JPS6210619A - Active matrix panel - Google Patents
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- JPS6210619A JPS6210619A JP60150517A JP15051785A JPS6210619A JP S6210619 A JPS6210619 A JP S6210619A JP 60150517 A JP60150517 A JP 60150517A JP 15051785 A JP15051785 A JP 15051785A JP S6210619 A JPS6210619 A JP S6210619A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、薄膜トランジスタ(以下、TIFTと略記す
る)を用いて構成されたアクティブマトリクスパネルに
関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an active matrix panel constructed using thin film transistors (hereinafter abbreviated as TIFT).
本発明は、TIFTによって液晶を駆動して成るアクテ
ィブマトリクスパネルにおいて、前記液晶より成るキャ
パシタを並列に、前記TIPTと同一の構造を有するM
O′f3キャパシタを設けることによって、液晶容量を
見かけ上増大させ、表示性能を向上させるものである〇
〔従来の技術〕
TIFTをスイッチング素子として利用したアクティブ
マトリクスパネルにおいて、従来、1画素分の画素部は
、第7図に示す様に、データ1s1、ゲ−)12、TI
FT3及び液晶セA/4によって構成されていた。従来
のアクティブマトリクスパネルは、薄膜トランジスタを
構成要素として用いることによって、例えば、文献「商
品化された液晶ポケット・カラー・テレビ」(日経エレ
クトロニクス、f 984年9月10日号)に述べられ
ている様な良好な性能を得ていた◎しかし、画素寸法を
より微細なものとし、より高精細なディスプレイを実現
しようとすると、以下に示す様な問題が顕在化してくる
。The present invention provides an active matrix panel in which a liquid crystal is driven by a TIFT, in which a capacitor made of the liquid crystal is connected in parallel with an M having the same structure as the TIPT.
By providing an O'f3 capacitor, the liquid crystal capacitance is apparently increased and display performance is improved.〇 [Prior art] In an active matrix panel that uses TIFT as a switching element, conventionally, one pixel is As shown in FIG.
It consisted of an FT3 and a liquid crystal display A/4. Conventional active matrix panels use thin film transistors as constituent elements, for example, as described in the document "Commercialized LCD Pocket Color Television" (Nikkei Electronics, September 10, 1984 issue). ◎ However, when trying to make the pixel size smaller and realize a higher-definition display, the following problems become apparent.
〔発明が解決しようとする問題点及び目的〕従来のアク
ティブマトリクスパネルにおいて、一画素の寸法が仮に
縦a、横6.TIFTのオン抵抗がR,、オフ抵抗がR
,、液晶セルの容量がO。[Problems and Objectives to be Solved by the Invention] In a conventional active matrix panel, if the dimensions of one pixel are a length of a by a width of 6. The on-resistance of TIFT is R, and the off-resistance is R.
,, the capacity of the liquid crystal cell is O.
でありだとする。ここで、前述の従来パネルに対して、
断面寸法を変えずに平面的な寸法の縮小を試みる。(断
面寸法を変えるためには、TIFTの製造プロセスの再
構築と液晶のりタープ−ジョンによるコントラストの低
下に対する対策が必要であり、大変な困難を伴う・)
仮に縮小率を1とすると、新しいアクティブマトリクス
パネルの画素寸法は、縦1、横車となる。また、TIF
Tのオk
ン抵抗、オフ抵抗は、それぞれRI+R2と変わらず、
液晶セルの容量は夛となる。即ち、アクティブマトリク
スパネルを平面的に縮小することR,O,に減少するG
このため、画素への信号の書き込み時間が短くなる反面
、画素に貯えられた電荷の保持時間が−に短縮され、液
晶セルに印加g
されている電圧の実効値が減少する0このことは・アク
ティブマトリクスパネルに、コントラスト不良、クロス
トーク等の表示不良をり[き起こす・本発明は、以上に
述べた様な、画素寸法の微細化に伴うアクティブマトリ
クスパネルの表示不良を解決し、良好なコントラストを
有し、かつ高精細なアクティブマトリクスパネルを提供
することを目的とする。Suppose it is true. Here, for the conventional panel mentioned above,
Attempt to reduce planar dimensions without changing cross-sectional dimensions. (In order to change the cross-sectional dimensions, it is necessary to rebuild the TIFT manufacturing process and take measures to deal with the reduction in contrast caused by liquid crystal paste tarpsion, which is extremely difficult.)
Assuming that the reduction ratio is 1, the pixel dimensions of the new active matrix panel will be 1 vertically and 1 horizontally. Also, TIF
The on-resistance and off-resistance of T are the same as RI+R2, respectively.
The capacity of the liquid crystal cell increases. That is, by reducing the active matrix panel planarly, G is reduced to R, O,
For this reason, while the time to write signals to the pixel becomes shorter, the time to hold the charge stored in the pixel is shortened to -, and the effective value of the voltage applied to the liquid crystal cell decreases. Active matrix panels suffer from display defects such as poor contrast and crosstalk.The present invention solves the display defects of active matrix panels that occur due to the miniaturization of pixel dimensions as described above. The purpose is to provide a high-definition active matrix panel with contrast.
前述のごとく保持時間が短縮されるのを防ぐため、アク
ティブマトリクス基板内に、TIFTのゲート絶縁膜七
同−構造のMOSキャパシタを形成し、液晶セルの見か
け上の容量値を増加させる〇〔作 用〕
TIFT基板内に作り込けだMOSキャパシタのティプ
マトリクスパネルの一画素の容量はr2o。In order to prevent the retention time from being shortened as mentioned above, a MOS capacitor with the same structure as the gate insulating film of TIFT is formed in the active matrix substrate to increase the apparent capacitance value of the liquid crystal cell. ] The capacitance of one pixel of the tip matrix panel of the MOS capacitor built into the TIFT substrate is r2o.
+0Mとなる。従って、非選択時の時定数は” (&2
CO+ OM )となり、画素に貯えられた電荷の保
持時間が短縮されるのを防ぐことが可能となる・この結
果、コントラスト不良、クロストーク等を招くことなく
、アクティブマトリクスパネルの高精細化を実現するこ
とが出来る。+0M. Therefore, the time constant when not selected is ” (&2
CO + OM ), which can prevent the retention time of the charge stored in the pixels from shortening. As a result, high definition of active matrix panels can be achieved without causing poor contrast, crosstalk, etc. You can.
以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する
@
第8図に、アクティブマトリクスパネルの全体図を示す
。同図において、5,6.7はゲート線、8.9.10
はデータ線、11,12,13゜14は薄膜トランジス
タ、15,16,17゜1aは液晶セルである。アクテ
ィブマトリクスパネルの動作については、文献[商品化
された液晶ポケット・カラー・テレビJ(日経エレクト
ロニクス、1984年9月10日号)に詳しく述べられ
ている口
第1図は、本発明のアクティブマトリクスパネルの構成
を示した図である・同図において、19はゲート線、2
0はデータ線、21は薄膜トランジスタ、22は液晶セ
ル、23は薄膜トランジスタ21と同一構造のMOSキ
ャパシタ、56は液晶セルの対向電極である。MOSキ
ャパシタ23のゲート25は、薄膜トランジスタ21及
び、液晶セル22に接続され、MOSキャパシタ23の
サブストレートは、一定電位のライン24に接続される
。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 8 shows an overall view of an active matrix panel. In the same figure, 5, 6.7 are gate lines, 8.9.10
1 is a data line, 11, 12, 13° 14 are thin film transistors, and 15, 16, 17° 1a are liquid crystal cells. The operation of the active matrix panel is described in detail in the literature [Commercialized LCD Pocket Color TV J (Nikkei Electronics, September 10, 1984 issue). Figure 1 shows the active matrix panel of the present invention. This is a diagram showing the configuration of the panel. In the diagram, 19 is a gate line, 2
0 is a data line, 21 is a thin film transistor, 22 is a liquid crystal cell, 23 is a MOS capacitor having the same structure as the thin film transistor 21, and 56 is a counter electrode of the liquid crystal cell. A gate 25 of the MOS capacitor 23 is connected to the thin film transistor 21 and the liquid crystal cell 22, and a substrate of the MOS capacitor 23 is connected to a constant potential line 24.
第1図のアクティブマトリクスパネルの断面構造の一例
を第3図に示す0第3図において、26は透明基板、2
7.28は第1のシリコン薄膜、29.30はゲート絶
縁膜、31.32は第二のシリコン薄膜、33は層間絶
縁膜・34は透明導電膜、35は液晶、36は対向電極
である。27.29.31は、それぞれ、薄膜トランジ
スタ21のサブストレート、ゲート絶縁膜、ゲートであ
り、28,30.32は、それぞれ、MOSキャパシタ
23のサブストレート、ゲート絶縁膜。An example of the cross-sectional structure of the active matrix panel of FIG. 1 is shown in FIG. 3. In FIG. 3, 26 is a transparent substrate;
7.28 is a first silicon thin film, 29.30 is a gate insulating film, 31.32 is a second silicon thin film, 33 is an interlayer insulating film, 34 is a transparent conductive film, 35 is a liquid crystal, and 36 is a counter electrode. . 27, 29, and 31 are a substrate, a gate insulating film, and a gate, respectively, of the thin film transistor 21, and 28, 30, and 32 are a substrate, a gate insulating film, respectively, of the MOS capacitor 23.
ゲートである。It is a gate.
第2図は、本発明のアクティブマトリクスパネルのもう
一つの構成を示した図である。同図において、37はゲ
ート線、38はデータ線、39は薄膜トランジスタ、4
0は液晶セル、41は薄膜トランジスタ39と同一構造
のMOSキャパシタ、57は液晶セルの対向電極である
。MOSキャパシタ41のサブストレート42は、薄膜
トランジスタ39及び液晶セル40に接続され、MO8
キャパシタ41のゲート43は一定電位のライン44に
接続される。FIG. 2 is a diagram showing another configuration of the active matrix panel of the present invention. In the figure, 37 is a gate line, 38 is a data line, 39 is a thin film transistor, and 4
0 is a liquid crystal cell, 41 is a MOS capacitor having the same structure as the thin film transistor 39, and 57 is a counter electrode of the liquid crystal cell. The substrate 42 of the MOS capacitor 41 is connected to the thin film transistor 39 and the liquid crystal cell 40, and the MO8
A gate 43 of the capacitor 41 is connected to a constant potential line 44.
第2図のアクティブマトリクスパネルの断面構造の一例
を第4図に示す・第4図において、45は透明基板、4
6.47は第1のシリコン薄膜、48.49はゲート絶
縁膜、50.51は第2のシリコン薄膜、52は層間絶
縁膜、53は透明導電膜、54は液晶、55は対向電極
である@46.48.50は、それぞれ、第2図の薄膜
トランジスタ39のサブストレート、ゲート絶縁膜、ゲ
ートであり、47.49.51は、それぞれ第2図のM
O8キャパシタ41のサブストレート、ゲート絶縁膜、
ゲートである。An example of the cross-sectional structure of the active matrix panel in FIG. 2 is shown in FIG. 4. In FIG. 4, 45 is a transparent substrate;
6.47 is a first silicon thin film, 48.49 is a gate insulating film, 50.51 is a second silicon thin film, 52 is an interlayer insulating film, 53 is a transparent conductive film, 54 is a liquid crystal, and 55 is a counter electrode. @46.48.50 are the substrate, gate insulating film, and gate of the thin film transistor 39 in FIG. 2, respectively, and 47.49.51 are M in FIG. 2, respectively.
O8 capacitor 41 substrate, gate insulating film,
It is a gate.
第5図及び第6図は、第1図の定電位@24及び第2図
の定電位I!44の構成を示した図である。5 and 6 are constant potential @24 in FIG. 1 and constant potential I! in FIG. 2. 44 is a diagram showing the configuration of 44.
第5図及び第6図では、便宜上MOSキャパシタを第1
図の構成で示しであるが、これを第2図の構成に置き換
えても本発明の主旨に反しない〇第5図は、縦方向に隣
あった二つの画素を示した図であり、58.59.60
はゲート線、61はデータ線、62.65は定電位線で
ある。定電位線62,63はMOSキャパシタ64.6
5がON状態となる電位に固定される。5 and 6, for convenience, the MOS capacitor is shown in the first
Although the configuration is shown in the figure, it does not go against the gist of the present invention even if it is replaced with the configuration in Figure 2. Figure 5 is a diagram showing two pixels adjacent in the vertical direction, 58 .59.60
is a gate line, 61 is a data line, and 62.65 is a constant potential line. Constant potential lines 62 and 63 are MOS capacitors 64.6
5 is fixed at a potential that turns it on.
第6図は、第5図と異なり、定電位線を隣接したゲート
線で代用する。この場合、MOSキャパシタ69.70
が常にON状態とはならず、前記MOSキャパシタは、
電荷を保持する働きをしない@この問題を解決するため
、MOSキャパシタ69.70のサブストレートに選択
的にP型又はN型の不純物イオンをドープする0即ち・
第3図及び第4図において、MOSキャパシタのサブス
トレート28及び47にP型又はN型の不純物をドープ
した構造とする。In FIG. 6, unlike FIG. 5, the constant potential line is replaced by an adjacent gate line. In this case, the MOS capacitor 69.70
is not always in the ON state, and the MOS capacitor is
Does not function to hold charge @To solve this problem, the substrate of the MOS capacitor 69.70 is selectively doped with P-type or N-type impurity ions.
In FIGS. 3 and 4, the substrates 28 and 47 of the MOS capacitor are doped with P-type or N-type impurities.
アクティブマトリクスパネルを本発明を用いて構成する
ことによって、画素を微細化・高密度化した際に生ずる
保持時間の減少によるコントラストの低下、クロストー
ク等の表示性能の劣化を防止することが可能となる。By configuring an active matrix panel using the present invention, it is possible to prevent deterioration of display performance such as a decrease in contrast and crosstalk due to a decrease in retention time that occurs when pixels are made smaller and denser. Become.
本発明は、電荷保持用のキャパシタを、液晶セルと並列
に、薄膜トランジスタのゲート絶縁膜と同一の構造で形
成することにより、前記電荷保持用キャパシタの単位面
積当りの容量値を大きなも、のとすることが出来る。従
って、画素内に占める電荷保持用キャパシタの面積比は
小さくて済むO′また、電荷保持用のMOSキャパシタ
を常にOK状態に保つための定電位線を設けたことによ
って、電荷保持用キャパシタを作るための特別な製造プ
ロセスを一切必要とせず、従来どうりのプロセスで製造
可能となる。In the present invention, by forming a charge retention capacitor in parallel with a liquid crystal cell and having the same structure as the gate insulating film of a thin film transistor, the capacitance value per unit area of the charge retention capacitor can be increased. You can. Therefore, the area ratio of the charge retention capacitor in the pixel can be small.In addition, by providing a constant potential line to keep the charge retention MOS capacitor in an OK state, the charge retention capacitor There is no need for any special manufacturing process, and it can be manufactured using conventional processes.
一方、MO8キャパシタのサブストレートに不純物をド
ープする構造を採用すれば、製造プロセスは一工程増え
るものの隣接する画素のゲート線を用いてMOSキャパ
シタを形成出来、画素の開口率は大きく保たれる。On the other hand, if a structure in which the substrate of the MO8 capacitor is doped with impurities is adopted, although the manufacturing process increases by one step, the MOS capacitor can be formed using the gate line of an adjacent pixel, and the aperture ratio of the pixel can be maintained large.
第1図は本発明のアクティブマトリクスパネルの構成図
〇
第2図は本発明のもう一つの構成図。
第3図、第4図は、それぞれ、第1図、第2図ニ示した
本発明のアクティブマトリクスパネルの断面図@
第5図、第6図は、本発明のアクティブマ) IJクス
パネル中のMOSキャパシタの接続を示した構成図。
第7図は、従来の画素部の構成図。
第8図は、アクティブマトリクスパネルの全体図0
以上FIG. 1 is a block diagram of an active matrix panel of the present invention. FIG. 2 is another block diagram of the present invention. Figures 3 and 4 are cross-sectional views of the active matrix panels of the present invention shown in Figures 1 and 2, respectively @ Figures 5 and 6 are the active matrix panels of the present invention FIG. 3 is a configuration diagram showing connections of MOS capacitors. FIG. 7 is a configuration diagram of a conventional pixel section. Figure 8 is an overall diagram of the active matrix panel.
Claims (4)
よって導通・非導通を制御される薄膜トランジスタ群及
び該薄膜トランジスタ群を介してデータ線に接続される
液晶セル群より成るアクティブマトリクスパネルにおい
て、 前記液晶セルより成るキャパシタと並列に、前記薄膜ト
ランジスタのゲート絶縁膜と同一構造の絶縁膜を用いて
形成されたMOSキャパシタを設けたことを特徴とする
アクティブマトリクスパネル。(1) In an active matrix panel consisting of a plurality of data lines, a plurality of gate lines, a group of thin film transistors whose conduction/non-conduction is controlled by the gate lines, and a group of liquid crystal cells connected to the data lines via the group of thin film transistors, An active matrix panel characterized in that a MOS capacitor formed using an insulating film having the same structure as the gate insulating film of the thin film transistor is provided in parallel with the capacitor made of the liquid crystal cell.
に、他方の電極を、縦方向に隣接する画素のゲート線又
は一定電位のラインに接続したことを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のアクティブマトリクスパネル。(2) The MOS capacitor has one electrode connected to a pixel electrode and the other electrode connected to a gate line of a vertically adjacent pixel or a line of constant potential. Active matrix panel as described.
ドープされないシリコン薄膜としたことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のアクティブマトリクスパネル
。(3) The active matrix panel according to claim 1, wherein the substrate of the MOS capacitor is a silicon thin film that is not doped with impurities.
はN型に不純物ドープされたシリコン薄膜としたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のアクティブマト
リクスパネル。(4) The active matrix panel according to claim 1, wherein the substrate of the MOS capacitor is a silicon thin film doped with P-type or N-type impurities.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60150517A JPS6210619A (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Active matrix panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60150517A JPS6210619A (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Active matrix panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6210619A true JPS6210619A (en) | 1987-01-19 |
Family
ID=15498587
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60150517A Pending JPS6210619A (en) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | Active matrix panel |
Country Status (1)
Country | Link |
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