JPS6151109A - 光フアイバ端面処理用治具 - Google Patents

光フアイバ端面処理用治具

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Publication number
JPS6151109A
JPS6151109A JP17395384A JP17395384A JPS6151109A JP S6151109 A JPS6151109 A JP S6151109A JP 17395384 A JP17395384 A JP 17395384A JP 17395384 A JP17395384 A JP 17395384A JP S6151109 A JPS6151109 A JP S6151109A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
optical fiber
glass substrate
heater
end surface
Prior art date
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Pending
Application number
JP17395384A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukihiro Kondo
近藤 行広
Keiji Kakinote
柿手 啓治
Koichi Aizawa
浩一 相澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、プラスチックファイバを利用した光ファイ
バの端面処理用治具に関する。
〔背景技術〕
光通信システム等において、近年、ガラスファイバを用
いた光伝送技術が著しい進歩を遂げている。光の伝送媒
体となる光ファイバには、前記ガラスファイバの他にプ
ラスチックファイバがあるが、その実用化はガラスファ
イバに比べ遅れをとっている。プラスチックファイバを
伝送媒体とする光通信システムの部品としては、他に、
接続用の光コネクタ、光分岐器、光分波・合波器、光ス
ィッチ、光モジュール(光−電気・電気−光変換器)等
が必要である。
プラスチックファイバの接続においては、プラスチック
ファイバの端面処理を行う必要があるが、従来はプラス
チックファイバの端面をやすりで研摩した後、パフ研摩
を行ってかう接続する方法が一般に用いられていたが、
均一に端面を処理することが難しく、ばらつきが多いた
め、光信号の損失が大きかった。
また、プラスチックファイバの接続において、プラスチ
ックファイバの端面同志を熱融着する方法もよく用いら
れているが、従来の熱融着のためのヒータは大型である
ので、携帯には不便であった。
これらの方法では、配線済みのプラスチックファイバを
他のプラスチックファイバと接続するためには、配線済
みのプラスチックファイバの端部をあらかじめ余分に長
く残しておくか、あるいは配線済みのプラスチックファ
イバを取りはずして研摩もしくは熱融着して接続しなけ
ればならないので、大変な作業を要した。
そこで、発明者らは、携帯に便利で、光ファイバ端面の
鏡面仕上げが容易かつ迅速にできる光ファイバ端面処理
用治具を開発した。この光ファイバ端面処理用治具は、
光ファイバの端面に圧着するガラス基板と、このガラス
基板を加熱するヒータ部を備えていて、光ファイバを押
さえ金具に挿通した状態で、光ファイバ端面をガラス基
板に圧着し、ヒータ部でガラス基板を加熱することで、
光ファイバの端面を熔融して、鏡面仕上げのされた光フ
ァイバの端面を得ることができるようになっている。
ヒータ部の温度は、ヒータ部の電気抵抗値とそこに流れ
る電流および時間により変化する。ところが、これらの
条件を一定にしても、ガラス基板への押さえ金具の圧着
の有無等の外部条件が変わることで、ヒータ部の温度が
変化するため、光ファイバ端面の溶融に最適な温度に設
定することが困難であり、ヒータ部が過昇温して破損す
る原因となっていたのである。
〔発明の目的〕
前記の点に鑑みて、この発明は、ヒータ部を温度制御す
ることで、ヒータ部の温度を安定させ、ヒータ部が過昇
温して破損することを防止する光ファイバ端面処理用治
具を提供することを目的とする。
(発明の開示〕 前記の目的を達成するため、この発明は、光ファイバの
端面に圧着するガラス基板と、このガラス基板を加熱す
るヒータ部を備えた光ファイバ端面処理用治具であって
、ヒータ部が温度制御されるようになっていることを特
徴とする光ファイバ端面処理用治具をその要旨とする。
以下にこれを、その一実施例をあられす図面に基づいて
詳しく説明する。
第1図および第2図にみるように、光ファイバ端面処理
用治具(以下「治具」とする。)は、加熱部1、回路部
2、供電部3から成っている。加熱部1には、枠7によ
ってガラス基Mi、6が保持されている。ガラス基板6
の後面部には電極5.5が設けられており、かつ、ガラ
ス基板6の前面における光ファイバの端面が圧着される
位置に応当する、ガラス基板6の後面部の位置にはヒー
タ部4が配設されている。ヒータ部4の両側部には前記
電極5.5の各一部が重ね合わされていて、ヒータ部4
に供電部3より電流を供給すると、ヒータ部が発熱する
ようになっている。
ヒータ部4には、PTC特性をもつ材料が使われている
。PTC特性をもつ材料は、温度とともに電気抵抗値が
増加する。特に、キュリ一温度付近になると温度増加に
比べて、電気抵抗値が急激に増加する。電圧一定のもと
では、電気抵抗値が増加すれば、電流値は減少する。電
流値が減少すると単位時間当りの発熱量が減少する。す
なわち、ヒータ部が温度上昇すると、PTC特性により
電流値が減少し、それとaもに単位当りの発熱量が減少
し、温度上昇が抑えられるのである。特に、キュリ一温
度付近ではその効果が著しく、ヒータ部がキュリ一温度
付近を越えて過昇温することがなく、ヒータ部の破損を
防ぐことができる。このような理由から、ヒータ部は、
キュリ一温度が光ファイバの端面の溶融に最適な温度を
僅かに越える程度になるような材料を選定することが好
ましい。
第3図、第4図および第5図は、この発明にかかる第2
の実施例をあられす。これらの図にみるように、ガラス
基板6の前面には、それぞれ異なる金属よりなる薄膜9
.10が直径方向に沿い、かつ、中央部において重ね合
わされるように密着形成されている。ガラス基板6の中
心は端面処理位置8となるので、図にみるように、ここ
は薄膜9.10が形成されず、円形の穴となっている。
薄膜9.10の重ね合わされているリング状の部分が熱
電対の1eJきをする。この熱電対部11を除いた部分
がそれぞれ温度測定用電極12.13となっていて、こ
の電極12.13は温度制御部(図示省略)に接続され
ている。ガラス基板6の裏面に接合されたヒータ部4お
よび電極5は、これらの保護のため、供電部端子14と
のコンタクト部15を除いて保護膜16で被覆されてい
る。この実施例では、第1の実施例のようにヒータ部4
の材料をPTC特性をもつものに限定する必要はない。
以上の点を除けば、その他は第1の実施例11    
  と全く同じ構成である。
温度測定用電極12.13間に定電流を通じておき、熱
電対部11が加熱されると、両電極間に電圧が発生する
。この実施例での治具は、この電圧を測定し、電圧とヒ
ータ部に供給する電流値の関係があらかじめプログラム
されている温度制御部に上記の測定結果を入力して、供
電部の電流値を変化させ、その結果、ヒータ部の温度が
調整されるようになっているのである。
第6図および第7図は、この発明にかかる第3の実施例
をあられす。これらの図にみるように、光ファイバの端
面処理位置8の周辺部に金属製の巾の綱い1FIIU1
7がジグザグに形成されている。
薄Mf!17の両端は、薄膜17と同じ種類の金属より
なる温度測定用電極18.19に接合されていて、この
電極18.19が温度制御部(図示省略)に接続されて
いる。以上の点を除けば、その他は第2の実施例と全く
同じ構成である。
金属を加熱すると、その抵抗値が変化することが一般に
知られている。この実施例は、この性質を利用したもの
である。温度測定用電極18,19間に定電流を通じ、
両電極間の電圧を測定するようにし、電圧とヒータ部に
供給する電流値の関係があらかじめプログラムされてい
る温度制御部にこの測定結果を入力して、これにより、
供電部の電流値を調整するようにしておく。金属製の薄
膜17が加熱されると、その抵抗値が変化するため、両
電極間の電圧が変化し、その結果、供電部の電流値が変
化し、ヒータ部の温度が調整されるようになっているの
である。
この発明にがかる治具のヒータ部は、プラスチックの軟
化点が100″C1IIiI後であるから、光ファイバ
の端面が圧着される部分のガラス基板を140°C程度
に加熱し得るもので、300℃位までの熱に対して安定
しているものが望ましい。ヒータ部材料としては、I 
T O(Indium Tin 0xide)のほか、
ニッケルクロム合金などの金属、窒化タンタルのような
窒化物や酸化ルテニウムなどの酸化物等が好ましく用い
られる。ガラス基板は、軟化点が700℃以上で高温強
度の高く、鏡面性の良いものが望ましい、電極は、経時
的安定性が高く、シート抵抗値および接触抵抗値の低い
ものが望ましい。治具の回路部分には、温度?ili償
機構1時間制御機構9表示機構、電流制御機構等の必要
とされる機構を組みこめばよい。治具の供電部分には、
携帯性を考慮して充電式の電池を用いるのが望ましい。
この発明において、ガラス基板表面に形成された薄膜の
材料としては、200℃程度の範囲の温度が測定可能で
、応答速度の高いものが好ましい第2および第3の実施
例にみるように、ヒータ部および電極の表面に保護膜を
形成してもよい。
また、ガラス基板表面およびその一部に形成された薄膜
表面に保護膜を形成してもよい。この保護膜の材料とし
ては、酸化アルミニウム、二酸化ケイ素、窒化ケイ素、
リンケイ酸ガラス等があげられる。
つぎに、この発明にがかる治具の実施例について説明す
る。
(実施例1) ガラス基板裏面に電極を形成したのち、キュリ一温度が
120℃のチタン酸バリウムに鉛を添加し、キュリ一温
度を140℃に設定した材料を用いて、電子ビーム蒸着
法でヒータ部を形成した。
その結果、端面処理位置の温度が140℃を越えて過昇
温することがなかった。
(実施例2) ガラス基板(厚み0.8 mm、直径29mm、商品名
;保谷NA40.保谷硝子社製)を洗浄液(商品名;セ
ミコクリーン、フルウチ化学社!F!りで超音波洗浄し
たのち、クロム電極をスパッタリングにより2.5μm
の厚みで作製した。
つぎに、ITOを真空蒸着法を用いて、2〜3μmの厚
みで、かつシート抵抗値がおよそ1Ω/口となるように
接合してヒータとしたのち、第3図および第4図にみる
ように、電極およびヒータ部の保護のため、供電部端子
とのコンタクト部を除いて酸化アルミニウムの膜を真空
蒸着法で形成した。
さらに、ガラス基板表面に、第3図および第5図にみる
ように端面処理位置を除いて、銅を真空蒸着して、厚み
3000人の薄膜を形成したのち、同様にしてコンスタ
ンクンを厚みが3000人となるようにに真空蒸着し、
コンスタンクンと銅よりなる薄膜重ね合わせ状の熱電対
部が端面処理位置の周辺部でrl]2mmのリング状に
なるようにした。銅およびコンスタンクンよりなる両E
’X K’A間の電位差を測定し、温度制御部に測定結
果を入力するようにした。
端面処理位置の最i!!l温度は140℃であるので、
この最適温度が得られるように供電部の電流値を制御す
るようにした。
その結果、端面処理位置の温度は常に140℃と一定に
保つことができた。
(実施例3) 実施例2と同様にして、ガラス基板にヒータ部および電
極を作製し、保護膜を形成したのち、ガラス基板表面に
、第6図および第7図にみるように、白金を真空蒸着し
て、厚み5000人、端面処理位置の周辺部の線巾0.
5mm、長さ30となるように薄膜を形成した。15℃
の室温において薄膜両端間の電位差が50mVになるよ
うに薄膜両端間に供給する定電流の電流値を調節してお
いて、″B膜膜端端間電位差を測定し、温度制御部に測
定結果を入力するようにした。
実施例2と同じようにして、最適温度になるように供電
部の電流値を制御するようにした結果、実施例2と同じ
結果が得られた。
〔発明の効果〕
この発明にかかる光ファイバ端面処理用治具は、ヒータ
部が温度制御されるようになっているため、常に光ファ
イバの端面処理に最適な温度を得られるとともに、過昇
温によるヒータ部の破損を防止することができ、無駄な
電力消費を減少させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明にかかる光ファイバ端面処理用治具の
第1の実施例をあられす一部断面図、第2図は第1図の
A−A部分の断面図、第3図はこの発明にかかる第2の
実施例をあられした一部断面図、第4図は第3図のB−
B部分の断面図、第5図は第1図のガラス基板表面方向
から見た側面図、第6図はこの発明にかかる第3の実施
例をあられした一部断面図、第7図は第6図のガラス基
板表面方向からみた側面図である。 1・・・加熱部 2・・・回路部 3・・・供電部 4
・・・ヒータ部 5・・・電極 6・・・ガラス基板 
7・・・枠 9.10.17・・・薄膜 11・・・熱
電対部代理人 弁理士  松 本 武 彦 第2図     1.4い。 」 B 第3図 第4図 用β糸六ネi■LロE書(自発) 昭和59年11月 2日 D#05 9’f$’BWJrm 1 7 3 9 5
 3号2、発明の名称 光ファイバ端面処理用治具 3、補正をする者 事件との関係    特許出願人 住  所    大阪府門真市大字門真1048番地名
 称(583)松下電工株式会社 代表者  (懺耽帝役小林 郁 4、代理人 な   し 6、補正の対象 明細書 7、補正の内容 (1)  明細書第7頁第19行なし)シ同頁第201
〒に「温度測定・・・両電極間に」とあるを、「熱電対
部11が加熱されると、温度11J定用電手愚12.1
3間に」と訂正する。 (2)明細書第13頁第20行Gこ「第1図」とあるを
、「第3図」と訂正する。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光ファイバの端面に圧着するガラス基板と、この
    ガラス基板を加熱するヒータ部を備えた光ファイバ端面
    処理用治具であつて、ヒータ部が温度制御されるように
    なつていることを特徴とする光ファイバ端面処理用治具
  2. (2)ヒータ部がPTC特性をもつ材料よりなり、この
    特性を利用して温度制御されるようになつている特許請
    求の範囲第1項記載の光ファイバ端面処理用治具。
  3. (3)ヒータ部が、ガラス基板表面に設けられた熱電対
    の測定結果に基づいて温度制御されるようになつている
    特許請求の範囲第1項記載の光ファイバ端面処理用治具
  4. (4)ヒータ部が、ガラス基板表面に設けられた金属性
    の薄膜の加熱による抵抗値変化に基づいて温度制御され
    るようになつている特許請求の範囲第1項記載の光ファ
    イバ端面処理用治具。
JP17395384A 1984-08-20 1984-08-20 光フアイバ端面処理用治具 Pending JPS6151109A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55121405A (en) * 1979-03-13 1980-09-18 Machida Seisakusho:Kk Working method for end face of optical fiber

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55121405A (en) * 1979-03-13 1980-09-18 Machida Seisakusho:Kk Working method for end face of optical fiber

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