JPH0446371B2 - - Google Patents

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JPH0446371B2
JPH0446371B2 JP60271745A JP27174585A JPH0446371B2 JP H0446371 B2 JPH0446371 B2 JP H0446371B2 JP 60271745 A JP60271745 A JP 60271745A JP 27174585 A JP27174585 A JP 27174585A JP H0446371 B2 JPH0446371 B2 JP H0446371B2
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JP
Japan
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lens
phase difference
photoelectric conversion
slit
light beam
Prior art date
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JP60271745A
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Japanese (ja)
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Masao Noda
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SAN HAITETSUKU KK
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SAN HAITETSUKU KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0228Testing optical properties by measuring refractive power
    • G01M11/0235Testing optical properties by measuring refractive power by measuring multiple properties of lenses, automatic lens meters

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は眼鏡レンズ等の種々のレンズの屈折力
を測定する自動レンズメータに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic lens meter for measuring the refractive power of various lenses such as eyeglass lenses.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来から、自動レンズメータにおいては、機構
的に簡単にしてその製造、調整等を容易にし、し
かも測定時間を短縮するとともに測定精度を向上
させるべく種々の改良が加えられ、特開昭57−
168137号公報に示されるレンズメータが提供され
た。
In the past, various improvements have been made to automatic lens meters in order to make them mechanically simpler and easier to manufacture, adjust, etc., as well as to shorten measurement time and improve measurement accuracy.
A lens meter shown in Japanese Patent No. 168137 was provided.

該レンズメータは、測定光束を被検レンズに透
過せしめ、その透過光束を二対の光電変換素子に
て受光するとともに、走査方向に対し全て同一傾
斜角度をなすスリツト開口を2つの既知の方向に
択一的に走査して上記透過光束をチヨツピング
し、各々の対を構成する光電変換素子間の出力信
号の位相差を演算手段に入力せしめて屈折力を測
定するものであつた。
The lens meter transmits a measurement light flux through a lens to be tested, receives the transmitted light flux by two pairs of photoelectric conversion elements, and also inserts a slit aperture, which all has the same inclination angle with respect to the scanning direction, in two known directions. The refractive power was measured by selectively scanning and chopping the transmitted light beam, and inputting the phase difference between the output signals between the photoelectric conversion elements of each pair to a calculation means.

そして、上記スリツト開口を2つの既知の方向
に択一的に走査させる手段として、像分割プリズ
ム、像合致プリズム等を使用するものであつた。
An image splitting prism, an image matching prism, or the like is used as a means for scanning the slit opening in two known directions alternatively.

しかしながら、上記特開昭57−168137号公報に
示されるレンズメータにおいては、上述の如く像
分割プリズム、像合致プリズム等が必要であつた
ため、光量的に有効でないので測定精度が低下
し、また機構的にもさほど簡略化できず製作もあ
まり容易でない欠点があつた。
However, the lens meter shown in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-open No. 57-168137 requires an image splitting prism, an image matching prism, etc., as described above, and is not effective in terms of light quantity, resulting in a decrease in measurement accuracy. However, it had the disadvantage that it could not be simplified very much, nor was it easy to manufacture.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

本発明は上記従来技術の欠点を除去するもの
で、像分割プリズム、像合致プリズム等を使用す
る必要がなく、機構が単純化でき、光量的にも有
利で測定精度の良いレンズメータを提供しようと
するものである。
The present invention eliminates the drawbacks of the prior art described above, and provides a lens meter that does not require the use of an image splitting prism, an image matching prism, etc., has a simple mechanism, is advantageous in terms of light quantity, and has good measurement accuracy. That is.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記問題点を解決するため、本発明は、測定光
束を被検レンズに透過せしめ、その透過光束を二
対以上の光電変換素子にて受光するとともに、複
数のスリツト開口を順次走査して上記透過光束を
順次チヨツピングし、上記各々の対を構成する光
電変換素子間の出力信号の位相差に基づいて上記
被検レンズの屈折力を測定する装置において、上
記複数のスリツト開口の走査方向に対する該各ス
リツト開口の傾斜角度を二つ以上の異なる既知の
角度にせしめるとともに、上記透過光束をチヨツ
ピングしているスリツト開口の傾斜角度の判別信
号を出力する出力装置を設け、該判別信号と上記
位相差とを演算手段に入力せしめて屈折力を得る
構成としたものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention transmits a measurement light flux through a test lens, receives the transmitted light flux by two or more pairs of photoelectric conversion elements, and sequentially scans a plurality of slit openings to In the apparatus for measuring the refractive power of the lens to be tested based on the phase difference of output signals between the photoelectric conversion elements constituting each pair by sequentially chopping the light beam, each of the plurality of slit apertures is An output device is provided to set the inclination angle of the slit aperture to two or more different known angles, and to output a discrimination signal for the inclination angle of the slit aperture that is chopping the transmitted light beam, and to output a discrimination signal between the discrimination signal and the phase difference. The refractive power is obtained by inputting the refractive power into the calculation means.

〔作用〕[Effect]

本発明によれば、被検レンズの透過光束を順次
チヨツピングする各スリツト開口の傾斜角度を、
該スリツト開口の走査方向に対して2つ以上の異
なる既知の角度にせしめたため、一方向に走査す
るだけで、走査方向に対し全て同一傾斜角度をな
すスリツト開口を2つの既知の方向に択一的に走
査して被検レンズの透過光束をチヨツピングする
ことと実質的に等価となる。
According to the present invention, the inclination angle of each slit opening for sequentially chopping the transmitted light beam of the test lens is
Since the slit openings are made to have two or more different known angles with respect to the scanning direction, by scanning in one direction, the slit openings, which all have the same inclination angle with respect to the scanning direction, can be selected between two known directions. This is substantially equivalent to scanning the lens and chopping the transmitted light beam of the lens to be inspected.

したがつて、本発明によれば、従来の如き像分
割プリズム、像合致プリズム等が必要なくなり、
機構が単純となるとともに、光量的に有利で測定
精度も向上することとなる。
Therefore, according to the present invention, there is no need for conventional image splitting prisms, image matching prisms, etc.
The mechanism is simple, the amount of light is advantageous, and the measurement accuracy is improved.

〔実施例〕〔Example〕

以下、一実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。
Hereinafter, the present invention will be explained in detail based on one embodiment.

第1図はこの実施例の光学系の構成図である。 FIG. 1 is a block diagram of the optical system of this embodiment.

同図において、1は測定光束を発するLED光
源で5個のLED1a,1b,1c,1d,1e
から構成されている。第1図におけるL−L矢視
図を示す第2図示の如く、一対のLED1a,1
bは、第1図紙面内で測定光軸Oに直交する線に
対し+45°をなす線上でかつ測定光軸Oに対称に
配置され、他の一対のLED1c,1dは第1図
紙面内で測定光軸Oに直交する線に対し−45°を
なす線上でかつ測定光軸Oに対称に配置され、
LED1eは測定光軸O上に配置されている。も
つとも、LED1a乃至1dの配置は適宜変更す
ることもできる。なお、図面実施例の場合、後述
の如く、LED1a乃至1dが被検レンズ7の屈
折力の測定に関与するものであり、LED1eは
被検レンズ7のプリズム量の測定に関与するもの
である。したがつて、被検レンズ7の屈折力のみ
測定する場合には、上記LED1eは特に必要な
いものである。
In the same figure, 1 is an LED light source that emits a measurement luminous flux, and five LEDs 1a, 1b, 1c, 1d, 1e
It consists of As shown in the second diagram showing the LL arrow view in FIG. 1, a pair of LEDs 1a, 1
b is arranged on a line making an angle of +45° with respect to the line perpendicular to the measurement optical axis O in the plane of the drawing 1, and symmetrically to the measurement optical axis O, and the other pair of LEDs 1c and 1d are arranged in the plane of the drawing 1. arranged on a line making -45° to a line perpendicular to the measurement optical axis O and symmetrically to the measurement optical axis O,
The LED 1e is arranged on the measurement optical axis O. However, the arrangement of the LEDs 1a to 1d can be changed as appropriate. In the case of the embodiment shown in the drawings, the LEDs 1a to 1d are involved in measuring the refractive power of the lens 7 to be tested, and the LED 1e is involved in measuring the amount of prism of the lens 7 to be tested, as will be described later. Therefore, when measuring only the refractive power of the lens 7 to be tested, the LED 1e is not particularly necessary.

また、2は上記LED光源1からの光束を絞り
4に集光するコンデンサレンズである。3は開口
絞りで、第1図におけるM−M線矢視図を示す第
3図示の如く、上記LED光源1のLED1a乃至
1eにそれぞれ対応した開口3a乃至3eを有し
ている。4は開口4aを有する絞りで、その平面
図を示す第4図示の如き形状とされている。ま
た、5は上記開口絞り3の開口3a乃至3eを、
被検レンズ7を保持するレンズホルダー6面上に
結像させる結像レンズである。なお、上記絞り4
は該結像レンズ5の焦点付近にあることが望まし
い。
Further, 2 is a condenser lens that focuses the luminous flux from the LED light source 1 onto an aperture 4. Reference numeral 3 denotes an aperture stop, which has apertures 3a to 3e corresponding to the LEDs 1a to 1e of the LED light source 1, respectively, as shown in FIG. Reference numeral 4 denotes a diaphragm having an aperture 4a, which has a shape as shown in the fourth figure showing its plan view. Further, 5 indicates the apertures 3a to 3e of the aperture stop 3,
This is an imaging lens that forms an image on the surface of the lens holder 6 that holds the lens 7 to be tested. In addition, the above aperture 4
is preferably located near the focal point of the imaging lens 5.

したがつて、LED光源1を発した光束はコン
デンサレンズ2で絞り4の開口4aへ集光され、
絞り3の開口3a乃至3eを通過し、さらに絞り
4の開口4aを通過し、結像レンズ5を通過した
後ほぼ平行光束となり被検レンズ7の内面に上記
開口3a乃至3eに対応した像を結び、さらに被
検レンズ7を透過することとなる。
Therefore, the light beam emitted from the LED light source 1 is condensed by the condenser lens 2 onto the aperture 4a of the diaphragm 4,
After passing through the apertures 3a to 3e of the diaphragm 3, further passing through the aperture 4a of the diaphragm 4, and passing through the imaging lens 5, it becomes a substantially parallel light beam and forms an image corresponding to the apertures 3a to 3e on the inner surface of the test lens 7. The light then passes through the lens 7 to be tested.

なお、説明上、上記LED光源1、コンデンサ
レンズ2、開口絞り3、絞り4、結像レンズ5、
レンズホルダー6及び被検レンズ7を測定光束光
学系8と呼ぶことにすれば、該測定光束光学系8
は他の構成でもよい。例えば、第1図における測
定光束光学系8の代りに、第5図あるいは第6図
示の如き構成の測定光束光学系を使用することも
できる。第5図及び第6図において、第1図と同
一構成部分には同一符号を付してある。第5図に
おいて、9はフイラメント、10はコリメータレ
ンズである。また、第6図において、11は点光
源、12はコリメータレンズ、13は第1図にお
ける開口絞り3と同様に構成されたレンズホルダ
ー6に取付けられた開口絞りである。
For the purpose of explanation, the above LED light source 1, condenser lens 2, aperture diaphragm 3, diaphragm 4, imaging lens 5,
If the lens holder 6 and the test lens 7 are called a measurement light flux optical system 8, the measurement light flux optical system 8
may have other configurations. For example, instead of the measurement beam optical system 8 in FIG. 1, a measurement beam optical system having a configuration as shown in FIG. 5 or 6 may be used. In FIGS. 5 and 6, the same components as in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. In FIG. 5, 9 is a filament and 10 is a collimator lens. Further, in FIG. 6, 11 is a point light source, 12 is a collimator lens, and 13 is an aperture diaphragm attached to a lens holder 6 configured similarly to the aperture diaphragm 3 in FIG.

また、第1図において、14はコリメータレン
ズで、一方の焦点がレンズホルダー6面上付近に
あり、他方の焦点が回転チヨツパー15の表面付
近にあることが望ましい。回転チヨツパー15に
は後に詳述する複数のスリツト開口16a,16
bが設けられており、該回転チヨツパー15はモ
ータ17により一方向に回転させられる。
Further, in FIG. 1, reference numeral 14 denotes a collimator lens, and it is desirable that one focal point is located near the surface of the lens holder 6, and the other focal point is located near the surface of the rotating chopper 15. The rotary chopper 15 has a plurality of slit openings 16a, 16 which will be described in detail later.
b, and the rotary chopper 15 is rotated in one direction by a motor 17.

さらに、18は上記レンズホルダー6面上に結
像した開口像を光電変換器19の受光面上に結像
させる結像レンズである。光電変換器19の受光
面には、第1図におけるN−N矢視図を示す第7
図示の如く、上記開口絞り3の開口3a乃至3e
にそれぞれ対応した光電変換素子20a乃至20
eが設けられている。
Further, reference numeral 18 denotes an imaging lens that forms an aperture image formed on the surface of the lens holder 6 onto the light receiving surface of the photoelectric converter 19. On the light-receiving surface of the photoelectric converter 19, there is a seventh mark shown in the NN arrow view in FIG.
As shown in the figure, apertures 3a to 3e of the aperture stop 3
Photoelectric conversion elements 20a to 20 corresponding to
e is provided.

したがつて、上述の如く被検レンズ7を透過し
た絞り3の開口3a乃至3eに基づく光束は、コ
リメータレンズ14により回転チヨツパー15の
表面に集光され、該回転チヨツパー15によつて
チヨツピングされ、さらに該回転チヨツパー15
のスリツト開口16a又は16bを透過した光束
が光電変換素子20a乃至20eへ投光されるこ
ととなる。
Therefore, the light beam based on the apertures 3a to 3e of the diaphragm 3 that has passed through the test lens 7 as described above is focused by the collimator lens 14 onto the surface of the rotating chopper 15, and is chopped by the rotating chopper 15. Furthermore, the rotating chopper 15
The light beam transmitted through the slit opening 16a or 16b is projected onto the photoelectric conversion elements 20a to 20e.

そして、本発明では、被検レンズ7の透過光束
をチヨツピングする複数のスリツト開口の走査方
向に対する該各スリツト開口の傾斜角度が二つ以
上の異なる既知の角度にされる。
In the present invention, the inclination angles of each of the plurality of slit openings for chopping the transmitted light beam of the test lens 7 with respect to the scanning direction are set to two or more different known angles.

図面実施例の場合、回転チヨツパー15の展開
図を示す第8図示の如く、回転チヨツパー15の
回転方向Xに対する第1スリツト開口16aの傾
斜角度が+45°、第2スリツト開口16bの傾斜
角度が−45°とされている。もつとも、他の角度
にしてもよく、三つ以上の異なる既知の角度にし
てもよいものである。また、スリツト開口は、任
意に配列すればよいものであり、例えば、回転チ
ヨツパー15の代わりに、第9図示の如く第1ス
リツト開口16a及び第2スリツト開口16bの
配列を変更した回転チヨツパー21を使用しても
よいものである。なお、第9図は回転チヨツパー
21の展開図を示すものである。なお、スリツト
開口の形状は実際には一定の傾き角をもつている
方が望ましい。
In the case of the embodiment shown in the drawings, as shown in FIG. 8 showing a developed view of the rotary chopper 15, the inclination angle of the first slit opening 16a with respect to the rotational direction X of the rotary chopper 15 is +45°, and the inclination angle of the second slit opening 16b is -. It is said to be 45°. However, other angles may be used, or three or more different known angles may be used. Further, the slit openings may be arbitrarily arranged. For example, instead of the rotating chopper 15, a rotating chopper 21 with a changed arrangement of the first slit opening 16a and the second slit opening 16b as shown in FIG. 9 may be used. It is okay to use. Incidentally, FIG. 9 shows a developed view of the rotary chopper 21. Note that it is actually preferable that the shape of the slit opening has a constant inclination angle.

さらに、本発明では、いかなる傾斜角度のスリ
ツト開口にて被検レンズ7の透過光束をチヨツピ
ングしているかの判別信号(以下、単に判別信号
という)を出力する出力装置22が設けられる。
Further, in the present invention, an output device 22 is provided which outputs a determination signal (hereinafter simply referred to as a determination signal) indicating at what angle of inclination the slit opening is chopping the transmitted light beam of the test lens 7.

図面実施例の場合、該出力装置22は、例えば
スリツト開口16a,16bの位置に対応した回
転チヨツパー15の回転角を検出するセンサー等
が使用されている。
In the embodiment shown in the drawings, the output device 22 uses, for example, a sensor that detects the rotation angle of the rotary chopper 15 corresponding to the position of the slit openings 16a, 16b.

なお、図面実施例の場合、第10図示の如く、
光電変換素子20a,20b,20c及び20d
は各々波形整形回路23a,23b,23c及び
23dに接続されている。一対の光電変換素子2
0a,20bの出力信号を波形整形する一対の波
形整形回路23a,23bは各々第1位相差測定
回路24に接続され、一対の光電変換素子20
c,20dの出力信号を波形整形する一対の波形
整形回路23c,23dは各々第2位相差測定回
路25に接続されている。第1位相差測定回路2
4及び第2位相差測定回路25はマイクロコンピ
ユータ26のインターフエイス29に接続されて
いる。マイクロコンピユータ26のインターフエ
イス29にはさらに上記出力装置22が接続され
ており、判別信号が入力される。マイクロコンピ
ユータ26は主にマイクロプロセツサ(中央演算
装置)27と、メモリ(記憶装置)28と、イン
ターフエイス(入出力信号処理回路)29とから
構成され、第1スリツト開口16aが被検レンズ
7の透過光束をチヨツピングしているときの第1
位相差測定回路24及び第2位相差測定回路25
の出力と、第2スリツト開口16bが被検レンズ
7の透過光束をチヨツピングしているときの第1
位相差測定回路24及び第2位相差測定回路25
の出力とを各々メモリ28の所定番地に記憶せし
め、その後記憶値間で後述の如き演算を行い、被
検レンズ7の屈接力、すなわち円柱軸角度θと、
球面屈接力Sと円柱面屈接力Cとを演算し、その
結果を表示装置30に表示せしめるものである。
もつとも、図面実施例の場合、マイクロコンピユ
ータ26は後述の如く位相差補正手段及びプリズ
ム量演算手段としての機能も併せて担うものであ
る。
In addition, in the case of the drawing embodiment, as shown in the 10th figure,
Photoelectric conversion elements 20a, 20b, 20c and 20d
are connected to waveform shaping circuits 23a, 23b, 23c and 23d, respectively. A pair of photoelectric conversion elements 2
A pair of waveform shaping circuits 23a and 23b that shape the waveforms of output signals 0a and 20b are each connected to a first phase difference measurement circuit 24, and a pair of photoelectric conversion elements 20
A pair of waveform shaping circuits 23c and 23d that shape the waveforms of the output signals 23c and 20d are each connected to a second phase difference measuring circuit 25. First phase difference measurement circuit 2
4 and the second phase difference measuring circuit 25 are connected to an interface 29 of a microcomputer 26. The output device 22 is further connected to the interface 29 of the microcomputer 26, and a discrimination signal is input thereto. The microcomputer 26 mainly includes a microprocessor (central processing unit) 27, a memory (storage device) 28, and an interface (input/output signal processing circuit) 29, and the first slit opening 16a is connected to the test lens 7. The first point when chopping the transmitted luminous flux of
Phase difference measurement circuit 24 and second phase difference measurement circuit 25
The output of
Phase difference measurement circuit 24 and second phase difference measurement circuit 25
The outputs of the lens 7 to be tested are respectively stored at predetermined locations in the memory 28, and then calculations as described below are performed between the stored values to determine the tangential force of the test lens 7, that is, the cylindrical axis angle θ, and
The spherical surface bending force S and the cylindrical surface bending force C are calculated and the results are displayed on the display device 30.
However, in the case of the embodiment shown in the drawings, the microcomputer 26 also functions as a phase difference correction means and a prism amount calculation means, as will be described later.

ここで、演算により屈折力を求めることができ
る理由について述べる。
Here, the reason why refractive power can be determined by calculation will be described.

被検レンズ7をレンズホルダー6に設置してい
ないとすれば、絞り3の開口3a乃至3dを通過
した光束はそれぞれ第11図a及びbの如く、回
転チヨツパー15面上の一点3′に集光される。
そして、第1スリツト開口16aが第11図aの
如く矢印X方向に走査され、第2スリツト開口1
6bが第11図bの如く矢印X方向に走査され、
各スリツト開口16a,16bがそれぞれ上記一
点3′に集光された光束をチヨツピングすること
となる。
If the lens 7 to be tested is not placed in the lens holder 6, the light beams passing through the apertures 3a to 3d of the diaphragm 3 will be focused at a single point 3' on the surface of the rotating chopper 15, as shown in FIGS. 11a and 11b. be illuminated.
Then, the first slit opening 16a is scanned in the direction of the arrow X as shown in FIG.
6b is scanned in the direction of arrow X as shown in FIG. 11b,
Each of the slit openings 16a and 16b tips the light beam focused on the single point 3'.

一方、被検レンズ7をレンズホルダー6に設置
すると、絞り3の開口3a乃至3dを通過した光
束はそれぞれ第12図a及びbの如く、回転チヨ
ツパー15面上の対応した各点3a′,3b′,3c′,
3d′に集光される。そして、第1スリツト開口1
6aが第12図aの如く矢印X方向に走査され、
第2スリツト開口16bが第12図bの如く矢印
X方向に走査され、各スリツト開口16a,16
bがそれぞれ上記各点3a′,3b′,3c′,3d′に
集光された被検レンズ7の透過光束をチヨツピン
グすることとなる。
On the other hand, when the lens 7 to be tested is placed on the lens holder 6, the light beams passing through the apertures 3a to 3d of the diaphragm 3 are transmitted to corresponding points 3a' and 3b on the surface of the rotating chopper 15, as shown in FIG. 12a and b, respectively. ′、3c′、
The light is focused on 3d'. Then, the first slit opening 1
6a is scanned in the direction of arrow X as shown in FIG. 12a,
The second slit opening 16b is scanned in the direction of arrow X as shown in FIG. 12b, and each slit opening 16a, 16
b serves to chop the transmitted light flux of the lens 7 to be tested, which is focused on each of the points 3a', 3b', 3c', and 3d'.

上記第11図及び第12図の状況は、従来技術
の項で説明した、走査方向に対し全て同一傾斜角
度をなすスリツト開口を2つの既知の方向に択一
的に走査して被検レンズ7の透過光束をチヨツピ
ングすることと実質的に等価となる。
The situations shown in FIGS. 11 and 12 are explained in the prior art section by scanning the slit apertures, which all have the same inclination angle with respect to the scanning direction, alternatively in two known directions. This is substantially equivalent to chopping the transmitted light beam.

したがつて、第1スリツト開口16aが走査し
て被検レンズ7の透過光束をチヨツピングした場
合において、その走査速度が一定であると仮定し
た場合に、光電変換素子20a,20bの出力信
号の位相差から得られた値をD1、光電変換素子
20c,20dの出力信号の位相差から得られた
値をD2とし、第2スリツト開口16bが走査し
て被検レンズ7の透過光束をチヨツピングした場
合において、その走査速度が一定であると仮定し
た場合に、光電変換素子20a,20bの出力信
号の位相差から得られた値をD3、光電変換素子
20c,20dの出力信号の位相差から得られた
値をD4とすれば、 D1=S+Ccos2θ …… D2=C/2sin2θ …… D3=−C/2sin2θ …… D4=S+Csin2θ …… となるものである。
Therefore, when the first slit aperture 16a scans and chops the transmitted light beam of the test lens 7, and assuming that the scanning speed is constant, the output signal position of the photoelectric conversion elements 20a and 20b is The value obtained from the phase difference is D 1 and the value obtained from the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20c and 20d is D 2 .The second slit aperture 16b scans and chops the transmitted light flux of the test lens 7. In this case, assuming that the scanning speed is constant, D 3 is the value obtained from the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20a and 20b, and the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20c and 20d is If the value obtained from is D4 , then D1 = S + Ccos 2 θ ... D 2 = C/2sin2θ ... D 3 = -C/2sin2θ ... D 4 = S + Csin 2 θ ... .

したがつて、未知数がC、S、θであり、測定
データがD1、D2(=−D3)、D4と3つあるため、
上記方程式(又は)から演算することに
より、円柱軸角度θ、球面屈折力S、円柱面屈折
力Cを求めることができるわけである。
Therefore, since the unknowns are C, S, and θ, and there are three measured data, D 1 , D 2 (=-D 3 ), and D 4 ,
By calculating from the above equation (or), the cylinder axis angle θ, the spherical refractive power S, and the cylindrical refractive power C can be determined.

なお、図面実施例の場合にはさらに、スリツト
開口16a,16bの走査速度を検出する走査速
度検出手段31に設けられている。該走査速度検
出手段31は例えば回転チヨツパー15の所定の
回転角を回転したときに要した時間に対応した信
号を出力するように構成され、その出力信号はマ
イクロコンピユータ26のインターフエイス29
に入力されている。
In the case of the embodiment shown in the drawings, a scanning speed detecting means 31 is further provided for detecting the scanning speed of the slit openings 16a, 16b. The scanning speed detecting means 31 is configured to output a signal corresponding to the time required for rotating the rotary chopper 15 through a predetermined rotation angle, and the output signal is sent to the interface 29 of the microcomputer 26.
has been entered.

そして、マイクロコンピユータ26は上記走査
速度検出手段31の出力信号に基づき光電変換素
子間の出力信号の位相差を補正するようにもされ
ている。すなわち、光電変換素子間の出力信号の
位相差がスリツト開口16a,16bの走査速度
に反比例することに着目し、実際の走査速度にお
ける位相差を同一条件の所定の一定走査速度にお
ける位相差に換算するものであり、その後にその
補正された位相差によつて上述の如き演算を行う
ものである。したがつて、スリツト開口16a,
16bの走査速度、具体的にはモータ17の回転
速度が変動する場合においても、モータ17の回
転速度を厳密に一定に保つた場合と同様に高精度
な測定が可能となる。なお、以上の事情は後述の
プリズム量の測定においても全く同様である。
The microcomputer 26 is also configured to correct the phase difference between the output signals between the photoelectric conversion elements based on the output signal of the scanning speed detection means 31. That is, by focusing on the fact that the phase difference between the output signals between the photoelectric conversion elements is inversely proportional to the scanning speed of the slit openings 16a and 16b, the phase difference at the actual scanning speed is converted into the phase difference at a predetermined constant scanning speed under the same conditions. After that, the above-mentioned calculation is performed using the corrected phase difference. Therefore, the slit opening 16a,
Even when the scanning speed of the motor 16b, specifically the rotational speed of the motor 17, fluctuates, highly accurate measurement is possible in the same way as when the rotational speed of the motor 17 is kept strictly constant. Note that the above situation is exactly the same in the measurement of the amount of prism, which will be described later.

もつとも、モータ17の回転速度を厳密に一定
に保てば、上記走査速度検出手段31及び上記マ
イクロコンピユータ26の位相差補正手段として
の機能は不要である。
However, if the rotation speed of the motor 17 is kept strictly constant, the scanning speed detection means 31 and the microcomputer 26 do not need to function as phase difference correction means.

さらに、図面実施例の場合、被検レンズ7のプ
リズム量が測定できるように構成されている。す
なわち、上述の光電変換素子20eの他に、プリ
ズム量検出センサとして第1図示の如く光源32
及び光電変換素子33が設けられており、被検レ
ンズ7がレンズホルダー6に設置されていない状
態(この状態では絞り3の開口3eを通過した光
束も第11図a及びbの如く回転チヨツパー15
面上の一点3′に集光される。)において、光電変
換素子20e,33の出力信号の発生タイミング
が一致するように配置されている。もつとも、そ
の発生タイミングが一致するように配置しなくて
も、予め光電変換素子20e,33の出力信号間
の位相差をマイクロコンピユータ26のメモリ2
8に記憶させておけばよい。そして、上記光電変
換素子20e,33はその出力信号をそれぞれ波
形整形する波形整形回路34,35に接続されて
いる。また、波形整形回路34,35は各々第3
位相差測定回路36に接続され、さらに該第3位
相差測定回路36はマイクロコンピユータ26の
インターフエイス29に接続されている。そし
て、マイクロコンピユータ26はプリズム量演算
手段としても機能し、第1スリツト開口16aが
絞り3の開口3eに対応した被検レンズ7の透過
光束をチヨツピングしているときの第3位相差測
定回路36の出力と、第2スリツト開口16bが
上記透過光束をチヨツピングしているときの第3
位相差測定回路36の出力とを各々メモリ28の
所定番地に記憶せしめ、その後記憶値間で後述の
如き演算を行い、被検レンズ7のプリズム量を演
算し、その結果も表示装置30に表示せしめるも
のである。
Furthermore, in the case of the embodiment shown in the drawings, the amount of prism of the lens 7 to be tested can be measured. That is, in addition to the photoelectric conversion element 20e described above, a light source 32 as shown in the first diagram is used as a prism amount detection sensor.
and a photoelectric conversion element 33 are provided, and the test lens 7 is not installed in the lens holder 6 (in this state, the light flux passing through the aperture 3e of the diaphragm 3 also passes through the rotating stopper 15 as shown in FIGS. 11a and 11b).
The light is focused on one point 3' on the surface. ), the photoelectric conversion elements 20e and 33 are arranged so that their output signals are generated at the same timing. However, even if they are not arranged so that their generation timings match, the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20e and 33 is stored in advance in the memory 2 of the microcomputer 26.
8 should be memorized. The photoelectric conversion elements 20e and 33 are connected to waveform shaping circuits 34 and 35 that shape the waveforms of their output signals, respectively. Further, the waveform shaping circuits 34 and 35 each have a third
It is connected to a phase difference measuring circuit 36, and the third phase difference measuring circuit 36 is further connected to an interface 29 of the microcomputer 26. The microcomputer 26 also functions as a prism amount calculating means, and the third phase difference measuring circuit 36 when the first slit aperture 16a is chopping the transmitted light beam of the test lens 7 corresponding to the aperture 3e of the aperture 3 and the third output when the second slit aperture 16b is chopping the transmitted light flux.
The outputs of the phase difference measuring circuit 36 are respectively stored at predetermined locations in the memory 28, and then calculations as described below are performed between the stored values to calculate the amount of prism of the lens 7 to be tested, and the results are also displayed on the display device 30. It is something that forces you to do something.

ここで、演算によりプリズム量を求めることが
できる理由について述べる。
Here, the reason why the amount of prism can be determined by calculation will be described.

今、被検レンズ7をレンズホルダー6に設置し
た場合において、該被検レンズ7がプリズム量を
有していないとすれば、絞り3の開口3eを通過
した光束は第12図a及びbの如く回転チヨツパ
ー15面上の一点3e′(第11図a及びbにおけ
る一点3′と同一点)に集光される。そして、該
一点3e′に集光された光束も上述と同様に各スリ
ツト開口16a,16bによつてチヨツピングさ
れるものである。この場合には、光電変換素子2
0e,33の出力信号間に位相差は生じない。
Now, when the test lens 7 is installed in the lens holder 6, and if the test lens 7 does not have a prism amount, the light flux passing through the aperture 3e of the diaphragm 3 will be as shown in FIGS. 12a and 12b. The light is focused on a point 3e' on the surface of the rotating chopper 15 (the same point as the point 3' in FIGS. 11a and 11b). The light beam focused on the one point 3e' is also stopped by the slit openings 16a and 16b in the same manner as described above. In this case, the photoelectric conversion element 2
No phase difference occurs between the output signals of 0e and 33.

一方、被検レンズ7がプリズム量を有している
とすれば、絞り3の開口3eを通過した光束は第
13図a及びbの如く、上記第12図a及びbに
おける一点3e′に対してプリズム量に対応した分
だけずれた一点3e″に集光される。そして、第1
スリツト開口16aが第13図aの如く矢印X方
向に走査され、第2スリツト開口16bが第13
図bの如く矢印X方向に走査され、各スリツト開
口16a,16bかぞれぞれ上記一点3e″に集光
された光束をチヨツピングすることとなる。な
お、第13図a及びbにおいては、絞り3の開口
3a乃至3dを通過した光束の集光点は省略して
示してある。したがつて、この場合には、光電変
換素子33の出力信号の位相は常に一定であるに
もかかわらず、光電変換素子20eの出力信号の
位相はプリズム量に比例して遅れたり進んだりす
ることとなるため、光電変換素子20e,33の
出力信号の位相差はプリズム量に対応した値を生
ずる。
On the other hand, if the lens 7 to be tested has a prism amount, the light beam passing through the aperture 3e of the diaphragm 3 will be directed to one point 3e' in FIGS. 12a and b, as shown in FIGS. 13a and b. The light is focused on a point 3e'' shifted by an amount corresponding to the amount of the prism.Then, the first
The slit opening 16a is scanned in the direction of the arrow X as shown in FIG.
The beam is scanned in the direction of the arrow X as shown in FIG. The condensing points of the light beams that have passed through the apertures 3a to 3d of the diaphragm 3 are omitted. Therefore, in this case, even though the phase of the output signal of the photoelectric conversion element 33 is always constant, Since the phase of the output signal of the photoelectric conversion element 20e is delayed or advanced in proportion to the amount of prism, the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20e and 33 produces a value corresponding to the amount of prism.

したがつて、第1スリツト開口16aが走査し
て絞り3の開口3eに対応した被検レンズ7の透
過光束をチヨツピングした場合において、その走
査速度が一定であると仮定した場合に光電変換素
子20e,33の出力信号間の位相差から得られ
た値をD5とし、同様に第2スリツト開口16b
が上記透過光束をチヨツピングした場合に光電変
換素子20e,33の出力信号間の位相差から得
られた値をD6とすれば、被検レンズ7のプリズ
ム量Pは、 P=√5 26 2 …… となるものである。
Therefore, when the first slit aperture 16a scans and chops the transmitted light beam of the test lens 7 corresponding to the aperture 3e of the diaphragm 3, and assuming that the scanning speed is constant, the photoelectric conversion element 20e , 33 is the value obtained from the phase difference between the output signals of the second slit opening 16b.
If D 6 is the value obtained from the phase difference between the output signals of the photoelectric conversion elements 20e and 33 when the above-mentioned transmitted light beam is stopped, the prism amount P of the test lens 7 is P=√ 5 2 + 6 2 ....

この結果、未知数がPであり、測定データが
D5、D6と2つあるため、上記式から演算する
ことにより、プリズム量Pを求めることができる
わけである。
As a result, the unknown quantity is P and the measured data is
Since there are two, D 5 and D 6 , the prism amount P can be determined by calculating from the above equation.

以下、上記構成の本発明の動作を説明する。 The operation of the present invention having the above configuration will be explained below.

被検レンズ7をレンズホルダー6に設置した
後、図示なき測定スイツチをONすると測定が開
始する。
After placing the lens 7 to be tested on the lens holder 6, a measurement switch (not shown) is turned on to start measurement.

第1スリツト開口16aが被検レンズ7の透過
光束をチヨツピングしているときには、マイクロ
コンピユータ26はその状態を判別し、位相差測
定回路24,25,36から得られる位相差デー
タ(多数回測定した平均値を使うのが一般的)を
そのメモリ28の所定番地に記憶する。また、第
2スリツト開口16bが被検レンズ7の透過光束
をチヨツピングしているときには、マイクロコン
ピユータ26はその状態を判別し、位相差測定回
路24,25,36から得られる位相差データを
そのメモリ28の異なる所定番地に記憶する。な
お、上記各位相差データにそれぞれ対応したスリ
ツト開口16aあるいは16bの走査速度データ
も走査速度検出手段31からメモリ28の所定番
地に記憶される。
When the first slit aperture 16a is chopping the transmitted light beam of the test lens 7, the microcomputer 26 determines the state and determines the phase difference data obtained from the phase difference measurement circuits 24, 25, 36 (measured many times). (generally, an average value is used) is stored at a predetermined location in the memory 28. Furthermore, when the second slit aperture 16b is chopping the transmitted light flux of the test lens 7, the microcomputer 26 determines the state and stores the phase difference data obtained from the phase difference measuring circuits 24, 25, and 36 in its memory. 28 different predetermined locations. Incidentally, the scanning speed data of the slit opening 16a or 16b corresponding to each of the above-mentioned phase difference data is also stored at a predetermined location in the memory 28 from the scanning speed detecting means 31.

次に、マイクロコンピユータ26で、上記位相
差データ及びそのときの走査速度データ(メモリ
28の記憶値である)とから、その位相差データ
が同一条件下でスリツト開口16aあるいは16
bの走査速度が所定の一定速度である場合におけ
る位相差に補正され、その後その補正された位相
差データに基づき、式〜あるいは式によつ
て演算され、被検レンズ7の屈折力、すなわち円
柱軸角度θ、球面屈折力S、円柱面屈折力Cと、
さらにプリズム量Pが求められ、その結果が表示
装置30に表示される。
Next, the microcomputer 26 calculates the phase difference data from the above phase difference data and the scanning speed data (values stored in the memory 28) at the slit opening 16a or 16 under the same conditions.
b is corrected to the phase difference when the scanning speed is a predetermined constant speed, and then based on the corrected phase difference data, it is calculated by formula ~ or formula, and the refractive power of the test lens 7, that is, the cylinder Axial angle θ, spherical refractive power S, cylindrical refractive power C,
Further, the prism amount P is determined, and the result is displayed on the display device 30.

ただし、マイクロコンピユータ26で式〜
あるいは式に基づく演算を行うと、演算に時間
がかかるとか、光学系の配置により定数が変化し
たりする。そのため、実際の装置では装置を作つ
た後、あらかじめ屈折力及びプリズム量のわかつ
ているレンズを用いて測定を行い、そのときの
D1乃至D6の値を上述の既知の屈折力及びプリズ
ム量と対応させてメモリ28に記憶せしめておく
ように成すことにより、上述の不都合を解消しう
る。未知数はθ、S、Cの3つで測定データは
D1、D2(=−D3)、D4の3つであり、また未知数
はPの1つで測定データはD5、D6の2つである
から、屈折力及びプリズム量はそれぞれ一義的に
定まる。
However, the expression ~
Alternatively, if calculations are performed based on formulas, the calculations may take time, or the constants may change depending on the arrangement of the optical system. Therefore, in an actual device, after making the device, measurements are performed using a lens whose refractive power and amount of prism are known in advance.
By storing the values of D 1 to D 6 in the memory 28 in correspondence with the above-mentioned known refractive power and prism amount, the above-mentioned inconvenience can be solved. The three unknowns are θ, S, and C, and the measured data is
There are three, D 1 , D 2 (=-D 3 ), and D 4 , and one unknown quantity is P, and the measured data is two, D 5 and D 6 , so the refractive power and prism amount are respectively Uniquely determined.

なお、以上の説明においては、被検レンズ7の
屈折力の測定に関与する光電変換素子を2対設け
た場合について述べたが、3対以上設けてもよい
し、また光電変換素子の各対の配置方向も既知で
あれば任意にすることができるものである。
In addition, in the above explanation, the case where two pairs of photoelectric conversion elements involved in the measurement of the refractive power of the test lens 7 were provided was described, but three or more pairs may be provided, and each pair of photoelectric conversion elements The arrangement direction can be arbitrary as long as it is known.

〔発明の効果〕 本発明によれば、従来必要であつた像分割プリ
ズム、像合致プリズム等を使用する必要がなくな
るものである。したがつて、機構が単純化でき製
造が容易で安価となるとともに、光量的に有利で
測定精度も向上する効果が得られるものである。
[Effects of the Invention] According to the present invention, there is no need to use an image splitting prism, an image matching prism, etc., which were conventionally necessary. Therefore, the mechanism is simplified, manufacturing is easy and inexpensive, and the effect of improving the amount of light and measurement accuracy can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図面は本発明の一実施例を示すもので、第1図
は光学系の構成図、第2図は第1図におけるL−
L矢視図、第3図は第1図におけるM−M矢視
図、第4図は第1図における絞りの平面図、第5
図は第1図における測定光束光学系の他の実施例
を示す構成図、第6図は同じく第1図における測
定光束光学系のさらに他の実施例を示す構成図、
第7図は第1図におけるN−N線矢視図、第8図
は第1図における回転チヨツパーの展開図、第9
図は他の回転チヨツパーの展開図、第10図は上
記実施例の回路図、第11図a及びbは被検レン
ズのチヨツピング状態を示す説明図、第12図a
及びbは被検レンズのチヨツピングの他の状態を
示す説明図、第13図a及びbは被検レンズのチ
ヨツピングのさらに他の状態を示す説明図であ
る。 7……被検レンズ、15……回転チヨツパー、
16a,16b……スリツト開口、20a,20
b,20c,20d,20e……光電変換素子、
22……出力装置。
The drawings show one embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a configuration diagram of an optical system, and FIG.
3 is a view taken along line M-M in FIG. 1, FIG. 4 is a plan view of the diaphragm in FIG. 1, and FIG.
FIG. 6 is a configuration diagram showing another embodiment of the measurement beam optical system in FIG. 1, FIG. 6 is a configuration diagram showing still another embodiment of the measurement beam optical system in FIG. 1,
Fig. 7 is a view taken along the line N-N in Fig. 1, Fig. 8 is a developed view of the rotary chopper in Fig. 1, and Fig. 9
The figure is a developed view of another rotary chopper, Figure 10 is a circuit diagram of the above embodiment, Figures 11a and b are explanatory diagrams showing the chopping state of the tested lens, and Figure 12a is
13A and 13B are explanatory diagrams showing other states of chopping of the lens to be tested, and FIGS. 13A and 13B are explanatory diagrams showing still other states of chopping of the lens to be tested. 7...Test lens, 15...Rotating chopper,
16a, 16b...Slit opening, 20a, 20
b, 20c, 20d, 20e...photoelectric conversion element,
22...Output device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 測定光束を被検レンズに透過せしめ、その透
過光束を二対以上の光電変換素子にて受光すると
ともに、複数のスリツト開口を順次走査して上記
透過光束を順次チヨツピングし、上記各々の対を
構成する光電変換素子間の出力信号の位相差に基
づいて上記被検レンズの屈折力を測定する装置に
おいて、上記複数のスリツト開口の走査方向に対
する該各スリツト開口の傾斜角度を二つ以上の異
なる既知の角度にせしめるとともに、上記透過光
束をチヨツピングしているスリツト開口の傾斜角
度の判別信号を出力する出力装置を設け、該判別
信号と上記位相差とを演算手段に入力せしめて屈
折力を得ることを特徴とする自動レンズメータ。 2 上記複数のスリツト開口の走査方向に対する
該各スリツト開口の傾斜角度を+45°及び−45°の
2種類にしたことを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の自動レンズメータ。
[Claims] 1. A measurement light beam is transmitted through a test lens, the transmitted light beam is received by two or more pairs of photoelectric conversion elements, and a plurality of slit openings are sequentially scanned to sequentially chop the transmitted light beam. , in the apparatus for measuring the refractive power of the lens to be tested based on the phase difference of output signals between the photoelectric conversion elements constituting each pair, the inclination angle of each of the plurality of slit openings with respect to the scanning direction of the plurality of slit openings; is set at two or more different known angles, and an output device is provided for outputting a discrimination signal of the inclination angle of the slit aperture that is chopping the transmitted light flux, and the discrimination signal and the phase difference are input to the calculation means. An automatic lens meter characterized by at least obtaining refractive power. 2. The automatic lens meter according to claim 1, wherein the plurality of slit openings have two types of inclination angles, +45° and -45°, with respect to the scanning direction.
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