JPS6131932B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、常開および常閉の両接点を有するリ
レーの耐久性試験回路に関するものである。

従来、常開接点のみを有するリレーを試験する
にはいわゆる将棋倒し回路があつた。これは、１
つの被試験リレーの常開接点を次の被試験リレー
に直列に挿入して順次多数個の被試験リレーを縦
続接続した回路であり、最初のリレーをオンにす
ると縦続接続されたリレーが次々にオンになるか
ら、最後のリレーがオンになつたことを確かめれ
ば全てのリレーが正常に動作していることを確認
できる。しかしながら、この回路ではリレーの耐
久試験をするためには最後のリレーがオンになつ
たことを検出して、最初のリレーをいつたんオフ
にしたのちタイマなどにより一定のタイミングで
再びオンにするような回路を必要とする。また、
この回路では常閉接点のみを有するリレーや常開
および常閉両接点を有するリレーの試験をするこ
とができない。

そこで常開常閉両接点を有するリレーを試験す
る回路としていわゆるＡ＆Ｂ回路があるが、この
回路の場合には不良リレーの摘出に時間がかか
り、また、リレータイミングのずれによつても回
路ストツプとなり、真の接点の信頼性テスト回路
としては不備な点が多い。

本発明は、このような欠点を解消するととも
に、常開および常閉両接点を有するリレーについ
て、多数個一度に簡単かつ確実に信頼性をテスト
するための回路を提供することを目的とするもの
である。以下、本発明の構成を図面によつて説明
する。

第１図は本発明の１つの実施例を示す回路図で
ある。図に示すように１つの被試験リレーR₁の
常開接点a₁は次の被試験リレーR₂に直列に挿入さ
れており、リレーR₂の常開接点a₂はその次の被試
験リレーR₃に直列に挿入されている。以下同様
にしてｎ個の被試験リレーが縦続接続されてい
る。被試験リレーの個数はいくらであつてもかま
わない。以上の回路Ａは上述したいわゆる将棋倒
し回路であつて公知のものである。本発明の要部
は、この将棋倒し回路Ａの最後のリレーの常開接
点ａ_oに接続された点線Ｂ内の回路にある。以
下、この部分の動作を将棋倒し回路Ａの動作と総
合して作用する。

電源スイツチＳをオンにすると常閉接点b₁から
ｂ_oまでは全て閉じているからリレーRy₂がオン
になる。このためリレーRy₂の常開接点yaと
ya′とが閉じる。常開接点yaが閉じると被試験リ
レーR₁の常開接点a₁が閉じるとともに常閉接点b₁
は開く。このため常開接点b₁からｂ_oまでの直列
回路を通つてリレーRy₂に流れていた電流はもは
や流れなくなる。しかしながら、常開接点ya′が
閉じているから常閉接点ybを通してリレーRy₂に
電流が流れ、常開接点yaは開かない。このため
被試験リレーR₁に流れる電流は保持され、常開
接点a₁は閉じたままとなる。このため次の被試験
リレーR₂が動作し常開接点a₂が閉じる。以下同様
にして被試験リレーR₃からＲ_oまでが全て動作す
る。最後の被試験リレーＲ_oが動作して常開接点
ａ_oが閉じると第１のリレーRy₁に電流が流れて
常閉接点ybが開く。このためリレーRy₂には電流
が流れなくなる。なぜなら、常閉接点b₁からｂ_o
まではこの状態においてはすべて開いているから
である。このため第２のリレーRy₂の常開接点ya
およびya′はともに開く。したがつて被試験リレ
ーR₁には電流が流れなくなり、常開接点a₁が開く
とともに常閉接点b₁が閉じる。このためリレー
R₂にも電流が流れなくなり常開接点a₂が開くとと
もに常閉接点b₂が閉じる。以下同様にして、次々
に常開接点a₃からａ_oまでが開くとともに常閉接
点b₃からｂ_oまでが閉じる。常開接点ａ_oが開くと
第１のリレーRy₁が復帰して常閉接点ybが閉じる
が、常開接点ａ_oが開くと同時に常閉接点ｂ_oが閉
じることになるから、この瞬間に初めの状態にも
どつたことになり、再び第２のリレーRy₂が動作
して上記と同じ動作をくり返す。したがつて、電
流スイツチＳを投入すると全ての被試験リレーが
正常に動作しているかぎりは永久に上述の動作を
くり返すことになる。しかしながら、R₁からＲ_o
までの被試験リレーの常開接点のうちいずれか１
つでも接触不良となれば、その常開接点に直列に
接続されたリレーが動作しなくなるからその時点
でいわゆる将棋倒しの動作は停止する。

たとえば、被試験リレーＲ_o-1の常開接点ａ_o-1
が接触不良になつたとすると、発光ダイオード
（以下、LEDと略す）La₁からLa_o-1までは点灯す
るが、残りのLEDは点灯しない。このことから
故障した接点がａ_o-1であることを即座に知るこ
とができる。また、被試験リレーR₁からＲ_oまで
の常閉接点のうちいずれか１つたとえばｂ_o-1が
接触不良になつたとすると常開接点は全て健全で
あるからいわゆる将棋倒しの動作は停止せず、し
たがつて、La₁からLa_oまでおよびLay₁のLEDは
点灯するが、常閉接点の方に接続したLEDはLb₁
からLb_o-2までが点灯するだけである。このこと
から常閉接点ｂ_o-1が故障していることを即座に
知ることができる。この場合、常閉接点b₁からｂ
_oまでの直列回路を通して第２のリレーPy₂に電流
が流れないから回路の動作は、リレーRy₂がオフ
になり、被試験リレーR₁からＲ_oまでがオンにな
りリレーRy₁がオンになつた状態で停止してい
る。また、被試験リレーR₁からＲ_oまでのうちい
ずれか１つの励磁コイルが断線したときには常開
接点が閉じないから、上述の常開接点の接触不良
と同様に取扱うことができる。また例えば常開接
点の溶着の場合にも、同一リレーの常閉接点の接
触不良の場合と同様にして不良リレーを知ること
ができる。

なお第１図の実施例のように、被試験リレーと
して２個以上の常開接点または常閉接点と有する
ものを用いるときには、前記の常開接点としては
常開接点同士で直列に接続したものを使用し、常
閉接点としては、常閉接点同士で直列に接続した
ものを使用すればよい。なお第１図においてＤは
LED保護用ダイオード、Ｒは電流制限抵抗、Ｅ
は電源である。第２図にトランスフア型接点の接
続例を示す。図中、Ｃは共通端子である。

本発明は上記のように構成されており、タイミ
ング用のタイマなどを使用しなくてもスタートス
イツチＳをオンにするだけで自動的にテストが継
続される利点があり、また、リレーに故障が発生
したときにはその不良リレーがどれであるかとい
うことを即座に知ることができるという利点があ
る。さらにまた、本発明によれば被試験リレーの
常開および常閉の両接点を同時に試験できるとい
う利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２
図は同上の要部の回路図である。 R₁，R₂…Ｒ_o：被試験リレー、a₁，a₂…ａ_o：常
開接点、b₁，b₂…ｂ_o：常閉接点、Ry₁：第１のリ
レー、Ry₂：第２のリレー、yb：第１のリレーの
常閉接点、ya，ya′：第２のリレーの常開接点。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ １つの被試験リレーの常開接点を次の被試験
   リレーに直列に挿入して順次多数個の被試験リレ
   ーを縦続接続し、最後の被試験リレーの常開接点
   に直列接続された第１のリレーの常閉接点と第２
   のリレーの常開接点との直列回路と、全ての被試
   験リレーの常閉接点を直列接続した回路とを並列
   接続して第２のリレーに直列に接続するとともに
   第２のリレーのもう１つの常開接点を最初の被試
   験リレーに直列に挿入したことを特徴とするリレ
   ーの試験回路。