JPS62105440A - Oscillation type stage device - Google Patents

Oscillation type stage device

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Publication number
JPS62105440A
JPS62105440A JP24549985A JP24549985A JPS62105440A JP S62105440 A JPS62105440 A JP S62105440A JP 24549985 A JP24549985 A JP 24549985A JP 24549985 A JP24549985 A JP 24549985A JP S62105440 A JPS62105440 A JP S62105440A
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JP
Japan
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stage
vibration
piezoelectric actuator
frequency
sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP24549985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoki Funakubo
朋樹 舟窪
Hideo Adachi
日出夫 安達
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To assure the oscillation with high oscillation level and amplitude by a small piezoelectric actuator and a small power supply by a method wherein an oscillation stage with mass and spring constant corresponding to the stage oscillation as a target of natural oscillation is utilized. CONSTITUTION:A piezoelectric actuator 38 impressed with AC high voltage from an AC high voltage power supply is expanded and contracted to reciprocate a stage 37. When the piezoelectric actuator 38 is driven at the resonance frequency decided by the mass of stage 37 and the spring constant, a large amplitude of stage which can not be obtained in the non-resonance state can be assured.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野) 本発明はステージを板ばねで90)娠動要索により保持
し、かつステージをア//f11−一タにJ、り駆動し
て振動させるJ、うにしkIAG勤型スデージ装置に関
する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention holds a stage with a leaf spring by means of a tension rope, and drives the stage simultaneously with the motor to vibrate. J, Unishik relates to IAG type storage device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

最近、SiやQaAs等の半導体、窒化硅素や炭化硅素
等の高密度焼結体、カラス、種々の金属、などの表面の
欠陥構造を微少領域ごとに高分解能で観測するどいった
ニーズが111えつつある。例えばSi、、QaAs等
からなる半導体素子は、最近ますます高集積化の傾向に
あり、極く僅かな欠陥も素子の不良につ<rがり、歩留
りを悪化さけるので、上記のような観測の必要1’lか
高Jつでいる。
Recently, there has been a growing need for high-resolution observation of defect structures on the surfaces of semiconductors such as Si and QaAs, high-density sintered bodies such as silicon nitride and silicon carbide, glass, and various metals in minute regions. It's coming. For example, semiconductor devices made of Si, QaAs, etc. have recently become more and more highly integrated, and even the slightest defect can lead to device failure, reducing yields. Need 1'l or high J.

上記欠陥にJこる素子の不良を<Cくし、歩留りの悪化
を防ぐには、前工程にj; L)る検査内容を充実させ
、欠陥材料を排斥して出発材料の改質を進めると共に、
本工程においも欠陥材料を選別除去して欠陥材料を使用
覆ることがないように配慮する必要がある。fウェハー
の表面には種々の欠陥があるが、ぞの一つに)−1ag
eという表面欠陥がある。
In order to reduce the number of device failures due to the above defects and prevent deterioration of yield, it is necessary to enhance the inspection contents in the previous process, reject defective materials, and proceed with the modification of the starting materials.
In this process as well, care must be taken to sort out and remove defective materials so that defective materials are not used again. There are various defects on the surface of the f wafer, one of which is -1ag
There is a surface defect called e.

この欠陥は、0.5〜2nmの微小な凹凸であるといわ
れている。従来は、このl−1a g eなる表面欠陥
を適確に検出できる測定手段がなかった。このため、専
ら熟練者による肉眼検査に依存していた。しかし上記検
査は、人手によるものであるため、検査ミスが生じ易い
上、全数ヂエツク検査であるので、多大な工数および労
力を必要とした。
This defect is said to be minute irregularities of 0.5 to 2 nm. Conventionally, there has been no measuring means that can accurately detect this surface defect called l-1age. For this reason, it has relied exclusively on visual inspection by skilled personnel. However, since the above-mentioned inspection is performed manually, inspection errors are likely to occur, and since the inspection is a 100% check inspection, it requires a large amount of man-hours and labor.

ところで、上記のような凹凸を、臨界角法によるフォー
カスi!信号を用いてヂエックする手段がある。この手
段によれば、他の手段たとえば光学位相測定によるミラ
ー干渉測定法や表面弾性波を用い0次、1次光の表面咬
口1光の位相検出による手段、あるいは静電容量フォー
カス情報を用いる手段等に比べて、特に横方向分解能に
すぐれており、その精度を、0.1tim以下まで高め
ることが可能であるという特徴をf1シ(いる。
By the way, the above-mentioned unevenness can be solved by focus i! using the critical angle method. There is a way to check using signals. According to this means, other means such as mirror interferometry using optical phase measurement, means using surface acoustic waves to detect the phase of surface occlusion light of 0th and 1st order light, or capacitance focus information are used. The f1 type has a feature that it has especially excellent lateral resolution compared to other methods, and its accuracy can be improved to 0.1 tim or less.

しかるに上記手段を測定機としC実用化するためには、
例えばシー11ビームス1ヤナなどの光学的ヘッド又は
試料をli[したステージのいずれが一方を、水平面内
に、1夕いて0.11+m以下の精度にてXY方向に移
動ざUて走査4−る必要がある。
However, in order to put the above means into practical use as a measuring device,
For example, either an optical head such as a C-11 Beams 1 Yana or a stage with a sample scanned by moving one side in the XY direction in a horizontal plane with an accuracy of 0.11+ m or less in one evening. There is a need.

このXY方向への移動は、一つの表面プロファイル像を
得るのか目的で・ある。したがって光学的ヘッドまたは
ステージの移動は高速度で行なう必要がある。つまり一
定周波数で高速振動させる必要がある。なお光学的ヘッ
ドを移動させると、光学的ヘッドを支持している腕の部
分の撓み振動等の不要な振動を起こすので、ステージ移
動方式の方が好ましいといえる。
The purpose of this movement in the X and Y directions is to obtain one surface profile image. Therefore, the optical head or stage must be moved at high speed. In other words, it is necessary to vibrate at a constant frequency and at high speed. Note that moving the optical head causes unnecessary vibrations such as bending vibrations of the arm portion supporting the optical head, so the stage movement method is preferable.

第8図は上記のようt【一定周波数の高3!振動を行な
い、ウェハー上を止釘しlj二場合のbJ、うを示す図
である。図中へ×[3は、1両像面プロファイルPを示
しており、例えばA −’l 00am、 B=100
mとし、水平走査線110間隔Lλを1−λ−〇、1譚
とすると、水甲走り線11の本数は、−F)− B/Lλ−100pn110.1pm=1000本とな
る。例えば、X方向に1kHzの周波数で振動させるも
のとすると、帰線を用いない場合、1秒で1画面が形成
されることになる。
Figure 8 shows t[constant frequency high 3! FIG. 3 is a diagram showing bJ and U when the wafer is vibrated and the top of the wafer is fixed. Into the figure
m, and the interval Lλ of the horizontal scanning lines 110 is 1-λ-〇, 1 tan, then the number of water instep running lines 11 is -F)-B/Lλ-100pn110.1pm=1000. For example, if vibration is made in the X direction at a frequency of 1 kHz, one screen will be formed in one second if no retrace is used.

従来、このような一定周波数の高速振動を行なわせるた
めのステージ駆動手段として、ステッピングモータ、D
Dモータなどが使用されてきた。
Conventionally, stepping motors and D
D motors have been used.

しかし精度が悪いため、最近は高精度な振動駆動が可能
な圧電アクチュエータが用いられるようになった。
However, due to its poor accuracy, piezoelectric actuators capable of highly accurate vibration drive have recently been used.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、上記圧電アクチュエータを駆動源どして
用いた振動ステージにも次のような問題があった。一般
に、ステージの重量はかなり大きいため、ステージの重
量と振動系のバネ定数よって決まる共振周波数は、通常
高々100Hz程度である。従って前記1画面のプロフ
ァイルを得るのに10秒稈疫かかることになる。このた
め、X方向は100H2程度の振動アクチュエータを用
い、Y方向は10秒間に100譚程度変位する7クチュ
エータを用いることになる。これによって10秒で一つ
のプロファイルを形成4ることとなる。
However, the vibration stage using the piezoelectric actuator as a drive source also has the following problems. Generally, the weight of the stage is quite large, so the resonant frequency determined by the weight of the stage and the spring constant of the vibration system is usually about 100 Hz at most. Therefore, it takes 10 seconds to obtain the profile of one screen. For this reason, a vibration actuator of about 100H2 is used in the X direction, and 7 actuators with a displacement of about 100H2 per 10 seconds are used in the Y direction. As a result, one profile is formed in 10 seconds.

ただし、上記ブ[」ツノ・イノ1川、1、I’) 、 
 l putの面方向精度を有4る場合(゛あり、−二
の精度を低トさi! lr?る場合には、それに応じ(
f11ツノフィル形成11.%間を短くできることは、
8・)まC゛b <rい1゜表面プロファイル検査装置
の51、うに数11z =−数百)12の振動数で、数
i、’、i ツノm (1) 変位をIn型Illノ7
クブ=ユエータを用い−C実JliさUるためには、圧
電アクチュエータの積層枚数を増加さI!る必要がある
However, the above bu[''Tsuno Ino 1 River, 1, I'),
If the surface direction accuracy of l put is 4 (゛, -2 accuracy is low i!lr?), then accordingly (
f11 Horn Phil formation 11. What you can do to shorten the % interval is
8.) C゛b <r1゜51 of the surface profile inspection device, the number 11z = - several hundred) At the frequency of 12, the number i, ', i Tsunomm (1) The displacement is 7
In order to realize the actual value using Kubu-Yueta, the number of laminated piezoelectric actuators must be increased. It is necessary to

しかし積層枚数を増加さlると、駆動系ひいCは装置の
大形化、駆動?4&諒の大容量形化、等を招く問題があ
り、実現困勤であ・> /J、。
However, when the number of laminated sheets is increased, the drive system (C) becomes larger and the drive system becomes larger. It is difficult to realize this, as there are problems such as the large-capacity version of 4 & Ryo.

また、振動ス7−ジの振幅の安定化問題とQる。Also, there is a problem of stabilizing the amplitude of the vibration strip.

この点が解決されていないと、画面リーイズど画像の歪
みを起こし、表面ブロワj・イル検査精度を低下させる
ことになる。
If this point is not resolved, image distortion such as screen leakage will occur, reducing the accuracy of surface blower inspection.

そこで本発明は、小型El’電)7りf−ユニー夕お」
:び小型電源により所要の人さな振動数および振幅を有
する振動を得ることのて゛さる振動型ステージ装置を提
供することを目的とする。また、常に振幅の安定した振
動が得られる振動型ステージ装置を提供することを目的
とする。さらにアクチュエータに対して常に振動ステー
ジの共振周波数に合致した周波数の交流高電圧を印加す
ることのできる振動型ステージ装置を提供することを目
的とする。
Therefore, the present invention has been developed to provide a compact El'den)
An object of the present invention is to provide a vibrating stage device that can obtain vibrations having a required human-like frequency and amplitude using a compact power supply. Another object of the present invention is to provide a vibrating stage device that can always produce vibrations with stable amplitude. Another object of the present invention is to provide a vibrating stage device that can always apply an AC high voltage having a frequency matching the resonant frequency of the vibrating stage to an actuator.

〔問題点を解決づ゛るための手段〕[Means to solve problems]

本発明は上記問題点を解決し、目的を達成するために次
のJ:つな手段を講じた。
The present invention has taken the following measures to solve the above problems and achieve the object.

(1)固有振動数が目標とするステージ振動数に合致−
46ようにステージの買足およびばね定数を選定された
振動ステージを設け、この振動ステージに振動用駆動力
を与える如く圧電アクチュエータを設ける。そして、こ
の圧電アクチュエータに前記振動ステージの固有振動数
と等しい周波数をイ1する交流電圧を印加するJ:うに
する。なお、圧電アクチュエータは、ばね部材を介して
振動型ステージまたはステージ固定台と結合されること
が望ましい。
(1) Natural frequency matches target stage frequency -
A vibration stage having a stage width and a spring constant selected as shown in FIG. 46 is provided, and a piezoelectric actuator is provided to provide a driving force for vibration to the vibration stage. Then, an AC voltage having a frequency equal to the natural frequency of the vibration stage is applied to this piezoelectric actuator. Note that it is desirable that the piezoelectric actuator be coupled to a vibrating stage or a stage fixing base via a spring member.

(2)振動ステージtこ賑動用駆vJ力をjljえる如
く圧電アクチュエータを8儲【ノ、この月電ノ′り−f
二t ■−夕により与えられる振動用駆動力にJ:って
振動する前記振動ステージの振lIIゆ化出を検出りる
センサーを設ける。ぞしC1このセンサーの出力信号の
振幅と定電圧梵牛器ノ〕璽)出力されるM準電圧とを比
較して差出力を送出りる比較器を設【ノ、この比較器か
ら出力される差出力に応じた駆動電圧を前記圧電アクチ
ュエータに印加する高圧電源を設ける。
(2) Set the piezoelectric actuator to 8 to increase the driving force for vibration stage vibration.
A sensor is provided to detect the vibration of the vibration stage which vibrates in response to the vibration driving force given by the vibration drive force. A comparator is set up to compare the amplitude of the output signal of this sensor and the output M quasi-voltage of the constant voltage sensor and send out the difference output. A high voltage power source is provided that applies a drive voltage to the piezoelectric actuator according to the differential output.

(3)前記センサーの出力18日の位相と発振出力信号
の位相とを比較して位相差出力を送出づる位相差検出器
を設り、この位相差検出器からの位相差出力に基いて発
振周波数を変化さゼ、その発振出力信号を前記位相差検
出器へ比較入力として供給する発振器を設GJ 、この
5F、振器の発振出力信号に応じた駆動電圧を前記圧電
ノ′クチュエー夕に印加する高圧電源を設ける。な(1
j、前記センサーは、バイモルフ構造の圧電素子である
ことが望ましい。
(3) Provide a phase difference detector that compares the phase of the output 18 of the sensor with the phase of the oscillation output signal and sends out a phase difference output, and oscillates based on the phase difference output from this phase difference detector. An oscillator is provided that changes the frequency and supplies its oscillation output signal to the phase difference detector as a comparison input, and this 5F applies a driving voltage to the piezoelectric actuator according to the oscillation output signal of the oscillator. A high-voltage power source will be provided. (1
j. The sensor is preferably a piezoelectric element with a bimorph structure.

〔作用〕[Effect]

IE電アクブユエータがその固有振動数で駆動されるの
で、振動ステージはアクチュエーク自身の振動変位より
大きな変位で振動するようになる。
Since the IE electric actuator is driven at its natural frequency, the vibration stage vibrates with a displacement larger than the vibration displacement of the actuator itself.

つまり特定の共振周波数において、アクチュエータの微
小振動が拡大された形で、共振系のQに比例した大きな
振幅を得ることができ、プロファイル画面サイズの拡張
および高速性に大きく寄与し得るものとなる。
In other words, at a specific resonance frequency, the minute vibrations of the actuator are magnified to obtain a large amplitude proportional to the Q of the resonance system, which can greatly contribute to expanding the profile screen size and increasing speed.

また、センカーにより常時検出される振動ステージのX
Yh向の振動変化量、すなわち検出信号振幅が、常に同
一値を示すように、アクチュエータ駆動用電圧が制御さ
れる。
In addition, the X of the vibration stage is constantly detected by a sensor.
The actuator drive voltage is controlled so that the amount of vibration change in the Yh direction, that is, the detection signal amplitude always shows the same value.

さらに、センサーで検出された振動周波数に応じて、振
動駆動用の交流高電圧電源における交流周波数が、振動
ステージの固有共振周波数に高い精度で追従するように
なる。
Further, in accordance with the vibration frequency detected by the sensor, the AC frequency of the AC high voltage power supply for vibration driving follows the natural resonant frequency of the vibration stage with high accuracy.

振動ステージの共振周波数は、ステージの重量およびば
ね定数により決定されるか、周囲温度の変化等により使
用するばねの弾性定数の変化等の影響、さらにはステー
ジ上に被検物体を載せると、その重量により、共振周波
数が変動することがある。このとき、アクヂュ■−夕に
印加する交流周波数との間にずれがあると、十分な振動
が得られない場合がある。しかるに、常にステージの共
振周波数が検出され、これに追従した周波数を有する高
圧交流電圧がアクチュエータに印加されるので、安定し
た振動が(qられる。
The resonant frequency of a vibration stage is determined by the weight and spring constant of the stage, or by the effects of changes in the elastic constant of the spring used due to changes in ambient temperature, etc., and also by the effects of changes in the elastic constant of the spring used when an object is placed on the stage. Weight may change the resonant frequency. At this time, if there is a difference between the AC frequency applied to the actuators (1) and (2), sufficient vibration may not be obtained. However, since the resonant frequency of the stage is always detected and a high-voltage AC voltage having a frequency that follows this is applied to the actuator, stable vibration is produced.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の第1の実施例を示す平面図である。第
1図において除振効果の大きい基台10上には、ばね固
定部11〜14が設置されており、固定部11.12に
よって板ばね15の両端が固定されており、固定部13
.’l/lによっ【板ばね16の両端が固定されている
。上記対向配置された一対の板ばね15.16の、s’
r中央部にてY方向振動ステージ17の両端査ト5部1
7a、17bが支持されている。かくして、Y 71j
面振動ステージ17はY方向に移動可能な如く弾持され
ている。
FIG. 1 is a plan view showing a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, spring fixing parts 11 to 14 are installed on the base 10, which has a large vibration isolation effect, and both ends of the leaf spring 15 are fixed by the fixing parts 11 and 12.
.. [Both ends of the leaf spring 16 are fixed by 'l/l. s' of the pair of leaf springs 15 and 16 arranged opposite to each other.
Both ends of the Y-direction vibration stage 17 are inspected at the center part 5 part 1
7a and 17b are supported. Thus, Y 71j
The plane vibration stage 17 is elastically supported so as to be movable in the Y direction.

上記板ばね16に結合され(いる振動ステージ17の支
持部17bの端部には、積層へ“!圧電アクチュエータ
18の変位端が当接している。この積層型圧電アクチュ
エータ18のM端は前記基台上に設置されている固定部
19により固定されている。前記板ばね15の一側面に
はバイモルフ型圧電素子からなる変位センサー20が取
付けられている。このバイモルフ型圧電素子からなる変
位センサー20は、他のセンサーに比べて寸法的にコン
パクトになり、ダイナミックレンジが大きく、周波数レ
スポンスが良い等の利点を有している。
The displacement end of the piezoelectric actuator 18 is in contact with the end of the support part 17b of the vibration stage 17, which is connected to the plate spring 16. It is fixed by a fixing part 19 installed on the table.A displacement sensor 20 made of a bimorph type piezoelectric element is attached to one side of the leaf spring 15.Displacement sensor 20 made of this bimorph type piezoelectric element Compared to other sensors, the sensor has advantages such as being more compact in size, has a larger dynamic range, and has a better frequency response.

ただし、100Hz近傍またはそれ以下の周波数で駆動
する場合、出力インピーダンスが大きいので、インピー
ダンス変換用プリアンプ21を変位センサ20の近傍に
配置している。かくして上記変位センサー20からの出
力信号をインピーダンス変換用プリアンプ21を通して
端子22から変位量モニターおよび安定な振動を行なわ
せるための制御系に対して供給している。
However, when driving at a frequency near or below 100 Hz, the output impedance is large, so the impedance conversion preamplifier 21 is placed near the displacement sensor 20. In this way, the output signal from the displacement sensor 20 is supplied from the terminal 22 through the impedance conversion preamplifier 21 to a displacement amount monitor and a control system for stable vibration.

前記Y方向振動ステージ17上には、この振動ステージ
17を基台としてX方向の振動ステージが設けられてい
る。
On the Y-direction vibration stage 17, an X-direction vibration stage is provided using the vibration stage 17 as a base.

第2図は第1図に示されCいる装置のうち、X方向振動
ステージのみを油出しく示した平面図である。第2図に
示すようにX方向振動ステージは、Y方向振動ステージ
と同様の一構成となっている。
FIG. 2 is a plan view of the apparatus shown in FIG. 1, showing only the X-direction vibration stage with an oil outlet. As shown in FIG. 2, the X-direction vibration stage has the same configuration as the Y-direction vibration stage.

すなわち基台としてのY方向振動ステージ17上には、
ばね固定部31〜34が設置されており、固定部31.
32にJ:り板ばね35の両端が固定されており、固定
部33.3/Iにより板ばね36の両端が固定されてい
る。上記対向配置された一対の板ばね35.36の中火
部にでX方向振動ステージ37の両端支持部37(]、
37bが支持され、X方向に移動可能な如く弾持されて
いる。上記板ばね36に結合されている振動ステージ3
7の支持部37bの端部には、積層型圧電アクチュエー
タ3Bの変位端が当接している。この積層型圧電アクチ
ュエータ38の基端は前記Y方向振動ステージ17上に
設置されている固定部39により固定されている。前記
板ばね35の一側面にはバイモルフ型圧電素子からなる
変位センサー40が取付けられている。この変位センサ
40の近傍にはインピーダンス変換用プリアンプ41が
配置され、上記変位センサー4oからの出力信号がイン
ピーダンス変換用プリアンプ41を通して端子42から
変位量モニターおよび安定な振動を行なわせるための制
御系に対して供給されるものとなっている。
That is, on the Y-direction vibration stage 17 as a base,
Spring fixing parts 31 to 34 are installed, and the fixing part 31.
Both ends of a plate spring 35 are fixed to J: 32, and both ends of a plate spring 36 are fixed by a fixing portion 33.3/I. The pair of oppositely arranged leaf springs 35 and 36 are connected to the middle heat section of the X-direction vibration stage 37 at both ends of the support section 37 (],
37b is supported and held so as to be movable in the X direction. Vibration stage 3 coupled to the leaf spring 36
The displacement end of the laminated piezoelectric actuator 3B is in contact with the end of the support portion 37b. The base end of this laminated piezoelectric actuator 38 is fixed by a fixing part 39 installed on the Y-direction vibration stage 17. A displacement sensor 40 made of a bimorph piezoelectric element is attached to one side of the leaf spring 35. An impedance conversion preamplifier 41 is arranged near the displacement sensor 40, and the output signal from the displacement sensor 4o is passed through the impedance conversion preamplifier 41 to a terminal 42 to monitor the amount of displacement and to a control system for stable vibration. It will be supplied to

第3図は第2図を模式化した図である。今、交流高圧電
源により交流高電圧を圧電アクチュエータ38に印加す
ると、圧電アクチュエータ38が伸縮動作し、これに伴
ってステージが往復動作する。ステージ37の質量およ
びばね定数によって定まる共振周波数で圧電アクチュエ
ータ38を駆動すると、非共振状態では得られない大き
なステージの振幅が観測される。本発明者らが実験した
結果によれば、非共振状態では20−程度の振幅しか得
られないのに対して共振状態では、圧電アクチュエータ
自体は20tur+の振幅であるにも拘らず、ステージ
37は50IIfn程度の振幅が生じたことが確認され
た。
FIG. 3 is a schematic diagram of FIG. 2. Now, when an AC high voltage is applied to the piezoelectric actuator 38 by the AC high voltage power supply, the piezoelectric actuator 38 expands and contracts, and the stage reciprocates accordingly. When the piezoelectric actuator 38 is driven at a resonant frequency determined by the mass and spring constant of the stage 37, a large amplitude of the stage that cannot be obtained in a non-resonant state is observed. According to the results of experiments conducted by the present inventors, in the non-resonant state, only an amplitude of about 20 - can be obtained, whereas in the resonant state, although the piezoelectric actuator itself has an amplitude of 20 tur+, the stage 37 It was confirmed that an amplitude of about 50IIfn was generated.

第4図は制御系の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the control system.

なお第4図は一方向例えばX h向の振動制御系のみを
示したものであるが、Y/J向の振動制量系す同様に構
成される。第4図に小すJ、うに、汗電j′クヂュエー
タ38に対して交流高圧電源43から交流高電圧が印加
されると、振動が励起される。
Although FIG. 4 shows only the vibration control system in one direction, for example, the Xh direction, the vibration control system in the Y/J directions is constructed in the same manner. As shown in FIG. 4, when an AC high voltage is applied to the alterator 38 from the AC high voltage power supply 43, vibration is excited.

この場合の交流周波数は振動スj−ジ37およびばね定
数により定まる共振周波数に合致する周波数である。な
、13、第1図、第2図に示ず如く構成された振動型ス
テージ装置においては、ステージ37の重量や板ばね3
5.36祠質や板ばねに対しての張力のつけ方等の調節
にJ:す、ステージ37の共振周波数は数Hz〜数10
0Hz程度となる。
The alternating current frequency in this case is a frequency that matches the resonant frequency determined by the vibration strip 37 and the spring constant. 13. In the vibrating stage device configured as shown in FIGS. 1 and 2, the weight of the stage 37 and the leaf spring 3
5.36 For adjusting the abrasive quality and how to apply tension to the leaf spring, etc., the resonant frequency of the stage 37 is from several Hz to several tens of Hz.
The frequency will be approximately 0Hz.

ただし、この共振周波数は、Xツノ面振動ステージに関
するものである。YIj向振動ステージにおいては、そ
の上に載買されるX方向振動ステージの重量を加味した
白目の重量に−)いて計粋された共振周波数となる。し
かし4kがらY方向についてのステージの振動は、第8
図に示したように走査する場合には、極めて遅い振lI
Jどなり、例えばY方向100戸の変位に数秒〜数10
秒程度の時間がかかることになる。したがって実際に用
いるY方向振動ステージの振動数は、X方向の振動ステ
ージの共振周波数に比べ、かなり低いものとなる。
However, this resonant frequency is related to the X-horn plane vibration stage. In the YIj-direction vibration stage, the resonance frequency is calculated by adding the weight of the white of the eye, which takes into account the weight of the X-direction vibration stage mounted above it. However, the vibration of the stage in the Y direction from 4K is the 8th
When scanning as shown in the figure, a very slow swing lI
J roar, for example, a displacement of 100 houses in the Y direction takes several seconds to several tens of seconds.
It will take about seconds. Therefore, the frequency of the Y-direction vibration stage that is actually used is considerably lower than the resonance frequency of the X-direction vibration stage.

ただし、Y方向の変位置をモニターし、その信号を用い
てY方向振動ステージの移動周期を正確に制御する必要
性についてはX方向の場合と全く同じである。ただし、
Y方向の変位をモニターするセンサとしては、微分セン
サーである圧電素子よりも、積分センサーデアルポテン
ショメーたや容量センサの中で高精度のものを用いる方
が望ましいといる。
However, the necessity to monitor displacement in the Y direction and use the signal to accurately control the movement period of the Y-direction vibration stage is exactly the same as in the case of the X-direction. however,
As a sensor for monitoring displacement in the Y direction, it is preferable to use a highly accurate integral sensor, dual potentiometer, or capacitive sensor, rather than a piezoelectric element, which is a differential sensor.

第4図において、圧電素子からなる変位センサー 4.
0の出力は増幅器41により増幅され、その交流波形の
ピーク値がピークホールド回路44にJ:す、ある一定
時間ごとにボールドされる。このホールド値は、定電圧
発生器45から出力される基準電圧と比較器46におい
て比較され、差出力が送出される。この差出力に比例し
た電圧が高圧電源43の電圧に重畳され、これがアクチ
ュエータに印加される。以上の経路を一つのフィードバ
ックループとして、小−ルド舶ど基準電L1−との斧が
零になるように電月]制御される。なおY方向に関して
は、基準電■)を、指定したタイムヂト−1〜にしたが
って出力できるJ、うにり−る。このように第4図の回
路によれぼ印加霜月に」:っ−Cスデージの振幅を安定
化することができる。
In FIG. 4, a displacement sensor consisting of a piezoelectric element 4.
The output of 0 is amplified by an amplifier 41, and the peak value of the AC waveform is sent to a peak hold circuit 44 in bold at regular intervals. This hold value is compared with the reference voltage output from the constant voltage generator 45 in a comparator 46, and a difference output is sent out. A voltage proportional to this differential output is superimposed on the voltage of the high voltage power supply 43, and this is applied to the actuator. Using the above-mentioned path as one feedback loop, the electric power is controlled so that the axes between the small ship and the reference voltage L1- become zero. Regarding the Y direction, the reference voltage (1) can be output according to the specified time period -1. In this way, the circuit shown in FIG. 4 can stabilize the amplitude of the "C" stage when the voltage is applied.

次に本発明の他の実施例について説明する。Next, other embodiments of the present invention will be described.

第5図は、本発明の第2の実施例を示す図で、第2図に
対応させて示したqi而面である。第5図に示す第2の
実施例が前記第1の実施例と異なる点は、圧電アクチュ
エータ38と振動ステージ37との間に、例えば板ばね
、]イルばね等からなる弾性部材50を介イ1さl! 
/、:点である。第6図は第5図を模式化した図である
FIG. 5 is a diagram showing a second embodiment of the present invention, and shows a qi surface corresponding to FIG. The second embodiment shown in FIG. 5 differs from the first embodiment in that an elastic member 50 made of, for example, a leaf spring or a coil spring is interposed between the piezoelectric actuator 38 and the vibration stage 37. 1!
/, : is a point. FIG. 6 is a schematic diagram of FIG. 5.

このよ、うに構成した本実施例にJ:れば、弾性部材が
圧電アクチュエータ3 [3ど振動ステージ37との間
に介在しているため、)(振点に近付いても、圧電アク
チュエータ38と振動ステージ37との当接面が離れる
ことがない3.シたがって振動ステージ37がスムーズ
に振動し、振動波形がきれいなものとなり、しかも、振
幅が制限されずに大きな振幅が得られる。つまり上記弾
性部材が無いと、圧電アクチュエータ38と振動ステー
ジ37とが直接当接した状態にあるため、共振点に近付
くとその当接面が瞬間的に離れてしまうことがある。
In this embodiment configured as above, since the elastic member is interposed between the piezoelectric actuator 3 and the vibration stage 37, even when the piezoelectric actuator 38 approaches the vibration point, 3. The contact surface with the vibration stage 37 does not separate. 3. Therefore, the vibration stage 37 vibrates smoothly, the vibration waveform becomes clean, and a large amplitude can be obtained without any amplitude restriction. In other words, the above-mentioned Without the elastic member, the piezoelectric actuator 38 and the vibration stage 37 would be in direct contact with each other, so that the contact surfaces may momentarily separate when approaching the resonance point.

このため振動波形が乱れたり、振幅が制限を受けたりす
るが、本実施例によれば、このような事態が発生するの
を回避できる。したがって高精度の変位が要求される場
合等において有効である。本発明者らの実験によれば、
第2の実施例においては、圧電アクチュエータ38自体
の変位が201I!nであるとぎ、振動ステージ38は
1100uの振幅を生じることが確認された。ただし、
この第2実施例においては、介在させた弾性部材50に
より、共振周波数が変化することになるので注意を要す
る。
For this reason, the vibration waveform may be disturbed or the amplitude may be limited, but according to this embodiment, such situations can be avoided. Therefore, it is effective in cases where highly accurate displacement is required. According to the experiments of the present inventors,
In the second embodiment, the displacement of the piezoelectric actuator 38 itself is 201I! It was confirmed that the vibration stage 38 generates an amplitude of 1100u when n. however,
In this second embodiment, care must be taken because the resonant frequency changes due to the intervening elastic member 50.

第7図は本発明の第3の実施例の主要部を示す図で、第
4図に対応させて示した図である。この第3の実施例が
前記第1の実施例と異なる点は、図示の如く位相差検出
器61および発振器62により、周波数制」匁るように
した点である。ブなわら、変位センサ−−40の出力信
号は、増幅器41により増幅されて位相差検出器61に
入力する。同時にアクチュエータ駆動用の振動周波数を
有する発振器62の発振出力信号が位相差検出器61に
入力する。今、両信号の位相差が零であって、安定な振
動が行なわれでいるときは、位相差検出器61からの出
力はOて”ある。しかるに、振動ステージ37の共振周
波数が、試料の載置あるいは周囲温度の変化等にJ、り
変化−tjると、両信号間に、位相差が生じる。そ・)
りると、この位相差は位相差検出器61により検出(S
れ、位相差に応じた出力が送出される。この出力が発振
器62に入力すると、発振器62の光振出力信Hの周波
数が変化し、振動ステージの」L振周波数に合致したも
のとなる。つまり、本実施例にJ3いては、発振器62
の出力周波数が、常に振11Jステージ37の共振周波
数に合致したしのどなるように自動制御される。
FIG. 7 is a diagram showing the main parts of the third embodiment of the present invention, and corresponds to FIG. 4. The third embodiment differs from the first embodiment in that, as shown in the figure, a phase difference detector 61 and an oscillator 62 are used to perform frequency control. The output signal of the displacement sensor 40 is amplified by the amplifier 41 and input to the phase difference detector 61. At the same time, an oscillation output signal from the oscillator 62 having a vibration frequency for driving the actuator is input to the phase difference detector 61 . Now, when the phase difference between both signals is zero and stable vibration is being performed, the output from the phase difference detector 61 is O. However, the resonant frequency of the vibration stage 37 is If there is a change in mounting or ambient temperature, etc., a phase difference will occur between the two signals.
This phase difference is detected by the phase difference detector 61 (S
An output corresponding to the phase difference is sent out. When this output is input to the oscillator 62, the frequency of the optical oscillation output signal H of the oscillator 62 changes to match the L oscillation frequency of the vibration stage. In other words, in this embodiment, in J3, the oscillator 62
The output frequency is automatically controlled so that it always matches the resonance frequency of the 11J stage 37.

なお本発明は前記各実施例に限定されるものではない。Note that the present invention is not limited to the above embodiments.

例えば、振動安定化のための制御系としては、第4図に
示した回路と第7図に示した回路どを倒台したものであ
ってもよい。すなわち変位センサーの出力の振幅値と周
波数値とを共に利用して総合的に制御するようにする。
For example, the control system for vibration stabilization may be a combination of the circuit shown in FIG. 4 and the circuit shown in FIG. 7. That is, the amplitude value and the frequency value of the output of the displacement sensor are used together for comprehensive control.

このようにすれば、前記実施例よりも構成は若干複雑化
し、コスト高となるが、振動ステージの振動をより安定
化できることになる。すなわち、ステージの共振周波数
に追従した交流電圧を与えたとしても、被検物体をステ
ージ上に載せると、振動のダンピングにより振幅が変動
することがある。また印加電圧で調節するにしても、振
動系のQが大きいと、振幅の変化が大きすぎ電圧による
追従が不寸分になる場合がある。従って、ステージの共
振周波数に追従して交流周波数を有した高圧電源を印加
する手段と、変位センサーによって検出した振幅が一定
になるように電圧を印加4る手段とを(Jl用すること
にJ:す、最も安定した振動が得られる。また前記実施
例では変位センサーとして、バイモルフ構造の型圧電素
子を用いた例を示したが、静電容量センサー、光7〕・
イバーl!ンリー、等をもちいてもよい。また前記実施
例では弾性部材50を圧電アクチュエータ38と振動ス
テージ37との間に介在させた場合を示しIJが、圧電
アクチュエータ38と基台10との間に介在さゼるよう
にしてもよい。このほか本発明の要旨を逸脱しない範囲
で種々変形実施可能であるのは勿論である。
If this is done, the configuration will be slightly more complicated and the cost will be higher than in the previous embodiment, but the vibration of the vibration stage can be made more stable. That is, even if an AC voltage that follows the resonant frequency of the stage is applied, when an object to be tested is placed on the stage, the amplitude may fluctuate due to vibration damping. Furthermore, even if adjustment is performed using the applied voltage, if the Q of the vibration system is large, the change in amplitude may be too large and follow-up by the voltage may be inadequate. Therefore, a means for applying a high voltage power source having an AC frequency following the resonant frequency of the stage, and a means for applying a voltage so that the amplitude detected by the displacement sensor becomes constant (for Jl use, J : The most stable vibration can be obtained.Also, in the above embodiment, a bimorph type piezoelectric element was used as a displacement sensor, but a capacitance sensor, light 7],
Ivarl! You can also use ``nli,'' etc. Further, in the above embodiment, the elastic member 50 is interposed between the piezoelectric actuator 38 and the vibration stage 37, but the IJ may be interposed between the piezoelectric actuator 38 and the base 10. It goes without saying that various other modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

〔発明の効宋〕[Efficacy of invention Song Dynasty]

以上説明したように、本発明にJ:れば小型圧電アクチ
ュエータおよび小型富諒により所要の大きな振動数およ
び振幅を有Jる振動を得ることのできる振動型ステージ
装置を提供できる。また、常に振幅の安定した振動が得
られる振動型ステージ装置を提供できる。さらにアクチ
ュエータに対して常に振動ステージの共振周波数に合致
した周波数の交流高電圧を印加することのできる振動型
ステージ装置を提供できる。
As described above, the present invention can provide a vibrating stage device that can generate vibrations with a required large frequency and amplitude using a small piezoelectric actuator and a small piezoelectric actuator. Further, it is possible to provide a vibrating stage device that can always obtain vibrations with stable amplitude. Furthermore, it is possible to provide a vibrating stage device that can always apply an AC high voltage having a frequency that matches the resonant frequency of the vibrating stage to the actuator.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図〜第4図は本発明の第1の実施例を示す図で、第
1図は振動型ステージ装置の機構部全体の構成を示す平
面図、第2図はX方向振動ステージの平面図、第3図は
第2図の模式図、第4図は振動安定化手段をもった制御
系の構成を示すブロック図である。第5図および第6図
は本発明の第2の実施例を示す図で、第5図は主要部の
構成を示す平面図、第6図は第5図の模式図、第7図は
本発明の第3の実施例の主要部の構成を示すブロック図
である。第8図は従来技術の問題点を説明するだめの図
である。 10・・・基台、11〜14.31〜34・・・ばね固
定部、15,16.35.36・・・板ばね、17・・
・Y方向振動ステージ、37・・・X方向振動ステージ
、18.38・・・圧電アクチュエータ、19.39・
・・固定部、20.40・・・変位センサ、21.41
・・・インピーダンス変換用プリアンプ、22.42・
・・端子、50・・・弾性部材。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 W&1図 第4図 第2図 第6図 第7図 第8図
1 to 4 are diagrams showing a first embodiment of the present invention, FIG. 1 is a plan view showing the overall structure of the mechanical part of the vibration stage device, and FIG. 2 is a plan view of the X-direction vibration stage. 3 is a schematic diagram of FIG. 2, and FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a control system having vibration stabilizing means. 5 and 6 are diagrams showing a second embodiment of the present invention. FIG. 5 is a plan view showing the configuration of the main part, FIG. 6 is a schematic diagram of FIG. 5, and FIG. 7 is a main part of the main part. FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of main parts of a third embodiment of the invention. FIG. 8 is a diagram for explaining the problems of the prior art. 10... Base, 11-14. 31-34... Spring fixing part, 15, 16. 35. 36... Leaf spring, 17...
・Y direction vibration stage, 37... X direction vibration stage, 18.38... Piezoelectric actuator, 19.39.
・Fixed part, 20.40 ・Displacement sensor, 21.41
・・・Preamplifier for impedance conversion, 22.42・
...Terminal, 50...Elastic member. Applicant's agent Patent attorney Atsushi Tsuboi W&1 Figure 4 Figure 2 Figure 6 Figure 7 Figure 8

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)固有振動数が目標とするステージ振動数に合致す
るように質量およびばね定数を選定された振動ステージ
と、この振動ステージに振動用駆動力を与える如く設け
られた圧電アクチュエータと、この圧電アクチュエータ
に前記振動ステージの固有振動数と等しい周波数を有す
る交流電圧を印加する手段とを具備したことを特徴とす
る振動型ステージ装置。
(1) A vibration stage whose mass and spring constant are selected so that the natural frequency matches the target stage vibration frequency, a piezoelectric actuator provided to give vibration driving force to this vibration stage, and this piezoelectric A vibrating stage device comprising means for applying an alternating current voltage having a frequency equal to the natural frequency of the vibrating stage to an actuator.
(2)圧電アクチュエータは、振動ステージおよびまた
はステージ基台に対し、ばね部材を介して結合されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の振動型
ステージ装置。
(2) The vibrating stage device according to claim 1, wherein the piezoelectric actuator is coupled to the vibrating stage and/or the stage base via a spring member.
(3)振動ステージと、この振動ステージに振動用駆動
力を与える如く設けられた圧電アクチュエータと、この
圧電アクチュエータにより与えられる振動用駆動力によ
って振動する前記振動ステージの振動変化量を検出する
センサーと、このセンサーの出力信号の振幅と定電圧発
生器から出力される基準電圧とを比較して差出力を送出
する比較器と、この比較器から出力される差出力に応じ
た駆動電圧を前記圧電アクチュエータに印加する高圧電
源とを具備したことを特徴とする振動型ステージ装置。
(3) A vibration stage, a piezoelectric actuator provided to apply a vibration driving force to the vibration stage, and a sensor that detects the amount of change in vibration of the vibration stage that vibrates due to the vibration driving force applied by the piezoelectric actuator. , a comparator that compares the amplitude of the output signal of this sensor with a reference voltage output from the constant voltage generator and sends out a difference output; and a drive voltage corresponding to the difference output output from this comparator to the piezoelectric generator. A vibrating stage device characterized by comprising a high voltage power supply applied to an actuator.
(4)振動ステージと、この振動ステージに振動用駆動
力を与える如く設けられた圧電アクチュエータと、この
圧電アクチュエータにより与えられる振動用駆動力によ
つて振動する前記振動ステージの振動変化量を検出する
センサーと、このセンサーの出力信号の位相と発振出力
信号の位相とを比較して位相差出力を送出する位相差検
出器と、この位相差検出器からの位相差出力に基いて発
振周波数を変化させ発振出力信号を前記位相差検出器へ
比較入力として供給する発振器と、この発振器の発振出
力信号に応じた駆動電圧を前記圧電アクチュエータに印
加する高圧電源とを具備したことを特徴とする振動型ス
テージ装置。
(4) A vibration stage, a piezoelectric actuator provided to apply a vibration driving force to the vibration stage, and detecting the amount of change in vibration of the vibration stage vibrated by the vibration driving force applied by the piezoelectric actuator. A sensor, a phase difference detector that compares the phase of the output signal of this sensor with the phase of the oscillation output signal and sends out a phase difference output, and changes the oscillation frequency based on the phase difference output from this phase difference detector. oscillator that supplies an oscillation output signal to the phase difference detector as a comparison input; and a high-voltage power supply that applies a drive voltage to the piezoelectric actuator according to the oscillation output signal of the oscillator. stage equipment.
(5)センサーは、バイモルフ構造の圧電素子であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第3項または第4項の振
動型ステージ装置。
(5) The vibrating stage device according to claim 3 or 4, wherein the sensor is a piezoelectric element having a bimorph structure.
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