JPS61277042A - 金属材の組成定量方法及び装置 - Google Patents

金属材の組成定量方法及び装置

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JPS61277042A
JPS61277042A JP60119268A JP11926885A JPS61277042A JP S61277042 A JPS61277042 A JP S61277042A JP 60119268 A JP60119268 A JP 60119268A JP 11926885 A JP11926885 A JP 11926885A JP S61277042 A JPS61277042 A JP S61277042A
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JP
Japan
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metal material
analyzed
composition
discharge tube
electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP60119268A
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English (en)
Inventor
Yoshiro Matsumoto
松本 義朗
Masakatsu Fujino
藤野 允克
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、金属材の内部位置での組成、例えば夫々組成
が異なる複数の合金層からなる金属被膜の各合金層の組
成を定量する方法及び装置に関する。
〔従来技術〕
自動車鋼板において耐食性向上が叫ばれていることに対
応して、近年、Fe −Zn系であってその組成が夫々
異なる複数層の合金メッキを施すことが有効であると判
明し、実用化段階に近づきつつある。
ところで、1層からなるメッキ金属被膜の組成分析には
化学分析法、蛍光X線分析法、グロー放電発光分析法な
どが用いられている。
しかしながらメッキ金属被膜が上述のように同一成分系
の2Jiiである場合には、化学分析法、蛍光X線分析
法では各金属被膜層の付着量2組成を分析できない。
つまり化学分析法は金属被膜を酸溶解し、その熔解液を
用いる分析する方法であり、2層が同一成分系の場合、
各層の厚み分を別々に酸溶解するのが不可能なため金属
被膜全体の平均的分析はできても、各層についての定量
はできない。また蛍光X線分析法による場合は励起X線
の入射深さを浅くすることにより表層側は分析できても
その下層側は表層側の影響を受けるため、化学分析法同
様に平均的分析となり各層についての定量はできない。
このように上記2分析法による場合は、2層からなる金
属被膜層全体の平均的な分析はできても厚さ方向につい
ての分析はできない。このため厚さ方向についての分析
にはグロー放電発光分析法が用いられている。
グロー放電発光分析法は、放電管内を減圧雰囲気とし、
またその雰囲気下にある金属被膜及びこれに対向させて
設けた電極を夫々マイナス電位。
プラス電位として放電管内に不活性ガス例えばアルゴン
ガスを供給し、グロー放電を起こさせ、その光の強度に
基づき組成を定量する方法である。
この分析法による場合は、グロー放電及びスパッタリン
グが生じるため、その経過時間に伴って金属被膜の削離
が進行し、厚み方向の組成分析が可能となる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、グロー放電発光分析法による場合は、金
属被膜の合金相の違い、分析表面の酸化物の存在等によ
りスパッタリングの速度に差が生じるため、合金相の組
成が同一でも発光強度が異なり、組成分析値に誤差が生
ずる虞れがあるという問題点があった。
このため、上記以外の分析法の開発が望まれていた。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、グロ
ー放電により金属材例えば金属被膜を所要厚さ削離し、
削離後の金属被膜部分を励起して蛍光X線を発生せしめ
、その蛍光X線強度を測定する操作を繰り返し行うこと
により、各層の組成を正確に定量し得る金属材の組成定
量方法及び装置を提供することを目的とする。
本発明に係る金属材の組成定量方法は、金属材の内部の
組成を定量する方法において、不活性ガスが存在する減
圧雰囲気下に、定量対象の金属材と電極とを対設し、金
属材に負電位を、また電極に正電位を夫々印加してスパ
ッタリングを生ぜしめて金属材番所要量削離し、 然る後、不活性ガスが存在しない減圧雰囲気下で前記金
属材に正電位を、また電極に負電位を夫々印加し、削離
した金属材表面層から放射線を発生せしめてその放射線
の強度を測定し、その測定値に基づき金属材の内部の組
成を定量することを特徴とする。
〔実施例〕
以下本発明を図面に基づき具体的に説明する。
第1図は本発明の実施状態を示す模式図であり、図中1
は被分析材を示す被分析材lは鋼板1cの広面片側に鋼
板1c側から例えばZnリッチのZn−Fe合金層1b
及びFeリッチのFe−Zn合金層1aが被覆された2
iiメツキ鋼板から採取した円形状のものであり、Fe
−Znn合金層l側側分析面として本発明の分析装置(
以下本発明装置という)10にセントされる。
本発明装置10は一端側が閉塞され、外径が被分析材1
の直径よりも小さい円筒状をなした石英ガラス製の放電
管11を備えており、放電管11の開口された他端には
被分析材1と略等しい外径で中空となった冷却具工4が
放電管11の軸長方向に移動可能に設けられている。放
電管11の他端と冷却具14との間にはその離隔距離を
調整することにより上記分析面を放電管11側にして被
分析材1がセットされるようになっており、そして被分
析材1がセットされることにより放電管ll内は密封さ
れる。
放電管11の周面はその一端に近い位置に減圧口12が
設けられており、また放電管11の軸心を挟んで減圧口
12と反対側周面の他端に近い位置に第2の減圧口I3
が設けられている。減圧口12.13は共に図示しない
真空ポンプからの配管に連通連結されており、減圧口1
3側配管は中途より分岐されてあって、アルゴンガス供
給源(図示せず)に連結されている。その減圧口13側
配管の分岐点よりもアルゴンガス供給源側の位置及び分
岐点よりも真空ポンプ側の位置には夫々バルブが設けら
れており、このバルブの開閉により放電管11内は真空
排気されるか又はアルゴンガスが供給されるようになっ
ている。
放電管ll内の他端側に近い位置には管軸心を中心とし
て矩形板状の銅製電極16が、それに電流を通じるため
の導線16aにて支持されて設けられており、数置ws
16と前記被分析材1とは極性及び所定の電位差を設定
できるようになっている。
被分析材1はスイッチ19を介して直流電源17のプラ
ス端子が接続され、更にそのマイナス端子はその出力電
圧を調整するための抵抗18が接続されており、抵抗1
日の他端はスイッチ21を介して上記導線16aに接続
されている。そして、スイッチ19の被分析材1側と抵
抗18の電極16側との間にはスイッチ20が、またス
イッチ19の電源17側とスイッチ21の電極16側と
の間には、スイッチ22が夫々接続されており、4つの
スイッチ19.20.21.22はその開閉により被分
析材1をプラス又はマイナス電位に、逆に電極16をマ
イナス又はプラス電位にできるようになっている。
従って、真空ポンプを作動させ、減圧口12を介して放
電管ll内を真空排気しつつ減圧口13よりアルゴンガ
スを供給し、また電極16をプラス電位、被分析材lを
マイナス電位とした場合は、放電管11内のアルゴンイ
オン(Ar” )が被分析材1側へ極めて速い速度で移
動していき、これにより放電管11内にグロー放電が生
じ、また被分析材1の分析面の原子が電極16へ向かっ
て放出され、スパンクリングが発生する。
これに対し、アルゴンガスの供給を停止し、減圧口12
.13を介して放電管11内を真空排気して真空に近い
状態にし、また電極16をマイナス電位、被分析材1を
プラス電位とした場合は、電極16から被分析材1に向
って極めて速い速度で電子の移動が起こり、電子が被分
析材lに衝突するとX線が発生する。
減圧口12と反対側の放電管11周壁の一端より適長離
隔した部分は、その一端側内面を被分析材1の分析表面
中心に向けた平面と、他端側内面を電極16側に向けた
平面とで形成されて内側に窪まっており、一端側の平面
と直交する直線が分析表面中心を通るようになっている
その分析表面中心を通る直線と平面との交点を中心とし
た平面部分は石英ガラスの一部を除去してX線透過用の
例えばベリリウム製の窓15が設けられており、被分析
材1から発生したX線はこの窓15を通り、上記直線の
延長上に設けられた分光結晶24に入射する。分光結晶
24にX線が入射するとこれにより特定の波長の2次X
線(特性X線)のみが取出され、その特性X線はその進
路上に設けられた検出器25にて捉えられ、検出器25
はこの特性X線の強度に基づき分析面の組成を定量でき
、また後に説明するようにして付着量を定量できるよう
になっている。
一方、減圧口12と同周側の放電管外側には前記グロー
放電に伴った光の強度を測定するように測定視野中心を
分析面中心に向けて分光523が設けられている。分光
523はグロー放電を開始した時点からの経過時間の計
時を行えるようになっており、その時間と検出した光強
度との関係によりFe−Zn合金層1aとZn−Fe合
金層1bとの大凡の厚さと組成との状態を検出できる。
そして、上述のX線又はスパッタリングが発生する際、
被分析材lは発熱するた・め、前記冷却具14はその内
に冷却水が通流され、被分析材1を冷却できるようにな
っている。
このように構成された本発明装置による分析方法を以下
に説明する。被分析材lが本発明装置10にセットされ
ると、まず真空ポンプを作動させて放電管11内を真空
排気して真空度を例えば2.0Torrに維持したまま
アルゴンガスを導入し、スイッチ19、21を閉、スイ
ッチ20.22を開として所定時間メッキ鋼板1をマイ
ナス電位、電極16をプラス電位とする。これにより放
電管11内のアルゴンイオン(Ar” )は被分析材1
側に移動して衝突し、その衝突により被分析材lの分析
面側は削離されていき、第2図■(グロー放電前)の削
離前の状態から第2図■に示す穴部Aが形成された状態
となる。これにより第2図■の状態でPe−Zn合金層
1a表面に存在する酸化物等が除去されて、後述の組成
分析は酸化物等の存在により生じる分析誤差を防止でき
る。
そして、所定時間経過すると、アルゴンガスの供給を停
止して放電管ll内を真空排気し、真空度を例えば10
− ’ Torr程度に維持し、またスイッチ20、2
2を閉、スイッチ19.21を開にして被分析材lをプ
ラス電位、電極16をマイナス電位とする。
これにより電極16から電子が飛び出して被分析材lに
衝突し、Fe−Zn合金屓1よりX線が発生する。
このX線は連続X線の他にFe−Zn合金層1aの構成
元素固有の特性X線を含んでおり、測定に用いる特性X
線としてはに系列のFeKα、 ZnKα線、FeKβ
ZnKβ線及びL系列のFeL ” + ZnL α線
、 FeLβ+ Z n Lβ線等のうちのし系列の特
性X線例えばFeLα、ZnLα線を用いる。
これは、K系列のX線を用いた場合には組成分析可能な
表面側のFe−Zn合金層1aよりも深いZn−Fe合
金層1bからのX線の影響を受け、正確な組成分析を行
い得ないが、L系列のX線は有効分析長さかに系列のX
線のそれに比して1/30程度と薄いため、L系列のX
線を用いた場合には比較的浅い表層部分の分析に適する
からである。
そして、発生したX線は分光結晶24にて特定の波長の
特性X線のみとなって検出器25に捉えられる。検出器
25は第3図に示すように予め標準試料を用いて測定し
たZnKα線強度比とZn%と捉えたX線の強度比の関
係式が設定されており、この関係式と捉えたX線の強度
比とに基づいて上層のFe−Zn合金層1aの組成を定
量分析する。
次いで、真空度はそのままでアルゴンガスを放電管11
内に供給し、スイッチ19.21を閉、スイッチ20.
22を開にして被分析材1をマイナス電位、電極16を
プラス電位とし、被分析材1を削離していき、第2図(
3)に示すようにZn−Fe合金rf!11bにまで削
離されているより深い穴部Bを形成させる。
この形成の確認は分析を開始してから分光器23にて検
出された光強度(IZn / (IPe +TZn )
 )と時間との関係を示す第4図に基づき行うことがで
きる。つまり第3図の実線にて示す両者の関係線がFe
−Zn合金屓1a部分の横這い状態から立上って再びZ
n−Fe合金Jtilb部分の横這い状態となることに
よって行い得る。
そして第4図■の位置になると、アルゴンガスの供給を
停止して放電管11内を真空排気し、真空度を例えば1
0− ’ Torr程度に維持し、またスイッチ20.
22を閉、スイッチ19.21を開にする。これにより
検出器24にて第2層たるZn−Fe合金Ji#1bの
組成が正確に定量される。
従って本発明による場合は各合金層の組成を正確に測定
することができる。
また本発明による場合は組成の定量分析ピッチを短くす
ることにより各合金層の付着量についても正確に測定す
ることが可能となる。以下これについて詳述する。
第5図は組成の定量分析ピッチを短くした場合のスパッ
タリング時間(横軸)とZn%(縦軸)との関係を示す
グラフであり、図中・印は各スパッタリング時間での本
発明によるZn%定量分析値である。本発明は上述のよ
うにして組成を正確に定量することができるので、第5
図に基づいて金属被膜の厚み方向の組成変化を正確に捉
えることができる。なお、このときの光強度とスパッタ
リング時間との間の関係は、第4図の実線部分とそれに
続く破線部分にて示される。そして、種々の組成が異な
るFe  Zn系金属被膜をグロー放電により削離した
ときのre%とその単位時間当たりの付着Et (g 
/co+2/s )との関係を第6図に示すが、この図
より理解される如<Fe%と上記付着量とは一義的な関
係がある。
従って第5図により金属被膜表面から組成が変化すると
きまでのスパッタリング時間を求め、その組成及び第6
図に示す関係に基づき定まる単位時間当りのスパッタリ
ング量に求めたスパッタリング時間を乗じてスパッタリ
ング量を算出することにより、スパッタリング後のFe
−Zn合金層1aの着量を定量できる。また第2図の■
にて示す如く鋼板10部分まで削離されている穴部Cが
形成されるまでスパッタリングし、スパッタリング開始
から第4図の■にて示す鋼板IC部分の元素、例えばZ
n%が0レベルとなるまでのスパッタリング時間を求め
て前同様に演算することによりZn  Fe合金層1b
の付着量を定量できる。
このように本発明による場合は、正確に定量された組成
値等を使用するので付着量も正確に定量することができ
る。なお、上記実施例ではFe−Zn合金層及びZn−
Fe合金層の2Nからなる金属被膜を分析しているが、
本発明はこれに限らず2元素系以上の合金層を2層有す
る金属被膜一般を分析できる。また本発明は2層の金属
被膜に限らず3層以上有する金属被膜一般を分析でき、
更には金属材の内部の任意の位置の組成を定量できるこ
とは勿論である。
〔効果〕
以上詳述した如く本発明はグロー放電により金属材を所
要量削離したあと、その削離した部分を組成分析するの
で厚さ方向に組成が異なる金属材等を厚さ方向の各位置
での組成を正確に定量でき、またこの定量値を用いる場
合には付着量を正確に定量できる等優れた効果を奏する
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施状態を示す模式図、第2゜3.4
図は本発明による組成定量分析内容の説明図、第5図は
その他の組成定量分析結果例を示すグラフ、第6図は本
発明による付着量定量分析内容の説明図である。 1・・・被分析材 11・・・放電管 16・・・電極
 17・・・直流電源 19,20.21.22・・・
スイッチ 23・・・分光器24・・・分光結晶 25
・・・検出器瞬間 第十図 W4−1&11 ′JI、s−m 翫4 jfP6  凶

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、金属材の内部の組成を定量する方法において、不活
    性ガスが存在する減圧雰囲気下に、定量対象の金属材と
    電極とを対設し、金属材に負電位を、また電極に正電位
    を夫々印加してスパッタリングを生ぜしめて金属材を所
    要量削離し、 然る後、不活性ガスが存在しない減圧雰囲 気下で前記金属材に正電位を、また電極に負電位を夫々
    印加し、削離した金属材表面層から放射線を発生せしめ
    てその放射線の強度を測定し、その測定値に基づき金属
    材の内部の組成を定量することを特徴とする金属材の組
    成定量方法。 2、金属材の内部の組成を定量する装置において、一端
    が閉鎖された筒状をなし、他端の開放部が定量対象の金
    属材にて密封可能となっており、またその内部を減圧す
    るための減圧口を有する放電管と、 該放電管内の前記一端側に、放電管を密封 する金属材に対向させるべく設けた電極と、前記金属材
    と電極とに夫々正、負電位を可 逆的に印加する直流電源回路と、 前記電位の印加により金属材から発生した 放射線の強度を測定する検出器と を具備することを特徴とする金属材の組成 定量装置。
JP60119268A 1985-05-31 1985-05-31 金属材の組成定量方法及び装置 Pending JPS61277042A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002310959A (ja) * 2001-04-16 2002-10-23 Shimadzu Corp 電子線分析装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002310959A (ja) * 2001-04-16 2002-10-23 Shimadzu Corp 電子線分析装置

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