JPS6161024A - 放射温度計 - Google Patents

放射温度計

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JPS6161024A
JPS6161024A JP59184961A JP18496184A JPS6161024A JP S6161024 A JPS6161024 A JP S6161024A JP 59184961 A JP59184961 A JP 59184961A JP 18496184 A JP18496184 A JP 18496184A JP S6161024 A JPS6161024 A JP S6161024A
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JP
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fiber
infrared light
light transmission
measured
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Kenichi Takahashi
謙一 高橋
Noriyuki Ashida
葭田 典之
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (7)技術分野 この発明は、赤外光伝送用ファイバを用い、遠隔的に、
温度を計測する放射温度計に関する。
放射温度針は、被測定物体から、温度に依存したスペク
トル、強度の光が放射されるので、放射光の強度を測定
することによって、被測定物の温度を算出するものであ
る。
入射方向、入射の偏光状態に関係なくすべての波長の放
射を完全に吸収する物体を黒体又は完全放射体という。
黒体放射に関し、ブランクの放射則が成立すC,=  
8.741X10  (W−m2)  +21C2= 
 1.439 X 10  (m−K)  f31であ
る。(1)は輻射スペクトルを与えるが、これをスに関
して積分すると、黒体表面から単位面積あたり、単位時
間に放射される輻射エネルギーWをうる。
W = βT4             (41であ
る。これをステファン・ポルツマンの法則といい、 β =  5.55X10  erg−ff  、s 
 −K     (51である。
通常は、(4)式のような放射の全エネルギーを測定す
ることにより温度を測定する。実際に、被測定物は黒体
ではない。同一温度の黒体の放射エネルギーに対する実
際の放射エネルギーの比を放射率という。これは0から
1の間の定数である。
検出器の出力は、(4)式で示される温度による放射エ
ネルギーではなく(1)式と、経路中の波長ごとの透過
率、放射率、検出器の波長による感度特性などの積を波
長で積分したものである。これらの函数は複雑であって
、必ずしも既知であるわけではない。
しかし、被測定物が定まっており、放射経路、検出器が
定まっておれば、検出器出力によって、物体の温度を知
ることができる。多くの場合、温度と、放射エネルギー
の対数とがほぼリニアである。
(イ)背景技術 ウィーンの変位前から、物体の温度T (’K )と、
放射エネルギー密度が最大である波長λmとは、λmT
  =  2898#m−K           (
6)という関係がある。200℃〜2000℃の比較的
高温の測定には、可視光、近赤外光が主になる。これら
の光であれば、たとえば石英ガラヌファイバを使って、
光を伝送させる事ができる。
放射パワーの大きさ、検出器、伝送の容易さなどの点で
、放射温度計は、高温測定に適している、という事がで
きる。
しかし、本発明は0〜200℃という低温の被測定物の
放射温度計を与えようとする。これは被測定物の表面か
ら放射される8〜12μm程度の波長の赤外線を検知し
て、その温度を黒体輻射の法則から算出して、計測する
ものである。
被測定物のすぐ近くに赤外検出器を設けることができれ
ば問題はないが、被測定物が、複雑な形状をしていたシ
、入りくんだ場所にある場合は、被測定物のすぐ近くに
検出器を置くことができ々い。
このような場合、光ファイバで被測定物と検出器とを結
合する、という試みが行われる。赤外光を伝送する光フ
ァイバは既に存在する。赤外光伝送用ファイバを用いれ
ば、遠隔温度計測が可能になる。電気的に絶縁された状
態で計測できるという長所もある。
(勿従来技術の欠点 赤外光伝送用ファイバを導光路とした放射温度計は、フ
ァイバ自体が赤外線を放射し、被測定物が放射した赤外
線とともに赤外線検出器に入射するので、ファイバ自体
が放射する赤外線(外乱と呼ぶ)の分を差引いて、被測
定物が放射する赤外線量を求める必要がある。
ファイバが放射する赤外線の量は、ファイバの温度によ
って変動するので、予め外乱の大きさを知ることはでき
ない。
そこで、外乱の強さをなんらかの手段で検出し、赤外線
検出器の出力から、リニアライザなどによつて求めた温
度を補正する、という事が行われる。
しかし、この補正は大層難しい点がある。外乱の大きさ
は、赤外光伝送用ファイバの温度を測定することによっ
て求める事ができる。しかし、ファイバの全体にわたっ
て温度を求め、これを積分して、補正値を算出しなけれ
ばならないので、検出器が大がかりなものKなってしま
う。
に)目的 赤外光伝送用ファイバを用いた放射温度計に於て、ファ
イバに加わる外乱の変動を押え、かつ、簡便に温度補正
のできる構造を提供することが本発明の目的である。
このため、赤外光伝送用ファイバを常に一定温度に保持
する。こうすれば、ファイバの中で生ずる輻射エネルギ
ーは一定になり、補正は容易である。
赤外線検出器の出力をI、とする。これは、被測定物の
温度に依存する放射(信号成分という)Sと、光ファイ
バの内部で生ずる放射(外乱成分)Rとの和である。
■。 =  S  +  R(71 8は、被測定物の温度に依存する量である。Rは光ファ
イバの温度分布による量である。本発明は、Rを一定に
する事により、工。からSを求め、被測定物の温度を簡
単に求められるようにする。
(4)構 成 本発明の放射温度計は、外乱成分Rを一定にするため、
赤外光伝送用ファイバの温度を一定に維持するようにし
た。
このため、赤外光伝送用ファイバの外周にファイバの温
度測定装置と、温度調整装置とを設ける。
温度測定装置としては、抵抗温度係数の大きい抵抗体の
線又は膜をファイバの外周に巻きつけ、或は貼りつける
ことによってなされる。
温度が変化すると、抵抗の値がこれに伴って変化するか
ら、抵抗の値を測定すれば、温度を知ることができる。
赤外光伝送用ファイバ用の温度測定のだめの抵抗体とし
ては、 (1)白金、ニッケル1アルミニウム、銅、金、タンタ
ルなどの抵抗温度係数の大きい金属。温度係数は正であ
る。
(2)負の温度係数をもったサーミスタ材料。
(3)マンガニン合金のように、温度に対する抵抗変化
が70℃をピークに放物線状になっている材料。
などを使用する事ができる。
このような抵抗材料は、赤外光伝送用ファイバの外周に
巻きつけてもよい。第1図はこのような例を示す。
また、巻きつけるかわりに、抵抗材料は、膜として、赤
外光伝送用ファイバの側面に蒸着してもよい。第2図は
このような例を示している。
線の太さ、膜の厚さは、ファイバの各部で調度調整装置
をコントロールするに充分な抵抗変化が起るように決め
ればよい。
第1図のように、抵抗線を外周に巻きつける場合につい
て一例を記す。
赤外光伝送用ファイバ1は、外径が1ff、長さが1m
のファイバである。抵抗線2は、直径O,Oa酊の白金
線が5 mピッチでファイバ外周に巻きつけられたもの
である。白金線の全抵抗は20℃に於て、50Ωである
第2図のように蒸着膜を設けるものについて一例を記す
赤外光伝送用ファイバ1は、外径がIH1長さ1mのフ
ァイバである。この側面に白金抵抗膜3が真空蒸着しで
ある。膜厚は1.7μm1幅は1ffである。白金抵抗
膜3の全抵抗は20℃に於て50Ωである。
各部の温度変動による抵抗変化は、いずれも1℃あたυ
帆2Ωである。
第8図は本発明の赤外光伝送用ファイバを用いた放射温
度計の構成を示す。
被測定物4から、温度と放射率に依存した強さの赤外線
が放射される。この赤外線は、集光光学系5によって集
光され、赤外光伝送用ファイバ1の前端へ入射する。集
光光学系5は例えば、Zn5eレンズなどを用いる。
赤外光伝送用ファイバ1は細くて、可撓性に冨んでいる
から、被測定物4は、狭い場所、あるいは入りくんだ場
所にあってもよいし、複雑な形状の物体であっても差支
えない。
赤外光伝送用ファイバとして、次のようなものを使うこ
とができる。
(1)  タリウムハフイド TlBr 、  KRS−5 (2)  アルカリハフイド CsBr  C5I (3)銀ハフイド AgBr 、 Ag(J 赤外光伝送用ファイバ1の外周には、第1図、第2図に
示すように1抵抗線が巻きつけられているか、或は抵抗
膜が蒸着しである。この図では、抵抗線を巻きつけた例
を示している。
光ファイバ1の他端は、データ処理装置6につながって
いる。データ処理装置6は、赤外検出器、増幅器、リニ
アライザなどよりなる。
赤外検出器は、HgCdTe検出器などである。赤外光
伝送用ファイバ1の中を伝送された赤外光は、赤外検出
器で検出される。電気信号として、得られるから、増幅
器で増幅する。この信号を、リニアライザで温度に変換
する。一般に、赤外光のエネルギーの対数が、温度に対
しリニアに近い関係にある。放射エネルギーSの大きさ
が分るためKは、検出器量カニ。から外乱成分Rを差引
く補正をしなければならない。この発明では、Rは一定
値であるから、補正は簡単である。Sを求めることがで
きれば、被測定物の温度Tは直ちに求められる。
こうして求めた温度は記録計8に記録され、別に表示器
に表示されることもある。
赤外光伝送用ファイバ1の温度調整装置は、ある温度の
空気を強制的にファイバ1の外周に送風することによっ
て構成する事ができる。
第4図はそのような赤外光伝送用ファイバ温度調整装置
を示している。赤外光伝送用ファイバ1を包むように空
気流通チューブ10を新しく設ける。チューブ10の入
口Aから、空気を強制的に送シ込む。空気の流量は、フ
ァンの回転数を変えることにより、自在に調整できるよ
うにしておく。
赤外光伝送用ファイバ1の設定温度をToとする。
これに対する抵抗体の抵抗がRoであるとする。ファイ
バ1の温度がToより高い場合、つまりT>T。
であれば、空気流量をより大きくする。
ファイバ1の温度TがToより低い場合、つまりTくT
oの時、空気流量をより少くする。
空気流量Qは、冷却能力に比例する。Qを増せば、冷却
能力が増加し、温度が下降する。Qを減ずれば、温度が
上昇する。
ファイバ温度Tと、設定温度Toの大小関係は、抵抗体
の抵抗Rと、基準抵抗R8の大小関係によって分る。金
属抵抗の場合は、正の温度係数をもつので、R)Roで
あれば、T)Toである。負の温度係数をもつサーミス
タ材料の場合、R<RoであればT>Toである。
いずれにしても、抵抗体の抵抗Rと、基準抵抗Roの大
小関係により、温度の設定温度Toからのズレが分り、
TをToに近づけるよう、空気流量Qを増加すればよい
このため、第3図に於て、抵抗線の両端に温度測定装置
7が接続されている。これは、抵抗線の抵抗の値から、
ファイバの平均温度T1又は、Tと基準温度Toの差を
求めるものである。
温度測定装置7の出力は、T又は(T  To)を与え
るから、これによって、流量制御装置11は、空気の流
量を加減し、空気流通チューブ10の中へ送シこみ、赤
外光伝送用ファイバの温度を調整する。
温度調整装置は、このように空気を冷却媒体として使う
ものがもつとも現実的である。
空気温度を、設定温度T0や外気の温度Taよ如高いも
のにしておけば、空気を加熱媒体とすることもできる。
2種類の温度T1、T2  を有する空気を作り、両者
のいずれか一方を空気流通チューブ10へ通すようにし
て、温度TをT。に収束させるようにしてもよい。
(9)効 果 (1)赤外光伝送用ファイバの温度を一定に維持してい
るから、ファイバによって生ずる外乱の強さが一定にな
り、赤外検出器の検出値を容易に補正し、真の温度を求
めることができる。
(2)2本の赤外光伝送用ファイバを用い、一方は盲板
で塞いでおき、外乱成分の大きさを知るようにした放射
温度計に比較すると、構造が単純であって、より正確に
測定することができる。
(3)光ファイバを用いているから、複雑な形状物、或
は入りくんだ場所にある部分の温度測定に用いることが
できる。
(4)0〜200℃の低温の放射温度計測が可能である
(5)電磁ノイズの影響を受けない。
(6)局所的、微小面積の温度計測ができる。
(7)熱電対による接触測定に比し、応答速度が速い。
(蛸実施例 被測定物として、ブフヌチツクを被覆した電熱線を採用
した。電熱線に通電し、0〜200℃の間に加熱し、こ
れを3とおりの温度測定法で測定した。
(1)熱電対による測定。
(2)本発明のように、ファイバ温度を一定に保持した
放射温度計による測定。
(3)放射温度計によるが、ファイバ温度を一定に保つ
ようにはしないで、外乱のままにした測定。
これについて(2)との相異を出すためファイバの途中
10cmについて、0〜100℃に加熱し、異常な外乱
を強制的に学えた。
熱電対による方法と、本発明の方法とは、被測定物が0
〜200℃の温度域にある時、誤差の範囲内に於て、一
致した。
ファイバ温度を保持する機構を持たない放射温度計によ
る方法と、熱電対による方法とを比較すると、10〜2
0%の温度の差が見られた。
本発明の方法は、外乱の影響を補正し、低温の被測定物
体の温度を正確に測定できる、ということが分る。
【図面の簡単な説明】
第1図は赤外光伝送用ファイバの外周に抵抗線を巻きつ
けてファイバの温度測定を行わせる例を示す斜視図。 第2図は赤外光伝送用ファイバの側面に抵抗膜を蒸着し
ファイバの温度測定を行わせる例を示す斜視図。 第3図は本発明の放射温度計の構成図。 第4図は赤外光伝送用ファイバの温度調整装置の一例を
示す斜視図。 1 ・・・・・・・・・・赤外光伝送用ファイバ2・・
・・・・・・・・抵抗線 3 ・・・・・・・・・・ 白金抵抗膜4 ・・・・・
・・・・・被測定物 5 ・・・・・・・・・・ 集光光学系6 ・・・・・
・・・・・ データ処理装置7 ・・・・・・・・・・
温度測定装置8・・・・・・・・・・記録計 10 ・・・・・・・・空気流通チューブ11 ・・・
・・・・・流量制御装置 発明者            高  橋  謙  −
葭  1) 典  之

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物4から放射される赤外光を集光する集光
    光学系5と、集光された赤外光を伝送する赤外光伝送用
    ファイバ1と、赤外光伝送用ファイバ1の中を伝送され
    た赤外光の強度を検出し電気信号に変換する赤外検出器
    と、この電気信号を増幅する増幅器と、増幅された電気
    信号から被測定物の温度を求めるリニアライザと、赤外
    光伝送用ファイバ1の周囲に巻きつけられた抵抗線又は
    貼りつけられた抵抗膜よりなる温度変化により抵抗値の
    変化する抵抗体と、抵抗体の抵抗値を測つて赤外光伝送
    用ファイバ1の温度を検出する温度測定装置7と、赤外
    光伝送用ファイバ1を囲む空気流通チューブ10と、空
    気流通チューブの中へ通す空気の流量Qを、温度測定装
    置7の測定温度Tが設定温度T_0に接近するように制
    御するようにした流量制御装置11とより構成され、赤
    外光伝送用ファイバ1の温度をT_0に維持したことを
    特徴とする放射温度計。
  2. (2)赤外光伝送用ファイバ1がTlBr、KRS−5
    、CsBr、CsI、AgBr、AgClの内のいずれ
    かである特許請求の範囲第(1)項記載の放射温度計。
  3. (3)抵抗体として、白金、ニッケル、アルミニウム、
    銅、金、タンタル、サーシスタ材料又はマンガニン合金
    が用いられている特許請求の範囲第(1)項又は第(2
    )項記載の放射温度計。
JP59184961A 1984-09-03 1984-09-03 放射温度計 Pending JPS6161024A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0940663A2 (de) * 1998-02-09 1999-09-08 Haag-Streit Ag Verfahren zur Bestimmung eines Temperaturänderungsvorgangs, insbesondere auf einer Hautoberfläche, sowie Vorrichtung hierzu
EP1363113A2 (de) * 2002-05-13 2003-11-19 Bartec GmbH Vorrichtung zur Temperaturmessung mit einer Lichtleitfaser

Cited By (4)

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EP0940663A3 (de) * 1998-02-09 2000-02-09 Haag-Streit Ag Verfahren zur Bestimmung eines Temperaturänderungsvorgangs, insbesondere auf einer Hautoberfläche, sowie Vorrichtung hierzu
EP1363113A2 (de) * 2002-05-13 2003-11-19 Bartec GmbH Vorrichtung zur Temperaturmessung mit einer Lichtleitfaser
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