JPS61264212A - 抵抗式変換装置 - Google Patents

抵抗式変換装置

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JPS61264212A
JPS61264212A JP10554085A JP10554085A JPS61264212A JP S61264212 A JPS61264212 A JP S61264212A JP 10554085 A JP10554085 A JP 10554085A JP 10554085 A JP10554085 A JP 10554085A JP S61264212 A JPS61264212 A JP S61264212A
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JP
Japan
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circuit
gauge
resistance value
resistor
output
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JP10554085A
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English (en)
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Masahiro Ogawa
雅弘 小川
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、圧力、差圧等の被測定物Llffiに応じて
抵抗値が変化するゲージ抵抗を用いた抵抗式変換装置に
関するものである。
〈従来の技術〉 一般に抵抗式変換装置においては、シリコン等の単結晶
半導体からなる受圧ダイヤフラム上に、高m度の不純物
(ボロン)を拡散してゲージ抵抗を形成し、受圧ダイア
フラムの両面にかかる圧力差に基づく応力をゲージ抵抗
に作用させ、ピエゾ抵抗効果によるゲージ抵抗の抵抗値
変化を圧力差すなわち被測定物理量に対応させている。
そして、受圧ダイヤプラム上に2個もしくは4個のゲー
ジ抵抗を設け、ハーフブリッジあるいはフルブリッジを
構成し、被測定物理量を表わす信号を1qでいる。
〈発明が解決しようとする問題点〉 ところで、この種の抵抗式変換装置においては、ゲージ
抵抗の温度依存性が大きいため、周囲温度の変化による
影響を受け、出力が変動する欠点がある。
よって、一般には、サーミスタ、ポジスタ、トランジス
タ等の感温素子を用い、温度変化に応じてブリッジの電
源電圧を制御して、出力変動の補償を行っている。この
方法で精度よく補償を行うには、ゲージ抵抗の温度特性
と補償用感温素子の温度特性とを一致させる必要がある
が、しかしながらこれらを一致させることは容易ではな
く、高精度な補償は困難であった。
本発明は、周囲温度の変化による影響を有効に補償し、
高精度に被測定物理量を検出できる抵抗式変換装置を実
現するにある。
く問題点を解決するための手段〉 本発明は、半導体単結晶基板に形成され被測定物理量に
応じて少くともいずれか一方の抵抗値が変化する第1.
第2のゲージ抵抗と、前記半導体基板に形成され抵抗値
が前記被測定物理量には無関係な第3のゲージ抵抗と、
基準電圧と補償信号とを加算した出力電圧を得る演算回
路と、この演算回路の出力電圧に関連した電流を前記第
1.第2のゲージ抵抗に供給する回路と、前記第1.第
2のゲージ抵抗の抵抗値の差に基ずく出力信号を得る出
力回路と、前記演算回路の出力電圧に関連した電流を前
記第3のゲージ抵抗に供給して前記補償信号を得る補償
信号発生回路とを設けたことを特徴とするものである。
く作用〉 本発明は、基準電圧と補償電圧とを加算する演算回路の
出力電圧に関連して第1.第2のゲージ抵抗に電流を供
給して、第1.第2のゲージ抵抗の抵抗値の差に基ずく
出力信号を得、かつ演算回路の出力電圧に関連した電流
を第3のゲージ抵抗に供給して補償信号を得ることによ
り、補償信号の値を選択するだけで、周囲温度の影響を
有効に除去できるようにしたものである。
〈実施例〉 第1図は、本発明の一実施例を示す接続図、第2図は本
発明装置に用いる検出器の一例を示す構成説明図で1.
(イ)は断面図、(ロ)は斜視図である。両図において
、10は検出器、20は信号処理回路である。
検出器10において、シリコン等の単結晶半導体基板1
1には、その中央部にエツチングで基準圧Pa (例え
ば大気圧)と被測定圧PMとの差に感応する受圧ダイヤ
フラム12が形成されている。
基板11はその周辺の固定部13が基台14に接合され
ている。拡散技術やイオン注入等により受圧ダイヤフラ
ム12には第1.第2のゲージ抵抗75.16が設けら
れ、固定部13には第3のゲージ抵抗17が設けられて
いる。第1.第2のゲージ抵抗15.16には被測定圧
PMに応じた応力σ1.σ2が作用し、ゲージ抵抗15
の抵抗値RMI とゲージ抵抗16の抵抗値RM2はそ
れぞれ次式で与えられる。
RM+=Ro+(1+αIt) ×(1+πiσ1 (1+β1t)) ・・・ く 1 ) RM2−RO2(1+α2t) ×(1+π2σ2 (1+β2t)) ・・・(2) ただし、 ROIIRO2:基準湯度tQにおける抵抗値 α1.α2 :抵抗値RO1,RO2 の温度係数 π1.π2 二基率温度toにおける ピエゾ抵抗係数 β1.R2:ピエゾ抵抗係数π1゜ π2の温度係数 t   :基準温度toからの温 度変化 また第3のゲージ抵抗17には被測定圧PMによる応力
は作用せず、その抵抗値RM3は次式で与えられる。
RM3=RO3(1+α3 t  >   −−−−−
・(3)ただし、 R03:基準温度toにおける抵抗値 α3:抵抗値RO3の温度係数 なお、ゲージ抵抗15.16.17は同じ基板11に形
成され、m度係数はそれでれα言−α2−α3−α、β
1−R2−β とみなせる捏持性をそろえることができ
る。またπ1σ1.π2σ2については、例えばシリコ
ンの(100)面で[1101方向にそいゲージ抵抗1
5.16を互いに直角に配置すれば、π1σ1−一π2
σ2−πσ とすることができる。このようにすると、
ゲージ抵抗15.16は受圧ダイアフラムに作用する被
測定圧PMによって、一方の抵抗値が増加し、他方の抵
抗値が減少する。
信号処理回路20において、21は基準電圧源、22は
演算回路、23は補償信号発生回路、24は反転増幅器
、25.26は各々抵抗値検出回路、27は出力回路で
ある。演算回路22は演算増幅器OPIを有し、その帰
還回路に抵抗R3が接続され、入力端子り−)に基準電
圧源21からの一定電圧Erが抵抗R1を介して加えら
れるとともに、補償信号発生回路23からの補償信号E
1が抵抗R2を介して加えられており、R+ −R2−
R3とすると、ETとE、とを加算した電圧E2を出力
する。補償信号発生回路23は演算増幅器OP2を有し
、その帰還回路にゲージ抵抗17が接続され、入力端子
(−)には抵抗R4を介して演算回路22の出力電圧E
2が加えられている。
反転増幅器24は演算増幅器OP 3を有し、その帰還
回路に抵抗R6が接続され、入力端子(−)に演算回路
22の出力電圧E2が抵抗R5を介して加えられている
。抵抗値検出回路25は演算増幅器OP4を有し、その
帰還回路にはゲージ抵抗15が接続され、入力端子(−
)には抵抗R7を介して反転増幅器23の出力電圧E3
が加えられている。抵抗値検出回路26は演算増幅器O
P sを有し、その帰還回路にはゲージ抵抗16が接続
され、入力端子(−)には抵抗Reを介して反転増幅器
23の出力電圧E3が加えられている。よって、ゲージ
抵抗15にはR3/R7なる電流■てが流れ、ゲージ1
6にはE3/R[Iなる電流I2が流れる。出力回路2
7は演算増幅器OP sよりなり、その帰還回路に抵抗
Rhoが接続され、入力端子(−)には抵抗R3を介し
て抵抗値検出回路25の出力電圧E4が加えられ、入力
端子(+)には抵抗値検出回路26の出力電圧E5が抵
抗RI1.RI2で分圧されて加えられている。
そして出力回路27はP、a −R+ o −R+ +
 −R72とすると、抵抗値検出回路25.26の出力
電圧E4 、R5の差を演算して出力する。
このように構成した本発明′3A置において、抵抗値検
出回路25.26の出力電圧E4.E5は、R4=E3
 ・RMI/Rア   ・・・・・・(4)R5−R3
・ RM2/R日        ・・・ ・・・  
く 5 )となり、出力回路27の出力電圧Eoは、R
7−R8とすると、次式の如くなる。
Eo =−(R4R5) =E3 (RM + −RM 2 )/Ry・・・・・
・(6) 一方ゲージ抵抗17にも演算回路22の出力電圧E2に
関連したE 2 / Raなる電流I3が流れ、補償信
号発生回路23の出力電圧E1は次式で与えられる。
E+ =  RM 3 R2/R4・・・・・・(7)
そして演算回路22は、基準電圧源21からの一定電圧
Erと補償信号発生回路23の出力電圧E1とを加算し
て出力するので、次式の関係が成立する。
R2−Pa Er / (RM s  R4)・・・・
・・(8) この電圧E2は反転増幅器24で反転増幅され、R3(
−R2R6/R5)となって抵抗値検出回路25.26
に印加される。したがって、出力回路27の出力電圧E
0は、 Eo=  (RaRs(Rr++  RM2)/R5R
?  (RM 3−R4) ) Er・・・・・・(9
) となる。この(9)式に(1)、(2)、(3)式を代
入し、Ro + =Ro 2−RO3=Ro  とする
と、 Eo−21πσR4Re X(1+(α+β)t)ET /R1I  Ry  (1+m  αt  )・・・(
10) ただし、αβt2(1 1−Ro/Ro      R4 となるので、 α+β−涌α         ・・・(11)を満足
させると、出力電圧Eoは、 Eo=2にπσE r       = (12)ただ
し、k −−I R4R6/R5R?となり、温度係数
のα、βの項を有効に除去でき、湿度変動による影響を
受けることなく、高精度に被測定圧PMを表わす信号が
得ることができる。
そして、ゲージ抵抗の不純物a度と温度係数α。
βの関係は、不純物111度が1018〜102°の範
囲では、α〉0 、β<Q  、α+βくOで、しかも
α+βは小さい値であるので、(11)式の関係は補償
信号発生回路23の抵抗R4の抵抗値を選ぶことにより
満足させることができる。
なお、ゲージ抵抗15.16の初期抵抗値R。
1、RO2が等しくない場合には、抵抗R7および抵抗
Reのいずれか一方の抵抗値を調整して、R?ROI 
  R8RO2−0−−(13)を満足させればよい。
すなわち、抵抗R7、Reによって零調整ができる。
また上述では、演算回路22の出力電圧E2を反転増幅
器24を介して抵抗値検出回路25,26に加える場合
を例示したが、第3図に示すように、演算回路22の出
力電圧E2を直接抵抗値検出回路25.26に加えるよ
うにしてもよい。この場合抵抗値検出回路25の出力電
圧E4が抵抗RI I * RI 2で分圧されて演算
増幅器○P6の入力端子(+)に加えられ、抵抗値検出
回路26の出力電圧E5が抵抗R9を介して演算増幅B
OP6の入力端子(−)に加えられる。
さらに上述では、ゲージ抵抗15.16が受圧ダイアフ
ラム12に形成され共に被測定圧PMに応じて抵抗値が
変化する場合を例示したが、いずれか一方(例えばゲー
ジ抵抗16)を固定部13に設けて、他方(例えばゲー
ジ抵抗15)の抵抗値のみが被測定圧PMに応じて変化
するようにしてもよい。この場合出力信号電圧EOはE
o =にπσEτ      ・・・・・・(14)と
なる。
さらに上述では補償信号電圧E1を抵抗R4の抵抗値で
調整する場合を例示したが、演算回路22の出力電圧E
2を分圧抵抗器で分圧した後、抵抗R4を介して演算増
幅器OP2の入力端子(−)に加えるようして、分圧抵
抗器の分圧比でElを調整するようにしていもよく、ま
た演算回路22の演算抵抗R2の値で調整してもよい。
第4図は本発明装置の他の実施例を示す接続図である。
第4図の実施例において、第1図の実施例と異なるとこ
ろは、演算増幅器OP 7と抵抗R131R1111R
I5からなる加算回路28と誤差増幅器29を設け、抵
抗値検出回路25.26の出力E4.E5を加算回路2
8で加算した電圧E7を誤差増幅器29の一方の入力端
子(=)に加え、誤差増幅器29で(R4+E5 )が
他方の入力端子(+)に加えられている反転増幅器24
の出力電圧E3と等しくなるように抵抗値検出回路25
.26の入力電圧E6すなわちゲージ抵抗15.16を
流れる電流II、I2を制御するようにした点である。
その結果11.12は、R7−8日 とすると、 I+ = 12−R3/ (RM + +RM 2 )
=R4RgEτ /R5(RM + +RM 2 ) X(RM3  Ra) ・・・・・・(15) となり、ゲージ抵抗15.16の抵抗値の和にも関連し
て変化するようになる。したがって、出力回路27の出
力電圧Eoは、 Eo=RaRg(Rr++  RM2)ET/R5(R
M + +RM 2 ) X (RM 3  R4)・・・・・・(16)どなる
。この(16)式に(1)、(2)、(3)式を代入し
、Ro + =RO2−RO:1 =Roとすると、 Eo=  21+1πσRa Re Er (1+βt
)/R5R7(1+餉αt) ・・・・・・(17) ただし、 II−Ro/Ro  R4 となるので、β−1α を満足するように、補償信号発
生回路23の抵抗R4の抵抗値を調整すれば、温度係数
α、βの影響を有効に除去できる。
なお上述では、抵抗値検出回路25.26の出力電圧E
4 、E5の和が反転増幅器24の出力電圧E3と等し
くなるように、抵抗値検出回路25゜26の入力電圧を
制御して、ゲージ抵抗15,16に流れる゛電流II、
I2をRMI、RM2の和にも関連させる場合を例示し
たが、第5図に示すように、ゲージ抵抗15.16の直
列回路に反転増幅器24の出力電圧E3を印加するよう
にして、ゲージ抵抗15.16に流れる電流を Eコ/ (RM + +RM 2 )となるようにして
もよい。第5図においては、出力回路27として演算増
幅器OP eと抵抗Rs + RI Oからなるものが
示されており、OPsの入力端子(−)にゲージ抵抗1
5.16の直列回路の両端電圧(E4+E5)が加えら
れ、OF2の入力端子(+)にゲージ抵抗15の両端電
圧E4が加えられている。よって出力回路27はRs 
=R+ oとすると、(EaEs)を演算して出力する
。なお出力回路27とし・て第1図に示す回路を用いる
場合には、第6図に示すようにゲージ抵抗15.16の
直列回路と並列に抵抗R+s+R+yの直列回路を接続
し、その中点の電圧Es  (=EEa2)を抵抗R9
を介してOP eの入力端子(−)に加え、ゲージ抵抗
15の両端電圧E、を抵抗R++、R+2で分圧して0
P61の入力端子(+)に加えるようにすればよい。こ
の場合抵抗R+ e * R+ 7としてゲージ抵抗を
用いてもよい。
さらに第5図では反転増幅器24の出力をゲージ抵抗1
5.16の直列回路に直接印加しているが、第7図に示
すように反転増幅器24の出力E3を演算増幅器○P7
の入力端子(+)に加え、ゲージ抵抗15.16の直列
回路の両端電圧(Ea +E5 )をOP 7の入力端
子(−)に加えて、OP 7の出力でトランジスタQを
駆動し、(E4→−E5)−E3どなるようにゲージ抵
抗15,16の直列回路を流れる電流を制御するように
してもよい。
さらに、第4図の反転増幅器24と誤差増幅器29の代
りに、第8図に示すように加算積分器30を用いてもよ
い。第8図においては、加算積分器30として演算増幅
器OPaと積分コンデンサCおよび演算抵抗R+ s 
+ R+ sからなるものが示されている。そして加算
積分器30は入力電流E2/RI8とE7/RI9の和
が零になるように、ゲージ抵抗15.16を流れる電流
1+、12を制御する。
第9図は本発明装置の他の実施例を示す接続図である。
第9図の実施例において、第1図の実施例と異るところ
は、出力電圧EOを分圧抵抗器31で分圧した後演算抵
抗R+eを介して演算回路22の演算増幅器OP+の入
力端子(−)に加えるようにした点である。この場合分
圧抵抗器31の分圧比をnとし、かつ  R+−R2−
R3=RI8とすると、反転増幅器24の出力Eaは次
式で与えられる。
E3 =  R4R5(Er +nEo )/R5(R
M 3−R4) ・・・・・・(18) よって、出力電圧Eoは、 Eo−2b yvaEτ/ (1−2nkπ(7)・・
・・・・(19) ただし、ll1=Ro/Ro  R4 k =−m R4R6/R5R7 Ro =Ro + =Ro 2−RO3Ry  =Re α+β#l α となり、応力σ“が大きくなる程出力電圧EOの増加率
が上がり、入出力関係を非直線にできる。一方被測定圧
力PMと応力σとの間の非直線性はP、が大きくなると
びの増加率が下る傾向にあるため、分圧抵抗器31の分
圧比nを調整することによって、被測定圧力PMと応力
σとの非直線性の影響を補償できる。この調整は、 P
H1−(PMI+PM3)/2なる関係にある被測定圧
力PMllPM2.PM3にそれぞれ対応した出力電圧
Eo + * Eoa + EO3が Eo 2− (
Eo ++EO3)/2となるように分圧抵抗31の分
圧比nを決定することによって容易に行なうことができ
る。
〈発明の効果〉 以上説明したように本発明においては、温度係数の項を
有効に除去できるので、温度変動による影響を受けるこ
となく、高精度に被測定物理量を測定できる抵抗式変換
装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す電気的接続図、第2図
は本発明に用いる検出器の一例を示す構成説明図、第3
図〜第9図は本発明の他の実施例を示す電気的接続図で
ある。 10・・・・・・検出器 11・・・・・・単結晶半導体基板 12・・・・・・受圧ダイヤフラム部 13・・・・・・固定部 15.16.17・・・・・・ゲージ抵抗20・・・・
・・信号処理回路 21・・・・・・基準電圧源 22・・・・・・演算回路 23・・・・・・補償信号発生回路 24・・・・・・反転増幅器 25.26・・・・・・抵抗値検出回路27・・・・・
・出力回路 28・・・・・−加算回路 29・・・・・・誤差増幅器 30・・・・・・加算増幅器 31・・・・・・分圧抵抗器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体単結晶基板に形成され被測定物理量に応じ
    て少くともいずれか一方の抵抗値が変化する第1、第2
    のゲージ抵抗と、前記半導体基板に形成され抵抗値が前
    記被測定物理量には無関係な第3のゲージ抵抗と、基準
    電圧と補償信号とを加算した出力電圧を得る演算回路と
    、この演算回路の出力電圧に関連した電流を前記第1、
    第2のゲージ抵抗に供給する回路と、前記第1、第2の
    ゲージ抵抗の抵抗値の差に基ずく出力信号を得る出力回
    路と、前記演算回路の出力電圧に関連した電流を前記第
    3のゲージ抵抗に供給して前記補償信号を得る補償信号
    発生回路とを備えた抵抗式変換装置。
  2. (2)半導体単結晶基板に形成され被測定物理量に応じ
    て少くともいずれか一方の抵抗値が変化する第1、第2
    のゲージ抵抗と、前記半導体基板に形成され抵抗値が前
    記被測定物理量には無関係な第3のゲージ抵抗と、基準
    電圧と補償信号とを加算した出力電圧を得る演算回路と
    、この演算回路の出力電圧に関連した電流を前記第1、
    第2のゲージ抵抗に供給する回路と、前記第1、第2の
    ゲージ抵抗の抵抗値の差に基ずく出力信号を得る出力回
    路と、前記演算回路の出力電圧に関連した電流を前記第
    3のゲージ抵抗に供給して前記補償信号を得る補償信号
    発生回路と、前記出力信号に応じて前記第1、第2のゲ
    ージ抵抗を流れる電流を制御する手段とを備えた抵抗式
    変換装置。
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