JPS6186552A - 分析用機器の冷却装置 - Google Patents

分析用機器の冷却装置

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JPS6186552A
JPS6186552A JP20765584A JP20765584A JPS6186552A JP S6186552 A JPS6186552 A JP S6186552A JP 20765584 A JP20765584 A JP 20765584A JP 20765584 A JP20765584 A JP 20765584A JP S6186552 A JPS6186552 A JP S6186552A
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JP
Japan
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cooling
sample
chamber
duct
cold air
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JP20765584A
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石戸 文也
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Devices That Are Associated With Refrigeration Equipment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は分析用機器で分析されるサンプルを冷却する
冷却装置の改良に関(−1分析用機器を載置するだけで
簡単に冷風用のダクトが形成きれて冷却が行なえるよう
にしたものである。
〔従来の技術〕
医療や化学工業等の分野では薬品や血液あるいは原料や
製品の成分の分析の必要から廊々の分析用機器が使用さ
れている。例えば薬品や血液等の成分の分析には、最近
、短時間で分離が可能な高速液体クロマトグラフが急速
に利用てれる工うになっている。
この高速液体クロマトグラフでは、薬品のように温度に
1って成分が変化しないものは良いが。
血液のように低温(例えば0〜1℃)に保持しないと変
質し分析結果が有効に利用できないものを分析対象とす
る場合がある。特に、多数のザンプルケサンプル室内に
収納しておき、これらケ順次吹出して自動的に分析する
場合には、分析開始から分析終了までに長時間ヲ賛し、
冷却の必要が一層強い。
このため従来は第3図に示すような水冷式の冷却装置が
用いられ、サンプルが入れられるサンプルびん1が多数
取付けられる円板状のサンプルホルタ(カローセル12
衡水(エチレングリコールと水の混合液)が入れられた
冷却容器3にひたすことで各サンプルひん1を介してサ
ングルケ冷却するようにしている。そして、この冷却容
器3が収納される分析装置のサンプル室4の底板下側に
沿って冷凍機ユニットの蒸発器(図示せず)が配置して
あり、蒸発器で冷却容器3内の水を冷却1〜ていし ところが、サンプルホルダ2に取付けられた各サンプル
ひん1はその約半分が水から露出し次状態で冷却され、
;−力・もサンプル室4内には、多量の水が存在するた
めサンプル室4内の空気中の水分が結露してサンプルび
ん1に付着し、分析のため挿入する吸込用針とともにサ
ンプルに混入し、成分が変動するという問題が生じたり
、各サンプルびん1の位置検出センサ(例えば、光検出
器)が結露によって誤作khヲ起こしたり、検出不能と
なる等の問題がある。また、結露やサンプル室4内の湿
度が上昇するため分析装置の電気的接続端子部分の接触
不良や腐食の問題がある。
烙らに、冷却容器3に水が入れであるため分析装置全完
全に水平状態に設置しておかないと、冷却用の水がこほ
れたり、傾くため各サンプルびん1を均一に冷却できな
いという問題がある。
また、多数のサンプルを順次分析する場合には。
サンプルホルダ2を水にひたした状態のまま割出しする
必要があり、抵抗も大きく駆動装置の大容量化や大型化
士招き、消費電力も増大する。
嘔らに1割出し回転の几めサンプルホルダ2を駆動装置
により冷却容器3かられずかに吊上げ次状態とし、分析
終了後冷却容器3に下ろしてサンプルホルダ2をサンプ
ル室4外に取出し可能とするが、この場合にも水が飛散
してサンプルに混入したり、装置各部の腐食の原因とな
る等の問題がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
この発明は上述の各問題点を解決するためなされたもの
であり、分析用のサンプルを1分析用機器を基台上に載
置するたけて簡単に冷風ダクトヲ形成I7て冷却でき、
しかも結露による成分変動等の問題が生じろことのない
分析用機器の冷却装置の提供を目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
かかる目的を達成するためこの発明は、分析用機器が載
置される基台上部に冷却室髪形成し、この冷却室内に冷
凍機ユニットの蒸発器を設置するとともにこの蒸発器を
冷凍機ユニットと接続する一方、サンプルが収納芒れる
サンプル室を形成する分析用機器の外板部分と前記冷却
室を形成する外板部分とで冷風用のダクトヲ形成し、こ
のダクト内に冷風ケ強制循環をせるファンを設けたこと
を特徴とするものである、 〔作用〕 冷却装置に分析用機器を載置すると、冷却装置の外板部
分と分析用機器の外板部分とで冷却室およびサンプル室
に連通ずる冷風用のダクトが形成され、ダクト内のファ
ンで除湿きれた冷風全強制循環させながらサンプルを冷
却するのであ゛る。
〔実施例〕
以下この発明の一実施例全図面第1図および第2図に基
づき詳細に説明する。
まず、この発明の冷却装置10が使用される分析用機器
、例えば高速液体クロマトグラフへの概略構造について
説明する。
この高速液体クロマトグラフ(以下、分析装置とする。
)Aには1分析用のカラムや送液ンステム或いは自動注
入機構等が収納される分析室の下部にサンプル室4が仕
切られた状態で形成してあり、このサンプル室4の前面
には、サンプルホルダ2ヶ出し入れするための蓋が設け
られ、背板部分には電気的接続用の端子板が取付けであ
る、そして、このサンプル室4會冷却するため底板Bの
前方側にサンプル室4と連通する開口Cが、背板りにも
開口Eがそれぞれ形成しである。
この冷却装置10は分析用機器1例えば高速液体クロマ
トグラフAの設置用の台となるものであり、基台11が
アングル材で箱状に枠組みされ、上部に取付けた仕切板
12にエリ冷却室13と下部室14とに仕切られている
。この基台11の下部室14内には冷凍機ユニット15
を構成する蒸発器16に除く各機器、例えばコンプレツ
サ17、空冷式のコンデンサ18、配電盤19および温
度制御用の温度センサや温度設定器等が収納づれている
。そして、冷却室13内には、冷却用の蒸発器(冷却器
)16がほぼ水平状態で取付けてあり、冷凍サイクルを
形成するよう冷凍機ユニット15の各機器が接続されて
いる。
一方、基台11の冷却室13上には、冷却室13の外板
部分となる上板20が取付けられ、分析装[Aの外板部
分となる底板Bの前方に形成した開口Cと一致する冷風
戻口21が明けである、また。
基台11の後方には、基台11の外板部分が上方に延長
してあり、分析装[Aの外板部分である背板りの下部に
形成した冷風入口となる開口Eと一致するよう前方に開
口した接続ダクト22が形成しである。
この接続ダクト22内の上板20部分には、冷風を強制
循環するためのファン23が3台並べて設置17である
したがって、基台11上に分析装置Aヶ装置し、分析装
置側の開口Cと開口Eh”cそれぞれ基台11側の冷風
戻口21と接続ダクト22の開口とに一致するようにす
れば、サンプル室4、冷却室13゜接続ダクト22で冷
風用のダクト24が形成されることとなる。
なお、このダクト24を構成する各連結部分、例えば開
口Cと冷風戻口21との間、開口Eと接続ダクト22の
開口との間には、)ξツキンが取付けられて冷風の漏洩
が防止きれている。芒らに、図示例の分析装[Aでは底
板8部分が上げ底構造とされているのでこの部分にもパ
ツキンが装着され、冷風がパイノゼスしないようにして
いる。
このように構成した冷却装置10では、基台11上に、
予め底板Bお工び背板Eに開口Cお工び開口E?影形成
既設の穴を利用したり、あるいは穴明は加工を行なって
おく)シた分析装置へを載置し、上述のようにダクト2
4が形成され次状態とする。
こののち、冷凍機ユニット15を運転するとともに3台
のファン23全運転し、冷却室13の蒸発器16にて空
気會冷却し、接続ダクト22から分析装置tAの開口E
を介して冷風をサンプル室4に送ってサンプルを冷却す
る。そして、サンプルを冷却して温ったまった空気は開
口Cおよび冷風戻口21’e介して冷却室13の蒸発器
16に送られ、再び冷却でれて送り出される強制循環が
行なわれる。
以上のようにこの発明の冷却装置10を用いることで分
析装置i1Aに予め形成され丸底&Bの穴や背板りの電
気の端子仮構の穴を利用するか、これらの部分に+衡加
えて開口を形成した状態で基台11上に載せるたけで、
分析装@Aのサンプル室4ケ形成する外板部分と冷却装
置10の冷却室13ケ形成する外板部分および外板部分
の杭長部分である接砂ダクト22とで冷風用のダクト2
4が自動的に形成され、このダクト24と連通ずるサン
プル室4を簡単に冷却できる。
一層り、冷却媒体として従来の水を用いる場合に比べ、
サンプル室4内の空気を強制循環して冷却するので、空
気中の水分は最も低温となる蒸発器16に結露すること
となって除湿され、サンプルびんに結露しないのでサン
プルひん内に混入(〜でサンプルの成分変動欠招いたり
、各部が腐食するのを防止できる。特に、サンプルにサ
ンプル室4に入れる前に予冷却に行なえば一層除湿効果
がある。また、結露によりサンプルひんの位置検出に誤
差を生ずることもなく、正確な分析結果が得られ、特に
長時間自動分析する場合に有効である、甥うニ、サンプ
ルホルダに多数収納し几各サンプルについて順次分析す
る場合にも、サンプルホルダが水中でなく空気中にある
ので、割出し回転のための駆動力が少なくてすみ駆動装
置のみならず分析装置の小型化ケ図ることができる。
なお、上記実施例では分析装置として高速液体クロマト
グラフケあげて説明したが、この発明はこれに限らずサ
ンプルの冷却全必要とする分析用砕器に広く適用するこ
とができる。また、分析装置の底部と背部とに開口を形
成して冷却するようにしたが、底部に2個の開口を形成
したり、背部や側部に開ロケ形成1〜、これら開口と一
致する開ロケ冷却装置□□10の冷却室13’に+形成
する外板部分(上板、佃」板、背板等やこれらを延長し
た側方等)に形成1−で冷風用のダクト24孕1h成す
るように1−でも良い。
才た、繕台11の冷却室13とト部室14とを別体とし
、冷却室13内に数句けられた蒸発器16と別脳芒れた
冷仲磯ユニント15の各機器と全配管お工ひ組・手で接
続1.ても艮〈1分析ケ付なう部屋が高温と4ゐこと全
防止できる2 づらに、サンプルびん1ヶ第4図に示うニエうな二i仙
造とし、内部に内部ザングル容器1aを入れて使用ずa
ものでは、外1i11 (1) ”サンプルひんlにそ
(数の穴lbケあけるようにすれば、二1となった側方
に存在する空気の断熱作用全排除して一層冷却効率を向
上することができる。
〔発明の効果〕
以上実施例とともに具体的に説明したようにこの発明に
よれは、分析用機器が載置きれゐ基台上部に冷却室を形
成し、この冷却室内に冷凍機ユニットと接続芒れた蒸発
器ケ設(−シ、サンプルが収納されるサンプル室を形成
する分析用機器の外板部分と前記冷却室を形成する外板
部分とで冷に川のダクトを形成し、冷風を強制循璋訟せ
るファンケこのダクト内に設けたので、分析用機器を基
台上に載置′T6たけで簡単に冷風の強制循環用のタク
トが1ヒ成でき、サンプルの冷却を簡単に行なうことが
できる。また、冷却に水衡由いす空気を用いて強制循環
娯せるので、均一な冷却ができるとともに空気中の水分
が蒸発器で除湿きれるのでサンプルびん等に結露するこ
とが防止きれ、従来のようなサンプルへの混入により成
分が変動したり。
腐食の原因となることもなくサンプルの位置検出等も正
確に行なえる。
協らに、分析用機器を完全に水平状態とせずわずかに傾
斜した状態と(−でも冷却用に水を使用しないので、水
がこぼれたり、不均一な冷却となることがなく均一に冷
却でき、しかも分析用機器の設置も比較的簡単となる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図はこの発明の分析用機器の冷却装置
の一実施例にかかる一部切欠いた斜視図お工ひ仰]板を
除いた状態の側面図、第3図は従来の冷却装置の概略図
、第4図は二重構造のサンプルひんの斜視図である。 10・・・冷却装置    11・・・基台13・・・
冷却室     15・・・冷凍機ユニット16・・・
蒸発器     20・・・上板21・・・冷風戻口 
   22・・・接続ダクト23・・・ファン    
  24・・・ダクト第2図 1つ17 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 分析用機器が載置される基台上部に冷却室を形成し、こ
    の冷却室内に冷凍機ユニットの蒸発器を設置するととも
    にこの蒸発器を冷凍機ユニットと接続する一方、サンプ
    ルが収納されるサンプル室を形成する分析用機器の外板
    部分と前記冷却室を形成する外板部分とで冷風用のダク
    トを形成し、このダクト内に冷風を強制循環させるファ
    ンを設けたことを特徴とする分析用機器の冷却装置。
JP20765584A 1984-10-03 1984-10-03 分析用機器の冷却装置 Pending JPS6186552A (ja)

Priority Applications (1)

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JP20765584A JPS6186552A (ja) 1984-10-03 1984-10-03 分析用機器の冷却装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP20765584A JPS6186552A (ja) 1984-10-03 1984-10-03 分析用機器の冷却装置

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JPS6186552A true JPS6186552A (ja) 1986-05-02

Family

ID=16543368

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JP20765584A Pending JPS6186552A (ja) 1984-10-03 1984-10-03 分析用機器の冷却装置

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JP (1) JPS6186552A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03115855U (ja) * 1990-03-13 1991-12-02
JP2005106813A (ja) * 2003-09-09 2005-04-21 Tosoh Corp 液体クロマトグラフ装置
JPWO2014155674A1 (ja) * 2013-03-29 2017-02-16 株式会社島津製作所 試料冷却装置及びこれを備えたオートサンプラ
JP2020193808A (ja) * 2019-05-24 2020-12-03 株式会社島津製作所 クロマトグラフ用サンプル温調装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03115855U (ja) * 1990-03-13 1991-12-02
JP2005106813A (ja) * 2003-09-09 2005-04-21 Tosoh Corp 液体クロマトグラフ装置
JPWO2014155674A1 (ja) * 2013-03-29 2017-02-16 株式会社島津製作所 試料冷却装置及びこれを備えたオートサンプラ
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