JPS6156968A - ピ−ク波高検出装置 - Google Patents
ピ−ク波高検出装置Info
- Publication number
- JPS6156968A JPS6156968A JP59178326A JP17832684A JPS6156968A JP S6156968 A JPS6156968 A JP S6156968A JP 59178326 A JP59178326 A JP 59178326A JP 17832684 A JP17832684 A JP 17832684A JP S6156968 A JPS6156968 A JP S6156968A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amplifier
- pulse
- saturation level
- output
- peak
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4454—Signal recognition, e.g. specific values or portions, signal events, signatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/14—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object using acoustic emission techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
- G01N2291/269—Various geometry objects
- G01N2291/2695—Bottles, containers
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、衝撃によって発生する音響信号のピーク波高
を検出する装置に係わシ、とくに、音響信号の増幅用増
幅器の飽和時にも信号のピーク値と、ピーク検出位置を
検出できるピーク波高検出装置に関する。
を検出する装置に係わシ、とくに、音響信号の増幅用増
幅器の飽和時にも信号のピーク値と、ピーク検出位置を
検出できるピーク波高検出装置に関する。
従来、原子炉内で発生する異物(以T1ルースパーツ)
の検知には、原子炉容器に設置したセンサで、ルースバ
ーツと炉内構造物との衝突音を検出している。また、パ
ターン認識を応用して、衝突音が発生した位置も推定で
きる(例えば、1983年AN8冬iミーティングで発
表された[pattern Recognition
’l’echniques forthe Locat
ion of Metallic Loose pa
rtsin pressure Vesselsj 、
発表者Izumi ほか)。
の検知には、原子炉容器に設置したセンサで、ルースバ
ーツと炉内構造物との衝突音を検出している。また、パ
ターン認識を応用して、衝突音が発生した位置も推定で
きる(例えば、1983年AN8冬iミーティングで発
表された[pattern Recognition
’l’echniques forthe Locat
ion of Metallic Loose pa
rtsin pressure Vesselsj 、
発表者Izumi ほか)。
衝突音が発生し元位装置と、そのピーク波高値がわかる
と、衝撃を与えたルースパーツの衝撃量を算定できるこ
とが知られている(例えば、昭和59年原子力学会年会
で発表された「ルースパーツ検出技術の開発(2)」1
発表者茄藤俊明ほか、発表煮C53)。この時、センサ
の出力を増幅する゛増幅器の情報が失力われてしまう。
と、衝撃を与えたルースパーツの衝撃量を算定できるこ
とが知られている(例えば、昭和59年原子力学会年会
で発表された「ルースパーツ検出技術の開発(2)」1
発表者茄藤俊明ほか、発表煮C53)。この時、センサ
の出力を増幅する゛増幅器の情報が失力われてしまう。
また、増幅度が小さすぎると、解析に必要なレベルにま
で信号振幅が得られない。実用時には、原子炉冷却材の
流動ノイズがあり、増幅度゛を適切に設定することが困
難力問題点を有する。
で信号振幅が得られない。実用時には、原子炉冷却材の
流動ノイズがあり、増幅度゛を適切に設定することが困
難力問題点を有する。
本発明の目的は、上記の問題点を解決するために考案し
たものであり、衝突音を増幅した時、飽和した場合でも
正しくそのピーク波高を算出できる装置を提供すること
にある。
たものであり、衝突音を増幅した時、飽和した場合でも
正しくそのピーク波高を算出できる装置を提供すること
にある。
本発明は、容器内の異物によって発生する音響信号を検
出し、その波高を求めて異物の衝撃量を求める装置にお
いて、音響信号の増幅器出力が増幅器飽和レベルになっ
たことを検知する手段と、飽和レベルを越えている時間
のうちその値が最大と力るものを探す手段と、1回の音
響信号で最大となってから飽和レベル以下に低下するま
での時゛) 間を求める手段と、上記ふたつ
の時間とあらかじめ求めた音響信号の減衰特性および増
幅器飽和レベルとからピーク波高を算出する手段を備え
たことを特徴とするものでおる。
出し、その波高を求めて異物の衝撃量を求める装置にお
いて、音響信号の増幅器出力が増幅器飽和レベルになっ
たことを検知する手段と、飽和レベルを越えている時間
のうちその値が最大と力るものを探す手段と、1回の音
響信号で最大となってから飽和レベル以下に低下するま
での時゛) 間を求める手段と、上記ふたつ
の時間とあらかじめ求めた音響信号の減衰特性および増
幅器飽和レベルとからピーク波高を算出する手段を備え
たことを特徴とするものでおる。
以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
第1図は、本発明の基本的構成を示す図である。
1がセンサであシ、2は増幅器である。2の出力が飽和
したときでもピーク波高を検出できるのが本発明の特長
である。3は整流回路である。4はコンパレークであシ
、その比較レベルは2の飽和レベルとする。2から4の
出力波形を第2図に示す。2の出力のうち、波線の部分
は2が飽和部分である。また、2の出力は、指数関数状
に減衰する特性を有し、その減衰波形は、 V−A e −′t で示される。ここで、減衰定数αは、センサを設置した
体系の音響特性で決まシ、あらかじめ求め1おく。5は
、メキリ装置であシ、パルス化された波形である4の出
力を一時記憶する。6は、マイクロコンピュータで構成
される演算装置であり、7は、演算結果の表示装置であ
る。つぎに、本発明の中心部を占める6の処理内容を説
明する。第3図は、6の処理内容をフローチャートとし
て示したものである。また、第4図は4の出力例を示す
図であり、この波形が5に記憶されている。6の処理は
、5の波形に対し、まず、各パルスでもつとも幅の広い
ものをサーチする(301)。検出した最大パルス幅を
τとする。つぎに、最大パルス幅をもったパルスから最
終パルスまでの時間Tを求める(302)。求め九τ、
Tから、A=Vs 、 e ex(T+t/Z)でAを
求める(303)。Aは、ピーク波高を示すもので、こ
の処理によシAを算出できる。上式において、Vlは、
増幅器2の均和レベルを示し、既知の値である。また、
αも前述のように既知でhb、’r、 τがメモリ波形
から求める値である。
したときでもピーク波高を検出できるのが本発明の特長
である。3は整流回路である。4はコンパレークであシ
、その比較レベルは2の飽和レベルとする。2から4の
出力波形を第2図に示す。2の出力のうち、波線の部分
は2が飽和部分である。また、2の出力は、指数関数状
に減衰する特性を有し、その減衰波形は、 V−A e −′t で示される。ここで、減衰定数αは、センサを設置した
体系の音響特性で決まシ、あらかじめ求め1おく。5は
、メキリ装置であシ、パルス化された波形である4の出
力を一時記憶する。6は、マイクロコンピュータで構成
される演算装置であり、7は、演算結果の表示装置であ
る。つぎに、本発明の中心部を占める6の処理内容を説
明する。第3図は、6の処理内容をフローチャートとし
て示したものである。また、第4図は4の出力例を示す
図であり、この波形が5に記憶されている。6の処理は
、5の波形に対し、まず、各パルスでもつとも幅の広い
ものをサーチする(301)。検出した最大パルス幅を
τとする。つぎに、最大パルス幅をもったパルスから最
終パルスまでの時間Tを求める(302)。求め九τ、
Tから、A=Vs 、 e ex(T+t/Z)でAを
求める(303)。Aは、ピーク波高を示すもので、こ
の処理によシAを算出できる。上式において、Vlは、
増幅器2の均和レベルを示し、既知の値である。また、
αも前述のように既知でhb、’r、 τがメモリ波形
から求める値である。
人が求まると、304において結果を表示装置に出力す
る。さらに、5につぎの波形が取り込まれているかを判
定し、取υ込まれていれば、上記の処理を継続する(3
05)。また、取り込まれたデータがないなら、終了か
どうかを判定する(306)。
る。さらに、5につぎの波形が取り込まれているかを判
定し、取υ込まれていれば、上記の処理を継続する(3
05)。また、取り込まれたデータがないなら、終了か
どうかを判定する(306)。
終了でなければ、再度、データがあるか否かの判別をす
るととになシ、データ入力があるまでマイクロコンピュ
ータは待つことになる。6の処理内容は、上記のもので
あるが、轟然のことながら、複数センサの出力に対して
も同様な処理をすることができるため、センサの数が増
えても、6を増す必要はない。
るととになシ、データ入力があるまでマイクロコンピュ
ータは待つことになる。6の処理内容は、上記のもので
あるが、轟然のことながら、複数センサの出力に対して
も同様な処理をすることができるため、センサの数が増
えても、6を増す必要はない。
以上に述べ士ように、本実施例では、あらかじめ求めた
数値と、波形の特性とから、増幅器が飽和した場合でも
波高のピーク値を算出できる。この実施例では、センサ
が1ケの場合であるが、複数のセンサに対、しても、同
様な処理ができる。また、6は1ケで複数セ/すの信号
を処理する構成にできる。また、本実施例は、増幅器が
飽和した時の処理について記述しているが、増幅器2が
飽和しない時は、従来の処理法でピーク値を求めること
ができるので、本実施例では省略した。
数値と、波形の特性とから、増幅器が飽和した場合でも
波高のピーク値を算出できる。この実施例では、センサ
が1ケの場合であるが、複数のセンサに対、しても、同
様な処理ができる。また、6は1ケで複数セ/すの信号
を処理する構成にできる。また、本実施例は、増幅器が
飽和した時の処理について記述しているが、増幅器2が
飽和しない時は、従来の処理法でピーク値を求めること
ができるので、本実施例では省略した。
第2の実施例は、第1の実施例のうち5を変形させたも
のである。第2の実施例における5の内!を第5図に示
す。第5図において、51は時間測定器である。51は
、第6図に示す4の出力波形のパルス幅、al + b
l (i=1+ 2+ ”’)を測定する。52は、
メモリーであって、51で求めたat 、b、の値を一
時格納する。6は、この52のメモリー内容を解析する
ことになシ、この点が第1の実施例と異なる。6の処理
は、第1の実施例と類似しており、その処理フローチャ
ートを第7図に示す。第7図において、第3図と異なる
点は、701.702である。701は、52のメモリ
中にデータとして入っているal(i=1.2.・・・
、N)から、最大値であるaMを求め、τ= a Mと
おく処理である。つぎに、8M41からaNsおよび、
bMからbト1の総和を演算し、これをTとおく (7
02)。この段階で、τ、Tが求まる。これ以降の処理
は、第3図、303以降と同一である。この実施例は、
第1の実施例に比べ、波形を記憶しないのでメモリ容量
を低減さ飄! せることかできる。
のである。第2の実施例における5の内!を第5図に示
す。第5図において、51は時間測定器である。51は
、第6図に示す4の出力波形のパルス幅、al + b
l (i=1+ 2+ ”’)を測定する。52は、
メモリーであって、51で求めたat 、b、の値を一
時格納する。6は、この52のメモリー内容を解析する
ことになシ、この点が第1の実施例と異なる。6の処理
は、第1の実施例と類似しており、その処理フローチャ
ートを第7図に示す。第7図において、第3図と異なる
点は、701.702である。701は、52のメモリ
中にデータとして入っているal(i=1.2.・・・
、N)から、最大値であるaMを求め、τ= a Mと
おく処理である。つぎに、8M41からaNsおよび、
bMからbト1の総和を演算し、これをTとおく (7
02)。この段階で、τ、Tが求まる。これ以降の処理
は、第3図、303以降と同一である。この実施例は、
第1の実施例に比べ、波形を記憶しないのでメモリ容量
を低減さ飄! せることかできる。
\ 上に述べたように、本発明によれば、増幅器!
が飽和した場合でもピーク波高を検知することができる
効果がある。このため、従来技術である位置推定とくみ
合わせることによって、衝撃量を算定することができ、
炉内構造物の損傷度合を正しく見積ることが可能となる
。
効果がある。このため、従来技術である位置推定とくみ
合わせることによって、衝撃量を算定することができ、
炉内構造物の損傷度合を正しく見積ることが可能となる
。
第1図は、本発明の基本的構成を示すブロック図、第2
図は、第1図の各部の波形図、第3図は第1図、6・の
処理内容を示すフローチャート、第4図は、処理に用い
る検出値を説明する4の波形図、第5図は、第2の実施
例で5の内容の説明図、第6図は、52に入力されるデ
ータ関係を説明するために、4の波形を示した波形図、
第7図は本発明の一実施例の流れ図である。 1・・・センサ、2・・・増幅器、3・・・整流回路、
4・・・コンパレータ、訃・・メモリ装置、6・・・演
算装置、7・・・表示装置、51・・・時間測定器。
図は、第1図の各部の波形図、第3図は第1図、6・の
処理内容を示すフローチャート、第4図は、処理に用い
る検出値を説明する4の波形図、第5図は、第2の実施
例で5の内容の説明図、第6図は、52に入力されるデ
ータ関係を説明するために、4の波形を示した波形図、
第7図は本発明の一実施例の流れ図である。 1・・・センサ、2・・・増幅器、3・・・整流回路、
4・・・コンパレータ、訃・・メモリ装置、6・・・演
算装置、7・・・表示装置、51・・・時間測定器。
Claims (1)
- 1、容器内の異物によつて発生する音響信号を検出し、
その波高を求めて異物の衝撃量を求める装置において、
音響信号の増幅器出力が増幅器飽和レベルになつたこと
を検知する手段と、飽和レベルを越えている時間のうち
その値が最大となるものを探す手段と、1回の音響信号
で最大となつてから飽和レベル以下に低下するまでの時
期を求める手段と、上記ふたつの時間とあらかじめ求め
た音響信号の減衰特性および増幅器飽和レベルとからピ
ーク波高を算出する手段を備えたことを特徴とするピー
ク波高検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59178326A JPS6156968A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | ピ−ク波高検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59178326A JPS6156968A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | ピ−ク波高検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6156968A true JPS6156968A (ja) | 1986-03-22 |
Family
ID=16046527
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59178326A Pending JPS6156968A (ja) | 1984-08-29 | 1984-08-29 | ピ−ク波高検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6156968A (ja) |
-
1984
- 1984-08-29 JP JP59178326A patent/JPS6156968A/ja active Pending
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