JPS62113079A - 光学照準システム - Google Patents
光学照準システムInfo
- Publication number
- JPS62113079A JPS62113079A JP60249106A JP24910685A JPS62113079A JP S62113079 A JPS62113079 A JP S62113079A JP 60249106 A JP60249106 A JP 60249106A JP 24910685 A JP24910685 A JP 24910685A JP S62113079 A JPS62113079 A JP S62113079A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- aiming system
- detector
- tuning means
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Aiming, Guidance, Guns With A Light Source, Armor, Camouflage, And Targets (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野１
この発明はレーザートランスミッタ及び熱結像装置を備
えた光学照準システムに関する。
えた光学照準システムに関する。
［従来の技術］
従来のシステ１４に関連した方法及び装置は西独特許出
願公開筒３，０４８．８０９号及び西独特許出願広告箱
３，１０４，３１８号に記載されている。さらに、西独
特許出願箱Ｐ３２ （１９２０１，１号のシステムは
、バンド幅の狭い波長１０．６μｍの炭酸ガス放射線を
組合ね「のような走査部材に対して迂回させる方法、及
び放射線を対応した構造の検出器用対物レンズを介して
２つ又は１の熱結像装置の検出部材に焦点を合せる方法
が記載されている。このシステムにおいて、炭酸ガスレ
ーザーは熱結像検出器により受光されるが、連続的に変
位する走査ミラーにより方向付けされることがないので
、連続的な範囲測定において、ミラーの角運動を考慮す
る必要はない。従って、レーザーパルスが発信された場
合、主要範囲の所定の時間間隔は光が範囲測定の作動に
入る速度の２倍であり、この時間間隔で熱結像装置の検
出部材は瞬間的検出器の視界より大きい走査視界を備λ
でいる。従って、走査される視界内の間違ったターゲッ
トが観察されかつ測定されるので、Ｔラーの警告率が増
加し、範囲の解析を低下させ、一般的にシステムの実行
データが損われる。
願公開筒３，０４８．８０９号及び西独特許出願広告箱
３，１０４，３１８号に記載されている。さらに、西独
特許出願箱Ｐ３２ （１９２０１，１号のシステムは
、バンド幅の狭い波長１０．６μｍの炭酸ガス放射線を
組合ね「のような走査部材に対して迂回させる方法、及
び放射線を対応した構造の検出器用対物レンズを介して
２つ又は１の熱結像装置の検出部材に焦点を合せる方法
が記載されている。このシステムにおいて、炭酸ガスレ
ーザーは熱結像検出器により受光されるが、連続的に変
位する走査ミラーにより方向付けされることがないので
、連続的な範囲測定において、ミラーの角運動を考慮す
る必要はない。従って、レーザーパルスが発信された場
合、主要範囲の所定の時間間隔は光が範囲測定の作動に
入る速度の２倍であり、この時間間隔で熱結像装置の検
出部材は瞬間的検出器の視界より大きい走査視界を備λ
でいる。従って、走査される視界内の間違ったターゲッ
トが観察されかつ測定されるので、Ｔラーの警告率が増
加し、範囲の解析を低下させ、一般的にシステムの実行
データが損われる。
［発明が解決しようとする問題点］
従来の問題点は走査ミラーの角運動をなくすことに関係
し、かつ炭酸ガスレーザーで構造的に走査部材を迂回す
ることは不可能であることに起因している。この発明の
目的はこれらの問題点を解消した標準光学システムを提
供することにある。
し、かつ炭酸ガスレーザーで構造的に走査部材を迂回す
ることは不可能であることに起因している。この発明の
目的はこれらの問題点を解消した標準光学システムを提
供することにある。
［実施例］
以下、この発明の一実施を図面に基づいて説明づる。
第１図には熱結像照準装置及びレーザーレンズファイン
ダを備えた光学照準システムの概略図であり、この光学
照準システムにおいて、フラッシュレーザーを合成して
熱結像とする受光チャネル９は光軸１２のみ示されてい
るレーザー１〜ランスミツタに連結され、かつ、受光チ
ャネル９の光軸即ち視線１１とレーザートランスミッタ
の光軸とは互いに平行である。射出したレーザ光線の一
部はターゲットにより受光チャネル９の方向に反射され
、かつターゲット及びバックグランド用放射線と共に受
光チャネル９を通過し、平行ビーｌいとして走査ミラー
８により偏向される。この走査ミラー８は検出Ｂ（図示
しない）に向かっているビーム路に対して休止位買で４
５°を成している。
ダを備えた光学照準システムの概略図であり、この光学
照準システムにおいて、フラッシュレーザーを合成して
熱結像とする受光チャネル９は光軸１２のみ示されてい
るレーザー１〜ランスミツタに連結され、かつ、受光チ
ャネル９の光軸即ち視線１１とレーザートランスミッタ
の光軸とは互いに平行である。射出したレーザ光線の一
部はターゲットにより受光チャネル９の方向に反射され
、かつターゲット及びバックグランド用放射線と共に受
光チャネル９を通過し、平行ビーｌいとして走査ミラー
８により偏向される。この走査ミラー８は検出Ｂ（図示
しない）に向かっているビーム路に対して休止位買で４
５°を成している。
検出器は電気的に放射線を変換して、発光ダイオードア
レイ（図示しない）に電圧信号を伝達し、この発光ダイ
オードアレ イは電圧信号を可視光線に変換する。
レイ（図示しない）に電圧信号を伝達し、この発光ダイ
オードアレ イは電圧信号を可視光線に変換する。
測定範囲で作動する場合、不都合な走査ミラー８の角運
動を補償するために対物レンズが設けられている。この
補償のために、光学的に直交関係にある２つの検出器用
対物レンズ１０の射出側には、偏向ミラー１が配置され
、この偏向ミラー１は走査ミラー８の軸に対して平行に
延びる軸１′に回動可能に軸支されている。圧力伝動装
置５及びこの圧力伝動装置５に接続された制御装置６に
より、走査ミラー８の角運動は補償されている。
動を補償するために対物レンズが設けられている。この
補償のために、光学的に直交関係にある２つの検出器用
対物レンズ１０の射出側には、偏向ミラー１が配置され
、この偏向ミラー１は走査ミラー８の軸に対して平行に
延びる軸１′に回動可能に軸支されている。圧力伝動装
置５及びこの圧力伝動装置５に接続された制御装置６に
より、走査ミラー８の角運動は補償されている。
従って、ある範囲を測定している間、走査ミラー８の光
学的効果は安定している。
学的効果は安定している。
上述した動作を実行するために、レーザートランスミッ
タ（第１図）又はレーザートランスミッタに接続された
論理回路により、タイムゲート（第４図）は走査ミラー
８の進行より広い状態で配設される必要がある。このタ
イムゲートは位置調整用センサ７の信号に論理的に接続
され、第１図に示（ように、この位置調整用センサ７は
走査ミラー８の後方で走査ミラー８の位置を検出する。
タ（第１図）又はレーザートランスミッタに接続された
論理回路により、タイムゲート（第４図）は走査ミラー
８の進行より広い状態で配設される必要がある。このタ
イムゲートは位置調整用センサ７の信号に論理的に接続
され、第１図に示（ように、この位置調整用センサ７は
走査ミラー８の後方で走査ミラー８の位置を検出する。
走査ミラー８が所定のゼロ位置を移動した場合、走査ミ
ラー８の補償用動作が開始され、即ち、偏肉ミラー１は
所定量だけ調整され、この偏向ミラー１の移動は動作ミ
ラー８の移動に同調している。
ラー８の補償用動作が開始され、即ち、偏肉ミラー１は
所定量だけ調整され、この偏向ミラー１の移動は動作ミ
ラー８の移動に同調している。
第２図には偏向ミラー１の移動の位置１（実線）及び位
置２（一点鎖線）が示され、第４図には偏向ミラー１及
び走査ミラー８の振動振幅が順々に示されている。
置２（一点鎖線）が示され、第４図には偏向ミラー１及
び走査ミラー８の振動振幅が順々に示されている。
第４図のパルスを示すグラフＡ−Ｆに基づいて、同調手
段の電気機械作動を使用した範囲測定動作時の一連のパ
ルスを説明する。
段の電気機械作動を使用した範囲測定動作時の一連のパ
ルスを説明する。
グラフＡにおいて、走査ミラー１のゼロの進行状態が示
されている。
されている。
グラフＢにおいて、範囲測定用ボタンが作動されて、パ
ルスが発信されている。
ルスが発信されている。
グラフＣにおいて、グラフＡのパルスとグラフＢのパル
スとが論理的にｂ である場合、以下の作動を生じるトリガーパルスが発信
される。
スとが論理的にｂ である場合、以下の作動を生じるトリガーパルスが発信
される。
グラフＤにおいて、イネーブルパルス即ち開放パルスは
少なくとも半周期間発信される。
少なくとも半周期間発信される。
ブラフＥにおいて、同調手段用作動パルスは同調手段の
慣性及びその加速度の測定に使用される時間変位Δｔ２
を持って発信される。
慣性及びその加速度の測定に使用される時間変位Δｔ２
を持って発信される。
グラフＦにおいて、次の同調パルスＡは上述した動作結
果に従い、かつ走査システムの作動ぜ口位置に対して誘
導動作時間Δｔ１を持ってイネーブルパルス即ち開放パ
ルスＤへの論理的接続により発生され、この同調パルス
Ａによりレーザーパルスが発信される。第４図にはレー
ザー発信パルスが省略されている。作動ゼロの位置（光
学的なゼロ位置）を進行する時、レーザー発信パルスが
正確に装置から発信するように、Δｔ１の時間間隔が決
定されている。この瞬間、作動パルスＡにより同調手段
が回転されて、実際の移動が補償さる。
果に従い、かつ走査システムの作動ぜ口位置に対して誘
導動作時間Δｔ１を持ってイネーブルパルス即ち開放パ
ルスＤへの論理的接続により発生され、この同調パルス
Ａによりレーザーパルスが発信される。第４図にはレー
ザー発信パルスが省略されている。作動ゼロの位置（光
学的なゼロ位置）を進行する時、レーザー発信パルスが
正確に装置から発信するように、Δｔ１の時間間隔が決
定されている。この瞬間、作動パルスＡにより同調手段
が回転されて、実際の移動が補償さる。
これは最大１００ ｕｓｅｃ、の範囲の測定時間で実行
されることを意味している。走査ミラー８は実質的に移
動しない。レーザー発信パルスで同様に発信される同調
パルスにより、同調手段用の作動パルスが遅延時間Δｔ
４を持って再規定され、時間変位Δｔ５を介してイネー
ブルパルス即ち開放パルスがまた再規定され、システム
の固有の一定時間Δ【６を備えた同調手段は熱結像モー
ドに必要な基本位置に戻されて、この位置に固定される
。同調パルス及びレーザー発信パルス間の時間変位はΔ
ｔ３で示されている。
されることを意味している。走査ミラー８は実質的に移
動しない。レーザー発信パルスで同様に発信される同調
パルスにより、同調手段用の作動パルスが遅延時間Δｔ
４を持って再規定され、時間変位Δｔ５を介してイネー
ブルパルス即ち開放パルスがまた再規定され、システム
の固有の一定時間Δ【６を備えた同調手段は熱結像モー
ドに必要な基本位置に戻されて、この位置に固定される
。同調パルス及びレーザー発信パルス間の時間変位はΔ
ｔ３で示されている。
第１図の一点鎖線には、既に説明された偏向ミー９＝
ラー１が回転しない場合の２つの変形例が示されている
。一方の変形例のシステムには第１の回転ウェッジ２と
第２の回転ウェッジ３とを有し、第１の回転ウェッジ２
は受光チャネル９と走査ミラー８との間に配置され、第
２の回転ウェッジ３は走査ミラー８と検出器用対物レン
ズ１０との間に配置されている。第３図には第１の回転
ウェッジ２のウェッジ、ウェッジの装着及びウェッジの
回転方向が示されている。他方の変形例において、偏向
ミラー１及び第１、第２の回転ウェッジ２．３０代わり
に、検出器用対物レンズ１０の下方には平面プレート４
が配置されている。これらの同調手段は圧力電動装置及
び圧力電動装置に連結された制御装置により作動される
。
。一方の変形例のシステムには第１の回転ウェッジ２と
第２の回転ウェッジ３とを有し、第１の回転ウェッジ２
は受光チャネル９と走査ミラー８との間に配置され、第
２の回転ウェッジ３は走査ミラー８と検出器用対物レン
ズ１０との間に配置されている。第３図には第１の回転
ウェッジ２のウェッジ、ウェッジの装着及びウェッジの
回転方向が示されている。他方の変形例において、偏向
ミラー１及び第１、第２の回転ウェッジ２．３０代わり
に、検出器用対物レンズ１０の下方には平面プレート４
が配置されている。これらの同調手段は圧力電動装置及
び圧力電動装置に連結された制御装置により作動される
。
さらに、音響電子光学的に受光した放射線、例えば放射
線を偏向して同調のための移動を実行してもよい。
線を偏向して同調のための移動を実行してもよい。
全ての同調手段において、受光チャネル９の視線１１を
固定することが重要である。
固定することが重要である。
電気機械的同調手段が使用された場合、電気機械的に実
行りることができ、電気光学的同調手段が使用された場
合、クランプ回路により実行することができる。
行りることができ、電気光学的同調手段が使用された場
合、クランプ回路により実行することができる。
なお、この発明の要旨を逸脱しない範囲で、この発明を
変形して実施することかできる。
変形して実施することかできる。
第１図はこの発明の一実施例と第１及び第２の変形例の
主要部とを示す光学照準システムの概略図、第２図は第
１図の走査ミラーの２つの位置を示す走査ミラーの拡大
図、第３図は第１図に示す回転つ丁ツジの側面図、第４
図は同調手段の電気機械的作動による測定節回作動の一
連のパルスのグラフである。 ４・・・検出器、５・・・駆動手段（圧力伝動装置）、
８・・・走査部材（走査ミラー）、９・・・受光チャネ
ル、１０・・・検出器用対物レンズ、１２・・・光軸。
主要部とを示す光学照準システムの概略図、第２図は第
１図の走査ミラーの２つの位置を示す走査ミラーの拡大
図、第３図は第１図に示す回転つ丁ツジの側面図、第４
図は同調手段の電気機械的作動による測定節回作動の一
連のパルスのグラフである。 ４・・・検出器、５・・・駆動手段（圧力伝動装置）、
８・・・走査部材（走査ミラー）、９・・・受光チャネ
ル、１０・・・検出器用対物レンズ、１２・・・光軸。
Claims (11)
- （１）レーザートランスミッタと、このレーザートラン
スミッタの光軸に平行な光軸を備えた熱結像装置と、熱
結像及びレーザーに共通な受光チャネルとを具備し、 この受光チャネルはビームの進行方向にＩＲ望遠鏡、偏
向部材、走査部材を有し、さらに、検出器、検出器用対
物レンズ、及び受光された放射線を光電的に変換して可
視的に表示する対応した発光ダイオードを有し、 範囲測定の動作時の放射線のために、前記偏向部材に機
械的に接続された駆動手段により前記走査部材の角運動
が補償されることを特徴とする光学照準システム。 - （２）走査部材と偏向部材との角運動とを同調させる同
調手段を有することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の光学照準システム。 - （３）前記レーザートランスミッタの光軸と前記熱結像
装置とは、電磁石装置を備えた同調手段により固定され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光
学照準システム。 - （４）前記同調手段は電気光学的なクランプ回路を有す
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学照
準システム。 - （５）レーザーファインダーに連結された論理回路は走
査部材の進行より長いタイムゲートを設定し、 このタイムゲートは走査部材の各位置を検出する位置調
整用センサの信号に論理的に接続され、走査部材が所定
のゼロ位置を進行した時、補償動作が開始され、即ち走
査部材及び同調手段が同調するように、同調手段は所定
量だけ移動されることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の光学照準システム。 - （６）光学的同調手段は、受光光学部材と走査部材との
間又は走査部材と検出器との間に設けられた回転可能な
第１及び第２のウエッジを有することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の光学照準システム。 - （７）光学的同調手段は偏向ミラー又は走査部材と検出
器との間に配置された平面プレートを有することを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の光学照準システム。 - （８）回転可能な偏向ミラーは検出器用対物レンズに対
して直交したミラーとして配置されていることを特徴と
する特許請求の範囲第１項又は第６項のいずれか１項に
記載の光学照準システム。 - （９）前記偏向ミラー、回転ウエッジ及び平面プレート
は制御装置に接続された圧力伝動装置により作動される
ことを特徴とする特許請求の範囲第７項記載の光学照準
システム。 - （１０）前記走査部材は多角ホイールであることを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の光学照準システム。 - （１１）検出器は走査ミラーの運動を検出することを特
徴とする特許請求の範囲第９項記載の光学照準システム
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60249106A JPS62113079A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 光学照準システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60249106A JPS62113079A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 光学照準システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62113079A true JPS62113079A (ja) | 1987-05-23 |
Family
ID=17188041
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60249106A Pending JPS62113079A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 光学照準システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62113079A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6491025A (en) * | 1987-10-01 | 1989-04-10 | Mitsubishi Electric Corp | Optical device |
| JP2019191151A (ja) * | 2018-04-28 | 2019-10-31 | エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッドＳｚ Ｄｊｉ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｃｏ．，Ｌｔｄ | センサ装置、自律システム、外部環境の感知方法およびプログラム |
-
1985
- 1985-11-08 JP JP60249106A patent/JPS62113079A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6491025A (en) * | 1987-10-01 | 1989-04-10 | Mitsubishi Electric Corp | Optical device |
| JP2019191151A (ja) * | 2018-04-28 | 2019-10-31 | エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッドＳｚ Ｄｊｉ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｃｏ．，Ｌｔｄ | センサ装置、自律システム、外部環境の感知方法およびプログラム |
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