JPS61263611A

JPS61263611A - スラリ−循環型凝集沈殿装置の運転制御方法

Info

Publication number: JPS61263611A
Application number: JP10261985A
Authority: JP
Inventors: Chiaki Igarashi; 千秋五十嵐; Shogo Tsunoda; 角田　省吾
Original assignee: Ebara Research Co Ltd
Current assignee: Ebara Research Co Ltd
Priority date: 1985-05-16
Filing date: 1985-05-16
Publication date: 1986-11-21
Also published as: JPH0232922B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は浄水場等で用いられるスラリー循環型凝集沈殿
装置の運転制御方法に関するものである。

〔従来技術〕

スラリー循環型の凝集沈殿装置の運転管理上の留意点は
、装置内の循環スラリーを適正濃度に保持することであ
り、所定範囲内にスラリー濃度を保つように排泥量を制
御する必要がある。

循環スラリー濃度の測定は、所定時間静置後の到達容積
濃度による方法が好ましく、乾燥法等による重量基準に
よる固形物濃度では、懸濁物質の性状変動の影響のため
、正しい情報を与えることができない、従って、従来で
は循環スラリーの一部をシリンダ内に採取し、５分間程
度静置した後の沈降界面位置の高さを実測していた。こ
の沈降界面位置高さの実測は、肉眼により観察する方法
や、市販されている沈降界面自動測定装置を使用し、そ
の光電素子を移動させながら入射光量の変化する位置を
沈降界面として検出する方法が採られていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、従来の肉眼観察による方法は手間がかか
り、試料スラリーの移送によるフロックの分散などの性
状変動を避けるために、測定をスラリー循環型凝集沈殿
装置近傍で行わなくてはならず、さらに循環スラリー濃
度は装置毎に相違するものであるから、装置１台毎に測
定する必要がある。従って、大規模処理場においては測
定に要する時間が長くなり、測定間隔も広がるから、装
置をこまめに監視しに（い、そのため、実際には安全サ
イドの運転管理をせざるを得す、処理水質の悪化や凝集
剤添加量の増大等を招いていた。

また、市販の沈降界面自動測定装置は、光電素子の移動
機構を用いる方式なるが故に、故障も多く、浄水場等の
無機質の低濃度スラリー用としては精度が悪く、装置コ
ストも高いので、スラリー循環型凝集沈殿装置１台毎に
設置することは困難であった。

本発明は、新規な沈降界面測定方法によって、スラリー
循環型凝集沈殿装置の運転の自動化を、高精度、高信鯨
性、経済性をもって達成し、上記従来の問題点を解決す
ることを目的とするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、上記従来の問題点を解決するための手段とし
て、スラリー循環型凝集沈殿装置内で循環するスラリー
の一部を沈降容器内に採取し、所定時間静置後の沈降界
面位置を固定設置された半導体検出素子への入射光量の
変化位置として検出し、該検出値を所定範囲内に保つよ
うに前記スラリー循環型凝集沈殿装置の排泥量を演算し
制御することを特徴とするものである。

〔作　　用〕

本発明の作用について第１図を参照しながら説明すれば
、スラリー循環型凝集沈殿装置Ａから循環スラリーの一
部を、随時適当な手段によって沈降界面測定装置Ｂ内に
サンプリングする。沈降界面測定装置Ｂには、光源及び
半導体光検出素子を固定設置してあり、サンプリングし
た試料スラリーの所定時間静置後の沈降界面位置を、半
導体光検出素子への入射光量の変化位置として検出し、
その検出値が所定の範囲内に保たれるように排泥量演算
装置Ｃで排泥量を演算し、排泥弁開閉制御装置りによっ
て排泥弁Ｖを開閉させて排泥量を制御し、スラリー循環
型凝集沈殿装置Ａ内のスラリー濃度を所定の適正範囲内
に保つものである。

このように、試料スラリーの沈降界面位置を、固定設置
した半導体光検出素子にて検出することによって、高精
度かつ迅速な測定が可能となり、しかもセンサ移動機構
がないので装置もコンパクトになる。

〔実施例〕

さらに本発明の詳細な説明すれば、第２図は試料スラリ
ーの沈降界面測定装置の一例を示すもので、沈降状況を
観察しうる光透過性の壁部をもった沈降容器１の下方に
は弁２を配備した試料スラリーの導入管３を開口し、上
部には排出に：ｆ４を開口させ、さらに沈降容器ｌの壁
部もしくはその近傍で沈降界面が生成する領域付近には
、光源たる各種発光体５及びこの発光体５から沈降容器
１内を通過して入射される光量の変位位置を検出しうる
半導体検出素子からなる受光セル６を固定配備せしめた
ものである。

前記の受光セル６を形成する半導体光検出素子は、光に
反応して何らかの電気信号を発生する１０〜２０μｍ程
度の光反応素子（例えばビジコン、ＣＣＤ、フォトトラ
ンジスタ、フォトダイオードなど）を−列もしくは複数
列（通常１、最大１０００程度）に数多く　（通常１０
００〜３０００）並べたものであり、電気信号を発する
素子の位置を検出することにより、光の当たっている位
置を判断できるものである。また、発光体５たる光源は
、光反応素子の感応波長を含めば、太陽光、白熱球光、
発光ダイオード等何でもよい。

しかして、弁２を開き、スラリー循環型凝集沈殿装置内
の循環スラリーの一部をポンプ（図示せず）などで導入
管３から沈降容器１内に導入した後、弁２を閉じて所定
時間静置後、受光セル６に入射する沈降物を通過する光
量と上澄液を通過する光量の中間に閾値を設定すれば沈
降界面位置が検出される。

このような沈降界面の検出は、原理的には１ケの光反応
素子の大きさの単位で可能であり、従来法に比べると極
めて高精度である。また、数十個の光反応素子の光量を
順次検出するに要する時間は０．００１秒程度であり、
実用上連続的な位置検出方法ということができる。また
、界面の移動距離が、１ケの半導体光検出素子の測定可
能距離（現在のところ最大３００程度）を越える場合に
は、複数個を並べて使用することも可能である。さらに
、移動機構が全くなく、１ケのセンサの大きさも小さく
、装置をコンパクトに製作することができる。

次に、この沈降界面位置の検出値を所定の範囲内に保つ
ように、第１図示の如く、排泥量演算装置Ｃで排泥量を
演算し、排泥弁開閉制御装置りによって排泥弁Ｖからの
排泥量を制御する。

また、沈降界面位置の設定値は、スラリー循環型凝集沈
殿装置の処理水性状、凝集剤の種類等によって変化する
が、５分沈降後の界面位置がチャージ高さの５〜３０％
、好ましくは１５％程度とするのがよい、スラリーの排
泥量は、スラリー循環型凝集沈殿装置の形状、スラリー
容量等によって変化するために一概には決定できないの
で、少量づつ引き抜いてスラリー沈降高さの変化を観察
するのが好ましく、ある程度データが蓄積された後は、
スラリー沈降高さから一挙に排泥量を決定することがで
きる。

なお、沈降界面測定装置は、第２図示例のように、沈降
容器１の下方部に、さらに弁７を配備した洗浄水流人管
８を開口させ、沈降容器１内を洗浄して排水を排出管４
から排出するようにし、その洗浄具合を受光セル６で測
定することができるように設計するのが便利である。

〔発明の効果〕

以上述べたように本発明によれば、スラリー循環型凝集
沈殿装置の運転制御を、簡便かつ高精度で、しかも低価
格で実施することができ、処理水質の向上、凝集剤使用
量の削減、保守管理人件費の削減等の極めて有益なる効
果をもたらすものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一例を示すフローシートで、第２図は
本発明に使用する沈降界面測定装置の一例を示す説明図
である。Ａ・・・スラリー循環型凝集沈殿装置、Ｂ・・・沈降界
面測定装置、Ｃ・・・排泥量演算装置、Ｄ・・・排泥弁
開閉制御装置、■・・・排泥弁、１・・・沈降容器、２
・・・弁、３・・・導入管、４・・・排出管、５・・・
発光体、６・・・受光セル、７・・・弁、８・・・洗浄
水流入管。

Claims

【特許請求の範囲】

１、スラリー循環型凝集沈殿装置内で循環するスラリー
の一部を沈降容器内に採取し、所定時間静置後の沈降界
面位置を固定設置された半導体光検出素子への入射光量
の変化位置として検出し、該検出値を所定範囲内に保つ
ように前記スラリー循環型凝集沈殿装置の排泥量を演算
し制御することを特徴とするスラリー循環型凝集沈殿装
置の運転制御方法。