために、障壁層をn型にす
る。一方、感光体表面に負帯電させる場合には、支持体
側から電荷移動層へ正孔が注入されることを防止するた
めに、障壁層をn型にする。また、障壁層として、絶縁
性の膜を支持体の上に形成することも可能である。障壁
層はμc−8iを使用して形成してもよいし、a−8i
を使用して障壁層を構成することも可能である。
Preferably, a barrier layer is provided between the conductive support and the charge transport layer. This barrier layer suppresses the flow of charges from the conductive support to the charge transfer layer, thereby enhancing the charge retention function on the surface of the electrophotographic photoreceptor and increasing its charging ability. In the Carlson method, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the barrier layer is made n-type in order to prevent electrons from being injected from the support side to the charge transfer layer. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged, the barrier layer is made n-type in order to prevent holes from being injected from the support side to the charge transfer layer. It is also possible to form an insulating film on the support as a barrier layer. The barrier layer may be formed using μc-8i or a-8i
It is also possible to construct the barrier layer using .

μc−8i及びa−3iをn型にするためには、周期律
表の第1族に属する元素、例えば、ホウ素B、アルミニ
ウムAI、ガリウムQa、インジウムln、及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μc−3i
111をn型にするためには、周期律表の第V族に属す
る元素、例えば、窒素N、リンP、ヒ素AS、アンチモ
ンsb、及びビスマスBI等をドーピングすることが好
ましい。
In order to make μc-8i and a-3i n-type, it is necessary to dope them with elements belonging to Group 1 of the periodic table, such as boron B, aluminum AI, gallium Qa, indium ln, and thallium T1. Preferably, μc-3i
In order to make 111 an n-type, it is preferable to dope it with an element belonging to Group V of the periodic table, such as nitrogen N, phosphorus P, arsenic AS, antimony sb, and bismuth BI.

このn型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側からN荷移動層へ電荷が移動することが防止され
る。
Doping with this n-type impurity or n-type impurity prevents charges from moving from the support side to the N transport layer.

また、バンドギャップを拡げることにより、障壁層を形
成することもできる。これは、μC−8i又はa−3i
にC,O,Nを含有させればよい。このC9○、Nを含
有するμc4s i又はa−8iに周期律表の第1族又
は第V族に属する元素をドーピングすることによって、
そのブロッキング能を一百高めることができる。更に、
C,O。
Furthermore, a barrier layer can also be formed by widening the band gap. This is μC-8i or a-3i
What is necessary is to contain C, O, and N. By doping this C9○, N-containing μc4s i or a-8i with an element belonging to Group 1 or Group V of the periodic table,
Its blocking ability can be increased by 100. Furthermore,
C.O.

Nを含有するμc−3i層又はa−8i層と、周期律表
の第1族又は第V族に属する元素を含有するμc−8i
層又はa−3i層とを積層させることによっても、帯電
能および電荷保持能が高い障壁層を得ることができる。
A μc-3i layer or a-8i layer containing N and a μc-8i layer containing an element belonging to Group 1 or Group V of the periodic table.
A barrier layer with high charging ability and charge retention ability can also be obtained by stacking a layer or an a-3i layer.

障壁層の層厚は、0.01乃至101.tmであること
が好ましい。
The layer thickness of the barrier layer is 0.01 to 101. It is preferable that it is tm.

電荷発生層の上に表面層を設けることが好ましい。電荷
発生層のa−3iは、その屈折率が3乃至4と比較的大
きいため、表面での光反射が起きやすい。このような光
反射が生じると、光導電層に吸収される元型の割合いが
低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層を設け
て反射を防止することが好ましい。また、表面層を設け
ることにより、電荷発生層が損lから保護される。ざら
に、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、表
面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成する材料
としては、513N4.5102、SiC,A120a
、a−8iN:H。
Preferably, a surface layer is provided on the charge generation layer. Since the charge generation layer a-3i has a relatively large refractive index of 3 to 4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of the prototype absorbed by the photoconductive layer decreases, resulting in increased optical loss. For this reason, it is preferable to provide a surface layer to prevent reflection. Further, by providing the surface layer, the charge generation layer is protected from loss. In general, by forming a surface layer, the charging ability is improved, and the charge is more easily deposited on the surface. Materials forming the surface layer include 513N4.5102, SiC, A120a.
, a-8iN:H.

a−8iO:H,及びa−3i C; H等の無樫化合
物及びポリ塩化ビニル及びポリアミド等の有機材料があ
る。
There are amorphous compounds such as a-8iO:H, and a-3iC;H, and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.

[実施例] 以下、添附の図面を参照してこの発明の実施例について
説明する。第2図乃至第5図は、この発明を具体化した
電子写真感光体の断面図であり、第2図においては、ア
ルミニウム製導電性支持体21上に、電荷移動層23が
形成され、電荷移動層23の上に電荷発生層24が形成
されている。
[Embodiments] Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. 2 to 5 are cross-sectional views of an electrophotographic photoreceptor embodying the present invention. In FIG. 2, a charge transfer layer 23 is formed on an aluminum conductive support 21, and a charge transfer layer 23 is formed on an aluminum conductive support 21. A charge generation layer 24 is formed on the transfer layer 23.

一方、第3図においては、電荷発生層24の上に更に表
面層25が形成されている。電荷発生層24はa−3i
からなり、電荷移動層23は、その少なくとも一部がμ
c−8iで形成されている。
On the other hand, in FIG. 3, a surface layer 25 is further formed on the charge generation layer 24. The charge generation layer 24 is a-3i
The charge transfer layer 23 has at least a portion of μ
It is made of c-8i.

また、第4図及び第5図においては、電荷移動層23と
導電性支持体21との間に障壁層22が形成されている
Further, in FIGS. 4 and 5, a barrier layer 22 is formed between the charge transfer layer 23 and the conductive support 21. In FIG.

電子写真感光体に入射する光は、その可視光成分がa−
8iで形成された電荷発生層にて吸収され、キャリアを
発生する。一方、長波長成分(近赤外光)は、電荷発生
層24を透過して電荷移動層23に到達し、電荷移動層
23にて吸収される。
The visible light component of the light incident on the electrophotographic photoreceptor is a-
The carriers are absorbed by the charge generation layer formed with 8i and generate carriers. On the other hand, the long wavelength component (near infrared light) passes through the charge generation layer 24, reaches the charge transfer layer 23, and is absorbed by the charge transfer layer 23.

電荷移動層23が、主として、μc−8iで形成されて
いるることにより、μc−8iが赤外領域にて高光吸収
度を有しているため、感光体を可視光領域から近赤外領
IJl!(例えば、半導体レーザの発振波長である79
0nm付近)まで、高感度化することができる。
Since the charge transfer layer 23 is mainly formed of μc-8i, μc-8i has high light absorption in the infrared region, and therefore the photoreceptor can be moved from the visible light region to the near-infrared region. IJl! (For example, 79 which is the oscillation wavelength of a semiconductor laser
Sensitivity can be increased to about 0 nm).

第3図に示すように、電荷発生層24の上に、表面層2
5を形成した光導電性部材においては、この表面層25
が、C,O,Nのうら、少なくとも1種以上の元素を含
有するa−3i (a−8iC:H,a−8iO:H,a−3iN:H,
a−8i’CN : H等)で形成されている。これに
より、光導電層の表面が保護され、耐環境性及び帯電能
が向上する。このC2○、Nの含有量は、10乃至50
原子%であることが好ましい。
As shown in FIG. 3, a surface layer 2 is placed on the charge generation layer 24.
In the photoconductive member formed with 5, this surface layer 25
is a-3i (a-8iC:H, a-8iO:H, a-3iN:H,
a-8i'CN: H, etc.). This protects the surface of the photoconductive layer and improves environmental resistance and charging ability. The content of C2○, N is 10 to 50
Preferably, it is atomic percent.

次に、この発明に係る電子写真感光体を製造して、その
光導電特性を試験した結果について説明する。
Next, the results of manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to the present invention and testing its photoconductive properties will be described.

K1」LL 導電性基板としてのAI製トドラム直径80mm、長さ
350mm)をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
侵、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面が酸処理、アルカリ処理又はサンドブラスト
処理され、その干渉防止が図られる。反応容器内を、図
示しない拡散ポンプにより、排気し、約10’の真空度
にする。その後、ドラム基体を加熱し、約300℃に保
持する。次いで、200SCCMの流量のS1ト14ガ
ス、このS i H4ガス流jlに対する流量比が10
−’のB2 H6ガス、20SCCMのCH4ガス及び
28LMのH2ガスを混合して反応容器に供給した。そ
の後、メカニカルブースタポンプ及びロータリポンプに
より反応容器内を排気し、その圧力を1.2トルに調整
した。電極に13.56MHzで2kWの高周波電力を
印加して、電極とドラム基体との間に、S1ト14゜F
32 H6、H2及びCH4のプラズマを生起させ、支
持体21上に炭素を含むμc−8i層である電゛荷移動
層23を20μm形成した。その後、S i H4ガス
の流量を5003CCM、B2 H6のSiH+に対す
る流量比を10−6に設定してこれらのガスを反応容器
内に導入した。反応圧力が1.0トルの状態で300ワ
ツトの電力を投入して成膜し、10μmのa−3iから
なる電荷発生層24を形成した。次いで、同様の操作に
より、C,O,Nを含有づるa−8iを成脱し、表面層
を形成した。このようにして成膜した感光体を790n
mの発振波長の半導体レーザを搭載したレーザプリンタ
に搭載して画像を形成したところ、感光体表面における
露光量が258 r’ g/ ciであっても、解像度
が高い鮮明な画像を形成することができた。また、複写
を繰返して転写プロセスの再現性及び安定性を調査した
ところ、転写画像は極めて良好であり、耐コロナ性、耐
湿性及び耐摩耗性等が優れていることが実証された。
K1''LL An AI-made drum (diameter: 80 mm, length: 350 mm) as a conductive substrate was degreased with trichlene, washed and dried, and loaded into a reaction vessel. The surface of this drum is subjected to acid treatment, alkali treatment, or sandblasting treatment as necessary to prevent interference. The inside of the reaction vessel is evacuated to a vacuum degree of about 10' using a diffusion pump (not shown). Thereafter, the drum base is heated and maintained at about 300°C. Then, S1 gas at a flow rate of 200 SCCM, the flow rate ratio to this S i H4 gas flow jl is 10
-' B2 H6 gas, 20 SCCM CH4 gas, and 28 LM H2 gas were mixed and supplied to the reaction vessel. Thereafter, the inside of the reaction vessel was evacuated using a mechanical booster pump and a rotary pump, and the pressure was adjusted to 1.2 Torr. A high frequency power of 2 kW at 13.56 MHz was applied to the electrode, and a temperature of 14°F was set between the electrode and the drum base.
32 Plasma of H6, H2 and CH4 was generated to form a charge transfer layer 23 having a thickness of 20 μm as a μc-8i layer containing carbon on the support 21. Thereafter, the flow rate of Si H4 gas was set to 5003 CCM, and the flow rate ratio of B2 H6 to SiH+ was set to 10-6, and these gases were introduced into the reaction vessel. A film was formed by applying 300 watts of power at a reaction pressure of 1.0 torr to form a charge generation layer 24 of 10 μm thick a-3i. Next, a-8i containing C, O, and N was removed by the same operation to form a surface layer. The photoreceptor film formed in this way was heated to 790nm.
When an image was formed using a laser printer equipped with a semiconductor laser with an oscillation wavelength of m, a clear image with high resolution was formed even if the exposure amount on the photoreceptor surface was 258 r' g/ci. was completed. Furthermore, when the reproducibility and stability of the transfer process were investigated by repeated copying, it was demonstrated that the transferred images were extremely good and had excellent corona resistance, moisture resistance, abrasion resistance, etc.

実施例2 導電性基板としてのA1製ドラム(直径80mm、長さ
350mm>をトリクレンで脱脂し、洗浄し乾燥させた
後、反応容器内に装填した。このドラムは、必要に応じ
てその表面が酸処理、アルカリ処理又はサンドブラスト
処理され、その干渉防止が図られる。反応容器内を、図
示しない拡散ポンプにより、排気し、約104の真空度
にする。その侵、ドラム基体を加熱し、約300 ’C
i、:保持する。次いで、500SCCMの流量のSi
H4ガス、このS i H4ガス流噂に対する流量比が
10′3のB2 H6ガス及び11005CCのCH4
ガスを混合して反応容器に供給した。その後、メカニカ
ルブースタポンプ及びロータリポンプにより反応容器内
を排気し、その圧力を1トルに調整した。電極に13.
56MHzで300ワツトの高周波電力を印加して、電
極とドラム基体との間に、S i)(+ 、82 H6
及びCH4のプラズマを生起させ、支持体21上にp型
のアモルファス炭化シリコン層である障壁層22を形成
した。その後、S i H4カス流11を200SCC
Mに設定し、B2 H6ガス流量をS i H4ガス流
量に対する流量比で10−7まで絞り、更に、CH4ガ
スを20SCCM、H2ガスを28LM流し、反応圧力
が1.2トル、高周波電力が1.2kWの条件で電荷移
動層23を形成した。
Example 2 A drum made of A1 (diameter 80 mm, length 350 mm) as a conductive substrate was degreased with trichlene, washed and dried, and then loaded into a reaction vessel.The surface of this drum was Acid treatment, alkali treatment, or sandblasting treatment is performed to prevent interference.The interior of the reaction vessel is evacuated using a diffusion pump (not shown) to a vacuum level of about 104.During this evaporation, the drum base is heated to a vacuum level of about 304 'C
i: Hold. Then Si with a flow rate of 500 SCCM
H4 gas, B2 H6 gas with a flow rate ratio of 10'3 to this S i H4 gas flow rumor, and CH4 of 11005CC
The gases were mixed and fed to the reaction vessel. Thereafter, the inside of the reaction vessel was evacuated using a mechanical booster pump and a rotary pump, and the pressure was adjusted to 1 Torr. 13. to the electrode.
A high frequency power of 300 watts at 56 MHz was applied to generate a voltage of S i ) (+ , 82 H6) between the electrode and the drum base.
and CH4 plasma was generated to form a barrier layer 22, which was a p-type amorphous silicon carbide layer, on the support 21. After that, the S i H4 waste stream 11 was heated to 200 SCC.
M, the B2 H6 gas flow rate was reduced to 10-7 in terms of the flow rate ratio to the Si H4 gas flow rate, and further CH4 gas was flowed at 20 SCCM, H2 gas was flowed at 28 LM, the reaction pressure was 1.2 Torr, and the high frequency power was 1. The charge transfer layer 23 was formed under the condition of .2kW.

この電荷移動層23は、炭素を含むμG−3iで形成さ
れ、層厚が20μmであった。次いで、S i H4ガ
スの流量を500SCCM、B2 H6のSiH+に対
する流量比を10−6に設定してこれらのガスを反応容
器内に導入した。反応圧力が1.0トルの状態で300
ワツトの電力を投入して成膜し、10μmのa−8i電
荷発生層24を形成した。次いで、同様の操作により、
C,O。
This charge transfer layer 23 was formed of μG-3i containing carbon, and had a layer thickness of 20 μm. Next, the flow rate of SiH4 gas was set to 500 SCCM, and the flow rate ratio of B2H6 to SiH+ was set to 10-6, and these gases were introduced into the reaction vessel. 300 at a reaction pressure of 1.0 Torr.
A 10 μm thick a-8i charge generation layer 24 was formed by applying 10 watts of electric power. Then, by similar operation,
C.O.

Nを含有するa−3iを成膜し、表面層を形成した。こ
のようにして成膜した感光体を790nmの発振波長の
半導体レーザを搭載したレーザプリンタに搭載して画像
を形成したところ、感光体表面における露光量が258
rQ/cdであっても、解像度が高い鮮明な画像を形成
することができた。
A-3i containing N was deposited to form a surface layer. When the photoreceptor thus formed was mounted on a laser printer equipped with a semiconductor laser with an oscillation wavelength of 790 nm to form an image, the amount of exposure on the surface of the photoreceptor was 258 nm.
Even with rQ/cd, a clear image with high resolution could be formed.

また、複写を繰返して転写プロセスの再現性及び安定性
を調査したところ、転写画像は44めで良好であり、耐
コロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等が浸れていることが実
証された。
Furthermore, when the reproducibility and stability of the transfer process were investigated by repeated copying, it was found that the transferred image was good at the 44th copy, and that corona resistance, moisture resistance, abrasion resistance, etc. were excellent.

[発明の効果1 この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光1.2.3,4
:ボンベ、5:圧力計、6;パル7.7;配管、8;混
合器、9;反応容器、10;回転軸、13;電極、14
;ドラム基体、15;ヒータ、16:高周波電源、19
;ゲートバルブ、21;支持体、22:障壁層、23;
電荷移動層、24;電荷発生層、25:表面層出願人代
理人 弁理士 鈴江武彦 ]d 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 手続補正書 1的和  91“〜15日 ・11.−許庁長官宇賀道部 殿 ■、事件の表示 特願昭60−233104号 2 発明の名称 電子写真感光体 3、補正をする者 事件との関係 特許用・j人 (307)株式会社 東芝 (ほか1名) 4、代理人 5、自発補正 マーj; 7、補正の内容 (1)明細碕:中、第3頁第15行目に、「トリニトロ
フルオレンJとあるのを「トリニトロフルオレノンjに
訂正する。
[Effects of the Invention 1] According to the present invention, it has high resistance and excellent charging characteristics, and also has high light 1.2.3, 4 in the visible light and near infrared light regions.
: Cylinder, 5: Pressure gauge, 6; Pal 7.7; Piping, 8; Mixer, 9; Reaction container, 10; Rotating shaft, 13; Electrode, 14
; Drum base, 15; Heater, 16: High frequency power supply, 19
Gate valve, 21; Support, 22: Barrier layer, 23;
Charge transfer layer, 24; Charge generation layer, 25: Surface layer Patent attorney Takehiko Suzue]・11.-Mr. Michibu Uga, Director-General of the License Agency■, Indication of Case Patent Application No. 1983-233104 2 Name of Invention Electrophotographic Photoreceptor 3, Person Making Amendment Relationship with Case For Patent ・Shares of Person J (307) Company Toshiba (and 1 other person) 4. Agent 5. Voluntary amendment mark J; 7. Contents of amendment (1) Particulars: middle, page 3, line 15, ``Trinitrofluorene J'' was replaced with ``Trinitrofluorene J.'' Corrected to trinitrofluorenone j.

(2)明細書中、第25頁第6行目、$27頁第3行目
に、それぞれr t O”−’Jとちるのを「10 ト
ルコに訂正する。
(2) In the specification, on page 25, line 6, and page $27, line 3, the characters r t O''-'J are corrected to ``10 Turkey.''

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性支持体と、電荷発生層と、電荷発生層と導
電性支持体との間に設けられた電荷移動層と、を有する
電子写真感光体において、前記電荷発生層は、アモルフ
ァスシリコンを含み1乃至10μmの層厚を有し、前記
電荷移動層は、炭素、窒素及び酸素から選択された少な
くとも一種の元素を含有するマイクロクリスタリンシリ
コンを含み3乃至80μmの層厚を有することを特徴と
する電子写真感光体。
(1) In an electrophotographic photoreceptor comprising a conductive support, a charge generation layer, and a charge transfer layer provided between the charge generation layer and the conductive support, the charge generation layer is made of amorphous silicon. The charge transfer layer includes microcrystalline silicon containing at least one element selected from carbon, nitrogen, and oxygen and has a layer thickness of 3 to 80 μm. An electrophotographic photoreceptor.
(2)前記電荷発生層又は電荷移動層は、水素を含有す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の電子
写真感光体。
(2) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the charge generation layer or the charge transfer layer contains hydrogen.
(3)前記電荷発生層又は電荷移動層は、周期律表の第
III族又は第V族に属する元素から選択された少なくと
も一種の元素を含有することを特徴とする特許請求の範
囲第1項又は第2項に記載の電子写真感光体。
(3) The charge generation layer or the charge transfer layer is
The electrophotographic photoreceptor according to claim 1 or 2, characterized in that it contains at least one element selected from elements belonging to Group III or Group V.
(4)前記電荷発生層は、炭素、窒素及び酸素から選択
された少なくとも一種の元素を含有することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか1項に記
載の電子写真感光体。
(4) The electron generation layer according to any one of claims 1 to 3, wherein the charge generation layer contains at least one element selected from carbon, nitrogen, and oxygen. Photographic photoreceptor.
(5)前記電荷発生層の上には、表面層が設けられてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項の
いずれか1項に記載の電子写真感光体。
(5) The electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 4, wherein a surface layer is provided on the charge generation layer.
(6)前記電荷移動層と、導電性支持体との間には、障
壁層が設けられていることを特徴とする特許請求の範囲
第1項乃至第5項のいずれか1項に記載の電子写真感光
体。
(6) A barrier layer is provided between the charge transfer layer and the conductive support, as set forth in any one of claims 1 to 5. Electrophotographic photoreceptor.
(7)前記障壁層は、炭素、窒素または酸素から選択さ
れた少なくとも一種の元素を含有することを特徴とする
特許請求の範囲第6項に記載の電子写真感光体。
(7) The electrophotographic photoreceptor according to claim 6, wherein the barrier layer contains at least one element selected from carbon, nitrogen, and oxygen.
(8)前記障壁層は、水素を含有することを特徴とする
特許請求の範囲第6項又は第7項に記載の電子写真感光
体。
(8) The electrophotographic photoreceptor according to claim 6 or 7, wherein the barrier layer contains hydrogen.
(9)前記障壁層は、周期律表の第III族又は第V族に
属する元素から選択された少なくとも一種の元素を含有
することを特徴とする特許請求の範囲第6項乃至第8項
のいずれか1項に記載の電子写真感光体。
(9) The barrier layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III or Group V of the periodic table. The electrophotographic photoreceptor according to any one of the items.
JP23310485A 1985-10-18 1985-10-18 Electrophotographic sensitive body Pending JPS6292965A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23310485A JPS6292965A (en) 1985-10-18 1985-10-18 Electrophotographic sensitive body

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23310485A JPS6292965A (en) 1985-10-18 1985-10-18 Electrophotographic sensitive body

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6292965A true JPS6292965A (en) 1987-04-28

Family

ID=16949835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23310485A Pending JPS6292965A (en) 1985-10-18 1985-10-18 Electrophotographic sensitive body

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6292965A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS62115457A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6292965A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6239871A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6258269A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6221160A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6258266A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6258262A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6283755A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6239870A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6299759A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6258268A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS62115460A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6258265A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS62198865A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6221163A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS62226157A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6221158A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6221159A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS61295567A (en) Photoconductive member
JPS62115458A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6221165A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6221161A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6283756A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6221164A (en) Electrophotographic sensitive body
JPS6258267A (en) Electrophotographic sensitive body