JPS6179148A - 鋳鉄溶湯の熱分析装置 - Google Patents
鋳鉄溶湯の熱分析装置Info
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- JPS6179148A JPS6179148A JP20263384A JP20263384A JPS6179148A JP S6179148 A JPS6179148 A JP S6179148A JP 20263384 A JP20263384 A JP 20263384A JP 20263384 A JP20263384 A JP 20263384A JP S6179148 A JPS6179148 A JP S6179148A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/02—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating changes of state or changes of phase; by investigating sintering
- G01N25/04—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating changes of state or changes of phase; by investigating sintering of melting point; of freezing point; of softening point
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、鋳鉄溶湯の炭素含有率、ケイ素含有率、炭素
当量を精度よく求めるために使用され、鋳鉄溶湯の冷却
曲線から精度よく初晶温度、共晶温度を検出できる熱分
析装置に関する。
当量を精度よく求めるために使用され、鋳鉄溶湯の冷却
曲線から精度よく初晶温度、共晶温度を検出できる熱分
析装置に関する。
[従来の技術]
従来、鋳鉄溶湯の炭素含有率、ケイ素含有率、炭素当量
を求める熱分析装置として、各種の鋳鉄溶湯の冷却曲線
から得られる初晶温度及び共晶温度と成分元素との相関
関係を重回帰分析法により予め求め、試料の溶湯の冷却
曲線から得られた初晶温度及び共晶濃度から成分元素含
有率、炭素当量を求める熱分析装置が知られている。し
かし、従来の熱分析装置は、所定の温度範囲に所定時間
、冷却曲線上の温度が停滞した場合にその温度を初晶温
度又は共晶温度として判別していた。しかし、この方法
を利用した装置では初晶温度、共晶温度の検出精度を向
上させるためには設定温度幅をできる限り狭くする必要
があり、設定温度幅を狭くすれば、それだけ停滞時間の
判定条件を短くしなければ停滞点を検出することができ
ない。従って、未だ充分な精度で初晶共晶温度を検出す
ることができなかった。
を求める熱分析装置として、各種の鋳鉄溶湯の冷却曲線
から得られる初晶温度及び共晶温度と成分元素との相関
関係を重回帰分析法により予め求め、試料の溶湯の冷却
曲線から得られた初晶温度及び共晶濃度から成分元素含
有率、炭素当量を求める熱分析装置が知られている。し
かし、従来の熱分析装置は、所定の温度範囲に所定時間
、冷却曲線上の温度が停滞した場合にその温度を初晶温
度又は共晶温度として判別していた。しかし、この方法
を利用した装置では初晶温度、共晶温度の検出精度を向
上させるためには設定温度幅をできる限り狭くする必要
があり、設定温度幅を狭くすれば、それだけ停滞時間の
判定条件を短くしなければ停滞点を検出することができ
ない。従って、未だ充分な精度で初晶共晶温度を検出す
ることができなかった。
[発明の解決しようとする問題点]
本発明は、従来のこのような欠点を改良するために成さ
れたものであり、高速度で111vlよく鋳鉄溶湯の初
晶温度及び共晶温度を検出することを目的とする。
れたものであり、高速度で111vlよく鋳鉄溶湯の初
晶温度及び共晶温度を検出することを目的とする。
[問題点を解決するための手段及び作用]第1図は本発
明の概念を示したブロックダイヤグラムである。
明の概念を示したブロックダイヤグラムである。
本発明は、溶湯の冷却過程における温度を時系列的に測
定する測温装置10と、 前記測温装[10からの信号を入力して、データを解析
し、所定の処理の後、出力装置30に、信号を出力する
データ解析装置i20と、該データ解析装置20からの
信号を入力し、その信号によって、表示を行なう出力装
置!1i30とから成る装置であって、 前記データ解析装W120は、 前記測温装置10から出力される温度データが、予め設
定された初晶温度存在範囲にあることを検出する初晶温
度範囲判定部21と、 前記温度データが、予め設定された共晶温度存在範囲に
あることを検出する共晶温度範囲判定部22と、 連続して入力される温度データの変化量が、所定の範囲
内であることを判定することにより温度の停滞区間を検
出する停滞区間検出部23と、前記初晶温度範囲判定部
21によって検出された区間及び、前記停滞区間検出部
23によって検出された停滞区間であって、温度の停滞
が、所定サンプリング数継続して生じた時は、前記停滞
区間の代表点を初晶温度とする初晶温度検出部24と、 前記共晶温度範囲判定部22によって検出された区間及
び前記停滞区間検出部23によって検出された停滞区間
であって、温度の停滞が所定サンプリング数継続して生
じ、かつ、前記停滞区間における所定サンプリング数離
れた2点間の温度傾斜が所定値以下であるときに、前記
2点間の代表点の温度を共晶温度とする共晶温度検出部
25と、から成ることを特徴とする鋳鉄溶湯の熱分析装
置である。
定する測温装置10と、 前記測温装[10からの信号を入力して、データを解析
し、所定の処理の後、出力装置30に、信号を出力する
データ解析装置i20と、該データ解析装置20からの
信号を入力し、その信号によって、表示を行なう出力装
置!1i30とから成る装置であって、 前記データ解析装W120は、 前記測温装置10から出力される温度データが、予め設
定された初晶温度存在範囲にあることを検出する初晶温
度範囲判定部21と、 前記温度データが、予め設定された共晶温度存在範囲に
あることを検出する共晶温度範囲判定部22と、 連続して入力される温度データの変化量が、所定の範囲
内であることを判定することにより温度の停滞区間を検
出する停滞区間検出部23と、前記初晶温度範囲判定部
21によって検出された区間及び、前記停滞区間検出部
23によって検出された停滞区間であって、温度の停滞
が、所定サンプリング数継続して生じた時は、前記停滞
区間の代表点を初晶温度とする初晶温度検出部24と、 前記共晶温度範囲判定部22によって検出された区間及
び前記停滞区間検出部23によって検出された停滞区間
であって、温度の停滞が所定サンプリング数継続して生
じ、かつ、前記停滞区間における所定サンプリング数離
れた2点間の温度傾斜が所定値以下であるときに、前記
2点間の代表点の温度を共晶温度とする共晶温度検出部
25と、から成ることを特徴とする鋳鉄溶湯の熱分析装
置である。
初晶温度範囲判定部21は予め多数の試料について測定
された初晶温度が存在する上限及び下限の温度範囲を設
定し、測定された温度データがこの設定された初晶温度
範囲にあることを判定する。
された初晶温度が存在する上限及び下限の温度範囲を設
定し、測定された温度データがこの設定された初晶温度
範囲にあることを判定する。
また、共晶温度範囲判定部22は、同じように共晶温度
の存在し得る温度の上限及び下限値を設定し、測定され
たデータがこの共晶温度範囲に存在するか否かを判定す
る。
の存在し得る温度の上限及び下限値を設定し、測定され
たデータがこの共晶温度範囲に存在するか否かを判定す
る。
鋳鉄溶湯の冷却曲線において、初晶温度及び共晶温度を
特徴付けるのは、冷却曲線における温度の変化率である
。即ち初晶温度又は共晶温度は、結晶の物理化学的性質
から冷却曲線の温度勾配が小さくなる範囲に存在する。
特徴付けるのは、冷却曲線における温度の変化率である
。即ち初晶温度又は共晶温度は、結晶の物理化学的性質
から冷却曲線の温度勾配が小さくなる範囲に存在する。
本発明では、任意の温度データ点での温度勾配が所定の
範囲内にある場合に、その温度点の存在する範囲を停滞
区間として検出している。
範囲内にある場合に、その温度点の存在する範囲を停滞
区間として検出している。
初晶温度は初晶温度範囲判定部によって検出された温度
区間内にあり、停滞区間検出部によって検出された停滞
区間が所定サンプリング数継続して生じた時に、その停
滞区間の代表点で表わされる。この代表点としては、停
滞区間の始まり又は終りの温度、あるいはその温度の平
均値を用いればよい。 ゛ 共晶温度の検出は、共晶温度範囲判定部によって検出さ
れた区間であって、その区間内に停滞区間検出部によっ
て検出された停滞区間が存在し、その停滞区間長が所定
サンプリング数以上であり、しかもその停滞区間におけ
る所定サンプリング数離れた2点間の温度傾斜が所定値
以下であるときに、その2点間の代表点の温度を共晶温
度とするものである。このように共晶温度の検出には、
単に微分傾斜法より求められた停滞区間のみによって判
定するのではな(、その停滞区間のマクロ的な曲線の傾
きが所定II以下である場合に、その区間の代表点の温
度を共晶温度とするものである。
区間内にあり、停滞区間検出部によって検出された停滞
区間が所定サンプリング数継続して生じた時に、その停
滞区間の代表点で表わされる。この代表点としては、停
滞区間の始まり又は終りの温度、あるいはその温度の平
均値を用いればよい。 ゛ 共晶温度の検出は、共晶温度範囲判定部によって検出さ
れた区間であって、その区間内に停滞区間検出部によっ
て検出された停滞区間が存在し、その停滞区間長が所定
サンプリング数以上であり、しかもその停滞区間におけ
る所定サンプリング数離れた2点間の温度傾斜が所定値
以下であるときに、その2点間の代表点の温度を共晶温
度とするものである。このように共晶温度の検出には、
単に微分傾斜法より求められた停滞区間のみによって判
定するのではな(、その停滞区間のマクロ的な曲線の傾
きが所定II以下である場合に、その区間の代表点の温
度を共晶温度とするものである。
区間の代表点としては、たとえば舶記2点のうち一方、
又は、その2煮湯度の平均値を与える点が選択される。
又は、その2煮湯度の平均値を与える点が選択される。
[実施例]
以下、本発明を具体的な実施例に基づいて詳しく述べる
。第2図は本発明装置の具体的な1実施例に係る測定装
置の構成を示したブロックダイアグラムである。2は溶
湯の一部を取り出してその冷却曲線を測定するためのカ
ップである。そのカップ2の底部にはアルメル−クロメ
ルから成る熱電対4が設けられ、熱電対4によって発生
された電力は導線を介して温度計6に入力する。温度計
6はアナログ量の起電力を0.4秒毎にサンプリングし
、デジタル信号に変換し、2進化10進数(BCD)で
表わされた符号化コードとしてパラレル/シリアル変換
器に出力する。パラレル/シリアル変換器8は、BCD
データをシリアルデータに変換し、マイクロコンピュー
タ1oのシリアルデータ入力ボートに出力する。マイク
ロコンピュータ10には所定の測定結果を出力するプリ
ンタ12及びCRT16が接続され、所定のプログラム
を記憶したフロッピィディスク8114が接続されてい
る。
。第2図は本発明装置の具体的な1実施例に係る測定装
置の構成を示したブロックダイアグラムである。2は溶
湯の一部を取り出してその冷却曲線を測定するためのカ
ップである。そのカップ2の底部にはアルメル−クロメ
ルから成る熱電対4が設けられ、熱電対4によって発生
された電力は導線を介して温度計6に入力する。温度計
6はアナログ量の起電力を0.4秒毎にサンプリングし
、デジタル信号に変換し、2進化10進数(BCD)で
表わされた符号化コードとしてパラレル/シリアル変換
器に出力する。パラレル/シリアル変換器8は、BCD
データをシリアルデータに変換し、マイクロコンピュー
タ1oのシリアルデータ入力ボートに出力する。マイク
ロコンピュータ10には所定の測定結果を出力するプリ
ンタ12及びCRT16が接続され、所定のプログラム
を記憶したフロッピィディスク8114が接続されてい
る。
第3図は本発明装置に使用されたマイクロコンピュータ
1oの処理する過程を示したフローチャートである。ス
テップ10oは、各種のパラメータの初期値を設定する
ためのステップである。ステップ102ではCRT16
に測定された温度データを表示するためのグラフの軸を
表示する。ステップ104では温度計6から温度データ
を読み取る。ステップ106でその測定された温度デー
タが所定の温度以上に達した時にはカップ2に溶湯が注
湯されたとして測定が開始される。所定の温度以下の場
合には、カップ2に未だ溶湯が注湯されてないのでステ
ップ104へ戻る。
1oの処理する過程を示したフローチャートである。ス
テップ10oは、各種のパラメータの初期値を設定する
ためのステップである。ステップ102ではCRT16
に測定された温度データを表示するためのグラフの軸を
表示する。ステップ104では温度計6から温度データ
を読み取る。ステップ106でその測定された温度デー
タが所定の温度以上に達した時にはカップ2に溶湯が注
湯されたとして測定が開始される。所定の温度以下の場
合には、カップ2に未だ溶湯が注湯されてないのでステ
ップ104へ戻る。
ステップ108で測定データのサンプリング番号を記憶
するパラメータ■を1更新する。ステップ110で温度
データを読み取る。次にステップ112でその冷却曲線
の測定が終了したかを判定する。冷却曲線の測定の終了
判定条件は、測定回数が所定回数以上になること、又は
測定温度が所定温度以下になることとしている。ステッ
プ114で測定された温度データをCRT16に表示す
る。即ち温度データは測温とリアルタイムでCRT16
に表示される。次にステップ116で冷却曲線の最高温
度を検出する。冷却曲線はカップ2に注fiされた後、
最高温度迄急上昇し、その後冷却過程をたどる。従って
その温度変化を検出することにより、最高温度を検出す
ることができる。
するパラメータ■を1更新する。ステップ110で温度
データを読み取る。次にステップ112でその冷却曲線
の測定が終了したかを判定する。冷却曲線の測定の終了
判定条件は、測定回数が所定回数以上になること、又は
測定温度が所定温度以下になることとしている。ステッ
プ114で測定された温度データをCRT16に表示す
る。即ち温度データは測温とリアルタイムでCRT16
に表示される。次にステップ116で冷却曲線の最高温
度を検出する。冷却曲線はカップ2に注fiされた後、
最高温度迄急上昇し、その後冷却過程をたどる。従って
その温度変化を検出することにより、最高温度を検出す
ることができる。
ステップ118で最高温度が検出されない場合にはステ
ップ108に戻り、そのサイクルを繰り返す。最高温度
が検出された場合にはステップ120へ移行する。
ップ108に戻り、そのサイクルを繰り返す。最高温度
が検出された場合にはステップ120へ移行する。
ステップ120では2点間の温度差6丁を求める。次に
ステップ122に移行し、初晶温度の検出が完了したか
を判定し、そうでない場合にはステップ124に移行す
る。ステップ124では初晶温度の存在範囲を判定する
。判定条件は次式である。
ステップ122に移行し、初晶温度の検出が完了したか
を判定し、そうでない場合にはステップ124に移行す
る。ステップ124では初晶温度の存在範囲を判定する
。判定条件は次式である。
2070°F<T<2300’ F
測定温度Tが、初晶温度範囲に存在する場合にはステッ
プ140に移行する。
プ140に移行する。
ステップ140,142.144は停滞区間を検出する
停滞区間検出部に相当する。ステップ140でΔTが1
よりも小さい時、即ち温度傾斜が上2゜5°F/sec
の範囲に存在している時に、停滞区間とする。即ちステ
ップ142で停滞区間のサンプリング点の数をカウント
し停滞区間の検出を行なう。上記条件が滞されない場合
には、ステップ144でサンプリング点を計数するため
のレジスタをリセットして、次の停滞区間が検出される
のに備える。
停滞区間検出部に相当する。ステップ140でΔTが1
よりも小さい時、即ち温度傾斜が上2゜5°F/sec
の範囲に存在している時に、停滞区間とする。即ちステ
ップ142で停滞区間のサンプリング点の数をカウント
し停滞区間の検出を行なう。上記条件が滞されない場合
には、ステップ144でサンプリング点を計数するため
のレジスタをリセットして、次の停滞区間が検出される
のに備える。
ステップ144.146は、停滞区間検出部によって検
出された停滞区間の停滞点の数が7以上の場合には初晶
温度とする初晶温度検出部に相当する。ステップ146
で停滞点の数が7以上の場合には、その区間の平均温度
を初晶温度TLとして検出する。
出された停滞区間の停滞点の数が7以上の場合には初晶
温度とする初晶温度検出部に相当する。ステップ146
で停滞点の数が7以上の場合には、その区間の平均温度
を初晶温度TLとして検出する。
ステップ148では、CRTに初晶温度TLを表示する
。以上の処理過程によって初晶温度が検出されたことに
なる。
。以上の処理過程によって初晶温度が検出されたことに
なる。
次に共晶温度の検出過程について述べる。次に更に冷却
が進行して、ステップ128で、共晶温度存在範囲に測
定温度データが存在した場合には、ステップ170に移
行する。この共晶温度範囲判定部の判定条件は次式であ
る。
が進行して、ステップ128で、共晶温度存在範囲に測
定温度データが存在した場合には、ステップ170に移
行する。この共晶温度範囲判定部の判定条件は次式であ
る。
2028°F<T<2070’ F
ステップ1701172.174は前述したのと同一の
機能を有する停滞区間検出部である。
機能を有する停滞区間検出部である。
ステップ176.178.180は、共晶温度検出部で
あるステップ176で停滞区間に存在する停滞点の数が
20以上の場合、即ち停滞時間が8秒以上の場合にはス
テップ178に移行する。
あるステップ176で停滞区間に存在する停滞点の数が
20以上の場合、即ち停滞時間が8秒以上の場合にはス
テップ178に移行する。
ステップ178で、18サンプリング数離れた2点間の
温度差が1°F以下であるかを判定し、その条件が満さ
れた時は、ステップ180で、後のサンプリング点の温
度を共晶温度として検出する。
温度差が1°F以下であるかを判定し、その条件が満さ
れた時は、ステップ180で、後のサンプリング点の温
度を共晶温度として検出する。
そしてステップ182でCRTに共晶温度TEを表示す
る。
る。
以上のステップにより、冷却曲線が典型的な場合には初
晶温度TLと共晶温度TEが検出されてス゛テップ11
2で測定終了と判定される。
晶温度TLと共晶温度TEが検出されてス゛テップ11
2で測定終了と判定される。
一方、冷却曲線が典型的でない場合には、例えばステッ
プ126で初晶温度が検出されていない場合には、ステ
ップ127でパラメータAを1にセットする。又、初晶
温度は検出されたけれども、−共晶温度が検出されてい
ない場合には、ステップ130でパラメータAを2にセ
ットする。
プ126で初晶温度が検出されていない場合には、ステ
ップ127でパラメータAを1にセットする。又、初晶
温度は検出されたけれども、−共晶温度が検出されてい
ない場合には、ステップ130でパラメータAを2にセ
ットする。
冷却曲線の測定が終了した場合には、ステップ190に
移行する。パラメータAが0の場合には初晶温度及び共
晶温度が検出された場合であり、ステップ206に移行
して、ケイ素含有率、炭素含有率及び炭素当量を計算し
て、それらの値をステップ208で表示する。また、ス
テップ210でプロッタに冷却曲線並びに初晶温度、共
晶温度炭素含有率、ケイ素含有率、炭素当量等を出力す
る。その出力図を第5図に示す。
移行する。パラメータAが0の場合には初晶温度及び共
晶温度が検出された場合であり、ステップ206に移行
して、ケイ素含有率、炭素含有率及び炭素当量を計算し
て、それらの値をステップ208で表示する。また、ス
テップ210でプロッタに冷却曲線並びに初晶温度、共
晶温度炭素含有率、ケイ素含有率、炭素当量等を出力す
る。その出力図を第5図に示す。
一方、ステップ192でパラメータAが1であると判定
された場合には、ステップ194に移行する。即ち初晶
温度が検出されなかった場合である。その場合にはステ
ップ194で最終の測定点から最高温度迄逆にさかのぼ
り、その範囲内で最長の停滞区間を求め、その停滞区間
の停滞点数を求める。この停滞区間を求める条件は前述
の停滞区間検出部の条件と同じである。ステップ196
で停滞点の数が27以上の場合には、ステップ198へ
移行し、その停滞区間の代表点を共晶温度とする。ざら
にステップ200に移行して最高温度と今求められた共
晶温度との間で最長の停滞区間をざらに求め、その停滞
区間に存在する停滞点の数を求める。ステップ202で
その停滞点数が5以上の場合にはステップ204に移行
して初晶温度TLを求める。このようにして前述した初
晶判定条件及び共晶判定条件では初晶温度、共晶温度が
検出されなかった場合に、ざらに別の、やや緩和された
判定条件で共晶温度及び初晶温度を検出している。
された場合には、ステップ194に移行する。即ち初晶
温度が検出されなかった場合である。その場合にはステ
ップ194で最終の測定点から最高温度迄逆にさかのぼ
り、その範囲内で最長の停滞区間を求め、その停滞区間
の停滞点数を求める。この停滞区間を求める条件は前述
の停滞区間検出部の条件と同じである。ステップ196
で停滞点の数が27以上の場合には、ステップ198へ
移行し、その停滞区間の代表点を共晶温度とする。ざら
にステップ200に移行して最高温度と今求められた共
晶温度との間で最長の停滞区間をざらに求め、その停滞
区間に存在する停滞点の数を求める。ステップ202で
その停滞点数が5以上の場合にはステップ204に移行
して初晶温度TLを求める。このようにして前述した初
晶判定条件及び共晶判定条件では初晶温度、共晶温度が
検出されなかった場合に、ざらに別の、やや緩和された
判定条件で共晶温度及び初晶温度を検出している。
また、ステップ220でAの値が2の場合には、初晶温
度は検出されたが共晶温度が検出されない場合である。
度は検出されたが共晶温度が検出されない場合である。
その場合にはステップ222に移り、ステップ194と
同じ処理が行なわれる。ステップ224で停滞点の数が
27以上の場合にはステップ226でその停滞区間の平
均温度を共晶温度として検出する。この様に、本実施例
では、本発明装置による検出方法の他に、他の条件によ
る検出方法を付加し、初晶、共晶温度の検出を確実にし
ている。
同じ処理が行なわれる。ステップ224で停滞点の数が
27以上の場合にはステップ226でその停滞区間の平
均温度を共晶温度として検出する。この様に、本実施例
では、本発明装置による検出方法の他に、他の条件によ
る検出方法を付加し、初晶、共晶温度の検出を確実にし
ている。
[発明の効果]
本発明は、冷却曲線の隣接した2点間における温度の傾
斜が所定の範囲以下である場合に、その範囲を温度の停
滞区間としている。又、初晶温度の存在範囲、共晶温度
の存在範囲を予め設定している。初晶と共晶判定条件の
1つである停滞時間は、異なっている。ざらに共晶温度
の検出には停滞区間のよりマクロ的な間隔での温度傾斜
が所定値以下の場合に共晶温度としている。このような
条件を用いることによって精度よく初晶温度共晶温度が
検出できた。又、本発明装置は、上記の検出を自動化し
ているので、確実、高速に、初晶、共晶温度を検出でき
る。
斜が所定の範囲以下である場合に、その範囲を温度の停
滞区間としている。又、初晶温度の存在範囲、共晶温度
の存在範囲を予め設定している。初晶と共晶判定条件の
1つである停滞時間は、異なっている。ざらに共晶温度
の検出には停滞区間のよりマクロ的な間隔での温度傾斜
が所定値以下の場合に共晶温度としている。このような
条件を用いることによって精度よく初晶温度共晶温度が
検出できた。又、本発明装置は、上記の検出を自動化し
ているので、確実、高速に、初晶、共晶温度を検出でき
る。
第1図は本発明装置の概念を示したブロックダイアグラ
ムである。第2図は本発明の具体的な1実施例の熱分析
装置の構成を示したブロックダイアグラムである。第3
図、第4図は同実施例装置において使用されたマイクロ
コンピュータの処理を示すフローチャートである。第5
図は本実施例装置による出力図面である。 特許出願人 株式会社ナカヤマ 代理人 弁理士 大川 宏 同 弁理士 藤谷 修 同 弁理士 丸山明夫
ムである。第2図は本発明の具体的な1実施例の熱分析
装置の構成を示したブロックダイアグラムである。第3
図、第4図は同実施例装置において使用されたマイクロ
コンピュータの処理を示すフローチャートである。第5
図は本実施例装置による出力図面である。 特許出願人 株式会社ナカヤマ 代理人 弁理士 大川 宏 同 弁理士 藤谷 修 同 弁理士 丸山明夫
Claims (2)
- (1)溶湯の冷却過程における温度を時系列的に測定す
る測温装置と、 前記測温装置からの信号を入力して、データを解析し、
所定の処理の後、出力装置に、信号を出力するデータ解
析装置と、 該データ解析装置からの信号を入力し、その信号によっ
て、表示を行なう出力装置とから成る装置であって、 前記データ解析装置は、 前記測温装置から出力される温度データが、予め設定さ
れた初晶温度存在範囲にあることを検出する初晶温度範
囲判定部と、 前記温度データが、予め設定された共晶温度存在範囲に
あることを検出する共晶温度範囲判定部と、 連続して入力される温度データの変化量が、所定の範囲
内であることを判定することにより温度の停滞区間を検
出する停滞区間検出部と、 前記初晶温度範囲判定部によって検出された区間及び前
記停滞区間検出部によって検出された停滞区間であって
、温度の停滞が、所定サンプリング数継続して生じた時
は、前記停滞区間の代表点を初晶温度とする初晶温度検
出部と、 前記共晶温度範囲判定部によって検出された区間及び、
前記停滞区間検出部によって検出された停滞区間であっ
て、温度の停滞が所定サンプリング数継続して生じ、か
つ、前記停滞区間における所定サンプリング数離れた2
点間の温度傾斜が所定値以下であるときに、前記2点間
の代表点の温度を共晶温度とする共晶温度検出部と、か
ら成ることを特徴とする鋳鉄溶湯の熱分析装置。 - (2)前記データ解析装置は、得られた前記初晶温度、
前記共晶温度から炭素含有率、ケイ素含有率、炭素当量
を算出する演算部を有することを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の鋳鉄溶湯の熱分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20263384A JPS6179148A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 鋳鉄溶湯の熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20263384A JPS6179148A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 鋳鉄溶湯の熱分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6179148A true JPS6179148A (ja) | 1986-04-22 |
JPH0516540B2 JPH0516540B2 (ja) | 1993-03-04 |
Family
ID=16460575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20263384A Granted JPS6179148A (ja) | 1984-09-27 | 1984-09-27 | 鋳鉄溶湯の熱分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6179148A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53102096A (en) * | 1977-02-18 | 1978-09-06 | Chino Works Ltd | Automatic measuring device for carbon and silicon in melt |
JPS5463798A (en) * | 1978-07-25 | 1979-05-22 | Yahagi Densetsu Kk | Method and device for analyzing composition of molten cast iron before furnace |
JPS5514446A (en) * | 1978-07-14 | 1980-01-31 | Ohara Tadao | Melting furnace |
JPS5542047A (en) * | 1978-09-19 | 1980-03-25 | Kyoto Daiichi Kagaku:Kk | Method of and apparatus for measuring ice point drop |
-
1984
- 1984-09-27 JP JP20263384A patent/JPS6179148A/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53102096A (en) * | 1977-02-18 | 1978-09-06 | Chino Works Ltd | Automatic measuring device for carbon and silicon in melt |
JPS5514446A (en) * | 1978-07-14 | 1980-01-31 | Ohara Tadao | Melting furnace |
JPS5463798A (en) * | 1978-07-25 | 1979-05-22 | Yahagi Densetsu Kk | Method and device for analyzing composition of molten cast iron before furnace |
JPS5542047A (en) * | 1978-09-19 | 1980-03-25 | Kyoto Daiichi Kagaku:Kk | Method of and apparatus for measuring ice point drop |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0516540B2 (ja) | 1993-03-04 |
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