JPS6181076A - 画像読取におけるシエ−デイング補正方法 - Google Patents
画像読取におけるシエ−デイング補正方法Info
- Publication number
- JPS6181076A JPS6181076A JP59204695A JP20469584A JPS6181076A JP S6181076 A JPS6181076 A JP S6181076A JP 59204695 A JP59204695 A JP 59204695A JP 20469584 A JP20469584 A JP 20469584A JP S6181076 A JPS6181076 A JP S6181076A
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- JP
- Japan
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- liquid crystal
- light
- fluorescent lamp
- microshutter
- crystal micro
- Prior art date
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- Pending
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- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
- Image Input (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、画像読取におけるシェーディング補正方法に
関するものである。
関するものである。
ファクシミリの画像読取装置には、第４図に示したよう
に、光源として螢光灯１を使用し、画像読取センナとし
て一次元光電変換素子アレー（以下イメージセンナと云
う）２を使用したものがある。
に、光源として螢光灯１を使用し、画像読取センナとし
て一次元光電変換素子アレー（以下イメージセンナと云
う）２を使用したものがある。
このような画像読取装置では、原稿搬送路３上の原稿４
は、螢光灯１の光によって照明される。
は、螢光灯１の光によって照明される。
そして、照明された原稿４上の画像は、レンズ５を介し
てイメージセンサ２によって読取られる。
てイメージセンサ２によって読取られる。
ところで、レンズ５への入射角がθである光線上の画像
の光量は、ｃｏｓ’θに比例することが知られており、
上記読取装置では、原稿搬送路３とレンズ５との間に半
円状のシェーディング補正板６を配置し、この補正板６
によって、原稿４の白色部から反射される螢光灯１から
の光を、その強さにほぼ比例して遮光し、もってイメー
ジセンサ２が、均一に分布された光量を受けるようにし
ている。
の光量は、ｃｏｓ’θに比例することが知られており、
上記読取装置では、原稿搬送路３とレンズ５との間に半
円状のシェーディング補正板６を配置し、この補正板６
によって、原稿４の白色部から反射される螢光灯１から
の光を、その強さにほぼ比例して遮光し、もってイメー
ジセンサ２が、均一に分布された光量を受けるようにし
ている。
しかしながら、螢光灯１は、長時間点灯すると、その管
面が部分的に黒化し、輝度分布が不均一となってしまう
場合がある。このような場合には、上記したシェーディ
ング補正板６では何ら解決されず、良好な画信号が得ら
れなくなってしまう。
面が部分的に黒化し、輝度分布が不均一となってしまう
場合がある。このような場合には、上記したシェーディ
ング補正板６では何ら解決されず、良好な画信号が得ら
れなくなってしまう。
本発明の目的は、光源の輝度分布の変化をも補正しうる
画像読取におけるシェーディング補正方法を提供するこ
とにある。
画像読取におけるシェーディング補正方法を提供するこ
とにある。
そこで、本発明では、原稿搬送路上の基準用白色板と光
電変換素子との間の光通過域に、複数個の液晶マイクロ
シャッタを並べて配設し、それらの液晶マイクロシャッ
タを個別に開閉させて、上記基準用白色板へ照射した光
源光の反射光が上記光電変換素子上で均一な光量分布と
なるようにして、上記目的を達成している。
電変換素子との間の光通過域に、複数個の液晶マイクロ
シャッタを並べて配設し、それらの液晶マイクロシャッ
タを個別に開閉させて、上記基準用白色板へ照射した光
源光の反射光が上記光電変換素子上で均一な光量分布と
なるようにして、上記目的を達成している。
以下図面に示した実施例を参照しながら本発明を説明す
る。
る。
第１図は、本発明に係るシェーディング補正方法を実施
した画像読取装置を示したもので、第２隼 図はそ
のフェーディング補正板を示したものであ：′ う。
した画像読取装置を示したもので、第２隼 図はそ
のフェーディング補正板を示したものであ：′ う。
この画像読取装置では、光源として螢光灯１１を使用し
一１画像読取七ンサとして一次元光電変換２子アレー（
以下イメージセンナと云う）１２を使用している。そし
て、原稿搬送路１３上における読取位置には、基準用白
色板１７が配設されており、この基準用白色板１７とイ
メージセンサ−２との間にはレンズ１５が、また基準用
白色板１７とレンズ１５との間には、シェーディング補
正板１６が配設されている０ このシェーディング補正板１６は、第２図に拡大して示
したように、透明板１８に、第４図で示したと同様な半
円状の固定透光ノ４ターン１９と、複数個の液晶マイク
ロシャッタ２０１ 、・・・２０ｎ。
一１画像読取七ンサとして一次元光電変換２子アレー（
以下イメージセンナと云う）１２を使用している。そし
て、原稿搬送路１３上における読取位置には、基準用白
色板１７が配設されており、この基準用白色板１７とイ
メージセンサ−２との間にはレンズ１５が、また基準用
白色板１７とレンズ１５との間には、シェーディング補
正板１６が配設されている０ このシェーディング補正板１６は、第２図に拡大して示
したように、透明板１８に、第４図で示したと同様な半
円状の固定透光ノ４ターン１９と、複数個の液晶マイク
ロシャッタ２０１ 、・・・２０ｎ。
２１１ 、・・・２１ｎとが配設されており、これら液
晶マイクロシャ、り２０１ 、・・・２０ｎｓ ２１１
＊・・・２１ｎは、固定遮光ノーターン１９の円弧
状周縁に沿って２列に並べて配置されている。そして、
これらの液晶マイクロシャッタ２０１ 、・・・２０ｎ
ｒ ２１１．１１′ ・・・２１ｎは、それらの全てが開または閉の状態、ま
□・↓ たはいずれかの列が閉の状態で、レンズ１５による光量
の不均一を補正するように、それぞれの形状、寸法が設
定されている＠したがって、螢光灯１１の輝度分布が均
一のときは、全ての液晶マイクロシャッタ２０１＋ｒ・
２０ｎ＋ ２１１ ＋−２１Ｈを開または閉の状態に
するか、それらのうちの一方の列、例えば液晶マイクロ
シャ、り２０１ 、・・・２０ｎを開または閉の状態に
すれば、イメージセンチ１２には均一な分布の光源光が
照射される。
晶マイクロシャ、り２０１ 、・・・２０ｎｓ ２１１
＊・・・２１ｎは、固定遮光ノーターン１９の円弧
状周縁に沿って２列に並べて配置されている。そして、
これらの液晶マイクロシャッタ２０１ 、・・・２０ｎ
ｒ ２１１．１１′ ・・・２１ｎは、それらの全てが開または閉の状態、ま
□・↓ たはいずれかの列が閉の状態で、レンズ１５による光量
の不均一を補正するように、それぞれの形状、寸法が設
定されている＠したがって、螢光灯１１の輝度分布が均
一のときは、全ての液晶マイクロシャッタ２０１＋ｒ・
２０ｎ＋ ２１１ ＋−２１Ｈを開または閉の状態に
するか、それらのうちの一方の列、例えば液晶マイクロ
シャ、り２０１ 、・・・２０ｎを開または閉の状態に
すれば、イメージセンチ１２には均一な分布の光源光が
照射される。
このような画像読取装置では、以下のようにして光源光
、即ち螢光灯１１の光が制御される。
、即ち螢光灯１１の光が制御される。
螢光灯１１の輝度分布が均一の状態にある間は、液晶マ
イクロシャッタ２０１ 、・・・２０ｎを全て閉の状態
にしておき、液晶マイクロシャッタ２１１＋・・・２１
ｎを開の状態にしておく。この状態では、上述したよう
に、イメージセンサ１２には、均一な分布の光源光が到
達する〇 経時変化等によって、螢光灯１１の一部が黒化し、その
部分の輝度が低下した場合には、その部分の輝度の低下
は、イメージセンサ１２を介してマイクロシャッタ制御
回路２２で検出てれる。そこで、マイクロシャッタ制御
回路２２では、輝度が低下した螢光灯１１の部分と対応
する液晶マイクロジャツメ２０ｍを特定し、該液晶マイ
クロシャッタ２０ｍを開状態にする。すると、イメージ
センサ１２に到達する光量の分布は、液晶マイクロシャ
ッタ２０ｆｆｌを透過する光量が加算されて１均一に補
正される。
イクロシャッタ２０１ 、・・・２０ｎを全て閉の状態
にしておき、液晶マイクロシャッタ２１１＋・・・２１
ｎを開の状態にしておく。この状態では、上述したよう
に、イメージセンサ１２には、均一な分布の光源光が到
達する〇 経時変化等によって、螢光灯１１の一部が黒化し、その
部分の輝度が低下した場合には、その部分の輝度の低下
は、イメージセンサ１２を介してマイクロシャッタ制御
回路２２で検出てれる。そこで、マイクロシャッタ制御
回路２２では、輝度が低下した螢光灯１１の部分と対応
する液晶マイクロジャツメ２０ｍを特定し、該液晶マイ
クロシャッタ２０ｍを開状態にする。すると、イメージ
センサ１２に到達する光量の分布は、液晶マイクロシャ
ッタ２０ｆｆｌを透過する光量が加算されて１均一に補
正される。
さらに、螢光灯１１の部分的な輝度の低下が著しくなっ
た場合には、上述のように、対応する液晶マイクロシャ
ッタ２０ｍを開状態にするだけでは補正しきれないので
、液晶マイクロシャッタ２１１゜・・・２１ｎのうち２
１ｒｎを除く全てを開状態にし、液晶マイクロシャッタ
２１ｒｎ以外の他の液晶マイクロシャッタ２１１ 、・
・・２１ｒｎ−ｊ ＋ ２１ｍ＋１１・・−２１ｎを通
過する光量を遮断し、イメージセンサ１２上での光量分
布の均一化を図ればよい。
た場合には、上述のように、対応する液晶マイクロシャ
ッタ２０ｍを開状態にするだけでは補正しきれないので
、液晶マイクロシャッタ２１１゜・・・２１ｎのうち２
１ｒｎを除く全てを開状態にし、液晶マイクロシャッタ
２１ｒｎ以外の他の液晶マイクロシャッタ２１１ 、・
・・２１ｒｎ−ｊ ＋ ２１ｍ＋１１・・−２１ｎを通
過する光量を遮断し、イメージセンサ１２上での光量分
布の均一化を図ればよい。
このような、螢−光灯１１の輝度低下のチェ、りおよび
シェーディ・ング補正は、原稿１４の先端が原稿搬送路
１３上の読取位置に到達する以前に行なわれる。
シェーディ・ング補正は、原稿１４の先端が原稿搬送路
１３上の読取位置に到達する以前に行なわれる。
なお、上記実施例では、液晶マイクロシャツタを２列に
配設した例を示したが、液晶マイクロシャッタを３列以
上配設してもよいことは勿論である。
配設した例を示したが、液晶マイクロシャッタを３列以
上配設してもよいことは勿論である。
また、上記実施例では、液晶マイクロシャッタと固定遮
光ノ々ターンとを組合わせることにより、螢光灯１１が
均一輝度を維持している間は、専ら固定遮光ノ４ターン
１９によってシェーディング補正を行なわせ、螢光灯の
輝度分布が不均一になった際に、液晶マイクロシャッタ
を作動させてシェーディング補正を行なうようにしてい
るが、上記固定遮光−４ターンの作用をも例えば第３図
に示したように、液晶マイクロシャ、りによって行なわ
せることも可能である＠ この第３図に示したシェーディング補正板１６’は短冊
状の液晶マイクロシャッタ２０’ｌｌ・・・２０Ｉｎ。
光ノ々ターンとを組合わせることにより、螢光灯１１が
均一輝度を維持している間は、専ら固定遮光ノ４ターン
１９によってシェーディング補正を行なわせ、螢光灯の
輝度分布が不均一になった際に、液晶マイクロシャッタ
を作動させてシェーディング補正を行なうようにしてい
るが、上記固定遮光−４ターンの作用をも例えば第３図
に示したように、液晶マイクロシャ、りによって行なわ
せることも可能である＠ この第３図に示したシェーディング補正板１６’は短冊
状の液晶マイクロシャッタ２０’ｌｌ・・・２０Ｉｎ。
２１’ｌｙ・・・２１Ｑ、２２を図の如く並べて配置し
、そのうちの液晶マイクロシャッタ２０’ｌ、・・・２
０Ｉｎ。
、そのうちの液晶マイクロシャッタ２０’ｌ、・・・２
０Ｉｎ。
２１’ｌｌ・・・２１ｋを閉の状態にし、かつ液晶マイ
クロシャ、り２２を開の状態にすることによって、固定
遮光ノ々ターン１９と同様の作用を行なわせている０即
ち、このシェーディング補正板１６′は、その中央部で
は開状態の液晶マイクロシャッタ２２の面積が小さく、
図において左右方向外側へ行に従って液晶マイクロシャ
ッタ２２０面積が大きくなる。したがってシェーディン
グ補正板１６’の光の透過量は上記固定遮光パターン１
９を配設した場合と等価にできる。このようにすれば、
レンズ１５の中央部を通過する光を有効に利用できるの
で、この部分の解像度の劣化の度合を少なくすることが
できる。なお、上記した液晶マイクロシャッタ２２の部
分は、通常開の状態にして使用されるため、この液晶マ
イクロシャッタ２２の部分には必ずしも液晶マイクロシ
ャッタを配設する必要はない。勿論、この場合には液晶
マイクロシャッタ２２の部分は透明にしておく必要があ
る。また、上記のような短冊状の液晶ｉイクロシャッタ
を使用せず、例えハ贋状の液晶マイクロシャッタを使用
してもよく、小さな液晶マイクロシャ、メをメツシー状
に配設することによっても本発明の目的を達成できる。
クロシャ、り２２を開の状態にすることによって、固定
遮光ノ々ターン１９と同様の作用を行なわせている０即
ち、このシェーディング補正板１６′は、その中央部で
は開状態の液晶マイクロシャッタ２２の面積が小さく、
図において左右方向外側へ行に従って液晶マイクロシャ
ッタ２２０面積が大きくなる。したがってシェーディン
グ補正板１６’の光の透過量は上記固定遮光パターン１
９を配設した場合と等価にできる。このようにすれば、
レンズ１５の中央部を通過する光を有効に利用できるの
で、この部分の解像度の劣化の度合を少なくすることが
できる。なお、上記した液晶マイクロシャッタ２２の部
分は、通常開の状態にして使用されるため、この液晶マ
イクロシャッタ２２の部分には必ずしも液晶マイクロシ
ャッタを配設する必要はない。勿論、この場合には液晶
マイクロシャッタ２２の部分は透明にしておく必要があ
る。また、上記のような短冊状の液晶ｉイクロシャッタ
を使用せず、例えハ贋状の液晶マイクロシャッタを使用
してもよく、小さな液晶マイクロシャ、メをメツシー状
に配設することによっても本発明の目的を達成できる。
なお、第１図の実施例では、シェーディング補正板１６
を基準用白色板１７とレンズ１５間に設置してい・るが
、シェーディング補正板１６をレンズ１５とイメージセ
ンナ１２間に設置してもよいことは云うまでもない◎ 〔発明の効果〕 上記したように、本発明に係る画像読取におけるシェー
ディング補正方法では、光源光通過域に配置した複数個
のマイクロシャッタを個別に開閉させることにより、シ
ェーディング補正を行っているので、螢光灯光源等で生
じる輝度分布の変化にも対処でき、かつその作業も短時
間で行なえる。
を基準用白色板１７とレンズ１５間に設置してい・るが
、シェーディング補正板１６をレンズ１５とイメージセ
ンナ１２間に設置してもよいことは云うまでもない◎ 〔発明の効果〕 上記したように、本発明に係る画像読取におけるシェー
ディング補正方法では、光源光通過域に配置した複数個
のマイクロシャッタを個別に開閉させることにより、シ
ェーディング補正を行っているので、螢光灯光源等で生
じる輝度分布の変化にも対処でき、かつその作業も短時
間で行なえる。
第１図は本発明に係る画像読取におけるシェーディング
補正方法を実施するための画像読取装置を示した概念的
な斜視図、第２図はその装置で採用されたシェーディン
グ補正板を拡大して示した正面図、第３図は本発明の方
法を実施するためのシェーディング補正板の他の実施例
を示した正面。 図、第４図は従来の画像読取におけるシェーディング補
正方法を実施した画像読取装置の概念的な斜視図である
。 １１・・・螢光灯、１２・・・光電変換素子、１３・・
・原稿搬送路、１４・・・原稿、１５・・・レンズ、１
６・・・シェーディング補正板、１７・・・基準用白色
板、１９・・・固定遮光パターン、２０１〜２０ｎ＋
２１１〜２１ｎ・・・液晶マイクロシャッタ。 第１図 ２１ｍ 第３図 第４図
補正方法を実施するための画像読取装置を示した概念的
な斜視図、第２図はその装置で採用されたシェーディン
グ補正板を拡大して示した正面図、第３図は本発明の方
法を実施するためのシェーディング補正板の他の実施例
を示した正面。 図、第４図は従来の画像読取におけるシェーディング補
正方法を実施した画像読取装置の概念的な斜視図である
。 １１・・・螢光灯、１２・・・光電変換素子、１３・・
・原稿搬送路、１４・・・原稿、１５・・・レンズ、１
６・・・シェーディング補正板、１７・・・基準用白色
板、１９・・・固定遮光パターン、２０１〜２０ｎ＋
２１１〜２１ｎ・・・液晶マイクロシャッタ。 第１図 ２１ｍ 第３図 第４図
Claims (1)
- 原稿搬送路上の基準用白色板と光電変換素子との間の光
通過域に、複数個の液晶マイクロシャッタを配設し、そ
れらの液晶マイクロシャッタを個別に開閉させて、上記
基準用白色板からの反射光の上記光電変換素子での光量
分布を均一にさせることを特徴とする画像読取における
シェーディング補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204695A JPS6181076A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 画像読取におけるシエ−デイング補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204695A JPS6181076A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 画像読取におけるシエ−デイング補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6181076A true JPS6181076A (ja) | 1986-04-24 |
Family
ID=16494776
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59204695A Pending JPS6181076A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 画像読取におけるシエ−デイング補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6181076A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63185160A (ja) * | 1987-01-27 | 1988-07-30 | Nec Corp | 原稿読取装置 |
| JPS63310262A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-19 | Canon Inc | 画像読取装置 |
| JP2021113749A (ja) * | 2020-01-20 | 2021-08-05 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面検査装置、表面検査方法、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、及び鋼材の製造設備 |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP59204695A patent/JPS6181076A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63185160A (ja) * | 1987-01-27 | 1988-07-30 | Nec Corp | 原稿読取装置 |
| JPS63310262A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-19 | Canon Inc | 画像読取装置 |
| JP2584773B2 (ja) * | 1987-06-11 | 1997-02-26 | キヤノン株式会社 | 画像読取装置 |
| JP2021113749A (ja) * | 2020-01-20 | 2021-08-05 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面検査装置、表面検査方法、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、及び鋼材の製造設備 |
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