JPS61239376A - 画像間の角度差検出装置 - Google Patents
画像間の角度差検出装置Info
- Publication number
- JPS61239376A JPS61239376A JP60080699A JP8069985A JPS61239376A JP S61239376 A JPS61239376 A JP S61239376A JP 60080699 A JP60080699 A JP 60080699A JP 8069985 A JP8069985 A JP 8069985A JP S61239376 A JPS61239376 A JP S61239376A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- angle
- histogram
- time series
- features
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- Granted
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- Collating Specific Patterns (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
合同・相位または類似する二つの画像の間の角度差を、
濃度勾配の角度ヒストグラムを利用して検出する装置に
おいて、角度ヒストグラムのデータ量を圧縮し演算量を
減少することによって、検出速度の増大を図ったもの。
濃度勾配の角度ヒストグラムを利用して検出する装置に
おいて、角度ヒストグラムのデータ量を圧縮し演算量を
減少することによって、検出速度の増大を図ったもの。
画像処理技術の一応用分野である例えば印鑑照合装置に
おいては１通常、照合の対象とする被照合印鑑すなわち
被照合画像と、照合の基準とする登録印影すなわち基準
画像とを、パターンマツチング等の手法によって照合す
ることにより９両者の一致性の検査を行う。
おいては１通常、照合の対象とする被照合印鑑すなわち
被照合画像と、照合の基準とする登録印影すなわち基準
画像とを、パターンマツチング等の手法によって照合す
ることにより９両者の一致性の検査を行う。
ところが、もし被照合画像の角度すなわち向きと基準画
像のそれとが異なる場合には、そのままでは照合が困難
である。
像のそれとが異なる場合には、そのままでは照合が困難
である。
このため、印鑑照合装置等には、二つの画像の角度を合
わせる（向きを揃える）ために１画像間の角度差補正装
置が用いられる。
わせる（向きを揃える）ために１画像間の角度差補正装
置が用いられる。
この際、二つの画像間の角度差が少ない演算量によって
短時間で検出できることが望ましい。
短時間で検出できることが望ましい。
第４図は画像間の角度差検出装置の従来例の原理ブロッ
ク図であり、 １は、被照合画像の濃度を、方眼状に一定ピッチで配列
される画素毎に、量子化された画素値として記憶する画
像メモリ。
ク図であり、 １は、被照合画像の濃度を、方眼状に一定ピッチで配列
される画素毎に、量子化された画素値として記憶する画
像メモリ。
２は９画像メモリ１に記憶されている画像を（３×３）
の微分演算ウィンドーによって走査し、各画素における
濃度の最大変化方向すなわち空間微分値を求める空間微
分回路。
の微分演算ウィンドーによって走査し、各画素における
濃度の最大変化方向すなわち空間微分値を求める空間微
分回路。
３は、空間微分回路２によって得られた画素値の最大変
化方向を角度毎に計数して角度ヒストグラムを作るヒス
トグラム算出回路。
化方向を角度毎に計数して角度ヒストグラムを作るヒス
トグラム算出回路。
９は、ヒストグラム算出回路３に依って得られた角度ヒ
ストグラムを、０〜３５９度の角度をアドレスとして格
納する第一のヒストグラムメモリ。
ストグラムを、０〜３５９度の角度をアドレスとして格
納する第一のヒストグラムメモリ。
１０は、同様にして、予め基準画像から求めた角度ヒス
トグラムを、０〜３５９度の角度をアドレスとして格納
する第二のヒストグラムメモリ。
トグラムを、０〜３５９度の角度をアドレスとして格納
する第二のヒストグラムメモリ。
１１は、０〜３５９のアドレスを発生するアドレス発生
回路。
回路。
１２は、アドレス発生回路１２が発生した各アドレスを
１変車位に０〜３５９度ずつシフトしたアドレスに変換
するアドレス変換回路。
１変車位に０〜３５９度ずつシフトしたアドレスに変換
するアドレス変換回路。
１３は、第一のヒストグラムメモリ９から読み出された
ヒストグラムと第二のヒストグラムメモリ１０から読み
出された角度ヒストグラムとの間の距離を算出する距離
算出回路。
ヒストグラムと第二のヒストグラムメモリ１０から読み
出された角度ヒストグラムとの間の距離を算出する距離
算出回路。
１４は、距離算出回路１３において得られた最小の距離
に対応するアドレス変換回路１２のシフト量を検出する
検出回路である。
に対応するアドレス変換回路１２のシフト量を検出する
検出回路である。
すなわち、第一のヒストグラムメモリ９に格納した被照
合画像の角度ヒストグラムに対して０〜３５９度のシフ
トを与え、シフトされた各々の角度ヒストグラムと第二
のヒストグラムメモリ（０に格納するヒストグラムとの
距離を求め、最小の距離が得られたときのシフト量をも
って、二つの画像間の回転角度差とするものである。
合画像の角度ヒストグラムに対して０〜３５９度のシフ
トを与え、シフトされた各々の角度ヒストグラムと第二
のヒストグラムメモリ（０に格納するヒストグラムとの
距離を求め、最小の距離が得られたときのシフト量をも
って、二つの画像間の回転角度差とするものである。
前記従来例においては、二つの角度ヒストグラムの間の
距離の計算を３６０回おこない、また各計算において角
度毎の角度ヒストグラムの差の計算を３６０回も行う必
要がある。したがって演算回数が膨大になるという問題
点がある。
距離の計算を３６０回おこない、また各計算において角
度毎の角度ヒストグラムの差の計算を３６０回も行う必
要がある。したがって演算回数が膨大になるという問題
点がある。
すなわち９本発明の目的は前記従来例における膨大な演
算量を減少することにある。
算量を減少することにある。
第１図は本発明の原理ブロック図であり、第４図従来例
と共通する符号の他。
と共通する符号の他。
４は、ヒストグラム算出回路３によって得られた角度ヒ
ストグラムを平滑化する平滑回路。
ストグラムを平滑化する平滑回路。
５は、平滑回路４によって平滑化された角度ヒストグラ
ム中の隣接する極大と極小との差と、それぞれの角度の
差とによって表される特徴の時系列を抽出する特徴抽出
回路。
ム中の隣接する極大と極小との差と、それぞれの角度の
差とによって表される特徴の時系列を抽出する特徴抽出
回路。
６は、基準画像から抽出した前記特徴の時系列と同種の
特徴の時系列を時系列の順序をアドレスとして格納する
基準特徴メモリ。
特徴の時系列を時系列の順序をアドレスとして格納する
基準特徴メモリ。
７は、特徴抽出回路５によって抽出された被照合画像の
特徴の時系列をシフトするシフト回路。
特徴の時系列をシフトするシフト回路。
８は、シフト回路７によってシフトされた特徴の時系列
と基準特徴メモリ６に記憶する特徴の時系列との間の距
離を算出する距離算出回路である。
と基準特徴メモリ６に記憶する特徴の時系列との間の距
離を算出する距離算出回路である。
すなわち、第２図に例示するように平滑化された角度ヒ
ストグラムから極大と極小とを検出し。
ストグラムから極大と極小とを検出し。
隣接する極大と極小との差ｄｈ、とそれぞれの角度の差
ｄθ１とによって表される例えばベクトルＶ４の時系列
（■１）を抽出する。
ｄθ１とによって表される例えばベクトルＶ４の時系列
（■１）を抽出する。
一方、前辺って基準画像から抽出した前記と同種のベク
トルの時系列（Ｖｓｖ＋）を基準特徴メモ’Ｊ ６に格
納しておき３両持系列を相対的にシフトさせながら両持
系列の距離を求め、最小の距離が得られたときのシフト
量から、二つの画像間の回転角度差を求めるものである
。
トルの時系列（Ｖｓｖ＋）を基準特徴メモ’Ｊ ６に格
納しておき３両持系列を相対的にシフトさせながら両持
系列の距離を求め、最小の距離が得られたときのシフト
量から、二つの画像間の回転角度差を求めるものである
。
第３図は実施例の要部構成図であり。
特徴抽出回路５は、平滑回路４によって平滑化された被
表面画像の角度ヒストグラムを格納するヒストグラムメ
モリ５ａ＋ ヒストグラムメモリ５ａに記憶する角度ヒ
ストグラムを微分して角度ヒストグラムの極大と極小と
各々の角度とを検出する極大極小検出回路５ｂ、極大極
小検出回路５ｂによる検出値を格納するバッファ５ｃ、
極大極小検出回路５ｂによって検出された隣接する極大
と極小との差とそれぞれの角度の間の差とをベクトル化
するベクトル北回′路５ｇとから構成されている。
表面画像の角度ヒストグラムを格納するヒストグラムメ
モリ５ａ＋ ヒストグラムメモリ５ａに記憶する角度ヒ
ストグラムを微分して角度ヒストグラムの極大と極小と
各々の角度とを検出する極大極小検出回路５ｂ、極大極
小検出回路５ｂによる検出値を格納するバッファ５ｃ、
極大極小検出回路５ｂによって検出された隣接する極大
と極小との差とそれぞれの角度の間の差とをベクトル化
するベクトル北回′路５ｇとから構成されている。
シフト回路７は、ベクトル化回路５ｇによって得られた
ベクトルの時系列を１時系列の順序をアドレスとして格
納する被照合特徴メモリ７ａ、アドレス発生回路７ｂ、
アドレス発生回路７ｂが発生した各アドレスを１つずつ
シフトしたアドレスに変換するアドレス変換回路７Ｃと
から構成される。
ベクトルの時系列を１時系列の順序をアドレスとして格
納する被照合特徴メモリ７ａ、アドレス発生回路７ｂ、
アドレス発生回路７ｂが発生した各アドレスを１つずつ
シフトしたアドレスに変換するアドレス変換回路７Ｃと
から構成される。
例えば、基準画像および被照合画像の外形が斧状の場合
には、角度ヒストグラムはほぼ９０度の間隔で極大と極
小が二つずつ検出され、被照合特徴メモリ７ａおよび基
準特徴メモリには、それぞれ４つの特徴たとえばベクト
ルの時系列が格納される。
には、角度ヒストグラムはほぼ９０度の間隔で極大と極
小が二つずつ検出され、被照合特徴メモリ７ａおよび基
準特徴メモリには、それぞれ４つの特徴たとえばベクト
ルの時系列が格納される。
したがって、距離算出回路８において用いるデータの量
および距離算出の回数が少なく、角度差を短時間で検出
することができる。
および距離算出の回数が少なく、角度差を短時間で検出
することができる。
以上説明したように９本発明によれば、二つの画像の間
の角度差を従来例に比べて非常に少ない演算量で求める
ことができる。
の角度差を従来例に比べて非常に少ない演算量で求める
ことができる。
したがって９例えば印鑑照合装置における照合速度を大
幅に短縮することができる。
幅に短縮することができる。
第２図は作用の説明図。
第３図は実施例の要部構成図。
第４図は従来例の原理ブロック図を示す。
図中。
１は画像メモリ、 ２は空間微分回路。
３はヒストグラム算出回路。
４は平滑回路、 ５特徴抽出回路。
６は基準特徴メモリ、 ７はシフト回路。
８は距離算出回路、 ９は角度検出回路である。
□下で
赤
ｍ＝」
従事伊１の原理ブロック図
＄４ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一定のピッチで方眼状に配列される画素毎に量子化され
た画素値によって表される画像の各画素毎の画素値の最
大変化方向を求める空間微分回路（２）と、 空間微分回路（２）によって得られた画素値の最大変化
方向を角度毎に計数して角度ヒストグラムを求めるヒス
トグラム算出回路（３）と、 ヒストグラム算出回路（３）によって得られた角度ヒス
トグラムを平滑化する平滑回路（４）と、平滑回路４に
よって平滑化された角度ヒストグラム中の隣接する極大
と極小との差とそれぞれの角度の差とによって表される
特徴の時系列を抽出する特徴抽出回路（５）と、 基準画像から抽出した前記特徴の時系列と同種の特徴の
時系列を格納する基準特徴メモリ（６）と、特徴抽出回
路（５）によって抽出された被照合画像の特徴の時系列
と基準特徴メモリ（６）に格納される基準画像の特徴の
時系列との何れかをシフトするシフト回路（７）と、 二つの特徴の時系列の間の距離を算出する距離算出回路
（８）とを備えることを特徴とする画像間の角度差検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60080699A JPS61239376A (ja) | 1985-04-16 | 1985-04-16 | 画像間の角度差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60080699A JPS61239376A (ja) | 1985-04-16 | 1985-04-16 | 画像間の角度差検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61239376A true JPS61239376A (ja) | 1986-10-24 |
| JPH0219510B2 JPH0219510B2 (ja) | 1990-05-02 |
Family
ID=13725574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60080699A Granted JPS61239376A (ja) | 1985-04-16 | 1985-04-16 | 画像間の角度差検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61239376A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4870694A (en) * | 1987-03-24 | 1989-09-26 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of determining orientation of image |
| US4903310A (en) * | 1987-04-20 | 1990-02-20 | Fuji Photo Film Co. Ltd. | Method of automatically determining imaged body posture in medical image display |
| JPH0658741A (ja) * | 1992-08-05 | 1994-03-04 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 部品の傾き検出方法 |
| JP2019040612A (ja) * | 2012-07-09 | 2019-03-14 | ニュー ラック グローバル リミテッド | 勾配ヒストグラムに基づいて画像記述子を変換する方法および関連する画像処理装置 |
-
1985
- 1985-04-16 JP JP60080699A patent/JPS61239376A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4870694A (en) * | 1987-03-24 | 1989-09-26 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of determining orientation of image |
| US4903310A (en) * | 1987-04-20 | 1990-02-20 | Fuji Photo Film Co. Ltd. | Method of automatically determining imaged body posture in medical image display |
| JPH0658741A (ja) * | 1992-08-05 | 1994-03-04 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 部品の傾き検出方法 |
| JP2019040612A (ja) * | 2012-07-09 | 2019-03-14 | ニュー ラック グローバル リミテッド | 勾配ヒストグラムに基づいて画像記述子を変換する方法および関連する画像処理装置 |
| US10713523B2 (en) | 2012-07-09 | 2020-07-14 | New Luck Global Limited | Method for transforming an image descriptor based on a gradient histogram and relative image processing apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0219510B2 (ja) | 1990-05-02 |
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