JPS6156441B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6156441B2 JPS6156441B2 JP11545579A JP11545579A JPS6156441B2 JP S6156441 B2 JPS6156441 B2 JP S6156441B2 JP 11545579 A JP11545579 A JP 11545579A JP 11545579 A JP11545579 A JP 11545579A JP S6156441 B2 JPS6156441 B2 JP S6156441B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mark
- mark width
- width
- detection device
- long material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 35
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 238000010297 mechanical methods and process Methods 0.000 description 1
- 239000000941 radioactive substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高精度に長尺材を計尺する計尺装置に
関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a measuring device that measures a long material with high precision.
電線のような長尺材を計尺するための従来もつ
とも一般的な方法は、長尺材に接触回転するホイ
ールの回転数を積算するものであるが、この方法
はホイールと被計尺材との間のスリツプやホイー
ルの製作精度の点から計尺精度は余り高いもので
はない。 The conventional and most common method for measuring long materials such as electric wire is to integrate the number of rotations of a wheel that rotates in contact with the long material, but this method The measuring accuracy is not very high due to the manufacturing precision of the slips and wheels.
このカウンターホイールによる計尺法より高精
度な計尺を可能とする方法として、第１図に示す
ような尺取り計尺法がある。 As a method that enables more accurate measuring than this measuring method using a counter wheel, there is a measuring measuring method as shown in FIG. 1.
これは、第１図中矢印方向に移動する長尺材
１′に沿つて、磁化、放射物質塗布、標示マーク
などの計尺マークを付するマーク付与装置M′、
これより間隔Ｌをへだてて、このマークを検知す
るマーク検知装置Ｄを配置し、マーク付与装置
M′で付されたマークを、マーク検知装置Ｄで検
知すると同時に計尺制御装置C′における指令に
より、マーク付与装置M′に次のマーク付与指令
を与えるものである。 This includes a mark-applying device M' that attaches measurement marks such as magnetization, radioactive substance coating, and indicator marks along a long material 1' moving in the direction of the arrow in FIG.
A mark detection device D for detecting this mark is arranged at a distance L from this, and a mark applying device
At the same time as the mark M' is detected by the mark detection device D, a next mark application command is given to the mark application device M' by a command from the meter control device C'.
本計尺法では、上記動作を繰り返し行ない、そ
の繰り返し回数をカウントすることにより、間隔
Ｌの整数倍として長さの計尺をするものである。 In this measuring method, the length is measured as an integral multiple of the interval L by repeating the above operation and counting the number of repetitions.
この方法は、前記の如くスリツプなどがなく、
ホイール回転によるものよりは高い精度の計尺が
可能であるが、被計尺材に付与されたマークを検
知し、次のマーク付与を行なうまでの間に時間的
な遅れが生ずることとなり、このための計尺誤差
の発生をまぬがれる訳にはいかない。 This method does not cause slips as mentioned above,
Although it is possible to measure with higher accuracy than by rotating a wheel, there is a time delay between detecting a mark on the material to be measured and applying the next mark. Therefore, measurement errors cannot be avoided.
従つて、被計尺材が磁性材であつて、磁化作用
を電気的信号に変換可能とし、機械的な動作を一
切省除できるような場合を除いては、実質上高精
度計尺は望めない。 Therefore, unless the material to be measured is a magnetic material and the magnetization can be converted into an electrical signal and mechanical operation can be completely omitted, it is virtually impossible to obtain a high-precision measurement. do not have.
本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであ
り、尺取り計尺方式の長所を生かし、前記した機
械的なマーク付与を行なつてもそのための時間遅
れによる計尺誤差を解消でき、常に高精度な計尺
を行なえる計尺装置を提供しようとするものであ
る。 The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and makes use of the advantages of the measuring measuring method to eliminate the measuring error caused by the time delay even when the mechanical markings are applied as described above. The purpose of this invention is to provide a measuring device that can perform highly accurate measuring.
以下に実施例に基づいて詳細に説明する。 A detailed explanation will be given below based on examples.
第２図は本発明に係る計尺装置により、長尺材
１を計尺する場合を示すブロツク図である。 FIG. 2 is a block diagram showing a case where a long material 1 is measured using a measuring device according to the present invention.
長尺材１は、第２図中矢印方向に移動するもの
であり、当該長尺材１に沿つてマーク付与装置Ｍ
（Marker）、第１マーク巾検知装置D1（Detector
１）第２マーク巾検知装置D2（Detector２）が、
それぞれ図中に示した間隔L1およびL2を置いて
順次直列に配置される。 The long material 1 moves in the direction of the arrow in FIG. 2, and the marking device M moves along the long material 1.
(Marker), first mark width detection device D 1 (Detector
1) The second mark width detection device D 2 (Detector 2)
They are sequentially arranged in series with intervals L 1 and L 2 shown in the figure, respectively.
２，２…はマーク付与装置Ｍにより長尺材に付
与された計尺のためのマークであり、例えば図の
三角形状の如く長手方向に巾寸法が変化するよう
なマークが附与される。 Reference numerals 2, 2, . . . are marks for measuring lengths that are applied to the long material by the mark-applying device M. For example, marks that vary in width in the longitudinal direction, such as the triangular shape shown in the figure, are applied.
しかして、マーク２，２…と各装置Ｍ，D1お
よびD2との関係は、マーク付与装置Ｍによりマ
ークを付与しようとするときには、マーク巾検知
装置D1およびD2でそれぞれマーク巾が検知でき
るように、すなわち第２図に示してあるように
Ｍ，D1およびD2間の距離L1およびL2は調整され
ている。 Therefore, the relationship between the marks 2, 2... and the devices M, D 1 and D 2 is such that when the mark applying device M attempts to apply a mark, the mark width detecting devices D 1 and D 2 detect the mark width, respectively. The distances L 1 and L 2 between M, D 1 and D 2 are adjusted so as to be detectable, ie as shown in FIG.
さてつぎに本発明によつて、長尺材１の長さを
計尺する場合の動作を説明する。 Next, the operation when measuring the length of the long material 1 according to the present invention will be explained.
まず最初の始動から説明すれば、マーク附与装
置Ｍにより長尺材１にマーク２を付する。 First, starting from the first start, a mark 2 is applied to the long material 1 by the mark applying device M.
ついでスタート制御回路Cs（Start
Controller）により切換スイツチＳを第１マーク
巾検知装置D1に接続しておき、一方レジスタRB
には所定の初期値をプリセツトしておく。 Next, start control circuit Cs (Start
The changeover switch S is connected to the first mark width detection device D 1 by the controller), while the register RB
A predetermined initial value is preset.
マーク付与装置Ｍにより付されたマーク２が、
第１マーク巾検知装置D1に到達し、そこで検知
したマーク巾に対応した出力信号が比較回路CM
を通り、先にプリセツトした初期値に等しくなつ
たところで、指令パルス発生回路Pc（Pulse
Controllor）により、指令パルスを発して長尺材
１に別なマーク２を付与し、同時に第１マーク巾
の検知を行ない、その時の値をレジスタRAに取
込む。 The mark 2 attached by the mark attaching device M is
The output signal that reaches the first mark width detection device D 1 and corresponds to the mark width detected there is sent to the comparison circuit CM.
, and when it becomes equal to the initial value preset earlier, the command pulse generation circuit Pc (Pulse
Controller) issues a command pulse to add another mark 2 to the long material 1, simultaneously detects the width of the first mark, and stores the value at that time into the register RA.
またこの時の指令パルスは、パルス遅延回路
PD（Pulse Delay）により一定時間遅延され、そ
のタイミングパルスにより取り込まれたレジスタ
RAの値をレジスタRBに移送する。 Also, the command pulse at this time is controlled by the pulse delay circuit.
A register that is delayed for a certain period of time by PD (Pulse Delay) and captured by that timing pulse.
Transfer the value of RA to register RB.
上記により始動の動作が完了したから、つぎに
は切換スイツチＳを通常動作側である第２マーク
巾検知装置D2側に切換える。 Since the starting operation has been completed as described above, the changeover switch S is next switched to the second mark width detection device D2 side, which is the normal operation side.
先に第１マーク巾検知装置D1を通過したマー
ク２は、第２マーク巾検知装置D2に到達する
が、ここで検知したマーク巾の検出出力が先に第
１マーク巾検知装置D1で検知され、レジスタRB
に取込まれている値と等しくなつた時に、２番目
の指令パルスを発生し、前述と同じ動作によつて
新たなマーク２の付与と第１マーク巾検知とその
値のレジスタRAへの取込みとが行なわれる。 The mark 2 that has passed through the first mark width detection device D 1 first reaches the second mark width detection device D 2 , but the detection output of the mark width detected here is first passed through the first mark width detection device D 1 . and register RB
When the value becomes equal to the value stored in the register RA, a second command pulse is generated, and the same operation as above is used to add a new mark 2, detect the width of the first mark, and import the value into the register RA. will be carried out.
かくして、第１マーク巾検知をしたマークの第
２マーク巾検知装置への移動と検知した値のレジ
スタRAよりRBへの移送とが行なわれ、この動作
の繰り返しを計尺カウンタCTでカウントするこ
とにより、間隔L2の整数倍の値で長尺材の計尺
が行なわれるのである。 In this way, the mark whose first mark width has been detected is moved to the second mark width detection device, and the detected value is transferred from register RA to RB, and the repetition of this operation is counted by measuring scale counter CT. Accordingly, the length of the long material is measured using a value that is an integral multiple of the distance L2 .
このように第２マーク巾検知装置D2でのマー
ク巾検知と第１マーク巾検知装置でのマーク巾の
取込みとが同時に時間遅れなく行なわれるので間
隔L2の長さを高精度で計尺できるようにしたこ
とが本発明の一大特徴点をなすものである。 In this way, the mark width detection by the second mark width detection device D 2 and the reception of the mark width by the first mark width detection device are performed simultaneously without any time delay, so the length of the interval L 2 can be measured with high precision. This is a major feature of the present invention.
第１マーク巾検知装置D1で検出するマーク巾
は、常に一定でなければならないというものでは
ない。 The mark width detected by the first mark width detection device D1 does not always have to be constant.
しかし、本発明によれば、第１マーク巾検知装
置D1で検知した巾とそれを第２マーク巾検知装
置D2側で検知した巾とは常に同じとなる。 However, according to the present invention, the width detected by the first mark width detection device D1 and the width detected by the second mark width detection device D2 are always the same.
すなわち、マークの同じ一点を基準としてD1
とD2で検知するから、その検知したL2の間隔は
きわめて高精度を保証できることとなる訳であ
り、そこに本発明の特徴がある。 In other words, D 1 based on the same point on the mark
Since the detection is performed using D 2 and D 2 , the detected interval L 2 can be guaranteed to have extremely high precision, which is a feature of the present invention.
このことをもう少し具体的に例示し、本発明を
より理解できるように説明する。 This will be illustrated in more detail and explained in order to better understand the present invention.
いま仮に長尺材１の移動スピードに変動があつ
たと仮定する。第１マーク巾検知装置D1でマー
ク巾２mmのところを検知したとすれば、レジスタ
RBにはその２mmに相当する検出出力が取込まれ
ているから、比較回路CMを介して第２マーク巾
検知装置D2においても当該マークの２mm巾のと
ころを検出し、それにより指令パルスが発生して
つぎのマーク付与とD1での検知とカウンタCTで
の計数とが行なわれる。 Assume now that there is a change in the moving speed of the long material 1. If the first mark width detection device D 1 detects a mark width of 2 mm, the register
Since the detection output corresponding to 2 mm is taken into RB, the second mark width detection device D 2 also detects the 2 mm width of the mark via the comparison circuit CM, and the command pulse is thereby generated. After the occurrence, the next marking, detection at D1 , and counting at counter CT are performed.
途中で移動スピードが変化したとしても同じマ
ークの同じ２mm巾のところを、D1とD2で検知し
たのであるから間隔L2の測定上はなんらの誤差
も生じない。 Even if the moving speed changes on the way, the same 2 mm width of the same mark is detected by D 1 and D 2 , so no error will occur in the measurement of the interval L 2 .
しかし、D2での検知に基づき、指令パルスを
発生せしめマーク付与装置Ｍでのマーク付与がな
されるまでの間には、わずかではあるが時間遅れ
がある。 However, there is a slight time delay between the generation of the command pulse based on the detection at D2 and the marking by the marking device M.
もし、長尺材１のスピードが速くなつたとする
と前記時間遅れのためにその分だけL1は長くな
つたと同様の効果が生じ、つぎにそのマークが
D1に移動して行つて、D2の検知信号によりD1で
の検知をするときには、２mm巾のところは検知さ
れず、15mm巾のところが検知されることとなろ
う。 If the speed of the long material 1 becomes faster, the same effect as if L1 becomes longer due to the time delay will occur, and then the mark will become longer.
When moving to D 1 and detecting D 1 using the detection signal of D 2 , the 2 mm wide area will not be detected, but the 15 mm wide area will be detected.
それでもRBには15mm分の値が取込まれ、D1で
は15mm巾の検出出力のところで、指令パルスを発
するのであるから、これまたL2の間隔測定上の
誤差がない。 Even so, the value of 15 mm is taken into RB, and the command pulse is emitted at the detection output of 15 mm width in D1 , so there is no error in the interval measurement of L2 .
すなわち、長尺材１の移動スピードが移動すれ
ば、L1の値は変動したと同様の効果が生ずる
が、L2の間隔測定上には全く影響を及ぼすこと
がなくつねに精密な測定が可能となるのである。 In other words, if the moving speed of the long material 1 changes, the same effect will occur as if the value of L 1 fluctuated, but it does not affect the distance measurement of L 2 at all, and accurate measurement is always possible. It becomes.
仮にまた長尺材の移動スピードの変動が大き
く、D2での検知による指令パルスによつてD1で
マーク巾を検知しようとしてもまだそこにマーク
が到達していないほどに、マーク付与装置にずれ
が生ずるようであれば、マーク付与装置Ｍの設置
位置を手動あるいは自動的に移動し、マーク間隔
がL2の基準間隔に納まるように、間隔L1を補正
してやればよい。 Even if the moving speed of the long material fluctuates greatly, and the mark width is detected in D1 using the command pulse detected in D2 , the mark has not yet reached the mark width, and the marking device is in trouble. If a deviation occurs, the installation position of the mark applying device M may be moved manually or automatically, and the interval L1 may be corrected so that the mark interval falls within the reference interval L2 .
以上の説明によつてわかるように、本発明によ
る計尺装置は、マーク付与に対する時間遅れには
何ら影響されることなく精密な定尺を尺取り計尺
できるものであるから、マーク付与に対する時間
変動の生じやすい機械的な方法をもつてするマー
ク付与に対してもつねに高精度の計尺を確保でき
るものである。 As can be seen from the above explanation, the measuring device according to the present invention is capable of measuring a precise standard length without being affected by the time delay in marking, so It is possible to always ensure a highly accurate measurement even when marking is done using a mechanical method that is prone to fluctuations.
従つて、非磁性長尺材、例えば絶縁電線などの
計尺にも適用のできるものであつて、産業上高い
応用性を有する。 Therefore, it can also be applied to measuring lengths of non-magnetic long materials such as insulated wires, and has high industrial applicability.
第１図は従来の尺取計尺法を示す説明図、第２
図は本発明に係る計尺装置の実施例を示すブロツ
ク図である。
１：長尺材、２，２：マーク、CM：比較回
路、CT：カウンタ、Cs：スタート制御回路、
D1：第１マーク巾検知装置、D2：第２マーク巾
検知装置、Ｍ：マーク付与装置、RA，RB：レジ
スタ、Pc：指令パルス発生装置、PD：遅延回
路、Ｓ：切換スイツチ。
Figure 1 is an explanatory diagram showing the conventional shakutori measuring method;
The figure is a block diagram showing an embodiment of a measuring device according to the present invention. 1: Long material, 2, 2: Mark, CM: Comparison circuit, CT: Counter, Cs: Start control circuit,
D1 : First mark width detection device, D2 : Second mark width detection device, M: Marking device, RA, RB: Register, Pc: Command pulse generator, PD: Delay circuit, S: Changeover switch.
Claims (1)
おいて、順次マーク付与装置、第１マーク巾検知
装置ならびに第２マーク巾検知装置を直列に配置
し、マーク付与装置によつて長手方向に巾寸法が
変化するマークを被計尺長尺材に付与するように
構成し、当該マークの適宜マーク巾を第１マーク
巾検知装置において検知したら、当該マーク巾を
レジスタ内に記憶するように構成し、ついで前記
マークが、第２マーク巾検知装置まで移動したと
ころで、第２マーク巾検知装置の検知マーク巾と
レジスタ内の前記記憶されたマーク巾とを比較対
比する動作を行なわしめて、両者等しい検知巾と
なつた時点で、次のマーク付与指令を出し、同時
に第１マーク巾検知装置においては、別のマーク
巾検知とこれのレジスタ内への記憶とが行なわれ
るように構成し、同様動作を繰返し可能に構成し
て、第１マーク巾検知装置と第２マーク巾検知装
置との距離の整数倍をカウンタにより計数積算で
きるように構成してなる長尺材の精密計尺装置。1 A mark applying device, a first mark width detecting device, and a second mark width detecting device are arranged in series at predetermined intervals along the traveling direction of the long material to be measured, and the mark applying device A mark whose width dimension changes in a direction is applied to the long material to be measured, and when an appropriate mark width of the mark is detected by a first mark width detection device, the mark width is stored in a register. Then, when the mark has moved to a second mark width detection device, an operation is performed to compare and contrast the detected mark width of the second mark width detection device with the mark width stored in the register, When both detection widths are equal, the next mark application command is issued, and at the same time, the first mark width detection device is configured to detect another mark width and store it in a register, A precision measuring device for a long material, which is configured to be able to repeat similar operations and to count and integrate integral multiples of the distance between a first mark width detection device and a second mark width detection device using a counter.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11545579A JPS5639410A (en) | 1979-09-07 | 1979-09-07 | Precision scaling device for long size material |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11545579A JPS5639410A (en) | 1979-09-07 | 1979-09-07 | Precision scaling device for long size material |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5639410A JPS5639410A (en) | 1981-04-15 |
| JPS6156441B2 true JPS6156441B2 (en) | 1986-12-02 |
Family
ID=14662970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11545579A Granted JPS5639410A (en) | 1979-09-07 | 1979-09-07 | Precision scaling device for long size material |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5639410A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0318336U (en) * | 1989-07-05 | 1991-02-22 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08159362A (en) * | 1994-12-01 | 1996-06-21 | Nissan Shoji Kk | Water cut-off construction method for water service pipe or the like using incombustible material insulated vessel |
-
1979
- 1979-09-07 JP JP11545579A patent/JPS5639410A/en active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0318336U (en) * | 1989-07-05 | 1991-02-22 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5639410A (en) | 1981-04-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3378676A (en) | System employing plural time-spaced average computations for measuring a second variable characteristic imparted to a material initially having a first variable characteristic | |
| ATE55184T1 (en) | INCREMENTAL LENGTH OR ANGLE MEASUREMENT DEVICE. | |
| US4514688A (en) | Digital tablet system with calibration means | |
| EP0068418A2 (en) | Distance sensing apparatus and method | |
| US4041610A (en) | Apparatus for precise measurement of the length of long length materials | |
| JPS6156441B2 (en) | ||
| US6075370A (en) | Method of calibrating a potentiometer | |
| JPS6061663A (en) | Method of correcting measuring device | |
| JP2635913B2 (en) | Length measuring or angle measuring method | |
| US3496374A (en) | Measuring apparatus using scanning means and counting means | |
| JPS5918458A (en) | Rotation detector | |
| JPS59214712A (en) | Electrostatic capacitor type displacement detector | |
| JP2911921B2 (en) | Measuring method for long objects | |
| US3270281A (en) | Apparatus for measuring and digitally indicating linear displacement between two relatively movable members | |
| US3278928A (en) | Position encoding apparatus | |
| JPH0221522B2 (en) | ||
| JPS5951035B2 (en) | Electronic coordinate position digitization device | |
| JPS62272101A (en) | Length measuring instrument | |
| JP3505932B2 (en) | Origin detection device | |
| JPS6021784B2 (en) | Paint film thickness measuring device | |
| JPS5811004B2 (en) | Precision measuring method and device for long objects | |
| SU853436A1 (en) | Device for measuring shaft torque | |
| JPS59183329A (en) | Measuring device with digital display | |
| JPS5612506A (en) | Method and apparatus for gauging long line object | |
| JPH0217283Y2 (en) |