JPS6122280A - Optical distance measuring device having measuring process display function - Google Patents
Optical distance measuring device having measuring process display functionInfo
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- JPS6122280A JPS6122280A JP60146084A JP14608485A JPS6122280A JP S6122280 A JPS6122280 A JP S6122280A JP 60146084 A JP60146084 A JP 60146084A JP 14608485 A JP14608485 A JP 14608485A JP S6122280 A JPS6122280 A JP S6122280A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、測定プロセスの進行状況を表示する機能を有
した光波距離計に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a light wave distance meter having the function of displaying the progress of a measurement process.
従来、測定中を表示するランプ等の表示器が設けられた
光波距離計は知られている。そのような光波距離計を使
用して測量を実施する場合において、気象条件等による
測定条件が悪く、短時間に測定結果が得られない時、上
述した如き測定中表示ランプはただ点灯され続けるだけ
で、測定者にはどの位待てば測定結果が得られるのか、
または、どのような状態のために測定結果が得られない
のか等が全くわからず、不安な状態に置かれる。また、
従来の測定中表示ランプの点灯が続くごとは測定不可能
を意味するが、どの程度測定不可能かは測定者には全く
わからない。例えば、測量スケジュールによりその日に
測定しな番」ればならない2点間距離の測定をその日は
あきらめなければならないのかまたは少し待てば測定可
能になるのかの判断は、測定スケジュール上重要である
。経験によれば、その瞬間またはその時間には測定不能
であっても、短時間待てば測定条件が回復し測定可能に
なることがしばしばある。従って、そのような判断をな
すのに必要な客観的な情報が得られることが望ましい。2. Description of the Related Art Conventionally, light wave distance meters are known that are equipped with an indicator such as a lamp to indicate when a measurement is in progress. When conducting a survey using such a light wave distance meter, when measurement results cannot be obtained in a short time due to poor measurement conditions such as weather conditions, the measurement indicator lamp as described above simply remains lit. So, how long should the measurer wait to get the measurement results?
Or, the user is left in a state of anxiety because he/she has no idea what kind of condition is causing the measurement result to not be obtained. Also,
Each time the conventional indicator lamp during measurement continues to light up, it means that measurement is impossible, but the measurer has no idea to what extent measurement is impossible. For example, it is important in the measurement schedule to determine whether the measurement of the distance between two points, which must be measured on that day according to the survey schedule, should be given up on that day or whether it will be possible to measure it if one waits for a while. Experience has shown that even if measurement is not possible at that moment or time, it is often the case that after a short period of time the measurement conditions recover and measurement becomes possible. Therefore, it is desirable to be able to obtain objective information necessary to make such judgments.
そこで、本発明は、測定者への心理的な悪影響を軽減し
且つ測定条件判断のための参考情報を提供するように、
測定プロセスの進行状況を必要する機能を備えた光波距
離計を提供せんとするものである。Therefore, the present invention aims to reduce the psychological adverse effects on the measurer and provide reference information for determining measurement conditions.
It is an object of the present invention to provide a light wave distance meter with a function that requires the progress status of the measurement process.
本発明によるならば、光波距離計の測定プロセスを、た
とえば長波長モード測定プロセス、短波長モード測定プ
ロセス及び測定値桁合せ結合プロセスとの3つに分け、
各プロセスの実行中に該プロセスの実行進行の度合を視
覚を通じて認識可能に表示せしめるよう光波距離81が
構成される。更に好ましくは、光波距離計の測定プロセ
スを、長波長モード測定プロセス、長波長モード測定値
チェックプロセス、短波長モード測定プロセス、短波長
モード測定値チェックプロセスを含めて構成し、各プロ
セス実行中にマイクロプロセツサからの信号により表示
装置を付勢する。そして、その表示装置は、例えば測定
結果表示装置を利用し、各測定プロセスが進行してゆく
ごとに、表示装置の付勢表示素子を最下位の桁から順次
移してゆき、測定プロセスの進行状況を表示する。According to the present invention, the measurement process of the optical distance meter is divided into three parts, for example, a long wavelength mode measurement process, a short wavelength mode measurement process, and a measurement value digit matching and combination process,
The light wave distance 81 is configured to visually display the progress of each process during execution. More preferably, the measurement process of the optical distance meter is configured to include a long wavelength mode measurement process, a long wavelength mode measurement value checking process, a short wavelength mode measurement process, and a short wavelength mode measurement value checking process, and during execution of each process, A signal from the microprocessor energizes the display. The display device uses, for example, a measurement result display device, and as each measurement process progresses, the energized display elements of the display device are sequentially shifted from the lowest digit to show the progress of the measurement process. Display.
以下、添付図面を参照して本発明による光波距離計の実
施例を説明する。Embodiments of the optical distance meter according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
第1図は、光波距離計の概略的構成を示すブロック図で
ある。第1図に示す光波距離51において、発信器10
は、I 5 Mllz、75Ml1z、3.75 K1
)zの3つの周波数の信号を発生し、15MIIzと7
5Kllzの信号を切換スイッチ12を介して発光ダイ
オード14−・供給する。発光ダイオ−1)4から放射
された光は、演算制御装置16により制御されるチョッ
パ18により外部光路20と内部光路22とに振り分L
jられる。外部光路20へ向けられた光は、目標に置か
れたプリズム24のような反射鏡で反射され、可変光減
衰器26を介して受光ダイオード28によって受光され
、他方、内部光路22を通った光も可変光減衰器26を
介して受光ダイオード28によって受光される。受光ダ
イオード28からの信号は、混合器30へ供給される。FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a light wave distance meter. At the light wave distance 51 shown in FIG.
is I 5 Mllz, 75Ml1z, 3.75 K1
)z, 15MIIz and 7
A signal of 5Kllz is supplied to the light emitting diode 14- through the changeover switch 12. The light emitted from the light emitting diode 1) 4 is divided into an external optical path 20 and an internal optical path 22 by a chopper 18 controlled by an arithmetic and control unit 16.
I'll be beaten. The light directed into the external optical path 20 is reflected by a reflective mirror, such as a prism 24 placed at the target, and is received by a light receiving diode 28 via a variable optical attenuator 26, while the light passing through the internal optical path 22 is The light is also received by the light receiving diode 28 via the variable optical attenuator 26. The signal from photodiode 28 is supplied to mixer 30 .
その混合器30は、演算制御装置16に制御される切換
スイッチ32を介してシンセサイザ34から送られる発
光ダイオード14を付勢した信号より3.75 K1)
z低い周波数の信号を受け、受光ダイオード28からの
信号と混合して、3.75Kllzの受信信号に変換し
て位相測定器36へ出力する。その位相測定器36は、
発信器10がら基準信号として3.75KHzの信号を
更に受け、受信信号と基準信号との位相差信号を演算制
御装置16へ出力する。前述したシンセサイザ34は、
発信器10から3つの周波数の信号を受け、14.99
625MHzと71.25 K1)zの信号を切換スイ
ッチ32へ出力する。The mixer 30 receives 3.75 K1) from the signal that energizes the light emitting diode 14 sent from the synthesizer 34 via the changeover switch 32 controlled by the arithmetic and control unit 16.
z low frequency signal, mixes it with the signal from the light receiving diode 28, converts it into a received signal of 3.75 Kllz, and outputs it to the phase measuring device 36. The phase measuring device 36 is
The transmitter 10 further receives a 3.75 KHz signal as a reference signal, and outputs a phase difference signal between the received signal and the reference signal to the arithmetic and control unit 16. The aforementioned synthesizer 34 is
Receives signals of three frequencies from the transmitter 10, 14.99
The signals of 625 MHz and 71.25 K1) are output to the changeover switch 32.
次に動作を概略的に説明する。まず、切換スイッチ12
及び32は、第1図に示す位置から下方の位置に切換ら
れ、75Kllzの周波数の信号で発光ダイオード14
が付勢される(長波長モード)。Next, the operation will be schematically explained. First, selector switch 12
and 32 are switched from the position shown in FIG.
is energized (long wavelength mode).
そして、チョッパ18が外部光路を形成せしめている期
間に、混合器30からの受信信号と発信器10からの基
準信号との位相差信号が位相測定器36から演算制御装
置16へ出力され、演算制御装置16がその位相差に対
応する計数値を求め、記憶する。次いで、チョッパ18
が内部光路を形成ゼしめている期間にも、受信信号と基
準信号との位相差信号により、演算制御装置16がその
位相差に対応する81数値を求め、記憶する。その後、
演算制御装置16は、記憶した2つの記憶値の差を求め
て、その差に基づいて距離を演算する。Then, while the chopper 18 is forming the external optical path, a phase difference signal between the received signal from the mixer 30 and the reference signal from the transmitter 10 is output from the phase measuring device 36 to the arithmetic and control unit 16, and the The control device 16 determines and stores a count value corresponding to the phase difference. Next, Chopper 18
Even during the period when the internal optical path is being formed, the arithmetic and control unit 16 calculates and stores 81 numerical values corresponding to the phase difference based on the phase difference signal between the received signal and the reference signal. after that,
The arithmetic and control device 16 calculates the difference between the two stored values and calculates the distance based on the difference.
75Kllzの長波長信号による測定の場合、1/10
000の精度で測定すると、2000mの距離まで20
cmの分解能で測ることができる。In the case of measurement using a long wavelength signal of 75 Kllz, 1/10
When measured with an accuracy of 2000m, the distance is 2000m.
It can be measured with a resolution of cm.
次に、切換スイッチ12及び32を第1図に示す如き上
方位置に切換え、15MHzの周波数の信号で発光ダイ
オード14を付勢する(短波長モート′)。Next, the changeover switches 12 and 32 are switched to the upper position as shown in FIG. 1, and the light emitting diode 14 is energized with a signal having a frequency of 15 MHz (short wavelength mode').
そして、75KIlzの場合と同様に、外部光路と内部
光路の各々について位相差に対応する計数値を求めて記
憶し、それらの差に基づいて距離を演算する。15Mt
lzの短波長信号による測定の場合、1/10000の
精度で測定して、10mまでの距離をl mmの分解能
で測ることができる。そして、そのようにして求めた2
つの測定値を、例えば長波長モードで求めた測定値の1
0m以上の値を短波長モードで求めた測定値で補正し、
両者を結合する。それによって、最大2kmまでの距離
を1鰭の精度で測定することができる。Then, as in the case of 75KIlz, the count values corresponding to the phase differences are calculated and stored for each of the external optical path and the internal optical path, and the distance is calculated based on the difference between them. 15Mt
In the case of measurements using short wavelength signals of 1z, measurements can be made with an accuracy of 1/10000 and distances up to 10 m can be measured with a resolution of 1 mm. Then, we obtained 2 in this way.
For example, one of the measured values obtained in long wavelength mode
Correct the value above 0m with the measured value obtained in short wavelength mode,
Combine both. This makes it possible to measure distances up to 2 km with an accuracy of one fin.
上述の動作において、長波長モードと短波長モードのそ
れぞれにおいて2回以上の測定、例えば5回の測定を実
施し、5つの測定値の最大値と最小値との差が所定の許
容値以内にあるかどうかチェックをなし、許容値以内に
ある時、5つの測定値の平均を演算し、その平均値をそ
のモードの測定値とする。最大値と最小値との差が許容
値を越える場合には、その最大値と最小値を切捨て、更
に2回の測定を実施し、その新しい2つの測定値と前の
残った3つの測定値の中から最大値と最小値とを抽出し
、前述した如き処理を再び繰り返す。In the above operation, two or more measurements, for example, five measurements, are performed in each of the long wavelength mode and short wavelength mode, and the difference between the maximum value and minimum value of the five measured values is within a predetermined tolerance value. A check is made to see if the value exists, and if it is within the allowable value, the average of the five measured values is calculated and the average value is taken as the measured value for that mode. If the difference between the maximum and minimum values exceeds the allowable value, the maximum and minimum values are rounded down, two more measurements are taken, and the two new measurements are combined with the previous three remaining measurements. The maximum value and minimum value are extracted from among them, and the above-described process is repeated again.
光波距離計の基本的な構成の詳細については、米国特許
第3,619.058号明細書及び特開昭50−130
67号を参照されたい。For details on the basic configuration of a light wave distance meter, see U.S. Patent No. 3,619.058 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 1983-130.
Please refer to No. 67.
第2図は、第1図の演算制御装置16のブロック図であ
る。位相測定器36からの位相差信号は、ANDゲート
40の一方の人力に印加される。FIG. 2 is a block diagram of the arithmetic and control unit 16 of FIG. 1. The phase difference signal from phase measurement device 36 is applied to one input of AND gate 40 .
ANDゲート40の他方の人力には、位相差信号のパル
ス幅を計数するために、例えば発信器10から15M1
lz信号がクロック信号Aとして供給されている。AN
r)ケートの出力ば、アップダウンカウンタ42に印加
される。位相測定器36は更に、基準信号に同期したタ
イミングパルスをタイミングカウンタ44に印加する。The other hand of the AND gate 40 includes, for example, 15M1 from the oscillator 10 in order to count the pulse width of the phase difference signal.
The lz signal is supplied as clock signal A. AN
r) The output of the gate is applied to the up/down counter 42. Phase measuring device 36 further applies a timing pulse synchronized with the reference signal to timing counter 44 .
そのタイミングカウンタ44ば、内部モード及び外部モ
ードのそれぞれにおいて1回の測定を・構成する例えば
200のタイミングパルスをカウントした時、位相測定
器36へ禁止信号を出力して、位相測定器36が位相差
信号をANDゲート40へ出力することを停止にさせる
。更に、タイミングカウンタ44は、カウントが200
に達した時に、割込信号をマイクロプロセッサ46に出
力する。When the timing counter 44 counts, for example, 200 timing pulses constituting one measurement in each of the internal mode and the external mode, it outputs a prohibition signal to the phase measuring device 36, and the phase measuring device 36 The output of the phase difference signal to the AND gate 40 is stopped. Furthermore, the timing counter 44 has a count of 200.
When reached, an interrupt signal is output to the microprocessor 46.
マイクロプロセッサ46には、ナス1モー1と粗測定モ
ードと精密測定モードとを選択するモード切換スイッチ
48と、距離表示単位を選択するメータ/フィート切換
スイッチ50とが設けられ、また、入力ポート52及び
データバス46aを介してデータが入力され、データバ
ス46a及び出力ボート54を介して制御信号が出力さ
れると共に表示装置56へ表示データが直接出力される
。The microprocessor 46 is provided with a mode changeover switch 48 for selecting eggplant mode 1, coarse measurement mode, and precision measurement mode, and a meter/feet changeover switch 50 for selecting the distance display unit. Data is inputted via the data bus 46a and the output port 54, and control signals are outputted via the data bus 46a and the output port 54, and display data is directly outputted to the display device 56.
入力ポート52は、オフセットスイッチ58がゲート6
0を介して、PPMスイッチ(気象補正用スイッチ)6
2がゲート64を介して、そして、外部光路光量レヘル
信号と内部光路光量レベル信号とがゲート66を介して
、それぞれ接続されている。マイクロプロセッサ46に
は更に、固定記憶装置(ROM)のようなメモリ68と
、ランダムアクセスメモリ (RAM)のようにメモリ
70が付属して設けられている。アンプダウンカウンタ
42の出力は、入力ポート52及びデータバス46aを
介してメモリ70に入力され、記憶される。メモリ68
には、マイクロプロセッサ46に実行させるプログラム
がプログラムされている。The input port 52 has an offset switch 58 connected to the gate 6.
0, PPM switch (weather correction switch) 6
2 is connected through a gate 64, and an external optical path light amount level signal and an internal optical path light amount level signal are connected through a gate 66, respectively. Microprocessor 46 is further provided with memory 68, such as persistent memory (ROM), and memory 70, such as random access memory (RAM). The output of the amplifier down counter 42 is input to the memory 70 via the input port 52 and the data bus 46a and is stored therein. memory 68
A program to be executed by the microprocessor 46 is programmed in the .
ゲート60.64及び66並びにアップダウンカウンタ
42は、マイクロプロセッサ46によってデータバス4
6a、出力ボート54及びデコーダ72を介して制御さ
れる。更に、マイクロプロセッサ46は、データバス4
6a1出力ポート54及びハソファ増幅器74.76.
78をそれぞれ介してブザー80、チョッパ18の駆動
モータ82及び切換スイッチ12及び32へそれぞれ作
動信号を出力する。Gates 60, 64 and 66 and up/down counter 42 are connected to data bus 4 by microprocessor 46.
6a, output port 54 and decoder 72. Furthermore, the microprocessor 46 is connected to the data bus 4.
6a1 output port 54 and hasher amplifier 74.76.
Activation signals are outputted to the buzzer 80, the drive motor 82 of the chopper 18, and the changeover switches 12 and 32 through the switches 78, respectively.
表示装置56は、アドレスカウンタ86、アドレスセレ
クタ88、ランダムアクセスメモリのようなメモリ90
、デコーダ/ト′ライハ92、例えば7個の表示素子か
らなるL E D表示器94、アドレスデコーダ96、
そして駆動増幅器98及び100を備えている。アドレ
スカウンタ86は、クロックパルス発信器(不図示)か
らクロック信号Bを受け、L E D表示器94の各表
示素子に対応するアドレス信号を一定の周期で出力する
。表示ずべきデータは、メモリ70からマイクロプロセ
ッサ46のアドレス信号を受レノるアドレスセレフタ8
8によって指定されるメモリ90のアドレスに、データ
バス46aを介して入力され、記憶される。そのように
して一連のデータがメモリ70からメモリ90へ転送さ
れ、記憶されると、アドレスカウンタ86からの周期的
に変化するアドレス信号を受けるアドレスセレクタ88
によって指定されるアドレスのメモリ90のデータが順
次読み出され、デコーダ/]・−ライバ92へ出力され
、そこでLED表示器を駆動する型式の信号に変換され
LED表示器94のそれぞれの表示素子へ出力され、そ
して、読み出された少数点情報は、増幅器98を介して
L E D表示器94に入力される。一方、アドレスカ
ウンタ86からアドレス信号を受けるアドレスデコーダ
96は、アドレス信号によって指定されるL E D表
示器の各表示素子を順次高速度で駆動し、メモリ90か
らのデータをL E D表示器に表示せしめる。The display device 56 includes an address counter 86, an address selector 88, and a memory 90, such as a random access memory.
, a decoder/trier 92, an LED display 94 consisting of, for example, seven display elements, an address decoder 96,
Further, drive amplifiers 98 and 100 are provided. The address counter 86 receives a clock signal B from a clock pulse generator (not shown) and outputs an address signal corresponding to each display element of the LED display 94 at a constant cycle. The data to be displayed is transferred to an address selector 8 which receives an address signal from the microprocessor 46 from the memory 70.
The data is input to the address of the memory 90 specified by 8 via the data bus 46a and stored. When a series of data is thus transferred from memory 70 to memory 90 and stored, address selector 88 receives a periodically changing address signal from address counter 86.
The data in the memory 90 at the address specified by is sequentially read out and output to the decoder/]-driver 92, where it is converted into a signal of the type that drives the LED display and sent to each display element of the LED display 94. The output and read decimal point information is input to the LED display 94 via the amplifier 98. On the other hand, an address decoder 96 that receives an address signal from the address counter 86 sequentially drives each display element of the LED display specified by the address signal at high speed, and transfers the data from the memory 90 to the LED display. Display it.
次に第2図に示す装置の動作を説明する。メモリ68の
固定記1a装置には、以下に説明する動作の全プログラ
ムが記憶されており、順次読み出さ1) ゛
れてマイクロプロセッサ46により実行される。Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 2 will be explained. The fixed memory 1a of the memory 68 stores all programs for the operations described below, which are sequentially read out and executed by the microprocessor 46.
さて、モート切換スイッチ48をテストモードに設定し
て、装置を始動させると、第3A図から第3C図に示す
如き処理が実行される。テストモードがスター1すると
、まず最初にシザー80がリセットされ、次いで、ナス
1データを記t#ずべきメモリ70のアドレスが指定さ
れる。例えばアドレスXoが指定される。そして、短波
長モートにセットされ、出力ボート54及び増幅器78
を介して切換スイッチ12及び32が短波長モードに切
換られる。更に、内部モードに七ノ1され、出力ボート
54及び増幅器76を介して=〔−タ82へ駆動信号が
供給され、チョッパ1日によって内部光路22が確立さ
れる。そこにおいて、内部光量レベルのチェックを実施
し、L・ヘル正常の時には、メモリ70のアドレスXo
の場所にゼロを記憶せしめ、レベルが基準値以下の時に
は、1を記憶せしめると共に、次のデータ記憶のために
アドレス番号を1つ少ない番号に即ちアドレス(Xo−
1)を指定する。Now, when the mote selector switch 48 is set to the test mode and the apparatus is started, the processes shown in FIGS. 3A to 3C are executed. When the test mode starts at 1, the scissors 80 are first reset, and then the address of the memory 70 where the eggplant 1 data is to be written is designated. For example, address Xo is designated. Then, the output boat 54 and the amplifier 78 are set to short wavelength mode.
The changeover switches 12 and 32 are switched to the short wavelength mode via the . Furthermore, the internal mode is set, a drive signal is supplied to the output port 82 via the output port 54 and the amplifier 76, and the internal optical path 22 is established by the chopper. There, the internal light level is checked, and if the L/Hel is normal, the address Xo of the memory 70 is
When the level is below the reference value, 1 is stored at the location, and the address number is decreased by one for storing the next data, that is, the address (Xo-
1).
次いで、AGC機能(不図示)を動作させて光量レベル
が正常かどうかチェックする。このAGCの機能チェッ
クは、内部モードにおいてはAGC回路の入力信号レベ
ルが回路構成上、規定レベルの範囲内にあることを利用
して、それに対応する範囲内にAGC回路の制御電圧が
あるか否かを判断している。正常の場合、メモリ70の
アドレス(Xo−1)にゼロを記憶せしめ、不良の場合
、2を記憶せしめ、そして、次のアドレス(Xo−2)
を指定する。そのあと、内部モードにおいて短波長モー
ドでカウンタ計数をチェックし、正常の場合、メモリ7
0のアドレス(XO−2)にゼロを入力し、不良の場合
、4を人力すると共に、次のアドレス(XO−3)を指
定する。Next, the AGC function (not shown) is operated to check whether the light amount level is normal. This AGC function check utilizes the fact that in internal mode, the input signal level of the AGC circuit is within the specified level range due to the circuit configuration, and checks whether the control voltage of the AGC circuit is within the corresponding range. I am deciding whether If it is normal, zero is stored in the address (Xo-1) of the memory 70, and if it is defective, it is stored in 2, and then the next address (Xo-2)
Specify. After that, check the counter count in the short wavelength mode in the internal mode, and if it is normal, the memory 7
Input 0 to address 0 (XO-2), and if it is defective, enter 4 manually and specify the next address (XO-3).
このカウンタ計数チェックは、前述内部光量レベルチェ
ック時及び、AGC機能チェ・7り時において、内部光
路における位相差信号名200回をカウンタ42で計数
し、メモリ70に記憶しておき、マイクロプロセッサ4
6でこれら2個のデータを演算処理して、バラツキ判定
をする。This counter counting check is performed by counting 200 phase difference signal names in the internal optical path using the counter 42 and storing them in the memory 70 during the above-mentioned internal light level checking and AGC function checking.
In step 6, these two pieces of data are subjected to arithmetic processing to determine the dispersion.
次いで、内部モードを外部モードに切換え、光量レベル
が規定値以上あるかどうかをチェックし、規定値以上の
場合、ブザー80を吹鳴せしめてオペレータに光波距離
計とプリズム24が照射された旨合図し、一方、規定値
以下の場合、ブザー80を消音して照準されていない旨
合図し、次のステップに進む。そのステップにおいて、
長波長モードにあるかどうかチェックし、長波長モード
にない場合、長波長モードに切換え、第3A図のステッ
プBへ戻り、外部モードを内部モードに切換え、長波長
モードにおける内部光路の光量レベルをチェックする。Next, the internal mode is switched to the external mode, and it is checked whether the light intensity level is above the specified value. If it is above the specified value, the buzzer 80 is sounded to signal to the operator that the light wave distance meter and prism 24 are illuminated. On the other hand, if the value is below the specified value, the buzzer 80 is muted to signal that the target is not aimed, and the process proceeds to the next step. In that step,
Check whether it is in the long wavelength mode, and if it is not in the long wavelength mode, switch to the long wavelength mode, return to step B of Figure 3A, switch the external mode to the internal mode, and set the light intensity level of the internal optical path in the long wavelength mode. To check.
正常の場合、メモリ70のアドレス(Xo−3)にゼロ
を入力し、不良の場合、lを人力し、次のアドレス(X
o−4)を指定する。次いで、長波長モードにおける内
部光路でのAGC機能のチェックを実施し、その結果を
メモリ70のアドレス(Xo−4)に記憶する。そのあ
と、長波長モードにおいて内部光路を使用してカウンタ
の81数チエツクを実施し、正常の場合、アドレス(X
o−5)にゼロを入力し、不良の場合4を入力する。次
いで、外部モードに切換え、光量レベルが規定値以」二
であるかどうかチェックし、そして、長波長モードにあ
るかどうかチェックし、長波長モードにある場合次のス
テップへ進む。即ち、輸′フセソトスイソチ58が正常
かどうかチェックし、正常の場合、メモリ70のアドレ
ス(Xo−6)にゼロを入力し、不良の場合2を入力す
る。このオフセソトスインチのチェックは、同スイッチ
をBCDコードで使用することにより各桁が“9”以下
であるか否かをチェックするものである。次いで、PP
Mスイッチ62をチェックし、正常の場合メモリ70の
アドレス(Xo −7)にゼロを入力し、不良の場合1
を入力する。If it is normal, input zero to the address (Xo-3) of the memory 70; if it is defective, enter l manually and enter the next address (Xo-3).
o-4). Next, the AGC function is checked on the internal optical path in the long wavelength mode, and the result is stored in the address (Xo-4) of the memory 70. Then, in the long wavelength mode, check the number 81 of the counter using the internal optical path, and if it is normal, the address (X
o-5), enter zero, and enter 4 if it is defective. Next, the mode is switched to the external mode, and it is checked whether the light intensity level is equal to or higher than the specified value.Then, it is checked whether the mode is in the long wavelength mode, and if it is in the long wavelength mode, the process proceeds to the next step. That is, it is checked whether the importer 58 is normal or not, and if it is normal, zero is input into the address (Xo-6) of the memory 70, and if it is defective, 2 is input. This off-set inch check is to check whether each digit is equal to or less than "9" by using the same switch in a BCD code. Then P.P.
Check the M switch 62, and if it is normal, enter zero in the address (Xo -7) of the memory 70, and if it is defective, enter 1.
Enter.
このPPMスイッチのチェックは、同スイッチがロータ
リ・スイッチであり、唯一の接点のみがONしているこ
とを利用し、2個以上の接点が接続されている時又は、
いずれも接続されていない時はエラーとするものである
。This PPM switch check uses the fact that the switch is a rotary switch and only one contact is ON, and when two or more contacts are connected or
If neither is connected, an error will occur.
そのあと、モードスイッチ48のチェックを実行し、正
常の場合、メモリ70のアドレス(X。After that, check the mode switch 48, and if it is normal, address (X) of the memory 70.
−8)にゼロを記憶し、不良の場合2を記1aする。-8) is stored as zero, and in the case of a defect, 2 is written in 1a.
このモード・スイッチのチェックは、3モートのトグル
スイッチを利用し、一方の接点が接続されている時、テ
スト・モードとし、他方が接続されている時ば粗測定モ
ードにし、両方が接続されていない時ば精密測定モード
とする。従って両方が接続されている時はエラーとする
ものである。This mode switch check uses a 3-mote toggle switch; when one contact is connected, it is in test mode, when the other is connected, it is in rough measurement mode, and when both are connected, it is in test mode. If not, use precision measurement mode. Therefore, if both are connected, an error will occur.
次いで、メータ/フィート切換スイッチ50が正常かど
うかチェックし、正常の場合メモリ70のアドレス(X
o−9)にゼロを記j1)、不良の場合4を記憶する。Next, it is checked whether the meter/feet changeover switch 50 is normal, and if it is normal, the address (X
Write zero in o-9) and store 4 in case of defective j1).
このメータ/フィートスイッチのチェックは、2モード
のトグルスイッチを使用し、一方が接続されていればメ
ータ、他方が接続されていればフィー1−とする。従っ
て両方が接続されていない時はエラーとするものである
。This meter/feet switch check uses a two-mode toggle switch; if one is connected, it is meter, and if the other is connected, it is feed 1-. Therefore, if both are not connected, an error will occur.
R1&に、アl”レスXo〜(Xo−9)に記憶されて
いる値がすべてゼロであるかどうかチェックし、すべて
ゼロの場合、表示器94の各桁に対応するメモリ90の
アドレス「8」を人力ざ−l、L E D表示器の7桁
の表示素子にすべて18」を表示させて、同時に各表示
素子のチェックを行う。R1 & checks whether all the values stored in addresses Xo~(Xo-9) are zero, and if they are all zero, the address "8" of the memory 90 corresponding to each digit of the display 94 is checked. '' manually, display ``18'' on all 7-digit display elements of the LED display, and check each display element at the same time.
アドレスXo〜(Xo−9)の記憶値がすべてゼロでな
い場合には、次のような演算を実施する。If the stored values at addresses Xo to (Xo-9) are all non-zero, the following calculation is performed.
M(Xo−9)4M(Xo−8)4M(Xo−7) =
M(nt) ・・・・・−filM(Xo−6)+1X
o−5)+1Xo−3) −M(L) −−(21M(
Xo−2)4M(Xo−1)+MXo =M(Ds
) ・・・・・・(31そして、式(1)の演算結果を
、LED表示器94の最上位の桁の表示素子に対応する
メモリ90のアドレスD、に記憶せしめ、そして、式(
2)及び式(3)の演算結果を、LED表示器94の最
上位から2番目と3番目の桁の表示素子に対応するメモ
リ90のアドレスD、及びD5にそれぞれ記憶せしめて
、LED表示器94の上位3桁にチェックの結果を表示
させる。各桁の数値とチェック結果との関係を第4図に
示す。不良表示の数値が1.2.4であり、2又は3個
の和の組合せで同一の値を取るものがないので、何か不
良であるオペレータに認識させることができる。例えば
rl 50Jと表示された場合、PPMチェックの不良
、長波長モードにおける内部光路の光量低下及び長波長
モ一ドにおける内部光路でのカウンタ1数結果不良があ
ることがわかる。M(Xo-9)4M(Xo-8)4M(Xo-7) =
M(nt) ・・・・-filM(Xo-6)+1X
o-5)+1Xo-3) -M(L) --(21M(
Xo-2)4M(Xo-1)+MXo =M(Ds
) ...(31) Then, the calculation result of formula (1) is stored in the address D of the memory 90 corresponding to the display element of the most significant digit of the LED display 94, and the formula (
2) and formula (3) are stored in addresses D and D5 of the memory 90 corresponding to the display elements of the second and third digits from the top of the LED display 94, respectively, and the LED display Display the check result in the top three digits of 94. FIG. 4 shows the relationship between the numerical value of each digit and the check result. The numerical value of the defect display is 1.2.4, and since there are no combinations of two or three sums that have the same value, the operator can recognize that something is defective. For example, when rl 50J is displayed, it can be seen that there is a defect in the PPM check, a decrease in the light amount in the internal optical path in the long wavelength mode, and a defect in the counter 1 count result in the internal optical path in the long wavelength mode.
A G Cの機能のチェックは、短波長モードで実施す
れば十分であるので、長波長モードでのチェックはとば
してもよい。また、チェック結果を3桁の数字にして表
示したが、9個の表示素子に別別に表示されてもよい。Since it is sufficient to check the functionality of AGC in short wavelength mode, checking in long wavelength mode may be skipped. Further, although the check results are displayed as three-digit numbers, they may be displayed separately on nine display elements.
更にまた、機能チェックの対象は、芸れぞれ任意に選択
することができる。Furthermore, the target of the function check can be arbitrarily selected.
次に、モード切換スイッチ48を精密all+定モード
に切換えた時の動作を説明する。なお、粗測定モードに
おける測定は、精密測定モーlにおいて、長・複画波長
モードで、各2回の測定を実施し、信頼度の判定をした
後、各波長の1回目の測定値を処理する(即ち平均値を
求めない)ことに1Q41uするので省略する。(なお
、粗測定モードでは、測定プロセスは表示しない)
精密測定モードにおいては、メモリ68に設定された測
定プログラムは、5つの測定プロセスに分割され、第1
測定プロセスにおいては長波長モードで5回の距離測定
が実施され、第2測定プロセスにおいて長波長モードで
の5つの測定値の信頼度が判定され且つ平均値が求めら
れ、第3測定プロセスにおいて短波長モードで5回の距
離測定が実施され、第4測定プロセスにおいて短波長モ
ードでの5つの測定値の信頼度が判定され且つ平均値が
求められ、そして第5測定プロセスにおいて長波長モー
ドでの測定値の平均値と短波長モードでの測定値の平均
値との桁合せ結合処理が実施され、測定値が表示される
。Next, the operation when the mode selector switch 48 is switched to the precision all+constant mode will be described. In addition, for measurements in coarse measurement mode, measurements are performed twice each in long and multiple wavelength modes in the precision measurement mode, and after determining the reliability, the first measurement value of each wavelength is processed. Since it is 1Q41u to do (that is, not calculate the average value), it will be omitted. (In addition, in the rough measurement mode, the measurement process is not displayed.) In the precision measurement mode, the measurement program set in the memory 68 is divided into five measurement processes.
In the measurement process, five distance measurements are carried out in long wavelength mode, in the second measurement process the reliability of the five measurements in long wavelength mode is determined and the average value is determined, and in the third measurement process the short and long distance measurements are determined. Five distance measurements are carried out in wavelength mode, in a fourth measurement process the reliability of the five measurements in short wavelength mode is determined and the average value is determined, and in a fifth measurement process in long wavelength mode. Digit alignment and combination processing is performed between the average value of the measured values and the average value of the measured values in the short wavelength mode, and the measured values are displayed.
詳細に述べるならば、第5A図から第5C図のフローチ
ャートに示す如く、精密測定モードの開始においてまず
表示タイマ(不図示)がリセットされる。この表示タイ
マは、距離測定値の表示している時間をセットするもの
であり、測定値を表示器94に表示する際、精密測定モ
ードにおける正常測定所要時間約6秒とほぼ等しくセッ
トされる。測定条件が悪く、測定所要時間が6秒を越え
ると、表示タイマはリセットされ、前回の測定値表示は
消去され、現在実行中の測定プロセスが表示器94に表
示されるものである。次いで、測定プロセス番号を1”
にセソl−して、メモリ70に記t#せしめる。そして
、長波長モートにセットし、ブザー80をリセット状態
に保持する。そのあと、表示タイマのリセット状態を確
認をして、測定プロセスをL ED表示器94に表示す
る。即ち、この状態においては測定プロセス番号は2で
あり、例えばL ED表示器94の最下位桁の小数点に
対応するメモリ90の場所に、メモリ70の記憶に基づ
いて付勢信号を出力して記憶せしめ、L E D表示器
94の最下位桁の小数点を点灯せしめる。これにより現
在第1測定プロセスが実行されていることがオペレータ
に表示される。次に、外部モードにセントされ、外部モ
ード測定の位相差が計数される。これは、前述の如くタ
イミングカウンタ44によって制御され、例えば200
個の位相差パルスのパルス幅に相当する計数値が得られ
、一時的に記憶される。そのあと、計数期間中に外部光
量が適正であったかどうかチェックされ、不良であった
場合、その記憶が消去され、再び外部モード測定におい
て位相差を計数し、適正であった場合、内部モードに切
換えられる。そして、内部モードにおける位相差が計数
されて一時記憶され、外部モードでの計数値と内部モー
ドでの計数値の差が求められ、実距離データとしてメモ
リ70に記す伍される。次いで、メモリ70に記憶され
た実距離データが5個に達したかどうかを判別し、5個
に達していない場合には、第5A図に示す如く外部モー
ドセントに再び戻り、実距離データの測定−計算プロセ
スが繰返される。5個に達した場合には、測定プロセス
番号に「+1」を加えて、メモリ70に記憶されている
測定プロセス番号を「2」とする。そのあと、表示タイ
マのリセット状態を確認して、測定プロセスを表示する
。この時、メモリ90の記憶が消去され、L E D表
示器94の最下位桁より1つ上の桁の小数点に対応する
メモリ90の場所に、メモリ70の記憶に基づいて付勢
信号が出力されて記憶され、L E D表示器94の最
下位桁より1つの上の桁の小数点が点灯せしめられる。More specifically, as shown in the flowcharts of FIGS. 5A to 5C, at the start of the precision measurement mode, a display timer (not shown) is first reset. This display timer sets the time during which the distance measurement value is displayed, and when displaying the measurement value on the display 94, it is set approximately equal to the normal measurement time required in the precision measurement mode, about 6 seconds. If the measurement conditions are poor and the time required for measurement exceeds 6 seconds, the display timer is reset, the display of the previous measurement value is erased, and the measurement process currently being executed is displayed on the display 94. Then set the measurement process number to 1”
t# is stored in the memory 70. Then, it is set to the long wavelength mode and the buzzer 80 is held in the reset state. Thereafter, the reset state of the display timer is confirmed, and the measurement process is displayed on the LED display 94. That is, in this state, the measurement process number is 2, and for example, an energizing signal is output and stored in the memory 90 at a location corresponding to the lowest decimal point of the LED display 94 based on the memory 70. Then, the decimal point of the least significant digit of the LED display 94 is lit. This indicates to the operator that the first measurement process is currently being executed. Next, the external mode is entered and the phase difference of the external mode measurement is counted. This is controlled by the timing counter 44 as described above, for example, 200
A count value corresponding to the pulse width of each phase difference pulse is obtained and temporarily stored. After that, during the counting period, it is checked whether the amount of external light is appropriate. If it is defective, the memory is erased, and the phase difference is counted again in external mode measurement. If it is appropriate, it is switched to internal mode. It will be done. Then, the phase difference in the internal mode is counted and temporarily stored, and the difference between the counted value in the external mode and the counted value in the internal mode is determined and recorded in the memory 70 as actual distance data. Next, it is determined whether the actual distance data stored in the memory 70 has reached 5 pieces, and if it has not reached 5 pieces, the external mode center is returned again as shown in FIG. 5A, and the actual distance data is stored. The measurement-calculation process is repeated. When the number reaches five, "+1" is added to the measurement process number, and the measurement process number stored in the memory 70 is set to "2". Then, check the reset status of the display timer and display the measurement process. At this time, the memory in the memory 90 is erased, and an energizing signal is output based on the memory in the memory 70 to a location in the memory 90 corresponding to the decimal point one digit above the lowest digit of the LED display 94. The decimal point of the LED display 94 at the digit above the least significant digit is lit.
そして測定結果の信頼度即ちバラツキを判定す2す
るために、メモリ70に記憶された5個の実距離データ
の中から最大値と最小値とを選択し、そして、その選択
した最大値と最小値との差が許容値ε以下であるかどう
かを判別する。許容値εを越えた場合、メモリ70に記
憶されているその最大値と最小値とを消去し、測定プロ
セス番号に1−1」を加えて、第5A図のEに戻り、長
波長モートにおいて更に2回の測定を繰返す。従って、
この時にはL E D表示器94の最下位桁の小数点が
再び点灯される。最大値と最小値との差が許容値ε以下
の時には、5個の実距離データの平均値を求めて、メモ
リ70に記憶させ、次いで、測定プロセス番号にr −
1−I Jを加える。Then, in order to judge the reliability of the measurement results, that is, the dispersion2, the maximum value and minimum value are selected from among the five pieces of actual distance data stored in the memory 70, and the selected maximum value and minimum value are It is determined whether the difference with the value is less than or equal to the allowable value ε. If the tolerance value ε is exceeded, delete the maximum and minimum values stored in the memory 70, add "1-1" to the measurement process number, return to E in FIG. Repeat the measurement two more times. Therefore,
At this time, the decimal point of the least significant digit of the LED display 94 is lit again. When the difference between the maximum value and the minimum value is less than or equal to the allowable value ε, the average value of the five actual distance data is calculated and stored in the memory 70, and then r − is added to the measurement process number.
1-Add IJ.
そのあと、短波長モード測定が終了したかどうかを判別
し、終了していない場合には、短波長モート′に切換え
て、第5A図の已に戻り、短波長モードにおいて5個の
実距離データを求め、その平均値を求める。短波長モー
ドでの測定中には、I、Er)表示器94の下3桁目の
小数点が点灯され、短波長モードでの5つの実距離デー
タのバラツキ判定及び平均値演算の間は、L E D表
示器94の下4桁目の小数点が点灯される。After that, it is determined whether or not the short wavelength mode measurement has been completed, and if it has not been completed, the switch is made to the short wavelength mode' and the process returns to the step shown in FIG. Find the average value. During measurement in the short wavelength mode, the decimal point at the bottom third digit of the I, Er) display 94 is lit, and during the dispersion judgment and average value calculation of the five actual distance data in the short wavelength mode, the L The decimal point in the fourth lower digit of the ED display 94 is lit.
そのようにして、短波長モードにおける測定及び平均値
の演算が終了すると、第5C図に示す如く、測定プロセ
スの表示が行なわれ、L ED表示器94の下から5桁
目の小数点が点灯される。そして、メモリ70に記憶さ
れている長波長モードと短波長モードでの実距離データ
の平均値の桁合せ結合が可能かどうかを次のようにして
判断して桁合せ結合を実行する。When the measurement in the short wavelength mode and the calculation of the average value are completed in this way, the measurement process is displayed as shown in FIG. 5C, and the decimal point at the fifth digit from the bottom of the LED display 94 is lit. Ru. Then, it is determined in the following manner whether or not the average values of the actual distance data in the long wavelength mode and the short wavelength mode stored in the memory 70 can be digit-matched and combined, and the digit-matching combination is executed.
前述した如く、長波長モードにおける測定の範囲は、0
.0mから1999.8mであり、短波長モードにお番
Jる測定範囲は、0.000mから9.999mである
。そこで桁合せ結合は、量モードで得られたデータのm
単位の桁の数値を比較して、両者が一致するように補正
する。しかし、補正量が大きい場合は、測定データに信
頼性がないと考えられるので、その場合には、全測定デ
ータを破棄して、第5A図のGに戻り、全測定プロセス
を改めて実行する。例えば、最大補正量を2mと制限し
、長波長データのm fp位の数値と短波長データのm
1)′L位の数イI6との差か2m以下の時、短波長デ
ータを優先させて両データを結合する。例を挙げるなら
ば、長波長データ平均値が]IO,fi+口であり、短
波長データ平均値が8.215mである場合には、合成
値は108.2]5mとする。As mentioned above, the measurement range in long wavelength mode is 0.
.. The measurement range in short wavelength mode is 0.000 m to 9.999 m. Therefore, the digit combination is performed using m of the data obtained in quantity mode.
Compare the numerical values of the unit digits and correct them so that they match. However, if the amount of correction is large, it is considered that the measurement data is unreliable, so in that case, all measurement data is discarded, the process returns to G in FIG. 5A, and the entire measurement process is executed again. For example, if the maximum correction amount is limited to 2 m, the value of m fp for long wavelength data and m for short wavelength data
1) When the difference from the number I6 at 'L' is less than 2 m, the short wavelength data is prioritized and both data are combined. For example, if the long wavelength data average value is ]IO,fi+ and the short wavelength data average value is 8.215 m, the combined value is 108.2]5 m.
このようにして損金−ロ結合が終了したあと、合成値に
オフセット補iE及びI) P M補itEを施し、そ
して必要な場合、メートル/ソイ−1交換を行う。After the loss-lo combination is completed in this way, offset compensation iE and I) PM compensation itE are applied to the composite value, and if necessary, meter/soi-1 exchange is performed.
ぞして、表示タイマをセy l□ L7、ブザー80を
セソトシてブザーを吹鳴してオペL・−りに測定が終了
したことを知らせしめ、測定値をメー〔す3へ転送して
、■、El’)表示器94に表示さ・lる。Then, set the display timer L7, set the buzzer 80 to let the operator know that the measurement has been completed, and transfer the measured value to the machine 3. ■, El') is displayed on the display 94.
上述した如き測定プロセスの実行と1. ICD表示器
による実行中の測定ブ「1セスの表示との関係を示すと
第6図の如くなる。Execution of the measurement process as described above; 1. The relationship between the display of the measurement block being executed and the display of one process on the ICD display is shown in FIG.
また第6図に示す如く、小数点を点灯する代りに、第7
図に示す如く、測定プロセスが進行してゆくに従いL
E D表示器の表示素子の中央水平セグメントを最下位
から順次点灯させ−Cゆくようにすることもできる。こ
の場合には、測定プロセスが進行するに従い、LED表
示器の点灯横棒が延びてゆく惑じを与えることができる
。また、第8図の如く、点灯小数点を増加させてゆくこ
ともできる。さらに、第9図に示す如く、最下位の桁に
進行中の測定プロセスの番号を表示させるようにしても
よい。Also, as shown in Figure 6, instead of lighting the decimal point, the 7th
As shown in the figure, as the measurement process progresses, L
It is also possible to light up the central horizontal segments of the display elements of the ED display sequentially starting from the lowest position and proceeding to -C. In this case, it is possible to create the illusion that the illuminated horizontal bar of the LED display is lengthening as the measurement process progresses. Furthermore, as shown in FIG. 8, the number of lit decimal points can be increased. Furthermore, as shown in FIG. 9, the number of the measurement process in progress may be displayed in the lowest digit.
また、測定プロセスを5つでなく3つに分け、第1測定
プロセスと第2測定プロセスとを1つにまとめ、第3測
定プロセスと第4測定プロセスとを1つにまとめるよう
にしてもよい。反対に、測定プロセスを6以上、例えば
7つに分割するようにして、実行測定プロセスの表示を
行うこともできる。Alternatively, the measurement process may be divided into three instead of five, the first measurement process and the second measurement process may be combined into one, and the third measurement process and the fourth measurement process may be combined into one. . Conversely, it is also possible to display the executed measurement process by dividing the measurement process into six or more, for example seven.
第1図は、光波距離計の概略構成を示すブロック図、第
2図は、第1図の演算制御装置の構成を示すブロック図
、第3A図、第3B図及び第3C図は、第1図に示した
光波距離計がテストモードにある時の動作のフローチャ
ート、第4図は、テストモードにおりるチェック結果の
表示態様を示す図、第5A図、第5B図及び第50図1
)1、第1図に示した光波距離計の精密測定モートの動
作のフローチャー1・、そして、第6図、第7図、第8
図及び第9図は、それぞれ測定プロセス表示態様を示す
図である。
10・・・発信器 12.32・・・切換スイッチ1
4・・・発光ダイオード 16・・・演算制御装置1
8・・・チョッパ 20・・・外部光路22・・・内
部光路 24・・・プリズム26・・・可変光減衰器
28・・・受光ダイオード30・・・混合器
34・・・シンセサイザ36・・・位相測定器 43・
・・アップダウンカウンタ44・・・タイミングカウン
タ
46・・・マイクロプロセッサ
94・・・L E D表示器
特許出願人 東京光学機械株式会?+r
−
■
■
一一−−−−−−−−−−コ
一= ミ 1
「
穆 −,1鋼
I ミ
享 ′ I t
1毫心ン
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町 (
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延 さ
陵
づへ
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)ビ
−(へ)の寸いiて
駅 1 駅 脈 組 −
1″1.1)こ1:1)ご1こ1)こ1こ1)ご1)〔
す1467一FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a light wave distance meter, FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an arithmetic and control unit in FIG. 1, and FIGS. A flowchart of the operation when the optical distance meter shown in the figure is in the test mode, FIG. 4 is a diagram showing the display mode of the check result when the light wave distance meter is in the test mode, FIGS. 5A, 5B, and 50.
) 1. Flowchart 1 of the operation of the precision measurement mote of the optical distance meter shown in Fig. 1, and Figs. 6, 7, and 8.
9 and 9 are diagrams each showing a measurement process display mode. 10... Transmitter 12.32... Changeover switch 1
4... Light emitting diode 16... Arithmetic control device 1
8... Chopper 20... External optical path 22... Internal optical path 24... Prism 26... Variable optical attenuator 28... Light receiving diode 30... Mixer
34...Synthesizer 36...Phase measuring device 43.
...Up/down counter 44...Timing counter 46...Microprocessor 94...LED display Patent applicant Tokyo Kogaku Kikai Co., Ltd.? +r
− ■ ■ 11−−−−−−−−− こ 1 = Mi 1 `` 穆 −,1 連 み き ′ I t 1毫心ん 1′ S 1 ←ゞ Kidney I ) k town ( ℃さNobu Saryozue 0n) B (he)'s size i te station 1 station pulse group - 1''1.1) ko 1: 1) go 1 ko 1) ko 1 ko 1) go 1) [
14671
Claims (2)
を利用して距離測定を実行するようになされた光波距離
計において、上記プロセスを上記複数の波長に応じて各
波長モードプロセス及び測定値桁合せ結合プロセスに分
け、各プロセスが実行されている時、上記プロセスの実
行進行の度合を視覚を通じ認識可能に表示器に表示させ
るように構成したことを特徴とする測定プロセス表示機
能を有した光波距離計。(1) In a light wave distance meter configured to perform distance measurement using multiple wavelengths according to a pre-programmed process, the above process is combined with each wavelength mode process and measured value digit matching according to the multiple wavelengths. A light wave distance meter having a measurement process display function, characterized in that it is divided into processes, and when each process is being executed, the degree of execution progress of the process is visually recognized on a display. .
セス、長波長モード測定値チェックプロセス、短波長モ
ード測定プロセス及び短波長モード測定値チェックプロ
セスとを含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に
記載の測定プロセス表示機能を有した光波距離計。(2) Each mode process includes a long wavelength mode measurement process, a long wavelength mode measurement value checking process, a short wavelength mode measurement process, and a short wavelength mode measurement value checking process. A light wave distance meter that has a measurement process display function as described in .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60146084A JPS6122280A (en) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | Optical distance measuring device having measuring process display function |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60146084A JPS6122280A (en) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | Optical distance measuring device having measuring process display function |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6122280A true JPS6122280A (en) | 1986-01-30 |
JPS6253791B2 JPS6253791B2 (en) | 1987-11-12 |
Family
ID=15399759
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60146084A Granted JPS6122280A (en) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | Optical distance measuring device having measuring process display function |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6122280A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63109398A (en) * | 1986-10-28 | 1988-05-14 | 株式会社東芝 | Solidification equipment for radioactive waste liquor |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4891835U (en) * | 1972-02-08 | 1973-11-05 | ||
JPS5132411A (en) * | 1974-07-12 | 1976-03-19 | Rhone Poulenc Ind | Gariumuno kaishuhoho |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP60146084A patent/JPS6122280A/en active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4891835U (en) * | 1972-02-08 | 1973-11-05 | ||
JPS5132411A (en) * | 1974-07-12 | 1976-03-19 | Rhone Poulenc Ind | Gariumuno kaishuhoho |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63109398A (en) * | 1986-10-28 | 1988-05-14 | 株式会社東芝 | Solidification equipment for radioactive waste liquor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6253791B2 (en) | 1987-11-12 |
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