JPS61253860A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPS61253860A
JPS61253860A JP60095623A JP9562385A JPS61253860A JP S61253860 A JPS61253860 A JP S61253860A JP 60095623 A JP60095623 A JP 60095623A JP 9562385 A JP9562385 A JP 9562385A JP S61253860 A JPS61253860 A JP S61253860A
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JP
Japan
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light
solid
image pickup
light receiving
pickup device
Prior art date
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Pending
Application number
JP60095623A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuo Saito
光雄 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication of JPS61253860A publication Critical patent/JPS61253860A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野)     ′ 本発明は固体撮像装置に関する。更に詳述すれは各絵素
の走査に7オトカプラを用いたMO8型固体撮偉装置に
関する。
(従来の技術) 固体撮像装置は撮像管に較べて多くの長所、すなわち、
■画像歪がない■低消費電力■小型軽量■残像が少い■
直射日光による焼付がない■衝撃に強いという特徴をも
つの′t%あるが、反面、■ブルーミングやスミアを生
じる■1解・′像ツカJ:が撮「偉管に及ばない■VL
SI半導体技術を必要とし、歩溜シが悪い■撮像管に較
べて開口率が低い等の欠点を有する為、まだ撮像管が多
く使われている。
特に、従来のX、Yアドレス方式のMO8型固体撮像装
置では、MO8型特有の固定・ぐターンノイズを生じて
SN比が劣化するという欠点を有していた。
また、CCD型撮像装置が撮像部周辺にシフトし、クス
タを不要としているのに対し、このMO8型撮偉装置で
は水平及び垂直シフトレ・クスタ部を必要としてチップ
サイズを大きくし、やけpVLsIの加工技術が要求さ
れて少滴りを悪くしていた。
また更に、より高解像度化するために水平の絵素数を増
やそうとすると、シフトレジスタのユニット数も増さね
ばならず、その微細化も問題となっている。
しかし、CCD撮像装置に較べてMO8型撮像装置は各
絵素からの信号を独立に読み出せるため解儂力も高く、
かつ残像も少ないという長所をもつため、先述の欠点を
解消し、かつ前述のSN比の問題及びシフトレジスタの
問題を克服すれば有望な方式′r@ある。
(発明が解決しようとする問題) 本発明は、前述の固体撮像装置の欠点を解消す・ると共
に、MO8型固体撮像装置の有する前述長所を維持した
固体撮像装置を提供するものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、固体撮像装置のエリアセンサに於ける各絵素
のスイッチングを7オトカプラで行って各絵素の信号電
荷を読み出すことにより、前述の従来装置の問題点を解
決するものである。
(実施例) 以下図面に示す本発明の実施例につき詳説する。
本発明の撮像装置は第1図に示すようにモザイク状に並
べられた多数の独立した絵素1が垂直方向の読み出し線
2により接続されており、これら絵素1の背面にはフォ
トカプラ方式によるスイッチング素子3(第2図)が配
置されている。
すなわち、第2図の断面図に於いて、エリアセンサの各
絵素を形成する光電変換部4の下方には、この光電変換
部4と電気的に導通されたスイッチング素子6の受光部
5及びこの受光部5と接続した前記読み出し線2が配設
されており、更にこの読み出し線2の下方位置には透明
基板6を介して前記スイッチング素子6の光走査部7が
設けられている。また、前記光電変換部4上には透明電
極8が配設されている。
このように構成された撮像装置にイメージ光が入射され
ると、絵素部の充電電荷が入射光量に応じて放電する。
次に、例えば発光ダイオードアレイにより構成された光
走査部7が順次に発光し、この光照射により光スイッチ
の受光部5の電気伝導度が上昇するために、該受光部5
を順次導通状態にする。これがスイッチONの状態〒あ
シ、各絵素1の入射光量に応じた充電電流が流れ、これ
を増幅して読み出す。
この光スイツチ方式は、■光走査部(発光部)とスイッ
チ部(受光部)とが光学的には結合されてはいるが電気
的には完全に絶縁されているために、従来のMO8型固
体撮像装置のように走査部からの/ぞルスノイズのとび
込みがなく、またMOSスイッチのゲート下の反転層が
急激に変化することもないので、読み出しノイズが極め
て少ない。
■撮像部周辺のシフトレジスタが不要となシ、固体撮像
装置のチップサイズを小さくでき、かつ製造少滴シが向
上する。■固体撮像装置のチップサイズが小さくなるこ
とは、1枚のウェーハがらよシ多くの固体撮像装置をと
ることができることであり、低コスト化にも寄与する。
■各絵素の表面は光電変換部のみ′t%あシ、光スイッ
チの受光部は絵素の下部にある所謂積層型構造になって
いるため、入射光の利用効率は高い。■受光部の構造は
コンデンサ型(光電変換層を電極でサンドインチした形
)であシ、簡単な構造である。従って、この点に於いて
も少滴りは高い。即ち、通常のCCDフは1絵素の信号
電荷を他の信号と混合することなく転送するには4電極
が必要であシ、そのために絵素数当シの微細加工度は非
常に高くなる。しかしながら、本発明の光スイツチ方式
による構造では1絵素に1電極〒あり、今後の高集積化
には非常に有利″′I%ある。また、光スイッチの受光
部も、光電変換膜を電極fサンドイッチした形であり、
同様に簡単な構造である。
なお、先の第2図に図示した実施例では読み出Lljl
と光スイッチの受光部が積層構造になっているが、第3
図に図示するように、読み出し線21と光スイッチの受
光部51の下部電極(透明電極)とを兼用させた方が、
ラインの抵抗も下がシ、平    ゛担化構造になシ、
かつ浮遊容量も減少するのマ、より好ましい。また、こ
の浮遊容量を減少させるには、光スイッチの受光部面積
を必要最小限に小さくし、かつ、その電極間隔を出来る
だけ大きくすることにより行われる。
このように構成された本発明の固体装置装置は、また次
のような特徴も有する。
■受光部はMOS)ランジスタやC’CDと異なシ、サ
ンドイッチ型電極構造のため、言い換えると、Si基板
の深部がないためにスミアリングを生じない。■また、
部分的に強い光が照射された所はそのコンデンサの中で
電子と正孔とが再結合するために電荷のオーツクフロー
を生じないでブルーミングを発生しない。■暗部のスイ
ッチの暗電流は非常に小さい。即ち、光スイッチが導通
し、光スイツチ受光部の両側の電極電位が等しくなるま
で充電された後、光スイッチを遮断し、かつ、対応する
絵素部がイメージの暗部となる場合、この絵素部での放
電が起こらないため、光スイッチの両側電極の電位差は
略零ゼルト〒あり、従ってそのスイッチの暗電流は非常
に低いものとなる。
一方、明部には多くの光が入射して絵素部の放電が起こ
るため、スイッチの両側電極の電位差が大きくなシ、多
少の暗電流が流れるが、明部のために問題にならない。
■MOSスイッチではなく単なるコンデンサのため、M
OS型やCCD型デバイスの耐圧(約10v)の心配が
なく、光電変換層自身の耐圧のみKよる規制を受けるだ
けであり、従って、約30V程度の耐圧がある。
本発明の撮像装置の絵素部に於ける受光部および光スイ
ッチの受光部は内部光電効果を利用するものであり、具
体的には次のタイプが適用可能フある。
■ アモルファスシリコン、 Pbs、 Cds、 有
機光導電体および電子写真用感光材料等の光導電型受光
部、 ■ アモルファスシリコン、ポリS i、 Ge、 G
aAa、その他の多結晶、アモルファス材料のP−n接
合、P−i−n接合やヘテロ接合などのフォトダイオー
ド型、 ■ フォトトランジスタ型、 等が挙げられる。これらの材料については、例えば「半
導体ハンドブック」オーム社1978年P、441、「
わかりやすい光物性」高木克己、山田祥三著、1965
年、産報、「やさしい光電素子の応用」山中一部、19
78年1、産報、等に詳しく記載されているのでここフ
は詳しい説明を省略する。
本発明の光スイッチの受光部の構造としては、第4図(
a)、(b)に示すようなギャップ型やサンドインチ型
が挙げられる。
光スイッチの受光部および絵素部の受光部の暗電流とし
ては1n〜保・sec以下であることが好ましい。また
、光スイッチの受光部のPn接合は応答速度という点に
着目すると、その特性が十分でない場合がある。その場
合は、P型領域の厚さを薄くし、かつ、不純物濃度を高
くし、更に受光部の面積を小さくすることによって、ナ
ノ秒程度に改善されたものが得られており、本発明に於
いても、撮像装置の特性に合わせて、このような手段が
採用され得ることは云うまtもない。
また、Pin接合は、i層の存在により接合容量を小さ
くすることが可能″’etaるため、よυ速い応答速度
が得られるのフ適宜撮像装置の特性に対応して、とのP
in接合を用いることも可能1ある。
また、光スイッチの受光部に於ける絵素間は必要に応じ
て分離した方が読み出し垂直線間の混色を避けるために
良い。
また、単板式固体撮像装置のR,G、B成分を読み出す
時に、R,G、B成分が混色するのを防ぐ為、R,G、
Bを別々に三線1読み出す所謂多線読み出し方式にも、
本発明が適用可能である。
光スイッチの受光部にフォトトランジスタを用いると、
受光量が少なくても光電流が増幅されて動作するという
メリットがある。光源としては、発光素子プレイ、(光
源+シャッタアレイ)、レーザビーム走査法等が挙げら
れる。また、発光素子アレイとしてはLEDアレイ、半
導体レーザアレイ、エレクトロルミネッセンスアレイ、
プラズマ発光素子+7レイが、(光源+シャッタアレイ
)のシャッタアレイとしては、液晶シャッタアレイ、P
LZTシャッタアレイ等が挙げられる。レーザビーム走
査法については変調器、ミラー回転多面伊やガルノ々ノ
メータを用いる方法等が挙げられる。
これらの光源については、「半導体ブック」(第2版)
オーム社1977年版、P、449および「テレヒショ
ン画偉工学・・ンrブック」オーム社1980年版、第
2編等に記載されているため、ここフは詳しく記述しな
い。
また、本発明で7オトカプラーの光スイッチの受光部と
、image光の光電変換部間は光遮蔽した方がよりよ
いことはいうまでもない。例えば第2図の光スイッチの
受光部の上部電極に金属を用い、光電変換絵素部間に特
願昭60−16415号に記載の如く光反射材料や金属
反射材料および光吸収材料を用いてもよい。
また、第3図の固体撮像装置の製造方法の順序として、
透明基板上に8.4,51.21の順に形成し、その上
に発光素子アレイをは9つける方法をとってもよい。こ
の場合、発光素子部と、光スイッチの受光部がより密着
する為に光アレイ光の他の絵素部への洩れはなくなる。
また、第6図フ透明基板上に7.21,51,4,8 
       ラをすべて作りつけてもよい。この場合
も、6がなくなるのフ、光アレイ光の他絵素部への洩れ
は少なくなる。
本発明の用途としては、−次元イメー・ジセンサ、二次
元イメー、ジセンサ、放射線、可視線および赤外線撮像
装置などが挙げられる。
また、本撮像装置と放射線を可視光および赤外光に変換
する蛍光体とを組み合わせた特願昭59−264611
号の系に適用してもよい。
本発明の製造実施例を以下に列挙する。
製造実施例1 絶縁性透明基板(例えば石英板、もしくは脱イオンガラ
ス)上にITOをス・ぞツタ−蒸着し、ツー・オドエツ
チング加工により光スイッチの受光部の下部電極および
読み出し線を形成する。次に、上記下部電極上にアモル
ファスシリコン(nondopeもしくはn層)を蒸着
(基板温度250 C,S iH4ガス圧Q、 3 T
orr、 100KHzAC12000電極、25W・
々ツー人力、約1.5μm厚)し、次いフP+層(B2
H6/S iH460P、200X厚)を蒸着し、その
上にAl−8i(2%)をス・セッター蒸着する。その
上にPSG(リンシリケイトガラス)を0.3μm厚に
形成し、絵素電極のコンタクトホールをあけた後、Al
l−8t(2%)を蒸着する。次に、アモルファスシリ
コ7 (nondopeもしくはn層)を1.5μm厚
に形成し、その上にP中層(B2H6/SiH460四
、200A厚)を形成した後、その上に透明電極(IT
O)を形成する。次に、絵素間の透明電極をウェットエ
ッチし、続いて絵素間のアモルファスシリコンもドライ
エツチングで除去する。このとき、フォトカゾラ一部の
アモルファスシリコンまで絵素間エツチングして除去す
る。次い〒、耐熱性高分子絶縁剤であるポリイミドを塗
布した後、前記rTO上の4リイミドを除いて、再度、
ITOを蒸着して第5図の如き構成が得られる。最後に
透明基板(本実施例では石英板を用いた)の裏面側に赤
色LEDアレイを接着剤を用いて貼り付ける。
−製造実施例2 透明基板上に本発明の固体撮像装置を作るとき、5os
(s目1con on  5uphire)技術により
サファイア上に8層12を、次に2層13を積層させP
n接合を形成し、その上にモリブデンの金属電極14を
Arス・ぞツタ−法で蒸着する。 P層は1μm、H層
は0.3μm厚とする。このn層はhigh dope
の為導電性が大きく、n層の役割と配線電極の役割を兼
ねる。次いフ、ドライエッチ法フこのポリSiをノRタ
ーニングする。次いで、その上にポ1jsit%n層1
5を、次に2層16を形成してPn接合を形成する。こ
のP層は0.3μm、n層は1μm厚とする。更に、そ
の上に透明電極17を形成し、次に絵素間の透明電極を
ウェットエッチし、続いて、絵素間のポリSi、エピS
iをドライエツチングで除去する。熱酸化で絵素間部の
ポリSi、エピSiの端面に5i02を形成し、次いで
、絵素間部にボリイミr1aを埋め込む。絵素部の透明
電極(ITO)上のボリイミrを除いて、再度、ITO
を蒸着する。最後に、石英の裏側に赤色LEDプレイ(
図示せず)を貼り付けて製造を完了する。
このようにして出来上ったものの構造は、第1の製造実
施例と同じである。
(発明の効果) 本発明は、固体撮像装置の各絵素の走査に光スイツチン
グ素子を用いることにより、高解像力が低残像という長
所を備えながら、MO8型特有の固定・ぞターンノイズ
がなく、そのためにSN比が向上し、また撮像部周辺の
シフトレジスタを不要とするためチップサイズが小さく
出来て高集積化、或いは製造の少滴りを向上せしめ得る
固体撮像装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すMO8型固体撮像装置
の平面図、第2図は第1図のA−A線に於ける断面図、
第3図は本発明の他の実施例を示す断面図、第4図は光
導電型受光部の構造を説明する図、第5図は本発明のM
O8型固体撮像装置の構成図である。 図中符号 1・・・絵 素、  2・・・読み出し線、4・・・光
電変換部、 5・・・光スイッチの受光部、6・・・透
明基板、 7・・・光走査部(発光部)、8・・・透明
電極。 第  1!l 第  3  図 尤 第  4  図 (a) Nゝ゛−アQ     (b)qン’p−A、
干製第  5  図 手続補正書 昭和60年 6 月 73日

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁性透明基板上に光スイッチの受光部および複
    数の絵素部からなる光電変換部が順次に重ね合わされて
    おり、前記光スイッチの受光部と対応した光走査部が貼
    り付けられた構造の固体撮像装置。
  2. (2)前記受光部が、透明基板上に、互いに間隔をおい
    て形成された一対の電極と、該電極の上に配設された光
    電変換膜とから構成されることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の固体撮像装置。
  3. (3)前記受光部が、光電変換膜を挾持した一対の透明
    電極を互いに間隔を有して前記透明基板上に配設したも
    のであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    固体撮像装置。
  4. (4)前記光走査部が発光素子アレイにより設けられて
    いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の固体
    撮像装置。
JP60095623A 1985-05-07 1985-05-07 固体撮像装置 Pending JPS61253860A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62139481A (ja) * 1985-12-13 1987-06-23 Agency Of Ind Science & Technol 光学像情報対電気信号変換装置
JP2009253683A (ja) * 2008-04-07 2009-10-29 Konica Minolta Holdings Inc 光センサ
JP2012517582A (ja) * 2008-10-07 2012-08-02 ナノアイデント テクノロジーズ アクチェンゲゼルシャフト 電気接点試験を実施するためのスイッチング装置

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US9958478B2 (en) 2008-10-07 2018-05-01 Asmag-Holding Gmbh Switching apparatus for electrical contact testing

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