JPS6177997A - Operation diagnostic apparatus for light emitting element - Google Patents

Operation diagnostic apparatus for light emitting element

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JPS6177997A
JPS6177997A JP59199289A JP19928984A JPS6177997A JP S6177997 A JPS6177997 A JP S6177997A JP 59199289 A JP59199289 A JP 59199289A JP 19928984 A JP19928984 A JP 19928984A JP S6177997 A JPS6177997 A JP S6177997A
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transistor
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は複写機などにおいて好適に実施さねる発光素子
の前作診断装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a previous diagnostic device for light emitting devices, which is preferably implemented in copying machines and the like.

背景技術 従来から複写機では、原稿像を等倍だけでなく縮小して
複写するために、縮小キーおよび表示ランプが備えらね
ている。縮小複写を行なう際には。
BACKGROUND ART Conventionally, copying machines have been equipped with a reduction key and a display lamp in order to copy an original image not only at the same size but also at a reduced size. When performing reduced copying.

縮小キーを操作してこ力、によって表示ランプが点灯シ
て縮小複写モードであることが表示される。
When the reduction key is operated and pressed, the display lamp lights up to indicate that the reduction copy mode is in effect.

発明が解決しようとする問題点 と記先行技術では9表示ランプが何らかの故障で消灯し
たままであるとき1等倍での複写前作が行なわhるもの
であることを表わす表示状態となっている。したがって
、操作者は等倍複写が行なわ九るものと忘って複写前作
を行なうと縮小された複写紙が得られることになる。し
かも設定枚数が゛〉い唱什には、無駄な複写、無駄な時
間を*−?すことになる。
Problems to be Solved by the Invention In the prior art, when the 9 indicator lamp remains off due to some kind of failure, the display state is such that it indicates that a pre-copy operation at 1-1 magnification is to be performed. Therefore, if the operator performs a pre-copying process while forgetting that he is making a full-size copy, he will obtain a reduced-size copy. What's more, chanting with a set number of copies results in unnecessary copying and wasted time. I will do it.

本発明の目的f−iと述の技術的課題を解決し、 fy
Ii巣な構成でしかも確実に発光ダイオードの異常す1
作を識別することができる発光素子の#Jf′f:診断
装着を提供することである。
The purpose of the present invention is to solve the technical problems described in f-i and fy.
Ii Even with a simple configuration, it is possible to reliably detect abnormalities in light emitting diodes.
#Jf'f of the light emitting element that can identify the operation: diagnostic mounting is provided.

問題を解決するための手段 本発明け、制f11端子を有するスイッチング素子と。means to solve the problem The present invention provides a switching element having a control f11 terminal.

スイッチング素子に直列に接続さねでいる発光素子と。A light emitting element connected in series with a switching element.

発光素子に直列に接続されているインピーダンス素子と
and an impedance element connected in series to the light emitting element.

fI+制御端子1こ制御信号を与える手段とを含み。fI+control terminal 1; means for providing a control signal;

スイッチング素子を導通するための制御W号と。and a control W for making the switching element conductive.

発光素子とインピーダンス朱子との接続点における発光
素子の消灯蛸作に対応した電圧とのm &せ状態および
The voltage corresponding to the turning off of the light-emitting element at the connection point between the light-emitting element and the impedance satin and the voltage that corresponds to the state.

スイッチング素子を遮断するための制御信号と、発光素
子とインピーダンス素子との接続点1こおける発光素子
の点灯# P′F、に対応しfc主電圧の組きせ状襲に
基づいて異常仙作が生じていることを識別することを特
徴とする発光素子のび1作診断装贋である。
In response to the control signal for cutting off the switching element and the lighting of the light emitting element at one connection point between the light emitting element and the impedance element, #P'F, abnormal power generation occurs based on the combined effect of the fc main voltage. This is a light-emitting device diagnostic device that is characterized by identifying the occurrence of a defect.

実施例 第1図は1本発明の一実施例の構成を示す嘔気回路図で
ある。等倍および縮小の複写4Il]作を行なう複写機
構1t−j、第2図にその平面が示される操作パネル2
のテンキー3によって複写枚θが設定される。また0度
調整キー4によって複写離反が調整される。また縮小キ
ー5を押圧するたび毎に縮小モードと等倍モードとが切
換えられる。縮小モード時にけ表示ランプ6が点灯さね
ており、等倍モード時には表示ランプ6け消灯さnてい
る。
Embodiment FIG. 1 is a nausea circuit diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. Copying mechanism 1t-j that performs the same size and reduction copying 4Il] operation panel 2 whose plane is shown in FIG.
The number of copies θ is set using the numeric keypad 3. Further, the copy separation is adjusted by the 0 degree adjustment key 4. Further, each time the reduction key 5 is pressed, the reduction mode and the same size mode are switched. The display lamp 6 is lit only in the reduction mode, and is turned off in the normal size mode.

複写開始時にはプリントボタン7が操作されると。When the print button 7 is operated at the time of starting copying.

電源投入用表示ランプ8が点灯し5表示手段9に複写枚
数が表示される。
The power-on display lamp 8 lights up and the number of copies is displayed on the 5 display means 9.

テンキー3.′L)度調整キー4.プリントボタン7お
よび縮小キー5の操作に対応複写機樋1の制御ty+作
け、マイクロコンピュータなどに2って実現される処理
回路lOによって制御さねる。
Numeric keypad 3. 'L) Degree adjustment key 4. Control of the copying machine 1 corresponding to the operations of the print button 7 and the reduction key 5 is controlled by a processing circuit 10 realized by a microcomputer or the like.

処理回路10け角δ小生−5が操作されて複写機構1に
よって複写91作を行なうべきときに、ライン15にハ
イレベルの信号が導出ざ力る。ライン15nXイツチン
グ素子としてのトランジスタ16のベースに接続される
。電源+Vlの高電位側のライン12と低電位側の接地
ライン13との間には抵抗17と、縮小u′J作用発光
ダイオード6と。
When the processing circuit 10 is operated to cause the copying mechanism 1 to make a copy 91, a high level signal is output on the line 15. Line 15nX is connected to the base of transistor 16 as a switching element. A resistor 17 and a reduced u'J light emitting diode 6 are connected between a line 12 on the high potential side of the power supply +Vl and a ground line 13 on the low potential side.

トランジスタ16とが直列に接続ざカる。処理回Ff4
10からライン15を介してハイレベルの信号が与えら
力ると、トランジスタI6が導通し1発光ダイオード6
に屯流が流nて点灯する。
The transistor 16 is connected in series. Processing time Ff4
When a high level signal is applied from line 10 to line 15, transistor I6 conducts and light emitting diode 6
A torrent of light flows through the lamp and lights it up.

次1こ、縮小キー5が抑圧さねて等倍複写を行なうとき
にはライン15にはローレベルの信号が与えら力、トラ
ンジスタ16が遮断し1発光ダイオード6が消灯する。
Next, when the reduction key 5 is pressed and a copy is made at the same size, a low level signal is applied to the line 15, the transistor 16 is cut off, and the first light emitting diode 6 is turned off.

発光ダイオード6七抵抗17との接続点18け。18 connection points with 6 light emitting diodes and 17 resistors.

比較回路19の一方の入力端子201c接続さjる。One input terminal 201c of the comparison circuit 19 is connected.

比較回路19の他方の入力端子21け抵抗22゜231
こよって分圧された基準ui圧が与えらカる。
The other input terminal 21 of the comparator circuit 19 resistor 22°231
Thus, a divided reference ui pressure is provided.

入力端子20の電圧が入力端子21の基準電圧未満であ
るときにけ比較回路19Viハイレベルの信号を尋出し
、入力端子20の電圧が入力端子21の基fJL Tl
圧以上であるときにはローレベルの<g号を導出する。
When the voltage at the input terminal 20 is lower than the reference voltage at the input terminal 21, the comparison circuit 19Vi outputs a high level signal, and the voltage at the input terminal 20 is lower than the reference voltage at the input terminal 21.
When the pressure is higher than the pressure, a low level <g is derived.

これら比較回路19からの信号は信号ライン24を介し
て処理回路10に入力される。
The signals from these comparison circuits 19 are input to the processing circuit 10 via a signal line 24.

縮小複写時であって、ライン15を介して与えらhる信
号がハイレベルであるときにけ前述したようにトランジ
スタ16が導通し、接続点18したがって入力端子20
の電圧が入力端子21の基準電圧未満となす、シたがっ
て比較回路19の出力灯ハイレベルトナル。
During reduction copying, when the signal applied via the line 15 is at a high level, the transistor 16 becomes conductive as described above, and the connection point 18 and therefore the input terminal 20 become conductive.
voltage is less than the reference voltage of the input terminal 21, therefore the output light of the comparator circuit 19 is high level tonal.

等倍複写時にはライン15を介して与えられる信号はロ
ーレベルであり、トランジスタ16は遮断し、接続点】
8したがって入力端子20けハイレベルとなり、入力端
子21の基準レベル以上テあり、比較回路19の出力は
ローレベルとなる。
During full-size copying, the signal applied via line 15 is at a low level, transistor 16 is cut off, and the connection point]
8. Therefore, the input terminal 20 becomes a high level, which is higher than the reference level of the input terminal 21, and the output of the comparator circuit 19 becomes a low level.

こうして発光ダイオード6が正常表示幼作を行なってい
るときにけ筑1表で示される判定結果が得らハ、る。
In this way, when the light emitting diode 6 is performing a normal display operation, the determination result shown in the table 1 is obtained.

(以下余白) 重1表 トランジスタ16の故障によってトランジスタ16が短
絡して導通し之ままであるときに灯、縮小キー5の入力
操作に従うライン15の(5号がハイレベルまたげロー
レベルの違いに拘らず1発光ダイオード6 if点灯し
た1まである。縮小キー5が操作されて、ライン15の
信号が結手な1作に対16 L、たハイレベルであると
きに6ライン24のイコ号は前述と同様にハイレベルと
なって処理回路lO#−1正常と1=11定する。縮小
キー5を操作して等倍複写する際にけラインI5の信号
はローレベルにも拘らず、トランジスタ16Vi+j絡
しているので。
(Leaving space below) Table 1: When the transistor 16 is short-circuited due to a failure of the transistor 16 and remains conductive, the line 15 that follows the input operation of the reduction key 5 (the difference between the high level and the low level) Regardless of the 1 light emitting diode 6 if lit up to 1.When the reduction key 5 is operated and the signal on line 15 is at a high level, the signal on line 24 is at a high level. becomes high level as described above, and the processing circuit lO#-1 is determined to be normal and 1=11.When the reduction key 5 is operated to copy at the same size, even though the signal on line I5 is at low level, Because transistor 16Vi+j is connected.

発光ダイオード6は点灯しており、捌(プ点18の電圧
は低く化、じ、比イ・21す1路19の出力はハイレベ
ルとなる。処理回路lOはライン15を介して導出して
いるローレベルの信号と、ライン24を介して出力され
るハイレベルの信号との組陰せにしたがって1発光ダイ
オード6の表示状態を異常であると判定する。このとき
処理回路lOは縮小キー5の操作に拘らず発光ダイオー
ド6が消灯しているときに行なわれるべき等倍複写を達
成するように複写機構lを制御する。
The light emitting diode 6 is on, the voltage at the point 18 becomes low, and the output from the second line 19 becomes high level. The display state of one light emitting diode 6 is determined to be abnormal according to the combination of the low level signal outputted via the line 24 and the high level signal outputted via the line 24. At this time, the processing circuit 1O selects the reduction key 5 The copying mechanism 1 is controlled so as to achieve the same size copying that should be performed when the light emitting diode 6 is off, regardless of the operation.

なお1発光ダイオード6が正常なときには表示されてい
るとおりの411+作が複写機構1iCjつで行なわれ
る。
Note that when the 1 light emitting diode 6 is normal, the copying mechanism 1iCj performs the 411+ operation as displayed.

次にと述した診断装置の幼作状態を第3因示のフローチ
ャートを使って以下に説明する。ステップn1からステ
ップn2に移って、縮小キー5が抑圧さnて、入力表示
の読込みが行なわれる。次にステップn3に移って処理
回路lOからトランジスタ16に制御信号が導出さrL
、ステップn4では比較回路19からの出力信号が読込
まれ、ステップn5で正常か否かが判断さnる。ステッ
プn5において正常であれば、ステップn6において縮
小キー5の入力内容に対応し几複写ahが複写8M横1
によって行なわれる。ステップn5において正常°でな
いならば、ステップn7に移って。
Next, the infant state of the diagnostic device described above will be explained below using the flowchart of the third cause. Moving from step n1 to step n2, the reduction key 5 is depressed and the input display is read. Next, proceeding to step n3, a control signal is derived from the processing circuit lO to the transistor 16 rL
, In step n4, the output signal from the comparison circuit 19 is read, and in step n5, it is determined whether or not it is normal. If it is normal in step n5, in step n6, copy ah corresponds to the input content of reduction key 5, and copy 8M horizontal 1
It is carried out by If it is not normal in step n5, move to step n7.

発光ダイオード6の表示状部に対応した複写紡作即ち、
縮小モード時で発光ダイオード6が消灯しているときに
縮小複写が達成できるように複写機構1が制御さね、あ
るいけ等倍モード時で発光ダイオード6が点灯している
ときに等倍禎写が達成できるように複写機構lが制御さ
ハる。
Copy-spinning corresponding to the display shape of the light emitting diode 6, that is,
The copying mechanism 1 is controlled so that reduction copying can be achieved when the light emitting diode 6 is off in the reduction mode, and it is controlled so that a reduction copy can be achieved when the light emitting diode 6 is turned on in the life size mode. The copying mechanism is controlled so that the following can be achieved.

と述の実施例では異常時に発光ダイオード6の表示状部
に対応した?g写切動作行なわhるようにしたけねども
、几とえば粁報音によって異常状態を告知するようにし
てもよい。
In the above embodiment, the display part of the light emitting diode 6 corresponds to the abnormality. Although the photo-cutting operation is performed in this embodiment, abnormal conditions may be notified by, for example, a warning sound.

m4図は本発明の他の実抱例の+rn成を示す電気回路
図であり、舅5図は操作パネル30の平面図である。こ
の実施し1jけ前述の実施例に類似し、対応するF+l
S分には同一の参照符を付す。注目すべきは操作パネル
30にはノートキー31が備えら力でおり、このソート
キー31を押圧すると表示ランプ32が表灯し、ソート
モードとなる。またぎらにソートキー31を押圧すれば
表示ランプ32が消灯し、ソートモードからノンソート
モードに切換えられる。高電位側のライン40と接地側
のライン41とにけ、抵抗17aと発光ダイオード32
とトランジスタ16aとの直列回路が並列に接続されて
いる。またライン40と抵抗17aとの1g+続点42
とライン41とトランジスタ16aとの接続点43とに
、抵抗17b、17Cとの直列回路が並列に接続さねて
いる。また抵抗17aと発光ダイオード32との接続点
44と、抵抗17b、17c間の接続点45との間に、
ダイオードDlが介在される。このダイオードDIのカ
ソード側は前記接続点44に接PXさ力、アノード側は
前記接続点45に接続さハる。ま之接続点44と発光ダ
イオード32との間の1x絖点46と、接続点45と抵
抗17cとの間の接続点47との間には、もう1つのダ
イオードD2が介在さね、る。
Figure M4 is an electric circuit diagram showing a +rn configuration of another practical example of the present invention, and Figure 5 is a plan view of the operation panel 30. This implementation is similar to the previous example and has a corresponding F+l
The same reference numeral is given to the S portion. What should be noted is that the operation panel 30 is equipped with a note key 31, and when this sort key 31 is pressed, the display lamp 32 lights up and the mode is set to sort mode. If the sort key 31 is pressed again, the display lamp 32 is turned off and the sort mode is switched to the non-sort mode. Between the line 40 on the high potential side and the line 41 on the ground side, a resistor 17a and a light emitting diode 32 are connected.
A series circuit of the transistor 16a and the transistor 16a are connected in parallel. Also, 1g between line 40 and resistor 17a + connection point 42
A series circuit including resistors 17b and 17C is connected in parallel to the connection point 43 between the line 41 and the transistor 16a. Further, between the connection point 44 between the resistor 17a and the light emitting diode 32 and the connection point 45 between the resistors 17b and 17c,
A diode Dl is interposed. The cathode side of this diode DI is connected to the connection point 44, and the anode side is connected to the connection point 45. Another diode D2 is interposed between the 1x connection point 46 between the connection point 44 and the light emitting diode 32, and the connection point 47 between the connection point 45 and the resistor 17c.

このダイオードD2のカソードInけ前記接続点46に
接続さ9.アノード側は前記1号続点47に接続さハる
The cathode In of this diode D2 is connected to the connection point 469. The anode side is connected to the first connection point 47.

このような打パ1成によって発光ダイオード6.32の
少なくともいずれか一方が点灯すると、比較回路19か
らの出力がハイレベルとなり、どの発光ダイオードが異
常であるかけ特冗するこさけできないが、筑6図(1)
、(2)で示さねるようfxl、1期の異なる信号を、
処理回路lOから導出すると、@2表で示さねるような
判定結果を得ることができる。
When at least one of the light emitting diodes 6 and 32 lights up as a result of such a stroke, the output from the comparator circuit 19 becomes high level, and although it is difficult to say which light emitting diode is abnormal, Figure 6 (1)
, as shown in (2), fxl, different signals in the first period,
When derived from the processing circuit IO, it is possible to obtain determination results that cannot be shown in the @2 table.

したかつて1つの比較回路19でこのような複敬の発光
ダイオード6.32の蛸作が正常であるか否かを検出す
るので1回路構成の簡略化を図ることができる。
Since one comparator circuit 19 detects whether or not the light emitting diodes 6 and 32 are normal or not, the circuit configuration can be simplified.

第2表 舅7図は本発明のざらに他の実施し11の嘔気回路1で
ある。スイッチング素子としてのトランジスタ71には
1発光ダイオード72と抵抗73とか直列に接続されて
おり、電源電圧+v2が印加さrる。処理回路74から
トランジスタ71のベースにけライン75を介して制御
イ言号が与えられる。
FIG. 7 of Table 2 shows a nausea circuit 1 according to an eleventh embodiment of the present invention. A light emitting diode 72 and a resistor 73 are connected in series to a transistor 71 serving as a switching element, and a power supply voltage +v2 is applied thereto. A control signal is applied from processing circuit 74 to the base of transistor 71 via line 75.

発光ダイオード72からの光は受光素子としてのホトト
ランジスタ76によって受光される。発光ダイオード7
2とホトトランジスタ76とけホトカブラ77を構成す
る。ホトトランジスタ76には抵抗78が直列に探りさ
rており、電源電圧十v3が印加される。抵抗78とホ
トトランジスタ76との接続点にはライン79が41!
I続されており。
Light from the light emitting diode 72 is received by a phototransistor 76 as a light receiving element. light emitting diode 7
2 and a phototransistor 76 constitute a photocoupler 77. A resistor 78 is connected in series with the phototransistor 76, and a power supply voltage of 1 V3 is applied thereto. A line 79 is connected to the connection point between the resistor 78 and the phototransistor 76 at 41!
It has been continued.

ホトトランジスタ76の受光状聾に対応し比出力が導出
さ台、る。
A specific output is derived corresponding to the light receiving state of the phototransistor 76.

このようなホトカブラ77を用いることによって、トラ
ンジスタ71とそれに関連する回路の亀TR1圧+V 
2 ト、ホトトランジスタ76とそれに関連する回路の
電源電圧+v3とが異なる場合においても信号の受授を
行なうことが可能となる。
By using such a photocoupler 77, the voltage TR1 of the transistor 71 and its related circuits can be reduced by +V.
2. Even when the power supply voltage +v3 of the phototransistor 76 and its related circuits are different, signals can be exchanged.

ホトカブラ77したがって発光ダイオード72ト、トラ
ンジスタ71との間のライン80がたとえばf=1メー
トルにもわたって比較的長く延在しているときに11発
光ダイオード72が正確に#I P’F−ヲ行なってい
るかを判定する必要が生じる。この目的で発光ダイオー
ド72と抵抗73との接続点はライン81を介して処理
回j’674に■トにさハる。
When the line 80 between the photocoupler 77, the light emitting diode 72 and the transistor 71 extends for a relatively long time, e.g. It will be necessary to determine whether this is being done. For this purpose, the connection point between the light emitting diode 72 and the resistor 73 is connected to the processing circuit j'674 via the line 81.

ライン75を介して送出される制御信号がローレベルで
ある。1にけトランジスタ71が媛断しており、しtが
って発光ダイオード72が消灯してお()・ライン81
を介してノ・イレベルの信号が処理回路74に与えらハ
る。またライン75を介して送出される制御信号がハイ
レベルであるときにけ、トラン2スク71が、i、I7
 、i山さn発光ダイオード72が点灯しライン81か
らローレベルの信号が処理回路74に与えら力る。
The control signal sent over line 75 is low. 1, the transistor 71 is turned off, and the light emitting diode 72 is turned off () line 81.
A signal at the low level is applied to the processing circuit 74 via. Also, when the control signal sent via line 75 is at a high level, the transistors 71, i, I7
, the i-mounted light emitting diode 72 lights up, and a low level signal is applied from the line 81 to the processing circuit 74.

このz5なライン75からの入力さライン81からの出
力との論理状態のm’Q−せが前述と同様であるときに
は発光ダイオード72け正常に!IIIJ作しているこ
とが処理回路74によって判定さハる〇トランジスタ7
1が故障によって導通しばなしであるときには1発光ダ
イオード72け点灯したままであり、これによってライ
ン75を介して与えらり、る制御信号がローレベルであ
るにも拘らずライン81からハイレベルの信号が処理回
路74に迭出さね、る。このようなライン75を介して
与えらねる入力信号とライン81を介して送出ざ六。
When the logic state m'Q- between the input from the z5 line 75 and the output from the line 81 is the same as described above, the light emitting diode 72 is normal! It is determined by the processing circuit 74 that IIIJ is being produced.
When one light-emitting diode 72 is turned on due to a fault, only one light emitting diode 72 remains lit, which causes a high level signal to be output from line 81 even though the control signal applied via line 75 is low level. The signal is sent to the processing circuit 74. Such an input signal is provided via line 75 and sent out via line 81.

る出力信号との論理状態の組合せが、処理回路74によ
って検出されて、異常であると判断される。
The combination of logic states with the output signal is detected by the processing circuit 74 and determined to be abnormal.

またトランジスタ71と発光ダイオード72との間で断
線しているときには1発光ダイオード72t′iM灯し
たままであり、ライン75からハイレベルの信号が与え
ら力てもライン81を介して送出される信号はハイレベ
ルの11である。このようなライン75を介して与えら
nる入力信号とライン81を介して送出される出力(3
号との論理状傳の組aせけ処理回路74によって異常で
あるとF4J 1rJTされる。
Furthermore, when there is a disconnection between the transistor 71 and the light emitting diode 72, one light emitting diode 72t'iM remains lit, and even if a high level signal is applied from the line 75, the signal is sent out through the line 81. is a high level of 11. Such n input signals provided via line 75 and output (3) sent via line 81.
F4J 1rJT is determined to be abnormal by the logical state combination processing circuit 74.

このようにして処理回路74けライン75を介して与え
らハる入力信号とライン81を介して送出さね、る出力
信号との論理状四を判断して、異常状態が発生している
ことを識別することによってトランジスタ71や発光ダ
イオード72の故障を直ちに知ることができる。
In this way, the processing circuit 74 determines the logical state of the input signal given through the line 75 and the output signal sent out through the line 81, and determines whether an abnormal condition has occurred. By identifying this, it is possible to immediately know if the transistor 71 or the light emitting diode 72 is out of order.

が8区+f−j本発明の(“ルの実施例の電気回路1”
Qlである。スインチング太子としてのトランジスタ9
1と、発光ダイオード92と抵抗93とは直列に接続さ
1ており、司源宙圧+v4が印加さnる。トランジスタ
91には処理回路94からライン95を介して1tii
l j’ail信号か与えらねる。発光ダイオード92
からの光はホトトライアック96に1って受光さnる。
is the 8th section + f-j of the present invention (“Electric circuit 1 of the embodiment of Le”)
It is Ql. Transistor 9 as the Swinging Prince
1, the light emitting diode 92, and the resistor 93 are connected in series, and a source air pressure +v4 is applied. 1tii is connected to transistor 91 via line 95 from processing circuit 94.
l j'ail signal cannot be given. light emitting diode 92
The light from the phototriac 96 is received by the phototriac 96.

ホトトライアック96は抵抗97.98と直列に接続さ
力るとともに、トライアック99のゲート電極に1′/
、I続さ力る。このトライアック99け交流電源100
と負荷101とに接続され通電角制御が行なわnる。ま
たトライアック991こ関連してコンデンサ102が接
続さハて力る。
The phototriac 96 is connected in series with resistors 97 and 98, and the gate electrode of the triac 99 is connected to the
, I continue to force. This triac 99 AC power supply 100
and the load 101, and conduction angle control is performed. Also, a capacitor 102 is connected in connection with the triac 991.

発光ダイオード92が正常に仙咋しているか否かを識別
するために1発光ダイオード92と抵抗93との接続点
はライン103を介して処理回路と接続キれている。ラ
イン95を介してI〜イレベルの43号がトランジスタ
91のペースに与えられルト1発光ダイオード92け点
灯し、このときライン103を介して処理回路94にロ
ーレベルの信号が送出さnる。ライン95を介して与え
られる制御信号がローレベルであるときには発光ダイオ
ード92けr肖丈丁したままであり、したがってライン
103からの出力d)〜イレベルである。処理回路94
けライン95からの入力信号とライン103からの出力
信号との論理状態の組合せを判断して発光ダイオード9
2が正常に助作していることを識別する。
In order to determine whether or not the light emitting diode 92 is operating normally, the connection point between the light emitting diode 92 and the resistor 93 is disconnected from the processing circuit via a line 103. No. 43 of I to I level is applied to the pace of the transistor 91 through the line 95, and only the LT 1 light emitting diode 92 lights up, and at this time, a low level signal is sent to the processing circuit 94 through the line 103. When the control signal provided via line 95 is low, the light emitting diode 92 remains fully open and the output from line 103 is therefore low. Processing circuit 94
The combination of logic states of the input signal from line 95 and the output signal from line 103 is determined to
2 is correctly assisted.

トランジスタ91が故1−2しており0発光ダイオード
92が点灯状態のままであるときには、ライン95から
の入力信号はローレベルであってもライン103からの
出力信号はローレベルであり。
When the transistor 91 is in the 1-2 state and the light emitting diode 92 remains lit, the output signal from the line 103 is at a low level even if the input signal from the line 95 is at a low level.

このような論理状態の組きせに基づいて処理回路94は
発光ダイオード92が異常動作していることを識別する
。トランジスタ91と発光ダイオード92との間が断線
しているときには、ライン95からの入力信号がノーイ
レベルであってもライン103からの出力信号はノ〜イ
レベルの1まであり。
Based on this combination of logic states, the processing circuit 94 identifies that the light emitting diode 92 is operating abnormally. When there is a disconnection between the transistor 91 and the light emitting diode 92, even if the input signal from the line 95 is at the no-y level, the output signal from the line 103 ranges from no to no-y level (1).

処理回路94け1)il述と同様に発光ダイオード92
が異常01 fE I、ていることを識別する。
Processing circuit 94 1) Light emitting diode 92 as described above
Identifies that there is an abnormality 01 fE I.

MU述の災殉例ではスイッチング米子としてはトランジ
スタが用いられたけhども、リレースイッチを用いるよ
うにしてもよいことは勿論である。
Although a transistor was used as the switching element in the disaster case described in MU, it goes without saying that a relay switch may also be used.

効果 以とのように本発明により、ば、簡単な構成でしかも確
実に発光ダイオードの異常11r「を識別することが可
能となる。
According to the present invention, it is possible to reliably identify the abnormality 11r' in the light emitting diode with a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の(rx気回路巾1竿2因は
第1図示の実施レリに従う操作・(ネルの正面図、塩3
図は異常状態の識別帖作を示すフローチャート、箪4U
に本発明の他の実施例の電気回路図。 第5図は第4図示の実殉例に従う操1’E t<ネルの
正面図、fJS6図は処理回路からの’ju制御(2号
の波形図。 第7図は本発明のさらに1mの実施例の電気回路図。 爬8図は本発明の他の実施列の電気回路図である。 1・・・複写機種、6.32.72.92・・・発光ダ
イオード、16.16a、7]、76.91・・・)ラ
ンジスタ、17.73.91・・・抵抗、10,74.
94・・・処理回路 代理人   弁理士 西教圭一部 +■1 第1図
Figure 1 shows an embodiment of the present invention (rx air circuit width: 1 rod, 2 factors, operation according to the implementation example shown in Figure 1) (front view of flannel, salt 3).
The figure is a flowchart showing abnormal state identification paper, 箪4U
FIG. 5 is an electrical circuit diagram of another embodiment of the present invention. Fig. 5 is a front view of the control panel according to the actual example shown in Fig. 4, and Fig. fJS6 is a waveform diagram of the 'ju control (No. 2) from the processing circuit. Electrical circuit diagram of the embodiment. Figure 8 is an electrical circuit diagram of another embodiment of the present invention. 1... Copying machine type, 6.32.72.92... Light emitting diode, 16.16a, 7 ], 76.91...) transistor, 17.73.91... resistance, 10,74.
94...Processing circuit agent Patent attorney Kei Nishi part +■1 Figure 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】  制御端子を有するスイッチング素子と、 スイッチング素子に直列に接続されている発光素子と、 発光素子に直列に接続されているインピーダンス素子と
、 制御端子に制御信号を与える手段とを含み、スイッチン
グ素子を導通するための制御信号と、発光素子とインピ
ーダンス素子との接続点における発光素子の消灯動作に
対応した電圧との組合せ状態および、 スイッチング素子を遮断するための制御信号と、発光素
子とインピーダンス素子との接続点における発光素子の
点灯動作に対応した電圧との組合せ状態に基づいて異常
動作が生じていることを識別することを特徴とする発光
素子の動作診断装置。
[Scope of Claims] A switching element having a control terminal, a light emitting element connected in series to the switching element, an impedance element connected in series to the light emitting element, and means for applying a control signal to the control terminal. a combination state of a control signal for making the switching element conductive and a voltage corresponding to turning off the light emitting element at the connection point between the light emitting element and the impedance element, a control signal for cutting off the switching element, and a control signal for turning off the light emitting element; 1. An operation diagnostic device for a light emitting element, characterized in that an abnormal operation is identified based on a combination state of a voltage corresponding to a lighting operation of a light emitting element at a connection point between the element and an impedance element.
JP19928984A 1984-09-22 1984-09-22 Light emitting device operation diagnostic device Expired - Lifetime JPH0782585B2 (en)

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JP19928984A JPH0782585B2 (en) 1984-09-22 1984-09-22 Light emitting device operation diagnostic device
US06/778,003 US4654645A (en) 1984-09-22 1985-09-20 Electric element breakdown detector
DE19853533523 DE3533523A1 (en) 1984-09-22 1985-09-20 FAILURE DETECTOR

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0537023A (en) * 1991-07-31 1993-02-12 Atom Kk Driving device for light emitting diode
JP2007256174A (en) * 2006-03-24 2007-10-04 Nidec Sankyo Corp Disconnection detecting circuit
EP1850139A1 (en) * 2006-04-18 2007-10-31 Macroblock Inc. Method and apparatus for silent detection

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