JPS61277135A - Convergence measuring device for picture tube - Google Patents
Convergence measuring device for picture tubeInfo
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- JPS61277135A JPS61277135A JP11826985A JP11826985A JPS61277135A JP S61277135 A JPS61277135 A JP S61277135A JP 11826985 A JP11826985 A JP 11826985A JP 11826985 A JP11826985 A JP 11826985A JP S61277135 A JPS61277135 A JP S61277135A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は各種画像表示装置に適用して好適な受像管の
コンバージェンス測定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a picture tube convergence measuring device suitable for application to various image display devices.
この発明は各種画像表示装置に適用して好適な受像管の
コンバージェンス測定装置に関し、特に電子ビーム到達
位置決定電極を通過したR、G。The present invention relates to a convergence measuring device for a picture tube suitable for application to various image display devices, and particularly to R and G convergence measurement devices that have passed through an electron beam arrival position determining electrode.
Bの各ビームスポットを水平走査方向に所定のピッチを
もって順次移動させたときに得られるビームスポットの
全形状における輝度データから、R2O,Bの各測定パ
ターンの中心点を算出し、これら中心点のデータに基づ
いてコンバージェンス状態を測定することにより、R,
G、Bの各中心点を正確に測定できるようにしたもので
あり、これによってコンバージェンスの良否を容易かつ
確実に判別できるようにしたものである。The center point of each measurement pattern of R2O and B is calculated from the brightness data of the entire shape of the beam spot obtained when each beam spot of B is sequentially moved at a predetermined pitch in the horizontal scanning direction, and the center point of each measurement pattern of R2O and B is calculated. By measuring the convergence state based on the data, R,
The center point of each of G and B can be accurately measured, thereby making it possible to easily and reliably determine whether the convergence is good or bad.
カラー受像管におけるR、G、Bの各螢光体に対応する
電子ビームの集中度を測定するためのコンバージェンス
測定は目視による場合と、測定装置を使用する場合とが
あり、測定精度に関する限り測定装置を使用した方が良
い。測定装置を使用する場合の一例は、特開昭59−7
4781号公報などによって既に知られている。Convergence measurement to measure the degree of concentration of electron beams corresponding to each of the R, G, and B phosphors in a color picture tube can be done visually or by using a measuring device, and as far as measurement accuracy is concerned, the convergence measurement is done visually. It is better to use the device. An example of using a measuring device is JP-A-59-7
This is already known from Publication No. 4781 and the like.
この測定装置は測定すべき任意の螢光体に、シャドーマ
スクあるいはアパーチャーグリルなどの電子ビーム到達
位置決定電極を介して電子ビームを当てることにより、
そのビーム形状に対応した表示面積を算出することによ
りその中心(ビーム重心)を求めるものである。この場
合電子ビームのパターンの表示位置によって第12図A
−Dに示すようにドツトパターン(図ではGのドツトパ
ターン)と螢光体Gとの位置関係が変化してしまう。This measuring device applies an electron beam to any phosphor to be measured through an electron beam arrival position determination electrode such as a shadow mask or aperture grill.
The center (beam center of gravity) is determined by calculating the display area corresponding to the beam shape. In this case, depending on the display position of the electron beam pattern,
-D, the positional relationship between the dot pattern (the dot pattern G in the figure) and the phosphor G changes.
このように測定ドツトパターンと螢光体との位置関係が
変化すると、同一面積の測定パターンを表示しているに
もかかわらず、測定パターン中における螢光体の重心(
測定結果の重心)が、真の重心位置0に対して変化する
ことになる。このずれは測定誤差になるので、上述した
先行技術ではこの測定誤差を回避するために、次のよう
な手段を採っている。If the positional relationship between the measurement dot pattern and the phosphor changes in this way, the center of gravity of the phosphor in the measurement pattern (
The center of gravity of the measurement result changes with respect to the true center of gravity position 0. Since this deviation results in a measurement error, the prior art described above takes the following measures to avoid this measurement error.
すなわち、重心の測定値が測定パターンと螢光体との位
置関係に対して三角関数的に変化することに着目して、
任意の位置関係、例えば第13図のT1において測定パ
ターンを撮像した場合にはこの位置関係と対称な位置(
螢光体の配列ピッチの1/2)T2に、測定パターンを
発生させて、そのパターンを撮像し、夫々の平均値を求
めることにより、測定値の誤差を相殺して、測定精度を
向上させたものである。In other words, by focusing on the fact that the measured value of the center of gravity changes trigonometrically with respect to the positional relationship between the measurement pattern and the phosphor,
When a measurement pattern is imaged at an arbitrary positional relationship, for example, T1 in FIG. 13, a position symmetrical to this positional relationship (
By generating a measurement pattern at T2 (1/2 of the phosphor arrangement pitch), capturing an image of the pattern, and finding the average value of each, the error in the measurement value can be offset and the measurement accuracy can be improved. It is something that
ところで、このような従来のコンバージェンス測定装置
でも、ビーム集中度を正確に求めることができない。By the way, even with such a conventional convergence measuring device, it is not possible to accurately determine the beam concentration degree.
すなわち、上述の測定装置は、CRT上のドツト信号を
1/2ピツチ移動することにより、′ビームスポン5位
置と螢光体の位置の相互の関係から生じる誤差をキャン
セルするものであるが、この手段では電子ビーム到達位
置決定電極で欠けているビームスポット形状の撮像情報
をそのまま基にして重心位置を算出するものであるから
、ビームスポット重心の算出誤差は必ず存在し、その累
積がコンバージェンス測定の誤差となって表れるからで
ある。That is, the above-mentioned measuring device cancels the error caused by the mutual relationship between the beam spon 5 position and the phosphor position by moving the dot signal on the CRT by 1/2 pitch. Since the method calculates the center of gravity position based on the imaging information of the beam spot shape that is missing from the electron beam arrival position determination electrode, there is always a calculation error of the beam spot center of gravity, and the accumulation of these errors will affect the convergence measurement. This is because it appears as an error.
そこで、この発明ではこのような従来の問題点を解決し
たものであって、電子ビーム到達位置決定電極によりビ
ームスポット形状が変形している場合であっても、ビー
ム中心を正確に算出できるようにして、コンバージェン
ス測定の精度を向上させたものである。Therefore, this invention solves these conventional problems, and makes it possible to accurately calculate the beam center even when the beam spot shape is deformed by the electron beam arrival position determining electrode. This improves the accuracy of convergence measurement.
上述の問題点を解決するため、この発明では第1図〜第
4図に示すように、受像管面の水平方向に所定のピ゛ツ
チをもって順次配されたR、G、Bの各螢光体ストライ
プに対応させて夫々その垂直方向に、少なくとも3本の
データサンプリングラインが設定され、R,G、Bの各
測定パターンを同時に水平方向に所定のピッチをもって
移動させ、水平方向の移動ピッチごとに上記各データサ
ンプリングラインでのR,G、Bに関する各測定パター
ン領域内の垂直方向における夫々の輝度データを順次メ
モリする。輝度データの測定はサンプリングラインをビ
ームが完全に通過し終わるまで実行する。In order to solve the above-mentioned problems, in the present invention, as shown in FIGS. At least three data sampling lines are set in the vertical direction corresponding to each body stripe, and each measurement pattern of R, G, and B is simultaneously moved horizontally at a predetermined pitch, and each horizontal movement pitch is Then, the luminance data in the vertical direction in each measurement pattern area regarding R, G, and B on each data sampling line is sequentially memorized. Measurement of brightness data is performed until the beam has completely passed through the sampling line.
これら輝度データに基づきR,G、Bの各測定パターン
の中心点を算出し、これら中心点のデータに基づいてコ
ンバージェンス状態を測定するようにしたものである。The center points of each of the R, G, and B measurement patterns are calculated based on these luminance data, and the convergence state is measured based on the data of these center points.
この構成によれば、サンプリングラインを横切る全ての
輝度データからそのビームの中心すなわち、ビニムの重
心が算出されるため、R,G、Bの各ビームについての
重心を正確に算出スることができる。各ビームの重心を
正確に算出できれば、これら重心よりビームの集中度も
正確に算出することができるので、コンバージェンス測
定の精度を向上させることができる。According to this configuration, the center of the beam, that is, the center of gravity of the binim, is calculated from all the luminance data that crosses the sampling line, so it is possible to accurately calculate the center of gravity for each of the R, G, and B beams. . If the center of gravity of each beam can be calculated accurately, the degree of concentration of the beam can also be calculated accurately from these centers of gravity, thereby improving the accuracy of convergence measurement.
第1図はこの発明に係る受像管のコンバージェンス測定
装置10の一例を示す系統図であるが、説明の便宜上、
この発明の測定原理をまず第7図以下を参照して説明す
る。FIG. 1 is a system diagram showing an example of a picture tube convergence measuring device 10 according to the present invention, but for convenience of explanation,
The measurement principle of this invention will first be explained with reference to FIG. 7 and subsequent figures.
第7図Aにおいて、R,G、Bは所定のピッチをもって
水平方向に配されたストライプ状の螢光体を示し、これ
らのうちの任意の螢光体、この例ではGの螢光体に対応
した位置にデータチンプリングライン2Gを仮想的に設
定する。このデータサンプリングライン2Gは垂直方向
に所定の間隔をもって、複数のサンプリング点が設定さ
れ、データサンプリングライン2G上で発光する輝度デ
ータのみが各サンプリング点ごとにメモリに記憶される
。In FIG. 7A, R, G, and B indicate striped phosphors arranged horizontally at a predetermined pitch, and any phosphor among these, in this example, the G phosphor A data chimpling line 2G is virtually set at the corresponding position. A plurality of sampling points are set on the data sampling line 2G at predetermined intervals in the vertical direction, and only the luminance data emitted on the data sampling line 2G is stored in the memory for each sampling point.
データ転送ラインと画像メモリ (後述する)との関係
を第7図Bに示す。The relationship between the data transfer line and the image memory (described later) is shown in FIG. 7B.
電子ビーム到達位置決定用電極を通過した電子ビームス
ポット1は螢光体に到達することによって、Gの螢光体
のみ注目すれば斜線図示のように発光し、電子ビームス
ポット1を矢印a方向(水平方向)に所定のピッチをも
って順次移動させれば、データサンプリングライン2G
上での発光領域が、そのビーム中心OGに近づくにした
がって増大し、中心を過ぎれば次第にその領域が減少す
る。The electron beam spot 1 that has passed through the electrode for determining the electron beam arrival position reaches the phosphor, and if you pay attention only to the phosphor G, it will emit light as shown by diagonal lines, and move the electron beam spot 1 in the direction of arrow a ( If the data sampling line 2G is moved sequentially at a predetermined pitch in the horizontal direction
The light emitting area at the top increases as it approaches the beam center OG, and gradually decreases beyond the center.
このことから、データサンプリングライン2G上での輝
度分布を測定すると、第8図に示すような単峰状のデー
タ曲線となる。この図において、Kをビームスポット1
の移動ピッチとし、K=0をビームの発光領域がデータ
サンプリングライン2G上にかからないときのピッチと
し、Kが大きくなるにしたがって、ビームスポット1が
左側に移動するものとすれば、輝度分布はビームの中心
で最大となり、その周辺で最小となる。From this, when the luminance distribution on the data sampling line 2G is measured, it becomes a single peak data curve as shown in FIG. In this figure, K is beam spot 1
If K = 0 is the pitch when the beam emission area does not overlap the data sampling line 2G, and the beam spot 1 moves to the left as K increases, the brightness distribution will be as follows: It is maximum at the center and minimum around it.
ビームスポット1の移動ピッチをY軸とし、データサン
プリングライン2G上のデータサンプリング点をY軸と
し、夫々の点での輝度データをZ軸として、ビームスポ
ット1の移動に伴う輝度データの分布を測定すると、第
9図に示すような3次元のデータ曲線になることが判る
。従って、この輝度分布からその最大のデータを示す点
がビームスポット1の中心OGとみなすことができ、こ
の中心0゜が求められれば、同様の手段でR及びBの各
ビームの中心を夫々算出することができる。Measure the distribution of brightness data as beam spot 1 moves, with the moving pitch of beam spot 1 as the Y axis, the data sampling points on data sampling line 2G as the Y axis, and the brightness data at each point as the Z axis. As a result, it can be seen that a three-dimensional data curve as shown in FIG. 9 is obtained. Therefore, the point showing the maximum data from this brightness distribution can be regarded as the center OG of beam spot 1, and once this center 0° is found, the centers of each of the R and B beams can be calculated using the same method. can do.
この発明では、R−Hの各電子ビームスポットIR〜I
Bの移動ピッチごとに夫々の輝度データを同時に計測し
、夫々のデータから各ビームの中心を算出する。In this invention, each electron beam spot IR to I of R-H is
Each luminance data is measured at the same time for each moving pitch of B, and the center of each beam is calculated from each data.
そのため、第3図に示すように、互いに隣接するR、G
、Bの各螢光体の夫々に対応して、少なくとも3本のデ
ータサンプリングライン2R〜2Bが設定され、その状
態で3本の電子ビームを同時に励起する。そうすると、
第4図に示すように3本のビー込に対応したビームスポ
ットIR〜IBが得られる。Therefore, as shown in FIG.
At least three data sampling lines 2R to 2B are set corresponding to each of the phosphors 2R to 2B, and three electron beams are simultaneously excited in this state. Then,
As shown in FIG. 4, beam spots IR to IB corresponding to three beams are obtained.
ビームスポットlRについては、Rの螢光体上に設けら
れた仮想のデータサンプリングライン2R上で発光する
輝度データのみが画像メモリにストアされ、ビームスポ
ットIGについては、Gの螢光体上に設けられた仮想の
データサンプリングライン2G上で発光する輝度データ
のみが画像メモリにストアされ、ビームスポットIBに
ついては、Bの螢光体上に設けられた仮想のデータサン
プリングライン2B上で発光する輝度データのみが画像
メモリにストアされる。For the beam spot 1R, only the luminance data emitted on the virtual data sampling line 2R provided on the phosphor R is stored in the image memory, and for the beam spot IG, the luminance data emitted on the virtual data sampling line 2R provided on the phosphor R is stored in the image memory. Only the luminance data emitted on the virtual data sampling line 2G provided on the phosphor B is stored in the image memory, and for beam spot IB, the luminance data emitted on the virtual data sampling line 2B provided on the phosphor B is stored in the image memory. only are stored in image memory.
従って、3本のビームスポットIR〜IBを同時に矢印
a方向に所定のピッチで移動させながら、夫々の移動点
での輝度データを測定すれば、各ビームスボッ1−IR
〜IBの3次元の輝度分布は第5図に示すものとなり、
これより各輝度分布の中心が算出される。Therefore, if the three beam spots IR to IB are simultaneously moved at a predetermined pitch in the direction of arrow a and the luminance data at each moving point is measured, each beam spot 1 to IR can be measured.
The three-dimensional brightness distribution of ~IB is shown in Figure 5,
From this, the center of each brightness distribution is calculated.
コンバージェンスがとれていないときには、例えば、第
4図のようにビームスポットIR〜IBが夫々異なる螢
光体の位置に到達するから、夫々の中心(X、Y)が相
違する。従って、3本のデータサンプリングライン2R
〜2Bで測定された輝度データから、X、Y軸上のビー
ムスポットIR〜LBを作図すると、第6図に示すよう
になる。When the convergence is not achieved, the beam spots IR to IB arrive at different phosphor positions as shown in FIG. 4, for example, so that their centers (X, Y) are different. Therefore, three data sampling lines 2R
When beam spots IR to LB on the X and Y axes are plotted from the luminance data measured at 2B to 2B, the beam spots IR to LB are plotted as shown in FIG.
そして、例えば電子ビームIGの中心oG (X、。For example, the center oG of the electron beam IG (X,.
YG)を基準とすれば、これに対するビームスポットI
R,IB(7)中心0R1OBは夫々(X RIYR)
、(XB、YB)となって、中心OGに対するビームス
ポットIR,1BのずれrRG+ rBGはこれら中
心を表すデータから容易に算出することができる。この
ような基準となる中心○。からのずれの大きさから、コ
ンバージェンスの良否を的確に判断できる。YG) as a reference, the beam spot I for this
R, IB (7) Center 0R1OB are each (X RIYR)
, (XB, YB), and the deviation rRG+rBG of the beam spots IR and 1B with respect to the center OG can be easily calculated from the data representing these centers. The center ○ serves as such a standard. It is possible to accurately judge whether convergence is good or bad based on the size of the deviation.
この場合、ビームスポットIR〜IBは各データサンプ
リングライン2R〜2B上を最初から最後まで完全に走
査されるので、各ビームスポットIR〜IBの中心OR
〜08はビームスポンドの全形状をサンプリングして輝
度データが算出されるので、非常に正確であり、従って
、これら中心0RXO,よりコンバージェンスを正確に
求めることができる。In this case, since the beam spots IR~IB are completely scanned from the beginning to the end on each data sampling line 2R~2B, the center OR of each beam spot IR~IB is
~08 is very accurate because the brightness data is calculated by sampling the entire shape of the beam pond, and therefore the convergence can be determined more accurately than the center 0RXO.
第1図は第3図に示す輝度分布測定を実現するための一
例を示す系統図である。FIG. 1 is a system diagram showing an example for realizing the brightness distribution measurement shown in FIG. 3.
第1図において、11はコンバージェンス測定に供する
被測定装置で、これには3本のビームスポットIR〜I
Bを同時に励起するために所定の測定パターン信号SC
が供給され、これによって、その受像管面上には第3図
に示すようなドツトパターンが表示される。In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a device to be measured for convergence measurement, which includes three beam spots IR to I.
A predetermined measurement pattern signal SC to simultaneously excite B
As a result, a dot pattern as shown in FIG. 3 is displayed on the picture tube surface.
複数のドツトは白黒用のテレビカメラ12でそのドツト
が撮像され、撮像出力はA/D変換器13でデジタルデ
ータに変換される。デジタルデータは画像メモリ14に
供給されて、各電子ビームごとに対応するエリヤにスト
アされる。ストアすべき輝度データは、データサンプリ
ングライン2R〜2B上の輝度データだけでもよく、ビ
ームスポット全体のR,G、Bの各輝度データでもよい
が、この例では前者の場合を示す。The plurality of dots are imaged by a monochrome television camera 12, and the imaged output is converted into digital data by an A/D converter 13. Digital data is supplied to image memory 14 and stored in an area corresponding to each electron beam. The luminance data to be stored may be only the luminance data on the data sampling lines 2R to 2B, or may be R, G, and B luminance data of the entire beam spot, but this example shows the former case.
画像メモリ14にストアされた各電子ビームの輝度デー
タ、すなわち、夫々のデータサンプリングライン2R〜
2BにおけるR−Bに夫々対応した輝度データのみがビ
ームスポットIR〜IBの移動ピッチごとに、コンピュ
ータで構成されたデータ処理装置15に供給されて、上
述した各電子ビームIR〜IBの中心OR〜0日が算出
されると共に、このデータ処理装置15から、画像メモ
リ14へのデータストア終了の都度、ドツト移動指令信
号が送出される。The brightness data of each electron beam stored in the image memory 14, that is, each data sampling line 2R~
Only the brightness data corresponding to R-B in 2B is supplied to a data processing device 15 constituted by a computer for each moving pitch of the beam spots IR to IB, and the center OR of each of the electron beams IR to IB described above is supplied. Day 0 is calculated, and a dot movement command signal is sent from the data processing device 15 each time data storage into the image memory 14 is completed.
この例では、測定パターン信号そのものを所定のピッチ
だけ順次矢印a方向に移動させるようにした例であるの
で、ドツト移動指令信号は同期発生回路16に供給され
、このドツト移動指令信号に同期してパターン発生器1
7が動作して測定パターン信号SCが出力される。In this example, the measurement pattern signal itself is sequentially moved by a predetermined pitch in the direction of arrow a, so the dot movement command signal is supplied to the synchronization generation circuit 16, and the dot movement command signal is synchronized with the dot movement command signal. pattern generator 1
7 operates and a measurement pattern signal SC is output.
第2図は測定パターン信号の一例を示すもので、測定バ
クーン信号SCはドツト移動ピッチだけ順次ずらされて
出力される(同図A、B)、データ処理装置15では、
第6図に示すように電子ビームIR〜IBにおける夫々
の輝度データからその中心点OR〜OBが算出されると
共に、これら中心点oR〜OBを決めるX、 Yデータ
から、基準となる中心点OGに対する中心点OR,Oa
のずれrRG、 rseが算出される。すなわち、こ
れらのずれrヤ+’8(yは次のようにして算出される
。FIG. 2 shows an example of a measurement pattern signal, and the measurement background signal SC is sequentially shifted by the dot movement pitch and output (A and B in the same figure). In the data processing device 15,
As shown in FIG. 6, the center points OR~OB of the electron beams IR~IB are calculated from the respective brightness data, and from the X and Y data that determine these center points oR~OB, the reference center point OG is calculated. Center point OR, Oa for
The deviations rRG and rse are calculated. That is, these deviations r y +'8 (y is calculated as follows.
Vア =YR−YG ・・・・・・(1)HRG
==XRXQ ・・・・・・(2)、°、
rヤ=行’RG+H’RG ・・・・・・(3)va
a =YG −YB ・・・・・−(4)H
se ”Xs Xa −−(5)、’、r
e(w=0)]T階訂 ・・・・・・(6)ドツトの移
動はドツト信号SCの水平方向の位置をずらすことによ
って求めるのではなく、被測定用の受像機11に対する
水平偏向信号をずらすようにしてもよい。Va=YR-YG ・・・・・・(1) HRG
==XRXQ ・・・・・・(2), °,
rya=row'RG+H'RG ・・・・・・(3)va
a = YG - YB ... - (4) H
se "Xs Xa --(5),', r
e(w=0)] T-gradation (6) The movement of the dot is not determined by shifting the horizontal position of the dot signal SC, but by determining the horizontal deflection relative to the receiver 11 to be measured. The signal may be shifted.
第10図はその一例を示すもので、データ処理装置15
から送出されるドツト移動信号でD/A変換器21が制
御されて、のこぎり波状の水平偏向信号が形成され、こ
れがパターン発生器17に供給されると共に、水平偏向
回路22に供給される。そして、このドツト移動指令信
号が供給される都度、水平偏向回路22より送出される
水平偏向信号に重畳されるDCレベルが制御される。FIG. 10 shows an example of this, in which the data processing device 15
The D/A converter 21 is controlled by the dot movement signal sent from the dot movement signal to form a sawtooth horizontal deflection signal, which is supplied to the pattern generator 17 and also to the horizontal deflection circuit 22. Each time this dot movement command signal is supplied, the DC level superimposed on the horizontal deflection signal sent from the horizontal deflection circuit 22 is controlled.
これによりパターン発生器17より出力される測定パタ
ーン信号の位相が同一であっても、水平偏向信号のDC
レベルが順次シフトされる結果、受像管面上のドツトは
順次左側にシフトされるため、第1図の場合と同様にビ
ームスポットIR〜IBを所定のピッチをもって移動さ
せることができる。As a result, even if the phases of the measurement pattern signals output from the pattern generator 17 are the same, the DC of the horizontal deflection signal
As a result of the sequential shift of the level, the dots on the picture tube surface are sequentially shifted to the left, so that the beam spots IR to IB can be moved at a predetermined pitch as in the case of FIG.
この構成は水平偏向信号に所定のDC電圧を順次変更す
るだけであるから、測定装置が簡単となり、従って受像
管の検査ラインなどに適用して好適である。Since this configuration only requires sequentially changing a predetermined DC voltage to the horizontal deflection signal, the measuring device is simple and is therefore suitable for application to picture tube inspection lines and the like.
また、上述の例では3本のデータサンプリングライン2
R〜2Bを設定して輝度データを測定したが、第11図
に示すように各螢光体に対して、複数のデータサンプリ
ングラインを設定することもでき、このようにする場合
には輝度データの測定時間をそれだけ短縮できる。In addition, in the above example, three data sampling lines 2
Although the brightness data was measured by setting R to 2B, it is also possible to set multiple data sampling lines for each phosphor as shown in Fig. 11, and in this case, the brightness data The measurement time can be reduced accordingly.
輝度データの測定はY方向、のみならず、X方向も行っ
てもよい。この場合には、例えば水平方向にビームを移
動させたのち、垂直方向に移動させて、上述したと同様
の操作で、夫々の輝度データを測定すればよい。Luminance data may be measured not only in the Y direction but also in the X direction. In this case, for example, the beam may be moved in the horizontal direction, then moved in the vertical direction, and the respective luminance data may be measured by the same operation as described above.
以上説明したようにこの発明によれば、受像管面の水平
方向に所定のピッチをもって順次配されたR、G、Bの
各螢光体ストライプに対応させて夫々その垂直方向に、
少なくとも3本のデータサンプリングラインを設定し、
R,G、Hの各測定パターンを同時に水平方向に所定の
ピッチをもって移動させ、水平方向の移動ピッチごとに
上記各データサンプリングラインでのR,G、Bに関す
る各測定パターン領域の垂直方向における夫々の輝度デ
ータを順次メモリして、これら輝度データに基づきR,
G、Bの各測定パターンの中心点を算出し、これら中心
点のデータに基づいてコンバージェンス状態を測定する
ようにしたものである。As explained above, according to the present invention, in the vertical direction corresponding to each of the R, G, and B phosphor stripes sequentially arranged at a predetermined pitch in the horizontal direction of the picture tube surface,
Set up at least three data sampling lines,
The R, G, and H measurement patterns are simultaneously moved horizontally at a predetermined pitch, and each of the R, G, and B measurement pattern regions in the vertical direction at each data sampling line is measured at each horizontal movement pitch. The luminance data of R,
The center points of each measurement pattern of G and B are calculated, and the convergence state is measured based on the data of these center points.
この場合、メモリされる輝度データはデータサンプリン
グラインを横切る電子ビームスポットの全ての領域に対
して求められるものであるから、ビーム中心の算出が正
確となり、それに伴って基準となるビーム中心に対する
他のビーム中心のずれを正確に算出することができ、コ
ンバージェンス状態の良否を的確に判断することができ
る特徴を有する。In this case, since the brightness data to be memorized is obtained for the entire area of the electron beam spot that crosses the data sampling line, the calculation of the beam center is accurate, and accordingly, other It has the characteristics of being able to accurately calculate the deviation of the beam center and accurately determining whether the convergence state is good or bad.
また、少なくとも3本のデータサンプリングラインから
の輝度データを同時に測定しているので、コンバージェ
ンス測定時間を大幅に短縮することができると共に、ビ
ームパターンは測定パターン信号の位相などを所定のピ
ッチだけ順次ずらすようにしているから、画面のコーナ
一部分のコン、パージェンス状態も正確に測定すること
ができ、画面全体のコンバージェンスを簡単、かつ正確
に測定できるなどの特徴を有する。In addition, since the luminance data from at least three data sampling lines are measured simultaneously, the convergence measurement time can be significantly shortened, and the beam pattern sequentially shifts the phase of the measurement pattern signal by a predetermined pitch. Because of this, it is possible to accurately measure the convergence state of a portion of the corner of the screen, and the convergence of the entire screen can be easily and accurately measured.
第1図はこの発明に係るコンバージェンス測定装置の一
例を示す系統図、第2図はドツト信号の一例を示す図、
第3図は螢光体とデータサンプリングラインとの関係を
示す図、第4図はデータサンプリングラインと電子ビー
ムとの関係を示す図、第5図は電子ビームの輝度データ
の分布状態を示す図、第6図は電子ビームの中心のずれ
を示す図、第7図はこの発明の説明に供する第4図と同
様な図、第8図はその輝度分布図、第9図は3次元の輝
度分布状態を示す図、第10図はこの発明の他の例を示
す系統図、第11図は第3図のさらに他の例を示す螢光
体とデータサンプリングラインとの関係を示す図、第1
2図及び第13図は夫々受像管のコンバージェンス測定
の従来例を説明するための図である。
IR〜IBは電子ビームスポット、R−Bは螢光体、2
R〜2Bはデータサンプリングライン、11は被測定用
受像機、12はテレビカメラ、14は輝度データのメモ
リ、15はデータ処理装置、SCは測定パターン信号で
ある。
第−7図
第8図
第3図
A BC
8に
第12図
第11図
り
第13図FIG. 1 is a system diagram showing an example of a convergence measuring device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an example of a dot signal,
Figure 3 is a diagram showing the relationship between the phosphor and the data sampling line, Figure 4 is a diagram showing the relationship between the data sampling line and the electron beam, and Figure 5 is a diagram showing the distribution of brightness data of the electron beam. , FIG. 6 is a diagram showing the shift of the center of the electron beam, FIG. 7 is a diagram similar to FIG. 4 used to explain this invention, FIG. 8 is its brightness distribution diagram, and FIG. 9 is a three-dimensional brightness diagram. FIG. 10 is a system diagram showing another example of the present invention; FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the phosphor and data sampling line showing still another example of FIG. 3; FIG. 1
2 and 13 are diagrams for explaining conventional examples of convergence measurement of picture tubes, respectively. IR to IB are electron beam spots, R-B is phosphor, 2
R to 2B are data sampling lines, 11 is a receiver to be measured, 12 is a television camera, 14 is a memory for brightness data, 15 is a data processing device, and SC is a measurement pattern signal. Figure -7 Figure 8 Figure 3 A BC 8 Figure 12 Figure 11 Figure 13
Claims (1)
たR、G、Bの各螢光体ストライプに対応させて夫々そ
の垂直方向に、少なくとも3本のデータサンプリングラ
インが設定され、 R、G、Bの各測定パターンを同時に水平方向に所定の
ピッチをもって移動させ、水平方向の移動ピッチごとに
上記各データサンプリングラインでのR、G、Bに関す
る各測定パターン領域の垂直方向における夫々の輝度デ
ータを順次メモリして、 これら輝度データに基づきR、G、Bの各測定パターン
の中心点を算出し、これら中心点のデータに基づいてコ
ンバージェンス状態を測定するようにした受像管のコン
バージェンス測定装置。[Claims] At least three data sampling lines are provided in the vertical direction corresponding to each of the R, G, and B phosphor stripes sequentially arranged at a predetermined pitch in the horizontal direction of the picture tube surface. The R, G, and B measurement patterns are simultaneously moved at a predetermined pitch in the horizontal direction, and each measurement pattern area for R, G, and B is vertically moved at each data sampling line at each horizontal movement pitch. An image reception system that sequentially stores luminance data in each direction, calculates the center point of each R, G, and B measurement pattern based on these luminance data, and measures the convergence state based on the data at these center points. Tube convergence measuring device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11826985A JPH0646543B2 (en) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | How to measure the convergence of a picture tube |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11826985A JPH0646543B2 (en) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | How to measure the convergence of a picture tube |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61277135A true JPS61277135A (en) | 1986-12-08 |
JPH0646543B2 JPH0646543B2 (en) | 1994-06-15 |
Family
ID=14732454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11826985A Expired - Fee Related JPH0646543B2 (en) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | How to measure the convergence of a picture tube |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0646543B2 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63241837A (en) * | 1987-03-30 | 1988-10-07 | Toshiba Corp | Color purity adjusting method for color picture tube |
JPH02121231A (en) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Mitsubishi Electric Corp | Electron beam adjusting device for cathode-ray tube |
JPH04181631A (en) * | 1990-11-14 | 1992-06-29 | Nec Corp | Beam shape measuring device for color picture tube |
US5835135A (en) * | 1995-03-08 | 1998-11-10 | Minolta Co., Ltd. | Device for measuring a glow center of a display device |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP11826985A patent/JPH0646543B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63241837A (en) * | 1987-03-30 | 1988-10-07 | Toshiba Corp | Color purity adjusting method for color picture tube |
JPH02121231A (en) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Mitsubishi Electric Corp | Electron beam adjusting device for cathode-ray tube |
JPH04181631A (en) * | 1990-11-14 | 1992-06-29 | Nec Corp | Beam shape measuring device for color picture tube |
US5835135A (en) * | 1995-03-08 | 1998-11-10 | Minolta Co., Ltd. | Device for measuring a glow center of a display device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0646543B2 (en) | 1994-06-15 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |