JPS6122281A - Optical distance measuring device having self-checking function - Google Patents

Optical distance measuring device having self-checking function

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JPS6122281A
JPS6122281A JP14608585A JP14608585A JPS6122281A JP S6122281 A JPS6122281 A JP S6122281A JP 14608585 A JP14608585 A JP 14608585A JP 14608585 A JP14608585 A JP 14608585A JP S6122281 A JPS6122281 A JP S6122281A
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JP
Japan
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mode
check
memory
display
function
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Application number
JP14608585A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshio Hamada
敏男 浜田
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Tokyo Optical Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Optical Co Ltd filed Critical Tokyo Optical Co Ltd
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Publication of JPS6122281A publication Critical patent/JPS6122281A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating
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    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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    • G05B2219/33288Switch, select between normal and diagnostic control program
    • GPHYSICS
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    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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    • G05B2219/34427Diagnostic, monitoring incorporated in controller

Abstract

PURPOSE:To enable rapid maintenance on a measuring site, by storing a program for checking the function of each part of an optical distance measuring device in a memory apparatus and allowing a microprocessor to perform the function check of each part to display the same. CONSTITUTION:All operational programs are stored in the fixed memory apparatus of memory 68 and a microprocessor 46 successively reads said programs to perform the same. The program for checking the function of each part of an apparatus is also contained in said programs and a mode change-over switch 48 is set to a test mode to drive the apparatus and, at first, the checking of an in ternal light quantity level is performed in an internal mode. Subsequently, AGC function is operated to check whether the light quantity level is normal and data is subjected to operation processing by the microprocessor 46 to perform the judgement of irregularity. Next, the internal mode is changed over to an external mode to check whether the lght quantity level is equal to or more than a prescribed value and normal or abnormal display is performed to be informed to an operator.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、セルフチェック機能を有した光波距離計に関
するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a light wave distance meter having a self-check function.

従来、様々な光波距離計が知られている。しかしながら
、光波距離計の各部の機能を自動的にチェックして、も
し不良箇所があったらその箇所を表示するようなものは
なかった。光波距離計を使用して測量を実施している時
に光波距離計に異常が発生した場合、従来、現場のオペ
レータは全くなすすべがなく測量を停止せざるを得なか
った。
Conventionally, various light wave distance meters are known. However, there was no system that automatically checked the functions of each part of the light wave rangefinder and displayed the location of any defects. In the past, if an abnormality occurred in a light-wave distance meter during a survey using a light-wave distance meter, the operator at the site had no choice but to stop the survey.

これは、オペレータが光波距離計内部についての専門知
識に乏しく、また、光波距離計のチェック、故障修理が
メーカー又は専門の修理者にしかできないためであった
。しかしながら、光波距離計の電気装置は、印刷回路板
を組合せて構成されており、故障箇所さえわかれば、故
障印刷回路板を交換するだけで素人にも簡単に修理する
ことができるものである。
This is because the operator lacks specialized knowledge about the inside of the light-wave distance meter, and only the manufacturer or a specialized repair person can check the light-wave distance meter and repair any malfunctions. However, the electric device of a light wave distance meter is constructed by combining printed circuit boards, and even an amateur can easily repair it by simply replacing the faulty printed circuit board once the fault location is known.

そこで、本発明は、各部の機能を自動的にチェックして
、複数の不良箇所を同時に表示器に表示−ヒしめるよう
になした光波距離計を提供セんとするものである。それ
により、オペレータが、表示器に表示されたチェック結
果と故障表示コートリス1〜及びマユ1アルを参1((
テすることによって、故障が発生して印刷回路板を知っ
て、その印[6+1回路板を交換することができ、測定
現場での迅ス*な保守が可能となる。従って、測量計画
を断念することなく、光波距離側による測量を続行さ一
ロるごとができる。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, the present invention aims to provide a light wave distance meter that automatically checks the functions of each part and simultaneously displays a plurality of defective locations on a display. As a result, the operator can refer to the check results displayed on the display and the malfunction indications 1 to 1 and 1 (
By checking the printed circuit board when a failure occurs, the printed circuit board can be replaced and maintenance can be carried out quickly at the measurement site. Therefore, it is possible to continue surveying on the optical distance side without abandoning the survey plan.

本発明による光波距離計においては、光波距^1を計の
各部の機能をチェックするためのプ11グラムが記憶装
置にプログラムされており、マイクロプロセツサがその
記憶装置に記憶されているプログラムに従って光波距離
側の各部の機能チェックを実行し、その結果が表示装置
に表示される。本発明の好ましい実施例においては、チ
ェソクプlコグラムは固定記す、a装置に記1#されて
おり、マイクロプロセツサが各部の機能チェックを実施
するごとに、チェック結果を第2の記(、l装置に一時
記t@させておき、全機能チェックが完了した後、全チ
ェック結果を一度に表示装置に表示−已しめる。そして
、チェック対象ごとに異なった数値を与え、該数値はそ
れら相互の累積値が該数値と一致しないような関係とし
、複数の機能チェックデータを」−記数値の累積値とし
て上記表示装置に表示する。
In the light wave distance meter according to the present invention, a program for checking the functions of each part of the light wave distance ^1 is programmed in the storage device, and the microprocessor executes the program according to the program stored in the storage device. A function check is performed on each part on the optical distance side, and the results are displayed on the display device. In a preferred embodiment of the present invention, the check program is fixedly recorded in the device, and each time the microprocessor performs a function check of each part, the check result is written in the second record (, l). Temporarily record it in the device, and after all function checks are completed, display all the check results at once on the display device. Then, give different values to each check target, and the values are different from each other. The relationship is such that the cumulative value does not match the numerical value, and the plurality of function check data is displayed on the display device as the cumulative value of the recorded value.

以下、添付図面を参照して本発明の実施した光波距離計
の実施例を説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a light wave distance meter according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

第1図は、光波距離計の概略的構成を示すブロック図で
ある。第1図に示す光波距離計において、発信器10は
、L 5 MHz、 75 Mllz、3.75 K1
1zの3つの周波数の信号を発生し、15MIIzと7
5KHzの信号を切換スイッチ12を介して発光ダイオ
ード14へ供給する。発光ダイオード14から放射され
た光は、演算制御装置16により制御されるチョッパ1
8により外部光路20と内部光路22とに振り分けられ
る。外部光路20へ向けられた光は、目標に置かれたプ
リズム24のような反射鏡で反射され、可変光減衰器2
6を介して受光ダイオード28によって受光され、他方
、内部光路22を通った光も可変光減衰器26を介して
受光ダイオード28によって受光される。受光ダイオー
ド28からの信月は、混合器30へ供給される。その混
合器30は、演算制御装置16に制御される切換スイッ
チ32を介してシンセサイザ34から送られる発光ダイ
オード14を付勢した信号により3.75 KI+z低
い周波数の信号を受け、受光ダイオード28からの信号
と混合して、3.75Kllzの受信信号に変換して位
相測定器36へ出力する。その位相測定器36は、発信
器10から基準信号として3.75 K11zの信号を
更に受け、受信信号と基準信号との位相差信号を演算制
御装置16へ出力する。前述したシンセサイザ34は、
発信器10から3つの周波数の信号を受け、14.99
625MIIzと71.25 K11zの信号を切換ス
イッチ32へ出力する。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a light wave distance meter. In the light wave distance meter shown in FIG.
Generates signals with three frequencies of 1z, 15MIIz and 7
A 5 KHz signal is supplied to the light emitting diode 14 via the changeover switch 12. The light emitted from the light emitting diode 14 is passed through the chopper 1 controlled by the arithmetic and control unit 16.
8 into an external optical path 20 and an internal optical path 22. The light directed to the external optical path 20 is reflected by a reflective mirror, such as a prism 24, placed at the target and passes through the variable optical attenuator 2.
6 is received by the light receiving diode 28 , while the light passing through the internal optical path 22 is also received by the light receiving diode 28 via the variable optical attenuator 26 . The light from the light receiving diode 28 is supplied to a mixer 30. The mixer 30 receives a 3.75 KI+z low frequency signal from the light-emitting diode 14 sent from the synthesizer 34 via the changeover switch 32 controlled by the arithmetic and control unit 16, and receives the signal from the light-receiving diode 28. It is mixed with the signal, converted into a received signal of 3.75 Kllz, and outputted to the phase measuring device 36. The phase measuring device 36 further receives a signal of 3.75 K11z as a reference signal from the transmitter 10 and outputs a phase difference signal between the received signal and the reference signal to the arithmetic and control unit 16. The aforementioned synthesizer 34 is
Receives signals of three frequencies from the transmitter 10, 14.99
The signals of 625MIIz and 71.25K11z are output to the changeover switch 32.

次に動作を概略的に説明する。まず、切換スイッチ12
及び32は、第1図に示す位置から下方の位置に切換ら
れ、75Kllzの周波数の信号で発光ダイオード14
がイ1勢される(長波長モート)そして、チョッパ18
が外部光路を形成せしめている期間に、混合器30から
の受信信号と発信器10からの基準信号との位相差体列
が位相測定器36から演算制御装置16へ出力され、演
算制御装置16がその位相差に対応する計数値を求め、
記憶する。次いで、チョッパ18が内部光路を形成せし
めている期間にも、受信信号と基準信号との位相差信号
により、演算制御装置16がその位相差に対応する計数
値を求め、記憶する。その後、演算制御装置16は、記
憶した2つの記憶値の差を求めて、その差に基づいて距
離を演算する。
Next, the operation will be schematically explained. First, selector switch 12
and 32 are switched from the position shown in FIG.
1 group is sent (long wavelength mote) and chopper 18
is forming an external optical path, a phase difference array between the received signal from the mixer 30 and the reference signal from the transmitter 10 is output from the phase measuring device 36 to the arithmetic and control device 16. Find the count value corresponding to the phase difference,
Remember. Next, even during the period when the chopper 18 is forming the internal optical path, the arithmetic control unit 16 calculates and stores a count value corresponding to the phase difference signal based on the phase difference signal between the received signal and the reference signal. Thereafter, the arithmetic and control device 16 calculates the difference between the two stored values and calculates the distance based on the difference.

75KIIzの長波長信号による測定の場合、1/10
000の精度で測定すると、2000mの距離まで20
cmの分解能で測ることができる。
In the case of measurement using a long wavelength signal of 75KIIz, 1/10
When measured with an accuracy of 2000m, the distance is 2000m.
It can be measured with a resolution of cm.

次に、切換スイッチ12及び32を第1図に示す如き上
方位置に切換え、15M1lzの周波数の信号で発光ダ
イオード14を付勢する(短波長モード)。
Next, the changeover switches 12 and 32 are switched to the upper position as shown in FIG. 1, and the light emitting diode 14 is energized with a signal having a frequency of 15M1lz (short wavelength mode).

そして、75KIIzの場合と同様に、外部光路と内部
光路の各々について位相差に対応する計数値を求めて記
憶し、それらの差に基づいて距離を演算する。15MI
Izの短波長信号による測定の場合、1/1’0000
の精度で測定して、10mまでの距離をl mmの分解
能で測ることができる。そして、そのようにして求めた
2つの測定値を、例えば長波長モードで求めた測定値の
10m以上の値を短波長モードで求めた測定値で補正し
、両者を結合する。それによって、最大2kmまでの距
離を11mの精度で測定することができる。
Then, as in the case of 75KIIz, the count values corresponding to the phase differences are calculated and stored for each of the external optical path and the internal optical path, and the distance is calculated based on the difference. 15MI
In the case of measurement using a short wavelength signal of Iz, 1/1'0000
It is possible to measure distances up to 10 m with a resolution of 1 mm. Then, the two measured values obtained in this manner are combined, for example, by correcting the measured value obtained in the long wavelength mode, which is 10 m or more, with the measured value obtained in the short wavelength mode. Distances up to 2 km can thereby be measured with an accuracy of 11 m.

上述の動作において、長波長モードと短波長モードのそ
れぞれにおいて2回以上の測定、例えば5回の測定を実
施し、5つの測定値の最大値と最小値との差が所定の許
容値以内にあるかどうかチェックをなし、許容値以内に
ある時、5つの測定値の平均を演算し、その平均値をそ
のモードの測定値とする。最大値と最小値との差が許容
値を越える場合には、その最大値と最小値を切捨て、更
に2回の測定を実施し、その新しい2つの測定値と前の
残った3つの測定値の中から最大値と最小値とを抽出し
、前述した如き処理を再び繰り返す。
In the above operation, two or more measurements, for example, five measurements, are performed in each of the long wavelength mode and short wavelength mode, and the difference between the maximum value and minimum value of the five measured values is within a predetermined tolerance value. A check is made to see if the value exists, and if it is within the allowable value, the average of the five measured values is calculated and the average value is taken as the measured value for that mode. If the difference between the maximum and minimum values exceeds the allowable value, the maximum and minimum values are rounded down, two more measurements are taken, and the two new measurements are combined with the previous three remaining measurements. The maximum value and minimum value are extracted from among them, and the above-described process is repeated again.

光波距離計の基本的な構成の詳細については、米国特許
第3,619.058号明細書及び特開昭50−130
67号を参照されたい。
For details on the basic configuration of a light wave distance meter, see U.S. Patent No. 3,619.058 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 1983-130.
Please refer to No. 67.

第2図は、第1図の演算制御装置16のブロック図であ
る。位相測定器36からの位相差信号は、ANDゲート
40の一方の入力に印加される。
FIG. 2 is a block diagram of the arithmetic and control unit 16 of FIG. 1. The phase difference signal from phase measurement device 36 is applied to one input of AND gate 40 .

ANDゲート40の他方の入力には、位相差信号のパル
ス幅を計数するために、例えば発信器10から15MI
Iz信号がクロック信号Aとして供給されている。AN
Dゲートの出力は、アップダウンカウンタ42に印加さ
れる。位相測定器36は更に、基準信号に同期したタイ
ミングパルスをタイミングカウンタ44に印加する。そ
のタイミングカウンタ44は、内部モード及び外部モー
ドのそれぞれにおいて1回の測定を構成する例えば20
0のタイミングパルスをカウントした時、位相測定器3
6へ禁止信号を出力して、位相測定器36が位相差信号
をANDゲート40へ出力することを停止させる。更に
、タイミングカウンタ44は、カウントが200に達し
た時に、割込信号をマイクロプロセッサ46に出力する
The other input of the AND gate 40 is connected to, for example, 15MI from the oscillator 10 in order to count the pulse width of the phase difference signal.
The Iz signal is supplied as clock signal A. AN
The output of the D gate is applied to an up/down counter 42. Phase measuring device 36 further applies a timing pulse synchronized with the reference signal to timing counter 44 . The timing counter 44 has a timing counter of, for example, 20
When the timing pulse of 0 is counted, the phase measuring device 3
6 to stop the phase measuring device 36 from outputting the phase difference signal to the AND gate 40. Additionally, timing counter 44 outputs an interrupt signal to microprocessor 46 when the count reaches 200.

マイクロプロセッサ46には、テストモードと粗測定モ
ードと精密測定モードとを選択するモード切換スイッチ
48と、距離表示単位を選択するメータ/フィート切換
スイッチ50とが設けられ、また、入力ボート52及び
データバス46aを介してデータが入力され、データバ
ス46a及び出力ボート54を介して制御信号が出力さ
れると共に表示装置56へ表示データが直接出力される
The microprocessor 46 is provided with a mode changeover switch 48 for selecting a test mode, a rough measurement mode, and a precision measurement mode, and a meter/feet changeover switch 50 for selecting a distance display unit. Data is input via the bus 46a, control signals are output via the data bus 46a and the output port 54, and display data is directly output to the display device 56.

入力ボート52には、オフセットスイッチ58がゲート
60を介して、PPMスイッチ(気象補正スイッチ)6
2がゲート64を介して、そして、外部光路光量レベル
信号と内部光路光量レベル信号とがゲート66を介して
、それぞれ接続されている。マイクロプロセッサ46に
は、更に、固定記憶袋fi(ROM)のようなメモリ6
Bと、ランダムアクセスメモリ (RAM)のようなメ
モリ70が付属して設けられている。アップダウンカウ
ンタ42の出力は、入力ボート52及びデータバス46
aを介してメモリ70に入力され、記ス、#される。メ
モリ68には、マイクロプロセッサ46に実行させるプ
ログラムがプログラムされている。
An offset switch 58 is connected to the input boat 52 via a gate 60 and a PPM switch (weather correction switch) 6
2 is connected through a gate 64, and an external optical path light amount level signal and an internal optical path light amount level signal are connected through a gate 66, respectively. The microprocessor 46 further includes a memory 6 such as a fixed memory memory (ROM).
A memory 70, such as a random access memory (RAM), is provided. The output of the up/down counter 42 is connected to the input port 52 and the data bus 46.
The data is input to the memory 70 via a, and is written as #. The memory 68 is programmed with a program to be executed by the microprocessor 46.

ゲート60.64及び66並びにアップダウンカウンタ
42は、マイクロプロセッサ46によってデータバス4
.6 a、出力ボート54及びデコーダ72を介して制
御される。更に、マイクロプロセッサ46は、データバ
ス46a、出力ボート54及びハソファ増幅器74.7
6.78をそれぞれ介してブザー80、チョッパ18の
駆動モータ82及び切換スイッチ12及び32へそれぞ
れ作動信号を出力する。
Gates 60, 64 and 66 and up/down counter 42 are connected to data bus 4 by microprocessor 46.
.. 6a, controlled via output port 54 and decoder 72. Additionally, the microprocessor 46 has a data bus 46a, an output port 54, and a bus amplifier 74.7.
Operating signals are output to the buzzer 80, the drive motor 82 of the chopper 18, and the changeover switches 12 and 32 through the switches 6 and 78, respectively.

表示装置56は、アドレスカウンタ86、アドレスセレ
クタ88、ランダムアクセスメモリのようなメモリ90
、デコーダ/ドライバ92、例えば7個の表示素子から
なるI、 E D表示器94、アドレスデコーダ96、
そして駆動増幅器98及び100を備えている。アドレ
スカウンタ86は、クロックパルス発信器(不図示)か
らクロック信号Bを受け、L E D表示器94の各表
示素子に対応するアドレス信号を一定の周期で出力する
。表示すべきデータは、メモリ70からマイクロプロセ
ッサ46のアドレス信号を受t−するアドレスセレクタ
88によって指定されるメモリ90のアドレスに、デー
タバス46aを介して入力され、記憶される。そのよう
にして一連のデータがメモリ70からメモリ90へ転送
され、記憶されると、アドレスカウンタ86からの周期
的に変化するアドレス信号を受器ノるアドレスセレクタ
88によって指定されるアドレスのメモリ90のデータ
が順次読み出され、デコーダ/ドライ八゛92へ出力さ
れ、そこでL E D表示器を駆動する型式の信号に変
換されり、 E D表示器94のそれぞれの表示素子へ
出力され、そして、読み出された少数点情報は、増幅器
98を介してL P、 D表示器94に人力される。一
方、アドレスカウンタ86からアドレス信号を受けるア
ドレスデコーダ96は、アドレス信号によって指定され
るL E D表示器の各表示素子を順次高速度で駆動し
、メモリ90からのデータをL E D表示器に表示せ
しめる。
The display device 56 includes an address counter 86, an address selector 88, and a memory 90, such as a random access memory.
, a decoder/driver 92, an I/ED display 94 consisting of, for example, seven display elements, an address decoder 96,
Further, drive amplifiers 98 and 100 are provided. The address counter 86 receives a clock signal B from a clock pulse generator (not shown) and outputs an address signal corresponding to each display element of the LED display 94 at a constant cycle. Data to be displayed is input via data bus 46a to an address in memory 90 specified by address selector 88, which receives the address signal of microprocessor 46 from memory 70, and is stored therein. When a series of data is thus transferred from the memory 70 to the memory 90 and stored, the memory 90 at the address specified by the address selector 88 receives the periodically changing address signal from the address counter 86. The data is sequentially read out and output to a decoder/driver 892, where it is converted into a signal of the type that drives the LED display, output to each display element of the LED display 94, and , the read decimal point information is input to the LP, D display 94 via the amplifier 98. On the other hand, an address decoder 96 that receives an address signal from the address counter 86 sequentially drives each display element of the LED display specified by the address signal at high speed, and transfers the data from the memory 90 to the LED display. Display it.

次に第2図に示す装置の動作を説明する。メモリ68の
固定記憶装置には、以下に説明する動作の全プログラム
が記憶されており、順次読み出されてマイクロプロセッ
サ46により実行される。
Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 2 will be explained. All programs for the operations described below are stored in the fixed storage device of the memory 68, and are sequentially read out and executed by the microprocessor 46.

さて、モード切換スイッチ48をテストモードに設定し
て、装置を始動させると、第3A図から第3C図に示す
如き処理が実行される。テストモードがスタートすると
、まず最初にブザー80がリセットされ、次いで、テス
トデータを記憶すべきメモリ70のアドレスが指定され
る。例えばアドレスXoが指定される。そして、短波長
モードにセットされ、出力ポート54及び増幅器78を
介して切換スイッチ12及び32が短波長モードに切換
られる。更に、内部モードにセットされ、出力ポート5
4及び増幅器76を介してモータ82へ駆動信号が供給
され、チョッパ18によって内部光路22が確立される
。そこにおいて、内部光量レベルのチェックを実施し、
レベル正常の時には、メモリ70のアドレスXoの場所
にゼロを記憶せしめ、レベルが基準値以下の時には、1
を記憶せしめると共に、次のデータ記憶のために、アド
レス番号を1つ少ない番号に即ちアドレス(Xo−1)
を指定する。
Now, when the mode selector switch 48 is set to the test mode and the apparatus is started, the processes shown in FIGS. 3A to 3C are executed. When the test mode starts, the buzzer 80 is first reset, and then the address of the memory 70 where test data is to be stored is specified. For example, address Xo is specified. Then, the short wavelength mode is set, and the changeover switches 12 and 32 are switched to the short wavelength mode via the output port 54 and the amplifier 78. Furthermore, it is set to internal mode and output port 5
A drive signal is provided to motor 82 via 4 and amplifier 76, and internal optical path 22 is established by chopper 18. There, we checked the internal light level,
When the level is normal, zero is stored at address Xo in the memory 70, and when the level is below the reference value, 1 is stored.
At the same time, in order to store the next data, the address number is decreased by one, that is, address (Xo-1).
Specify.

次いで、AGC機能(不図示)を動作させ゛ζ光量レベ
ルが正常かどうかチェックする。このAGCの機能チェ
ックは、内部モードにおいては、AGC回路の入力信号
レベルが回路構成上、規定レベルの範囲内にあることを
利用して、それに対応する範囲内にAGC[1lil路
の制御電圧があるか否かを判断している。正常の場合、
メモリ70のアドレス(Xo−1)にゼロを記憶せしめ
、不良の場合、2を記憶せしめ、そして、次のアドレス
(Xo−2)を指定する。そのあと、内部モードにおい
て短波長モードでカウンタ計数をチェックし、正常の場
合、メモリ70のアドレス(Xo −2)にゼロを入力
し、不良の場合、4を入力すると共に、次のアドレス(
Xo−3)を指定する。
Next, the AGC function (not shown) is operated to check whether the ζ light amount level is normal. This AGC function check takes advantage of the fact that in internal mode, the input signal level of the AGC circuit is within the specified level range due to the circuit configuration, and the control voltage of the AGC [1lil path is within the corresponding range. We are determining whether or not there is. If normal,
Zero is stored in the address (Xo-1) of the memory 70, 2 is stored in the case of a defect, and the next address (Xo-2) is specified. After that, the counter count is checked in the short wavelength mode in the internal mode, and if it is normal, zero is input to the address (Xo -2) of the memory 70, and if it is defective, 4 is input and the next address (Xo -2) is input.
Xo-3).

このカウンタ計数チェックは、前述内部光量レベルチェ
ソク時及び、AGC機能機能チェックおいて、内部光路
における位相差信号名200回をカウンタ42で計数し
、メモリ70に記憶しておき、マイクロプロセッサ46
でこれら2個のデータを演算処理して、バラツキ判定を
する。
This counter counting check is performed by counting 200 phase difference signal names in the internal optical path using the counter 42 and storing them in the memory 70 during the internal light intensity level check and AGC function check.
These two pieces of data are subjected to arithmetic processing to determine the dispersion.

次いで、内部モードを外部モードに切換え、光量レベル
が規定値以上あるかどうかをチェックし、規定値以上の
場合、ブザー80を吹鳴せしめてオペレータに光波距離
計とプリズム24が照射された旨合図し、一方、規定値
以下の場合、ブザー80を消音して、照準されていない
旨合図し、次のステップに進む。そのステップにおいて
、長波長モードにあるかどうかチェックし、長波長モー
ドにない場合、長波長モードに切換え、第3A図のステ
ップBへ戻り、外部モードを内部モードに切換え、長波
長モードにおける内部光路の光量レベルをチェックする
。正常の場合、メモリ70のアドレス(Xo−3)にゼ
ロを人力し、不良の場合、1を入力し、次のアドレス(
Xo−4)を指定する。次いで、長波長モードにおける
内部光路でのAGC機能のチェックを実施し、その結果
をメモリ70のアドレス(Xo−4)に記憶する。
Next, the internal mode is switched to the external mode, and it is checked whether the light intensity level is above the specified value. If it is above the specified value, the buzzer 80 is sounded to signal to the operator that the light wave distance meter and prism 24 are illuminated. On the other hand, if the value is below the specified value, the buzzer 80 is muted to signal that the target is not aimed, and the process proceeds to the next step. In that step, it is checked whether it is in long wavelength mode, and if it is not in long wavelength mode, it switches to long wavelength mode, returns to step B of FIG. Check the light level. If it is normal, input a zero to the address (Xo-3) of the memory 70, if it is defective, input a 1 and move to the next address (Xo-3).
Xo-4). Next, the AGC function is checked on the internal optical path in the long wavelength mode, and the result is stored in the address (Xo-4) of the memory 70.

そのあと、長波長モードにおいて内部光路を使用してカ
ウンタの計数チェックを実施し、正常の場合、アドレス
(Xo−5)にゼロを入力し、不良の場合4を入力する
。次いで、外部モートに切換え、光量レベルが規定値以
−1−であるかどうかチェックし、そして、長波長モー
ドにあるかどうかチェックし、長波長モードにある場合
次のステップへ進む。即ら、オフセントスインチ58が
正常かどうかチェックし、正常の場合、メモリ70のア
ドレス(Xo−6)にゼロを入力し、不良の場合2を入
力する。このオフセン1〜・スイッチのチェックは、同
スイッチをBCDコートで使用することにより、各桁が
“9”以下であるか否かをチェックするものである。次
いで、PPMスイッチ62をチェックし、正常の場合メ
モリ70のアドレス(Xo−7)にゼロを入力し、不良
の場合1を入力する。このPPMスイッチのチェックは
、同スイッチがロータリ・スイッチであり、唯一の接点
のみが ONしていることを利用し、2個以上の接点が
接続されている時又は、いずれも接続されていない時は
エラーとするものである。
Thereafter, a count check of the counter is performed using the internal optical path in the long wavelength mode, and if it is normal, zero is input to the address (Xo-5), and if it is defective, 4 is input. Next, it is switched to the external mode, it is checked whether the light intensity level is -1- or less than the specified value, it is checked whether it is in the long wavelength mode, and if it is in the long wavelength mode, it proceeds to the next step. That is, it is checked whether the offset inch 58 is normal, and if it is normal, zero is input to the address (Xo-6) of the memory 70, and if it is defective, 2 is input. This off-sen 1-- switch check is to check whether each digit is "9" or less by using the same switch in a BCD coat. Next, the PPM switch 62 is checked, and if it is normal, zero is input into the address (Xo-7) of the memory 70, and if it is defective, 1 is input. This PPM switch is checked by using the fact that the switch is a rotary switch and only one contact is ON, and when two or more contacts are connected or none of them are connected. is considered an error.

そのあと、モードスイッチ48のチェックを実行し、正
常の場合、メモリ70のアドレス(X。
After that, check the mode switch 48, and if it is normal, address (X) of the memory 70.

−8)にゼロを記憶し、不良の場合2を記憶する。-8) is stored as zero, and if it is defective, 2 is stored.

このモード・スイッチのチェックは、3モードのトグル
・スイッチを利用し、一方の接点が接続されている時、
テスト・モードとし、他方が接続されている時は粗測定
モードにし、両方が接続されていない時は精密測定モー
ドとする。従って両方が接続されている時はエラーとす
るものである。
This mode switch check uses a 3-mode toggle switch, and when one contact is connected,
It is in test mode, and when the other is connected, it is in coarse measurement mode, and when both are not connected, it is in precision measurement mode. Therefore, if both are connected, an error will occur.

次いで、メータ/フィート切換スイッチ50が正常かど
うかチェックし、正常の場合メモリ70のアドレス(X
o−9)にゼロを記憶し、不良の場合4を記憶する。こ
のメータ・フィート・スイッチのチェックは2モードの
トグルスイッチを使用し、一方が接続されていればメー
タ、他方が接続されていれば、フィートとする。従って
両方が接続されていない時はエラーとするものである。
Next, it is checked whether the meter/feet changeover switch 50 is normal, and if it is normal, the address (X
Zero is stored in o-9), and 4 is stored in case of failure. This meter/feet switch check uses a two-mode toggle switch; if one is connected, it's a meter, and if the other is connected, it's a foot. Therefore, if both are not connected, an error will occur.

最後に、アドレスXo〜(Xo−9)に記憶されている
値がすべてゼロであるかどうかチェックし、すべてゼロ
の場合、表示器94の各桁に対応するメモリ90のアド
レス「8」を入力させ、LED表示器の7桁の表示素子
にすべて「8」を表示させて、同時に各表示素子のチェ
ックを行う。
Finally, check whether the values stored in addresses Xo to (Xo-9) are all zeros, and if they are all zeros, enter the address "8" in the memory 90 that corresponds to each digit on the display 94. Then, all seven digit display elements of the LED display display "8", and each display element is checked at the same time.

アドレスXo〜(Xo−9)の記憶値がすべてゼロでな
い場合には、次のような演算を実施する。
If the stored values at addresses Xo to (Xo-9) are all non-zero, the following calculation is performed.

M(Xo−9)十M(Xo−8)+M(Xo−7)  
−M(D7)  ・−=+11M(Xo−6)+M(X
o−5)+M(Xo−3) −M(D6) −・・・+
21M(Xo−2)+M(Xo−1)+MXo   =
M(Ds) −−+31そして、式(1)の演算結果を
、L E D表示器94の最上位の桁の表示素子に対応
するメモリ90のアドレスD、に記憶せしめ、そして、
式(2)及び式(3)の演算結果を、L E D表示器
94の最上位から2番目と3番目の桁の表示素子に対応
する。メモリ90のアドレスD6及びD5にそれぞれ記
1αせしめて、L ED表示器94の上位3桁にチェッ
クの結果を表示させる。各桁の数値とチェック結果との
関係を第4図に示す。不良表示の数値が1.2.4であ
り、2又は3個の和の組合せで同一の値を取るものがな
いので、何か不良であるオペレータに日忍識させること
力(できる。例えばr150Jと表示された場合、PP
Mスイッチの不良、長波長モードにおける内部光路の光
量低下及び長波長モードにおける内部光路でのカウンタ
計数結果不良があることがわかる。又、不良表示の数字
が大きくなればなる程、例えば、表示6は2と4を複合
した、また表示7は1と2と4を複合した不良状況であ
ることが示され、複数の不良度合が瞬時にして認識可能
である。
M(Xo-9) 10M(Xo-8)+M(Xo-7)
-M(D7) ・-=+11M(Xo-6)+M(X
o-5) +M(Xo-3) -M(D6) -...+
21M(Xo-2)+M(Xo-1)+MXo=
M(Ds) −−+31 Then, the calculation result of formula (1) is stored in the address D of the memory 90 corresponding to the display element of the most significant digit of the LED display 94, and,
The calculation results of equations (2) and (3) are made to correspond to the display elements of the second and third digits from the top of the LED display 94. Addresses D6 and D5 of the memory 90 are respectively written with 1α, and the result of the check is displayed on the upper three digits of the LED display 94. FIG. 4 shows the relationship between the numerical value of each digit and the check result. The numerical value of the defect display is 1.2.4, and there are no combinations of 2 or 3 sums that take the same value, so it is possible to make the operator aware that something is defective (for example, R150J). If it is displayed, PP
It can be seen that there is a defect in the M switch, a decrease in the amount of light in the internal optical path in the long wavelength mode, and a defect in the counter counting result in the internal optical path in the long wavelength mode. In addition, as the number of failure indications increases, for example, indication 6 is a combination of 2 and 4, and indication 7 is a combination of 1, 2, and 4. can be instantly recognized.

AGCの機能のチェックは、短波長モードで実施すれば
十分であるので、長波長モードでのチェックはとばして
もよい。また、チェック結果を3桁の数字にして表示し
たが、9個の表示素子に別別に表示されてもよい。更に
また、機能チェックの対象は、それぞれ任意に選択する
ことができる。
Since it is sufficient to check the AGC function in short wavelength mode, checking in long wavelength mode may be skipped. Further, although the check results are displayed as three-digit numbers, they may be displayed separately on nine display elements. Furthermore, the targets of the function check can be selected arbitrarily.

次に、モード切換スイッチ48を精密測定モードに切換
えた時の動作を説明する。なお、粗測定モードにおける
測定は、精密測定モードにおいて、長複画波長モードで
、各2回の測定を実施し、信軽度の判定をした後、各波
長の1回目の測定値を処理する(即ち、平均値を求めな
い)ことに類似するので省略する。(なお、粗測定モー
ドでは、測定プロセスは表示しない) 精密測定モードにおいては、メモリ68に設定された測
定プログラムは、5つの測定プロセスに分割され、第1
測定プロセスにおいては長波長モードで5回の距離測定
が実施され、第2測定プロセスにおいて長波長モードで
の5つの測定値の信頼度が判定され且つ平均値が求めら
れ、第3測定プロセスにおいて短波長モードで5回の距
離測定が実施され、第4測定プロセスにおいて短波長モ
ードでの5つの測定値の信頼度が判定され且つ平均値が
求められ、そして第5測定プロセスにおいて長波長モー
ドでの測定値の平均値と短波長モードでの測定値の平均
値との桁合せ結合処理が実施され、測定値が表示きれる
Next, the operation when the mode selector switch 48 is switched to the precision measurement mode will be explained. Note that for measurements in coarse measurement mode, measurements are performed twice each in precision measurement mode and long multiple wavelength mode, and after determining reliability, the first measurement value of each wavelength is processed ( That is, the average value is not calculated), so it will be omitted. (In addition, in the rough measurement mode, the measurement process is not displayed.) In the precision measurement mode, the measurement program set in the memory 68 is divided into five measurement processes.
In the measurement process, five distance measurements are carried out in long wavelength mode, in the second measurement process the reliability of the five measurements in long wavelength mode is determined and the average value is determined, and in the third measurement process the short and long distance measurements are determined. Five distance measurements are carried out in wavelength mode, in a fourth measurement process the reliability of the five measurements in short wavelength mode is determined and the average value is determined, and in a fifth measurement process in long wavelength mode. Digit alignment and combination processing is performed between the average value of the measured values and the average value of the measured values in the short wavelength mode, and the measured values can be displayed completely.

詳細に述べるならば、第5A図から第5C図のフローチ
ャートに示す如く、精密測定モードの開始においてまず
表示タイマ(不図示)がリセットされる。この表示タイ
マは、距離測定値の表示している時間をセットするもの
であり、測定値を表示器94に表示する際精密測定モー
ドにおける正常測定所要時間約6秒吉はぼ等しく、セッ
トされる。測定条件が悪く、測定所要時間が6秒を越え
ると、表示タイマはリセットされ、前回の測定値表示は
消去され、現在実行中の測定プロセスが表示器94に表
示されるものである。
More specifically, as shown in the flowcharts of FIGS. 5A to 5C, at the start of the precision measurement mode, a display timer (not shown) is first reset. This display timer is used to set the time during which the distance measurement value is displayed, and is set so that the time required for normal measurement in precision measurement mode is approximately 6 seconds when displaying the measurement value on the display 94. . If the measurement conditions are poor and the time required for measurement exceeds 6 seconds, the display timer is reset, the display of the previous measurement value is erased, and the measurement process currently being executed is displayed on the display 94.

次いで、測定プロセス番号をu1″にセントして、メモ
リ70に記4Mせしめる。そして、長波長モードにセッ
トし、ブザー8oをリセット状態に保持する。そのあと
、表示タイマのリセット状態をT11認して、測定プロ
セスをLIED表示器94に表示する。即ち、この状態
においては測定プロセス番号は1であり、例えばLED
表示器94の最下位桁の小数点に対応するメモリ9oの
場所に、メモリ70の記憶に基づいて付勢信号を出力し
て記憶せしめ、L E D表示器94の最下位桁の小数
点を点灯せしめる。これにより現在第1測定プロセスが
実行されていることがオペレータに表示される。次に、
外部モードにセットされ、外部モード測定の位相差が計
数される。これは、前述の如くタイミングカウンタ44
によって制御され、例えば200個の位相差パルスのパ
ルス幅に相当する計数値が得られ、一時的に記憶される
。そのあと、計数期間中に外部光量が適正であったかど
うかチェックされ、不良であった場合、その記憶が消去
され、再び外部モード測定において位相差を計数し、適
正であった場合、内部モードに切換えられる。そして、
内部モードにおける位相差が計数されて一時記憶され、
外部モードでの計数値と内部モードでの計数値の差が求
められ、実距離データとしてメモリ70に記憶される。
Next, the measurement process number is written to u1'' and recorded in the memory 70 to 4M.Then, the long wavelength mode is set and the buzzer 8o is held in the reset state.Then, the reset state of the display timer is confirmed at T11. Then, the measurement process is displayed on the LIED display 94. That is, in this state, the measurement process number is 1, and for example, the measurement process is displayed on the LIED display 94.
An energizing signal is outputted to the location of the memory 9o corresponding to the decimal point of the lowest digit of the display 94 based on the memory 70 to cause the decimal point of the lowest digit of the LED display 94 to light up. . This indicates to the operator that the first measurement process is currently being executed. next,
Set to external mode, phase difference of external mode measurement is counted. This is done by the timing counter 44 as described above.
For example, a count value corresponding to the pulse width of 200 phase difference pulses is obtained and temporarily stored. After that, during the counting period, it is checked whether the amount of external light is appropriate. If it is defective, the memory is erased, and the phase difference is counted again in external mode measurement. If it is appropriate, it is switched to internal mode. It will be done. and,
The phase difference in the internal mode is counted and temporarily stored,
The difference between the count value in the external mode and the count value in the internal mode is determined and stored in the memory 70 as actual distance data.

次いで、メモリ70に記憶された実距離データが5個に
達したかどうかを判別し、5個に達していない場合には
、第5A図に示す如く外部モードセットに再び戻り、実
距離データの測定−計算プロセスが繰返される。5個に
達した場合には、測定プロセス番号に「+1」を加えて
、メモリ70に記憶されている測定プロセス番号「2」
とする。そのあと、表示タイマのリセット状態を確認し
て、測定プロセスを表示する。この時、メモリ90の記
憶が消去され、L E D表示器94の最下位桁より1
つ上の桁の小数点に対応するメモリ90の場所に、メモ
リ70の記憶に基づいて付勢信号が出力されて記憶され
、LED表示器94の最下位桁より1つの上の桁の小数
点が、点灯せしめられる。そして、測定結果の信頼度即
ちバラツキを判定するために、メモリ70に記憶された
5個の実距離データの中から最大値と最小値とを選択し
、そして、その選択した最大値と最小値との差が許容値
ε以下であるかどうかを判別する。許容値εを越えた場
合、メモリ70に記憶されているその最大値と最小値と
を消去し、測定プロセス番号に「−1」を加えて、第5
A図のEに戻り、長波長モードにおいて更に2回の測定
を繰返す。従って、この時には、LED表示器94の最
下位桁の小数点が再び点灯される。最大値と最小値との
差が許容値ε以下の時には、5個の★距離データの平均
値を求めて、メモリ70に記憶させ、次いで、測定プロ
セス番号に「+1」を加える。
Next, it is determined whether the actual distance data stored in the memory 70 has reached 5 pieces, and if the number has not reached 5 pieces, the process returns to the external mode set again as shown in FIG. 5A, and the actual distance data is stored. The measurement-calculation process is repeated. When the number reaches 5, "+1" is added to the measurement process number and the measurement process number stored in the memory 70 is "2".
shall be. Then, check the reset status of the display timer and display the measurement process. At this time, the memory in the memory 90 is erased, and 1 from the lowest digit of the LED display 94
An energizing signal is outputted and stored in the memory 90 at a location corresponding to the decimal point of the next higher digit based on the memory in the memory 70, and the decimal point of the LED display 94 one higher than the lowest digit is It will be turned on. Then, in order to judge the reliability of the measurement results, that is, the variation, the maximum value and minimum value are selected from among the five pieces of actual distance data stored in the memory 70, and the selected maximum value and minimum value are It is determined whether the difference is less than or equal to the allowable value ε. If the tolerance value ε is exceeded, the maximum and minimum values stored in the memory 70 are deleted, "-1" is added to the measurement process number, and the fifth
Returning to E in Figure A, repeat the measurement two more times in the long wavelength mode. Therefore, at this time, the decimal point of the least significant digit of the LED display 94 is lit again. When the difference between the maximum value and the minimum value is less than the allowable value ε, the average value of the five * distance data is calculated and stored in the memory 70, and then "+1" is added to the measurement process number.

そのあと、短波長モード測定が終了したかどうかを判別
し、終了していない場合には、短波長モ−ドに切換えて
、第5A図のEに戻り、短波長モードにおいて5個の実
距離データを求め、その平均値を求める。短波長モード
での測定中には、L E D表示器94の下3桁目の小
数点が点灯され、短波長モードでの5つの実距離データ
のバラツキ判定及び平均値演算の間は、L E D表示
器94の下4桁目の小数点が点灯される。
After that, it is determined whether the short wavelength mode measurement has been completed, and if it has not been completed, the mode is switched to the short wavelength mode, and the process returns to E in Fig. 5A, and the five actual distances are measured in the short wavelength mode. Find the data and find the average value. During measurement in the short wavelength mode, the decimal point in the last third digit of the LED display 94 lights up, and during the dispersion determination and average value calculation of the five actual distance data in the short wavelength mode, the LED indicator 94 lights up. The decimal point in the fourth lower digit of the D display 94 is lit.

そのようにして、短波長モードにおける測定及び平均値
の演算が終了すると、第5C図に示す如く、測定プロセ
スの表示が行われ、L E D表示器94の下から5桁
目の小数点が点灯される。そして、メモリ70に記憶さ
れている長波長モードと短波長モードでの実距離データ
の平均値の桁合せ結合が可能かど・うかを次のようにし
て判断して桁合せ結合を実行する。
When the measurement in the short wavelength mode and the calculation of the average value are completed in this way, the measurement process is displayed as shown in FIG. 5C, and the decimal point at the fifth digit from the bottom of the LED display 94 lights up. be done. Then, it is determined as follows whether digit matching and combining of the average values of the actual distance data in the long wavelength mode and short wavelength mode stored in the memory 70 is possible, and the digit matching and combining is executed.

前述した如く、長波長モードにおける測定の範囲は、O
,Ornから1999.8mであり、短波長モート′に
おりる測定範囲は、0.000 mから9.999mで
ある。そこで桁合せ結合は、量モードで得られたデータ
のm単位の桁の数値を比較して、両者が一致するように
補正する。しかし、補正量が大きい場合は、測定データ
に信転性がないと考えられるので、その場合には、全測
定データを破棄して、第5A図のGに戻り、全測定プロ
セスを改めて実行する。例えば、最大補正量を2mと制
限し、長波長データのm単位の数値と短波長データのm
単位の数値との差が2m以下の時、短波長データを優先
させて両データを結合する。例を挙げるならば、長波長
データ平均値が110.6mであり、短波長データ平均
値が8.215mである場合には、合成値は108.2
15mとする。
As mentioned above, the measurement range in long wavelength mode is O
, 1999.8 m from Orn, and the measurement range of the short wavelength moat' is from 0.000 m to 9.999 m. Therefore, in the digit matching and combination, the numerical values of the m-unit digits of the data obtained in the quantity mode are compared and corrected so that the two match. However, if the amount of correction is large, the measurement data is considered to be unreliable, so in that case, discard all measurement data, return to G in Figure 5A, and execute the entire measurement process again. . For example, if the maximum correction amount is limited to 2 m, and the value in units of m for long wavelength data and m for short wavelength data are
When the difference from the unit value is 2 m or less, the shorter wavelength data is given priority and both data are combined. For example, if the long wavelength data average value is 110.6 m and the short wavelength data average value is 8.215 m, the combined value is 108.2 m.
The length shall be 15m.

このようにして桁合せ結合が終了したあと、合成値にオ
フセ・シト補正及びPPM補正を施し、そして必要な場
合、メートル/フィート交換を行う。
After completing the digit alignment and combination in this manner, offset/sight correction and PPM correction are applied to the composite value, and if necessary, meter/feet exchange is performed.

そして、表示タイマをセットし、ブザー80をセットし
てブザーを吹鳴してオペレータに測定が終了したことを
知らせしめ、測定値をメモリ3へ転送して、L E D
表示器94に表示させる。
Then, the display timer is set, the buzzer 80 is set and the buzzer sounds to notify the operator that the measurement has been completed, the measured value is transferred to the memory 3, and the L E D
It is displayed on the display 94.

上述した如き測定プロセスの実行とLED表示器による
実行中の測定プロセスの表示との関係を示すと第6図の
如くなる。
The relationship between the execution of the measurement process as described above and the display of the measurement process being executed by the LED display is shown in FIG.

また、第6図に示す如く、小数点を点灯する代りに、第
7図に示す如く、測定プロセスが進行してゆ(に従いL
ED表示器の表示素子の中央水平セグメントを最下位か
ら順次点灯させてゆくようにすることもできる。この場
合には、測定プロセスが進行するに従い、LED表示器
の点灯横棒が延びてゆく感じを与えることができる。ま
た、第8図の如く、点灯小数点を増加させてゆくことも
できる。さらに、第9図に示す如く、最下位の桁に進行
中の測定プロセスの番号を表示させるようにしてもよい
Also, instead of lighting up the decimal point as shown in FIG. 6, as shown in FIG.
It is also possible to light up the central horizontal segments of the display elements of the ED display sequentially starting from the lowest one. In this case, it is possible to give the impression that the illuminated horizontal bar of the LED indicator is extending as the measurement process progresses. Furthermore, as shown in FIG. 8, the number of lit decimal points can be increased. Furthermore, as shown in FIG. 9, the number of the measurement process in progress may be displayed in the lowest digit.

また、測定プロセスを5つでなく3つに分け、第1測定
プロセスと第2測定プロセスとを1つにまとめ、第3測
定プロセスと第4測定プロセスとを1つにまとめるよう
にしてもよい。反対に、測定プロセスを6以上、例えば
7つに分割するようにして、実行測定プロセスの表示を
行うこともできる。
Alternatively, the measurement process may be divided into three instead of five, the first measurement process and the second measurement process may be combined into one, and the third measurement process and the fourth measurement process may be combined into one. . Conversely, it is also possible to display the executed measurement process by dividing the measurement process into six or more, for example seven.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、光波距離計の概略構成を示すブロック図、第
2図は、第1図の演算制御装置の構成を示すブロック図
、第3A図、第3B図及び第3C図は、第1図に示した
光波距離計がテストモードにある時の動作のフローチャ
ート、第4図は、テストモードにおけるチェック結果の
表示態様を示す図、第5A図、第5B図及び第5C図は
、第1図に示した光波距離計の精密測定モードの動作の
フローチャート、そして、第6図、第7図、第8図及び
第9図は、それぞれ測定プロセス表示態様を示す図であ
る。 10・・・発信器  12.32・・・切換スイッチ1
4・・・発光ダイオード  16・・・演算制御装置1
8・・・チョッパ  20・・・外部光路22・・・内
部光路  24・・・プリズム26・・・可変光減衰器
  28・・・受光ダイオード30・・・混合器   
34・・・シンセサイザ36・・・位相測定器 43・・・アソプダウンカウンタ 44・・・タイミングカウンタ 46・・・マイクロプロセッサ 94・・・L E D表示器 特許出願人   東京光学機械株式会社ローーーーー− ■ ■ χ 一一一一−−−−−−−コ ′O(I ■ 瑚    7.1    諭 1   ミ B      −1’に Iジ毫ン 1どど S I      ′ 〉1 −           J )     k   (′    っ 町 と         ′5   ゝ (。 陵 七へ ℃0
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a light wave distance meter, FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an arithmetic and control unit in FIG. 1, and FIGS. A flowchart of the operation when the optical distance meter shown in the figure is in the test mode, FIG. 4 is a diagram showing the display mode of the check result in the test mode, and FIGS. The flowchart of the operation of the precision measurement mode of the light wave distance meter shown in the figure, and FIGS. 6, 7, 8, and 9 are diagrams showing the measurement process display mode, respectively. 10... Transmitter 12.32... Changeover switch 1
4... Light emitting diode 16... Arithmetic control device 1
8... Chopper 20... External optical path 22... Internal optical path 24... Prism 26... Variable optical attenuator 28... Light receiving diode 30... Mixer
34... Synthesizer 36... Phase measuring device 43... Asop down counter 44... Timing counter 46... Microprocessor 94... LED display Patent applicant Tokyo Kogaku Kikai Co., Ltd. ■■ Town and '5 ゝ(. To Ryoshichi ℃0

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)予めプログラムされたステップに従って距離測定
を実行し、その測定データを表示する表示部を有する光
波距離計において、光波距離計の各部の機能チェックを
実行し、そのチェックデータを記憶装置に一時貯え、そ
のチェックデータをそれぞれ所定の数値に対応させ、そ
の対応した数値相互の累積値が上記数値に一致しないよ
うな関係とし、複数の機能チェックデータを上記数値の
累積値として上記表示部に表示し、複数の機能チェック
が同時に認識できるようにしたことを特徴とするセルフ
チェック機能を有する光波距離計。
(1) In a light wave distance meter that measures distance according to pre-programmed steps and has a display section that displays the measured data, performs a function check of each part of the light wave distance meter, and temporarily stores the check data in a storage device. The check data is stored and each of the check data corresponds to a predetermined numerical value, and the cumulative value of the corresponding numerical values is in a relationship that does not match the above numerical value, and the plurality of function check data are displayed on the display section as the cumulative value of the numerical value. A light wave distance meter with a self-check function, characterized in that multiple function checks can be recognized at the same time.
(2)上記複数の機能チェックデータを示す数値の累積
値を複数求め、これと上記表示部の複数の桁に表示した
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のセルフ
チェック機能を有する光波距離計。
(2) The self-check function according to claim 1, characterized in that a plurality of cumulative values of numerical values indicating the plurality of function check data are obtained and displayed on a plurality of digits of the display section. A light wave distance meter.
JP14608585A 1985-07-03 1985-07-03 Optical distance measuring device having self-checking function Pending JPS6122281A (en)

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