JPS62112053A - 探傷装置 - Google Patents
探傷装置Info
- Publication number
- JPS62112053A JPS62112053A JP60251657A JP25165785A JPS62112053A JP S62112053 A JPS62112053 A JP S62112053A JP 60251657 A JP60251657 A JP 60251657A JP 25165785 A JP25165785 A JP 25165785A JP S62112053 A JPS62112053 A JP S62112053A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- flaw detection
- flaw inspection
- outputs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明はセンサーからの探傷信号の処理方法を改良した
探傷装置に関する。
探傷装置に関する。
［発明の技術的背景］
近年、例えば製品の組立てラインにおいて部品材料の内
部欠陥をｒめ検出することのｉ′ｒ！要性が認識されつ
つある。斯かる欠陥検出のための探傷装置としては、Ｘ
線を利用した放射線透過法、渦電流を利用した渦電流探
傷法、超音波を利用した超音波探傷法、或はレーザーを
利用したレーサー深傷法等種々あるが、例えば鋳物部品
の探１易には渦電流探傷法による探傷装置が広く用いら
れている。
部欠陥をｒめ検出することのｉ′ｒ！要性が認識されつ
つある。斯かる欠陥検出のための探傷装置としては、Ｘ
線を利用した放射線透過法、渦電流を利用した渦電流探
傷法、超音波を利用した超音波探傷法、或はレーザーを
利用したレーサー深傷法等種々あるが、例えば鋳物部品
の探１易には渦電流探傷法による探傷装置が広く用いら
れている。
これは、センサ一部にコイルを錫え、このコイルに、ｐ
周波ｒば流を流した状態でセンサ一部を被探傷物の表面
に近接させて走査する構成である。被探傷物内部に巣や
亀裂等が存在すると、渦電流の分布が変化するためコイ
ルのインピーダンスが変化し、これに驕づきセンサ一部
の検出回路から得られる探傷ｔｇ号には第７図実線に示
すように被探傷物内の欠陥の存（Ｅに応じたピークｐが
含まれるようになる。そこで従来は、コンパレータによ
り探傷信号のレベルを基ベヘレベルＶｒ 、 Ｖｒ’
（第７ 図二点鎖線参照）と比較し、探（縞信号がこの
括弗レベルｖｒ、ｖｒ’を越えた時に傷検出信号を出力
するようにしていた。
周波ｒば流を流した状態でセンサ一部を被探傷物の表面
に近接させて走査する構成である。被探傷物内部に巣や
亀裂等が存在すると、渦電流の分布が変化するためコイ
ルのインピーダンスが変化し、これに驕づきセンサ一部
の検出回路から得られる探傷ｔｇ号には第７図実線に示
すように被探傷物内の欠陥の存（Ｅに応じたピークｐが
含まれるようになる。そこで従来は、コンパレータによ
り探傷信号のレベルを基ベヘレベルＶｒ 、 Ｖｒ’
（第７ 図二点鎖線参照）と比較し、探（縞信号がこの
括弗レベルｖｒ、ｖｒ’を越えた時に傷検出信号を出力
するようにしていた。
［背景技術の問題点］
しかしながら、検出回路からの探（易信号は高周波及び
低周波のノイズ成分を重畳しているため、険出精文を向
にさせるべくコンパレータの基準レベルＶｒ、Ｖｒ’を
低下させると、重畳したノイズ成分の影響で１！；動作
し、ために微細な欠陥も検出す−・く十分な高感度化を
図り得ないという問題があった。
低周波のノイズ成分を重畳しているため、険出精文を向
にさせるべくコンパレータの基準レベルＶｒ、Ｖｒ’を
低下させると、重畳したノイズ成分の影響で１！；動作
し、ために微細な欠陥も検出す−・く十分な高感度化を
図り得ないという問題があった。
「発明の１」的］
本発明の］」的は、十分な高感度化を図りｉりて微細な
欠陥も検出することができる探傷装置を提供するにある
。
欠陥も検出することができる探傷装置を提供するにある
。
Ｃ発明の概要］
本発明は、被検傷物内の欠陥の存在に応じたピークを含
む探傷信号を出力する検出回路と、この検出回路からの
検出信号とこれをローパスフィルターに通した低周波信
号とを差動増幅する差動増幅回路と、この差動増幅回路
の出力信号の振幅が所定値以１．の時に所定の論理値と
なるデジタル信号を出力するデジタル化回路と、このデ
ジタル信号の前記論理値が所定時間継続した時に傷検出
信号を出力する判別回路とをＪＡ儒せるす：３成とする
ことにより、差動増幅回路によって低周波のノイズ成分
をキャンセルし、ＩＬつ判別回路により前周波のノイズ
成分による２′１動作を防止できるようにしたところに
特徴をｈ′するものである。
む探傷信号を出力する検出回路と、この検出回路からの
検出信号とこれをローパスフィルターに通した低周波信
号とを差動増幅する差動増幅回路と、この差動増幅回路
の出力信号の振幅が所定値以１．の時に所定の論理値と
なるデジタル信号を出力するデジタル化回路と、このデ
ジタル信号の前記論理値が所定時間継続した時に傷検出
信号を出力する判別回路とをＪＡ儒せるす：３成とする
ことにより、差動増幅回路によって低周波のノイズ成分
をキャンセルし、ＩＬつ判別回路により前周波のノイズ
成分による２′１動作を防止できるようにしたところに
特徴をｈ′するものである。
［発明の実施例］
以ド本発明を渦電流探傷形の探傷装置に適用した一実施
例につき第１図乃至第６図を参照して説明する。第１図
中、１はセンサ一部、２はセンサ一部１ ＋、： 接続
されたブリッジ回路で、センサ一部１には高周波７１１
流が流される図示しない探傷コイル及び検出回路が内設
されている。このセンサ一部１を鋳物部品等の被検傷物
３に近接させた状態で走査すると、彼探傷物３内の欠陥
によって渦°市流の分布状態が変化することにより探傷
コイルのインピーダンスが変化し、このインピーダンス
変化に応じてブリッジ回路２から例えば電圧変化する探
傷信号が出力される。この探傷信号は、第２図に示すよ
うに、彼探傷物３内の欠陥の存在に応じたビークｐを含
むと共に、高周波及び低周波のノイズ成分をｌ’ｌ′ｉ
畳している。さて、この探傷信号は増幅回路４により増
幅されて分岐され、その一方か高周波成分を除去するロ
ーパスフィルター５を介し、他Ｊｊは１１°■接に差動
増幅回路６の各入力端ｒに１ｊ、えられる。７はデジタ
ル化回路で、これの−ツノの入力端子には前記作動増幅
回路６の出力端子か１と続されるとＪＩＧに、他方の入
力端子には基準電１１：回路８か接続され、作動増幅回
路６の出力信号の振幅か’Ｊ ’ｆ’電圧を越えるとき
にハイレベルとなるデジタル信号を出力する。次いで、
このデジタル化回路７から出力されたデジタル信号は判
別回路９に人力される。判別回路９では、デジタル化回
路７からのデジタル信号が所定時間ハイレベルの状態を
維持したときにハイレベルの傷検出信号を出力する。
例につき第１図乃至第６図を参照して説明する。第１図
中、１はセンサ一部、２はセンサ一部１ ＋、： 接続
されたブリッジ回路で、センサ一部１には高周波７１１
流が流される図示しない探傷コイル及び検出回路が内設
されている。このセンサ一部１を鋳物部品等の被検傷物
３に近接させた状態で走査すると、彼探傷物３内の欠陥
によって渦°市流の分布状態が変化することにより探傷
コイルのインピーダンスが変化し、このインピーダンス
変化に応じてブリッジ回路２から例えば電圧変化する探
傷信号が出力される。この探傷信号は、第２図に示すよ
うに、彼探傷物３内の欠陥の存在に応じたビークｐを含
むと共に、高周波及び低周波のノイズ成分をｌ’ｌ′ｉ
畳している。さて、この探傷信号は増幅回路４により増
幅されて分岐され、その一方か高周波成分を除去するロ
ーパスフィルター５を介し、他Ｊｊは１１°■接に差動
増幅回路６の各入力端ｒに１ｊ、えられる。７はデジタ
ル化回路で、これの−ツノの入力端子には前記作動増幅
回路６の出力端子か１と続されるとＪＩＧに、他方の入
力端子には基準電１１：回路８か接続され、作動増幅回
路６の出力信号の振幅か’Ｊ ’ｆ’電圧を越えるとき
にハイレベルとなるデジタル信号を出力する。次いで、
このデジタル化回路７から出力されたデジタル信号は判
別回路９に人力される。判別回路９では、デジタル化回
路７からのデジタル信号が所定時間ハイレベルの状態を
維持したときにハイレベルの傷検出信号を出力する。
１−記もη成において、センサ一部１を被検動物３の表
面に近接させて走査すると、ブリッジ回路２から、第２
図に示すような、被検傷物３内の欠陥の（ｆ（Ｅに応じ
たビークｐを含んだ探傷信号が出力される。この探傷信
号には、微細な高周波ノイズの他、例えばセンサ一部１
と被検傷物３とのギャップの変動や彼探傷物３自体の電
気的特性の局部的バラツキ等により、レベル全体が大き
く波打つ低周波ノイズか重畳されている。従って、この
検出信号か増幅回路４により増幅されてローパスフィル
ター５を通過すると、第３図に示すように、高周波ノイ
ズ及びピークｐか除去されて低周波成分のみが残る。こ
の低周波成分信号は前記検出信号とＪ（に差動増幅回路
６に人力されるため、両信号がＬｌ、いに減算され、差
動増幅回路６からは、第４図に示すような、低周波成分
が除去されて波形レベルが一定となりピークｐ及び高周
波ノイズのみを含んだ信号が出力される。この出力信号
はデジタル化回路７に入力され、ここで基準電圧回路８
からの基僧電圧Ｖｒ、Ｖｒ’と比較されて振幅か各基僧
電月：Ｖｒ、Ｖｒ’を越えた時に］１イレベルとなるデ
ジタル信号か出力される（第４図参照）。
面に近接させて走査すると、ブリッジ回路２から、第２
図に示すような、被検傷物３内の欠陥の（ｆ（Ｅに応じ
たビークｐを含んだ探傷信号が出力される。この探傷信
号には、微細な高周波ノイズの他、例えばセンサ一部１
と被検傷物３とのギャップの変動や彼探傷物３自体の電
気的特性の局部的バラツキ等により、レベル全体が大き
く波打つ低周波ノイズか重畳されている。従って、この
検出信号か増幅回路４により増幅されてローパスフィル
ター５を通過すると、第３図に示すように、高周波ノイ
ズ及びピークｐか除去されて低周波成分のみが残る。こ
の低周波成分信号は前記検出信号とＪ（に差動増幅回路
６に人力されるため、両信号がＬｌ、いに減算され、差
動増幅回路６からは、第４図に示すような、低周波成分
が除去されて波形レベルが一定となりピークｐ及び高周
波ノイズのみを含んだ信号が出力される。この出力信号
はデジタル化回路７に入力され、ここで基準電圧回路８
からの基僧電圧Ｖｒ、Ｖｒ’と比較されて振幅か各基僧
電月：Ｖｒ、Ｖｒ’を越えた時に］１イレベルとなるデ
ジタル信号か出力される（第４図参照）。
従って、このデジタル信号は、探傷信号に被検傷物３内
の欠陥の／７′（＋：に応じたビークｐ及び大振幅の高
周波ノイズｎが含まれる時にハイレベルになる。そして
、このデジタル信号は判別回路９に人力される。判別回
路９はデジタル信号が所定時間ハイレベル状態を継続し
た時にハイレベル信号を出力するようにされているから
、判別回路９の出力ｆ６号には、第６図に示すように、
探傷信号のビークｐに（１１応した傷検出ｔＳ号ｄか含
まれるようになる。即ち、デジタル化回路７からのデジ
タル信号に含まれていた大振幅の高周波ノイズｎは判別
回路９により除去され、判別回路９からは被検傷物３内
の欠陥に応じた傷検出信号のみが出力されるようになる
。
の欠陥の／７′（＋：に応じたビークｐ及び大振幅の高
周波ノイズｎが含まれる時にハイレベルになる。そして
、このデジタル信号は判別回路９に人力される。判別回
路９はデジタル信号が所定時間ハイレベル状態を継続し
た時にハイレベル信号を出力するようにされているから
、判別回路９の出力ｆ６号には、第６図に示すように、
探傷信号のビークｐに（１１応した傷検出ｔＳ号ｄか含
まれるようになる。即ち、デジタル化回路７からのデジ
タル信号に含まれていた大振幅の高周波ノイズｎは判別
回路９により除去され、判別回路９からは被検傷物３内
の欠陥に応じた傷検出信号のみが出力されるようになる
。
このように本実施例では、探傷信号から低周波及び高周
波のノイズ成分を十分に除去することができるので、肢
探傷物３内の欠陥の存（１：、のみに応じた傷検出信号
ｄを出力させることができ、肢探傷物３の探（易におい
て十分な高感度化及び品積文化を図ることができる。
波のノイズ成分を十分に除去することができるので、肢
探傷物３内の欠陥の存（１：、のみに応じた傷検出信号
ｄを出力させることができ、肢探傷物３の探（易におい
て十分な高感度化及び品積文化を図ることができる。
尚、上１；ピ実施例では、渦電流探傷形の探傷装置に適
用して示したが、本発明はこれに限られず、要するに検
出回路からの探傷信号に低周波又は高周波のノイズ成分
か小骨するＩＩＪ能性のあるｒ２ ｆＬ６装置、例えば
Ｘ線を同州した放射透過形、超占波を同州した超＆波探
傷形又はレーザーを伺用したレーサー探傷形等の各種の
探傷装置に応用することかできるのは勿論である。
用して示したが、本発明はこれに限られず、要するに検
出回路からの探傷信号に低周波又は高周波のノイズ成分
か小骨するＩＩＪ能性のあるｒ２ ｆＬ６装置、例えば
Ｘ線を同州した放射透過形、超占波を同州した超＆波探
傷形又はレーザーを伺用したレーサー探傷形等の各種の
探傷装置に応用することかできるのは勿論である。
［発明の効果］
本発明は以１−述べたように、検出回路からの探傷信号
に含まれる低周波及び高周波のノイズ成分を十分に除去
することができるから、肢探１易物の微細な欠陥も高精
度で検出することができるという優れた効県を奏するも
のである。
に含まれる低周波及び高周波のノイズ成分を十分に除去
することができるから、肢探１易物の微細な欠陥も高精
度で検出することができるという優れた効県を奏するも
のである。
第１図乃至第６図は本発明の一実施例を示し、第１図は
全体のブロック図、第２図は探傷信号の電圧波形図、第
３図は低周波ノイズの１”電圧波形図、第４図は差動増
幅回路の出力波形図、第５図はデジタル化回路の出力波
形図、第６図は判別回路の出力波形図、第７図は従来の
探傷装置の構成を１−１明するための電圧波形図である
。 図中、１はセンサーごＩＳ、３は肢探傷物、５はローパ
スフィルター、６は差動増幅回路、７はデジタル化回路
、９は判別回路である。
全体のブロック図、第２図は探傷信号の電圧波形図、第
３図は低周波ノイズの１”電圧波形図、第４図は差動増
幅回路の出力波形図、第５図はデジタル化回路の出力波
形図、第６図は判別回路の出力波形図、第７図は従来の
探傷装置の構成を１−１明するための電圧波形図である
。 図中、１はセンサーごＩＳ、３は肢探傷物、５はローパ
スフィルター、６は差動増幅回路、７はデジタル化回路
、９は判別回路である。
Claims (1)
- １、被探傷物内の欠陥の存在に応じたピークを含む探傷
信号を出力する検出回路と、この検出回路からの探傷信
号とこれをローパスフィルターに通した低周波信号とを
差動増幅する差動増幅回路と、この差動増幅回路の出力
信号の振幅が所定値以上の時に所定の論理値となるデジ
タル信号を出力するデジタル化回路と、このデジタル信
号の前記論理値が所定時間継続した時に傷検出信号を出
力する判別回路とを具備して成る探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251657A JPS62112053A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251657A JPS62112053A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62112053A true JPS62112053A (ja) | 1987-05-23 |
Family
ID=17226074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60251657A Pending JPS62112053A (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62112053A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH085610A (ja) * | 1991-06-04 | 1996-01-12 | Nkk Corp | 磁気検出方法及びその装置 |
| GB2361065A (en) * | 2000-04-05 | 2001-10-10 | Andrew Michael Pratt | Flaw detecting probe and method |
| JP2010223719A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管の欠陥検出方法及び装置 |
-
1985
- 1985-11-08 JP JP60251657A patent/JPS62112053A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH085610A (ja) * | 1991-06-04 | 1996-01-12 | Nkk Corp | 磁気検出方法及びその装置 |
| GB2361065A (en) * | 2000-04-05 | 2001-10-10 | Andrew Michael Pratt | Flaw detecting probe and method |
| JP2010223719A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管の欠陥検出方法及び装置 |
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