JPS613076A - Measuring apparatus - Google Patents

Measuring apparatus

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JPS613076A
JPS613076A JP12559884A JP12559884A JPS613076A JP S613076 A JPS613076 A JP S613076A JP 12559884 A JP12559884 A JP 12559884A JP 12559884 A JP12559884 A JP 12559884A JP S613076 A JPS613076 A JP S613076A
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resistor
switch
voltage
time
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Naoji Suzuki
直司 鈴木
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  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable the maintaining of a high accuracy for a long time, by correcting a high resistance using a reference resistor with a low resistance value to allow the value of the reference resistor to maintain the initial value with a proper stability. CONSTITUTION:Switches S1-S9 are turned ON or OFF with a controller 3 to perform a calibration. Here, an output voltage V0 of an operational amplifier 1 is converted digitally with an A/D converter 4 and brought into the controller 3 to show a measured value on a display 5. Then, when the calibration is done, the switch S8 is turned ON and the switch S9 OFF while the switch S1 is turned ON and the switches S2 and S3 OFF and the switch S5 is connected to a contact (b). On the other hand, when the value of output voltage V0 after T time is represented by AT1, the value of voltage VC after the removal of an off-set voltage CT1 and the value of the voltage VC with the aging of zero C01, the values AT1, CT1 and the like are measured and memorized into the controller 3 in case aging occurs in resistances R1 and R2. After the computation thereof, the measured value is divided by the results and is shown on the display 5 as cleared of aging in the resistances R1 and R2.

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は微弱電流を測定したシ或は高抵抗を測定する
測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION "Field of Industrial Application" The present invention relates to a measuring device for measuring weak current or high resistance.

「従来技術」 電流測定モード及び抵抗測定モードを備えたディジタル
表示影測定器がちる。この測定器では電流測定モードで
は入力回路に電流−電圧変換器を配置し、被測定電流を
電圧に変換し、その電圧全AD変換して被測定電流値を
ディジタル表示する。
``Prior art'' A digital display shadow measuring device equipped with current measurement mode and resistance measurement mode. In this measuring device, in the current measurement mode, a current-to-voltage converter is disposed in the input circuit to convert the current to be measured into a voltage, and the voltage is all AD converted to digitally display the value of the current to be measured.

また抵抗測定モードでは入力回路に抵抗−電圧変換器を
配置し、被測定抵抗器の抵抗値を電圧に変換し、この電
圧iAD変換してディジタル表示する構造となっている
In the resistance measurement mode, a resistance-voltage converter is arranged in the input circuit to convert the resistance value of the resistor to be measured into a voltage, and this voltage is converted into iAD and digitally displayed.

第11図に従来の電流−電圧変換器を、第12図に従来
の抵抗−電圧変換器を示す。第11図に示した電流−電
圧変換器において出力電圧V。はVo=−IxR,とな
る。被測定電流Ixが微弱電流の場合出力電圧V。をA
D変換に適した適当なレベルの電圧値にするには抵抗器
R,の値を大きな値に選定しなければならない。例えば
1マイクロアンペアの電流を測定する場合に出力電圧V
FIG. 11 shows a conventional current-voltage converter, and FIG. 12 shows a conventional resistance-voltage converter. The output voltage V in the current-voltage converter shown in FIG. becomes Vo=-IxR. Output voltage V when the current to be measured Ix is a weak current. A
In order to obtain a voltage value at an appropriate level suitable for D conversion, the value of resistor R must be selected to a large value. For example, when measuring a current of 1 microampere, the output voltage V
.

として1ポルトを得るためにはR,=IQ”Ωとなる。In order to obtain 1 port, R,=IQ''Ω.

一方第12図に示した抵抗−電圧変換器でけV。On the other hand, in the resistance-voltage converter shown in FIG.

の抵抗値を被測定抵抗器RxO値に近い大きな抵抗値の
ものとしなければならない。
The resistance value of the resistor must be a large resistance value close to the RxO value of the resistor to be measured.

「発明が解決しようとする問題点」 このように測定条件によって大きい抵抗値の抵抗器を用
いなければならないが、電流測定モード及び抵抗測定モ
ードでは上記した式から明らかなように使用する抵抗器
R,の値が直接測定値に影響を与える。%に抵抗値が大
きい抵抗器は温度変化、湿度の変化等に影響され易く経
時変化も比較的大きく現われる傾向がある。従って高抵
抗を用いる測定モードの精度を初期の状態に維持するこ
とはむずかしいこととされている。
"Problem to be Solved by the Invention" As described above, depending on the measurement conditions, it is necessary to use a resistor with a large resistance value, but in the current measurement mode and resistance measurement mode, as is clear from the above formula, the resistor R used is , directly affects the measured value. %, a resistor with a high resistance value is easily affected by changes in temperature, humidity, etc., and tends to show relatively large changes over time. Therefore, it is difficult to maintain the accuracy of the measurement mode using high resistance at the initial state.

このため測定器内に基準電圧源と基準抵抗器を設け、基
準電圧源と基準抵抗器によって測定値を校正することが
考えられるが、基準抵抗器の抵抗値を大きい値に設定す
ることは安定性を考慮すれば明らかなように不利である
。基準抵抗器として採シ得る抵抗値としてはIMΩ程度
が限度とされている。
For this reason, it is conceivable to provide a reference voltage source and a reference resistor in the measuring instrument and calibrate the measured value using the reference voltage source and reference resistor, but setting the resistance value of the reference resistor to a large value is not stable. This is obviously a disadvantage if you take gender into account. The limit of the resistance value that can be adopted as a reference resistor is about IMΩ.

IMΩの基準抵抗器によって数100MΩ以上の高抵抗
を使った回路を校正した場合、その校正精度は低いもの
となる。
When a circuit using a high resistance of several hundred MΩ or more is calibrated using a reference resistor of IMΩ, the calibration accuracy will be low.

[問題点を解決するための手段」 この発明では電流測定モード及び抵抗測定モードの何れ
にもレンジ切換回路を具備している点に着目し、抵抗値
が低い抵抗器を用いたレンジにおいて基準抵抗器によっ
て校正を行ない、その校正されたレンジに用いた抵抗器
を用いて更に高い抵抗器を用いるレンジを校正するよう
にしたものである。
[Means for Solving the Problems] This invention focuses on the fact that both the current measurement mode and the resistance measurement mode are equipped with a range switching circuit. The resistor used in the calibrated range is used to calibrate a range using a higher resistor.

第1図に電流−電圧変換器の校正時の接続状態を示す。FIG. 1 shows the connection state during calibration of the current-voltage converter.

この接続状態は基準抵抗器Rrによって比較的抵抗値が
低い例えばIOMΩ程度の抵抗値を持つ抵抗器R,の抵
抗値(演算増幅器1の利得と等価)を校正している状態
を示している。
This connection state shows that the resistance value (equivalent to the gain of the operational amplifier 1) of the resistor R, which has a relatively low resistance value, for example, about IOMΩ, is being calibrated by the reference resistor Rr.

第2図は第1図で校正した抵抗器R,より大きい抵抗値
を持つ抵抗器Rz ’に抵抗器R,によって校正してい
る状態を示す。
FIG. 2 shows a state in which calibration is performed using the resistor R calibrated in FIG. 1 and a resistor Rz' having a larger resistance value.

このようにこの発明では基準抵抗器R,,によって抵抗
値が比較的小さい第1抵抗器R1を校正すると共に、こ
の第1抵抗器R1を使って更に高い抵抗値を持つ第2抵
抗器R2を校正することを特徴とするものである。
In this way, in this invention, the first resistor R1 having a relatively small resistance value is calibrated using the reference resistor R,, and the second resistor R2 having an even higher resistance value is calibrated using the first resistor R1. It is characterized by being calibrated.

その具体的な実施例は第8図及び第9図に示している。A concrete example thereof is shown in FIGS. 8 and 9.

「作用」 第1図においてスイッチS。を接点aに接続し、基準電
圧源■rを基準抵抗器R1の一端に接続する。この接続
により基準電流源が構成され演算増幅器1に基準電流■
、が与えられる。基準電流■。
"Function" In FIG. 1, switch S. is connected to the contact a, and the reference voltage source ■r is connected to one end of the reference resistor R1. This connection constitutes a reference current source, and the reference current is supplied to operational amplifier 1.
, is given. Reference current■.

が与えられたときの出方電圧を■olとする・スイッチ
Soを接点すに接続し基準抵抗器几、の一端な共通電位
点2に接続する。このときの出°カ電圧をv。2とする
。このVC2は演算増幅器1のオフセラ) 電圧11[
し、VOI −VO2を演算してオフセット電圧を除去
した値VCを求める。経時ゼロのときのvcの値をCo
、 、 ’r時間後のVCの値をCT。
The output voltage when is given is ∆ol. Connect the switch So to the contact point and connect it to the common potential point 2, which is one end of the reference resistor. The output voltage at this time is v. Set it to 2. This VC2 is off celler of operational amplifier 1) Voltage 11 [
Then, VOI - VO2 is calculated to obtain a value VC with the offset voltage removed. The value of vc at zero time is Co
, , 'CT the value of VC after r time.

とすると、 αIVi抵抗R1の経時変化分、βは基準抵抗器Rrの
経時変化分、γけ基準電圧源Vrの経時変化分を表わす
Then, αIVi represents the change over time in the resistance R1, β represents the change over time in the reference resistor Rr, and γ represents the change over time in the reference voltage source Vr.

この回路の変化の比はCTI/Colとなる。経時がゼ
ロならばCT+/Co1= 1となる。
The ratio of changes in this circuit is CTI/Col. If the time elapsed is zero, CT+/Co1=1.

ここで第3図に示す状態で入力電流Iを与え経時がゼロ
のときの出力電圧voの値をAOi、T時間後に電流工
を与えたときの出力電圧voの値をAT+とすると、 A01=−RI  I  ・−・・・・・・・・・・・
・・・・・(3)ATt=−几t(1+α1)1 ・・
・・・・・(4)となる。
Here, in the state shown in Fig. 3, if the value of the output voltage vo when the input current I is applied and the elapsed time is zero is AOi, and the value of the output voltage vo when the current is applied after T time is AT+, then A01= -RI I ・・・・・・・・・・・・・・・
...(3) ATt=-几t(1+α1)1...
...(4).

A T IをCTI/Cotで除した値X1を求めると
Xlは経時変化を除去した校正された値となる。
When a value X1 is obtained by dividing A T I by CTI/Cot, X1 becomes a calibrated value with time-dependent changes removed.

ζ−R1・Ir・(1+β−γ) となる。基準抵抗器Rrの経時変化βと基準電圧源vr
の経時変化γは非常に小さいものとすればβ及びγは無
視することができる。よって(5)式の演算によって求
めたXIは抵抗器R1の経時変化α1を金遣ない値とな
り抵抗器R1の経時変化α1は校正されたことになる。
ζ-R1・Ir・(1+β-γ). Change over time β of reference resistor Rr and reference voltage source vr
If the time-dependent change γ is assumed to be very small, β and γ can be ignored. Therefore, XI obtained by calculation of equation (5) becomes a value that does not account for the change over time α1 of the resistor R1, and the change over time α1 of the resistor R1 is calibrated.

次に第2図に示す状態に切換えて第1抵抗器R1によっ
て第2抵抗器R2を校正する。経時ゼロのときの出力電
圧VOをA(+z、T時間後の出力電圧Vo k AT
2 、経時ゼロのときのオフセット電圧を除去した実測
値をCo2.T時間後の実測値をcT2とすると、 Ao2 =  R2・I この場合は第1抵抗器R,も高抵抗であるためこを演算
する。つ捷り となり、基準抵抗器Rrの経時変化βと、基準電圧源V
rの経時変化2γだけとなり、第1.第2抵抗器R1・
R2の経時変化は除去される。
Next, the state is changed to the state shown in FIG. 2, and the second resistor R2 is calibrated by the first resistor R1. The output voltage VO at zero time is A(+z, the output voltage after T time Vo k AT
2. The actual measured value after removing the offset voltage at zero time is Co2. If the actual value after T time is cT2, then Ao2 = R2·I In this case, since the first resistor R also has a high resistance, this is calculated. As a result, the change over time β of the reference resistor Rr and the reference voltage source V
The change over time of r is only 2γ, and the first. Second resistor R1・
The aging of R2 is removed.

以上の様な演算によって低い抵抗から順次高い抵抗を校
正していくことによって精度の高い校正を行なうことが
できる。上述では2段階の場合を証明したが、n段階の
校正を行なうことができる。
Highly accurate calibration can be performed by calibrating the resistances from low to high using the calculations described above. Although the two-stage case has been proven above, n-stage calibration can be performed.

n段階校正した場合の誤差ρはρ−β+nγとなる。The error ρ in the case of n-step calibration is ρ−β+nγ.

次に抵抗−電圧変換器の場合について説明する。Next, the case of a resistance-voltage converter will be explained.

先ず第4図に示すように標準抵抗RXを接続した状態で
出力電圧vOの経時ゼロのときの値をAo、T時間後の
V。の値をATとすると、次に第5図に示す状態に切換
える。このとき基準電圧源■r2けVrIの電圧よシ高
い電圧を発生するものとする。スイッチSoをオンにし
て演算増幅器工のオフセット電圧を測定し、オフセント
電圧を除去した後の値VCの経時ゼロのときの値をCo
、 、 T時間後の値をCT+とすると、となり、前記
電流−電圧変換器の場合と同様にを演算する。つまり il  (1+α1)(1+、&)(1+γ2)γ1.
γ2 は基準電圧源vr、、Vr2の経時変化でありこ
れはγl=γ2であればゼロとなる。またβは基準抵抗
器urの経時変化でありこれも充分小さいからXlけ実
質的VCRx・V r 1/R1で決まる。
First, as shown in FIG. 4, when the standard resistor RX is connected, the value of the output voltage vO at zero over time is Ao, and V after T time. If the value of is AT, then the state is switched to the state shown in FIG. At this time, it is assumed that a voltage higher than the voltage of the reference voltage source ■r2 times VrI is generated. Turn on the switch So, measure the offset voltage of the operational amplifier, and after removing the offset voltage, the value when VC reaches zero over time is Co.
, , If the value after T time is CT+, then it is calculated as in the case of the current-voltage converter. That is, il (1+α1)(1+, &)(1+γ2)γ1.
γ2 is the change over time of the reference voltage sources vr, , Vr2, which becomes zero if γl=γ2. Further, β is the change over time of the reference resistor ur, and since this is also sufficiently small, it is determined by Xl substantially VCRx·V r 1/R1.

従って第6式を演算することにより抵抗器R1の経時変
化α1を除去することができる。
Therefore, by calculating the sixth equation, the change over time α1 of the resistor R1 can be removed.

次により高い抵抗器R2を校正するには第5図及び第6
図に示すようにR1の位置にR2を接続し、基準抵抗器
■rの位置に几1を接続する。この状態で、 を測定し、 の演算を行なう。つまり となり、R,、R2の変化による誤差髪因はなくなる。
To calibrate the next higher resistor R2, see Figures 5 and 6.
As shown in the figure, connect R2 to the position of R1, and connect 几1 to the position of the reference resistor ■r. In this state, measure and calculate. In other words, the cause of error due to changes in R, , R2 is eliminated.

低抵抗から順次この校正を行なうと、n回目の誤差ρは
、 ρ=γ1−β−nγ2 γl  ;r2の時は ρ −−β −(ロ − 1  )  r 2となる。
When this calibration is performed sequentially starting from the lowest resistance, the n-th error ρ becomes ρ=γ1−β−nγ2 γl; when r2, ρ−−β−(r−1) r2.

「実施例」 第8図及び第9図に具体的な実施例を示す。第8図は電
流−電圧変換器の場合、第9図は抵抗−電圧変換器の場
合を示す。
"Example" A specific example is shown in FIG. 8 and FIG. 9. FIG. 8 shows the case of a current-voltage converter, and FIG. 9 shows the case of a resistance-voltage converter.

第8図及び第9図において3はマイクロコンピユータに
よって構成した制御器を示す。この制御器3によってス
イッチ81〜S9をオン、オフ操作し、上述した校正を
行なう。このとき演算増幅器1の出力電圧VOをAD変
換器4によってAD変換して制御器3に取込み表示器5
に測定値を表示すると共に校正動作の場合はCOI *
 cT、 l Aol +ATI 、 CO2、cT2
. AO2、AT2 k記憶し、校正のための演算を行
なう。
In FIGS. 8 and 9, reference numeral 3 indicates a controller configured by a microcomputer. The controller 3 turns on and off the switches 81 to S9 to perform the above-described calibration. At this time, the output voltage VO of the operational amplifier 1 is AD converted by the AD converter 4 and input to the controller 3, and the display 5
In addition to displaying the measured value, in the case of calibration operation, the COI *
cT, l Aol + ATI, CO2, cT2
.. AO2, AT2k are stored and calculations are performed for calibration.

第8図に示す電流−電圧変換器において、校正を行なう
場合は先ずスイッチS8をオン、S9をオフとし、スイ
ッチ31をオン、S2 、Sakオフにし、スイッチS
se接点すに接続することにより第3図の状態にするこ
とができる。この状態で入力端子に基準電流源■oを接
続し、基準電流I全方え、A、 01*又はA T 1
をタリ定する。A 01は初期出荷時に制御器3に記憶
させておく、その後ユーザにおいて校正を行なうときA
T+を測定すること表なる。
In the current-voltage converter shown in FIG. 8, when performing calibration, first turn on switch S8, turn off switch S9, turn on switch 31, turn off S2, Sak, and turn off switch S
By connecting to the SE contact, the state shown in FIG. 3 can be achieved. In this state, connect the reference current source ■o to the input terminal, and apply the reference current I, A, 01* or A T 1
Determine. A01 is stored in the controller 3 at the time of initial shipment, and then when the user performs calibration, A01 is stored in the controller 3 at the time of initial shipment.
This means measuring T+.

次にスイッチSatオフ、S9をオン・S、、S3全オ
ン、Szkオフ、スイッチS、を接点bVC。
Next, switch Sat off, S9 on/S, S3 all on, Szk off, switch S, contact bVC.

S6を接点aに接続することにより第1図に示した状態
にすることができる。この状態でCo+’を出荷時に測
定し制御器3に記憶しておく。またスイッチS3をオフ
にし、S、、S2をオン、スイッチS4を接点bK液接
触せ、スイッチSst”接点aに接触させることにより
第2図に示した状態にすることができる。
By connecting S6 to contact a, the state shown in FIG. 1 can be achieved. In this state, Co+' is measured at the time of shipment and stored in the controller 3. Further, the state shown in FIG. 2 can be achieved by turning off the switch S3, turning on S,, S2, and bringing the switch S4 into contact with the contact bK and the switch Sst'' with the contact a.

よってこの状態でCO2を測定することができる。Therefore, CO2 can be measured in this state.

これらCotとCo2h出荷時に制御器3に記憶してお
く、出荷時はCT+及びcT2はCo1−CT1.Co
2−CTzであるため校正のための演算は測定値を1で
除すこととなる。
These Cot and Co2h are stored in the controller 3 at the time of shipment.At the time of shipment, CT+ and cT2 are Co1-CT1. Co
Since it is 2-CTz, the calculation for calibration is to divide the measured value by 1.

時間が経過してR,、、R2に経時変化が起きた場合ユ
ーザにおいてAT、 、 AT2及びcT、 、 cT
2を測定し、これを制御器3に記憶させる。この記憶値
を使ってCTI/Cot及びCT2/CO2を演算し。
When time passes and a change occurs in R2, the user's AT, , AT2 and cT, , cT
2 and store it in the controller 3. Using this stored value, calculate CTI/Cot and CT2/CO2.

その演算結果で測定値を除すことによりR,、R2の経
時変化を除去した測定値を表示器5に表示させることが
できる。
By dividing the measured value by the calculation result, it is possible to display the measured value on the display 5 with the time-dependent change of R, R2 removed.

第9図に示す抵抗−電圧変換器の場合はスイッチS8を
オン、S、をオフ、スイッチSlをオン、S2 、S3
をオフ、スイッチS5を接点bK液接触せ、スイッチS
7を接点aに接触させることにより第4図に示した状態
にすることができる。この状態で外部標準抵抗器Rxを
測定しAOIを求める。このAo+Vi出荷時に制御器
3に記憶しておく。
In the case of the resistance-voltage converter shown in FIG. 9, switch S8 is turned on, S is turned off, switch Sl is turned on, S2, S3
, switch S5 is brought into contact with contact bK, and switch S5 is turned off.
By bringing 7 into contact with contact a, the state shown in FIG. 4 can be achieved. In this state, measure the external standard resistor Rx to find the AOI. This Ao+Vi is stored in the controller 3 at the time of shipment.

次にスイッチS8をオフにし、スイッチS1 。Next, switch S8 is turned off, and switch S1 is turned off.

S3をオン、S2をオフ、スイッチS5を接点すに、ス
イッチS6を接点aに、スイッチS7を接点すに接触さ
せることにより第5図に示した状態にすることができる
。この状態でスイッチS9をオン、オフ操作してオフセ
ット電圧を除去したCo1を求め出荷時にこれを制御器
3に記憶させる。このようにして出荷時にCOI 、 
CO2を測定して制御器3に記憶する。出荷後時間の経
過を見て校正作業を行なう。この校正作業によりCT1
1 cT2を測定し、CT+/Co1及びCT2/CO
2を演算し、この演算値の逆数全測定値AT+ 、 A
’r2に乗算することにより抵抗器R1とR2の経過変
化を除去した正しい抵抗値を表示することができる。
The state shown in FIG. 5 can be achieved by turning on S3, turning off S2, bringing switch S5 into contact, bringing switch S6 into contact with contact a, and bringing switch S7 into contact with contact . In this state, the switch S9 is turned on and off to obtain Co1 from which the offset voltage has been removed, and this is stored in the controller 3 at the time of shipment. In this way, COI at the time of shipment,
CO2 is measured and stored in the controller 3. Calibration work is carried out based on the passage of time after shipment. Through this calibration work, CT1
1 Measure cT2, CT+/Co1 and CT2/CO
2, and the reciprocal of this calculated value is the total measured value AT+, A
By multiplying by 'r2, it is possible to display the correct resistance value that eliminates the change over time of the resistors R1 and R2.

制御器3における制御の様子を第10図にフローチャー
トで示す。
The state of control in the controller 3 is shown in a flowchart in FIG.

ステップ■で外部校正が否かを判定する。外部校正の場
合は外部校正ルーチンL、に分岐する。
In step (2), it is determined whether external calibration is required. In the case of external calibration, the process branches to external calibration routine L.

外部校正ルーチンL、ではステップ■で第3図の状態又
は第4図、第6図の状態に切換えてA、01゜AC+2
を求める。ステップ■でco、 l 002を求めこれ
らを記憶する。
In the external calibration routine L, in step ■, switch to the state shown in Figure 3 or the state shown in Figures 4 and 6, and set A, 01°AC+2.
seek. In step (2), find co, l 002 and store them.

外部校正が終了すると、ステップ■で経時変化を校正す
るモードが否かを判定する。経時変化を校正するモード
のときルーチンL2に分岐する。
When the external calibration is completed, it is determined in step (2) whether or not the mode for calibrating changes over time is selected. When the mode is to calibrate changes over time, the process branches to routine L2.

ルーチンL2ではステップ■でcT、、CT2を求め、
ステップ■でCo+/CT+又Fi”02 ・Cot/
CT2 ’CT+の演算を行ない、その演算結果を記憶
する。
In routine L2, calculate cT, , CT2 in step ■,
Step ■Co+/CT+also Fi”02 ・Cot/
CT2 ' Performs CT+ calculation and stores the calculation result.

ステップ■で測定モードと判定した場合はステップので
測定値ATl又けAT2を求めその測定値ATI 、 
ATzにステップ■において演算により校正された値X
、、X2を求める。ステップ■でその校正された値X1
とXzk表示器5に表示させる。
If it is determined that it is the measurement mode in step ■, step 2 calculates the measured value AT1 and AT2, and calculates the measured value ATI,
The value X calibrated by calculation in step ■ to ATz
,, find X2. The calibrated value X1 in step ■
is displayed on the Xzk display 5.

「発明の効果」 上述したようにこの発明によれば抵抗値の低い基準抵抗
器Rrを用いて高抵抗を校正することができる。この結
果基準抵抗器RrO値は安定性よく初期値全維持するこ
とができ長期にわたって高い精度を維持することができ
る。
"Effects of the Invention" As described above, according to the present invention, high resistance can be calibrated using the reference resistor Rr having a low resistance value. As a result, the reference resistor RrO value can be maintained at its initial value with good stability, and high accuracy can be maintained over a long period of time.

「変形実施例」 第13図はこの発明の変形実施例を示す。この例ではス
イッチ84 、Ss 、86に切換ることにより第14
図及び第15図に示す状態に切換えて抵抗器R1とR2
の経時変化を校正するようにした場合を示す。
"Modified Embodiment" FIG. 13 shows a modified embodiment of the present invention. In this example, by switching to switches 84, Ss, and 86, the 14th
Switch to the state shown in Fig. 15 and resistors R1 and R2.
This shows the case where the change over time is calibrated.

尚上述では電流−電圧変換器と抵抗−電圧変換器音別々
に図示したが実用上はスイッチの切換により演算増幅器
1を何れにも共用するものであり一体の測定装置として
構成される。
In the above description, the current-voltage converter and the resistance-voltage converter are shown separately, but in practice, the operational amplifier 1 is shared by both by switching a switch, and is configured as an integrated measuring device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第7図はこの発明の詳細な説明するための接
続図、第8図及び第9図はこの発明の詳細な説明するた
めの接続図、第10図は第8図及び第9図に示した実施
例の動作を説明するためのフローチャート、第11図及
び第12図は従来の測定装置を説明するための接続図、
第13図乃至第15図はこの発明の変形実施例を説明す
るだめの接続図である。 1:演算増幅器、2:共通電位点、3:制御器。 4:AD変換器、5:表示器、J 、R,2:レンジ切
換用高抵抗器、Rr二基準抵抗器、Vr:基準電圧源。 特許出願人   クヶグ理研工業株式会社代  理  
人    草 野    車外 1日 ρ( 汁 20 歩3日 牛40        第5に 卆6[ii2]         オフ図オ 80 々9囲 柑 1o口 第11圏       沙12記 牛14囮       第15図 手続補正書(自発)
1 to 7 are connection diagrams for explaining the present invention in detail, FIGS. 8 and 9 are connection diagrams for explaining the invention in detail, and FIG. 10 is the connection diagram for explaining the invention in detail. A flowchart for explaining the operation of the embodiment shown in the figure, FIGS. 11 and 12 are connection diagrams for explaining the conventional measuring device,
FIGS. 13 to 15 are connection diagrams for explaining modified embodiments of the present invention. 1: operational amplifier, 2: common potential point, 3: controller. 4: AD converter, 5: Display, J, R, 2: High resistor for range switching, Rr two reference resistors, Vr: Reference voltage source. Patent applicant Kugagu Riken Kogyo Co., Ltd. Agent
People Grass Field Outside the car 1 day rho (Soup 20 Walking 3 days cow 40 5th 卆6 [ii2] Off Figure O 80 9 Enkan 1o Mouth 11th area Sha 12 Record cow 14 decoy Figure 15 Procedure amendment (voluntary) )

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)抵抗値が比較的小さい基準抵抗器と安定性が高い
基準電圧源とを有し、この基準抵抗器と基準電圧源を使
って第1レンジ切換用抵抗器を校正し、その校正された
第1レンジ切換用抵抗器と基準電圧源を使って上記第1
レンジ切換用抵抗器より抵抗値が大きい第2レンジ切換
用抵抗器を校正することを特徴とした測定装置。
(1) It has a reference resistor with a relatively small resistance value and a highly stable reference voltage source, and uses this reference resistor and reference voltage source to calibrate the first range switching resistor. The above first range switching resistor and reference voltage source are used.
A measuring device characterized in that it calibrates a second range switching resistor whose resistance value is larger than that of the range switching resistor.
JP12559884A 1984-06-18 1984-06-18 Measuring apparatus Granted JPS613076A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5201566A (en) * 1991-03-25 1993-04-13 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Front body structure for vehicles
JPH09281163A (en) * 1996-04-18 1997-10-31 Hewlett Packard Japan Ltd Apparatus for measuring impedance

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US5201566A (en) * 1991-03-25 1993-04-13 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Front body structure for vehicles
JPH09281163A (en) * 1996-04-18 1997-10-31 Hewlett Packard Japan Ltd Apparatus for measuring impedance

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