JPS61243346A - 表面反射率測定器 - Google Patents
表面反射率測定器Info
- Publication number
- JPS61243346A JPS61243346A JP60084174A JP8417485A JPS61243346A JP S61243346 A JPS61243346 A JP S61243346A JP 60084174 A JP60084174 A JP 60084174A JP 8417485 A JP8417485 A JP 8417485A JP S61243346 A JPS61243346 A JP S61243346A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical fiber
- measured
- reflected
- surface reflectance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野〕
本発明は、表面反射率測定器に関する。
［従来の技術゛１
被０定物の反射率を測定する場合には、従来、作業者の
勘に頼っていた。たとえば、鉄板の表裏を判別する場合
には、予め、鉄板の両面の反射率をｎいに異なるように
しておき、作業者が自分の目でその都度、鉄板の面を見
比べて判断している。鉄板以外の材料の表裏を判別する
場合、または他の材料の光沢を検査する場合においても
、上記と同様に、作業者の勘に頼って、被測定物の表面
反射率を判断している。
勘に頼っていた。たとえば、鉄板の表裏を判別する場合
には、予め、鉄板の両面の反射率をｎいに異なるように
しておき、作業者が自分の目でその都度、鉄板の面を見
比べて判断している。鉄板以外の材料の表裏を判別する
場合、または他の材料の光沢を検査する場合においても
、上記と同様に、作業者の勘に頼って、被測定物の表面
反射率を判断している。
「従来技術の問題点」
上記従来技術においては、表面反射率に基づいて同断す
る作業を自動化することが困難であるという問題がある
。
る作業を自動化することが困難であるという問題がある
。
また、その判断基準が作業者によって異なるために、判
断の客観性を欠く場合があるという問題がある。
断の客観性を欠く場合があるという問題がある。
［発明の目的］
本発明は、上記従来技術の問題点に看目してなされたも
ので、表面反射率に基づいて判断する作業を自動化する
ことができるとともに１客観的に同断することができる
表面反射率測定器を提供することを目的とするものであ
る。
ので、表面反射率に基づいて判断する作業を自動化する
ことができるとともに１客観的に同断することができる
表面反射率測定器を提供することを目的とするものであ
る。
し発明の実施例］
図は、本発明の一実施例を示すものである。
光ファイバｌＯは、′ｌｊＡ定ヘッド２０と測定部３０
との間に設けられている。測定ヘッド２０は。
との間に設けられている。測定ヘッド２０は。
反射面２１を有し、被測定物表面４０と対向配置するも
のである。
のである。
測定部３０は、光ｓ３１と、ハーフミラ−３２と５集光
レンズ３３と１反射光用受光素子３４と、演算回路３５
と、光源用受光素子３６とを有するものである。
レンズ３３と１反射光用受光素子３４と、演算回路３５
と、光源用受光素子３６とを有するものである。
光源３１は、ハーフミラ−３２と集光レンズ３３と光フ
ァイバ１０とを介して、被測定物表面４０に投光するも
のである。ハーフミラ−３２は、光源３】からの光を、
光ファイバ１０と光源用受光素子３６とに、それぞれ送
るものであるとともに、被測定物表面４０からの反射光
を反射光用受光素子３４に送るものである。
ァイバ１０とを介して、被測定物表面４０に投光するも
のである。ハーフミラ−３２は、光源３】からの光を、
光ファイバ１０と光源用受光素子３６とに、それぞれ送
るものであるとともに、被測定物表面４０からの反射光
を反射光用受光素子３４に送るものである。
反射光用受光素子３４は、被測定物表面４０を反射した
光量に応じて電気信号を出力するものである。演算回路
３５は、光源３１の発光量と反射光の光量とに基づいて
、表面反射率を演算する回路である。光源用受光素子３
６は、光源３１の光量に応じて電気信号を出力するもの
である。
光量に応じて電気信号を出力するものである。演算回路
３５は、光源３１の発光量と反射光の光量とに基づいて
、表面反射率を演算する回路である。光源用受光素子３
６は、光源３１の光量に応じて電気信号を出力するもの
である。
反射面２１は、光ファイバ１０の端面１１から出た光が
再びその端面１１に戻るまでの間、被測定物表面４０と
の間で多重反射させるものである。この反射面２１は、
凹面鏡で構成されているが、多数の面を有する多面鏡で
あってもよい。
再びその端面１１に戻るまでの間、被測定物表面４０と
の間で多重反射させるものである。この反射面２１は、
凹面鏡で構成されているが、多数の面を有する多面鏡で
あってもよい。
また、光源３１は、断続的に発光するものであり、演算
回路３５は、光源３１が発光していないときにおける反
射光の先着を、光源３１が発光しているときにおける反
射光の光量から差し引いて、ノイズの補正をするもので
ある。
回路３５は、光源３１が発光していないときにおける反
射光の先着を、光源３１が発光しているときにおける反
射光の光量から差し引いて、ノイズの補正をするもので
ある。
次に、上記実施例の動作について説明する。
まず、光ファイバ１０はフレキシブルなものであり、ま
た充分な余裕を持った長さであるので、測定部３０を測
定するに適する位置に静止し、測定ヘッド２０を、被測
定物表面４０に応じて、所定の位置に設置する。そして
、光源３１が断続的に発光し、その光は、ハーフミラ−
３２で反射し集光レンズ３３で集光され、光ファイバＩ
Ｏを通過し、その端面１１から被測定物表面４０に向か
って投光される。
た充分な余裕を持った長さであるので、測定部３０を測
定するに適する位置に静止し、測定ヘッド２０を、被測
定物表面４０に応じて、所定の位置に設置する。そして
、光源３１が断続的に発光し、その光は、ハーフミラ−
３２で反射し集光レンズ３３で集光され、光ファイバＩ
Ｏを通過し、その端面１１から被測定物表面４０に向か
って投光される。
被測定物表面４０で反射した光は１反射面２１で反射し
、被測定物表面４０と反射面２１との間で反射を繰り返
した後（多重反射した後）に、端面１１から、光ファイ
バ１ｏを通過して、集光レンズ３３およびハーフミラ−
３２を通過して１反射光用受光素子３４に到達する。な
お、端面１１から出た光は被測定物表面４ｏを１回反射
した後に、光ファイバ１０を通過する場合もある。
、被測定物表面４０と反射面２１との間で反射を繰り返
した後（多重反射した後）に、端面１１から、光ファイ
バ１ｏを通過して、集光レンズ３３およびハーフミラ−
３２を通過して１反射光用受光素子３４に到達する。な
お、端面１１から出た光は被測定物表面４ｏを１回反射
した後に、光ファイバ１０を通過する場合もある。
反射光用受光素子３４は、受光した反射光の光量に応じ
て電気信号を出方する。一方、光源用受光素子３６は、
ハーフミラ−３２を介して光１！Ａ３１からの光を受光
し、この受光量に応じた電気信号を出力する。
て電気信号を出方する。一方、光源用受光素子３６は、
ハーフミラ−３２を介して光１！Ａ３１からの光を受光
し、この受光量に応じた電気信号を出力する。
そして、演算回路３５は、受光素子３４ 、３６からの
信号を受けて、被測定物表面４０の表面反射率を演算す
る。つまり、光源３１の発光量が一定だとした場合に、
被測定物表面４０の反射率が高ければ高いほど、光ファ
イバ１０を通過する反射光が強いために、反射光用受光
素子３４の出力信号が大きくなる。
信号を受けて、被測定物表面４０の表面反射率を演算す
る。つまり、光源３１の発光量が一定だとした場合に、
被測定物表面４０の反射率が高ければ高いほど、光ファ
イバ１０を通過する反射光が強いために、反射光用受光
素子３４の出力信号が大きくなる。
光源３１の発光量が一定であるかは、光源用受光素子３
６が受けた光量に基づいて、図示しない判別回路が判別
する。もし、光源３１における発光量が変動した場合に
は、図示しない制御回路によって、光源３１の発光量が
所定値に制御されるようになっている。
６が受けた光量に基づいて、図示しない判別回路が判別
する。もし、光源３１における発光量が変動した場合に
は、図示しない制御回路によって、光源３１の発光量が
所定値に制御されるようになっている。
光源３１からの光は、近赤外線または可視光が使用され
る。このようにすれば、遠赤外線またはそれに近い赤外
線を使用した場合における被測定物表面の温度を計算（
補正）しなければならないという必要がない。これは、
近赤外線または可視光を使用すれば、被ΔＩｌｌ定物表
面４０の温度の影響を実負り、受けないためである。
る。このようにすれば、遠赤外線またはそれに近い赤外
線を使用した場合における被測定物表面の温度を計算（
補正）しなければならないという必要がない。これは、
近赤外線または可視光を使用すれば、被ΔＩｌｌ定物表
面４０の温度の影響を実負り、受けないためである。
１−記実施例においては、光ファイバ１０として１本の
光ファイバが使用されているが、投光用の光ファイバと
、反射光用の光ファイバとを別々に設定してもよい、ま
た、この場合、投光用の光ファイバ、反射光用の光ファ
イバのそれぞれに、複数本の光ファイバを使用してもよ
い。
光ファイバが使用されているが、投光用の光ファイバと
、反射光用の光ファイバとを別々に設定してもよい、ま
た、この場合、投光用の光ファイバ、反射光用の光ファ
イバのそれぞれに、複数本の光ファイバを使用してもよ
い。
図中、測定ヘッド２０の上部に測定部３０に含まれる部
材を密着設置し、その測定部３０から所定位置に導電線
を敷設することが考えられる。しかし、このようにする
と１強磁界の雰囲気において、誘導ノイズを受けるが、
北記実施例においては、測定ヘッド２０が強磁界の雰囲
気に設置されても、光ファイノ＜１０等が磁界に影響さ
れないために、強磁界に強いという利点がある。
材を密着設置し、その測定部３０から所定位置に導電線
を敷設することが考えられる。しかし、このようにする
と１強磁界の雰囲気において、誘導ノイズを受けるが、
北記実施例においては、測定ヘッド２０が強磁界の雰囲
気に設置されても、光ファイノ＜１０等が磁界に影響さ
れないために、強磁界に強いという利点がある。
光源３１は断続的に発光するものであり、光源３】が発
光しないときに９反射光用受光素子３４が所定の電気信
号を出力していれば、その電気信号はノイズ成分である
と考えられ、この信号成分全除去すれば、ノイズをキャ
ンセルした測定データを得ることができる。このノイズ
キャンセルを必要としなければ、光源３１は、断続的に
発光させる必要がない。
光しないときに９反射光用受光素子３４が所定の電気信
号を出力していれば、その電気信号はノイズ成分である
と考えられ、この信号成分全除去すれば、ノイズをキャ
ンセルした測定データを得ることができる。このノイズ
キャンセルを必要としなければ、光源３１は、断続的に
発光させる必要がない。
また、たとえば、鉄板等のように、ある材料の表裏を判
断する場合には、その一方の面の表面反射率を測定し、
この結果と他方の面の表面反射率を測定した結果とを比
較し１両結果に基づいて自動的に判断することができる
。また、メッキ工程において、上記表面反射率測定器を
設置すれば。
断する場合には、その一方の面の表面反射率を測定し、
この結果と他方の面の表面反射率を測定した結果とを比
較し１両結果に基づいて自動的に判断することができる
。また、メッキ工程において、上記表面反射率測定器を
設置すれば。
メッキした後の光沢度の検査を自動的に行なうことがで
き、所定値以下の光沢度（表面反射率）のものは、製造
ラインから除外するようにすればよい。
き、所定値以下の光沢度（表面反射率）のものは、製造
ラインから除外するようにすればよい。
また、ビニールレザー等の製品は、ローラーによって所
定の模様が施されるが、所定時間以上、ローラーを使用
した場合には、レザー製品の反射率が低くなる傾向にあ
る。したがって、そのローラーの後においてレザー製品
の反射率を測定し。
定の模様が施されるが、所定時間以上、ローラーを使用
した場合には、レザー製品の反射率が低くなる傾向にあ
る。したがって、そのローラーの後においてレザー製品
の反射率を測定し。
その反射率が所定信置「になった場合には、そのローラ
ーを新しいものと交換するようにしてもよい。
ーを新しいものと交換するようにしてもよい。
［発明の効果］
本発明によれば１表面反射率に基づいて間断する作業を
自動化することができるとともに、表面反射率の３一定
を客観的に行なうことができるという効果を有するもの
である。
自動化することができるとともに、表面反射率の３一定
を客観的に行なうことができるという効果を有するもの
である。
図は、本発明の一実施例を示す模式図であり。
測定ヘー、ドを拡大して示し、光ファイバを途中で省略
して示した図である。 １０・・・光ファイバ、 ２１・・・反射面、 ３０・・・測定部。 ３１・・・光源。 ３４・・・反射光用受光素子、 ３５・・・演算回路、 ３６・・・光源用受光素子。 持直出願人 株式会社ジャパン・センサー０コーポレイ
ション
して示した図である。 １０・・・光ファイバ、 ２１・・・反射面、 ３０・・・測定部。 ３１・・・光源。 ３４・・・反射光用受光素子、 ３５・・・演算回路、 ３６・・・光源用受光素子。 持直出願人 株式会社ジャパン・センサー０コーポレイ
ション
Claims (7)
- （１）被測定物に投光する光源と； 前記被測定物を反射した光量に応じた電気信号を出力す
る反射光用受光素子と； 前記光源からの光を前記被測定物に導く光路と、前記被
測定物からの反射光を前記反射光用受光素子に導く光路
とを形成する光ファイバと；前記光ファイバから出た光
が前記光ファイバに戻るまでの間、前記被測定物の表面
との間で多重反射させる反射面と； を有することを特徴とする表面反射率測定器。 - （２）特許請求の範囲第１項において、 前記光ファイバは１本であり、この１本の光ファイバの
中を、投光および反射光が通過するものであることを特
徴とする表面反射率測定器。 - （３）特許請求の範囲第１項において、 前記光ファイバは、複数本であることを特徴とする表面
反射率測定器。 - （４）特許請求の範囲第１項において、 前記反射面は、凹面鏡または多面鏡であることを特徴と
する表面反射率測定器。 - （５）特許請求の範囲第１項において、 前記光源は、断続的に発光するものであることを特徴と
する表面反射率測定器。 - （６）特許請求の範囲第１項において、 前記光源の発光量と、前記反射光の光量とに基づいて、
表面反射率を演算する演算手段を有することを特徴とす
る表面反射率測定器。 - （７）特許請求の範囲第６項において、 前記光源は、断続的に発光するものであり、前記演算手
段は、前記光源が発光していないときにおける前記反射
光の光量を、前記光源が発光しているときにおける前記
反射光の光量から差し引いて、ノイズの補正をすること
を特徴とする表面反射率測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60084174A JPS61243346A (ja) | 1985-04-19 | 1985-04-19 | 表面反射率測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60084174A JPS61243346A (ja) | 1985-04-19 | 1985-04-19 | 表面反射率測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61243346A true JPS61243346A (ja) | 1986-10-29 |
Family
ID=13823125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60084174A Pending JPS61243346A (ja) | 1985-04-19 | 1985-04-19 | 表面反射率測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61243346A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63200040A (ja) * | 1987-01-22 | 1988-08-18 | カール・ツアイス―スチフツング | 無接触測定のための拡散反射率測定装置 |
| JP2018519523A (ja) * | 2015-07-01 | 2018-07-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 測定デバイス、システム、方法、及びプログラム |
| JP2020106435A (ja) * | 2018-12-27 | 2020-07-09 | 株式会社フジキン | 反射部材の表裏識別方法 |
-
1985
- 1985-04-19 JP JP60084174A patent/JPS61243346A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63200040A (ja) * | 1987-01-22 | 1988-08-18 | カール・ツアイス―スチフツング | 無接触測定のための拡散反射率測定装置 |
| JP2018519523A (ja) * | 2015-07-01 | 2018-07-19 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 測定デバイス、システム、方法、及びプログラム |
| US10571250B2 (en) | 2015-07-01 | 2020-02-25 | 3M Innovative Properties Company | Measuring device, system, method, and program |
| US11060848B2 (en) | 2015-07-01 | 2021-07-13 | 3M Innovative Properties Company | Measuring device, system, method, and program |
| JP2020106435A (ja) * | 2018-12-27 | 2020-07-09 | 株式会社フジキン | 反射部材の表裏識別方法 |
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