JPS61246610A - Thickness measuring device using ultrasonic wave - Google Patents

Thickness measuring device using ultrasonic wave

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Publication number
JPS61246610A
JPS61246610A JP61009827A JP982786A JPS61246610A JP S61246610 A JPS61246610 A JP S61246610A JP 61009827 A JP61009827 A JP 61009827A JP 982786 A JP982786 A JP 982786A JP S61246610 A JPS61246610 A JP S61246610A
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JP
Japan
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circuit
generator
measuring device
thickness measuring
coil
Prior art date
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Pending
Application number
JP61009827A
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Japanese (ja)
Inventor
ヨナス パイウク
ジヨセ マリオ バルガス
サルバドール ミルマン
エドウアルド ナタリオ ドボルキン
フエルナンド ミグエル モリナ
エミール ブランコ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shideruka SA Ind Y Komerushiar
Shideruka SA Ind Y Komerushiaru
Original Assignee
Shideruka SA Ind Y Komerushiar
Shideruka SA Ind Y Komerushiaru
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shideruka SA Ind Y Komerushiar, Shideruka SA Ind Y Komerushiaru filed Critical Shideruka SA Ind Y Komerushiar
Publication of JPS61246610A publication Critical patent/JPS61246610A/en
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • G01B17/02Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は超音波を用いて厚さを測定するための装置に関
するものである。この厚さ測定装置は、例えば鋼管の厚
さを自動的に測定する装置などに利用される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to an apparatus for measuring thickness using ultrasonic waves. This thickness measuring device is used, for example, in a device that automatically measures the thickness of steel pipes.

[従来の技術とその問題点] 超音波を用いて厚さを測定する装置は現在までに数多く
知られているが、これらの測定装置はいずれも常に多く
の問題点や欠点を有している。これらの従来の測定装置
は2つの型式の装置に分類される。すなわち、電磁気結
合形装置と、圧電変換器を使用した装置とに分類される
[Conventional technology and its problems] Many devices that measure thickness using ultrasonic waves are known to date, but all of these measurement devices always have many problems and drawbacks. . These conventional measuring devices fall into two types of devices. That is, they are classified into electromagnetic coupling type devices and devices using piezoelectric transducers.

第1の型式の従来の測定装置は、いずれも、1つの電磁
気音響変換器を使用している。この変換器は交互に送信
器および受信器として動作する。
The first type of conventional measuring devices all use one electromagnetic acoustic transducer. This transducer acts alternately as a transmitter and a receiver.

この変換器は、送信器として動作する時には、測定すべ
き厚さの表面に対し垂直な横波を発生し、また受信器と
して作用する時には、発生した前記横波による反射波を
検出する。連続した2つの反射波の間の時間間隔を測定
することにより、被測定対象物の厚さが決定される。
When acting as a transmitter, this transducer generates transverse waves perpendicular to the surface of the thickness to be measured, and when acting as a receiver, it detects the reflected waves of the generated transverse waves. By measuring the time interval between two successive reflected waves, the thickness of the object to be measured is determined.

これらの測定装置は本質的に3つの問題点を有している
。必要な磁界を得るためには、磁極間隙を非常に小さく
設定することが必要である。その結果、生産ライン載置
された部品又は素子の厚さを測定するに際して、この部
品等の幾何学的寸法の特性が高精度のものでなければ、
当該装置を測定に使用することができない。例えば鋼管
の場合には、それが真直ぐでなければならない。このよ
うなことは、産業上の生産ラインで満たされることはめ
ったにない。またこのような測定装置にとっては、測定
されるべき厚さを定める内側表面と外側表面がある程度
まで平行であることが必要である。その理由は、これら
の表面が互いに一定角度以上傾いていると、超音波信号
が受信器によって検出されないからである。最終的に、
厚さの決定は反射信号の包絡線(エンベロープ)の最大
値を決定することを必要とし、このことは測定の精度を
低めることになる。
These measuring devices essentially have three problems. In order to obtain the required magnetic field, it is necessary to set the magnetic pole gap very small. As a result, when measuring the thickness of a component or element placed on a production line, it is difficult to
The device cannot be used for measurements. For example, in the case of a steel pipe, it must be straight. Such requirements are rarely met in industrial production lines. It is also necessary for such a measuring device that the inner and outer surfaces defining the thickness to be measured are parallel to some extent. The reason is that if these surfaces are tilted to each other by more than a certain angle, the ultrasound signal will not be detected by the receiver. Finally,
Determining the thickness requires determining the maximum value of the envelope of the reflected signal, which reduces the accuracy of the measurement.

第2の型式(圧電変換器を使用する型式)を用いた従来
の測定装置はさらに欠点を有する。すなわち、この測定
装置では、超音波を発生する圧電性結晶から被測定対象
である部品へ超音波を伝達するために、水、油、又は特
別なグリース等による伝達媒体を設けることが必要であ
る。
Conventional measuring devices of the second type (using piezoelectric transducers) have further drawbacks. In other words, in this measurement device, in order to transmit the ultrasonic waves from the piezoelectric crystal that generates the ultrasonic waves to the part to be measured, it is necessary to provide a transmission medium such as water, oil, or special grease. .

したがって、本発明の目的は前記欠点のない厚さ測定装
置を得ることにある。
The object of the invention is therefore to obtain a thickness measuring device which does not have the above-mentioned drawbacks.

[問題点を解決するための手段及びその作用J本発明に
よる厚さ測定装置では、超音波は測定されるべき部分の
表面に直接発生される。当該部分の表面で超音波を発生
されるための作用は電磁気的作用であって、送信器また
は受信器と測定される部分とが物理的に接触する必要は
ない。また、磁界を発生する方法は磁界発生場所に大き
な空間がとれる方法であって、この空間内に変換器を挿
入し配設できる余裕が十分にある。
[Means for Solving the Problems and Their Effects J In the thickness measuring device according to the invention, ultrasonic waves are generated directly on the surface of the part to be measured. The action for generating ultrasonic waves on the surface of the part is an electromagnetic action and does not require physical contact between the transmitter or receiver and the part to be measured. Further, the method of generating the magnetic field is a method that allows a large space to be provided at the location where the magnetic field is generated, and there is sufficient room within this space to insert and arrange the converter.

したがって、本発明によれば、電磁界を発生するための
コイルとシュー及びそれにm達する回路とを有する超音
波を用いた厚さ測定装置に関するものであり、電磁界を
発生するための前記コイルが環状であること、前記関連
する回路が制御回路を有すること、この制御回路がパル
ス発生器を有すること、このパルス発生器の出力が増幅
器を通して前記シューに取り付けられた送信コイルに接
続されること、受信コイルが前記シューの中で前記送信
コイルから一定の距離のところに取り付けられること、
前記受信コイルが受信器回路を通して論理および制御l
l@路に接続されること、前記論理およびtsm回路の
出力端はディジタル回路を通して測定結果指示装置に接
続されること、前記シューが前記環状コイルの中央に配
置されること、を特徴とする厚さ測定装置が得られる。
Therefore, the present invention relates to a thickness measuring device using ultrasonic waves having a coil for generating an electromagnetic field, a shoe, and a circuit extending thereto, wherein the coil for generating an electromagnetic field is the associated circuit comprises a control circuit; the control circuit comprises a pulse generator; the output of the pulse generator is connected through an amplifier to a transmitter coil mounted on the shoe; a receiving coil is mounted within the shoe at a distance from the transmitting coil;
The receiving coil is connected to logic and control l through a receiver circuit.
the output end of the logic and TSM circuit is connected to a measurement result indicating device through a digital circuit, and the shoe is located in the center of the annular coil. A measurement device is obtained.

実際には、パンケーキ状コイルが使用される。In practice, pancake-shaped coils are used.

このパンケーキ状コイルは、複数個の平行な導体で構成
されていて、これらの導体を通って大電流パルスが巡回
して流れ、この巡回しで流れる大電流パルスは、その表
面上に、(変圧器において起きるように)コイルの電流
のイメージ(1麟age )をつくる。このイメージ電
流は、被測定部分の存在する空間内にある連続した強磁
界と相互作用して、磁界と電流によってつくられる平面
に対し角度を有する垂直力を生ずる。このように、被測
定対象物の表面上に張力および圧縮力が生じ、これらの
力が超音波を発生する。逆に、発生しかついろいろな適
合モードで伝播した超音波が、受信コイルに相当する領
域に入ってきた時、受信コイルの中に電流が発生し、そ
してこの電流を信号として計測処理することにより被測
定部分の厚さを知ることができる。
This pancake-shaped coil is composed of a plurality of parallel conductors, through which large current pulses flow in a circular manner. Create an image of the current in the coil (as occurs in a transformer). This image current interacts with a continuous strong magnetic field within the space in which the part to be measured exists, producing a normal force at an angle to the plane created by the magnetic field and current. In this way, tension and compression forces are created on the surface of the object to be measured, and these forces generate ultrasound waves. Conversely, when ultrasonic waves that have been generated and propagated in various compatible modes enter the area corresponding to the receiving coil, a current is generated in the receiving coil, and by measuring and processing this current as a signal. The thickness of the part to be measured can be determined.

この場合に用いられるコイルは、その中を電流が巡回す
る複数個の平行な導体をそなえた、パンケーキ状コイル
である。コイルの当該形状のために、隣接する導体内で
は、if流は反対方向に巡回する。
The coil used in this case is a pancake-shaped coil with a plurality of parallel conductors through which a current circulates. Because of the shape of the coil, the if flow circulates in opposite directions in adjacent conductors.

前記各導体の下側領域には交番的なカが働き、この力に
より前記部分の表面に振動が生ずる。この振動は超音波
を発生し、この超音波は前記部分の内部のあらゆる方向
に伝播してい(。
An alternating force acts on the lower region of each conductor, and this force causes vibrations on the surface of the portion. This vibration generates ultrasonic waves that propagate in all directions inside the part.

上記形式の結合効率は従来の測定装置の場合よりも大幅
に小さいので、この場合測定を実行するには、特別の電
子技術と強い磁界が必要である。
Since the coupling efficiency of the type described above is significantly lower than in conventional measuring devices, special electronic techniques and strong magnetic fields are required to carry out measurements in this case.

測定される対象物の材料の種類によっては、ある場合に
は、このような測定は磁気ひずみの現象が起きるという
利点を利用することができ、この時には、非常に小さな
磁化の範囲での測定を行なうことができる。特に、軟炭
素鋼の場合には、このことがあてはまる。
Depending on the material of the object to be measured, in some cases such measurements can take advantage of the occurrence of magnetostrictive phenomena, in which case it is possible to carry out measurements over very small magnetization ranges. can be done. This is especially true in the case of soft carbon steel.

超音波が発生しkw41!!Iには、測定される部分の
表面に縦波と横波が発生し、そして連続する反射の各々
においても同じことが起きる。
Ultrasonic waves are generated and kW41! ! In I, longitudinal and transverse waves are generated on the surface of the part being measured, and the same happens with each successive reflection.

また同時に、測定される材料の厚さに特有の音波が発生
する。
At the same time, sound waves are generated that are specific to the thickness of the material being measured.

反射のたびに縦波と横波の新しい波の列が特性波として
発生し、最終的には、これらの波が混合した一連の波が
受信器のところに到達する。
With each reflection, a new train of longitudinal and transverse waves is generated as a characteristic wave, and eventually a mixed series of these waves reaches the receiver.

[実施例] 本発明は添付図面を参照しての下記説明によりさらによ
く理解されるであろう。添付図面は本発明の好ましい実
施例を示したものである。
Examples The present invention will be better understood from the following description with reference to the accompanying drawings. The accompanying drawings illustrate preferred embodiments of the invention.

第1図は本発明による厚さ測定装置であって、鋼管の厚
さの測定を行っている。この鋼管は矢印の方向に移動し
ているものとする。シュー(shoe)3が鋼管1の上
に載置され、鋼管1の上を摺動する。シュー3は間第式
アーム4aおよび4bによってベース5に回転可能に取
り付けられる。アーム4aの一端は空気ピストン6の一
端に連結される。この空気ピストン6の他端はベース5
に取り付けられる。空気ピストン6により、シュー3は
上下方向に動くことができ、シュー3と鋼管1との接触
状態が保持される。超音波の送信器と受信器とがシュー
3の上に取り付けられ、この送信器と受信器とは設定さ
れた距離だけ離されている。
FIG. 1 shows a thickness measuring device according to the present invention, which measures the thickness of a steel pipe. It is assumed that this steel pipe is moving in the direction of the arrow. A shoe 3 is placed on the steel pipe 1 and slides over the steel pipe 1. Shoe 3 is rotatably attached to base 5 by interlocking arms 4a and 4b. One end of the arm 4a is connected to one end of the air piston 6. The other end of this air piston 6 is the base 5
can be attached to. The air piston 6 allows the shoe 3 to move in the vertical direction, and maintains contact between the shoe 3 and the steel pipe 1. An ultrasonic transmitter and receiver are mounted on the shoe 3, and the transmitter and receiver are separated by a set distance.

シュー3は環状コイル2によってつくられる磁界の中に
ある。
The shoe 3 is in the magnetic field created by the toroidal coil 2.

鋼管1の厚さの変化に関する情報は、超音波の位相の変
化を通して得られる。使用される信号は縦波および横波
の逐次的な反射と発生とがら生ずるので、情報は連続し
た形式で受信器に入る。
Information regarding changes in the thickness of the steel pipe 1 is obtained through changes in the phase of the ultrasonic waves. The signals used result from successive reflections and generation of longitudinal and transverse waves, so that the information enters the receiver in continuous form.

この測定装置を用いれば、鋼管の内側表面と外側表面と
が平行でない場合でも、情報が失われることがなく、ま
た従来装置における磁化ヨークと測定されるべき部分と
の間の狭い間隙という問題点が回避される。
With this measurement device, information is not lost even when the inner and outer surfaces of the steel pipe are not parallel, and the problem of the narrow gap between the magnetization yoke and the part to be measured in conventional devices can be avoided. is avoided.

第2図に示された電子回路により、2MHz程度の高周
波電流が発生し、この高周波電流は送信器により測定さ
れるべき鋼管1の表面に向けて伝送される。鋼管1の表
面のところでは超音波が発生し、この超音波は鋼管の管
厚部分を約30°の角度で伝播し鋼管1の内側表面で反
射し、再び外側表面に向って伝播する。超音波が外側表
面に到達するとそこで再び反射される。波面が受イtコ
イル11に到達するまで、上記過程が連続的に繰り返さ
れる。超音波が放射された時刻から到達する時刻までの
経過時間が測定され、この時間データと測定中の媒質内
の超音波の伝播速度とから、この超音波列が通過した経
路長が決定される。
The electronic circuit shown in FIG. 2 generates a high frequency current of about 2 MHz, which is transmitted by a transmitter toward the surface of the steel pipe 1 to be measured. Ultrasonic waves are generated at the surface of the steel pipe 1, and the ultrasonic waves propagate through the thick portion of the steel pipe at an angle of about 30°, are reflected at the inner surface of the steel pipe 1, and propagate again toward the outer surface. When the ultrasound waves reach the outer surface, they are reflected again. The above process is continuously repeated until the wavefront reaches the receiving coil 11. The elapsed time from the time the ultrasound is emitted to the time it arrives is measured, and from this time data and the propagation velocity of the ultrasound in the medium being measured, the path length traveled by this ultrasound train is determined. .

ここで注意しなければならない重要なことは、厚さの変
化に関する情報は、従来のように振幅の変化として与え
られるのではなく、位相の変化として与えられる、とい
うことである。
The important thing to note here is that the information regarding the thickness change is not given as an amplitude change as is conventional, but as a phase change.

このために、本発明による厚さ測定装置は電気的雑音の
影響をあまり受けない。この電気的雑音は従来の測定装
置では大きな影響を与えていた。
For this reason, the thickness measuring device according to the invention is less susceptible to electrical noise. This electrical noise had a large effect on conventional measuring devices.

厚さを測定するための当該装置は制御回路12と、送信
器回路13と、パンケーキ状送信コイル10と、パンケ
ーキ状受信コイル11と、受信器回路14と、アナログ
回路15と、ディジタル回路16とを有する。制御回路
12は実際の送信器回路13に接続され、この実際の送
信器回路13はパンケーキ状送信コイル10に接続され
る。パンケーキ状受信コイル11は実際の受信器回路1
4に接続され、この実際の受信器回路14はアナログ回
路15と、ディジタル回路16と、制御回路12とに相
互に接続される。このディジタル回路16の出力は得ら
れた測定結果を表示する指示装置17と、グラフィック
・レコーダ18とに接続される。
The device for measuring thickness includes a control circuit 12, a transmitter circuit 13, a pancake-shaped transmitting coil 10, a pancake-shaped receiving coil 11, a receiver circuit 14, an analog circuit 15, and a digital circuit. 16. The control circuit 12 is connected to an actual transmitter circuit 13 , which is connected to the pancake-shaped transmit coil 10 . The pancake-shaped receiving coil 11 is the actual receiver circuit 1
4, and this actual receiver circuit 14 is interconnected to an analog circuit 15, a digital circuit 16 and a control circuit 12. The output of this digital circuit 16 is connected to an indicating device 17 for displaying the measurement results obtained and to a graphic recorder 18.

制御回路12は同期発信器19とパルス列発生器20と
で構成される。同期発信′a19は50MH2発信器と
同期したクロック信号を発生し、この同期発信器19の
出力端はパルス列発生器20に接続される。被測定物の
表面はこれらのパルスで励起され、それにより測定され
るべき物体の体積内に超音波を発生する。パルス列発生
器20の出力からは2ミリ秒毎に1.79MHzの周波
数のパルス列が送り出される。
The control circuit 12 includes a synchronous oscillator 19 and a pulse train generator 20. The synchronous oscillator 'a19 generates a clock signal synchronized with the 50MH2 oscillator, and the output end of the synchronous oscillator 19 is connected to the pulse train generator 20. The surface of the object to be measured is excited with these pulses, thereby generating ultrasonic waves within the volume of the object to be measured. The output of the pulse train generator 20 sends out a pulse train at a frequency of 1.79 MHz every 2 milliseconds.

このパルス列発生器20の゛出力端は送信器回路13に
接続される。この送信器回路13は送信器増幅器21で
構成される。この送信器回路13は11J I11回路
12で生じたパルス列を増幅し、パンケーキ状送信コイ
ル10に対し50アンペア程度の電流を供給する。
The output end of this pulse train generator 20 is connected to the transmitter circuit 13. This transmitter circuit 13 is composed of a transmitter amplifier 21. This transmitter circuit 13 amplifies the pulse train generated by the 11J I11 circuit 12 and supplies a current of about 50 amperes to the pancake-shaped transmitting coil 10.

パンケーキ状受信コイル11は放射された信号を受信し
、この信号を受信器回路14に送る。この受信器回路1
4は受信器増幅器22で構成される。この増幅器22は
信号をピーク・トウ・ピーク(Deak−to−pea
k)振幅で3ボルトまたは4ボルトの程度に増幅する。
A pancake-shaped receiver coil 11 receives the radiated signal and sends this signal to a receiver circuit 14. This receiver circuit 1
4 is composed of a receiver amplifier 22. This amplifier 22 converts the signal peak-to-peak.
k) Amplify to the extent of 3 or 4 volts in amplitude.

この受信器増幅器22の出力線はアナログ回路15に接
続される。
The output line of this receiver amplifier 22 is connected to the analog circuit 15.

このアナログ回路15は、受信しかつ増幅したパルス列
信号をフィルタに通し、更に増幅および整形を行なう装
置で構成される。この装置の動作により、アナログ回路
15の出力端に現われるパルス列はすべて同じ振幅を有
するが、情報は、もとのパルス列を基準にしたとぎ、そ
れぞれの出力パルスの位相の中に含まれている。
This analog circuit 15 is comprised of a device that passes the received and amplified pulse train signal through a filter, and further amplifies and shapes it. Due to the operation of this device, the pulse trains appearing at the output of the analog circuit 15 all have the same amplitude, but the information is contained in the phase of each output pulse with respect to the original pulse train.

アナログ回路15の出力端はディジタル回路16に接続
される。このディジタル回路16は、パルス選択回路2
3と、ウィンド(window)発生器24と、カウン
タ25と、D−A変換器26とを有する。パルス選択回
路23はウィンド発生器24とカウンタ25とに接続さ
れ、カウンタ25の出力端はD−A変換器26に接続さ
れ、またカウンタ25の入力端はANDゲートを介して
パルス選択回路23と受信器回路14とウィンド発生器
24とに接続される。D−A変換器26の出力端は表示
のためのグラフィック・レコーダ18と支持装置17と
に接続される。
The output end of analog circuit 15 is connected to digital circuit 16 . This digital circuit 16 is connected to the pulse selection circuit 2
3, a window generator 24, a counter 25, and a DA converter 26. The pulse selection circuit 23 is connected to the window generator 24 and the counter 25, the output terminal of the counter 25 is connected to the DA converter 26, and the input terminal of the counter 25 is connected to the pulse selection circuit 23 through an AND gate. It is connected to receiver circuit 14 and window generator 24 . The output of the DA converter 26 is connected to the graphics recorder 18 and the support device 17 for display.

ディジタル回路16はこの測定装置のすべての信号が集
まる中心的存在である。これらの信号はここで処理され
て、その後グラフィック・レコーダ18と指示装置17
に送られる。指示装置17はこの場合には例えばミリア
ンメータ (eilliaeu+eter)である。これらの表示
装置により、鋼管1の厚さの変動が可視表示される。
The digital circuit 16 is the central point where all the signals of the measuring device converge. These signals are processed here and then sent to the graphics recorder 18 and the indicating device 17.
sent to. The indicating device 17 is in this case, for example, a millimeter. These display devices visually display variations in the thickness of the steel pipe 1.

ウィンド発生器24は、また同期発生器19にも接続さ
れており、このウィンド発生器24は時間カウントが開
始されなければならない時間を指示する。
Window generator 24 is also connected to synchronization generator 19, which indicates the time at which the time count has to start.

パルス選択回路23は、選択スイッチ27によって予め
定められた信号を送り出し、与えられたパルスを選択す
ることができる。その結果、当該II間内の移動の測定
により、厚さを決定することができる。
The pulse selection circuit 23 can send out a predetermined signal by the selection switch 27 and select a given pulse. As a result, the thickness can be determined by measuring the movement within the II.

カウンタ25は50MH2のパルス信号を出している中
央発信器に接続される。この信号は、パルス間隔が非常
に短いので、時間を精密にカウントするのに用いられる
The counter 25 is connected to a central oscillator providing a 50MH2 pulse signal. This signal has very short pulse intervals and is used to precisely count time.

ウィンド発生器24からのウィンド信号と、パルス選択
回路23からのパルス選択信号と、受信コイル11から
送られてくる信号とが総合されて、2つのパルスが得ら
れる。第1のパルスはウィンドの開始に対応し、第2の
パルスは選定されたパルスに対応する。これらの2つの
パルスはカウンタ25に供給される。カウンタ25は、
第1パルスがトリガした瞬間から第2パルスがカウンタ
25を停止する瞬間まで、50MHzパルスをカウント
する。
The window signal from the window generator 24, the pulse selection signal from the pulse selection circuit 23, and the signal sent from the receiving coil 11 are combined to obtain two pulses. The first pulse corresponds to the start of the window and the second pulse corresponds to the selected pulse. These two pulses are fed to a counter 25. The counter 25 is
Count the 50 MHz pulses from the moment the first pulse triggers until the moment the second pulse stops the counter 25.

この情報はD−A変換器26に送られ、そこで振幅が可
変の連続電流に変換される。この連続電流の振幅が指示
装置17で可視表示されるが、この表示は厚さを表わす
This information is sent to a DA converter 26 where it is converted to a continuous current of variable amplitude. The amplitude of this continuous current is visually displayed on the indicator 17, which indicates the thickness.

指示装置17と並列に、グラフィック・レコーダ18が
接続される。このグラフィック・レコーダ18は厚さの
変動を連続的に表示する。
A graphic recorder 18 is connected in parallel with the pointing device 17. This graphic recorder 18 continuously displays thickness variations.

第3a図は本発明による測定装置によって得られた厚さ
の変動曲線を示し、第3b図は従来の測定装置によって
得られた厚さの変動曲線を示すものである。
FIG. 3a shows a thickness variation curve obtained with a measuring device according to the invention, and FIG. 3b shows a thickness variation curve obtained with a conventional measuring device.

上記2つの測定に用いられた鋼管は16.81API 
 J−35鋼管で、その厚さは8.94履である。
The steel pipe used for the above two measurements is 16.81 API
It is a J-35 steel pipe, and its thickness is 8.94 mm.

本発明の測定装置を使っての第3a図に示された測定で
は、鋼管1は0.8m/秒の速さで移動しており、グラ
フィック・レコーダ18の記録紙は50IIR/秒の速
さで移動している。使用された従来の測定装置は周波数
2MHzのにrautにramerDM−2超音波装置
である。
In the measurement shown in FIG. 3a using the measuring device of the invention, the steel pipe 1 is moving at a speed of 0.8 m/s and the recording paper of the graphic recorder 18 is moving at a speed of 50 IIR/s. is moving. The conventional measuring device used is a RAMER DM-2 ultrasound device with a frequency of 2 MHz.

従来の測定装置の使用においては、停止した鋼管につい
で42点の測定が実行され、得られた測定値を補間する
ことによって第3b図に示す最終的な変動曲線が得られ
た。
Using a conventional measuring device, 42 measurements were carried out on the stopped steel pipe and by interpolation of the measurements obtained, the final variation curve shown in FIG. 3b was obtained.

本発明による測定装置に比べて従来の測定装置を使用し
た時の時間的損失という問題は問わないとしても、本発
明による測定装置によって得られた曲線(第3a図)の
精度は従来の測定装置を使用してえられた曲1!3(3
b図)の精度よりはるかに優れていることが解かるはず
である。
Although the problem of time loss when using a conventional measuring device compared to the measuring device according to the invention is not an issue, the accuracy of the curve obtained by the measuring device according to the invention (FIG. 3a) is lower than that of the conventional measuring device. Songs 1!3 (3
It should be clear that the accuracy is far superior to that shown in Figure b).

第3a図は、卦られた測定結果の一部分だけを示したも
のであり、ここに示された測定結果は鋼管の約2mの範
囲の部分に対応する。この2mの範囲に対して従来の測
定装置が用いられた。
FIG. 3a shows only a portion of the measured results, which correspond to an area of about 2 m of the steel pipe. Conventional measuring equipment was used for this 2 m range.

第4図は本発明による測定装置の電気回路の好ましい第
2の実施例を示すものである。
FIG. 4 shows a second preferred embodiment of the electrical circuit of the measuring device according to the invention.

この実施例は、制御回路12と、送信器回路13と、パ
ンケーキ状送信コイル10と、パンケーキ状受信コイル
11と、受信器回路14と、論理および1II111回
路15と、ディジタル回路16とを有する。υ11m回
路12は実際の送信器回路13に接続され、この送信器
回路13はパンケーキ状送信コイル10に接続される。
This embodiment includes a control circuit 12, a transmitter circuit 13, a pancake-shaped transmitting coil 10, a pancake-shaped receiving coil 11, a receiver circuit 14, a logic and 1II111 circuit 15, and a digital circuit 16. have The υ11m circuit 12 is connected to an actual transmitter circuit 13, and this transmitter circuit 13 is connected to the pancake-shaped transmitting coil 10.

パンケーキ状受信コイル11は受信器回路14に接続さ
れ、受信器回路14は、論理および制御回路15、ディ
ジタル回路16、制御回路12と相互に接続される。
The pancake-shaped receiver coil 11 is connected to a receiver circuit 14 which is interconnected with logic and control circuits 15, digital circuits 16 and control circuits 12.

ディジタル回路16の出力は、得られた測定結果を表示
するための指示装置17と、グラフィック・レコーダ1
8に接続される。
The output of the digital circuit 16 is connected to an indicating device 17 for displaying the measurement results obtained and to a graphic recorder 1.
Connected to 8.

制御回路12はマイクロプロセッサ30を有する。この
マイクロブ0セツサ30はこの測定装置の主要な機能を
監視する。
Control circuit 12 has a microprocessor 30 . This microb0 setter 30 monitors the main functions of the measuring device.

このマイクロプロセッサ30は、目盛検定回路31と、
同期発生器32と、PLL (Phaselocked 1oop)変可変周波数発
信器33と、パルス列発生器34と、実際の受信器回路
14の中に備えられている1ンベロ一ブ発生器37との
間で相互に接続される。
This microprocessor 30 includes a scale verification circuit 31,
There is mutual communication between the synchronous generator 32, the PLL (Phaselocked 1 loop) variable frequency oscillator 33, the pulse train generator 34, and the 1 loop generator 37 provided in the actual receiver circuit 14. connected to.

PLL形可変可変周波数発信器33ルス列発生器34に
接続され、そしてこのパルス列発生器34の出力端は送
信器回路13に接続される。この送信器回路13は増幅
器35で構成されており、この増幅器35は受は取った
パルス列を増幅し、増幅した信号をパンケーキ状送信コ
イル10に供給する。
A PLL type variable frequency oscillator 33 is connected to a pulse train generator 34, and the output end of this pulse train generator 34 is connected to the transmitter circuit 13. This transmitter circuit 13 is composed of an amplifier 35 which amplifies the received pulse train and supplies the amplified signal to the pancake-shaped transmitting coil 10.

パンケーキ状受信コイル11は送信された信号を受信し
、この信号を帯域フィルタおよび増幅器36に送る。こ
の帯域フィルタおよび増幅器36は、エンベロープ発生
器37に接続され、その出力端は前記論理および制御回
路15に接続されている。
Pancake-shaped receive coil 11 receives the transmitted signal and passes this signal to bandpass filter and amplifier 36 . This bandpass filter and amplifier 36 is connected to an envelope generator 37 whose output is connected to the logic and control circuit 15.

論理および制御回路15の出力端は、カウンタ38と、
ANDゲート39と、可変周波数発信器33とに接続さ
れる。このカウンタ38とANDゲート39はディジタ
ル回路16の一部分を構成し、そして可変周波数発信器
33は制御回路12の一部分を構成する。カウンタ38
は、さらにD−A変換器40と、周波数200 M H
zの信号を発生する信号発生器41と、ANDゲート3
9の出力端と、マイクロプロセッサ30とに相互接続さ
れる。
The output of the logic and control circuit 15 is connected to a counter 38;
It is connected to AND gate 39 and variable frequency oscillator 33 . The counter 38 and the AND gate 39 form part of the digital circuit 16, and the variable frequency oscillator 33 forms part of the control circuit 12. counter 38
further includes a D-A converter 40 and a frequency of 200 MH
A signal generator 41 that generates a signal of z, and an AND gate 3
9 and the microprocessor 30.

D−A変換器40の出力端は、指示装置17とグラフィ
ック・レコーダ18とに接続される。
The output end of the DA converter 40 is connected to the indicating device 17 and the graphic recorder 18.

ディジタル回路16はまたウィンド発生器42を有する
。このウィンド発生器42はANDゲート39の入力端
と、同期発生器32と、パルス列発生器34とに接続さ
れる。
Digital circuit 16 also includes a window generator 42 . This window generator 42 is connected to the input of the AND gate 39, to the synchronous generator 32, and to the pulse train generator 34.

目盛検定モードでは、マイクロブ0セツサ30はPLL
形可変可変周波数発信器33定の周波数領域を走査する
ように命令する。すると、パルス列発生器34はこの周
波数のパルスを電力増幅するための増幅器35に送り、
増幅器35は送信コイル10に大電流パルスの信号を送
る。
In scale verification mode, microbe 0 setter 30 is PLL
The variable frequency oscillator 33 is commanded to scan a fixed frequency range. Then, the pulse train generator 34 sends the pulses of this frequency to the amplifier 35 for power amplification.
The amplifier 35 sends a large current pulse signal to the transmitting coil 10.

受信コイル11は送信コイル10からの送信信号を受信
し、その受信信号は、帯域フィルタおよび増幅器36の
段に送られる。この信号はエンベロープ発生器37によ
って受は取られ、マイクロプロセッサ30にフィードバ
ックされる。
Receiving coil 11 receives the transmitted signal from transmitting coil 10, and the received signal is sent to a bandpass filter and amplifier 36 stage. This signal is received by envelope generator 37 and fed back to microprocessor 30.

受信コイル11に最大振幅が検出されるまで、上記過程
が繰り返される。最大振幅が検出されると、これはこの
目盛検定厚さに対する基本モードで励振されていること
を示す。
The above process is repeated until the maximum amplitude is detected in the receiving coil 11. If a maximum amplitude is detected, this indicates that the fundamental mode for this scale calibration thickness is excited.

この周波数がいったん検出されると、動作モードに切り
換えられる。
Once this frequency is detected, the operating mode is switched.

この動作モードでは、マイクロプロセッサ30は可変周
波数発信器33の出力周波数を同定し、同期発生器32
をセットする。同期発生器32がセットされるとウィン
ド発生器42がセットされる。ウィンド発生器42は正
弦波ゾーンの位置を決めることを可能にし、この位諌決
めされた正弦波はそれがゼロを通る点を測定するのに用
いられる。
In this mode of operation, microprocessor 30 identifies the output frequency of variable frequency oscillator 33 and synchronous generator 32
Set. When the synchronization generator 32 is set, the window generator 42 is set. Wind generator 42 makes it possible to determine the position of the sine wave zone, and this positioned sine wave is used to measure the point at which it passes through zero.

観測された周波数は同様にフィードバックにも用いられ
、可変周波数発信器33の周波数を換える。これは、受
信コイル(受信用変換器)11によって検出された信号
の振幅が最大であるように、可変周波数発信器33が厚
さの変動に追随するように行われる。
The observed frequency is also used for feedback, changing the frequency of the variable frequency oscillator 33. This is done in such a way that the variable frequency oscillator 33 follows thickness variations such that the amplitude of the signal detected by the receiving coil (receiving transducer) 11 is maximum.

パルス列発生器34は、PLL形発信器33によって定
められた周波数のパルス列を増幅器35に送る。増幅器
35はこのパルス列を大電流パルスに変換し、この大電
流パルスを送信コイル(送信用変換器)10に送る。
The pulse train generator 34 sends a pulse train at a frequency determined by the PLL oscillator 33 to the amplifier 35 . The amplifier 35 converts this pulse train into a large current pulse, and sends this large current pulse to the transmitting coil (transmitting converter) 10.

受信コイル11は被測定物内を伝播してくる信号を受は
取る。ここでの信号発生の機構は前述した通りである。
The receiving coil 11 receives and receives signals propagating within the object to be measured. The mechanism of signal generation here is as described above.

受信された信号は帯域フィルタおよび増幅器36に送ら
れる。これらの信号は分岐されて論理および制御回路1
5に供給され、この論理および制御回路15で信号処理
が行なわれる。
The received signal is sent to a bandpass filter and amplifier 36. These signals are branched to logic and control circuit 1
5, and signal processing is performed in this logic and control circuit 15.

計算されるべきゼロを通る回数の総計は、マイクロプロ
セッサ30の中に所定論理に基づいて入力されるべき情
報の項目である。
The total number of times through zero to be calculated is an item of information that must be entered into microprocessor 30 based on predetermined logic.

ゼロを横断する最初の時点と最後の時点との間の経過時
間は、厚さに比例する時間を定義する。
The elapsed time between the first and last time of crossing zero defines a time that is proportional to the thickness.

この時間の測定は、論理および制御回路15から与えら
れた信号をセットした上で、信号発生器41が出力する
200MH2またはそれ以上の周波数のパルスをカウン
トすることによって行なわれる。
This time measurement is performed by setting a signal given from the logic and control circuit 15 and then counting pulses of a frequency of 200 MH2 or higher output from the signal generator 41.

カウンタ38から出力される情報はD−A変換器40に
送られ、このD−A変換器40で当該信号がアナログ信
号に変換される。このアナログ信号はグラフィック・レ
コーダ18に記録されると共に、指示装置17に可視表
示される。ディジタル値を得ることも可能であって、こ
のディジタル値を用いて、マイクロプロセッサや論理プ
ログラマやコンピュータに基づいて、厚さ測定装置の全
体を制御しかつ監視することができる。
The information output from the counter 38 is sent to a DA converter 40, which converts the signal into an analog signal. This analog signal is recorded on the graphic recorder 18 and visually displayed on the indicating device 17. It is also possible to obtain digital values, with which the entire thickness measuring device can be controlled and monitored on the basis of a microprocessor, logic programmer or computer.

[発明の効果] 以上の説明で明らかにように本発明によれば、被測定対
象物の厚さを自動的にかつ精密に測定できる厚さ測定装
置がえられる。本発明による厚さ測定装置では、パンケ
ーキ状送信コイルを用いて電磁気的結合により、被測定
対象である箇所の表面に直接に超音波を発生しfi該部
分の厚さの測定を行なうので、超音波発生装置で発生し
た超音波を、測定すべき部分に伝達するための伝達媒体
が不要となるという利点を有する。また測定される材料
によっては電磁気的結合効率が小さい場合もあるが、こ
の点は送信器及び送信フィル、更に、受信コイルで得ら
れた信号を増幅し処理する回路構成等を適宜に設計する
ことにより解決される。
[Effects of the Invention] As is clear from the above description, the present invention provides a thickness measuring device that can automatically and precisely measure the thickness of an object to be measured. The thickness measuring device according to the present invention uses a pancake-shaped transmitting coil to generate ultrasonic waves directly on the surface of the part to be measured through electromagnetic coupling, and measures the thickness of the part. This has the advantage that a transmission medium for transmitting the ultrasonic waves generated by the ultrasonic generator to the part to be measured is not required. Also, depending on the material being measured, the electromagnetic coupling efficiency may be small, but this point must be solved by appropriately designing the transmitter, transmission filter, and circuit configuration for amplifying and processing the signal obtained by the receiving coil. It is solved by

本発明による測定装置の磁界は環状コイルによってつく
られるので、超音波用変換器を挿入配設する空間的余裕
を十分有するという利点をも有している。
Since the magnetic field of the measuring device according to the invention is generated by a toroidal coil, it also has the advantage of having sufficient space for inserting and arranging an ultrasonic transducer.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の厚さ測定装置の一部を切欠いた斜視図
である。 第2図は本発明に係る厚さ測定装置の電気回路の好適な
第1実施例を示すブロック図である。 第3a図は本発明に係る厚さ測定装置によって得られた
測定結果を示す測定図であり、第3b図は従来の厚さ測
定装置によって得られた測定結果を示す測定図である。 第4図は本発明に係る厚さ測定装置の電気回路の好適な
第2実施例を示すブロック図である。 [符号の説明] 1・・・鋼管 2・・・環状コイル 3・・・シュー(ShO13> 12・・・制御回路 13・・・送信器回路 10・・・送信コイル 11・・・受信コイル 14・・・受信器回路 15・・・アナログ回路 16・・・ディジタル回路 17・・・指示装置 18・・・グラフィック・レコーダ 30・・・マイクロプロセッサ 32・・・同期発生器 33・・・PLL形可変可変周波数発 振器34・パルス列発生器 31・・・目盛検定回路 37・・・エンベロープ発生器 36・・・帯域フィルタおよび増幅器 24.42・・・ウィンド発生器 25.38・・・力・ンンタ 41・・・信号発生器 26.40・・・D−A変換器 23・・・パルス選択回路 27・・・パルス選択スイッチ
FIG. 1 is a partially cutaway perspective view of the thickness measuring device of the present invention. FIG. 2 is a block diagram showing a first preferred embodiment of the electric circuit of the thickness measuring device according to the present invention. FIG. 3a is a measurement diagram showing the measurement results obtained by the thickness measurement device according to the present invention, and FIG. 3b is a measurement diagram showing the measurement results obtained by the conventional thickness measurement device. FIG. 4 is a block diagram showing a second preferred embodiment of the electric circuit of the thickness measuring device according to the present invention. [Explanation of symbols] 1... Steel pipe 2... Annular coil 3... Shoe (ShO13> 12... Control circuit 13... Transmitter circuit 10... Transmitting coil 11... Receiving coil 14 ... Receiver circuit 15 ... Analog circuit 16 ... Digital circuit 17 ... Indication device 18 ... Graphic recorder 30 ... Microprocessor 32 ... Synchronous generator 33 ... PLL type Variable variable frequency oscillator 34/pulse train generator 31...scale verification circuit 37...envelope generator 36...bandpass filter and amplifier 24.42...window generator 25.38...force/interval 41 ... Signal generator 26.40 ... D-A converter 23 ... Pulse selection circuit 27 ... Pulse selection switch

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)電磁界を発生するためのコイルと、シューと、そ
れに関連した回路とを有する超音波を用いた厚さ測定装
置であつて、電磁界を発生するための前記コイルが環状
であることと、前記関連する回路が制御回路を有するこ
とと、前記制御回路の出力が送信器回路を通して前記シ
ューに取り付けられた送信コイルに接続されることと、
受信コイルが前記シューの中で前記送信コイルから設定
された距離のところに取り付けられることと、前記受信
コイルが受信器回路を通してアナログ回路に接続される
ことと、前記アナログ回路がディジタル回路と関連して
いることと、前記ディジタル回路が前記制御回路と相互
に接続されることと、前記アナログ回路の出力が測定結
果指示装置に接続されることと、前記シューが前記環状
コイルの中央に配置されることとを特徴とする超音波を
用いた前記厚さ測定装置。
(1) A thickness measuring device using ultrasonic waves having a coil for generating an electromagnetic field, a shoe, and a circuit related thereto, wherein the coil for generating an electromagnetic field is annular. and the associated circuitry has a control circuit, and the output of the control circuit is connected through a transmitter circuit to a transmitter coil attached to the shoe;
a receive coil is mounted within the shoe at a set distance from the transmit coil; the receive coil is connected to analog circuitry through a receiver circuit; and the analog circuit is associated with digital circuitry. the digital circuit is interconnected with the control circuit, the output of the analog circuit is connected to a measurement result indicating device, and the shoe is located at the center of the annular coil. The thickness measuring device using ultrasonic waves is characterized in that:
(2)特許請求の範囲第1項において、前記送信コイル
と前記受信コイルがパンケーキ状コイルであることを特
徴とする前記厚さ測定装置。
(2) The thickness measuring device according to claim 1, wherein the transmitting coil and the receiving coil are pancake-shaped coils.
(3)特許請求の範囲1項において、前記制御回路がマ
イクロプロセッサを有することと、前記マイクロプロセ
ッサが同期発生器と可変周波数発振器とパルス列発生器
と前記受信器回路と目盛検定回路と前記ディジタル回路
とに接続されることと、前記可変周波数発振器が前記パ
ルス列発生器に接続されることと、前記パルス列発生器
の出力が前記送信器回路に接続されることとを特徴とす
る前記厚さ測定装置。
(3) In claim 1, the control circuit includes a microprocessor, and the microprocessor includes a synchronous generator, a variable frequency oscillator, a pulse train generator, the receiver circuit, a scale verification circuit, and the digital circuit. the variable frequency oscillator is connected to the pulse train generator; and the output of the pulse train generator is connected to the transmitter circuit. .
(4)特許請求の範囲第1項において、前記送信器回路
が増幅器であることを特徴とする前記厚さ測定装置。
(4) The thickness measuring device according to claim 1, wherein the transmitter circuit is an amplifier.
(5)特許請求の範囲第1項および第3項において、前
記受信器回路がエンベロープ発生器を有することと、前
記エンベロープ発生器が前記マイクロプロセッサと帯域
フィルタおよび増幅回路とに接続されることと、前記帯
域フィルタおよび増幅回路の入力が前記受信コイルに接
続されることと、前記帯域フィルタおよび増幅回路の出
力が前記アナログ回路に接続されることとを特徴とする
前記厚さ測定装置。
(5) In claims 1 and 3, the receiver circuit includes an envelope generator, and the envelope generator is connected to the microprocessor, bandpass filter, and amplifier circuit. , wherein inputs of the bandpass filter and amplifier circuit are connected to the receiving coil; and outputs of the bandpass filter and amplifier circuit are connected to the analog circuit.
(6)特許請求の範囲第1項において、前記アナログ回
路がフィルタおよびパルス整形装置を有することを特徴
とする前記厚さ測定装置。
(6) The thickness measuring device according to claim 1, wherein the analog circuit includes a filter and a pulse shaping device.
(7)特許請求の範囲第1項および第3項において、前
記ディジタル回路がウインド発生器を有することと、前
記ウインド発生器が前記同期発生器に接続されることと
、前記ウインド発生器がANDゲートを通してカウンタ
に接続されることと、前記カウンタが前記アナログ回路
と前記マイクロプロセッサと発生器と前記ANDゲート
の出力とD−A変換器の入力とに接続されることと、前
記D−A変換器の出力が前記測定結果指示装置に接続さ
れることとを特徴とする前記厚さ測定装置。
(7) In claims 1 and 3, the digital circuit includes a window generator, the window generator is connected to the synchronous generator, and the window generator is an AND a counter connected to the analog circuit, the microprocessor, the generator, the output of the AND gate, and the input of the D-A converter; The thickness measuring device is characterized in that an output of the device is connected to the measurement result indicating device.
(8)特許請求の範囲1項において、パルス列発生器の
入力に接続された同期発生器を有することと、前記パル
ス列発生器の出力が前記送信器回路に接続されることと
を特徴とする前記厚さ測定装置。
(8) The method according to claim 1, further comprising a synchronous generator connected to an input of a pulse train generator, and an output of the pulse train generator being connected to the transmitter circuit. Thickness measuring device.
(9)特許請求の範囲第1項において、前記送信器回路
が増幅器であることを特徴とする前記厚さ測定装置。
(9) The thickness measuring device according to claim 1, wherein the transmitter circuit is an amplifier.
(10)特許請求の範囲第1項において、前記受信器回
路が増幅器であることを特徴とする前記厚さ測定装置。
(10) The thickness measuring device according to claim 1, wherein the receiver circuit is an amplifier.
(11)特許請求の範囲第1項において、前記アナログ
回路がフィルタおよびパルス整形装置を有することを特
徴とする前記厚さ測定装置。
(11) The thickness measuring device according to claim 1, wherein the analog circuit includes a filter and a pulse shaping device.
(12)特許請求の範囲第1項および第8項において、
前記ディジタル回路がパルス選択回路を有することと、
前記パルス選択回路がパルス選択スイッチとウインド発
生器とに接続されることと、前記ウインド発生器が前記
周期発生器に接続されることと、前記ウインド発生器が
カウンタを通してD−A変換器に接続されることと、前
記D−A変換器の出力が前記測定結果指示装置に接続さ
れることとを特徴とする前記厚さ測定装置。
(12) In claims 1 and 8,
the digital circuit has a pulse selection circuit;
The pulse selection circuit is connected to a pulse selection switch and a window generator, the window generator is connected to the period generator, and the window generator is connected to a D-A converter through a counter. and an output of the DA converter is connected to the measurement result indicating device.
(13)特許請求の範囲第1項において、前記測定結果
指示装置がミリアンメータとグラフィック・レコーダか
ら成る群の中の少なくとも1つの装置であることを特徴
とする前記厚さ測定装置。
(13) The thickness measuring device according to claim 1, wherein the measurement result indicating device is at least one device from the group consisting of a milliammeter and a graphic recorder.
JP61009827A 1985-01-22 1986-01-20 Thickness measuring device using ultrasonic wave Pending JPS61246610A (en)

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