JPS6136605B2 - - Google Patents
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- JPS6136605B2 JPS6136605B2 JP7853379A JP7853379A JPS6136605B2 JP S6136605 B2 JPS6136605 B2 JP S6136605B2 JP 7853379 A JP7853379 A JP 7853379A JP 7853379 A JP7853379 A JP 7853379A JP S6136605 B2 JPS6136605 B2 JP S6136605B2
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は一眼レフレツクスカメラの反射測光
装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a reflection photometry device for a single-lens reflex camera.
近年、一眼レフレツクスカメラの自動露出制御
（EE）のための測光方式として反射測光方式が考
えられている。これは、受光素子がフイルム前面
に配置され、レリーズ釦が押されミラーが上昇し
シヤツタ先幕が走行開始されるると測光が行なわ
れ、すでに手動で設定されている絞りを通して伝
えられシヤツタ先幕またはフイルム面で反射され
た光量に応じてシヤツタ秒時を制御する、いわゆ
る絞り優先式EEに関するものである。このよう
に従来の反射測光方式においては、実際に撮影中
の受光量に応じてシヤツタ秒時を制御しているの
で、シヤツタ秒時を記憶しておく記憶手段は要ら
ず、かつ、撮影中の急激な光量にも対処すること
ができる。しかしながら、光量に応じた絞り値を
演算し、シヤツタがレリーズされてから絞りがこ
の絞り値まで絞られこの絞り値におけるシヤツタ
秒時を決めるというプログララム式EEを行なう
ためには、シヤツタ動作中にはシヤツタ作動直前
の絞り値を記憶しておかねばならず、従来の反射
測光方式では記憶手段が設けられておらずプログ
ラム式EEが行なえなかつた。 In recent years, reflective photometry has been considered as a photometry method for automatic exposure control (EE) in single-lens reflex cameras. The light-receiving element is placed in front of the film, and when the release button is pressed, the mirror rises, and the front shutter curtain starts running, light metering is performed, and the light is transmitted through the aperture that has already been set manually to the front curtain or shutter curtain. This relates to so-called aperture-priority EE, which controls the shutter speed according to the amount of light reflected from the film surface. In this way, in the conventional reflection metering method, the shutter time is controlled according to the amount of light actually received during shooting, so there is no need for a storage device to store the shutter time. It can also handle sudden changes in light intensity. However, in order to perform programmed EE, which calculates the aperture value according to the amount of light, after the shutter is released, the aperture is stopped down to this aperture value, and the shutter speed at this aperture value is determined, it is necessary to It is necessary to memorize the aperture value immediately before the shutter is activated, and conventional reflection metering systems do not have a storage means and cannot perform programmable EE.
この発明は上述した事情に対処すべくなされた
もので、簡単な構成でプログラム式EEが可能な
一眼レフレツクスカメラの反射測光装置を提供す
ることをその目的とするものである。 The present invention has been made to address the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide a reflection photometry device for a single-lens reflex camera that has a simple configuration and is capable of programmable EE.
以下、図面を参照してこの発明による反射測光
装置の一実施例を説明する。図はその回路図であ
る。基準電圧ＶRが演算増幅器OP1の非反転入力
端（＋）に供給され、演算増幅器OP1は出力端と
反転入力端（−）間にASA情報用の可変抵抗ＲA
を接続していて、反転入力端（−）は抵抗R1を
介して接地されている。そして、演算増幅器OP1
の出力はダイオードD1を逆方向に介して演算増
幅器OP2の非反転入力端（＋）に供給されてい
る。また、電源Vccが接続されている定電流源Ij
の出力も演算増幅器OP2の非反転入力端（＋）に
供給されている。この演算増幅器OP2は出力端と
反転入力端（−）間に対数圧縮用のダイオード
D2を接続していて、反転入力端（−）と非反転
入力端（＋）間には第１の受光素子SPD1を順方
向に接続している。第１の受光素子SPD1はフア
インダ内に配設されている。そして、演算増幅器
OP2の出力が並例比較方式のレベル弁別回路１０
に供給されている。 Hereinafter, an embodiment of a reflection photometry device according to the present invention will be described with reference to the drawings. The figure is its circuit diagram. A reference voltage V R is supplied to the non-inverting input terminal (+) of the operational amplifier OP 1 , and the operational amplifier OP 1 has a variable resistor R A for ASA information between the output terminal and the inverting input terminal (-).
is connected, and the inverting input end (-) is grounded via resistor R1 . And operational amplifier OP 1
The output of is supplied to the non-inverting input (+) of the operational amplifier OP 2 via the diode D 1 in the opposite direction. Also, the constant current source Ij to which the power supply Vcc is connected
The output of is also supplied to the non-inverting input (+) of operational amplifier OP2 . This operational amplifier OP 2 has a diode for logarithmic compression between the output terminal and the inverting input terminal (-).
D 2 is connected, and the first light receiving element SPD 1 is connected in the forward direction between the inverting input end (-) and the non-inverting input end (+). The first light receiving element SPD 1 is arranged within the viewfinder. and operational amplifier
The output of OP 2 is a level discrimination circuit 10 using a parallel comparison method.
is supplied to.
一方、電源VccにスイツチSWを介してシヤツ
タ秒時制御回路１２が接続されている。シヤツタ
秒時制御回路１２はフイルム前面に配設された受
光素子SPD2を有し、受光量が所定量に達すると
後幕係止用電磁石Mgをオフしシヤツタ後幕を走
行させる。また、シヤツタ秒時制御回路１２に並
例にトランジスタQ1，Q2が接続されている。ト
ランジスタQ1は、そのベースは直接、コレクタ
は抵抗R2，R3を介してシヤツタ秒時制御回路１
２の一端に、またそのエミツタは直接制御回路１
２の他端に接続されている。トランジスタQ2
は、そのベースは抵抗R2，R3の接続点に、その
エミツタは直接シヤツタ秒時制御回路１２の一端
に、そのコレクタは抵抗R4を介して制御回路１
２の他端に接続されている。 On the other hand, a shutter time control circuit 12 is connected to the power supply Vcc via a switch SW. The shutter speed control circuit 12 has a light receiving element SPD 2 disposed in front of the film, and when the amount of received light reaches a predetermined amount, it turns off the trailing curtain locking electromagnet Mg and causes the shutter trailing curtain to run. Further, transistors Q 1 and Q 2 are connected to the shutter time control circuit 12 in parallel. Transistor Q 1 has its base directly connected to the shutter time control circuit 1 through resistors R 2 and R 3 to its collector.
2, and its emitter is directly connected to the control circuit 1.
It is connected to the other end of 2. transistor Q 2
has its base connected to the connection point of resistors R 2 and R 3 , its emitter directly connected to one end of the shutter time control circuit 12, and its collector connected to the control circuit 1 through resistor R 4 .
It is connected to the other end of 2.
そして、レベル弁別回路１０の各出力端が記憶
回路１４の各ＤフリツプフロツプのＤ入力端に接
続されている。また、上記トランジスタQ2のコ
レクタ端がこの各Ｄフリツプフロツプのクロツク
端CPに接続され、各ＤフリツプフロツプのＱ出
力が絞り制御信号として使われる。絞り制御信号
は図示していないが絞り駆動機構に供給されてい
る。 Each output terminal of the level discrimination circuit 10 is connected to the D input terminal of each D flip-flop of the memory circuit 14. Further, the collector terminal of the transistor Q2 is connected to the clock terminal CP of each D flip-flop, and the Q output of each D flip-flop is used as an aperture control signal. Although not shown, the aperture control signal is supplied to the aperture drive mechanism.
次に、このように構成された反射測光装置の動
作を説明する。先ず、可変抵抗ＲAによつてASA
感度を設定する。このとき、演算増幅器OP1の出
力電圧V1はＶR（１＋ＲＡ／Ｒ１）となる。そして、定
電
流源IjによりダイオードD1に生じる順方向電圧降
下ＶD1はｋＴ／ｑlnIjであり、受光素子SPD2の光電流
IsによりダイオードD2に生じる順方向電圧降下Ｖ
D2はｋＴ／ｑlnIsである。ここで、ｋはボルツマン定
数、Ｔは絶対温度、ｑは電子の電荷である。そこ
で第２の演算増幅器OP2の出力に生じる電圧V2は
次のようになる。 Next, the operation of the reflection photometry device configured as described above will be explained. First, by variable resistor R A , ASA
Set the sensitivity. At this time, the output voltage V 1 of the operational amplifier OP 1 becomes V R (1+R A /R 1 ). The forward voltage drop V D1 generated in the diode D 1 by the constant current source Ij is kT/qlnIj, and the forward voltage drop V generated in the diode D 2 due to the photocurrent Is of the light receiving element SPD 2 is
D2 is kT/qlnIs. Here, k is Boltzmann's constant, T is absolute temperature, and q is electron charge. Therefore, the voltage V 2 occurring at the output of the second operational amplifier OP 2 is as follows.
V2＝V1＋ＶD1−ＶD2＝ＶR（１＋ＲＡ／Ｒ１）
＋ｋＴ／ｑ（lnIj−lnIs）
このように、演算増幅器OP2の出力電圧V2は
ASA感度と受光量に応じた明るさ情報（BV情
報）である。そして、このBV情報がレベル弁別
回路１０によつて比較、分類され、記憶回路１４
中の所定のフリツプフロツプに10進化出力として
供給される。なお、レベル弁別回路１０の出力は
実際の絞り段数より少なく、絞りは粗く設定され
ている。ここで、Ｄフリツプフロツプはクロツク
パルスがローレベルの場合はＤ入力がそのままＱ
出力として出力され、クロツクパルスがハイレベ
ルになると、ローレベルからハイレベルに立上る
直前のＤ入力を記憶しいれをＱ出力として出力す
る。そのため、Ｄフリツプフロツプはクロツクパ
ルスがハイレベルに立上ると、その後Ｄ入力がい
くらか変化してもＱ出力は保持される。このクロ
ツクパルスはシヤツタ秒時制御系から出力されて
いる。ここで、スイツチSWはシヤツタ秒時制御
回路１２の電源スイツチであり、常時は開放して
いて、レリーズ釦が押されミラーが上昇している
間のみ閉成されるように構成されている。そのた
め、スイツチSWが開放中は、トランジスタQ1，
Q2はオフであり、シヤツタ秒時制御回路１２は
作動せず、トランジスタQ2のコレクタは抵抗R4
によつて電源Vccの−電位に接地されているので
ローレベルである。また、スイツチSWが閉成中
は、トランジスタQ1，Q2はオンになり、トラン
ジスタQ2のコレクタはハイレベルになり、シヤ
ツタ秒時制御回路１２も作動する。すなわち、ト
ランジスタQ2のコレクタ出力は、シヤツタが作
動中はハイレベルとなり、それ以外はローレベル
である。その結果、レベル弁別回路１０でBV情
報に応じて選定された絞り値情報はシヤツタが作
動を開始すると、記憶回路１４により作動開始直
前の値に保持される。そのためシヤツタの作動と
同時に絞り制御機構によつて絞りがシヤツタ作動
直前の明るさに応じた絞りに絞り込まれ、その絞
りを通して受光された光によつてシヤツタ秒時を
制御することができる。ここで、絞り値は粗く設
定されているが、シヤツタ秒時がその絞り値に対
して正確に対応しているので、反射測光方式では
簡単な構成でプログラム式EEが実現できる。こ
れに反して、フアインダにのみ受光素子がある記
憶測光式では、被写体の各明るさ（EV値）毎
に、シヤツタ秒時と絞り値の組合せを記憶してお
かねばならず構成が複雑化する。V 2 =V 1 +V D1 -V D2 =V R (1+R A /R 1 ) +kT/q (lnIj - lnIs) Thus, the output voltage V 2 of the operational amplifier OP 2 is
This is brightness information (BV information) according to the ASA sensitivity and amount of received light. This BV information is then compared and classified by the level discrimination circuit 10, and the storage circuit 14
It is supplied as a decimal evolution output to a predetermined flip-flop inside. Note that the output of the level discrimination circuit 10 is smaller than the actual number of aperture stages, and the aperture is set roughly. Here, for the D flip-flop, when the clock pulse is low level, the D input remains the Q
When the clock pulse becomes high level, the D input immediately before rising from low level to high level is stored and output as Q output. Therefore, when the clock pulse of the D flip-flop rises to a high level, the Q output is maintained even if the D input changes somewhat thereafter. This clock pulse is output from the shutter time control system. Here, the switch SW is a power switch of the shutter time control circuit 12, and is configured to be normally open and closed only while the release button is pressed and the mirror is raised. Therefore, while the switch SW is open, the transistors Q 1 ,
Q 2 is off, shutter time control circuit 12 is inactive, and the collector of transistor Q 2 is connected to resistor R 4
Since it is grounded to the negative potential of the power supply Vcc, it is at a low level. Further, while the switch SW is closed, the transistors Q 1 and Q 2 are turned on, the collector of the transistor Q 2 becomes high level, and the shutter time control circuit 12 also operates. That is, the collector output of transistor Q2 is at a high level when the shutter is operating, and is at a low level otherwise. As a result, when the shutter starts operating, the aperture value information selected by the level discrimination circuit 10 according to the BV information is held in the memory circuit 14 at the value immediately before the start of the operation. Therefore, at the same time as the shutter is activated, the diaphragm control mechanism narrows down the diaphragm to a value corresponding to the brightness immediately before the shutter is activated, and the shutter speed can be controlled by the light received through the diaphragm. Although the aperture value is set roughly, the shutter speed corresponds accurately to the aperture value, so the reflection metering method can realize programmable EE with a simple configuration. On the other hand, with the memory metering method, which has a light receiving element only in the viewfinder, the combination of shutter speed and aperture value must be memorized for each brightness (EV value) of the subject, making the configuration complicated. .
以上説明したようにこの発明によれば、絞り値
を実際の絞り段数よりも少ない絞り段数として粗
く記憶し、その粗く設定された絞りのもとで撮影
中にシヤツタ秒時を制御することにより、簡易な
構成でプログラム式EEが可能な反射測光装置を
提供することができる。 As explained above, according to the present invention, the aperture value is roughly stored as a number of aperture steps smaller than the actual number of aperture steps, and the shutter speed is controlled during shooting under the roughly set aperture. A reflection photometry device capable of programmable EE with a simple configuration can be provided.
図はこの発明による反射測光装置の一実施例を
示す回路図である。
１０……レベル弁別回路、１２……シヤツタ秒
時制御回路、１４……記憶回路、SPD1，SPD2…
…受光素子、OP1，OP2……演算増幅器、ＲA…
…フイルム感度導入用可変抵抗。
The figure is a circuit diagram showing an embodiment of a reflection photometry device according to the present invention. 10... Level discrimination circuit, 12... Shutter time control circuit, 14... Memory circuit, SPD 1 , SPD 2 ...
...Photodetector, OP1 , OP2 ...Operation amplifier, R A ...
...Variable resistor for introducing film sensitivity.
Claims (1)
と、絞りが開放状態のときの前記第１の受光素子
の出力に応じて絞り値を演算する絞り演算手段
と、前記絞り演算手段により得られた絞り値を所
定数の絞り段数のいずれかに弁別する弁別手段
と、前記所定数の絞り段数と同数の記憶素子を有
しレリーズ釦に応動するミラーの上昇開始時の前
記弁別手段の出力を対応する記憶素子に記憶する
記憶手段と、前記記憶手段に記憶された絞り段数
に応じて絞りを制御する絞り制御手段と、ミラー
の上昇後シヤツタ先幕およびフイルム面のうちの
少なくとも一方から反射光を受光する第２の受光
素子と、前記第２の受光素子の出力に応じてシヤ
ツタ秒時を制御するシヤツタ秒時制御手段とを具
備するプログラム式自動露出制御一眼レフレツク
スカメラの反射測光装置。1. A first light-receiving element disposed in the viewfinder, an aperture calculation means for calculating an aperture value according to the output of the first light-receiving element when the aperture is in an open state, and an aperture value obtained by the aperture calculation means. A discriminating means for discriminating an aperture value into one of a predetermined number of aperture stages, and an output of the discriminating means when a mirror starts to rise in response to a release button, the discriminating means having the same number of memory elements as the predetermined number of aperture stages. a storage means for storing information in a storage element that stores the information, an aperture control means for controlling the aperture according to the number of aperture stages stored in the memory means, and an aperture control means for controlling the aperture according to the number of aperture stages stored in the memory means; A reflection photometer for a programmable automatic exposure control single-lens reflex camera, comprising a second light-receiving element that receives light and a shutter time control means that controls a shutter time in accordance with the output of the second light-receiving element.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7853379A JPS562520A (en) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | Reflex photometry unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7853379A JPS562520A (en) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | Reflex photometry unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS562520A JPS562520A (en) | 1981-01-12 |
| JPS6136605B2 true JPS6136605B2 (en) | 1986-08-19 |
Family
ID=13664541
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7853379A Granted JPS562520A (en) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | Reflex photometry unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS562520A (en) |
-
1979
- 1979-06-21 JP JP7853379A patent/JPS562520A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS562520A (en) | 1981-01-12 |
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