JPS61250651A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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Publication number
JPS61250651A
JPS61250651A JP9268585A JP9268585A JPS61250651A JP S61250651 A JPS61250651 A JP S61250651A JP 9268585 A JP9268585 A JP 9268585A JP 9268585 A JP9268585 A JP 9268585A JP S61250651 A JPS61250651 A JP S61250651A
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JP
Japan
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layer
oxygen
electric charge
atoms
photoreceptor
Prior art date
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Pending
Application number
JP9268585A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiichi Sakai
坂井 栄一
Toshiki Yamazaki
山崎 敏規
Tatsuo Nakanishi
達雄 中西
Hiroyuki Nomori
野守 弘之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP9268585A priority Critical patent/JPS61250651A/en
Publication of JPS61250651A publication Critical patent/JPS61250651A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

PURPOSE:To solve a defect about a surface characteristics of a-Si type photosensitive body, and to improve a maintenance of an electric charge potential by providing a surface reforming layer on an electric charge generating layer, and an electric charge transfer layer under the electric charge generating layer respectively. CONSTITUTION:The photosensitive body 39 is constituted by laminating the P-type electric charge blocking layer 44 composed of an oxygen contg. a-SiC:H (a-SiCO:H) heavily dopped with the group IIIa element of the periodic table, the electric charge transfer layer 42 composed of an oxygen contg. a-SiC:H (a-SiCO:H), the electric charge generating layer 43 composed of a-Si:H and the surface reforming layer 45 composed of an oxygen contg. a-SiN:H(a-SiNO:H) on the drum like electroconductive supporting substrate 41. The photoconductive layer 43 has sufficiently large optical sensitivity of a ratio of the resistivity rhoD in a dark place and the resistivity rhoL in a light irradiation, thereby having a good optical sensitivity. In order to obtain a good picture quality after the 200,000 copies are taken, the oxygen content of the surface reforming layer is necessary to be 1-50qt%, and the oxygen content of the electric charge transfer layer is necessary to be 0.05-5at% respectively.

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野 本発明は感光体、例えば電子写真感光体に関す“るもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A. Field of Industrial Application The present invention relates to a photoreceptor, such as an electrophotographic photoreceptor.

口、従来技術 従来、電子写真感光体として、Se又はS e VcA
 s sTe%sb等をドープした感光体、ZnOやC
dSを樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られて
いる。 しかしながらこれらの感光体は、環境汚染性、
熱的安定性、機械的強度の点で問題がある。
Conventional technology Conventionally, as an electrophotographic photoreceptor, Se or Se VcA
Photoreceptor doped with ssTe%sb, etc., ZnO or C
Photoreceptors, etc. in which dS is dispersed in a resin binder are known. However, these photoreceptors are environmentally polluting and
There are problems with thermal stability and mechanical strength.

一方、アモルファスシリコン(a−8i)を母体として
用いた電子写真感光体が近年になって提案されている。
On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-8i) as a matrix have been proposed in recent years.

 a−8iは、5i−8iの結合手が切れたいわゆるダ
ングリングボンドを有しており、この欠陥に起因してエ
ネルギーギャップ内に多くの局在準位が存在する。 こ
のために、熱励起担体のホッピング伝導が生じて暗抵抗
が小さく、また光励起担体が局在準位にトラップされて
光導電性が悪くなっている。 そこで、上記欠陥を水素
原子(H)で補償してSi KHを結合させることによ
って、ダングリングボンドを埋めることが行われる。
a-8i has a so-called dangling bond in which the bond of 5i-8i is broken, and many localized levels exist within the energy gap due to this defect. For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, the dangling bonds are filled by compensating the defects with hydrogen atoms (H) and bonding Si KH.

このようなアモルファス水素化シリコン(以下、asi
:Hと称する。)の暗所での抵抗率は10”〜109Ω
−備であって、アモルファスSeと比較すれば約1万分
の1も低い。 従って、a−8i:Hの単層からなる感
光体は表面電位の暗減衰速度が大きく、初期帯電電位が
低いという問題点を有している。 しかし、他方では、
可視及び赤外領域の光を照射すると抵抗率が大きく減少
するため、感光体の感光層として極めて優れた特性を有
している。
Such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter, asi
:Referred to as H. ) resistivity in the dark is 10”~109Ω
- about 1/10,000 times lower than that of amorphous Se. Therefore, a photoreceptor made of a single layer of a-8i:H has problems in that the dark decay rate of the surface potential is high and the initial charging potential is low. But on the other hand,
When irradiated with light in the visible and infrared regions, the resistivity decreases significantly, so it has extremely excellent properties as a photosensitive layer of a photoreceptor.

しかしながら、ast、Hを表面とする感光体は、長期
忙亘って大気や湿気に曝されることによる影響、コロナ
放電で生成される化学種の影響等の如き表面の化学的安
定性に関して、これまで十分な検討がなされていない。
However, photoreceptors with ast, H surfaces are susceptible to surface chemical stability, such as the effects of long-term exposure to the atmosphere and moisture, and the effects of chemical species generated by corona discharge. sufficient consideration has not been made.

 例えば1力月以上放置したものは湿気の影響を受け、
受容電位が著しく低下することが分っている。 一方、
アモルファス水素化炭化シリコン(以下、a  SiC
:Hと称す71io)について、その製法や存在が@P
hi 1. Maj、 Vol、 35″(1978)
等に記載されており、その特性として、耐熱性や表面硬
度が高いこと、ast:Hと比較1.6〜2.8eVの
範囲に亘りて変化すること等が知られている。 但、炭
素の含有によりバンドギャップが拡がるために長波長感
度が不良となるという欠点がある。
For example, items that have been left for more than a month will be affected by moisture.
It is known that the receptor potential is significantly reduced. on the other hand,
Amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter referred to as a SiC
Regarding 71io) called :H, its manufacturing method and existence are @P
hi 1. Maj, Vol, 35″ (1978)
As its properties, it is known that it has high heat resistance and surface hardness, and that it changes over a range of 1.6 to 2.8 eV compared to ast:H. However, there is a drawback that the long wavelength sensitivity becomes poor due to the widening of the band gap due to the inclusion of carbon.

こうしたa  StC:Hとa−8i:Hとを組合せた
電子写真感光体は例えば特開昭55−127083号公
報において提案されている。 これによれば、a−8i
SH層を電荷発生(光導電)層とし、この電荷発生層下
にa  5tCSH層を電荷輸送層として設けた機能分
離型の2層構造を作成し、上層のaSsaHにより広い
波長域での光感度を得、かつa−8i:H層とへテロ接
合を形成する下層のa−8iC:Hにより帯電電位の向
上を図りている。 しかしながら、asxSH層の暗減
衰を充分く防止できず、帯電電位はなお不充分であって
実用性のあるものとはならない上に、表面にasiaH
層が存在していることにより化学的安定性や機械的強度
、耐熱性等が不良となる。
An electrophotographic photoreceptor combining such a StC:H and a-8i:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 127083/1983. According to this, a-8i
A functionally separated two-layer structure was created in which the SH layer was used as a charge generation (photoconductive) layer, and the a5tCSH layer was provided below this charge generation layer as a charge transport layer, and the upper layer aSsaH increased photosensitivity in a wide wavelength range. The charging potential is improved by the lower layer a-8iC:H forming a heterojunction with the a-8i:H layer. However, the dark decay of the asxSH layer cannot be sufficiently prevented, and the charging potential is still insufficient to be practical.
The presence of the layer results in poor chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc.

一方、特開昭57−17952号公報には、aSt:H
からなる電荷発生層上疋第1のa  5tCSH層を表
面改質層として形成し、裏面上(支持体電極側)に第2
0a  StC:H層を電荷輸送層として形成している
。 この公知の感光体に関しては、表面改質層によって
減衰の防止、表面の化学的安定性等の効果は期待できる
ものの、次の如き問題点があることが判明した。
On the other hand, in JP-A-57-17952, aSt:H
A first 5tCSH layer is formed on the charge generation layer as a surface modification layer, and a second 5tCSH layer is formed on the back surface (support electrode side).
0a StC:H layer is formed as a charge transport layer. Regarding this known photoreceptor, although effects such as prevention of attenuation and surface chemical stability can be expected by the surface modification layer, it has been found that there are the following problems.

即ち、上記の如き表面改質層の構成物質であるa−8i
C:Hの比抵抗(暗所抵抗率)ρ1は1013Ω−cm
は が限界であり、これより大き゛ぐ万らないために、帯電
電位の保持性が十分ではない。 また、SiO□を表面
改質層に使用した場合、ρ9は高くなるが、帯電極近傍
で発生した活性S(放電雰囲気中等のイオンや分子、原
子)が表面に吸着され易く、このために沿面放電が生じ
て画像流れが生じ易くなる。 これに対し、a−8t 
C: HはSin、の如き活性種の吸着は生じ難いが、
上記の如くρDが不充分であって帯電電位の保持能(特
に高温高湿下における保持能)が悪い。
That is, a-8i, which is a constituent material of the surface modified layer as described above,
The specific resistance (dark resistivity) ρ1 of C:H is 1013Ω-cm
is the limit, and since it cannot exceed this limit, the ability to retain the charged potential is insufficient. In addition, when SiO Discharge occurs and image deletion tends to occur. On the other hand, a-8t
C: Adsorption of active species such as H is Sin, is difficult to occur, but
As mentioned above, ρD is insufficient and the charging potential retention ability (particularly the retention ability under high temperature and high humidity conditions) is poor.

また、公知の感光体においては、a−8iC:H電荷輸
送層について、その電荷輸送能(キャリアレンジ(μτ
)=モビリティ×ライフタイム)及び電荷保持能(暗抵
抗ρD)は一応充分ではあるが、ρつの温度依存性が大
きく、このために高温では帯電電位の保持特性が劣化し
、実用に供し得なくなる。
In addition, in known photoreceptors, the charge transport ability (carrier range (μτ
)=mobility x lifetime) and charge retention capacity (dark resistance ρD) are sufficient for the time being, but the temperature dependence of ρ is large, and as a result, the charged potential retention characteristics deteriorate at high temperatures, making it impossible to put it into practical use. .

ハ、発明の目的 本発明の目的は、表面の化学的安定性、機械的強度、耐
熱性等に優れ、光感度も良好であり、かつ帯電電位の保
持能が良く、浴面放電も生じ難く、しかも高い帯電電位
を安定K(%に高温又は高湿下で)保持でき、かつ光疲
労特性に優れる感光体を提供することにある。
C. Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to provide a surface with excellent chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc., good photosensitivity, good ability to hold charged potential, and hardly cause bath surface discharge. Moreover, it is an object of the present invention to provide a photoreceptor that can maintain a stable high charging potential (K%) at high temperatures or high humidity and has excellent optical fatigue properties.

二、発明の構成及びその作用効果 即ち、本発明による感光体は、アモルファス水素化及び
/又はフッ素化シリコンからなる電荷発生層上に、酸素
を1〜so atomic%(但し、シリコン原子と窒
素原子と酸素原子との合計原子数を100a tomi
 c%とする。)含有するアモルファス水素化及び/又
はフッ素化窒化シリコンからなる表面改質層が設けられ
、かつ前記電荷発生層下に、酸素を0.05〜5ato
=c%(但し、シリコン原子と炭素原子と酸素原子との
合計原子数を100100ato%とする。)含有する
アモルファス水素化及び/又はフッ素化炭化シリコンか
らなる電荷輸送層が設けられている感光体である。
2. Structure of the invention and its effects, that is, the photoreceptor according to the invention has oxygen on the charge generation layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon in an amount of 1 to so atomic % (however, silicon atoms and nitrogen atoms The total number of atoms of and oxygen atoms is 100a tomi
c%. ) A surface modified layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon nitride containing 0.05 to 5 atoms of oxygen is provided below the charge generation layer.
= c% (However, the total number of atoms of silicon atoms, carbon atoms, and oxygen atoms is 100100 ato%.) Photoreceptor provided with a charge transport layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide containing It is.

本発明によれば、a−8iN系の表面改質層(例えばア
モルファス水素化窒化シリコン(a−8iN:H)から
なる表面改質層)を具備せしめているので、a−8i系
悪感光の表面特性についての欠点を解消することができ
る。 即ち、この表面改質層はa−8i系悪感光の表面
電位特性の改善、長期に亘る電位特性の保持、耐環境性
の維持(湿度や雰囲気、コロナ放電で生成される化学種
の影響防止)、表面硬度が高いことによる耐刷性の向上
、感光体使用時の耐熱性の向上、熱転写性(特に粘着転
写性)の向上等の機能を有するものである。
According to the present invention, since the a-8iN-based surface modified layer (for example, the surface-modified layer made of amorphous hydrogenated silicon nitride (a-8iN:H)) is provided, the a-8i-based adverse photosensitive effect is reduced. Defects regarding surface properties can be overcome. In other words, this surface modification layer improves the surface potential characteristics of A-8I-based adverse photosensitivity, maintains long-term potential characteristics, and maintains environmental resistance (preventing the effects of humidity, atmosphere, and chemical species generated by corona discharge). ), it has functions such as improved printing durability due to its high surface hardness, improved heat resistance when using a photoreceptor, and improved thermal transferability (particularly adhesive transferability).

しかも、この表面改質層には、酸素1〜50atomi
c%(以下、「atomic%」を単に%と記す。)含
有せしめられているため釦、表面改質層の比抵抗が大き
く向上(>10”Ω−cm ) 1.、特に高温又は高
湿下での表面からの電荷の注入が効果的に防止され、帯
電電位の保持能が著しく向上する。
Moreover, this surface modified layer contains 1 to 50 atoms of oxygen.
c% (hereinafter, "atomic%" is simply referred to as %), the specific resistance of the button and surface modification layer is greatly improved (>10"Ω-cm) 1. Especially at high temperatures or high humidity. Charge injection from the underlying surface is effectively prevented, and the ability to hold the charged potential is significantly improved.

逆に酸素原子が1%未満ではそうした効果がなく、50
%を越えると活性種の吸着による画像流れが生じてしま
う。 従りて、表面改質層中の酸素含有量を1〜50%
に設定することが必須不可欠であり、5〜30%とする
のが好適である。
Conversely, if the oxygen atom content is less than 1%, there is no such effect;
%, image blurring will occur due to adsorption of active species. Therefore, the oxygen content in the surface modified layer is 1 to 50%.
It is essential to set it to 5% to 30%.

また、本発明によれば、機能分離型の感光体であって、
その電荷輸送層に0.05〜5%の酸素を含有せしめて
いるので、電荷輸送能(μτ)を低下させることなしに
ρDを効果的に上昇させてρDの温度依存性(dρD/
dT)を小さく抑えることができる。 このため、帯電
電位の保持特性が向上し、感光体の使用可能な上限温度
(上限湿度も同様)を高めることができるのである。 
仮に、上記酸素含有量が0.05%未満であると酸素含
有による効果(比抵抗の向上、温度依存性の抑制)が発
揮されず、また5%を越えると酸素が多すぎてキャリア
のモビリティ、即ち(μτ)が著しく低下し、感度低下
、残留電位の上昇を生じてしまう。 従って、酸素含有
量を0.05〜5%に設定することが必須不可欠であり
、特に0.1〜3%とするのが望ましく)。
Further, according to the present invention, there is provided a functionally separated photoreceptor,
Since the charge transport layer contains 0.05 to 5% oxygen, ρD can be effectively increased without reducing the charge transport ability (μτ), and the temperature dependence of ρD (dρD/
dT) can be kept small. Therefore, the charging potential retention characteristics are improved, and the upper limit temperature (and the upper limit humidity) at which the photoreceptor can be used can be increased.
If the above oxygen content is less than 0.05%, the effects of oxygen content (improvement of specific resistance, suppression of temperature dependence) will not be exhibited, and if it exceeds 5%, there will be too much oxygen and carrier mobility will be reduced. , that is, (μτ) decreases significantly, resulting in a decrease in sensitivity and an increase in residual potential. Therefore, it is essential to set the oxygen content to 0.05 to 5%, and it is particularly desirable to set the oxygen content to 0.1 to 3%).

このように、表面改質層と電荷輸送層との双方に夫々所
定量の酸素を含有せしめることによって、これらの相乗
作用が充二分に発揮され、帯電電位の向上、帯電電位の
温度依存性の低下、特に高温高湿下での帯電電位の向上
等を実現できるのである。
In this way, by containing a predetermined amount of oxygen in both the surface modification layer and the charge transport layer, these synergistic effects are fully exhibited, improving the charging potential and reducing the temperature dependence of the charging potential. In particular, it is possible to improve the charging potential under high temperature and high humidity conditions.

なお、本発明に使用する上記のアモルファス窒化シリコ
ンは、酸化物や炭化物に比べ、低熱膨張係数、高熱伝導
率のために熱衝撃に強く、機械的強度や硬度は高温でも
低下が少ない。 また、溶融NaOHやHF以外の薬品
に対してはきわめて高い耐食性を示す。
The amorphous silicon nitride used in the present invention has a low coefficient of thermal expansion and high thermal conductivity compared to oxides and carbides, so it is resistant to thermal shock, and its mechanical strength and hardness do not decrease much even at high temperatures. Furthermore, it exhibits extremely high corrosion resistance against chemicals other than molten NaOH and HF.

ホ、実施例 以下、本発明を実施例について詳細に説明する。E, Example Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples.

第1図は本実施例による例えば正帯電用のa−8i系電
子写真感光体39を示すものである。 この感光体39
はAI等のドラム状導電性支持基板41上に、周期表第
1a族元素(例えばホウ素)がヘビードープされた酸素
含有a−8iC:H(a−8iCO:H)からなるP型
電荷ブロッキング層44と、酸素含有a−8ic:H(
a−8ico:H)からなる電荷輸送層42と、asx
:Hからなる電荷発生層(光導電層)43と、酸素含有
a−8iN:H(a−8iNo:H)からなる表面改質
層45とが積層された構造からなっている。 光24電
層43は暗所抵抗率ρDと光照射時の抵抗率ρ1との比
が電子写真感光体として充分大きく光感度(%に可視及
び赤外領域の光に対するもの)が良好である。
FIG. 1 shows, for example, an a-8i electrophotographic photoreceptor 39 for positive charging according to this embodiment. This photoreceptor 39
A P-type charge blocking layer 44 made of oxygen-containing a-8iC:H (a-8iCO:H) heavily doped with a Group 1a element of the periodic table (for example, boron) is placed on a drum-shaped conductive support substrate 41 made of AI or the like. and oxygen-containing a-8ic:H(
a-8ico:H);
:H and a surface modification layer 45 made of oxygen-containing a-8iN:H (a-8iNo:H). The photovoltaic layer 43 has a ratio of resistivity ρD in the dark to resistivity ρ1 during light irradiation that is sufficiently large as an electrophotographic photoreceptor, and has good photosensitivity (% relative to light in the visible and infrared regions).

この感光体39においては、本発明に基いて、電荷発生
層43上の表面改質層45に、SiとNとOとの合計原
子数に対して1〜50%の酸素を含有せしめているので
、比抵抗の上昇、帯電電位保持能の向上という顕著な作
用効果が得られる。 即ち、第2図に曲線aで示すよう
に、表面改質層に単なるa−8iN:Hを用いた場合、
その比抵抗は窒素含有量に従って高められるが1013
Ω−cm以上にならないことが分っている。 これに対
し、本発明に基いて、a−8iNSH中に酸素を含有せ
しめたO含有量−8iN:Hの場合(酸素含有蓋は例え
ば5%)には、曲線すで示すように、比抵抗が大きく上
昇して窒素含有量を決めることによって1013Ω−c
mをはるかに上回る値を示すことが確認された。
In this photoreceptor 39, based on the present invention, the surface modified layer 45 on the charge generation layer 43 contains 1 to 50% oxygen based on the total number of atoms of Si, N, and O. Therefore, remarkable effects such as an increase in specific resistance and an improvement in charging potential retention ability can be obtained. That is, as shown by curve a in FIG. 2, when simply a-8iN:H is used for the surface modification layer,
Its resistivity increases with nitrogen content, but 1013
It is known that it does not exceed Ω-cm. On the other hand, in the case of O content -8iN:H in which oxygen is contained in a-8iNSH based on the present invention (oxygen-containing lid is, for example, 5%), as already shown in the curve, the specific resistance is 1013Ω-c by determining the nitrogen content with a large increase in
It was confirmed that the value far exceeds m.

この0含有a−8iN:H層45は感光体の表面を改質
してa −S i系感光体を実用的に優れたものとする
ために必須不可欠なものである。 即ち、表面での電荷
保持と、光照射による表面電位の減衰という電子写真感
光体としての基本的な動作を可能とするものである。 
従って、帯電、光減衰の繰返し特性が非常に安定となり
、長期間(例えば1力月以上)放置しておいても良好な
電位特性を再現できる。 これに反し、asx:Hを表
面とした感光体の場合には、湿気、大気、オゾン雰囲気
等の影響を受は易く、電位特性の経時変化が著しくなる
。 また、a−8iN:Hは表面硬度が高いために、現
像、転写、クリーニング等の工程における耐摩耗性があ
り、更に耐熱性も良いことから粘着転写等の如く熱を付
与するプロセスを適用することができる。
This 0-containing a-8iN:H layer 45 is indispensable for modifying the surface of the photoreceptor and making the a-Si type photoreceptor practically excellent. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation.
Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation become very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more). On the other hand, in the case of a photoreceptor having an asx:H surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time. In addition, since a-8iN:H has a high surface hardness, it has abrasion resistance during processes such as development, transfer, and cleaning, and it also has good heat resistance, so it can be used in processes that apply heat such as adhesive transfer. be able to.

また、a  SiC:Hからなる電荷輸送層42に酸素
原子をSi+C+Oの総原子数100 atomic%
に対し0.05〜5%含有せしめているが、この含有量
範囲の酸素によって、電荷輸送層42のρゎが高温(又
は高湿)下でも高くなり、感光体としての帯電電位保持
能が安定に保持される。
In addition, oxygen atoms are added to the charge transport layer 42 made of a SiC:H at a total number of atoms of Si+C+O of 100 atomic%.
Oxygen in this content range increases the ρゎ of the charge transport layer 42 even under high temperature (or high humidity), and the ability to retain the charged potential as a photoreceptor decreases. Maintained stably.

上記のような優れた効果を総合的に奏するためには、a
−8iN:H層45の窒素組成を選択することが重要で
ある。 即ち、窒素原子含有量がSi+N十〇=Zoo
%としたとき10〜90%、更には10〜70%である
ことが望ましい。 N含有量が10%以上であると、上
記した比抵抗が所望の値となり、かつ光学的エネルギー
ギャップがほぼ2.OeV以上となり、可視及び赤外光
に対しいわゆる光学的に透明な窓効果により照射光はa
−8i:H層(電荷発生層)43に到達し易くなる。 
しかし、N含有量が10%未満では、比抵抗が所望の値
以下となり易く、かつ一部分の光は表面層45に吸収さ
れ、感光体の光感度が低下し易くなる。 また、N含有
量が90%を越えると層の窒素量が多くなり、半導体特
性が失なわれ易い上PCa S 1 :H膜をグロー放
電法で形成するときの堆積速度が低下し易いので、N含
有量は90%以下とするのがよい。
In order to achieve the above excellent effects comprehensively, a
-8iN: It is important to select the nitrogen composition of the H layer 45. That is, the nitrogen atom content is Si + N 〇 = Zoo
When expressed as %, it is preferably 10 to 90%, more preferably 10 to 70%. When the N content is 10% or more, the above-mentioned specific resistance becomes the desired value, and the optical energy gap becomes approximately 2.0%. OeV or more, and due to the so-called optically transparent window effect for visible and infrared light, the irradiated light is a
-8i: It becomes easier to reach the H layer (charge generation layer) 43.
However, if the N content is less than 10%, the specific resistance tends to be less than a desired value, and part of the light is absorbed by the surface layer 45, which tends to reduce the photosensitivity of the photoreceptor. In addition, if the N content exceeds 90%, the amount of nitrogen in the layer increases, and the semiconductor properties are likely to be lost, and the deposition rate when forming the PCa S 1 :H film by the glow discharge method is likely to decrease. The N content is preferably 90% or less.

また、a  S I N : H1m 45の膜厚を4
00X≦t≦500OAの範囲内(特に400A≦t≦
200OA )に選択することも重要である。 即ち、
その膜厚が500OAを越える場合には、残留電位vR
が高くなりすぎかつ光感度の低下も生じ、a−8i系悪
感光としての良好な特性を失ない易い。 また、膜厚を
400A未満とした場合には、トンネル効果によって電
荷が表面上に帯電されなくなるため、暗減衰の増大や光
感度の低下が生じてしまう。
Also, the film thickness of a S I N: H1m 45 is 4
Within the range of 00X≦t≦500OA (especially 400A≦t≦
It is also important to select 200OA). That is,
If the film thickness exceeds 500OA, the residual potential vR
becomes too high and also causes a decrease in photosensitivity, making it easy to lose the good characteristics of the a-8i-based photosensitive material. Furthermore, if the film thickness is less than 400 Å, charges will no longer be charged on the surface due to the tunnel effect, resulting in an increase in dark decay and a decrease in photosensitivity.

電荷輸送層42の炭素原子含有量は30%以下、好まし
くは10〜30%(Si+C+Oの総原子数を1001
00ato%とする。)であるのが望ましく、またその
膜厚は10〜30μmとするのが適切である。
The carbon atom content of the charge transport layer 42 is 30% or less, preferably 10 to 30% (the total number of Si+C+O atoms is 1001
00ato%. ), and the appropriate film thickness is 10 to 30 μm.

また、電荷発生層43は1〜10μmとするのがよい。Further, the thickness of the charge generation layer 43 is preferably 1 to 10 μm.

 電荷発生層43が1μm未満であると光感度が充分で
なく、また10μmを越えると残留電位が上昇し、実用
上不充分である。
If the thickness of the charge generation layer 43 is less than 1 μm, the photosensitivity will not be sufficient, and if it exceeds 10 μm, the residual potential will increase, which is insufficient for practical use.

また、上記電荷ブロッキング層44は、正帯電用として
、基板41からの電子の注入を充分に防ぐには、周期表
第11a族元素(例えばボロン)を流量比B2H,/ 
S 1H4= 100〜5000酵でドープして、P型
(更にはP+型)化するとよい。 また、負帯電用とし
て、周期表第Va族元素(例えばリン)をヘビードープ
してN型(更にはN”壓)化してもよい。
Furthermore, in order to sufficiently prevent the injection of electrons from the substrate 41, the charge blocking layer 44 is for positive charging, and in order to sufficiently prevent the injection of electrons from the substrate 41, an element of Group 11a of the periodic table (for example, boron) is used at a flow rate of B2H/
S 1H4 = It is preferable to dope with 100 to 5000 fermentations to convert it into P type (or even P+ type). Further, for negative charging, it may be heavily doped with a Group Va element of the periodic table (for example, phosphorus) to make it N type (or even N'' type).

電荷ブロッキング層44は負帯電使用の場合には必ずし
も設けることを要しないが、設ける場合には正帯電用及
び負帯電用を問わず、酸素を0.05〜5%、更には0
.1〜3%含有せしめたa  StC:Hで形成するの
が望ましい。 このa SiC:Hの炭素量は30%以
下、好ましくは10〜30%としてよい。
The charge blocking layer 44 does not necessarily need to be provided when used for negative charging, but if provided, it may contain 0.05 to 5% oxygen, or even 0.
.. It is preferable to form the a StC:H containing 1 to 3%. The carbon content of this a SiC:H may be 30% or less, preferably 10 to 30%.

このブロッキング層44は500A未満であるとブロッ
キング効果が弱く、また、2μmを越えると電荷輸送能
が悪くなり易い。
If the blocking layer 44 has a thickness of less than 500 A, the blocking effect will be weak, and if it exceeds 2 μm, the charge transport ability will tend to deteriorate.

なお、上記の各層は水素を含有することが必要である。Note that each of the above layers needs to contain hydrogen.

 特に、光導電層43中の水素含有量は、ダングリング
ボンドを補償して光導電性及び電荷保持性を向上させる
ために必須不可欠であって、10〜30%であるのが望
ましい。 この含有量範囲は表面改質層45、ブロッキ
ング層祠及び電荷輸送層42も同様である。 また、ブ
ロッキング層44の導電型を制御するための不純物とし
て、P型化のためにボロン以外にもA/、Ga、In、
TI等の周期表Ha族元素を使用でき、N型化の不純物
もリン以外のAs、 Sb等の周期表第Va族元素を使
用できる。
In particular, the hydrogen content in the photoconductive layer 43 is essential to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is preferably 10 to 30%. This content range also applies to the surface modification layer 45, the blocking layer, and the charge transport layer 42. Further, as impurities for controlling the conductivity type of the blocking layer 44, in addition to boron, A/, Ga, In,
Periodic table Ha group elements such as TI can be used, and periodic table Va group elements other than phosphorus such as As and Sb can be used as impurities for N-type conversion.

なお、本例の感光体の層構成を使用形態に応じてまとめ
ると次の如くである。
The layer structure of the photoreceptor of this example is summarized as follows depending on the mode of use.

〔正帯電使用の場合〕[When using positive charging]

電荷ブロッキング層44: 周期表第ma族元素をヘビードープ。 Charge blocking layer 44: Heavy doping with group MA elements of the periodic table.

例えばB、H,/SiH,=100〜5000 P (
容量比)なる条件下でグロー放電分解する。
For example, B, H, /SiH, = 100 to 5000 P (
Glow discharge decomposes under the following conditions (capacity ratio).

電荷輸送層42: 周期表第nla族元素をライトドープ。Charge transport layer 42: Lightly doped with NLA group elements of the periodic table.

例えばB、H,/8 tH4= o、 1〜20 rp
 (容量比)なる条件下でグロー放電分解する。
For example, B, H, /8 tH4=o, 1~20 rp
Glow discharge decomposes under the following conditions (capacity ratio).

表面改質層45: 窒素含有量及び酸素含有量について感光体膜厚方向に濃
度勾配を持たせてもよい。
Surface modified layer 45: Nitrogen content and oxygen content may have a concentration gradient in the thickness direction of the photoreceptor.

電荷発生層43: 何らドープしなくてもよい。帯電電位及び感度を向上さ
せるため、場合によっては周期表第11a族元素をライ
トドープしてもよい。例えばBオH,/SiH4≦20
酵(容量比)なる条件下でグロー放電分解する。
Charge generation layer 43: Does not need to be doped in any way. In order to improve the charging potential and sensitivity, it may be lightly doped with an element of group 11a of the periodic table, depending on the case. For example, BoH, /SiH4≦20
Glow discharge decomposition under fermentation (capacity ratio) conditions.

〔負帯電使用の場合〕[When using negative charge]

電荷ブロッキング層44: 特に電荷ブロッキング層を設けなくてもよい。帯電能を
向上させるため、場合によっては周期表第Va族元素を
ドープしたa−8iCO:H又はa−8iCO:Fから
なる電荷ブロッキング層を設けてもよい。例えば、PH
,/SiH,≦2000騨(容量比)なる条件下でグロ
ー放電分解する。
Charge blocking layer 44: There is no particular need to provide a charge blocking layer. In order to improve the charging ability, a charge blocking layer made of a-8iCO:H or a-8iCO:F doped with a group Va element of the periodic table may be provided as the case may be. For example, P.H.
, /SiH,≦2000 (capacity ratio).

電荷輸送層42: 何らドープしなくてもよい。帯電電位及び感度を向上さ
せるため、場合によっては周期表第ma族元素をライト
ドープしてもよい。例えばB2H,/SiH4≦20騨
(容量比)なる条件下でグロー放電分解する。
Charge transport layer 42: Does not need to be doped in any way. In order to improve the charging potential and sensitivity, light doping with an element of Group Ma of the periodic table may be performed in some cases. For example, glow discharge decomposition is performed under the condition that B2H,/SiH4≦20 (capacity ratio).

電荷発生層43: 何らドープしなくてもよい。帯電電位及び感度を向上さ
せるため、場合によっては周期表第U[a族元素をライ
トドープしてもよい。例えばB、H,/SiH4≦20
酵(容量比)なる条件下でグロー放電分解する。
Charge generation layer 43: Does not need to be doped in any way. In order to improve the charging potential and sensitivity, light doping with an element of group U[a of the periodic table may be performed depending on the case. For example, B, H, /SiH4≦20
Glow discharge decomposition under fermentation (capacity ratio) conditions.

表面改質層45: 窒素含有量及び酸素含有量について感光体膜厚方向に濃
度勾配を持たせてもよい。
Surface modified layer 45: Nitrogen content and oxygen content may have a concentration gradient in the thickness direction of the photoreceptor.

次に、上記した感光体(例えばドラム状)の製造方法及
びその装置(グロー放電装置)を第3図について説明す
る。
Next, a method for manufacturing the above-mentioned photoreceptor (for example, drum-shaped) and an apparatus therefor (glow discharge apparatus) will be explained with reference to FIG.

この装置51の真空槽52内ではドラム状の基板41が
垂直に回転可能にセットされ、ヒーター55で基板41
を内側から所定温度だ加熱し得るようになっている。 
基板41に対向してその周囲に、ガス導出口53付きの
円筒状高周波電極57が配され、基板41との間に高周
波電源56によりグロー放電が生ぜしめられる。 なお
、図中の62はSiH4又はガス状シリコン化合物の供
給源、63はOl又はガス状酸素化合物の供給源、64
はCH4等の炭化水素ガス供給源、65はNH,、N2
等の窒素化合物ガスの供給源、66はAr等のキャリア
ガス供給源、67は不純物ガス(例えばB、H,、PH
3)供給源、68は各流量計である。 このグロー放電
装置において、まず支持体である例えばAIl基板41
0表面を清浄化した後に真空槽52内く配置し、真空槽
52内のガス圧が10”Torrとなるように調節して
排気し、かつ基板41を所定温度、特に100〜350
℃(望ましくは150〜300℃)に加熱保持する。 
次いで、高純度の不活性ガスをキャリアガスとして、S
iH4又はガス状シリコン化合物、CH,、N2又はN
Hl、08、B、H,(又はPH,)を適宜真空槽52
内に導入し、例えば0.01〜10Torrの反応圧下
で高周波電源56により高周波電圧(例えば13.56
 MHz )を印加する。 これによりて、上記各反応
ガスを電極57と基板41との間でグロー放電分解し、
0含有P型a  SIC:H,0含有a−8iC:H,
a−8i:H10含有a  SIN:Hを上記の層44
.42.43.45として基板上に連続的に(即ち、第
1図の例に対応して)堆積させる。
A drum-shaped substrate 41 is set rotatably vertically in a vacuum chamber 52 of this device 51, and a heater 55 is used to rotate the substrate 41.
can be heated from the inside to a predetermined temperature.
A cylindrical high frequency electrode 57 with a gas outlet 53 is disposed around and facing the substrate 41, and a glow discharge is generated between the electrode 57 and the substrate 41 by a high frequency power source 56. In addition, 62 in the figure is a source of SiH4 or a gaseous silicon compound, 63 is a source of Ol or a gaseous oxygen compound, and 64 is a source of a gaseous silicon compound.
is a hydrocarbon gas supply source such as CH4, 65 is NH,, N2
66 is a carrier gas supply source such as Ar, 67 is an impurity gas (e.g. B, H, PH)
3) Supply source 68 is each flow meter. In this glow discharge device, first, a support, for example, an AIl substrate 41
After cleaning the surface of the substrate 41, the substrate 41 is placed in a vacuum chamber 52, and the gas pressure in the vacuum chamber 52 is adjusted to 10" Torr and evacuated. The substrate 41 is heated to a predetermined temperature, particularly 100 to 350
C. (preferably 150 to 300 C.).
Next, using a high purity inert gas as a carrier gas, S
iH4 or gaseous silicon compound, CH,, N2 or N
Hl, 08, B, H, (or PH,) as appropriate in the vacuum chamber 52
A high frequency voltage (for example, 13.56
MHz) is applied. As a result, each of the reaction gases described above is decomposed by glow discharge between the electrode 57 and the substrate 41,
0-containing P-type a SIC: H, 0-containing a-8iC: H,
a-8i: H10-containing a SIN: H in the above layer 44
.. 42, 43, 45 on the substrate in succession (ie, corresponding to the example of FIG. 1).

上記製造方法においては、支持体上Ka−8i系の層を
製膜する工程で支持体温度を100〜350℃としてい
るので、感光体の膜質(特に電気的特性)を良くするこ
とができる。
In the above manufacturing method, the temperature of the support is set at 100 to 350° C. in the step of forming the Ka-8i layer on the support, so that the film quality (particularly the electrical properties) of the photoreceptor can be improved.

なお、上記a−8i系感光体感光層の形成時において、
ダングリングボンドを補償するためには、上記したHの
かわりに、或いはHと併用してフッ素をSiF、等の形
で導入し、a−8i : F、 a−8i :H: F
、a−8iN :F、a−8iN:H:F、a−8ic
:F。
In addition, when forming the above a-8i photoreceptor photosensitive layer,
In order to compensate for dangling bonds, fluorine is introduced in the form of SiF, etc. in place of the above H or in combination with H, and a-8i: F, a-8i: H: F
, a-8iN:F, a-8iN:H:F, a-8ic
:F.

a−8iC:H:Fとすることもできる、この場合のフ
ッ素量は0.5〜10%が望ましい。
It is also possible to use a-8iC:H:F. In this case, the amount of fluorine is preferably 0.5 to 10%.

なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によるもので
あるが、これ以外にも、スパッタリング法、イオンブレ
ーティング法や、水素放電管で活性化又はイオン化され
た水素導入下でSiを蒸発させる方法(特に、本出願人
による特開昭56−78413号(特願昭54−152
455号)の方法)等によっても上記感光体の製造が可
能である。
The above manufacturing method is based on the glow discharge decomposition method, but there are also sputtering methods, ion blating methods, and methods in which Si is evaporated while introducing activated or ionized hydrogen in a hydrogen discharge tube. (In particular, Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-78413 (Patent Application No. 54-152) filed by the present applicant)
The above photoreceptor can also be manufactured by the method of No. 455).

次に、本発明を具体的な例について説明する。Next, the present invention will be explained using a specific example.

グロー放電分解法により、ドラム状M支持体上に第1図
の構造の電子写真感光体を作製した。
An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in FIG. 1 was prepared on a drum-shaped M support by a glow discharge decomposition method.

即ち、まず、支持体である例えば平滑な表面を持つドラ
ム状M基板410表面を清浄化した後K。
That is, first, the surface of the support, eg, a drum-shaped M substrate 410 having a smooth surface, is cleaned and then subjected to K.

第3図の真空槽52内に配置し、真空槽52内のガス圧
が10−’Torrとなるように調節して排気し、かつ
基板41を所定温度、特に100〜350℃(望ましく
は150〜300℃)に加熱保持する。 次いで、高純
度のArガスをキャリアガスとして導入し、0.5To
rrの背圧のもとで周波数13.56 MHzの高周波
電力を印加し、10分間の予備放電を行った。 次いで
、SiH,とB2H,とからなる反応ガスを導入し、流
量比4:1:1:(1,0X10   ):(1,5X
10””)の(Ar+SiH4+CH4+O□+B、H
,)混合ガスをグロー放電分解することにより、電荷ブ
ロッキング機能を担うP型の0含有a  StC:H層
44を6μm/hrの堆積速度で所定厚さに製膜した。
The substrate 41 is placed in a vacuum chamber 52 shown in FIG. -300°C). Next, high-purity Ar gas was introduced as a carrier gas, and 0.5To
Preliminary discharge was performed for 10 minutes by applying high frequency power at a frequency of 13.56 MHz under a back pressure of rr. Next, a reaction gas consisting of SiH and B2H was introduced, and the flow rate ratio was 4:1:1:(1,0X10):(1,5X
10””) of (Ar+SiH4+CH4+O□+B,H
,) By glow discharge decomposition of the mixed gas, a P-type O-containing a StC:H layer 44 having a charge blocking function was formed to a predetermined thickness at a deposition rate of 6 μm/hr.

電荷輸送層42も同様にして形成した。 引き続き、 
B、H。
The charge transport layer 42 was also formed in the same manner. continuation,
B.H.

及びCH4を供給停止し、5i)(4を放電分解し、所
定厚さのast:H層43を形成した。引続いて、流量
比4:1:6:(1,0X10−1)の(Ar + S
iH4+N2+0、)混合ガスと共にグロー放電分解し
、所定厚さの0含有a  StN:H表面保護層45を
更に設け、電子写真感光体を完成させた。 この感光体
を用いて、次の測定を行なった。
and CH4 were stopped, and 5i) (4 was discharge decomposed to form an ast:H layer 43 of a predetermined thickness. Ar+S
iH4+N2+0,) was decomposed by glow discharge together with a mixed gas, and a 0-containing a StN:H surface protective layer 45 of a predetermined thickness was further provided to complete an electrophotographic photoreceptor. The following measurements were performed using this photoreceptor.

帯電電位■。(■): U−Bix 2500改造機(小西六写真工業■製)を
用い、感光体流れ込み電流150μA、露光なしの条件
で360 SX型電位計(トレツク社製)で測定した現
像直前の表面電位。
Charged potential■. (■): Surface potential just before development measured with a 360 SX type electrometer (manufactured by Toretsuk) using a modified U-Bix 2500 machine (manufactured by Konishi Roku Photo Industry ■), with a photoconductor inflow current of 150 μA and no exposure. .

半減露光量EL/2()u)H−sec) :上記の装
置を用い、表面電位を500 Vから250■に半減す
るのに必要な露光量。像露光は、ダイクロイックミラー
により620nm以上の長波長成分をカットした。
Half-reduced exposure amount EL/2()u)H-sec): Exposure amount required to reduce the surface potential by half from 500 V to 250 ■ using the above device. In image exposure, long wavelength components of 620 nm or more were cut using a dichroic mirror.

(露光量は550−1型光量計(EG and G社製
)にて、測定) 残留電位vR(v): 上記の装置を用い、500vVc帯電させた後、400
nmにピークを持つ除電光を30 lux @浅照射後
の表面電位。
(The exposure amount was measured using a 550-1 type photometer (manufactured by EG and G)) Residual potential vR (v): After charging 500 vVc using the above device, 400
Surface potential after shallow irradiation with 30 lux of static eliminating light with a peak at nm.

20万コピー実写: U−Bix 2500改造機(小西六写真工業(株)製
)を用いた。画質の評価は次の通りである。
200,000 copies live-action: A modified U-Bix 2500 machine (manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.) was used. The image quality evaluation is as follows.

◎ 画像濃度が十分高く、解像度、階調性がよく、鮮明
で画像上に白スジや白ポ チがない。即ち画像極めて良好。
◎ The image density is sufficiently high, the resolution and gradation are good, and the image is clear with no white lines or white spots. In other words, the image is extremely good.

○ 画像良好。○ Good image.

Δ 画像実用上採用可能 × 画像実用上採用不可能。Δ Can be used for practical purposes × Image cannot be used for practical purposes.

る。Ru.

(1)  表面改質層の酸素含有量がfat%より少な
いか、電荷輸送層の酸素含有量が0.05at%より少
ないと、高温環境下での帯電電位が充分でない。
(1) If the oxygen content of the surface-modified layer is less than fat % or if the oxygen content of the charge transport layer is less than 0.05 at %, the charging potential will not be sufficient in a high-temperature environment.

(2)表面改質層の酸素含有量が50 at%より多い
か、電荷輸送層の酸素含有量が50 at%より多いと
、光感度が悪くなり、残留電位が上昇する。
(2) If the oxygen content of the surface-modified layer is more than 50 at%, or if the oxygen content of the charge transport layer is more than 50 at%, the photosensitivity will deteriorate and the residual potential will increase.

(3)、表面改質層の酸素含有量が50a【%より多く
なると、20万コピーでの画像の解像度が悪くなる。
(3) If the oxygen content of the surface-modified layer exceeds 50a%, the resolution of the image after 200,000 copies will deteriorate.

従って、50℃で20万コピーを行りても良好な画質を
得るためには表面改質層の酸素含有蓋をlat%≦〔O
〕≦50at%とじ、電荷輸送質層の酸素含有量を0.
05at%≦〔O〕≦Sat%とすることが必要である
Therefore, in order to obtain good image quality even after 200,000 copies are made at 50°C, the oxygen-containing lid of the surface-modified layer must be set at lat%≦[O
]≦50at%, and the oxygen content of the charge transport layer is 0.
It is necessary to satisfy 05at%≦[O]≦Sat%.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図〜第4図は本発明の実施例を示すものであって、 第1図はa−8i系感光体の断面図、 第2図はa−8iCO比抵抗を比較して示すグラフ、第
3図はグロー放電装置の概略断面図、第4図は感光体の
特性を比較して示す図、である。 なお、図面に示された符号において、 39・・・・・・・・・ a−8i系感光体41・・・
・・・・・・支持体(基板)42・・・・・・・・・電
荷輸送層 43・・・・・・・・・電荷発生層 44・・・・・・・・・電荷ブロッキング層45・・・
・・・・・・表面改質層 である。 代理人  弁理士 逢 坂   宏 第1図 第2図 !′!A含有t (OtOm+C%) 第3図
1 to 4 show examples of the present invention, in which FIG. 1 is a cross-sectional view of an a-8i photoreceptor, FIG. 2 is a graph showing a comparison of a-8i CO resistivity, FIG. 3 is a schematic sectional view of the glow discharge device, and FIG. 4 is a diagram showing a comparison of the characteristics of the photoreceptor. In addition, in the symbols shown in the drawings, 39...... a-8i type photoreceptor 41...
......Support (substrate) 42...Charge transport layer 43...Charge generation layer 44...Charge blocking layer 45...
......Surface modified layer. Agent: Patent Attorney Hiroshi Aisaka Figure 1 Figure 2! ′! A content t (OtOm+C%) Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、アモルファス水素化及び/又はフッ素化シリコンか
らなる電荷発生層上に、酸素を1〜50atomic%
(但し、シリコン原子と窒素原子と酸素原子との合計原
子数を100atomic%とする。)含有するアモル
ファス水素化及び/又はフッ素化窒化シリコンからなる
表面改質層が設けられ、かつ前記電荷発生層下に、酸素
を0.05〜5atomic%(但し、シリコン原子と
炭素原子と酸素原子との合計原子数を100atomi
c%とする。)含有するアモルファス水素化及び/又は
フッ素化炭化シリコンからなる電荷輸送層が設けられて
いる感光体。 2、電荷輸送層下に、酸素を0.05〜5atomic
%(但し、シリコン原子と炭素原子と酸素原子との合計
原子数を100atomic%とする。)含有するアモ
ルファス水素化及び/又はフッ素化炭化シリコンからな
る電荷ブロッキング層が設けられている、特許請求の範
囲の第1項に記載した感光体。
[Claims] 1. 1 to 50 atomic% oxygen on a charge generation layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon.
(However, the total number of atoms of silicon atoms, nitrogen atoms, and oxygen atoms is 100 atomic%.) A surface modification layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon nitride containing the charge generating layer is provided. At the bottom, add 0.05 to 5 atomic% oxygen (however, the total number of silicon atoms, carbon atoms, and oxygen atoms is 100 atomic%).
c%. ) A photoreceptor provided with a charge transport layer comprising amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide. 2. Add 0.05 to 5 atomic oxygen under the charge transport layer.
% (however, the total number of atoms of silicon atoms, carbon atoms, and oxygen atoms is 100 atomic %). A photoreceptor as described in item 1 of the scope.
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