JPS61280544A - Automatic lens meter - Google Patents

Automatic lens meter

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JPS61280544A
JPS61280544A JP27174585A JP27174585A JPS61280544A JP S61280544 A JPS61280544 A JP S61280544A JP 27174585 A JP27174585 A JP 27174585A JP 27174585 A JP27174585 A JP 27174585A JP S61280544 A JPS61280544 A JP S61280544A
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lens
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slit
luminous flux
photoelectric conversion
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Masao Noda
納田 昌雄
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SAN HAITETSUKU KK
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    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0228Testing optical properties by measuring refractive power
    • G01M11/0235Testing optical properties by measuring refractive power by measuring multiple properties of lenses, automatic lens meters

Abstract

PURPOSE:To simplify the constitution of the title meter and to make said meter effective even from the aspect of quantity of light, by chopping measuring luminous flux transmitted through a lens to be inspected by slit openings different in an angle of inclination to receive the same by photoelectric converter elements constituting a pair. CONSTITUTION:The measuring luminous flux emitted from a LED light source 1 and transmitted through a lens 7 to be inspected through a condenser lens 2 condensing said luminous flux to an iris 4 and an image forming lens 5 is converted to parallel luminous flux by a collimator lens 14 while said parallel luminous flux is chopped by a chopper 15 having slit openings 16a, 16b of which the angles of inclination are different by + or -45 deg.. The resulting chopped luminous fluxes are received by a phtoelectric converter 9 formed of phtoelectric converter elements constituting a pair. Then, the refractive power of the lens 7 is automatically measured from the output phase difference between the photoelectric converter elements constituting an pair with a slit angle-of-inclination discriminating signal. By this method, it is unnecessary to use a plurality of light sources and constitution becomes simple and it is also unnecessary to perform adjustment so as to make different quantities of light same and the title lens becomes effective from the aspect of quantity of light and refractive power can be automatically and rapidly measured with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は眼鏡レンズ等の種々のレンズの屈折力を測定す
る自動レンズメータに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic lens meter for measuring the refractive power of various lenses such as eyeglass lenses.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来から、自動レンズメータにおいては、機構的に簡単
にしてその製造、調整等を容易にし、しかも測定時間を
短縮するとともに測定精度を向上させるべく種々の改良
が加えられ、特開昭57−168137号公報に示され
るレンズメータが提供された。
Conventionally, various improvements have been made to automatic lens meters in order to simplify the mechanism, facilitate manufacturing, adjustment, etc., shorten measurement time, and improve measurement accuracy. The lens meter shown in the publication was provided.

該レンズメータは、測定光束を被検レンズに透過せしめ
、その透過光束を二対の光電変換素子にて受光するとと
もに、走査方向に対し全て同一傾斜角度をなすスリット
開口を2つの既知の方向に択一的に走査して上記透過光
束をチョッピングし、各々の対を構成する光電変換素子
間の出力信号の位相差を演算手段に入力せしめて屈折力
を測定するものであった。
The lens meter transmits a measurement light flux through a lens to be tested, receives the transmitted light flux with two pairs of photoelectric conversion elements, and also inserts slit apertures, all of which have the same inclination angle with respect to the scanning direction, in two known directions. The refractive power was measured by selectively scanning and chopping the transmitted light beam, and inputting the phase difference between the output signals between the photoelectric conversion elements constituting each pair to a calculation means.

そして、上記スリット開口を2つの既知の方向に択一的
に走査させる手段として、像分割プリズム、像合致プリ
ズム等を使用するものであった。
An image splitting prism, an image matching prism, or the like is used as means for selectively scanning the slit opening in two known directions.

しかしながら、上記特開昭57−168137号公報に
示されるレンズメータにおいては、上述の如く像分割プ
リズム、像合致プリズム等が必要であったため、光量的
に有効でないので測定精度が侭下し、また機構的にもさ
ほど簡略化できず製作もあまり容易でない欠点があった
However, the lens meter disclosed in JP-A-57-168137 requires an image splitting prism, an image matching prism, etc. as described above, and is not effective in terms of light quantity, reducing measurement accuracy. It had the disadvantage that it could not be simplified mechanically and was not easy to manufacture.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

本発明は上記従来技術の欠点を除去するもので、像分割
プリズム、像合致プリズム等を使用する必要がなく、機
構が単純化でき、光量的にも有利で測定精度の良いしン
ズメータを提供しようとするものである。
The present invention eliminates the drawbacks of the prior art described above, and provides a lens meter that does not require the use of an image splitting prism, an image matching prism, etc., has a simple mechanism, is advantageous in terms of light quantity, and has good measurement accuracy. That is.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記問題点を解決するため、本発明は、測定光束を被検
レンズに透過せしめ、その透過光束を二対以上の光電変
換素子にて受光するとともに、スリット開口を走査して
上記透過光束をチョッピングし、上記各々の対を構成す
る光電変換素子間の出力信号の位相差に基づいて上記被
検レンズの屈折力を測定する装置において、上記スリッ
ト開口の走査方向に対する該スリット開口の傾斜角度を
二つ以上の異なる既知の角度にせしめるとともに、上記
透過光束をチョッピングしているスリット開口の傾斜角
度の判別信号を出力する出力装置を設け、該判別信号と
上記位相差とを演算手段に入力せしめて屈折力を得る構
成としたものである。
In order to solve the above problems, the present invention transmits a measurement light flux through a test lens, receives the transmitted light flux by two or more pairs of photoelectric conversion elements, and chops the transmitted light flux by scanning a slit aperture. In the apparatus for measuring the refractive power of the lens to be tested based on the phase difference of output signals between the photoelectric conversion elements constituting each pair, the inclination angle of the slit opening with respect to the scanning direction of the slit opening is an output device for outputting a discrimination signal of the inclination angle of the slit aperture chopping the transmitted light beam, and inputting the discrimination signal and the phase difference to the calculation means; It has a configuration that provides refractive power.

〔作 用〕[For production]

本発明によれば、被検レンズの透過光束をチョッピング
するスリット開口の傾斜角度を、該スリット開口の走査
方向に対して2つ以上の異なる既知の角度にせしめたた
め、一方向に走査するだけで、走査方向に対し全て同一
傾斜角度をなすスリット開口を2つの既知の方向に択一
的に走査して被検レンズの透過光束をチョッピングする
ことと実質的に等価となる。
According to the present invention, since the inclination angle of the slit aperture that chops the transmitted light beam of the test lens is made to be at two or more different known angles with respect to the scanning direction of the slit aperture, it is possible to scan only in one direction. This is substantially equivalent to chopping the transmitted light beam of the lens to be inspected by selectively scanning slit apertures that all have the same inclination angle with respect to the scanning direction in two known directions.

したがって、本発明によれば、従来の如き像分割プリズ
ム、像合致プリズム等が必要なくなり、機構が単純とな
るとともに、光量的に有利で測定精度も向上することと
なる。
Therefore, according to the present invention, there is no need for conventional image splitting prisms, image matching prisms, etc., the mechanism becomes simple, and it is advantageous in light quantity and measurement accuracy is improved.

〔実施例〕〔Example〕

以下、一実施例に基づいて本発明の詳細な説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail based on one embodiment.

牙1図はこの実施例の光学系の構成図である。Figure 1 is a configuration diagram of the optical system of this embodiment.

同図において、工は測定光束を発するLED光源で5個
のLED lc、IA、lc、ld、1gから構成され
ている。矛1図におけるL−L矢視図を示す矛2図示の
如く、一対のLED 1α、1sは、牙I図紙面内で測
定光軸OVc直交する線に対し+450ななす線上でか
つ測定光軸0に対称に配置され、他の一対のLEDIC
,ldは矛1図紙面内で測定光軸0に直交する線に対し
−45゜をなす線上でかつ測定光軸Oに対称に配置され
、LED 1gは測定光軸0上に配置されている。
In the figure, the LED light source that emits the measurement light beam is composed of five LEDs lc, IA, lc, ld, and 1g. As shown in Figure 2, which shows the L-L arrow view in Figure 1, the pair of LEDs 1α and 1s are located on a line made +450 degrees from the line perpendicular to the measurement optical axis OVc in the plane of the drawing I 0 and the other pair of LEDICs
, ld are arranged on a line making an angle of -45° with respect to the line perpendicular to the measurement optical axis 0 in the plane of the drawing 1, and symmetrically to the measurement optical axis O, and the LED 1g is arranged on the measurement optical axis 0. .

もつとも、LED 1α乃至1dの配置は適宜変更する
こともできる。なお、図面実施例の場合。
However, the arrangement of the LEDs 1α to 1d can be changed as appropriate. In addition, in the case of drawing examples.

後述の如く、LED Iα乃至1dが被検レンズ・7の
屈折力の測定に関与するものであり、 LEDleは被
検レンズ7のプリズム量の測定に関与するものである。
As will be described later, the LEDs Iα to 1d are involved in measuring the refractive power of the lens 7 to be tested, and the LED Le is involved in measuring the amount of prism of the lens 7 to be tested.

したがって、被検レンズ7の屈折力のみ測定する場合に
は、上記LED 1 gは特に必要ないものである。
Therefore, when measuring only the refractive power of the lens 7 to be tested, the LED 1g is not particularly necessary.

また、2は上記LED光源1からの光束を絞り4に集光
するコンデンサレンズである。3は開口絞りで、矛1図
におけるM−M線矢視図を示す才3図示の如く、上記L
ED光源1のLEDle乃至1gにそれぞれ対応した開
口3α乃至3gを有している。4は開口4αを有する絞
りで、その平面図を示す矛4図示の如き形状とされてい
る。また、5は上記開口絞り3の開口3α乃至3#を、
被検レンズ7を保持するレンズホルダー6面上に結像さ
せる結像レンズである。なお、上記絞り4は該結像レン
ズ5の焦点付近にあることが望ましい。
Further, 2 is a condenser lens that condenses the luminous flux from the LED light source 1 onto an aperture 4. 3 is an aperture diaphragm, as shown in Figure 3, which shows the M-M line arrow view in Figure 1, the above-mentioned L
It has openings 3α to 3g corresponding to LEDs 1g to 1g of the ED light source 1, respectively. Reference numeral 4 denotes a diaphragm having an aperture 4α, and is shaped as shown in the plan view of the diaphragm 4. Further, 5 indicates the apertures 3α to 3# of the aperture stop 3,
This is an imaging lens that forms an image on the surface of the lens holder 6 that holds the lens 7 to be tested. Note that it is desirable that the aperture 4 be located near the focal point of the imaging lens 5.

したがって、LED光源1を発した光束はコンデンサレ
ンズ2で絞り4の開口4αへ集光され、絞り30開口3
α乃至3gを通過し、さらに絞り4の開口4αを通過し
、結像レンズ5を通過した後はぼ平行光束となり被検レ
ンズ7の内面に上記開口3α乃至3#に対応した像を結
び、さらに被検レンズ7を透過することとなる。
Therefore, the light flux emitted from the LED light source 1 is condensed by the condenser lens 2 onto the aperture 4α of the aperture 4, and the aperture 30 of the aperture 30
α to 3g, further passes through the aperture 4α of the diaphragm 4, and after passing through the imaging lens 5, it becomes a substantially parallel light beam and forms an image corresponding to the apertures 3α to 3# on the inner surface of the test lens 7, Further, the light passes through the lens 7 to be tested.

なお、説明上、上記LED光源1、コンデンサレンズ2
、開口絞り3、絞り4、結像レンズ5、レンズホルダー
6及び被検レンズ7を測定光束光学系8と呼ぶことにす
れば、該測定光束光学系8は他の構成でもよい。例えば
、矛1図における測定光束光学系8の代りに、才5図あ
るいは矛6図示の如き構成の測定光束光学系を使用する
こともできる。牙5図及び矛6図において、矛1図と同
一構成部分には同一符号を付しである。牙5図において
、9はフィラメント、10はコリメータレンズである。
For the purpose of explanation, the above LED light source 1 and condenser lens 2 are
, the aperture diaphragm 3, the diaphragm 4, the imaging lens 5, the lens holder 6, and the test lens 7 are referred to as a measurement light flux optical system 8, but the measurement light flux optical system 8 may have another configuration. For example, instead of the measuring beam optical system 8 shown in FIG. 1, a measuring beam optical system having a configuration as shown in FIG. 5 or 6 may be used. In Fig. 5 of the fang and Fig. 6 of the spear, the same components as in Fig. 1 of the spear are given the same reference numerals. In Fig. 5, 9 is a filament, and 10 is a collimator lens.

また、矛6図において、11は点光源、12はコリメー
タレンズ、13は矛1図における開口絞り3と同様に構
成されレンズホルダー6に取付けられた開口絞りである
In addition, in Figure 6, 11 is a point light source, 12 is a collimator lens, and 13 is an aperture diaphragm configured similarly to the aperture diaphragm 3 in Figure 1 and attached to the lens holder 6.

また、牙1図において、14はコリメータレンズで、一
方の焦点がレンズホルダー6面上付近にあり、他方の焦
点が回転チョッパー15の表面付近にあることが望まし
い。回転チョッパー15には後に詳述するスリット開口
16α。
Further, in the fang 1 diagram, reference numeral 14 is a collimator lens, and it is desirable that one focal point is located near the surface of the lens holder 6 and the other focal point is located near the surface of the rotary chopper 15. The rotary chopper 15 has a slit opening 16α which will be described in detail later.

16hが設けられており、該回転チョッパー15はモー
タ17により一方向に回転させられる。
16h is provided, and the rotary chopper 15 is rotated in one direction by a motor 17.

さらに、18は上記しンズホルダー6面上に結像した開
口偉を光電変換器19の受光面上に結像させる結像レン
ズである。光電変換器19の受光面には、矛1図におけ
るN−N矢視図を示す矛7図示の如く、上記開口絞り3
の開口3α乃至3eにそれぞれ対応した光電変換素子2
0α乃至20gが設けられている。
Further, reference numeral 18 denotes an imaging lens that images the aperture formed on the surface of the lens holder 6 onto the light receiving surface of the photoelectric converter 19. The light-receiving surface of the photoelectric converter 19 is provided with the aperture stop 3, as shown in Figure 7, which shows the N-N arrow view in Figure 1.
Photoelectric conversion elements 2 respectively corresponding to apertures 3α to 3e of
0α to 20g are provided.

したがって、上述の如く被検レンズ7を透過した絞り3
の開口3α乃至3eに基づく光束は、コリメータレンズ
14により回転チョッパー15の表面に集光され、該回
転チョッパー15によってチョッピングされ、さらに該
回転チョッパー15のスリット開口16α又は16A 
全透過した光束が光電変換素子20α乃至20eへ投光
されることとなる。
Therefore, as described above, the aperture 3 that passes through the test lens 7
The luminous flux based on the apertures 3α to 3e is focused on the surface of the rotary chopper 15 by the collimator lens 14, is chopped by the rotary chopper 15, and is further divided into the slit apertures 16α or 16A of the rotary chopper 15.
The completely transmitted light flux is projected onto the photoelectric conversion elements 20α to 20e.

そして、本発明では、被検レンズ7の透過光束をチョッ
ピングするスリット開口の走査方向に対する該スリット
開口の傾斜角度が二つ以上の異なる既知の角度にされる
In the present invention, the inclination angle of the slit opening for chopping the transmitted light beam of the test lens 7 with respect to the scanning direction is set to two or more different known angles.

図面実施例の場合、回転チョッパー15の展開図を示す
牙8図示の如く、回転チョッパー15の回転方向Xに対
する牙1スリット開口16αの傾斜角度が+45°、矛
2スリット開口1、6 hの傾斜角度が一45°とされ
ている。もつとも、他の角度にしてもよく、三つ以上の
異なる既知の角度にしてもよいものである。また、スリ
ット開口は、任Pに配列すればよいものであり、例えば
、回転チョッパー15の代わりに、矛9図示の如く矛1
スリット開口16α及び矛2スリット開口16Aの配列
を変更した回転チョッパー2)を使用し7てもよいもの
である。なお、119図は回転チョッパー2)の展開図
を示すものである。なお、スリット開口の形状は実際に
は一定の傾き角をもっている方が望ましい。
In the case of the embodiment shown in the drawings, as shown in the fang 8 diagram showing the developed view of the rotary chopper 15, the inclination angle of the fang 1 slit opening 16α with respect to the rotational direction The angle is 145°. However, other angles may be used, or three or more different known angles may be used. Further, the slit openings may be arranged in any arbitrary manner.For example, instead of the rotary chopper 15, a spear 1 as shown in the illustration of the spear 9 may be used.
It is also possible to use a rotary chopper 2) in which the arrangement of the slit opening 16α and the second slit opening 16A is changed. Note that FIG. 119 shows a developed view of the rotary chopper 2). Note that it is actually preferable that the shape of the slit opening has a constant inclination angle.

さらに、本発明では、いかなる傾斜角度のスリット開口
にて被検レンズ7の透過光束をチョッピングしているか
の判別信号(以下、単に判別信号という)を出力する出
力装置22が設けられる。
Further, in the present invention, an output device 22 is provided that outputs a determination signal (hereinafter simply referred to as a determination signal) indicating at what angle of inclination the slit aperture is chopping the transmitted light beam of the test lens 7.

図面実施例の場合、該出力装置22は、例えばスリット
開口16α、16bの位置に対応した回転チョッパー1
5の回転角を検出するセンサー等が使用されている。
In the case of the embodiment shown in the drawings, the output device 22 is, for example, a rotary chopper 1 corresponding to the positions of the slit openings 16α, 16b.
A sensor that detects the rotation angle of 5 is used.

なお、図面実施例の場合、ilO図示の如く、光電変換
素子20α、20h、20C及び20dは各々波形整形
回路23/1. 、23h、 23C及び23dに接続
されている。一対の光電変換素子20α、20hの出力
信号を波形整形する一対の波形整形回路23α。
In the case of the embodiment shown in the drawings, as shown in ilO, the photoelectric conversion elements 20α, 20h, 20C and 20d are each connected to a waveform shaping circuit 23/1. , 23h, 23C and 23d. A pair of waveform shaping circuits 23α shape the output signals of the pair of photoelectric conversion elements 20α and 20h.

’23hは各々矛1位相差測定回路24に接続され、一
対の光電変換素子20? 、 20dの出力信号を波形
整形する一対の波形整形回路23C、23dは各々矛2
位相差測定回路25に接続されている。
'23h are each connected to the spear 1 phase difference measuring circuit 24, and a pair of photoelectric conversion elements 20? A pair of waveform shaping circuits 23C and 23d each waveform shaping the output signal of 20d.
It is connected to the phase difference measurement circuit 25.

矛1位相差測定回路24及び12位相差測定回路25は
マイクロコンピュータ26のインターフェイス29に接
続されている。マイクロコンピュータ26のインターフ
ェイス29にはさらに上記出力装置22が接続されてお
り、判別信号が入力される。マイクロコンピュータ26
は主にマイクロプロセッサ(中央演算装置)27と、メ
モリ(記憶装置)28と、インターフェイス(入出力信
号処理回路)29とから構成され、矛1スリット開口1
6cLが被検レンズ7の透過光束をチョッピングしてい
るときの矛1位相差測定回路24及び12位相差測定回
路25の出力と、矛2スリット開口16Aが被検レンズ
7の透過光束をチョッピングしているときの牙1位相差
測定回路24及び12位相差測定回路25の出力とを各
々メモリ28の所定番地に記憶せしめ、その後記憶値間
で後述の如き演算を行い、被検レンズ7の屈接力、すな
わち円柱軸角度θと、球面屈接力Sと円柱面屈折力Cと
を演算し、その結果を表示装置30に表示せしめるもの
である。もつとも、図面実施例の場合、マイクロコンピ
ュータ26は後述の如く位相差補正手段及びプリズム量
演算手段としての機能も併せて担うものである。
The first phase difference measuring circuit 24 and the second phase difference measuring circuit 25 are connected to an interface 29 of the microcomputer 26. The output device 22 is further connected to the interface 29 of the microcomputer 26, and a discrimination signal is input thereto. microcomputer 26
It mainly consists of a microprocessor (central processing unit) 27, a memory (storage device) 28, and an interface (input/output signal processing circuit) 29.
The outputs of the spear 1 phase difference measuring circuit 24 and the 12 phase difference measuring circuit 25 when 6cL is chopping the transmitted light flux of the test lens 7, and the outputs of the spear 2 slit aperture 16A are chopping the transmitted light flux of the test lens 7. The outputs of the tooth 1 phase difference measuring circuit 24 and the tooth 12 phase difference measuring circuit 25 when the lens The tangential force, that is, the cylinder axis angle θ, the spherical tangential force S, and the cylindrical refractive power C are calculated, and the results are displayed on the display device 30. However, in the case of the embodiment shown in the drawings, the microcomputer 26 also functions as a phase difference correction means and a prism amount calculation means, as will be described later.

ここで、演算により屈折力を求めることができる理由に
ついて述べる。
Here, the reason why refractive power can be determined by calculation will be described.

被検レンズ7をレンズホルダー6に設置していないとす
れば、絞り3の開口3α乃至3dを通過した光束はそれ
ぞれ矛11図(α)及び(b)の如く、回転チョッパー
15面上の一腐3に集光′される。そして、矛1スリッ
ト開口16αが牙11図(α)の如く矢印X方向に走査
され、牙2スリット開口16hが牙11図(h>の如く
矢印X方向に走査され、各スリット開口16α、16b
がそれぞれ上記一点3に集光された光束をチョッピング
することとなる。
Assuming that the lens 7 to be tested is not installed in the lens holder 6, the light beams passing through the apertures 3α to 3d of the diaphragm 3 are directed to a single point on the surface of the rotary chopper 15, as shown in Figures 11 (α) and (b). The light is focused on 3. Then, the spear 1 slit opening 16α is scanned in the arrow X direction as shown in the fang 11 (α), the fang 2 slit opening 16h is scanned in the arrow X direction as shown in the fang 11 (h>), and each slit opening 16α, 16b
are to chop the luminous flux condensed at the single point 3, respectively.

一方、被検レンズ7をレンズホルダー6に設置すると、
絞り3の開口3α乃至3dを通過した光束はそれぞれ牙
12図(α)及び(6)の如く、回転チョッパー15面
上の対応した各点3α、3A3c、3dに集光される。
On the other hand, when the test lens 7 is placed in the lens holder 6,
The light beams passing through the apertures 3α to 3d of the diaphragm 3 are focused on corresponding points 3α, 3A3c, and 3d on the surface of the rotary chopper 15, as shown in FIGS. 12 (α) and (6), respectively.

そして、矛1スリット開口16αが矛12図(α)の如
く矢印X方向に走査され、矛2スリット開口16hが矛
12図(Alの如く矢印X方向に走査され、各スリット
開口16g 、 16jSがそれぞれ上記各点3α、3
h、3c、3dに集光された被検レンズ7の透過光束を
チョッピングすることとなる。
Then, the first slit opening 16α is scanned in the arrow X direction as shown in FIG. 12 (α), the second slit opening 16h is scanned in the arrow X direction as shown in FIG. Each of the above points 3α and 3
The transmitted light flux of the test lens 7 condensed onto h, 3c, and 3d is chopped.

上記矛11図及び矛12図の状況は、従来技術の項で説
明した、走査方向に対し全て同一傾斜角度をなすスリッ
ト開口を2つの既知の方向に択一的に走査して被検しン
ズ7の透過光束をチョッピングすることと実質的に等価
となる。
The situation shown in Figures 11 and 12 above is explained in the prior art section, in which the slit openings, which all have the same inclination angle with respect to the scanning direction, are scanned alternatively in two known directions. This is substantially equivalent to chopping the transmitted light beam of 7.

したがって、牙1スリット開口16αが走査して被検レ
ンズ7の透過光束をチョッピングした場合において、そ
の走査速度が一定であると仮定した場合に、光電変換素
子20α、20hの出力信号の位相差から得られた値を
Dt 、光電変換素子20C,20dの出力信号の位相
差から得られた伽をDJとし、矛2スリット開口16h
が走査して被検レンズ7の透過光束をチョッピングした
場合において、その走査速度が一定であると仮定した場
合に、光電変換素子20cL、 20bの出力信号の位
相差から得られた値をDJ、光電変換素子2oC,20
dの出力信号の位相差から得られた値をD参とすれば、 D/ = S + G coNθ       −・・
−■DJ −−zLn 2θ        ・・・・
・・■DJ −−9sin2θ 2          ・・・・・・■Dμ= S +
 Csin、コθ       ・・・・・・■となる
ものである。
Therefore, when the tooth 1 slit aperture 16α scans and chops the transmitted light flux of the test lens 7, and assuming that the scanning speed is constant, the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20α and 20h The obtained value is Dt, the value obtained from the phase difference of the output signals of the photoelectric conversion elements 20C and 20d is DJ, and the spear 2 slit aperture is 16h.
When scanning and chopping the transmitted light beam of the test lens 7, assuming that the scanning speed is constant, the value obtained from the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20cL and 20b is expressed as DJ, Photoelectric conversion element 2oC, 20
If the value obtained from the phase difference of the output signal of d is referred to as D, then D/ = S + G coNθ −...
−■DJ −−zLn 2θ ・・・・
・・■DJ −−9sin2θ 2 ・・・・・・■Dμ= S +
Csin, θ...■.

したがって、未知数かC,S、θであり、測定データが
D/ 、 DJ (−−DJ ) * ”と3つあるた
め、上記方程式■■(又は■)■から演算することによ
り、円柱軸角度θ、球面屈折力S、円柱面屈折力Cを求
めることができるわけである。
Therefore, the unknowns are C, S, and θ, and there are three measured data: D/, DJ (--DJ) *'', so by calculating from the above equation (or ■)■, the cylinder axis angle can be calculated. θ, spherical refractive power S, and cylindrical refractive power C can be determined.

なお、図面実施例の場合にはさらに、スリット開口16
α、 16Aの走査速度を検出する走査速度検出手段3
1が設けられている。該走査速度検出手段31は例えば
回転チョッパー15が所定の回転角を回転したときに要
した時間に対応した信号を出力するように構成され、そ
の出力信号はマイクロコンピュータ26のインターフェ
イス29に入力されている。
In addition, in the case of the drawing embodiment, the slit opening 16
scanning speed detection means 3 for detecting the scanning speed of α, 16A;
1 is provided. The scanning speed detection means 31 is configured, for example, to output a signal corresponding to the time required when the rotary chopper 15 rotates through a predetermined rotation angle, and the output signal is inputted to the interface 29 of the microcomputer 26. There is.

そして、マイクロコンピュータ26は上記走査速度検出
手段31の出力信号に基づき光電変換素子間の出力信号
の位相差な補正するようにもされている。すなわち、光
電変換素子間の出力信号の位相差がスリット開口16α
、16bの走査速度に反比例することに着目し、実際の
走査速度における位相差を同一条件下の所定の一定走査
速度における位相差に換算するものであり、−その後に
その補正された位相差によって上述の如き演算を行うも
のである。したがって、スリット開口16α、16hの
走査速度、具体的にはモータ17の回転速度が変動する
場合においても、モータ17の回転速度を厳密に一定に
保った場合と同様に高精度な測定が可能となる。なお、
以上の事情は後述のプリズム量の測定においても全く同
様である。
The microcomputer 26 is also configured to correct the phase difference between the output signals between the photoelectric conversion elements based on the output signal of the scanning speed detection means 31. In other words, the phase difference of the output signals between the photoelectric conversion elements is determined by the slit aperture 16α.
, 16b is inversely proportional to the scanning speed, the phase difference at the actual scanning speed is converted into the phase difference at a predetermined constant scanning speed under the same conditions, and then, by the corrected phase difference, It performs the calculations described above. Therefore, even if the scanning speed of the slit openings 16α and 16h, specifically the rotational speed of the motor 17, fluctuates, highly accurate measurements can be made in the same way as when the rotational speed of the motor 17 is kept strictly constant. Become. In addition,
The above situation is exactly the same in the measurement of the amount of prism, which will be described later.

もつとも、モータ17の回転速度を厳密に一定に保てば
、上記走査速度検出手段31及び上記マイクロコンピュ
ータ26の位相差補正手段としての機能は不要である。
However, if the rotational speed of the motor 17 is kept strictly constant, the functions of the scanning speed detection means 31 and the microcomputer 26 as phase difference correction means are unnecessary.

さらに、図面実施例の場合、被検レンズ7のプリズム量
が測定できるように構成されている。
Furthermore, in the case of the embodiment shown in the drawings, the amount of prism of the lens 7 to be tested can be measured.

すなわち、上述の光電変換素子201の他に、プリズム
量検出センサとして矛1図示の如く光源32及び光電変
換素子33が設けられており゛、被検レンズ7がレンズ
ホルダー6に設置されていない状態(この状態では絞り
3の開口3−を通過した光束も矛11図(α)及び(A
)の如く回転チ 4ヨツパ一15面上の一点3に集光さ
れるa )において、光電変換素子2og 、 33の
出力信号の発生タイミングが一致するように配置されて
いる。もつとも、その発生タイミングが一致するように
配置しなくても、予め光電変換素子20e。
That is, in addition to the photoelectric conversion element 201 described above, a light source 32 and a photoelectric conversion element 33 are provided as a prism amount detection sensor as shown in the figure 1, and the lens 7 to be tested is not installed in the lens holder 6. (In this state, the light flux passing through the aperture 3- of the diaphragm 3 is also
) The photoelectric conversion elements 2og and 33 are arranged so that the generation timings of the output signals of the photoelectric conversion elements 2og and 33 coincide at the point a) where the light is focused on a single point 3 on the surface of the rotating chip 4 15. However, even if the photoelectric conversion elements 20e are not arranged so that their generation timings coincide with each other, the photoelectric conversion elements 20e are arranged in advance.

33の出力信号間の位相差をマイクロコンピュータ26
のメモリ28に記憶させておけばよい。
The phase difference between the output signals of 33 is calculated by the microcomputer 26.
What is necessary is to store it in the memory 28 of.

そして、上記光電変換素子208 、33はその出力信
号をそれぞれ波形整形する波形整形回路34.35に接
続されている。また、波形整形回路34.35は各々1
3位相差測定回路36に接続され、さらに該矛3位相差
測定回路36はマイクロコンピュータ26のインターフ
ェイス29に接続されている。そして、マイクロコンピ
ュータ26はプリズム量演算手段としても機能し、矛1
スリット開口16αが絞り3の開口3εに対応した被検
レンズ7の透過光束をチョッピングしているときの矛3
位相差測定回路36の出力と、矛2スリット開口16A
が上記透過光束をチョッピングしているときの13位相
差測定回路36の出力とを各々メモリ280所定番地に
記憶せしめ、その後記憶値間で後述の如き演算を行い、
被検レンズ7のプリズム量を演算し、その結果も表示装
置30に表示せしめるものである。
The photoelectric conversion elements 208 and 33 are connected to waveform shaping circuits 34 and 35 that shape the waveforms of their output signals, respectively. In addition, the waveform shaping circuits 34 and 35 each have 1
The three phase difference measuring circuit 36 is connected to the three phase difference measuring circuit 36, and the three phase difference measuring circuit 36 is further connected to the interface 29 of the microcomputer 26. The microcomputer 26 also functions as a prism amount calculation means, and
The spear 3 when the slit aperture 16α is chopping the transmitted light beam of the test lens 7 corresponding to the aperture 3ε of the diaphragm 3
The output of the phase difference measuring circuit 36 and the spear 2 slit opening 16A
The outputs of the 13 phase difference measuring circuits 36 when chopping the transmitted light flux are respectively stored in predetermined locations in the memory 280, and then the calculations described below are performed between the stored values,
The amount of prism of the lens 7 to be tested is calculated and the result is also displayed on the display device 30.

ここで、演算によりプリズム量を求めることができる理
由について述べる。
Here, the reason why the amount of prism can be determined by calculation will be described.

今、被検レンズ7をレンズホルダー6に設置した場合に
おいて、該被検レンズ7がプリズム量を有していないと
すれば、絞り3.の開口3eを通過した光束は牙12図
(α)及び(A)の如く回転チョッパー15面上の一点
3 g (?12図(α)及び(h)における一点3と
同一点)に集光される。
Now, when the test lens 7 is installed in the lens holder 6, if the test lens 7 does not have a prism amount, the aperture 3. The light flux passing through the aperture 3e is focused on a point 3g on the surface of the rotary chopper 15 as shown in Figs. 12 (α) and (A) (the same point as the point 3 in Figs. 12 (α) and (h)). be done.

そして、該一点36に集光された光束も上述と同様に各
スリット開口16a、 16Aによってチョッピングさ
れるものである。この場合には、光電変換素子206 
、33の出力信号間に位相差は生じない。
The light beam focused on the one point 36 is also chopped by the slit openings 16a and 16A in the same way as described above. In this case, the photoelectric conversion element 206
, 33, there is no phase difference between the output signals.

一方、被検レンズ7がプリズム量を有しているとすれば
、絞り3の開口3mを通過した光束は矛13図(α)及
び(A)の如く、上記牙12図(α)及び(h)におけ
る一点3eに対してプリズム量に対応した分だけずれた
一点3eに集光される。そして、矛1スリット開口16
αが矛13図(α)の如く矢印X方向に走査され、牙2
スリット開口16hが矛13図(,6)の如く矢印X方
向に走査され、各スリット開口16α、16bがそれぞ
れ上記一点3Cに集光された光束をチョッピングするこ
ととなる。なお、2)3図(α)及び(A)においては
、絞り3の開口3α乃至3dを通過した光束の集光点は
省略して示しである。したがって、この場合には、光電
変換素子33の出力信号の位相は常に一定であるにもか
かわらず、光電変換素子20gの出力信号の位相はプリ
ズム量に比例して遅れたり進んだりすることとなるため
、光電変換素子20g 、 33の出力信号の位相差は
プリズム量に対応した値を生ずる。
On the other hand, if the lens 7 to be tested has a prism amount, the light flux passing through the aperture 3m of the aperture 3 will be as shown in Figures 13 (α) and (A), as shown in Figures 12 (α) and (A). The light is focused on a point 3e that is shifted by an amount corresponding to the prism amount with respect to the point 3e in h). And spear 1 slit opening 16
α is scanned in the direction of arrow X as shown in Figure 13 (α), and fang 2
The slit opening 16h is scanned in the direction of the arrow X as shown in FIG. 2) In FIGS. 3(α) and 3(A), the condensing points of the light beams passing through the apertures 3α to 3d of the diaphragm 3 are omitted. Therefore, in this case, although the phase of the output signal of the photoelectric conversion element 33 is always constant, the phase of the output signal of the photoelectric conversion element 20g will lag or advance in proportion to the amount of prism. Therefore, the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20g and 33 produces a value corresponding to the amount of prism.

したがって、】ア1スリット開口16Gが走査して絞り
3の開口3eに対応した被検レンズ7の、透過光束をチ
ョッピングした場合において、その走査速度が一定であ
ると仮定した場合に光電変換素子20g 、 33の出
力信号間の位相差から得られた値をDIとし、同様に牙
2スリット開口16Aが上記透過光束をチョッピングし
た場合に光電変換素子20e、 33の出力信号間の位
相差から得られた値をDtとすれば、被検レンズ7のプ
リズム量Pは、 となるものである。
Therefore, when the A1 slit aperture 16G scans and chops the transmitted light beam of the test lens 7 corresponding to the aperture 3e of the aperture 3, assuming that the scanning speed is constant, the photoelectric conversion element 20g , 33 is the value obtained from the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20e and 33. Similarly, when the fang 2 slit aperture 16A chops the transmitted light flux, the value obtained from the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20e and 33 is DI. If the value is Dt, the amount of prism P of the lens 7 to be tested is as follows.

この結果、未知数がPであり、測定データがDI、 D
tと2つあるため、上記0式から演算することにより、
プリズム量Pを求めることができるわけである。
As a result, the unknown quantity is P, and the measured data are DI, D
Since there are two t, by calculating from the above 0 formula,
This means that the prism amount P can be determined.

以下、上記構成の本発明の詳細な説明する。Hereinafter, the present invention having the above configuration will be explained in detail.

被検レンズ7をレンズホルダー6に設置しな後、図示な
き測定スイッチをONすると測定が開始する。
After placing the lens 7 to be tested on the lens holder 6, a measurement switch (not shown) is turned on to start measurement.

矛1スリット開口16αが被検レンズ7の透過光束をチ
ョッピングしていると酋には、マイクロコンピュータ2
6はその状態を判別し、位相差測定回路24,25.3
6から得られる位相差データ(多数回測定した平均値を
使うのが一般的)をそのメモリ28の所定番地に記憶す
る。また、牙2スリット開口16Aが被検レンズ7の透
過光束をチョッピングしているときには、マイクロコン
ピュータ26はその状態を判別し、位相差測定回路24
 、25 、36から得られる位相差データをそのメモ
リ28の異なる所定番地に記憶する。なお、上記各位相
差データにそれぞれ対応したスリット開口16αあるい
は16bの走査速度データも走査速度検出手段31から
メモリ28の所定番地に記憶される。
When the spear 1 slit aperture 16α is chopping the transmitted light flux of the test lens 7, the microcomputer 2
6 determines the state, and phase difference measuring circuits 24, 25.3
The phase difference data obtained from 6 (generally, an average value measured many times is used) is stored at a predetermined location in the memory 28. Further, when the fang 2 slit opening 16A is chopping the transmitted light beam of the test lens 7, the microcomputer 26 determines the state, and the phase difference measuring circuit 24
, 25 and 36 are stored in different predetermined locations of the memory 28. Incidentally, the scanning speed data of the slit opening 16α or 16b corresponding to each of the above-mentioned phase difference data is also stored at a predetermined location in the memory 28 from the scanning speed detecting means 31.

次に、マイクロコンピュータ26で、上記位相差データ
及びそのときの走査速度データ(メモリ28の記憶値で
ある)とから、その位相差データが同一条件下でスリッ
ト開口16αあるいは16Aの走査速度が所定の一定速
度である場合における位相差に補正され、その後その補
正された位相差データに基づき、式■〜■あるいは式■
によって演算され、被検レンズ7の屈折力、すなわち円
柱軸角度θ、球面屈折力S、円柱面屈折力Cと、さらに
プリズム−1iPが求められ、その結果が表示装置30
に表示される。
Next, the microcomputer 26 determines the scanning speed of the slit opening 16α or 16A under the same conditions based on the phase difference data and the scanning speed data at that time (values stored in the memory 28). is corrected to the phase difference when the speed is constant, and then based on the corrected phase difference data, formulas ■~■ or formula ■
The refractive powers of the lens 7 to be tested, that is, the cylindrical axis angle θ, the spherical refractive power S, the cylindrical refractive power C, and the prism -1iP are calculated, and the results are displayed on the display device 30.
will be displayed.

ただし、マイクロコンピュータ26で式■〜■あるいは
式■に基づく演算を行うと、演算に時間がかかるとか、
光学系の配置により定数が変化したりする。そのため、
実際の装置では装置を作った後、あらかじめ屈折力及び
プリズム量のわかっているレンズを用いて測定を行い、
そのときのDI乃至Dtの値を上述の既知の屈折力及び
プリズム量と対応させてメモリ28に記憶せしめておく
ように成すことにより、上述の不都合を解消しうる。未
知数はθ、S、Cの3つで測定データはDI、Dコ(−
−D、t ) 、 D4=の3つであり、また未知数は
Pの1つで測定データはDz 、 D4の2つであるか
ら、屈折力及びプリズム量はそれぞれ一義的に定まる。
However, if the microcomputer 26 performs calculations based on formulas ■ to ■ or formula ■, the calculations may take a long time.
The constants may change depending on the arrangement of the optical system. Therefore,
In an actual device, after making the device, measurements are performed using a lens whose refractive power and amount of prism are known in advance.
By storing the values of DI to Dt at that time in the memory 28 in correspondence with the above-mentioned known refractive power and prism amount, the above-mentioned inconvenience can be solved. There are three unknowns: θ, S, and C, and the measured data is DI, Dco (-
-D, t), and D4=, and since there is one unknown quantity, P, and the measurement data is two, Dz and D4, the refractive power and the amount of prism are each uniquely determined.

なお、以上の説明においては、被検レンズ7の屈折力の
測定に関与する光電変換素子を2対設けた場合について
述べたが、3対以上設けてもよいし、また光電変換素子
の6対の配置方向も既知であれば任意にすることができ
るものである。
In addition, in the above explanation, the case where two pairs of photoelectric conversion elements involved in the measurement of the refractive power of the test lens 7 were provided was described, but three or more pairs may be provided, or six pairs of photoelectric conversion elements may be provided. The arrangement direction can be arbitrary as long as it is known.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、従来必要であった像分割プリズム、像
合致プリズム等を使用する必要がなくなるものである。
According to the present invention, there is no need to use an image splitting prism, an image matching prism, etc., which were conventionally necessary.

したがって、89構が単純化でき與造が容易で安価とな
るとともに、光重的に有利で測定精度も向上する効果が
得られるものである。
Therefore, the 89 structure can be simplified and the construction can be made easily and inexpensively, and it is advantageous in terms of light weight and measurement accuracy can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図面は本発明の一実施例を示すもので、牙1図は光学系
の構成図、矛2図は矛1図におけるL−L矢視図、矛3
図は矛1図におけるM−M矢視図、矛4図は矛1図にお
ける絞りの平面図、矛5図は牙1図における測定光束光
学系の他の実施例を示す構成図1.t−6図は同じく矛
1図における測定光束光学系のさらに他の実施例を示す
構成図1.!tFT図は牙1図におけるN −N線矢視
図1.tPS図は矛1図における回転チョッパーの展開
図、矛9図は他の回転チョッパーの展開図、矛10図は
上記実施例の回酪図、矛11図(α)及び<b)は被検
レンズのチョッピング状態を示す説明図、矛12図(α
)及び(Alは被検レンズのチョッピングの他の状態を
示す説明図、矛13図(α)及び(A)は被検レンズの
チョッピングのさらに他の状態を示す説明図である。 7・・0被検レンズ% 15− ・回転チョッパー、1
6α、16A−−−スリット開口、20a、 20h 
、 20C。 20d、20C・・・光電変換素子、22・・・出力装
置。
The drawings show one embodiment of the present invention, and Fig. 1 is a configuration diagram of the optical system, Fig. 2 is a view taken along the line L-L in Fig. 1, and Fig. 3 is a diagram of the configuration of the optical system.
Figure 1 is a view taken along arrow M-M in Figure 1, Figure 4 is a plan view of the diaphragm in Figure 1, and Figure 5 is a configuration diagram showing another example of the measuring beam optical system in Figure 1. Figure t-6 is a configuration diagram showing still another embodiment of the measuring beam optical system in Figure 1. ! The tFT diagram is the N-N line arrow view 1 in the fang 1 diagram. The tPS diagram is a developed view of the rotary chopper in Figure 1, Figure 9 is a developed view of another rotary chopper, Figure 10 is a diagram of the rotary chopper of the above example, and Figure 11 (α) and <b) are the test objects. An explanatory diagram showing the chopping state of the lens, Figure 12 (α
) and (Al are explanatory diagrams showing other states of chopping of the tested lens, and Figures 13 (α) and (A) are explanatory diagrams showing still other states of chopping of the tested lens. 7. 0 test lens% 15- ・Rotating chopper, 1
6α, 16A---slit opening, 20a, 20h
, 20C. 20d, 20C... photoelectric conversion element, 22... output device.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)測定光束を被検レンズに透過せしめ、その透過光
束を二対以上の光電変換素子にて受光するとともに、ス
リット開口を走査して上記透過光束をチョッピングし、
上記各々の対を構成する光電変換素子間の出力信号の位
相差に基づいて上記被検レンズの屈折力を測定する装置
において、上記スリット開口の走査方向に対する該スリ
ット開口の傾斜角度を二つ以上の異なる既知の角度にせ
しめるとともに、上記透過光束をチョッピングしている
スリット開口の傾斜角度の判別信号を出力する出力装置
を設け、該判別信号と上記位相差とを演算手段に入力せ
しめて屈折力を得ることを特徴とする自動レンズメータ
(1) Transmitting the measurement light flux through the test lens, receiving the transmitted light flux by two or more pairs of photoelectric conversion elements, and chopping the transmitted light flux by scanning a slit aperture;
In the apparatus for measuring the refractive power of the lens to be tested based on the phase difference of output signals between the photoelectric conversion elements constituting each pair, the slit opening has two or more inclination angles with respect to the scanning direction of the slit opening. An output device is provided which outputs a discrimination signal of the inclination angle of the slit opening which chops the transmitted light beam, and inputs the discrimination signal and the phase difference to a calculation means to determine the refractive power. An automatic lens meter characterized by:
(2)スリット開口の走査方向に対する該スリット開口
の傾斜角度を+45°及び−45°の2種類にしたこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の自動レンズメ
ータ。
(2) The automatic lens meter according to claim 1, wherein the slit opening has two types of inclination angles, +45° and -45°, with respect to the scanning direction.
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