JPS61239687A - Semiconductor light-emitting element - Google Patents

Semiconductor light-emitting element

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JPS61239687A
JPS61239687A JP8053785A JP8053785A JPS61239687A JP S61239687 A JPS61239687 A JP S61239687A JP 8053785 A JP8053785 A JP 8053785A JP 8053785 A JP8053785 A JP 8053785A JP S61239687 A JPS61239687 A JP S61239687A
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JP
Japan
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layer
base
laser
electrode
oscillation
Prior art date
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Pending
Application number
JP8053785A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Shibata
淳 柴田
Yoshihiro Mori
義弘 森
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To give an inverter function to beams by forming two base electrode layers supplying a base layer with currents, applying proper bias voltage to these base electrodes and making carriers to transit in the base layer. CONSTITUTION:An emitter layer 104 and a collector layer 102 form a double- hetero-junction bipolar transistor while holding a base layer 103. Two base electrode layers 105 are each supplied with base currents IB1, IB2. When currents IB1 are fed to a first base electrode 107 from the first bias voltage VB1 only on one side in the layer 103 in the element, laser oscillation 114 is generated. The second bias voltage VB2 is applied to a second base electrode 108, but base currents IB2 by the application of voltage VB2 are brought to the state in which base currents IB2 are made smaller than a laser oscillation threshold. When laser beams 112 are injected selectively to a waveguide on the electrode 108 side under the state, laser oscillation 113 is generated. Oscillation 114 on the electrode 107 side is stopped at that time. Oscillation 108 is generated only during a time when laser beams 112 are injected, and inversion operation is conducted.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体発光素子に関し、特に光情報処理分野に
利用するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a semiconductor light emitting device, and is particularly applicable to the field of optical information processing.

従来の技術 半導体発光素子である半導体レーザダイオードの研究開
発において、動的単一モード化や周波数チャーピングの
抑圧あるいは低雑音や高出力といったテーマで光通信分
野および光情報処理分野においての素子特性の向上が盛
んに行なわれている。
Conventional technology In the research and development of semiconductor laser diodes, which are semiconductor light emitting devices, we have focused on improving device characteristics in the optical communications and optical information processing fields, with themes such as dynamic single mode, frequency chirping suppression, low noise, and high output. Improvements are being made actively.

これらの要求から、半導体レーザは構造と材料の面から
多くの種類のものが発表されている。
In response to these demands, many types of semiconductor lasers have been announced in terms of structure and materials.

半導体レーザダイオードの発光は、活性層と呼ばれる屈
折率および利得の大きい半導体層より電流注入によって
放射される。半導体レーザダイオ3ベ−ノ ードでは、レーザ発振のためのキャリアのポンピングは
PN接合への電流注入によって行なわれている。レーザ
発振を開始する注入電流値をしきい電流Ithと呼ぶ。
Light from a semiconductor laser diode is emitted from a semiconductor layer called an active layer, which has a high refractive index and a high gain, by current injection. In the semiconductor laser diode 3 base node, carrier pumping for laser oscillation is performed by current injection into the PN junction. The injection current value that starts laser oscillation is called a threshold current Ith.

半導体レーザダイオードの活性層にレーザ光を注入する
と、光ボンピングによってキャリアが反転分布を生じる
からしきい電流Ithを低下させることができるし同時
に端子電圧の減少を生じる。
When laser light is injected into the active layer of a semiconductor laser diode, carriers undergo population inversion due to optical bombing, so that the threshold current Ith can be lowered, and at the same time, the terminal voltage is reduced.

この現象は、電子技術総合研究所の三橋らによって発表
されている(電子通信学会、光・量子エレクトロニクス
研究会資料0QE80−83)。この現象を利用して光
の発光と検出を兼用することなどが提案されている。
This phenomenon has been announced by Mitsuhashi et al. of the Electronics Technology Research Institute (IEICE, Optical and Quantum Electronics Study Group Material 0QE80-83). It has been proposed to utilize this phenomenon to both emit and detect light.

発明が解決しようとする問題点 本発明は、半導体レーザ・ダイオードの活性層にレーザ
光を注入するとしきい電流Ithが低下す;     
 60とを・本発明者等に1°1既に出願さi″′−る
レーザ発振を行なうバイポーラ・トランジスタ(特願昭
59−73380号)に利用して光スイツチ機能を提供
するものである。
Problems to be Solved by the Invention In the present invention, when laser light is injected into the active layer of a semiconductor laser diode, the threshold current Ith decreases;
60 is used in a bipolar transistor for laser oscillation (Japanese Patent Application No. 73380/1983), which has already been filed by the present inventors, to provide an optical switch function.

問題点を解決するための手段 ワイド・ギャップ・エミッタおよびワイド・ギヤノブ・
コレクタを有するヘテロ接合バイポーラトランジスタの
ベース層に横方向より電流供給するため2つのベース電
極層を形成する。ベース電流は、前記2つのベース電極
層よりベース層の左右端部に独立に供給される。一方の
ベース電流をレーザ発振を生起する電流値とし、他方を
しきい電流値よりも低い電流値にしておく。ベース層の
一方からは、レーザ光が放射され他方は放射されていな
い。レーザ光が放射されないベース層端部に、外部より
レーザ光を注入するとしきい電流値が低下するのでレー
ザ発振が生起する。その結果、もともとレーザ発振して
いるベース層端部のキャリアは、他方に吸い込まれるた
めレーザ発振を停止する。この現象を光スイツチ機能に
応用するものである。
Ways to solve the problem Wide gap emitter and wide gear knob
Two base electrode layers are formed to supply current laterally to the base layer of a heterojunction bipolar transistor having a collector. The base current is independently supplied to the left and right ends of the base layer from the two base electrode layers. One base current is set to a current value that causes laser oscillation, and the other base current is set to a current value lower than the threshold current value. Laser light is emitted from one of the base layers and not from the other. When laser light is externally injected into the end portion of the base layer from which laser light is not emitted, the threshold current value decreases, causing laser oscillation. As a result, the carriers at the end of the base layer, which were originally lasing, are sucked into the other side and stop lasing. This phenomenon is applied to the optical switch function.

作用 ワイド・ギャップ・エミッタとワイド°ギャップ・コレ
クタは、エミッタ、コレクタよりもパン6ペーゾ ド・ギャップの小さいベース層内に、キャリアと光を有
効にとじ込める作用をもつ。ベース層あるいはそれに接
した半導体層に形成した光共振装置は、ベース層内にと
じ込められた光の反射鏡であってこれによりレーザ発振
を生起する。ベース層へのバイアス電圧は、レーザ発振
に必要な電流を供給するためである。また外部からのレ
ーザ光注入は、光ポンピングによってしきい電流値を低
下させる作用を有する。
Function: The wide gap emitter and the wide degree gap collector have the function of effectively confining carriers and light within the base layer, which has a smaller pan 6 spaced gap than the emitter and collector. The optical resonator formed in the base layer or the semiconductor layer in contact with the base layer is a mirror for reflecting light confined within the base layer, thereby causing laser oscillation. The bias voltage to the base layer is for supplying the current necessary for laser oscillation. In addition, external laser light injection has the effect of lowering the threshold current value by optical pumping.

実施例 第1図は本発明の一実施例における半導体発光素子を示
す。101はn型のInP基板、102はn型InP基
板101よりも不純物濃度が少ないn型InPエピタキ
シャル層で形成したコレクタ層、103はp型InGa
ム8Pエピタキシャル層で形成したベース層、104は
n型1nP工ピタキシヤル層で形成したエミッタ層、1
o5はコレクタ層102とエミッタ層104の不純物濃
度よりも高いp型InPエピタキシャル層で形成したベ
ース電極層、106はムUとanなどによるコレクタ電
6ページ 極、107と108はムUとZnなどによる第1および
第2のベース電極、109はムUとSnなどによるエミ
ッタ電極、110と111は第1および第2のバイアス
電圧、112は外部よりベース層103に選択的に注入
するレーザ光、113と114は共に発光位置の異なる
第1.第2レーザ光、116は絶縁膜を示す。
Embodiment FIG. 1 shows a semiconductor light emitting device in one embodiment of the present invention. 101 is an n-type InP substrate, 102 is a collector layer formed of an n-type InP epitaxial layer with a lower impurity concentration than the n-type InP substrate 101, and 103 is a p-type InGa
104 is an emitter layer formed from an n-type 1nP epitaxial layer; 104 is an emitter layer formed from a 1nP epitaxial layer;
o5 is a base electrode layer formed of a p-type InP epitaxial layer having an impurity concentration higher than that of the collector layer 102 and emitter layer 104, 106 is a collector electrode made of MuU and an, etc., and 107 and 108 are MuU and Zn, etc. 109 is an emitter electrode made of MuU and Sn, 110 and 111 are first and second bias voltages, 112 is a laser beam selectively injected into the base layer 103 from the outside, 113 and 114 both have different light emitting positions. The second laser beam 116 indicates an insulating film.

次に本実施例の半導体発光素子の製作工程について説明
する。n型InP基板101上に、n型InP層102
とp型InGaAsP層103およびn型InP層10
4を液相成長法などの結晶成長技術によって順次形成す
る。しかる後、フォトリソグラフィー技術によって、n
型1nP層102、p型InGaAgP層103および
n型InP層104をn型InP基板101上に凸状に
そして帯状に形成する。エツチングには塩酸系、臭素・
メタノール系などを用いて形成する。しかる後、帯状上
部に絶縁膜等を載せたままp型InP層106によって
側面を埋込む。電極配線のために絶縁膜116を選  
  □択的に開孔して、電極金属としてムu/8n、ム
u/Zn7、<。
Next, the manufacturing process of the semiconductor light emitting device of this example will be explained. An n-type InP layer 102 is formed on an n-type InP substrate 101.
and p-type InGaAsP layer 103 and n-type InP layer 10
4 are sequentially formed by a crystal growth technique such as a liquid phase growth method. After that, using photolithography technology, n
A type 1nP layer 102, a p-type InGaAgP layer 103, and an n-type InP layer 104 are formed on an n-type InP substrate 101 in a convex shape and in a band shape. For etching, hydrochloric acid, bromine, etc.
Formed using methanol etc. Thereafter, the side surfaces are filled with a p-type InP layer 106 with an insulating film etc. placed on the top of the strip. Insulating film 116 is selected for electrode wiring.
□ Selectively open holes to use mu/8n, mu/Zn7, < as electrode metals.

等を蒸着してコレクタ、エミッタ、ベースの各電極を形
成する。
etc. to form the collector, emitter, and base electrodes.

本発明に係る素子の構成は、エミッタ層104とコレク
タ層102がベース層103に比ベハンド・ギャップ・
エネルギーの大きい材料でベース層103を挾んだいわ
ゆるダブル・ヘテロ接合としたnpn型のダブル・ヘテ
ロ接合バイポーラ・トランジスタである。第1図におい
て、レーザ光を発振させるためにレーザ光に垂直な面に
へき開法等によって形成したミラー面を有している。ベ
ース電極層106は、いわゆるグラフト・ベースと呼ば
れるものであって、ベース層103にベース電流IB+
 、 In2を効率的に供給するものである。
The structure of the device according to the present invention is that the emitter layer 104 and the collector layer 102 have a smaller hand gap than the base layer 103.
This is an npn type double heterojunction bipolar transistor in which a base layer 103 is sandwiched between high energy materials to form a so-called double heterojunction. In FIG. 1, a mirror surface is formed by a cleavage method or the like on a plane perpendicular to the laser beam in order to oscillate the laser beam. The base electrode layer 106 is a so-called graft base, and has a base current IB+ applied to the base layer 103.
, In2 is efficiently supplied.

本実施例素子の光学的な構成は、ベース層103が光の
導波路として作用する。導波路(ベース層)103は縦
方向および横方向に屈折率の小さい材料で挾まれている
。その結果、導波路内に光がとじ込められる。さらに導
波路の横方向は電流注入による利得差によっても光が閉
じ込められる。
In the optical configuration of the device of this example, the base layer 103 acts as a light waveguide. The waveguide (base layer) 103 is sandwiched between materials having a low refractive index in the vertical and horizontal directions. As a result, light is confined within the waveguide. Furthermore, light is confined in the lateral direction of the waveguide due to the gain difference caused by current injection.

以上のように、ベース層103は屈折率差によって光を
閉じ込める導波路として動作するとともに、ダブル・ヘ
テロ構造によって電子をも閉じ込める働らきをする。
As described above, the base layer 103 operates as a waveguide that confines light due to the difference in refractive index, and also functions to confine electrons due to the double heterostructure.

本実施例素子において、前記導波路層(ベース層)内の
片側だけにベース電流rB、を供給すれば、エミッタか
らベース層内に注入された電子とベース層の正孔との再
結合によってレーザ発振114を生じる。この導波路の
利得は、正孔と電子が供給されている位置が最も大きい
。したがって、レーザ発振している第1べ〜スミ極10
7側の導波路の利得が大きく、第2ベース電極108側
の導波路の利得は小さい。このように、同一導波路層内
において、利得分布の異なるのが本素子の特長である。
In this example element, if the base current rB is supplied to only one side of the waveguide layer (base layer), the laser beam is emitted by recombination of electrons injected into the base layer from the emitter and holes in the base layer. This produces an oscillation 114. The gain of this waveguide is greatest at the position where holes and electrons are supplied. Therefore, the first base pole 10 which is oscillating the laser
The gain of the waveguide on the 7 side is large, and the gain of the waveguide on the second base electrode 108 side is small. Thus, a feature of the present device is that the gain distributions are different within the same waveguide layer.

第2ベース電極108には、第2バイアス電圧vB2が
印加されているが、それによるベース電流IB2はレー
ザ発振しきい値IthよりもΔIだけ少ない状態にある
。ΔIはごく僅かであシ、より2はレーザ発振を生起す
るぎシぎシの値になっている。
A second bias voltage vB2 is applied to the second base electrode 108, but the resulting base current IB2 is smaller than the laser oscillation threshold Ith by ΔI. ΔI is very small, and 2 is a value close to causing laser oscillation.

この状態で、第2ベース電極108側の導波路層9ペー
ジ に外部より選択的にレーザ光112を注入すると、局部
的に正孔と電子の発生を生しそ扛が再結合することでレ
ーザ発振113を生じる。このとき、ホール・バーニン
グ効果によって正孔と電子の数が滅するので、第1ベー
ス電極107側の導波路内に存在している正孔と電子が
第2ベース電極108側の導波路に供給される。その結
果、最初にレーザ発振114していた第1ベース電極1
07側の導波路でのV−ザ発振は停止する。そして、外
部よりレーザ元112を注入している間だけ、第2ベー
ス電極108側の導波路内でレーザ発振113を生じる
In this state, when laser light 112 is selectively injected from the outside into the waveguide layer 9 on the second base electrode 108 side, holes and electrons are locally generated, and the laser beams are recombined, causing laser oscillation. 113 results. At this time, the number of holes and electrons is destroyed by the hole burning effect, so the holes and electrons existing in the waveguide on the first base electrode 107 side are supplied to the waveguide on the second base electrode 108 side. Ru. As a result, the first base electrode 1 which was initially emitting laser oscillation 114
V-za oscillation in the waveguide on the 07 side stops. Then, only while the laser source 112 is injected from the outside, laser oscillation 113 is generated within the waveguide on the second base electrode 108 side.

第2図に本発明の第2の実施例を示す。第2図において
、第1図と同一番号のものは第1図と同一のものを示す
。201はベース層103と導波路層202とを分離す
るn型InP層を示す。202は導波路層を示しベース
層103に対して選択的に形成され、ベース層103と
光学的に結合される。外部からの光の注入あるいは外部
への光の取出しは導波路202によって行なわれる。
FIG. 2 shows a second embodiment of the invention. In FIG. 2, the same numbers as in FIG. 1 indicate the same components as in FIG. Reference numeral 201 indicates an n-type InP layer separating the base layer 103 and the waveguide layer 202. A waveguide layer 202 is formed selectively with respect to the base layer 103 and is optically coupled to the base layer 103. Injection of light from the outside or extraction of light to the outside is performed by the waveguide 202.

10ペーノ なお、実施例において、InP/ InGaAsP系を
用いたが、GaAs /GaAaAs系においても同様
の効果を得ることができる。
In the examples, an InP/InGaAsP system was used, but similar effects can be obtained using a GaAs/GaAaAs system.

発明の効果 以上のように、本発明によれば、光によるインバータ(
反転)作用を持つ効果がある。すなわち、外部よ逆注入
するレーザ光(実施例では112)を入力として、第1
ベース電極(実施例では107)側の導波路層よりのレ
ーザ発振(実施例では114)を出力とする。レーザ光
の発振を“1“ 、停止を”0′に対応させると、入力
が“0で出力が1“、入力が“1“で出力が“Oになる
。これは光によるインバータ作用を示すものである。従
来の光によるインバータは受光素子と発光素子とを組合
せた電気的な回路であった。そのため従来の光インノく
一夕は、電気的な速度の遅れを生じた。本発明に係る素
子のインバータ作用は、従来の回路でなくひとつの機能
集積素子として光に対するインバータ機能を有する新し
い半導体発光素子を提供するものであシ、工業的に価値
あるものである。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, an optical inverter (
It has the effect of having an inversion) effect. That is, the first
Laser oscillation (114 in the example) from the waveguide layer on the side of the base electrode (107 in the example) is output. If the oscillation of the laser beam corresponds to "1" and the stop corresponds to "0'," the input becomes "0" and the output becomes "1", and the input becomes "1" and the output becomes "O". This shows an inverter effect caused by light. A conventional optical inverter is an electrical circuit that combines a light receiving element and a light emitting element. As a result, the conventional Hikari Inno Kuichiyo suffered from an electrical speed delay. The inverter function of the device according to the present invention provides a new semiconductor light emitting device having an inverter function for light as a single functional integrated device rather than a conventional circuit, and is industrially valuable.

11 べ−7・11 Be-7・

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例における半導体発光素子の断
面図、第2図は本発明の他の実施例の断面図である。 101・・・・・・半導体基板、102・・・・・・コ
レクタ層、103・・・・・・ベース(導波路)層、1
04・・・・・・エミッタ層、105・・・・・・ベー
ス電極層、106・・・・・・コレクタ電極、1o7・
・・・・・第1ベース電極、108・・・・・・第2ベ
ース電極、109・・・・・・エミッタ電極、11o・
・・・・・第1バイアス電圧、111・・・・・・第2
バイアス電圧、112・・・・・・注入レーザ光、11
3・・・・・・第2レーザ光、114・・・・・・第2
レーザ光、116・・・・・・絶縁膜。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名城
FIG. 1 is a cross-sectional view of a semiconductor light emitting device according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view of another embodiment of the present invention. 101... Semiconductor substrate, 102... Collector layer, 103... Base (waveguide) layer, 1
04... Emitter layer, 105... Base electrode layer, 106... Collector electrode, 1o7.
...First base electrode, 108...Second base electrode, 109...Emitter electrode, 11o.
...First bias voltage, 111...Second
Bias voltage, 112... Injection laser light, 11
3...second laser beam, 114...second
Laser light, 116...Insulating film. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and one other person

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ワイド・ギャップ・エミッタおよびワイド・ギャ
ップ・コレクタを用いたヘテロ接合バイポーラ・トラン
ジスタのベース層あるいは該ベース層に接する半導体層
に光共振装置を設け、前記ベース層に電流を供給する少
なくとも第1、第2、2つのベース電極層を備え、前記
トランジスタのエミッタ層に対して前記第1のベース電
極層にレーザ発振を生起せしめる第1のバイアス電圧を
印加し、前記第2のベース電極層にレーザ発振を生起し
ない第2のバイアス電圧を印加し、前記第2のベース電
極層に接したベース層に選択的に外部よりレーザ光を注
入することにより、レーザ発振を生起していた第1のベ
ース電極層に接したベース層内の発光を、前記第2のベ
ース電極層に接したベース層を遷移させるように構成し
たことを特長とする半導体発光素子。
(1) An optical resonant device is provided in the base layer of a heterojunction bipolar transistor using a wide gap emitter and a wide gap collector, or a semiconductor layer in contact with the base layer, and at least 1, second, comprising two base electrode layers, applying a first bias voltage that causes laser oscillation to the first base electrode layer with respect to the emitter layer of the transistor; A second bias voltage that does not cause laser oscillation is applied to the first bias voltage that does not cause laser oscillation, and laser light is selectively injected from the outside into the base layer that is in contact with the second base electrode layer. 1. A semiconductor light emitting device characterized in that the light emitted in the base layer in contact with the base electrode layer is transferred to the base layer in contact with the second base electrode layer.
(2)ベース層に外部よりレーザ光を注入するために、
前記ベース層に選択的に光導波路層を設けたことを特長
とする特許請求の範囲第1項記載の半導体発光素子。
(2) To inject laser light into the base layer from the outside,
The semiconductor light emitting device according to claim 1, characterized in that an optical waveguide layer is selectively provided on the base layer.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4987576A (en) * 1988-11-30 1991-01-22 Siemens Aktiengesellschaft Electrically tunable semiconductor laser with ridge waveguide

Cited By (1)

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US4987576A (en) * 1988-11-30 1991-01-22 Siemens Aktiengesellschaft Electrically tunable semiconductor laser with ridge waveguide

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