JPS613024A - 光フアイバの波長分散測定装置 - Google Patents
光フアイバの波長分散測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ファイバの入力端と出力端が遠く離れてい
る測定環境で、光ファイバの波長分散を測定する装置に
関する。特に、参照信号伝送用光ファイバを用いずに、
波長分散を求めるための遅延時間差を測定する装置に関
する。
る測定環境で、光ファイバの波長分散を測定する装置に
関する。特に、参照信号伝送用光ファイバを用いずに、
波長分散を求めるための遅延時間差を測定する装置に関
する。
光フアイバ中を光信号が伝搬する速度、すなわち遅延時
間は光信号の波長によって異なる。したがって、波長拡
がりがある光源から送出された光パルス信号のパルス幅
は、光ファイバを伝搬した後に拡がるために、光信号の
伝送速度が制限される。したがって、光ファイバの遅延
時間の波長依存性、すなわち光の波長に依存して群速度
が異なることによって生ずる波長分散を評価することは
、光通信装置を設計する上で重要である。
間は光信号の波長によって異なる。したがって、波長拡
がりがある光源から送出された光パルス信号のパルス幅
は、光ファイバを伝搬した後に拡がるために、光信号の
伝送速度が制限される。したがって、光ファイバの遅延
時間の波長依存性、すなわち光の波長に依存して群速度
が異なることによって生ずる波長分散を評価することは
、光通信装置を設計する上で重要である。
従来の波長分散の測定方法には、大別して■パルス法、
■位相法の二通りがある。
■位相法の二通りがある。
パルス法は、波長の異なる光パルスを光ファイバに入射
し、それぞれの光パルスの遅延時間差を測定して波長分
散を算出する方法である。この方法の測定精度は、光パ
ルス幅、測定電気系のジッタおよび帯域で制限され、５
Ｑ ｐｓｅｃ以下である。
し、それぞれの光パルスの遅延時間差を測定して波長分
散を算出する方法である。この方法の測定精度は、光パ
ルス幅、測定電気系のジッタおよび帯域で制限され、５
Ｑ ｐｓｅｃ以下である。
さらに、光源にパルス発振半導体レーザを使用したとき
は、そのダイナミックレンジは１５ｄＢにすぎず、長尺
光ファイバの測定には不充分である。
は、そのダイナミックレンジは１５ｄＢにすぎず、長尺
光ファイバの測定には不充分である。
また、光源にファイバラマンレーザを使用したときは、
ダイナミックレンジは大きいが、測定系が大規模でしか
も複雑になり屋外の測定には適さなかった。
ダイナミックレンジは大きいが、測定系が大規模でしか
も複雑になり屋外の測定には適さなかった。
位相法は、変調された光信号の光フアイバ伝搬前後の位
相差を測定して波長分散を算出する方法である。この方
法は、狭帯域選択受信が可能であり、光源にパルス発振
半導体レーザを使用した場合でも、３０６８以上の大き
いダイナミックレンジが得られる。さらに、光源の変調
周波数をＩＣＩ（ｚ、位相差測定器の角度分解能を０．
１°とすれば、遅延時間の測定精度は０．３ ｐｓｅｃ
になり非常に優れている。
相差を測定して波長分散を算出する方法である。この方
法は、狭帯域選択受信が可能であり、光源にパルス発振
半導体レーザを使用した場合でも、３０６８以上の大き
いダイナミックレンジが得られる。さらに、光源の変調
周波数をＩＣＩ（ｚ、位相差測定器の角度分解能を０．
１°とすれば、遅延時間の測定精度は０．３ ｐｓｅｃ
になり非常に優れている。
第５図は、従来の位相法による波長分散の測定装置であ
る。出力光の波長が異なるｎ個のレーザ光源１２＋ 〜
１２イの中から、発振器１１により強度変調された光信
号は、切換回路１３により一つの光信号が選択され、被
試験光ファイバ１５に入射される。
る。出力光の波長が異なるｎ個のレーザ光源１２＋ 〜
１２イの中から、発振器１１により強度変調された光信
号は、切換回路１３により一つの光信号が選択され、被
試験光ファイバ１５に入射される。
光信号は光電気変換器１７により電気信号に変換され、
増幅器１９により増幅されたのちに、位相差測定器２１
の信号入力端子に人力される。
増幅器１９により増幅されたのちに、位相差測定器２１
の信号入力端子に人力される。
波長の異なる光信号の位相差を測定するためには、測定
信号光の他に参照信号光が必要である。
信号光の他に参照信号光が必要である。
被試験光ファイバ１５の入出力端が同一の場所にある場
合（たとえば布設前のドラムに巻かれている状Ｈ）では
、発振器１１の出力信号を分岐して位相差測定器２１の
参照信号入力端子に入力すればよい。しかし、被試験光
ファイバ１５の入出力端が遠く離れている屋外での測定
では、第５図に示すように参照信号用レーザ２３を別の
参照信号伝送用光ファイバ２４に伝送させ、光電気変換
器１８および増幅器１９を通して位相差測定器２１の参
照信号入力端子に入力する。
合（たとえば布設前のドラムに巻かれている状Ｈ）では
、発振器１１の出力信号を分岐して位相差測定器２１の
参照信号入力端子に入力すればよい。しかし、被試験光
ファイバ１５の入出力端が遠く離れている屋外での測定
では、第５図に示すように参照信号用レーザ２３を別の
参照信号伝送用光ファイバ２４に伝送させ、光電気変換
器１８および増幅器１９を通して位相差測定器２１の参
照信号入力端子に入力する。
各々のレーザの測定信号光が、順次切換回路１３により
選択切り換えされ被試験光ファイバ１５に入射される。
選択切り換えされ被試験光ファイバ１５に入射される。
たとえば、光フアイバ出力端のレーザ１２、を基準にし
たレーザ１２．の測定信号光の相対位相差θ＋＋”Ｌ（
ｉ ＝２．３． ・＝、ｎ）を測定し、光フアイバ入力
端においても同様にθＩｆ″′（１＝２＋３＋・・・＋
ｎ）を測定する。この測定された相対位相差より遅延時
間の波長依存性が求まる。すなわち、波長分散が求まる
。
たレーザ１２．の測定信号光の相対位相差θ＋＋”Ｌ（
ｉ ＝２．３． ・＝、ｎ）を測定し、光フアイバ入力
端においても同様にθＩｆ″′（１＝２＋３＋・・・＋
ｎ）を測定する。この測定された相対位相差より遅延時
間の波長依存性が求まる。すなわち、波長分散が求まる
。
このように、従来の測定力法では、参照信号を被試験光
ファイバの入力側から出力側に伝送しなければならない
。そのためには、参照信号伝送用のレーザ、被試験光フ
ァイバとは別の参照信号伝送用の光ファイバおよび参照
信号受信用の受信回路が必要であり、測定の装置が複雑
になるばかりでなく、参照信号伝送用光ファイバが利用
できない場合には、光ファイバの波長分散を遠端で測定
することは事実上不可能であった。
ファイバの入力側から出力側に伝送しなければならない
。そのためには、参照信号伝送用のレーザ、被試験光フ
ァイバとは別の参照信号伝送用の光ファイバおよび参照
信号受信用の受信回路が必要であり、測定の装置が複雑
になるばかりでなく、参照信号伝送用光ファイバが利用
できない場合には、光ファイバの波長分散を遠端で測定
することは事実上不可能であった。
また、光ファイバの遅延時間は波長依存性のほかに、約
１００ｐｓｅｃ／ｋｍ／ ’ Ｃの温度依存性があるこ
とが知られており、従来の方法では被試験光ファイバと
参照信号伝送用光ファイバの周辺温度がわずかに変化す
るだけで、大きな遅延時間差が生し測定誤差となる欠点
があった。
１００ｐｓｅｃ／ｋｍ／ ’ Ｃの温度依存性があるこ
とが知られており、従来の方法では被試験光ファイバと
参照信号伝送用光ファイバの周辺温度がわずかに変化す
るだけで、大きな遅延時間差が生し測定誤差となる欠点
があった。
本発明は、１−記の欠点を解決するもので、参照信号伝
送用光ソアイハを用いずに、測定信号光と参照信号光と
が、同時に被試験光ファイバを通して伝送することがで
き、しかも測定４６度が高い装置を堤供することを目的
とする。
送用光ソアイハを用いずに、測定信号光と参照信号光と
が、同時に被試験光ファイバを通して伝送することがで
き、しかも測定４６度が高い装置を堤供することを目的
とする。
本発明は、測定信号光と参照信号光とを同一の光ファイ
バで伝送するために、合波器と分波器とを備えたことを
特徴とする。
バで伝送するために、合波器と分波器とを備えたことを
特徴とする。
すなわち、出力光の波長が異なる複数のシー４ノ光源と
、この複数のレーザ光源の出力光を一つの特定周波数で
強度変調する変調手段と、複数のレーザ光源の出力光の
一つを切換選択する切換回路と、この切換回路により選
択された光信号を被試験光ファイバの一端に入射する手
段と、被試験光ファイバの他端から出射される光信号を
電気信号に変換する第一の光電気変換器と、特定周波数
で強度変調された一つの参照信号伝送用レーザ光源と、
このレーデ光源の出力光を被試験光ファイバの他端に伝
送する手段と、被試験光ファイバで伝送された参照光信
号を電気信号に変換する第二の光電気変換器と、第二の
光電気変換器の出力電気信号を参照信号として、第一の
光電気変換器の出力電気信号から複数のレーザ光源につ
いて特定周波数の変調成分の相対位相差を測定する手段
とを倫えた光ファイバの波長分散測定装置において、参
照信号伝送用シー４ノ光源は、その出力光の波長が複数
のレーザ光源の出力光の波長のいずれとも異なる波長で
あり、上記参照信月を伝送する手段は、参照信号伝送用
レーザ光源の出力光を切換回路により選択された光信号
と合波して被試験光ファイバの一端に入射させる手段と
、被試験光ファイバの他端で参照信号伝送用レーザ光源
の出力光を複数のレーザ光源の出力光から分前する波長
分離手段とを備えたことを特徴とする。
、この複数のレーザ光源の出力光を一つの特定周波数で
強度変調する変調手段と、複数のレーザ光源の出力光の
一つを切換選択する切換回路と、この切換回路により選
択された光信号を被試験光ファイバの一端に入射する手
段と、被試験光ファイバの他端から出射される光信号を
電気信号に変換する第一の光電気変換器と、特定周波数
で強度変調された一つの参照信号伝送用レーザ光源と、
このレーデ光源の出力光を被試験光ファイバの他端に伝
送する手段と、被試験光ファイバで伝送された参照光信
号を電気信号に変換する第二の光電気変換器と、第二の
光電気変換器の出力電気信号を参照信号として、第一の
光電気変換器の出力電気信号から複数のレーザ光源につ
いて特定周波数の変調成分の相対位相差を測定する手段
とを倫えた光ファイバの波長分散測定装置において、参
照信号伝送用シー４ノ光源は、その出力光の波長が複数
のレーザ光源の出力光の波長のいずれとも異なる波長で
あり、上記参照信月を伝送する手段は、参照信号伝送用
レーザ光源の出力光を切換回路により選択された光信号
と合波して被試験光ファイバの一端に入射させる手段と
、被試験光ファイバの他端で参照信号伝送用レーザ光源
の出力光を複数のレーザ光源の出力光から分前する波長
分離手段とを備えたことを特徴とする。
本発明は、測定信号光と参照信号光とを同一の光ファイ
バで伝送することかでき、したがって参照信号伝送光フ
ァイバを用いずに、被試験光ファイバの波長分散を測定
することができる。
バで伝送することかでき、したがって参照信号伝送光フ
ァイバを用いずに、被試験光ファイバの波長分散を測定
することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例方式を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明の一実施例を説明するブロック構成図
である。第１図において、発振器１１の出力が、出力光
の波長が異なるｎ個のレーザ１２．〜１２１に接続され
、特定周波数で強度変調か行われる。ここでは、レーザ
１２．の出力光を参照信号光としている。レーザ１２２
〜１２１１の出力は切換回路１３に接続され、一つの測
定信号光が合波器１４の一方の人力に選択出力される。
である。第１図において、発振器１１の出力が、出力光
の波長が異なるｎ個のレーザ１２．〜１２１に接続され
、特定周波数で強度変調か行われる。ここでは、レーザ
１２．の出力光を参照信号光としている。レーザ１２２
〜１２１１の出力は切換回路１３に接続され、一つの測
定信号光が合波器１４の一方の人力に選択出力される。
合波器１４の他方の人力には、レーザ１２１ の出力が
接続されている。合波器１４で測定信号光と参照信号光
が合波され、その出力は被試験光ファイバ１５の入力端
に入射される。被試験光ファイバ１５の出力端には、波
長分離手段としての分波器１６が接続され、測定信号光
と参照信号光とを分波する。この分波器１６は、波長に
より光路を分＾１１するものである。
接続されている。合波器１４で測定信号光と参照信号光
が合波され、その出力は被試験光ファイバ１５の入力端
に入射される。被試験光ファイバ１５の出力端には、波
長分離手段としての分波器１６が接続され、測定信号光
と参照信号光とを分波する。この分波器１６は、波長に
より光路を分＾１１するものである。
分離された測定信号光は光電気変換器１７に入射され、
参照信号光は光電気変換器】８に入射される。
参照信号光は光電気変換器】８に入射される。
光電気変換器１７の出ツノは増幅器１９の入力に接続さ
れ、増幅器１９の出力は位相差測定器２１の信号入力端
子に接続されている。また、光電気変換器１８の出力は
増幅Ｈ２０の入力に接続され、増幅器２０の出力は位相
差測定器２１の参照信号入力端子に接続されている。位
相差測定器２１の出力は、光信号が光ファイバを伝搬し
た後の位相差である。
れ、増幅器１９の出力は位相差測定器２１の信号入力端
子に接続されている。また、光電気変換器１８の出力は
増幅Ｈ２０の入力に接続され、増幅器２０の出力は位相
差測定器２１の参照信号入力端子に接続されている。位
相差測定器２１の出力は、光信号が光ファイバを伝搬し
た後の位相差である。
次にこの装置の動作について説明する。
発振器１１を出た変調信号はレーザ１２１〜１２．ｌを
直接変調し、その出力は光変調波になる。いま、強度変
調され、出力光の波長が異なるｎ個のレーザ１２．〜１
２．．のうち、仮にレーザ１２．の出力を参照信号光と
し、レーザ１２□〜１２．、の中から切換回路１３によ
り選択された一つのレーザ１２ｉ （ｉ ＝２゜３、
・・・、ｎ）の出力を測定信号光とする。この参照信最
先と測定信号光とが合波器１４により合波され、被試験
光ファイバ１５に入射される。合波された参照信号光と
測定信号光は、被試験光ファイバ１５を伝搬したのちに
分波器１６で波長の相違により分波される。分波された
測定信号光は、光電気変換器１７により電気信号に変換
され、増幅器１９で増幅されたのちに、位相差測定器２
１の信号入力端子に入力される。一方、参照信号光は光
電気変換器１８により電気信号に変換され、増幅器２０
で増幅されたのちに、位相差測定器２１の参照信号入力
端子に入力される。
直接変調し、その出力は光変調波になる。いま、強度変
調され、出力光の波長が異なるｎ個のレーザ１２．〜１
２．．のうち、仮にレーザ１２．の出力を参照信号光と
し、レーザ１２□〜１２．、の中から切換回路１３によ
り選択された一つのレーザ１２ｉ （ｉ ＝２゜３、
・・・、ｎ）の出力を測定信号光とする。この参照信最
先と測定信号光とが合波器１４により合波され、被試験
光ファイバ１５に入射される。合波された参照信号光と
測定信号光は、被試験光ファイバ１５を伝搬したのちに
分波器１６で波長の相違により分波される。分波された
測定信号光は、光電気変換器１７により電気信号に変換
され、増幅器１９で増幅されたのちに、位相差測定器２
１の信号入力端子に入力される。一方、参照信号光は光
電気変換器１８により電気信号に変換され、増幅器２０
で増幅されたのちに、位相差測定器２１の参照信号入力
端子に入力される。
位相差測定器２１では、被試験光ファイバ１５の出力端
におけるレーザ１２．を基準にしたレーザ１２、（ｉ
＝２．３．・・・＋ｎ）の信号光の相対位相差θ、ｏｕ
ｔが測定される。切換回Ｂ１３を切り換えることにより
、全ての相対位相差θ＋ｒ”Ｌ（ｉ ＝２．３．−、ｎ
）を測定することができる。
におけるレーザ１２．を基準にしたレーザ１２、（ｉ
＝２．３．・・・＋ｎ）の信号光の相対位相差θ、ｏｕ
ｔが測定される。切換回Ｂ１３を切り換えることにより
、全ての相対位相差θ＋ｒ”Ｌ（ｉ ＝２．３．−、ｎ
）を測定することができる。
同様にして被試験光ファイバ１５の入力端で、レーザ１
２．を基準にしたレーザ１２ｉの信号光の相対位相差θ
、ｉ” （ｉ ＝２．３．・・・、ｎ）を測定する。
２．を基準にしたレーザ１２ｉの信号光の相対位相差θ
、ｉ” （ｉ ＝２．３．・・・、ｎ）を測定する。
ところで、位相θと単位長当りの遅延時間τには、光フ
ァイバの長さをＥとしたとき θ＝２πｆｒβ −−−−−＋１１の関
係があるので、レーザ１２．の信号光を基準にしたレー
ザ１２ｉ の信号光の光フアイバ伝搬による相対遅延時
間τ１ｔ （ｉ ＝２．３．・・・＋ｎ）は、τｌ１＝
（θ 、ｏｕｔ −θ＋＋”） ／２ πｒ １−−−
−−−・（２） より求まる。
ァイバの長さをＥとしたとき θ＝２πｆｒβ −−−−−＋１１の関
係があるので、レーザ１２．の信号光を基準にしたレー
ザ１２ｉ の信号光の光フアイバ伝搬による相対遅延時
間τ１ｔ （ｉ ＝２．３．・・・＋ｎ）は、τｌ１＝
（θ 、ｏｕｔ −θ＋＋”） ／２ πｒ １−−−
−−−・（２） より求まる。
したがって、測定された相対位相差θ 、ｏｕＬとθ＋
％″（ｉ ＝２，３．・・・、ｎ）を式（２）に代入す
ることにより、レーザ１２１ の信号光を基準にしたレ
ーザ１２＋の出力光の波長と異なるレーザ１２．の信号
光により、被試験光ファイバ１５を伝搬することによる
相対遅延時間差τＩｉ （ｉ ＝２．３．・・・＋ｎ）
が求まる。
％″（ｉ ＝２，３．・・・、ｎ）を式（２）に代入す
ることにより、レーザ１２１ の信号光を基準にしたレ
ーザ１２＋の出力光の波長と異なるレーザ１２．の信号
光により、被試験光ファイバ１５を伝搬することによる
相対遅延時間差τＩｉ （ｉ ＝２．３．・・・＋ｎ）
が求まる。
本発明の上記実施例装置において、レーザ１２゜の出力
光である参照信号光と、切換回路１３により選択された
レーザ１２＋ （＋ ＝２．３．・・・＋ｎ）の出力
光である測定信号光とを合波する手段としての合波器１
４は、バーフミラーなどを用いた光方向性結合器を使用
してもよいが、その場合には測定信号光および参照信号
光がともに３ ｄＢ以上の減衰を受ける。
光である参照信号光と、切換回路１３により選択された
レーザ１２＋ （＋ ＝２．３．・・・＋ｎ）の出力
光である測定信号光とを合波する手段としての合波器１
４は、バーフミラーなどを用いた光方向性結合器を使用
してもよいが、その場合には測定信号光および参照信号
光がともに３ ｄＢ以上の減衰を受ける。
また、参照信号光は測定信号光とを分離する波長分離手
段としての分波Ｈ１６は、ハーフミラ−型の光方向性結
合器は使用することができず、またクロストークの小さ
なものを使用する必要がある。
段としての分波Ｈ１６は、ハーフミラ−型の光方向性結
合器は使用することができず、またクロストークの小さ
なものを使用する必要がある。
いま、分波器１６の二つの出力端子間の光レヘルノクロ
ストークをＣ（ｄＢ）とすると、クロストークによる位
相誤差へ〇（度）は、 八〇＃１０ｃ″。×１８０／π −−（３
）で近似することができる。現在容易に入手することが
できる位相差測定器の分解能は０．１°以下であるので
、位相誤差Δθをそれ以下とするには、式（３）より Ｃ≦−２８（ｄＢ） であることが必要である。このような要求を満足するも
のとしては、誘電体多層膜フィルタや回折格子を用いた
分波器があるが、挿入…、寸法など観点から誘電体多層
膜フィルタを使用したものが優れている。
ストークをＣ（ｄＢ）とすると、クロストークによる位
相誤差へ〇（度）は、 八〇＃１０ｃ″。×１８０／π −−（３
）で近似することができる。現在容易に入手することが
できる位相差測定器の分解能は０．１°以下であるので
、位相誤差Δθをそれ以下とするには、式（３）より Ｃ≦−２８（ｄＢ） であることが必要である。このような要求を満足するも
のとしては、誘電体多層膜フィルタや回折格子を用いた
分波器があるが、挿入…、寸法など観点から誘電体多層
膜フィルタを使用したものが優れている。
したがって、本発明装置の合波器１４および分波器１６
は、第２図に示すような短波長通過（阻止）型（ａ）、
長波長通過（阻止）型（ｂ）、あるいは帯域通過（阻止
）型（Ｃ）の透過率（反射率）特性をもつ誘電体多層膜
フィルタを用いている。
は、第２図に示すような短波長通過（阻止）型（ａ）、
長波長通過（阻止）型（ｂ）、あるいは帯域通過（阻止
）型（Ｃ）の透過率（反射率）特性をもつ誘電体多層膜
フィルタを用いている。
この場合には測定信号光と参照信号光とは、原理的に減
衰されずに合波または分岐される。
衰されずに合波または分岐される。
第３図は合波器１４の概念図である。たとえば誘電体多
層膜フィルタ２２は、第２図（ａ）に示す短波長通過型
の透過率特性をもつものとする。ボート（１〕から誘電
体多層膜フィルタ２２に、波長λ１の参照信号光を入射
させ、ボート〔２〕からは波長λ２〜２１の測定信号光
を入射させる。波長λ。
層膜フィルタ２２は、第２図（ａ）に示す短波長通過型
の透過率特性をもつものとする。ボート（１〕から誘電
体多層膜フィルタ２２に、波長λ１の参照信号光を入射
させ、ボート〔２〕からは波長λ２〜２１の測定信号光
を入射させる。波長λ。
の参照信号光は、誘電体多層膜フィルタ２２を透過しボ
ート（３）へ達する。また、波長λ、〜λ７の測定信号
光は、誘電体多層膜フィルタ２２を透過せずにすべて反
射されてボート〔３〕へ達する。
ート（３）へ達する。また、波長λ、〜λ７の測定信号
光は、誘電体多層膜フィルタ２２を透過せずにすべて反
射されてボート〔３〕へ達する。
したがって、原理的には損失がなく異なった波長の光を
合波することができる。
合波することができる。
なお、第２図（ｂ）および（Ｃ）に示す特性をもつ誘電
体多層膜フィルタ２２を用いても、同様に合波器１４を
構成することができる。
体多層膜フィルタ２２を用いても、同様に合波器１４を
構成することができる。
第４図（ａ）は分波器１６の概念図である。たとえば誘
電体多層膜フィルタ２２は、第２図（ａ）に示すような
短波長通過型の透過率特性をもつものとする。ボート〔
１〕から誘電体多層膜フィルタ２２に、波長λ１の参照
信号光を入射させると、この参照信号光は誘電体多層膜
フィルタ２２を透過しボート〔２〕へ達する。また、波
長λ２〜ノ、の測定信号光は、誘電体子Ｎ膜フィルタ１
２で反射され、ボート〔３〕へ達し参照信号光と分波さ
れる。
電体多層膜フィルタ２２は、第２図（ａ）に示すような
短波長通過型の透過率特性をもつものとする。ボート〔
１〕から誘電体多層膜フィルタ２２に、波長λ１の参照
信号光を入射させると、この参照信号光は誘電体多層膜
フィルタ２２を透過しボート〔２〕へ達する。また、波
長λ２〜ノ、の測定信号光は、誘電体子Ｎ膜フィルタ１
２で反射され、ボート〔３〕へ達し参照信号光と分波さ
れる。
ボート〔２〕、〔３〕間のクロストークをより小さくす
るには、第４図（ｂ）に示すように、さらに誘電体多層
膜フィルタ２２ｐおよび２２ｑをそれぞれボート〔２〕
、〔３〕へ付加すればよい。ただし、誘電体多層膜フィ
ルタ２２ｐの特性は、誘電体多層膜フィルタ２２と同じ
く第２図（ａ）に示すような短波長通過型の透過率特性
をもち、誘電体多層膜フィルタ２２Ｑの特性は、第２図
（ａ）に示すような短波長阻止型の反射率特性をもつ（
波長λ。
るには、第４図（ｂ）に示すように、さらに誘電体多層
膜フィルタ２２ｐおよび２２ｑをそれぞれボート〔２〕
、〔３〕へ付加すればよい。ただし、誘電体多層膜フィ
ルタ２２ｐの特性は、誘電体多層膜フィルタ２２と同じ
く第２図（ａ）に示すような短波長通過型の透過率特性
をもち、誘電体多層膜フィルタ２２Ｑの特性は、第２図
（ａ）に示すような短波長阻止型の反射率特性をもつ（
波長λ。
の光は］引止し、波長λ２〜λ７の光は通過させる）も
のとする。
のとする。
レーザ１２＋の波長λ１を１．２μｍ、レーザ１２ｔの
波長λ２を１．３μｍとする半導体レーザを光源とし、
合波器１４および分波器１６に誘電体多層膜フィルタ２
２を用い、被試験光ファイバ】５に長さ５ｋｍの単一モ
ード光ファイバを使用して、第１図に示した本発明装置
と、第５図に示ｔ７た従来例装置の特性を実験により比
較した。その結果、従来例装置では光信号が被試験光フ
ァイノ＼１５を伝搬したのちに、レーザ１２．とレーザ
１２□との遅延時間差が光ファイバの遅延時間の温度依
存性により、約３０ｐｓｅｃ ／ ｋｍ ／ｍｉｎの割
合でドリフトし、安定な測定が困難であった。一方、本
発明の実施例装置では遅延時間差のドリフトは、０．１
ｐｓｅｃ ／ｋｍ／ｍｉｎ以下であり、再現性のよい
測定が可能であった。
波長λ２を１．３μｍとする半導体レーザを光源とし、
合波器１４および分波器１６に誘電体多層膜フィルタ２
２を用い、被試験光ファイバ】５に長さ５ｋｍの単一モ
ード光ファイバを使用して、第１図に示した本発明装置
と、第５図に示ｔ７た従来例装置の特性を実験により比
較した。その結果、従来例装置では光信号が被試験光フ
ァイノ＼１５を伝搬したのちに、レーザ１２．とレーザ
１２□との遅延時間差が光ファイバの遅延時間の温度依
存性により、約３０ｐｓｅｃ ／ ｋｍ ／ｍｉｎの割
合でドリフトし、安定な測定が困難であった。一方、本
発明の実施例装置では遅延時間差のドリフトは、０．１
ｐｓｅｃ ／ｋｍ／ｍｉｎ以下であり、再現性のよい
測定が可能であった。
（発明の効果〕
本発明は、光ファイバの波長分散を測定するために、光
ファイバの入力端と出力端が近接した場合ばかりでなく
、光ファイバの布設後であって両端が遠く離れた場合で
も測定を可能にすることができる。
ファイバの入力端と出力端が近接した場合ばかりでなく
、光ファイバの布設後であって両端が遠く離れた場合で
も測定を可能にすることができる。
さらに、参照１８号を試験光ファイバの入力端から出力
端へ伝送するための参照信号伝送用光ファイバを必要と
しない。したがって、測定装置のコストが安くなる効果
がある。
端へ伝送するための参照信号伝送用光ファイバを必要と
しない。したがって、測定装置のコストが安くなる効果
がある。
また、参照信号光と波長分散を測定する測定信号光とが
、同一の光ファイバで伝送されるために、光ファイバを
伝搬する光信号が遅延時間の温度に依存して変動しても
、同一に変動するのでその影響を受けず、波長分散を高
精度で測定することができる効果がある。
、同一の光ファイバで伝送されるために、光ファイバを
伝搬する光信号が遅延時間の温度に依存して変動しても
、同一に変動するのでその影響を受けず、波長分散を高
精度で測定することができる効果がある。
第１図は本発明波長分散測定装置の一実施例を示すブロ
ンク構成図。 第２図は誘電体多層膜フィルタの透過率（反射率）特性
を示す図。 第３図は合波器の概念図。 第４図４上分波器の概念図。 第５図は従来例波長分散測定装置を示すプロ・ツク構成
図。 １１・・・発振器、１２．〜１２７・・・レーザ光源、
１３・・・切換回路、１４・・・合波器、１５・・・被
試験光ファイノく、１６・・・分波器、１７．１８・・
・光電気変換器、１９．２０・・・増幅器、２１・・・
位相差測定器、２２・・・誘電体多層膜フィルり、２３
・・・参照信号伝送用レーザ光源、２４・・・参照信号
伝送用光ファイバ。
ンク構成図。 第２図は誘電体多層膜フィルタの透過率（反射率）特性
を示す図。 第３図は合波器の概念図。 第４図４上分波器の概念図。 第５図は従来例波長分散測定装置を示すプロ・ツク構成
図。 １１・・・発振器、１２．〜１２７・・・レーザ光源、
１３・・・切換回路、１４・・・合波器、１５・・・被
試験光ファイノく、１６・・・分波器、１７．１８・・
・光電気変換器、１９．２０・・・増幅器、２１・・・
位相差測定器、２２・・・誘電体多層膜フィルり、２３
・・・参照信号伝送用レーザ光源、２４・・・参照信号
伝送用光ファイバ。
Claims (1)
- （１）出力光の波長が異なる複数のレーザ光源と、この
複数のレーザ光源の出力光を一つの特定周波数で強度変
調する変調手段と、 上記複数のレーザ光源の出力光の一つを切換選択する切
換回路と、 この切換回路により選択された光信号を被試験光ファイ
バの一端に入射する手段と、 上記被試験光ファイバの他端から出射される光信号を電
気信号に変換する第一の光電気変換器と、上記特定周波
数で強度変調された一つの参照信号伝送用レーザ光源と
、 このレーザ光源の出力光を上記被試験光ファイバの他端
に伝送する手段と、 上記被試験光ファイバで伝送された参照光信号を電気信
号に変換する第二の光電気変換器と、上記第二の光電気
変換器の出力電気信号を参照信号として、上記第一の光
電気変換器の出力電気信号から上記複数のレーザ光源に
ついて上記特定周波数の変調成分の相対位相差を測定す
る手段とを備えた光ファイバの波長分散測定装置におい
て、 上記参照信号伝送用レーザ光源は、その出力光の波長が
上記複数のレーザ光源の出力光の波長のいずれとも異な
る波長であり、 上記参照信号を伝送する手段は、 上記参照信号伝送用レーザ光源の出力光を上記切換回路
により選択された光信号と合波して上記被試験光ファイ
バの一端に入射させる手段と、上記被試験光ファイバの
他端で上記参照信号伝送用レーザ光源の出力光を上記複
数のレーザ光源の出力光から分離する波長分離手段と を備えたことを特徴とする光ファイバの波長分散測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12485384A JPS613024A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 光フアイバの波長分散測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12485384A JPS613024A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 光フアイバの波長分散測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS613024A true JPS613024A (ja) | 1986-01-09 |
Family
ID=14895711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12485384A Pending JPS613024A (ja) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | 光フアイバの波長分散測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS613024A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6352034A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単一モ−ド光フアイバの測定方法および装置 |
| JPS6363745U (ja) * | 1986-10-17 | 1988-04-27 | ||
| JP2002365165A (ja) * | 2001-06-08 | 2002-12-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長分散測定装置および方法 |
-
1984
- 1984-06-18 JP JP12485384A patent/JPS613024A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6352034A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単一モ−ド光フアイバの測定方法および装置 |
| JPS6363745U (ja) * | 1986-10-17 | 1988-04-27 | ||
| JP2002365165A (ja) * | 2001-06-08 | 2002-12-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 波長分散測定装置および方法 |
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