JPS618646A - 液体の表面張力の測定及び／又は監視方法及び装置 - Google Patents
液体の表面張力の測定及び／又は監視方法及び装置Info
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- JPS618646A JPS618646A JP60057680A JP5768085A JPS618646A JP S618646 A JPS618646 A JP S618646A JP 60057680 A JP60057680 A JP 60057680A JP 5768085 A JP5768085 A JP 5768085A JP S618646 A JPS618646 A JP S618646A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N13/00—Investigating surface or boundary effects, e.g. wetting power; Investigating diffusion effects; Analysing materials by determining surface, boundary, or diffusion effects
- G01N13/02—Investigating surface tension of liquids
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は液体の表面張力を測定し及び／又は監視する方
法であって、該液体表面の円形領域が定常円形表面張力
波を発生するため振動発生器により励振されそしてこの
液体表面で反射される光線を測定するような方法に係る
。本発明は同様にこの方法を逐行するための装置にも係
る。
法であって、該液体表面の円形領域が定常円形表面張力
波を発生するため振動発生器により励振されそしてこの
液体表面で反射される光線を測定するような方法に係る
。本発明は同様にこの方法を逐行するための装置にも係
る。
多くの有機物質の表面張力は、該物質が水に溶けている
ときは低下する。それ故に、該表面張力を測定すること
によって、水の中にある有機物質の存在及びその量を決
定することができる。
ときは低下する。それ故に、該表面張力を測定すること
によって、水の中にある有機物質の存在及びその量を決
定することができる。
この方法の１つの実際的応用はオフセット印刷において
表面活性物質を用いて湿潤剤を制御することである。プ
ロセス工学における用途のために、表面張力はセンサを
用いる測定技術を使用して決定しなければならない。
表面活性物質を用いて湿潤剤を制御することである。プ
ロセス工学における用途のために、表面張力はセンサを
用いる測定技術を使用して決定しなければならない。
この目的のため本出願人により開発された方法（西ドイ
ツ公開公報第３２０１４１０号）においては、該液体の
表面の円形領域に円形定常表面張力波系ができるように
励振され、この波の発生は該液体の表面から反射される
光束強度を測定することにより決定される。
ツ公開公報第３２０１４１０号）においては、該液体の
表面の円形領域に円形定常表面張力波系ができるように
励振され、この波の発生は該液体の表面から反射される
光束強度を測定することにより決定される。
よって本発明の目的は、この方法を更に開発して、特に
単純に、自動的にかつ大幅にメンテナンスを不要とする
様に操作できかつ測定を振動に対して大いに不感とする
にある（この不感性は実際的応用に対し特に重要である
が、何故ならば該測定は運転している印刷機械の直ぐ近
くで行わなければならないからである）。
単純に、自動的にかつ大幅にメンテナンスを不要とする
様に操作できかつ測定を振動に対して大いに不感とする
にある（この不感性は実際的応用に対し特に重要である
が、何故ならば該測定は運転している印刷機械の直ぐ近
くで行わなければならないからである）。
この目的は本発明によれば、ａ）振動が液体のスペクト
ル励振により発生されること、 ｂ）このスペクトル関
数は選定周波数範囲内の反射された光線に対応する測定
信号から決定されること、によって達成された。
ル励振により発生されること、 ｂ）このスペクトル関
数は選定周波数範囲内の反射された光線に対応する測定
信号から決定されること、によって達成された。
本発明に係る方法の原理の理解をたすけるために、時間
の関数としての多数の励振の形及びそのスペクトル関数
を先ず第１ａ図乃至第４ｂ図について説明しよう。
の関数としての多数の励振の形及びそのスペクトル関数
を先ず第１ａ図乃至第４ｂ図について説明しよう。
第１ａ図は周期的励振の時間関数を示す（周期振動の振
幅は縦軸に、時間ｔは横軸に示す）。スペクトル関数（
縦軸に量及び横軸に周波数）は第１ｂ図に示す。第１ａ
図による周期的励振はスペクトル表示において単一の針
に対応する。
幅は縦軸に、時間ｔは横軸に示す）。スペクトル関数（
縦軸に量及び横軸に周波数）は第１ｂ図に示す。第１ａ
図による周期的励振はスペクトル表示において単一の針
に対応する。
対照的に、第２ａ図は単一衝突による衝撃励振を示す。
こΦスペクトル関数（第２ｂ図）において、この衝撃励
振は広い周波数帯域（多数の針）により表わされる。
振は広い周波数帯域（多数の針）により表わされる。
更に別のスペクトル励振を第３ａ図に示す。この励振は
テープバックグラウンドノイズの形で表される。このテ
ープバンクグラウンドノイズのスペクトル関数は路線的
に第３ｂ図に示す。
テープバックグラウンドノイズの形で表される。このテ
ープバンクグラウンドノイズのスペクトル関数は路線的
に第３ｂ図に示す。
もし液体の表面がスペクトル励振（第２ａ図又は第３ａ
図示の形）により定常円形表面張力波の形に励振される
ならば、対応する制限条件に依存して液体の表面は弦の
ごとく単にディスクリートモード（基本音及び倍音）に
おいてのみ振動することができる。液体の表面のかよう
な減衰振動の時間関数を第４ａ図に、そしてそのスペク
トル関数を第４ｂ図に示す。それ故に、液体の表面はス
ペクトル励振の適正な周波数のみを通すフィルタとして
作用する。
図示の形）により定常円形表面張力波の形に励振される
ならば、対応する制限条件に依存して液体の表面は弦の
ごとく単にディスクリートモード（基本音及び倍音）に
おいてのみ振動することができる。液体の表面のかよう
な減衰振動の時間関数を第４ａ図に、そしてそのスペク
トル関数を第４ｂ図に示す。それ故に、液体の表面はス
ペクトル励振の適正な周波数のみを通すフィルタとして
作用する。
定常表面張力波の衝撃励振による液体の表面張力の測定
は、外部の破壊的影響から完全に無関係 ゛であること
が証明される、何故ならば、外部の影響は成る程度励振
スペクトルの中に統合されるからである。これに対し、
純粋に周期的励振（第１ａ図による）においては、該周
期的励振の周期が共振周波数に近いときでさえ、外部影
響が振動を励振することができる。この場合、高価な測
定系の振動絶縁が必要となるであろう。それ故に本発明
に係る測定系は環境の振動の影響に（ま大幅に不感であ
ることで優れている。
は、外部の破壊的影響から完全に無関係 ゛であること
が証明される、何故ならば、外部の影響は成る程度励振
スペクトルの中に統合されるからである。これに対し、
純粋に周期的励振（第１ａ図による）においては、該周
期的励振の周期が共振周波数に近いときでさえ、外部影
響が振動を励振することができる。この場合、高価な測
定系の振動絶縁が必要となるであろう。それ故に本発明
に係る測定系は環境の振動の影響に（ま大幅に不感であ
ることで優れている。
さらに液体のスペクトル励振の利益は、測定方法の一時
的制限にある。この要件は液体表面の幾何学的再現性に
密接に関連している。これについては以下に詳細に説明
する。
的制限にある。この要件は液体表面の幾何学的再現性に
密接に関連している。これについては以下に詳細に説明
する。
自由な表面振動を得るためには、液体の表面は一定の制
限条件を受けなければならない。容器壁土の固−液一気
三重点は励振の間動くべきでない、何故ならそうでない
と入射光は不完全に反射するであろう。それ故に液体の
表面は鋭いエツジ又は刃の上に“懸吊”されなければな
らない。
限条件を受けなければならない。容器壁土の固−液一気
三重点は励振の間動くべきでない、何故ならそうでない
と入射光は不完全に反射するであろう。それ故に液体の
表面は鋭いエツジ又は刃の上に“懸吊”されなければな
らない。
第５図は、可変表面張力をもった液体の場合に一様な表
面を達成する可能性を提供する変形を示す。第５ａ図は
水が液体として使用されるときの状態を路線的に示し、
そして第５ｂ図は水とアルコールの混合物が使用される
ときの状態を示す。
面を達成する可能性を提供する変形を示す。第５ａ図は
水が液体として使用されるときの状態を路線的に示し、
そして第５ｂ図は水とアルコールの混合物が使用される
ときの状態を示す。
もし容器が完全に充満しているならば、液体の表面張力
に依存する可変湾曲（境界角θ）をもった凸表面が液体
上に形成される。容器（２）の円形の切断エツジ（１１
は該三重点が変位することな（液体表面が異なる湾曲を
取り得る、壁面上の不連続点をあられす。
に依存する可変湾曲（境界角θ）をもった凸表面が液体
上に形成される。容器（２）の円形の切断エツジ（１１
は該三重点が変位することな（液体表面が異なる湾曲を
取り得る、壁面上の不連続点をあられす。
本発明に係る方法により動作する測定装置の構造及び作
用は第６図及び第７図について以下に説明する。
用は第６図及び第７図について以下に説明する。
第６図示の測定装置は、測定容器（２）の中に液体室（
３）を含み、その中で液体の円形表面（４）が上述した
円形切断エツジ（１）により包囲される。該切断エツジ
（１）は疎水性表面を有する。
３）を含み、その中で液体の円形表面（４）が上述した
円形切断エツジ（１）により包囲される。該切断エツジ
（１）は疎水性表面を有する。
液体室（３）の基板は少し離れた下方に電磁衝撃発生器
（６）を配した膜（５）により形成される。
（６）を配した膜（５）により形成される。
液体の円形表面（４）の中心を貫通する軸をもつノズル
（７）が液体室（３）の中で膜（５）の上方ではあるが
液表面（４）の下方に配される。ノズル（７）の上方及
び下方に位置する液体室（３）の領域は側方の液体供給
チャンネル（８）により相互に連通される。液体室（３
）はまた所定の漏洩孔（９）を具備し、これは液体の徐
々の引き出しを行う。
（７）が液体室（３）の中で膜（５）の上方ではあるが
液表面（４）の下方に配される。ノズル（７）の上方及
び下方に位置する液体室（３）の領域は側方の液体供給
チャンネル（８）により相互に連通される。液体室（３
）はまた所定の漏洩孔（９）を具備し、これは液体の徐
々の引き出しを行う。
研究すべき液体はチャンネルａωを通って流入し、チャ
ンネル（１１）を通って流出する。供給チャンネルＱｌ
は、オーバーフロー（１２）に連通し、これは該切断エ
ツジ（１）のレベルで開く。
ンネル（１１）を通って流出する。供給チャンネルＱｌ
は、オーバーフロー（１２）に連通し、これは該切断エ
ツジ（１）のレベルで開く。
測定装置全体を第７図にブロックｍ図で示す。
このブロック線図は測定容器（２）を含み、これは第６
図に詳細に示され、かつ電磁衝撃発生器（６）及びセン
サ（１３）を有する。液圧的弛緩振動により、稠剤ユニ
ッ）（１４）は測定容器（２）を液体で充填しまた空と
する。液圧的弛緩振動の振幅及び周期は有利に調整自在
である。
図に詳細に示され、かつ電磁衝撃発生器（６）及びセン
サ（１３）を有する。液圧的弛緩振動により、稠剤ユニ
ッ）（１４）は測定容器（２）を液体で充填しまた空と
する。液圧的弛緩振動の振幅及び周期は有利に調整自在
である。
液体表面（４）（第６図参照）を図示せざる光源により
照射する（光線（１５） ）。センサ（１３）は液体表
面（４）より反射され、かつ液体表面（４）上に生じた
定常円形表面張力波により変調された光を測定する。セ
ンサ（１３）よりの出力信号は、１つは低域フィルター
（１６）を、他は高域フィルター（１７）を通り、Ａ−
Ｄ変換器（１８）を介してコンピュータ（１９）に送ら
れる。コンピュータ（１９）はＤ−Ａ変換器（２０）及
び増幅器（２１）を介して電磁衝撃発生器（６）へ信号
を供給する。
照射する（光線（１５） ）。センサ（１３）は液体表
面（４）より反射され、かつ液体表面（４）上に生じた
定常円形表面張力波により変調された光を測定する。セ
ンサ（１３）よりの出力信号は、１つは低域フィルター
（１６）を、他は高域フィルター（１７）を通り、Ａ−
Ｄ変換器（１８）を介してコンピュータ（１９）に送ら
れる。コンピュータ（１９）はＤ−Ａ変換器（２０）及
び増幅器（２１）を介して電磁衝撃発生器（６）へ信号
を供給する。
測定装置の作用は次の通りである。最初、測定容器（２
）を調剤ユニット（１４）を介して液体表面（４）が凸
湾曲（第６図示のごとく）を示すまで充填する。一定光
線の量に対応する信号を約２０Ｈｚ以下の周波数を通過
させる低域フィルタ（１６）を介してコンピュータ（１
９）に送る。充填操作の間、この一定光線の量は、液体
表面（４）が平坦になったとき第１の最大量を有する。
）を調剤ユニット（１４）を介して液体表面（４）が凸
湾曲（第６図示のごとく）を示すまで充填する。一定光
線の量に対応する信号を約２０Ｈｚ以下の周波数を通過
させる低域フィルタ（１６）を介してコンピュータ（１
９）に送る。充填操作の間、この一定光線の量は、液体
表面（４）が平坦になったとき第１の最大量を有する。
これにより、コンピュータ（１９）は新しい測定操作が
すぐに切迫していることを認識する。
すぐに切迫していることを認識する。
測定容器（２）の充填が完了し、それ故にも早や液体が
調剤ユニν）（１４）を介して測定容器（２）内に流入
しなくなると、次に液体表面（４）の凸湾曲は液体の一
部が連続的に所定の漏洩孔（９）を介して流出するので
徐々に減少する。液体表面（４）が平坦となると、セン
サ（１３）は、該一定光線の量の表面により反射された
光に対して第２の最大量を決定する。
調剤ユニν）（１４）を介して測定容器（２）内に流入
しなくなると、次に液体表面（４）の凸湾曲は液体の一
部が連続的に所定の漏洩孔（９）を介して流出するので
徐々に減少する。液体表面（４）が平坦となると、セン
サ（１３）は、該一定光線の量の表面により反射された
光に対して第２の最大量を決定する。
コンピュータ（１９ンは今や衝撃発生器（６１に信号を
供給し、該発生器ぼ１つの衝撃を膜（５）に送り、かく
してこのスペクトル励振は、この平坦な液体表面（４）
上における定常円形表面張力波の発生をトリガする。
供給し、該発生器ぼ１つの衝撃を膜（５）に送り、かく
してこのスペクトル励振は、この平坦な液体表面（４）
上における定常円形表面張力波の発生をトリガする。
液体表面に発生する表面張力波は反射光線を変調する。
センサ（１３）により検出された信号は、１５０から４
００Ｈｚの間の周波数を通過させる高域フィルタ（１７
）を介して及びＡ−Ｄ変換器（１８）を介してコンピュ
ータ（１９）に送られ、そして例えば１ｋＨｚの測定周
波数と共にコンピュータに受信される。約０．３秒の後
、測定操作は終了し、コンピュータ（１９）は測定容器
（２）を空にするよう動作する。それ故に、この短い測
定間隔の間、液体表面（４）の幾何学は無視し得る程度
変化するだけである。
００Ｈｚの間の周波数を通過させる高域フィルタ（１７
）を介して及びＡ−Ｄ変換器（１８）を介してコンピュ
ータ（１９）に送られ、そして例えば１ｋＨｚの測定周
波数と共にコンピュータに受信される。約０．３秒の後
、測定操作は終了し、コンピュータ（１９）は測定容器
（２）を空にするよう動作する。それ故に、この短い測
定間隔の間、液体表面（４）の幾何学は無視し得る程度
変化するだけである。
測定容器を空にしまた充填する間、コンピュータ（１９
）はＦＦ↑ （高速フーリエ変換）を用いて該信号のス
ペクトル関数を計算する。液体表面の基本及び調和振動
は、第４ｂ図により一連の独立したピークとして発生し
、これらから該液体の表面張力を決定することができる
。
）はＦＦ↑ （高速フーリエ変換）を用いて該信号のス
ペクトル関数を計算する。液体表面の基本及び調和振動
は、第４ｂ図により一連の独立したピークとして発生し
、これらから該液体の表面張力を決定することができる
。
測定系の校正のため、既知の一定の表面張力をもった液
体を使用する。表面張力の変動による周波数スペクトル
の変位は数学的関数としてコンピュータに導入するが、
該関数は実験値への適応により決定される。この関数に
基づいて、コンピュータは任意の液体の表面張力を決定
することができる。
体を使用する。表面張力の変動による周波数スペクトル
の変位は数学的関数としてコンピュータに導入するが、
該関数は実験値への適応により決定される。この関数に
基づいて、コンピュータは任意の液体の表面張力を決定
することができる。
校正及びそれに続く調整操作を済ませた後、コンピュー
タは該一定光線の量に対する光の信号を再び測定し、こ
の過程において上述の如くかつ一定光線の量に対する該
第１の最大量により、測定容器が再び充填されたときを
認識し、そしてコンピュータは測定容器が所定の漏洩孔
（９）を介して徐々に空になるＭ４程において平坦な液
体表面が生し、それと共に一定光線の酸量に対する第２
の最大量が生じたときに新しく測定サイクルを開始する
。
タは該一定光線の量に対する光の信号を再び測定し、こ
の過程において上述の如くかつ一定光線の量に対する該
第１の最大量により、測定容器が再び充填されたときを
認識し、そしてコンピュータは測定容器が所定の漏洩孔
（９）を介して徐々に空になるＭ４程において平坦な液
体表面が生し、それと共に一定光線の酸量に対する第２
の最大量が生じたときに新しく測定サイクルを開始する
。
本測定系は同様に外部干渉なしに多重動作の周期的測定
を逐行することができるが、これは液体が次から次へと
異なる測定点から測定容器（２）へ送り込まれるからで
ある。かくして、本装置は最も多様な監視と制御作業を
遂行することができる。
を逐行することができるが、これは液体が次から次へと
異なる測定点から測定容器（２）へ送り込まれるからで
ある。かくして、本装置は最も多様な監視と制御作業を
遂行することができる。
上述の実施例においては、測定作業の少し前に衝撃発生
器による１個の単一衝撃の形の励振により液体のスペク
トル励振が生じた。
器による１個の単一衝撃の形の励振により液体のスペク
トル励振が生じた。
しかしながら、本発明の範囲内において、同様にテープ
バックグラウンドノイズの形でノイズ発生器によって液
体のスペクトル励振を遂行することも可能である。該表
面張力波の減衰が非常に強い場合には、該電磁励振系は
ばねを介して膜（５）に与えることができそして該励振
は、所望周波数範囲のテープバンクグラウンドノイズを
供給し得るノイズ発生器により行うことができる（この
場合第７図の線図において、増幅！（２１）はノイズ発
生器により交換し、このノイズ発生器に帯域フィルタを
接続する。）。またこの場合、本発明に係る方法に対し
極めて重要な、測定系の外部影響に対する不感性が維持
される。衝撃励振に対し、ノイズ励振は同様に測定作業
の間行うことができる。
バックグラウンドノイズの形でノイズ発生器によって液
体のスペクトル励振を遂行することも可能である。該表
面張力波の減衰が非常に強い場合には、該電磁励振系は
ばねを介して膜（５）に与えることができそして該励振
は、所望周波数範囲のテープバンクグラウンドノイズを
供給し得るノイズ発生器により行うことができる（この
場合第７図の線図において、増幅！（２１）はノイズ発
生器により交換し、このノイズ発生器に帯域フィルタを
接続する。）。またこの場合、本発明に係る方法に対し
極めて重要な、測定系の外部影響に対する不感性が維持
される。衝撃励振に対し、ノイズ励振は同様に測定作業
の間行うことができる。
膜（５）の内部共振周波数は有利に、該スペクトル関数
を決定するため選定された該周波数範囲の外側とする。
を決定するため選定された該周波数範囲の外側とする。
被覆された膜を、耐蝕性に加えて非常に高い減衰が得ら
れるよう有利に使用する。
れるよう有利に使用する。
第１ａ図及び第１ｂ図は周期的励振の時間関数及びスペ
クトル関数を示す図、第２ａ図及び第２ｂ図は衝撃的励
振の時間関数及びスペクトル関数を示す図、第３ａ図及
び第３ｂ図はスペクトル励振の時間関数及びスペクトル
関数を示す図、第４ａ図及び第４１４ｆｆは液体表面の
減衰振動の時間関数及びスペクトル関数を示す図、第５
ａ図及び第５ｂ図は液体が水である場合及び水とアルコ
ールの混合物である場合の液体表面を示す図、第６図は
本発明に係る測定装置、第７図は測定装置のブロック線
図である。 図において（１）は円形切断エツジ、（２）は測定容器
、（３）は液体室、（４）は円形表面、（５）は膜、（
６）は電磁衝撃発性器、（７）はノズル、（８）はチャ
ンネル、（９）は漏洩孔、αω、 （１１）はチャン
ネル、（１２）はオーバーフロー、（１３）はセンサ、
（１４）は調剤ユニット、（１５）は光線、（１６）は
低域フィルタ１、（１７）は高域フィルタ、（１８）は
Ａ／Ｄ変換器、（１９）はコンピュータ、（２０）はＤ
／Ａ変換器、（２１）は増幅器である。
クトル関数を示す図、第２ａ図及び第２ｂ図は衝撃的励
振の時間関数及びスペクトル関数を示す図、第３ａ図及
び第３ｂ図はスペクトル励振の時間関数及びスペクトル
関数を示す図、第４ａ図及び第４１４ｆｆは液体表面の
減衰振動の時間関数及びスペクトル関数を示す図、第５
ａ図及び第５ｂ図は液体が水である場合及び水とアルコ
ールの混合物である場合の液体表面を示す図、第６図は
本発明に係る測定装置、第７図は測定装置のブロック線
図である。 図において（１）は円形切断エツジ、（２）は測定容器
、（３）は液体室、（４）は円形表面、（５）は膜、（
６）は電磁衝撃発性器、（７）はノズル、（８）はチャ
ンネル、（９）は漏洩孔、αω、 （１１）はチャン
ネル、（１２）はオーバーフロー、（１３）はセンサ、
（１４）は調剤ユニット、（１５）は光線、（１６）は
低域フィルタ１、（１７）は高域フィルタ、（１８）は
Ａ／Ｄ変換器、（１９）はコンピュータ、（２０）はＤ
／Ａ変換器、（２１）は増幅器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、液体の表面張力の測定及び／又は監視方法であって
液体の表面の円形領域を定常円形表面張力波を発生させ
るために振動発生器により励振しかつこの液体表面から
反射される光線を測定するような方法において、 ａ）該振動は液体のスペクトル励振により発生され、 ｂ）そのスペクトル関数は該反射された光線に対応する
、選定された周波数範囲内の測定信号から決定される ことを特徴とする液体の表面張力の測定及び／又は監視
方法。 ２、液体の該スペクトル励振が測定作業の少し前に振動
発生器により単一の衝撃励振の形で行われる特許請求の
範囲第１項記載の液体の表面張力の測定及び／又は監視
方法。 ３、液体の該スペクトル励振が、該測定作業の間振動発
生器によりテープバックグラウンドノイズの形で行われ
る特許請求の範囲第１項記載の液体の表面張力の測定及
び／又は監視方法。 ４、該液体のスペクトル励振が液体室の基底を形成する
円形膜の中央で起きる特許請求の範囲第１項記載の液体
の表面張力の測定及び／又は監視方法。 ５、ａ）最初に該液体表面の該円形領域の凸湾曲を、液
体室内に該液体を導入することによってつくり、 ｂ）次に該液体表面の凸湾曲を該液体室から該液体を徐
々に引き出すことにより減少させ、ｃ）該液体表面が平
坦となったとき、該液体のスペクトル励振がおきかつ該
反射された光線に対応する信号のスペクトル関数が決定
される ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の液体の表
面張力の測定及び／又は監視方法。 ６、測定をなしかつ該液体室を空にした後再び該液体室
内への液体の導入が該液体表面の該円形領域の凸湾曲を
つくるので、測定方法が反復して瀕繁に自動的に行われ
る、特許請求の範囲第４項記載の液体の表面張力の測定
及び／又は監視方法。 ７、該反射された光線に対応する測定信号が、１５０と
４００Ｈｚの間の周波数範囲の周波数を通過させる高域
フィルタを介して該スペクトル関数を決定するためにコ
ンピュータに送られる特許請求の範囲第１項記載の液体
の表面張力の測定及び／又は監視方法。 ８、該反射された光線に対応する測定信号が２０Ｈｚ以
下の周波数を通過させる低域フィルタを介してコンピュ
ータに送られ、該コンピュータが該一定光線の量の最大
により該液体表面が平坦となったときを検出する特許請
求の範囲第５項記載の液体の表面張力の測定及び／又は
監視方法。 ９、液体の表面張力の測定及び／又は監視方法であって
該液体の表面の円形領域を定常円形表面張力波を発生さ
せるために振動発生器により励振しかつこの液体表面か
ら反射される光線を測定するような方法において ａ）該振動は液体のスペクトル励振により発生され、 ｂ）そのスペクトル関数は該反射された光線に対応する
、選定された周波数範囲内の測定信号から決定される ことを特徴とする液体の表面張力の測定及び／又は監視
方法を実施する装置において該液体表面の円形領域が鋭
い切断エッジにより限定されることを特徴とする液体の
表面張力の測定及び／又は監視装置。 １０、該切断エッジが疎水性表面を有する特許請求の範
囲第９項記載の液体の表面張力の測定及び／又は監視装
置。 １１、該液体室への送給チャンネルが切断エッジレベル
にオーバーフローを有する特許請求の範囲第９項記載の
液体の表面張力の測定及び／又は監視装置。 １２、液体の表面張力の測定及び／又は監視方法であっ
て該液体の表面の円形領域を定常円形表面張力波を発生
させるために振動発生器により励振しかつこの液体表面
から反射される光線を測定するような方法であって ａ）該振動は液体のスペクトル励振により発生され、 ｂ）そのスペクトル関数は該反射された光線に対応する
、選定された周波数範囲内の測定信号から決定され、 ｃ）該液体のスペクトル励振が液体室の基底を形成する
円形膜の中央でおきる ことを特徴とする方法を実施する装置において、該膜の
内部共振周波数が該スペクトル関数を決定するため選択
された周波数範囲の外側にあることを特徴とする液体の
表面張力の測定及び／又は監視装置。 １３、該膜が高い減衰度をもった被覆された膜である特
許請求の範囲第１２項記載の液体の表面張力の測定及び
／又は監視装置。 １４、該液体表面の円形領域の中央を通る軸線をもった
ノズルが液体室内において該膜より上方であるが該液体
表面より下方に配列される特許請求の範囲第１２項記載
の液体の表面張力の測定及び／又は監視装置。 １５、該ノズルの上方及び下方に位置する液体室領域が
側方液体供給チャンネルにより相互に連通された特許請
求の範囲第１４項記載の液体の表面張力の測定及び／又
は監視装置。 １６、液体の表面張力の測定及び／又は監視方法であっ
て該液体の表面の円形領域を定常円形表面張力波を発生
させるために振動発生器により励振しかつこの液体表面
から反射される光線を測定するに際し、 ａ）該振動は液体のスペクトル励振により発生され、 ｂ）そのスペクトル関数は該反射された光線に対応する
、選択された周波数範囲内の測定信号から決定され、 ｃ）最初に該液体表面の該円形領域の凸湾曲を液体室内
に該液体を導入することによってつくり、 ｄ）次に該液体表面の凸湾曲を該液体室から該液体を徐
々に引き出すことにより減少させ、ｅ）該液体表面が平
坦となったとき、該液体のスペクトル励振がおきかつ該
反射された光線に対応する信号のスペクトル関数が決定
される ような方法を実施する装置において、該液体室が液体の
徐々の引き出しを行う所定の漏洩孔を具備したことを特
徴とする液体の表面張力の測定及び／又は監視装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3410778.9 | 1984-03-23 | ||
| DE19843410778 DE3410778A1 (de) | 1984-03-23 | 1984-03-23 | Verfahren und vorrichtung zur messung und/oder kontrolle der oberflaechenspannung einer fluessigkeit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS618646A true JPS618646A (ja) | 1986-01-16 |
Family
ID=6231446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60057680A Pending JPS618646A (ja) | 1984-03-23 | 1985-03-22 | 液体の表面張力の測定及び／又は監視方法及び装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4611486A (ja) |
| EP (1) | EP0159412A3 (ja) |
| JP (1) | JPS618646A (ja) |
| DE (1) | DE3410778A1 (ja) |
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- 1985-03-22 JP JP60057680A patent/JPS618646A/ja active Pending
Also Published As
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|---|---|
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