JPS61273807A - Tramsparent conducting oxide thin film - Google Patents

Tramsparent conducting oxide thin film

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JPS61273807A
JPS61273807A JP60114676A JP11467685A JPS61273807A JP S61273807 A JPS61273807 A JP S61273807A JP 60114676 A JP60114676 A JP 60114676A JP 11467685 A JP11467685 A JP 11467685A JP S61273807 A JPS61273807 A JP S61273807A
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cadmium
thin film
tin
acid
cto
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江口 民行
忍 落越
勉 七尾
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 1パ産業上の利用分野゛ 本発明はCd−Sn(カドミウム−スズ)系酸化物透明
導電性薄膜に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application: The present invention relates to a Cd--Sn (cadmium-tin) based oxide transparent conductive thin film.

〔従来の技術・発明が解決しようとする問題点〕透明導
電性Illは液晶用ディスプレイ、エレクトロルミネッ
センス、エレクトロクロミック素子などの表示デバイス
、太陽電池などの光電変換デバイスの1!極材料、ある
いは赤外線反射膜としてますます需要が増加してきてい
る。
[Problems to be solved by the prior art/invention] Transparent conductive Ill is one of the most useful display devices such as liquid crystal displays, electroluminescence, and electrochromic elements, and photoelectric conversion devices such as solar cells! The demand for it as a polar material or an infrared reflective film is increasing.

これら透明導電性3JIIの組成としては、酸化スズに
アンチモンまたはフッ素をドーピングした組成(たとえ
ばNFSAIII)や酸化インジウムにスズをドーピン
グした組成(以下、ITOと略す)などが知られており
、それぞれつぎのごとき特徴を有している。
The compositions of these transparent conductive 3JIIs include a composition in which tin oxide is doped with antimony or fluorine (for example, NFSAIII) and a composition in which indium oxide is doped with tin (hereinafter abbreviated as ITO). It has the following characteristics.

すなわち、酸化スズ系透明導電性膜はスパッタリング法
でも製造可能であるが、コストおよび性能上の理由から
スプレー法や常圧CVD法などの方法により製造されて
おり、安価にえられるが、導電性が1〜6X10−3Ω
・cmどITO膜よりもやや劣ること、膜中のピンホー
ルが多く表面平滑性に劣ること、また耐酸性があるため
逆に酸によるエツチングが困難で精密なパターン加工が
困難となるなどの欠点がある・1・一方、ITOIIは
導電性が2〜5X10−4と良好;で、酸によるパター
ンエツチングが容易である”が、真空蒸着法あるいはス
パッタリング法などの真空系を用いたプロセスにより製
造されているため、製造装置が高価である、生産にはバ
ッチ方式が適するため生産性がわるい、大面積の製膜が
困難である、原料であるターゲットの歩留りがわるく、
インジウム資源の枯渇も予想され、原料費が高くなるな
どの欠点があり、製品が高価になる。
In other words, tin oxide-based transparent conductive films can be manufactured by sputtering, but due to cost and performance reasons, they are manufactured by methods such as spraying and atmospheric CVD. is 1~6X10-3Ω
・Disadvantages include being slightly inferior to ITO films such as cm, having many pinholes in the film and poor surface smoothness, and being acid resistant, making it difficult to etch with acid and making precise pattern processing difficult. On the other hand, ITOII has a good conductivity of 2 to 5X10-4; pattern etching with acid is easy.However, it is manufactured by a process using a vacuum system such as vacuum evaporation or sputtering. Because of this, the manufacturing equipment is expensive, the productivity is low because a batch method is suitable for production, it is difficult to form a film over a large area, and the yield of the raw material target is low.
It is expected that indium resources will be depleted, and there will be disadvantages such as higher raw material costs, making products more expensive.

上記のように、ITOmは高価ではあるが性能が良好で
あるため、電子機器関連用の透明導電性薄膜の用途の大
半にはITOllが使用されているのが現状である。そ
れゆえ、安価で^性能を有する透明導電性@IIの開発
が望まれている。
As mentioned above, although ITOm is expensive, it has good performance, and therefore ITOll is currently used for most of the applications of transparent conductive thin films for electronic devices. Therefore, it is desired to develop a transparent conductive material @II that is inexpensive and has high performance.

前記真空系プロセス以外のITOHの製法として、加熱
されたガラス基板上に金属塩溶液を噴霧して熱分解させ
るスプレー法、基板上に金属塩溶液を塗布したのち加熱
し、熱分解させる塗布法などが提案され、検討されてき
ている。しかしながら、スプレー法には表面が平滑な薄
膜を形成させにクク、WIIIが白濁しやすい、熱分解
したハロゲンなどのガスの後処理が必要で、設備費用が
かさむなどのra題がある。一方、塗布法では真空プロ
セスで作ったITOlaに比べて・表面抵抗が同レベル
のITO膜が製造できないなどの問題がある。
Examples of ITOH production methods other than the vacuum-based process include a spray method in which a metal salt solution is sprayed onto a heated glass substrate and thermally decomposed, and a coating method in which a metal salt solution is applied onto a substrate and then heated and thermally decomposed. have been proposed and considered. However, the spray method has problems such as the formation of a thin film with a smooth surface, which tends to cause cloudiness of Kuku, WIII, and the need for post-treatment with gases such as thermally decomposed halogens, which increases equipment costs. On the other hand, the coating method has problems such as the inability to produce an ITO film with the same level of surface resistance as ITOla made using a vacuum process.

一方、ITO膜と同レベルのsN性、可視光透過性、エ
ツチング加工性を有する透明導電性薄膜として、ノジッ
ク(Nozik)はスパッタリング法によってではある
が、組成がCdz Sno 4であるカドミウム−スズ
酸化物II(以下、CTOllという)を見出している
(米国特許第3811953号゛明細書)。また該Cd
2Sno4 IIよりも導電性はやや劣るが、CdSn
Os躾も透明導電性IWAとして用いうることが知られ
着目されつつある。
On the other hand, Nozik has developed a cadmium-tin oxide film with a composition of Cdz Sno 4 using a sputtering method to create a transparent conductive thin film with the same level of SN property, visible light transmittance, and etching processability as an ITO film. We have discovered Product II (hereinafter referred to as CTOll) (U.S. Pat. No. 3,811,953). Also, the Cd
Although the conductivity is slightly inferior to 2Sno4 II, CdSn
It is known that Os-based material can also be used as a transparent conductive IWA and is attracting attention.

これらCTO膜の欠点は、 ■スパッタリング法により製造する必要があるため、成
膜速度が遅く、生産性が低い二と、および ■可視光平均の透光性は良好であるが、短波長域の吸収
が大きいため黄色に着色しており美感を損うことがあり
、さらに太fill池に用いるばあいには、高エネルギ
ーの短波長光をセル中に通しにくいので効率を低下させ
ること などである。
The disadvantages of these CTO films are: (1) they must be manufactured by sputtering, so the film formation rate is slow and productivity is low; and (2) they have good average visible light transmittance, but in the short wavelength range. Due to its high absorption, it is colored yellow, which may impair its aesthetic appearance.Furthermore, when used in large-fill ponds, it is difficult for high-energy, short-wavelength light to pass through the cell, reducing efficiency. .

本発明者らは、すでに■の欠点については、カドミウム
化合物を含有する複合金属溶液を基板上で熱分解させる
ことにより、cToWAを製造する方法を確立し、特許
出願(特願昭58−248342号)するに至っている
The present inventors have already established a method for manufacturing cToWA by thermally decomposing a composite metal solution containing a cadmium compound on a substrate to solve the drawback (1), and have filed a patent application (Japanese Patent Application No. 58-248342). ).

本発明は、ざらに前記■の欠点を解消するためなされた
ものである。
The present invention has been made to roughly eliminate the above-mentioned drawback (2).

(問題点を解決するための手段〕 本発明は、Cd/Snが原子比で0.3〜2.0であり
、Ca、%、Ba%sr、B、Zn1NL、Fe、Cu
およびPよりなる群から選ばれた1種以上の金属元素が
Sn(スズ)に対して原子比で0.01〜1.0含まれ
ていることを特徴とするCtt−Sn系酸化物透明導電
性薄膜(以下、CTO系薄膜という)に関する。
(Means for solving the problem) The present invention has an atomic ratio of Cd/Sn of 0.3 to 2.0, Ca,%, Ba%sr, B, Zn1NL, Fe, Cu
A Ctt-Sn-based oxide transparent conductor characterized by containing one or more metal elements selected from the group consisting of P and P in an atomic ratio of 0.01 to 1.0 to Sn (tin). The present invention relates to a CTO-based thin film (hereinafter referred to as a CTO-based thin film).

〔実施例〕〔Example〕

本発明のCTO系薄膜は、Cd/Snが原子比で0.3
〜2.O1好ましくは0.8〜1.8の範囲で、これに
第3金属成分が加わり形成される。
The CTO-based thin film of the present invention has an atomic ratio of Cd/Sn of 0.3.
~2. O1 is preferably in the range of 0.8 to 1.8, and is formed by adding a third metal component thereto.

Cd/Snが原子比で0.3未満になると、CTO系薄
膜の導電性が100−1CI−1程度未満となり、透明
導電性薄膜として用いることができなくなり、また酸に
よるエツチングが困難になる傾向が生じる。一方、Cd
/Snが原子比で2.0をこえると、スズと未反応のC
dOの析出が生じて単−相の薄膜とならず、また膜が褐
色に着色するようになり、透光性が損なわれる。
When the Cd/Sn atomic ratio is less than 0.3, the conductivity of the CTO-based thin film becomes less than about 100 CI-1, making it impossible to use it as a transparent conductive thin film and making it difficult to etch with acid. occurs. On the other hand, Cd
/Sn exceeds 2.0 in atomic ratio, tin and unreacted C
Due to the precipitation of dO, a single-phase thin film is not formed, and the film becomes brown, impairing its light transmittance.

本発明に用いる第3金属成分としては、偽、−1aa1
Sr、B、Zn、NL、Qi、F・またはPがあげられ
、これらを単独で用いてもよく、2種以上併用してもよ
い。
The third metal component used in the present invention includes false, -1aa1
Examples include Sr, B, Zn, NL, Qi, F. or P, and these may be used alone or in combination of two or more.

本発明における第3金属成分は、スズに対して原子比で
0.01〜1.01好ましくは0.03〜0.5である
。前記原子比が0.01未満になると、第3金属成分を
用いる効果がほとんど生じなくなり、形成されるCTO
系薄膜の透光性および導)電性が充分改良されない。一
方、前記原子比が゛(:; ;辷1.0をこえると、短波長域の透光性は改良され゛
・、・ 箋 ・5るが導電性が低下し、実用的でなくなる。
The third metal component in the present invention has an atomic ratio of 0.01 to 1.01, preferably 0.03 to 0.5, relative to tin. When the atomic ratio is less than 0.01, the effect of using the third metal component hardly occurs, and the CTO formed
The translucency and conductivity of the system thin film are not sufficiently improved. On the other hand, when the atomic ratio exceeds 1.0, the light transmittance in the short wavelength range is improved, but the conductivity decreases, making it impractical.

1□9 \い 第3金属成分として、たとえばアルカリ土類゛金属であ
る一1Cm、Sr、BaまたはB、Pなどを用い添加す
ると、添加しないばあいと比較して形成されるCTO系
薄膜の密度が増加して硬度が□ 増すとともに、短波長可視光および近紫外線の、− )□透光性が向上し、無添加系の黄色っぽい透明膜ゝ5 汽□ に対して青色がかった無色に近いCTO系薄膜が□えら
れる。なおえられるCTO系薄膜の導電性は、+1 前記第3金属成分を用いないばあいと同程度か・、゛ 二ら50%近い導電性の向上が見られる。
1□9 If an alkaline earth metal such as -1Cm, Sr, Ba, B, or P is added as a third metal component, the CTO thin film formed will be improved compared to when it is not added. As the density increases and the hardness □ increases, the translucency of short wavelength visible light and near ultraviolet rays improves, and it becomes colorless with a bluish tinge compared to the additive-free yellowish transparent film. A similar CTO-based thin film can be obtained. The conductivity of the CTO-based thin film obtained is approximately the same as +1 when the third metal component is not used, or an improvement of nearly 50%.

1、前記第3金属成分としてzI+を用いると、CTO
パ・□系薄膜の短波長可視光および近紫外線の透光性ビ ご− パが著しく改良され、4000人における透光性が未ペ □添加系に比べて30〜50%向上しており、かつ導電
性も向上する。
1. When zI+ is used as the third metal component, CTO
The short-wavelength visible light and near-ultraviolet light transmittance of the PA-based thin film has been significantly improved, and the translucency in 4,000 people has been improved by 30 to 50% compared to the non-PA-added system. Moreover, conductivity is also improved.

、一方、第3金属成分としてF@、NLまたはへを、用
いると、えられるCTO系薄膜の透光性はほとんど改良
されないが、導電性は向上し、中でも;・NL、cIL
の添加効果が大きい。
, On the other hand, when F@, NL, or He is used as the third metal component, the light transmittance of the resulting CTO-based thin film is hardly improved, but the conductivity is improved, among which;・NL, cIL
The effect of adding is large.

前記のごとき第3金属成分を用いてCTO系薄躾を製造
すると、第3金属成分を用いないばあ1゛いと比較して
、短波長可視光および近紫外線の1;3!11!1h1
13tFlclII!f!5AJ=’1.C0IIEI
3Ci。
When a CTO-based thin film is manufactured using the third metal component as described above, the short-wavelength visible light and near ultraviolet rays are 1;3!11!1 h1 compared to 1 h1 when the third metal component is not used.
13tFlcII! f! 5AJ='1. C0IIEI
3Ci.

0°゛rLtll$IfIsSatlIllghr°゛
2°l/、CTOIIIIi、中に3金属成分が固溶し
ているために、■第3金属成分が入ったことにより、本
来のCTO化合物半導体のバンドギャップ(Eg、、)
が大きくなり、基礎吸収端が短波長側にシフトする ■ドーピング効果により自由電子の数が増加し、導電性
が向上する のであろうと考えている。
0°゛rLtll$IfIsSatlIllghr°゛2°l/, CTOIIIi, since the three metal components are dissolved in solid solution, the band gap (Eg ,,)
It is thought that the number of free electrons increases due to the doping effect, which causes the basic absorption edge to shift to the shorter wavelength side and improves the conductivity.

つぎに本発明のCTO系薄膜の製法について説明する。Next, the method for manufacturing the CTO thin film of the present invention will be explained.

CTO系薄膜はスパッタリング法により製造しでもよい
が、本発明者らが開発した特願[58−248342号
明細書記載の製法と同様の製法、すなわち有機溶媒中に
カドミウム化合物、スズ化合物および第3金属成分とな
る第3金属化合物を含有させた複合金属溶液を基板上で
熱分解させることにより製造してもよく、この方法によ
る、l’&lb゛%I:8n*Ual/%%造0111
目的物を4:うろことができる。
The CTO-based thin film may be manufactured by a sputtering method, but a manufacturing method similar to the manufacturing method described in patent application No. 58-248342 developed by the present inventors, that is, a cadmium compound, a tin compound, and a tin compound in an organic solvent is used. It may be manufactured by thermally decomposing a composite metal solution containing a third metal compound as a metal component on a substrate, and by this method, l'&lb゛%I:8n*Ual/%% production0111
4: You can wander around the target.

CTO系*mの形成に用いるカドミウム化合物。Cadmium compound used to form CTO system*m.

□;としては、一般に市販のカドミウム化合物が使゛用
可能であるが、炭素数1〜30稈度の有機物とヤ4 .1カドミウムとから製造されるカドミウム化合物゛:
: 、j゛″13!L?t<、”°″UkltS’Pt&゛
′″″−:、である。このようなカドミウム化合物の典
型的なものとしては、カドミウムカルボン酸塩類、カド
ミウムアルコキシド類、カドミウムβ−ジケトン錯体類
、カドミウムα−ケト酸錯体類、カドミウムα−ケト酸
錯体類、カドミウムα−ケト−エステル錯体類、カドミ
ウムβ−ケト酸エステル錯体類などがあげられる。前記
カドミウムカルボン酸塩類の具体例としては、ギ酸カド
ミウム、酢酸カドミウム、WMF!カドミウム、乳酸カ
ドミウム、マレイン酸カドミウム、シュウ酸カドミウム
、オクチル酸カドミウム、オレイン酸カドミウム、ステ
アリン酸カドミウム、リノール酸カドミウム、ナフテン
酸カドミウムなどの炭素数1〜30の1価または多価カ
ルボン酸カドミウムとの塩が好ましい。カドミウムアル
コキシド類の具体例としては、カドミウムと炭素数1〜
20の1価または多価のアルコールとの反応によりえら
れたカドミウムアルコキシドが用いられる。カドミウム
β−ジケトン錯体類の具体例としては、アセチルアセト
ンカドミウム、ベンゾイルアセトンカドミウムなど、カ
ドミウムα−またはβ−ケトmt錯体類の具体例として
は、アセチルギ酸、アセト酢酸、ブーピオニル−1so
−W&酸、ベンゾイル酢酸などとカドミウムとの錯体、
カドミウムα−またはβ−ケト酸エステル類の具体例と
しては、上記α−またはβ−ケト醸とメチルアルコール
、エチルアルコール、プロピルアルコール、ブチルアル
コールなどとのエステルとカドミウムとの錯体などがあ
げられ、これら以外にもグリコール酸、乳酸、α−オキ
シN酸、ヒドロアクリル酸、サリチル酸などのα−また
はβ−オキシ酸とメチルアルコール、エチルアルコール
、プロピルアルコール、ブチルアルコールなどとのエス
テルとカドミウムとの錯体などやこれらの縮合体、多量
体、混合物なども使用しうる。なかんづく、有機溶媒に
可溶で、400℃以下の加熱で、無機カドミウム化合物
に分解するものがとくに好ましい。
Generally, commercially available cadmium compounds can be used as □; however, organic compounds having 1 to 30 carbon atoms and 4. 1 Cadmium compound manufactured from cadmium:
: , j゛''13!L?t<, "°"UkltS'Pt&゛'''''-: Typical examples of such cadmium compounds include cadmium carboxylates, cadmium alkoxides, Examples include cadmium β-diketone complexes, cadmium α-keto acid complexes, cadmium α-keto acid complexes, cadmium α-keto-ester complexes, cadmium β-keto acid ester complexes, etc. The above-mentioned cadmium carboxylic acid salts Specific examples include cadmium formate, cadmium acetate, WMF!cadmium, cadmium lactate, cadmium maleate, cadmium oxalate, cadmium octylate, cadmium oleate, cadmium stearate, cadmium linoleate, cadmium naphthenate, etc. Salts with cadmium monovalent or polyvalent carboxylic acids having 1 to 30 carbon atoms are preferred.Specific examples of cadmium alkoxides include cadmium and cadmium carboxylic acids having 1 to 30 carbon atoms.
Cadmium alkoxide obtained by reaction with 20 monohydric or polyhydric alcohols is used. Specific examples of cadmium β-diketone complexes include cadmium acetylacetone, cadmium benzoylacetone, etc. Specific examples of cadmium α- or β-keto mt complexes include acetylformate, acetoacetate, bupionyl-1so
- Complex of W& acid, benzoyl acetic acid, etc. and cadmium,
Specific examples of cadmium α- or β-keto acid esters include complexes of esters of the above α- or β-keto acids with methyl alcohol, ethyl alcohol, propyl alcohol, butyl alcohol, etc., and cadmium; In addition to these, there are also complexes of esters of α- or β-oxy acids such as glycolic acid, lactic acid, α-oxyN acid, hydroacrylic acid, and salicylic acid with methyl alcohol, ethyl alcohol, propyl alcohol, butyl alcohol, and cadmium. etc., and condensates, multimers, and mixtures thereof may also be used. Among these, those that are soluble in organic solvents and decompose into inorganic cadmium compounds when heated at 400° C. or lower are particularly preferred.

CTO系薄膜薄膜成に用いるスズ化合物としては、一般
式(1): %式%[) (式中、R1は炭素数1〜20の炭化水素基である)で
表わされる2価のスズのアルコシキト類、一般式(■)
: 5n(OR+)t(N) (式中、R1は前記と同じ)で表わされる4価のスズの
フルコキシド類、一般式圓: Sn(OR+)a<Y*(I] (式中、R1は前記と同じ、Yはキレート能を有する官
能基またはハロゲン原子、Xは1〜3の整数である)で
表わされる4価のスズの部分アルコキシド類または一般
式(1)、一般式[11、一般式圓で表わされる化合物
の縮合多量体などがあげられる。また一般式(至): 5n(OCORz)2[Vl (式中、R2は水素または炭素数1〜30の炭化水素基
である)で表わされる2価のスズのカルボン酸塩類、一
般式M: Sn(OCOR2)a(Vl (式中、R2は前記と同じ)で表わされる4価のスズの
カルボン酸塩類があげられ、さらに2価または4価のス
ズとアセチルアセトン、ベンゾイルアセトンなどとの反
応物であるβ−ジケトン錯体類、スズオキシβ−ジケト
ン錯体類、テトラメチルスズ、テトラエチルスズなどの
アルキルスズ類、テトラフェニルスズなどの有機スズ類
、さらに一般式cvn: RKSnx4−xWD (式中、Rは水素原子または炭素数1〜20の炭化水素
基、Xは塩素原子、フッ素原子などのハロゲン原子、ア
ルコキシ基、カルボン酸残基、Xは前記と同じ)で表わ
される化合物などがあげられるが、これらに限定される
ものではない。
As a tin compound used for forming a CTO-based thin film, a divalent tin alkoxylate represented by the general formula (1): % formula % [) (wherein R1 is a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms) Class, general formula (■)
: 5n(OR+)t(N) (wherein, R1 is the same as above), general formula: Sn(OR+)a<Y*(I] (wherein, R1 is the same as above) is the same as above, Y is a functional group having chelating ability or a halogen atom, and X is an integer of 1 to 3), or tetravalent tin partial alkoxides of general formula (1), general formula [11, Examples include condensation multimers of compounds represented by the general formula (to): 5n(OCORz)2[Vl (wherein, R2 is hydrogen or a hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms) Examples include divalent tin carboxylates represented by the general formula M: Sn(OCOR2)a(Vl (in the formula, R2 is the same as above); β-diketone complexes that are reaction products of valent or tetravalent tin with acetylacetone, benzoylacetone, etc., tinoxy β-diketone complexes, alkyltins such as tetramethyltin and tetraethyltin, and organic tins such as tetraphenyltin. , and the general formula cvn: RKSnx4-xWD (wherein, R is a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, X is a halogen atom such as a chlorine atom or a fluorine atom, an alkoxy group, a carboxylic acid residue, and Examples include, but are not limited to, compounds represented by (same as above).

前記一般式(13で示される化合物の具体例としては、
ジェトキシスズ、ジプロポキシスズ、ジー2−エチルヘ
キソキシスズ、ジプロポキシスズなど、一般式(II)
で示される化合物の具体例としては、テトラエトキシス
ズ、テトラプロポキシスズ、テトラブトキシスズ、テト
ラキス(2−エチルヘキソキシ)スズ、テトラステアロ
キシスズなど、一般式圓で示される化合物の具体例とし
ては、スズブトキシジクロライド、トリステアロキシス
ズモノクロライトなど、一般式■で示される化合物の具
体例としては、酢酸第1スズ、シュウ酸第1スズ、酒石
酸第1スズ、オクチル酸第1スズ、オレイン酸第1スズ
、リノール酸第1スズ、ステアリン酸第1スズなど、一
般式Mで示される化合物の具体例としては、酢酸第2ス
ズ、乳酸第2スズ、II酸第2スズ、オクチル酸第2ス
ズ、リノール酸第2スズなど、一般式(資)で示される
化合物の具体例としては、ジオクチルスズジアセテート
、ジエチルスズオキサイド、ジブチルスズマレエート、
ジフェニルスズジクロライド、ジベンジルスズジヒドロ
キシド、トリブチルスズラウレート、ジブチルスズジラ
ウレート、ジブチルスズプロポキシド、ジピニルスズジ
クOライドんどがあげられる。
Specific examples of the compound represented by the general formula (13) include:
Jetoxytin, dipropoxytin, di-2-ethylhexoxytin, dipropoxytin, etc., general formula (II)
Specific examples of compounds represented by the general formula include tetraethoxytin, tetrapropoxytin, tetrabutoxytin, tetrakis(2-ethylhexoxy)tin, tetrastearoxytin, etc. Specific examples of compounds represented by the general formula Y include tin. Specific examples of compounds represented by the general formula (2), such as butoxydichloride and tristearoxytin monochlorite, include stannous acetate, stannous oxalate, stannous tartrate, stannous octylate, and stannous oleate. , stannous linoleate, stannous stearate, etc. Specific examples of compounds represented by the general formula M include stannous acetate, stannous lactate, stannous II acid, stannous octylate, and linole. Specific examples of compounds represented by the general formula (capital) such as stannic acid include dioctyltin diacetate, diethyltin oxide, dibutyltin maleate,
Examples include diphenyltin dichloride, dibenzyltin dihydroxide, tributyltin laurate, dibutyltin dilaurate, dibutyltin propoxide, and dipinyltin dihydroxide.

これらの化合物は単独で用いてもよく、2種以上混合し
て用いてもよいが、有機溶媒に可溶で400℃以下の加
熱で、無機スズ化合物に分解するものがとくに好ましい
These compounds may be used alone or in combination of two or more, but those that are soluble in organic solvents and decompose into inorganic tin compounds when heated at 400° C. or lower are particularly preferred.

CTO系Illの形成に用いる第3金属化合物としては
、前述のカドミウム、スズを含む溶液中に相溶し、熱分
解後膜中に金属成分が残存することが重要であり、具体
例としてCm、−1Ba。
It is important that the third metal compound used to form the CTO-based Ill be compatible with the solution containing the aforementioned cadmium and tin, and that the metal component should remain in the film after thermal decomposition; specific examples include Cm, -1Ba.

5r1B1Zn、NL、Cu、F・、Pとギ酸、酢酸、
プロピオン酸、乳m、*m、ナフテン酸、オクチル酸、
アクリル酸、メタクリル酸などのカルポ)l:ン酸との
塩類またはアセチルアセトンなどのβ゛・・1: 、、−ジケトン錯体、あるいはαまたはβ−オキシ1.
1 ・・・酸、β−ケトン酸との錯体などの有機金属化合、
3・:1 ・J物、あるいは上記金属の塩化物、硝酸化合物がと 1ゝ ・。好ましい。
5r1B1Zn, NL, Cu, F., P and formic acid, acetic acid,
Propionic acid, milk m, *m, naphthenic acid, octylic acid,
Salts with carbonic acids such as acrylic acid and methacrylic acid or β゛...1 such as acetylacetone, -diketone complexes, or α or β-oxy1.
1...Acids, organometallic compounds such as complexes with β-ketonic acids,
3・:1・J products, or chlorides and nitrate compounds of the above metals are 1ゝ・. preferable.

、゛。,゛.

、cTo系薄膜薄膜成に用いる有機溶媒としては11、
たとえばメチルアルコール、エチルアルコール、゛イソ
プロピルアルコール、ブチルアルコール、(・ ;、゛ペンタノールなどの1価アル1−ル類・1チ′、
パ ゛・ングリコール、グリセリン、1.4−ブタンジオ−
゛ルなどの多価アルコール類、酢酸エチル、酢酸プロピ
ル、酢酸イソアミル、蟻酸プロピルなどのカルボン酸エ
ステル類、アセトン、アセチルアセトン、ジエチルケト
ン、メチルエチルケトンなとのケトン類、ベンゼン、ト
ルエン、キシレンなどの芳香族溶媒類、ジオキサン、テ
トラ秤、 ・ヒドロフランなどのエーテル類、メチルセロソ゛・9 ニー9′ ・、ルプ、エチルセロソルブなどのグリコールニー札1 、:チル類、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホ
ルムアミド、ジメチルアセトアミドなどのチッ素含有有
機溶媒類などがあげられるが、これらに限定されるもの
ではない。これらの有機溶媒1は単独で用いてもよく、
2種以上混合して用い工、よい。、。−16よえ1.□
。。トアルコール類、カルボン酸エステル類、ジオキサ
ン、テトラヒドロフランなどのエーテル類のばあいには
、カドミウム化合物、スズ化合物および第3金属化合物
の種々の組合せに広く用いることができるが、カドミウ
ム化合物、スズ化合物および第3金属化合物の組合せに
応じて適宜選択することが好ましい。
, as an organic solvent used for forming a cTo-based thin film, 11,
For example, monohydric alcohols such as methyl alcohol, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, pentanol,
Pine glycol, glycerin, 1,4-butanedi-
Polyhydric alcohols such as alcohol; carboxylic acid esters such as ethyl acetate, propyl acetate, isoamyl acetate, and propyl formate; ketones such as acetone, acetylacetone, diethyl ketone, and methyl ethyl ketone; aromatic compounds such as benzene, toluene, and xylene. Solvents, dioxane, tetrabalance, ethers such as hydrofuran, glycol nylons such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve, etc., ethyl compounds, N-methyl-2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl Examples include, but are not limited to, nitrogen-containing organic solvents such as acetamide. These organic solvents 1 may be used alone,
It is good to use a mixture of two or more types. ,. -16 Yoe1. □
. . In the case of ethers such as alcohols, carboxylic acid esters, dioxane, and tetrahydrofuran, they can be widely used in various combinations of cadmium compounds, tin compounds, and third metal compounds; It is preferable to select it appropriately depending on the combination of the third metal compound.

CTO系薄膜薄膜成に用いる複合金属溶液は、カドミウ
ム化合物、スズ化合物および第3金属化合物を有機溶媒
に溶解することにより¥A製される。
A composite metal solution used for forming a CTO-based thin film is prepared by dissolving a cadmium compound, a tin compound, and a third metal compound in an organic solvent.

前記複合金属溶液におけるカドミウム化合物、スズ化合
物および第3金属化合物(以下、金属成分という)の濃
度は、金属分として通常0.01〜40%(I量%、以
下同様)程度で使用されるが、作業性などの点から3〜
20%にするのが好ましい。
The concentration of the cadmium compound, tin compound, and third metal compound (hereinafter referred to as metal component) in the composite metal solution is usually about 0.01 to 40% (I amount %, hereinafter the same) as the metal content. , from the point of view of workability etc.
It is preferable to set it to 20%.

CTO系W系膜l膜成に用いる複合金属溶液には必要に
応じて、たとえば有機金属化合物の加水分解を防止する
ためのオルトギ酸エステル系の有機系脱水剤などを加え
てもよい。
If necessary, an organic dehydrating agent such as an orthoformic acid ester may be added to the composite metal solution used for forming the CTO-based W-based film, if necessary.

本発明において、複合金属溶液が石英ガラス、透明アル
ミナ、ソーダ・ガラスあるいはアルカリ拡散防止のため
シリカコート処理したソーダガラスなどから形成された
基板上で熱分解される」ことにより、CTO系薄膜薄膜
成される。
In the present invention, a CTO-based thin film is formed by thermally decomposing a composite metal solution on a substrate made of quartz glass, transparent alumina, soda glass, or soda glass coated with silica to prevent alkali diffusion. be done.

、13ji122″″6°“OMIN!(7111tl
“1”1゛珊ラム化合物、スズ化合物および第3金属化
合物i(0111@−Vc、hQ*e<a’b°■6・
0460゛組合せの中では、カドミウムカルボン酸塩と
ス1ズカルポン酸塩と第3金属成分のカルボン酸塩、・
1 、、:1あるいは第3金属成分のアセチルアセトネート
:パ・1 、(錯体との組合せ、カドミウムカルボン酸塩とス・パ
1 ゛)ズアルコキシドと第3金属成分のカルボン酸塩ある
いは第3金属成分のアセチルアセトネート錯体との組合
せ、カドミウムβ−ジケトン錯体とスズアルコキシドと
第3金属成分のカルボン酸塩あるいは第3金属成分のア
セチルアセトネート錯体との組合せなどが、っぎのよう
な理由から好ましい。すなわち、カドミウムカルボン酸
とスズカルボン酸塩と第3金属成分のカルボン酸塩ある
いは第3金属成分のアセチルアセトネート錯体の組合せ
は、原料が最も安価であり、有用である。その上オレイ
ン酸、リノール酸、リルイン酸などの酸化硬化反応をお
こす不飽和カルボン酸を添加するか、これら不飽和カル
ボン酸のカドミウム塩、第3金属成分塩あるいはスズ塩
を用いるなどの硬化性基を液中に存在させると、さらに
表面状態の良好な薄膜がえられる。該硬化性基を有する
化合物は複合金属溶液中に0.1%以上含有されている
ことが好ましく、カルボン酸塩化合物に対して5〜10
0%含有されていることがさらに好ましく、このような
ばあいに著しい効果を奏する。カドミウムカルボン酸塩
とスズアルコキシドと第3金属成分のカルボン酸塩ある
いは第3金属成分のアセチルアセトネート錯体との組合
せ、あるいはカドミウムβ−ジケトン錯体とスズアルコ
キシドと第3金属成分のカルボン酸塩あるいは第3金属
成分のアセチルアセトネート錯体との組合せのばあいに
は、加えているスズアルコキシドの加水分解性がスズア
ルコキシド単体のばあいと比較して極めて弱くなってお
り、単なる混合組成5、ではなく共反応をおこして配位
化合物になって゛いると考えられ、このような加水分解
性のため、パ基板上の製膜性がとくに優れている。溶液
を共沸処理することが目的の化合物膜を作るためにとく
に好ましい効果が期待できる。
, 13ji122""6°"OMIN! (7111tl
"1" 1゛Coral compound, tin compound and third metal compound i (0111@-Vc, hQ*e<a'b°■6.
0460゛In the combination, cadmium carboxylate, tin carboxylate, and carboxylate of the third metal component,
1,: 1 or acetylacetonate of a third metal component: PA-1, (combination with a complex, cadmium carboxylate and SP1) Dualkoxide and a carboxylate of a third metal component, or acetylacetonate of a third metal component: For reasons such as the combination of a metal component with an acetylacetonate complex, the combination of a cadmium β-diketone complex, a tin alkoxide, and a carboxylate of a third metal component or an acetylacetonate complex of a third metal component, etc. preferable. That is, the combination of cadmium carboxylic acid, tin carboxylate, and carboxylate of the third metal component or acetylacetonate complex of the third metal component is the cheapest raw material and is therefore useful. Furthermore, an unsaturated carboxylic acid that causes an oxidative curing reaction such as oleic acid, linoleic acid, and lyluic acid is added, or a curable group such as a cadmium salt, a third metal component salt, or a tin salt of these unsaturated carboxylic acids is added. When present in the liquid, a thin film with even better surface condition can be obtained. It is preferable that the compound having the curable group is contained in the composite metal solution in an amount of 0.1% or more.
It is more preferable that the content is 0%, and in such a case, a remarkable effect is produced. A combination of a cadmium carboxylate, a tin alkoxide and a carboxylate of a third metal component or an acetylacetonate complex of a third metal component, or a combination of a cadmium β-diketone complex, a tin alkoxide and a carboxylate of a third metal component or In the case of the combination with the acetylacetonate complex of the three metal components, the hydrolyzability of the added tin alkoxide is extremely weak compared to the case of tin alkoxide alone, and the mixture composition is not just 5. It is thought that a co-reaction occurs to form a coordination compound, and because of this hydrolyzability, the film forming property on the substrate is particularly excellent. Particularly favorable effects can be expected when azeotropically treating a solution to produce a target compound film.

また、これら・の化合物同士の共反応を促進させるため
、かかる複合金属溶液を基板上に浸漬塗布などしたのち
70〜150℃にて5〜60分間程分間−プンにて乾燥
させ、ついで空気中または酸素分圧を調整した酸化雰囲
気にて400〜700℃程度で15分間〜2時eJ稈度
熱処理することにより、−次焼成が行なわれる。もちろ
ん該温度を700℃をこえる高温にしてもよいが、70
G’Cをこえる高温にしても特別な利点がえられるわけ
ではない。なお該−次焼成を600℃程度以下で行なう
と、一般に非結晶質となることがsmのX線回折の結果
から判明しており、500℃程度以下で行なうと、W!
III全体がほとんどアモルファスとなり、600℃程
度以上では結晶化することが判明している。
In addition, in order to promote the co-reaction between these compounds, such a composite metal solution is coated on a substrate by dip coating, dried for 5 to 60 minutes at 70 to 150°C, and then exposed to air. Alternatively, secondary firing is performed by eJ culm heat treatment at about 400 to 700° C. for 15 minutes to 2 hours in an oxidizing atmosphere with adjusted oxygen partial pressure. Of course, the temperature may be higher than 700°C, but
Even if the temperature exceeds G'C, no special advantage can be obtained. It has been found from the results of sm X-ray diffraction that if the secondary calcination is performed at a temperature below about 600°C, it generally becomes amorphous, and when it is performed at a temperature below about 500°C, W!
It has been found that the entire III becomes almost amorphous and crystallizes at temperatures above about 600°C.

かかるCTO系薄膜薄膜厚は、塗布する複合金属溶液の
濃度や、たとえば浸漬塗布を行なうばあいには浸漬塗布
時の引上げ速度などによって制御しうる。複合金属溶液
の温度についてはすでに記載したとおりであるが、引と
げ31度については任意に調節可能であり、とくに限定
されるものではないが、たとえばカルボン酸金属化合物
を使用する際には5〜30c+e/分程度を目安にすれ
ばよい。複合金属溶液の濃度や浸漬塗布時の引上げ速度
などはカドミウム化合物、スズ化合物、第3金属化合物
、有機溶媒の組合せや熱分解法、所望する膜厚などに応
じて適宜決定すればよい。このようにして形成される膜
厚は、用途などに応じて適宜選択すればよいが、通常2
00〜20.000人程度であることが好ましく、50
0〜1G、Goo人程度であることがさらに好ましい。
The thickness of the CTO-based thin film can be controlled by the concentration of the composite metal solution to be applied and, for example, in the case of dip coating, the pulling rate during dip coating. The temperature of the composite metal solution is as described above, but the temperature of 31 degrees can be adjusted arbitrarily and is not particularly limited, but for example, when using a carboxylic acid metal compound, A rough guideline is approximately 30c+e/min. The concentration of the composite metal solution, the pulling rate during dip coating, etc. may be appropriately determined depending on the combination of cadmium compound, tin compound, third metal compound, organic solvent, thermal decomposition method, desired film thickness, etc. The thickness of the film formed in this way may be selected as appropriate depending on the application, but it is usually 2.
00 to 20,000 people, preferably 50 to 20,000 people.
It is more preferable that it is about 0 to 1G, about 1.5G.

一次焼成工程によりえられたCTO系WI膜は、通常導
電率が10−1〜102Ω−1(1−1とかなり低いが
、該薄膜に紫外線を照射したり、つぎのごときアニーリ
ングをほどこすことにより、導電率が約1〜2桁向上す
る。
The CTO-based WI film obtained through the primary firing process usually has a conductivity of 10-1 to 102 Ω-1 (1-1, which is quite low, but the thin film can be irradiated with ultraviolet rays or subjected to the following annealing process). As a result, the conductivity is improved by about 1 to 2 orders of magnitude.

アニーリングとは複合金属溶液の分解を目的とする一次
焼成をおえた薄膜を還元雰囲気下、不活性ガス雰囲気下
または通常50imHg以下程度の減圧下で、再び熱処
理を行なうことである。
Annealing refers to heat-treating a thin film that has undergone primary firing for the purpose of decomposing the composite metal solution under a reducing atmosphere, an inert gas atmosphere, or under reduced pressure, usually about 50 imHg or less.

還元雰囲気下での熱処理とは、たとえば水素や一酸化炭
素などの還元性ガス中にて50〜400℃程度の条件で
1〜90分間程分間子活性ガス雰囲気下での熱処理とは
、たとえばアルゴン、チッ素、ヘリウムなどの不活性ガ
ス中で200〜700℃程度で5〜180分程度、また
減圧下での熱処理とは、前記のような減圧下、200〜
700℃程度で5分間〜3時間程度行なう方法である。
Heat treatment in a reducing atmosphere means, for example, heat treatment in a molecular active gas atmosphere for about 1 to 90 minutes at a temperature of about 50 to 400°C in a reducing gas such as hydrogen or carbon monoxide, for example, in a molecular active gas atmosphere. , nitrogen, helium, or other inert gas for about 5 to 180 minutes at about 200 to 700 °C.
This method is carried out at about 700° C. for about 5 minutes to about 3 hours.

またこれらアニーリングは一次焼成工程と31続して実
施しても構わない。これらのアニーリングにより、CT
O系薄膜薄膜電、率が向上する以外に、透光性の領域が
紫外域側にシフトする。
Further, these annealing steps may be performed consecutively with the primary firing step. Through these annealing, CT
In addition to improving the thin film conductivity of O-based thin films, the translucent region shifts to the ultraviolet region.

−次焼成をおえたwllIに紫外線を照射しても、アニ
ーリングと同様の効果がえられる。照射する紫外線とし
ては、波長が2000〜40GOA程度の紫外線を、基
板上の照度が50〜100万ルツクスになるような条件
で1分間〜10時間照射することにより、導電性および
可視光透過性が向上するという効果かえられる。
- Even if wllI is irradiated with ultraviolet rays after the next firing, the same effect as annealing can be obtained. Conductivity and visible light transmittance can be improved by irradiating ultraviolet rays with a wavelength of about 2000 to 40 GOA for 1 minute to 10 hours under conditions such that the illuminance on the substrate is 500,000 to 1 million lux. It has the effect of improving.

本発明のCTO系111Iの製法を浸漬塗布法にもとづ
いて説明したが、浸漬塗布法以外の塗布法、たとえばス
ピンコーティング法、ドクターブレード法なども採用す
ることができる。また加熱された基板に、CTO系薄膜
薄膜成に用いる複合金属溶液を吹きつけて熱分解させて
CTO系薄膜薄膜造することもできる。
Although the method for producing CTO-based 111I of the present invention has been described based on the dip coating method, coating methods other than the dip coating method, such as spin coating and doctor blade methods, can also be employed. It is also possible to form a CTO-based thin film by spraying a composite metal solution used for forming a CTO-based thin film onto a heated substrate and thermally decomposing the solution.

このようにして製造されたCTO系薄躾は、液)品用デ
ィスプレイ、エレクトロルミネッセンス、太陽電池など
の電極材料として好適に使用されうる。
The CTO-based thin film produced in this manner can be suitably used as an electrode material for displays for liquid products, electroluminescence, solar cells, and the like.

つぎに本発明のCTO系sgsを実施例にもとづき説明
するが、本発明はこれらに限定されるも5のではないパ 実施例1〜10および比較例1〜4 ゛金属カドミウム含有ff114.5%のオクチル酸カ
ドミウムエチルセルソルブ溶液1s、og、金属スズ含
有ffi28.0%のオクチル酸スズ8.21;l、さ
らに第1表の第3金属成分を金属スズに対して10モル
%になるようにオクチル酸金属塩の状態で加え、さらに
リノール酸IS、OQ、酢酸イソアミル21.81;l
を加え、4時間共沸処理をして塗布溶液を調製した(金
属含有&約8%、Cd/S口の原子比1.5)。
Next, the CTO-based SGS of the present invention will be explained based on Examples, but the present invention is not limited to these Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 4. Cadmium octylate ethyl cellosolve solution 1s, og, metal tin containing ffi 28.0% tin octylate 8.21; l, and the third metal component in Table 1 so as to be 10 mol % with respect to the metal tin. In addition, linoleic acid IS, OQ, isoamyl acetate 21.81;
was added and subjected to azeotropic treatment for 4 hours to prepare a coating solution (metal content & about 8%, Cd/S atomic ratio 1.5).

この溶液中に厚さ0.81の石英ガラス板を浸漬し、引
上げ速度10C1/Winで引き上げて塗布したのち、
乾燥機中で150″Cx3G分間乾燥させて石英ガラス
板上に透明な硬化膜を形成した。
A quartz glass plate with a thickness of 0.81 mm was immersed in this solution, and after being applied by pulling it up at a pulling rate of 10C1/Win,
It was dried in a dryer for 150''C x 3G minutes to form a transparent cured film on the quartz glass plate.

つぎにこの試料を大気中で600’CX1時間焼成し、
透明無機化合物をえて、直流四端子法による表面抵抗値
、x11回折および可視光の透過性−j′□を測定した
Next, this sample was fired at 600'CX for 1 hour in the air.
A transparent inorganic compound was obtained, and its surface resistance value, x11 diffraction, and visible light transmittance -j'□ were measured using a DC four-terminal method.

引き続き、これらの基板をHi:Nzが1:1(モル比
)の混合ガス中で300℃X3G分間アニール処理を施
し、前記とrf4t*な測定を実施した。
Subsequently, these substrates were annealed at 300° C. for 3 G minutes in a mixed gas with a Hi:Nz ratio of 1:1 (molar ratio), and the same rf4t* measurements as described above were performed.

また、これらの薄膜を蛍光X線分析法により、伽、Sn
、第3金属の組成比を求め、アニール前および出発組成
と組成比が殆んど変化してぃないことを確認した。
In addition, these thin films were analyzed using fluorescent X-ray analysis to determine the
The composition ratio of the third metal was determined, and it was confirmed that the composition ratio was almost unchanged from the composition before annealing and the starting composition.

さらに、酸によるエツチング処理をして膜に段差を作り
、段差型膜厚計により各aimの膜厚を測定して、各々
の体積抵抗率を求めた。
Further, the film was etched with acid to form a step, and the film thickness of each aim was measured using a step-type film thickness meter to determine the volume resistivity of each.

これらの実施例の結果を第1表にまとめた。The results of these Examples are summarized in Table 1.

〔以下余白〕[Margin below]

jノ実施例11 無氷酢酸カドミウム23.OQとスズテトラブトキシド
22.8aとをエチルアルコール1yogニaかし、さ
らに無水酢酸亜鉛を所定量加えたのち、約4時間還流し
て塗布溶液をli’lた(cd/Snの原子比1.8)
Example 11 Ice-free cadmium acetate 23. After boiling OQ and tin tetrabutoxide 22.8a in 1 yogonia of ethyl alcohol, and adding a predetermined amount of anhydrous zinc acetate, the coating solution was refluxed for about 4 hours (the atomic ratio of cd/Sn was 1). .8)
.

該溶液を実施例1と同様に石英ガラス上に塗布したのち
、大気中、500℃×30分間焼成し、200℃×30
分間水素雰囲気中にてアニール処理を施して導電性を測
定したところ、第1図に見゛°られる様にZnの添加に
より導電性が向上した。
After coating the solution on quartz glass in the same manner as in Example 1, it was baked in the air at 500°C for 30 minutes, and then heated at 200°C for 30 minutes.
When the conductivity was measured after annealing in a hydrogen atmosphere for 1 minute, the conductivity was improved by the addition of Zn, as seen in FIG.

実施例12 実施例11と同様にして、第3金属成分として、酢酸ス
トロンチウム、ニッケルジアセチルアセトナートおよび
オクチル酸亜鉛をそれぞれスズに対して0.1モル加え
、還流後石英ガラスEに塗布焼成し、さらにアニール処
理を施して透明導電性IIIをえた。なお膜厚はすべて
約1100Aであった。これらのnmを分光光度計を用
いて可視光域の透過性を測定した結果を第2図に示す。
Example 12 In the same manner as in Example 11, 0.1 mol of each of strontium acetate, nickel diacetylacetonate and zinc octylate was added to tin as the third metal component, and after refluxing, the mixture was coated on quartz glass E and fired. Further annealing treatment was performed to obtain transparent conductive material III. Note that the film thicknesses were all about 1100A. The transmittance of these nanometers in the visible light range was measured using a spectrophotometer, and the results are shown in FIG.

第2図の結果からsr、zη添加系では短波長域の透過
性が無添加系のものと比較して向、ヒしていることがわ
かる。
From the results shown in FIG. 2, it can be seen that in the sr and zη doped system, the transmittance in the short wavelength range is improved compared to the undoped system.

同様にしてそれぞれへ、Mg、Ba、B%P添加系の可
視光透過性を測定したところ、Sr、Zn添加系と同様
に無添加系のものと比較して短波地域の透過性の改善が
みられた。
When we measured the visible light transmittance of Mg, Ba, and B%P added systems in the same way, we found that, similar to the Sr and Zn added systems, there was an improvement in the transmittance in the short wavelength region compared to the non-additive system. It was seen.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

カドミウム−スズ系酸化物透明導電性薄膜の成分として
特定の金属を加えることによって、導電性や透明性の改
善されたカドミウム−スズ系酸化物透明導電性itI1
1Mがえられる。
Cadmium-tin-based oxide transparent conductive film with improved conductivity and transparency by adding a specific metal as a component of the cadmium-tin-based oxide transparent conductive thin film itI1
You can get 1M.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は実施例11においてえられた躾の体積抵抗率を
Snに対するzlの添加引の関数として表わしたグラフ
、第2図は実施例12でえられた膜の波長と透過率との
関係を示すグラフである。
Figure 1 is a graph showing the volume resistivity of the film obtained in Example 11 as a function of the addition of zl to Sn, and Figure 2 is the relationship between wavelength and transmittance of the film obtained in Example 12. This is a graph showing.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  1 Cd/Snが原子比で0.3〜2.0であり、C
a、Mg、Ba、Sr、B、Zn、Ni、Fe、Cuお
よびPよりなる群から選ばれた1種以上の金属元素がS
nに対して原子比で0.01〜1.0含まれていること
を特徴とするCd−Sn系酸化物透明導電性薄膜。
1 Cd/Sn has an atomic ratio of 0.3 to 2.0, and C
one or more metal elements selected from the group consisting of a, Mg, Ba, Sr, B, Zn, Ni, Fe, Cu and P are S
A Cd-Sn based oxide transparent conductive thin film, characterized in that the atomic ratio of n to n is 0.01 to 1.0.
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JPH0467285B2 (en) 1992-10-27

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