JPS61219962A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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JPS61219962A
JPS61219962A JP6116585A JP6116585A JPS61219962A JP S61219962 A JPS61219962 A JP S61219962A JP 6116585 A JP6116585 A JP 6116585A JP 6116585 A JP6116585 A JP 6116585A JP S61219962 A JPS61219962 A JP S61219962A
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JP
Japan
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layer
buffer layer
surface layer
photoreceptor
electrophotographic photoreceptor
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Application number
JP6116585A
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Japanese (ja)
Inventor
Toyoki Kazama
風間 豊喜
Kiyoto Yamaguchi
山口 希世登
Koichi Aizawa
宏一 会沢
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
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    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers

Abstract

PURPOSE:To prevent deterioration and to improve an image by laminating a photoconductive layer of amorphous silicon (a-Si) type and an a-Si type buffer layer and a surface layer made of a specified a-C hydride on a conductive substrate. CONSTITUTION:A blocking layer 121 is formed on the conductive substrate 110 to block injection of electrostatic charge from the substrate 110, the photoconductive layer 122 made of a-Si is formed on the layer 121 to exhibit charge acceptance and photosensitivity, further, the buffer layer 123 made of a-Si carbide-hydride [a-Si1-xCx(H), 0<x<1] is formed in a thickness of 0.03-1mum to electrically match the photoconductive layer 122 to the surface layer 130, and this surface layer made of a-C hydride contg. 10-40atom% H is formed on the buffer layer 123 to ensure humidity resistance and printing resistance, thus permitting humidity resistance and printing resistance to be enhanced and photosensitivity and spectral sensitivity to be improved by the presence of the specified buffer layer and the specified surface layer.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明はアモルファスシリコン系の感光層を有する電子
写真感光体に関する吃のである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field to which the Invention Pertains] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having an amorphous silicon-based photosensitive layer.

〔従来技術とその問題点〕[Prior art and its problems]

従来、電子写真感光体として例えばアモルファスBe 
、ま九はアモルファスBe KAII 、 To + 
13bなどの不純物をドープした光導電性材料を用いた
感光体、性、ll境汚染性9機械的強度の点で問題があ
る。
Conventionally, for example, amorphous Be was used as an electrophotographic photoreceptor.
, Maku is amorphous Be KAII , To +
Photoreceptors using photoconductive materials doped with impurities such as 13b have problems in terms of mechanical strength, environmental contamination, and mechanical strength.

近年、光導電性材料としてアモルファスシリコン(−−
St)を用いることによって、これら従来の電子写真感
光体の欠点を解決する技術が提案されている。蒸着ある
いはスパッタリングによって作製されたa−8iは暗所
での比抵抗が100・鋸と低く、また、光導電度が極め
て小さいので電子写真感光体用の光導電性材料としては
望ましくない。
In recent years, amorphous silicon (--
A technique has been proposed to solve the drawbacks of these conventional electrophotographic photoreceptors by using St. A-8i produced by vapor deposition or sputtering has a low specific resistance of 100 cm in the dark and extremely low photoconductivity, so it is not desirable as a photoconductive material for electrophotographic photoreceptors.

このよりなa−8iでは、5i−191結合が切れた、
いわゆるダングリングボンドが生成し、この欠陥に起因
してエネルギーギャップ内に多くの局在準位が存在する
。このために熱励起担体のホッピング伝導が生じて暗比
抵抗が小さくなり、また光励起担体が局在準位に捕獲さ
れるために光導電性が悪くなっている。
In this more a-8i, the 5i-191 bond was broken,
So-called dangling bonds are generated, and many localized levels exist within the energy gap due to these defects. For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, which reduces the dark specific resistance, and photoconductivity deteriorates because photoexcited carriers are captured in localized levels.

これに対してシラ/ガス(5tH4)のグロー放電分解
または光CVDによって作製した水素化アモルファスシ
リコン(a−8i(H))では、上記欠陥を水素原子(
6)で捕獲し、SlにH’i結合させることによってダ
ングリングボンドの数を大幅に低減できるので光導電性
が極めて良好にな)、p型およびn型の価電子制御も可
能となったが、暗比抵抗値は108〜10Ω・国であっ
て電子写真感光体として充分な1012Ω・国以上の暗
比抵抗値に対してまだ低い。
On the other hand, in hydrogenated amorphous silicon (a-8i(H)) produced by glow discharge decomposition of silica/gas (5tH4) or photoCVD, the above defects are removed by hydrogen atoms (
6) and by H'i bonding to Sl, the number of dangling bonds can be greatly reduced, resulting in extremely good photoconductivity), and p-type and n-type valence electron control is also possible. However, the dark specific resistance value is 10 8 to 10 Ω·mm, which is still low compared to the dark specific resistance value of 10 12 Ω·mm or more, which is sufficient for an electrophotographic photoreceptor.

従ってこのよりなa −Si (H)  からなる感光
体は表面電位の暗減衰速度が大きく初期帯電位が低い。
Therefore, a photoreceptor made of this stranded a-Si (H) has a high dark decay rate of surface potential and a low initial charging potential.

そこで、このよりなa −sl(gに電荷保持能全付与
するため、はう素を適量ドープすることによシ暗比抵抗
を10120・備以上まで高めることができ、カールソ
ン方式による複写プロセスに適用することを可能にして
いる。
Therefore, in order to give the full charge retention ability to this a-sl (g), the dark specific resistance can be increased to more than 10120 by doping with an appropriate amount of boron, which is suitable for the Carlson method copying process. allows it to be applied.

このようなa−sl(匂を表面とする感光体は初期的に
は良好な画像が得られるものの長期間大気中あるいは高
湿中に保存しておい友後、画像複写した場合しはしは画
像不良を発生することが判明している。また、多数回複
写プロセスを経験するとしだいに画像ぼけを生じてくる
こともわかっている。このような劣化した感光体は特に
高湿中において、画像はけを発生しやすく、複写回数が
増すと画像ぼけを生じ始める臨界湿度はしたいく下がる
傾向があることが確かめられている。
Although a good image can be obtained initially with a photoconductor with a surface coated with A-SL, if it is stored in the atmosphere or in high humidity for a long period of time, it may be difficult to copy the image. It has been found that image defects occur.It is also known that image blurring gradually occurs as the copying process is repeated many times.Such deteriorated photoreceptors are known to cause image defects, especially in high humidity environments. It has been confirmed that the critical humidity at which blurring tends to occur, and as the number of copies increases, the critical humidity at which image blur begins to occur tends to decrease significantly.

上述のごとく、a−sl(<υを表面とする感光体は長
期にわたって大気や湿気にさらされることによシ、ある
いは複写プロセスにおけるコロナ放t&どで生成される
化学種(オゾン、窒素酸化物9発生期酸素など)により
、感光体最表面が影響全受けやすく何らかの化学的な変
質によって画像ネ良を発生するものと考えられているが
、その劣化メカニズムについてはこれまでにまだ十分な
検討はなされていない。このような画像不良の発生を防
止し耐刷性を向上するために、a −8i(H)感光体
の表面に保護層を設けて化学的安定化を図る方法が試み
られている。
As mentioned above, a photoreceptor with a surface of a-sl ( It is believed that the outermost surface of the photoreceptor is susceptible to exposure to nascent oxygen (e.g., oxygen during the nascent stage) and that some kind of chemical alteration causes image blurring, but the mechanism of this deterioration has not yet been fully investigated. In order to prevent the occurrence of such image defects and improve printing durability, a method has been attempted in which a protective layer is provided on the surface of the a-8i (H) photoreceptor to achieve chemical stabilization. There is.

例えば、表面保護層として水素化アモルファス炭化シリ
コン(a−BlxCx−!(H)−0<x<1)、ある
いは水素化アモルファス窒化シリコン(a −SiNx
(H、OH)、0<x(1)を設けることによって感光
体表面層の複写プロセスあるいは環境雰囲気による劣化
を防ぐ方法が知られている(%開昭57−115559
号公報)。しかし、表面保護層中の炭素濃度あるいは窒
素濃度を最適な値に選べは耐刷性をかなり改良すること
ができるが、高湿度雰囲気中(RH80チ以上)での耐
湿性を維持することができず、数万枚の複写プロセスを
経験すると相対湿度60チ台で画像ぼけを発生し、これ
らの表面保護層を付与しても、耐刷性、耐湿性を大幅に
向上することができない状況にある。
For example, hydrogenated amorphous silicon carbide (a-BlxCx-!(H)-0<x<1) or hydrogenated amorphous silicon nitride (a-SiNx
(H, OH), 0<x(1) is known to prevent deterioration of the surface layer of a photoreceptor due to the copying process or environmental atmosphere (% 1985-115559
Publication No.). However, if the carbon concentration or nitrogen concentration in the surface protective layer is selected to an optimal value, printing durability can be considerably improved, but moisture resistance cannot be maintained in a high humidity atmosphere (RH 80 degrees or higher). After undergoing the process of copying tens of thousands of sheets, image blurring occurs at relative humidity levels of 60 degrees, and even with the addition of these surface protective layers, printing durability and moisture resistance cannot be significantly improved. be.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、前述の欠点を除去して、長期保存およ
び繰り返し使用に際しても劣化現象を起こさず、高湿雰
囲気中においても画像不良などの特性の低下がほとんど
観測されない、感光体としての特性が常時安定していて
ほとんど使用環境に制限を受けない耐久性、耐刷性、耐
湿性に優れたa−8i系感光体を提供することにある。
It is an object of the present invention to eliminate the above-mentioned drawbacks, and to provide a photoreceptor with characteristics that does not cause deterioration phenomena even during long-term storage and repeated use, and hardly exhibits any deterioration of characteristics such as image defects even in a high-humidity atmosphere. It is an object of the present invention to provide an a-8i photoreceptor that is always stable and has excellent durability, printing durability, and moisture resistance that are hardly limited by usage environments.

さらに、本発明の他の目的は、光感度が高く、分光感度
も可視域全般にわたっている感光体を提供することであ
る。
Furthermore, another object of the present invention is to provide a photoreceptor having high photosensitivity and spectral sensitivity over the entire visible range.

さらに1本発明の他の目的は、疲労特性に優れかつ比較
的残留電位の低い感光体を提供することKある。
Still another object of the present invention is to provide a photoreceptor with excellent fatigue properties and relatively low residual potential.

〔発明の要点〕[Key points of the invention]

本発明の目的は、電子写真感光体の構成を導電性基体上
に、アモルファスシリコン系の光導電層と、アモルファ
スシリコン系のバッファ層と、水素を10〜40原子チ
含有する水素化アモルファス炭素(IL −(!! (
H) )からなる表面層との少なくとも3つの層を1−
次積層してなる感光体とすることによって達成される。
An object of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor having a structure including an amorphous silicon-based photoconductive layer, an amorphous silicon-based buffer layer, and a hydrogenated amorphous carbon (hydrogenated amorphous carbon) containing 10 to 40 atoms of hydrogen on a conductive substrate. IL-(!! (
H) ) at least three layers with a surface layer consisting of 1-
This can be achieved by laminating layers to form a photoreceptor.

このような構成とすることにより、アモルファスシリコ
ン系光導電層によって良好な帯電性能、光感度を発揮し
、アモルファスシリコン系バッファ層によって光導電層
と表面層との電気的1機械的整合をはかり、水素化アモ
ルファス炭素からなる表面層によって耐刷性、耐湿性。
With this configuration, the amorphous silicon-based photoconductive layer exhibits good charging performance and photosensitivity, and the amorphous silicon-based buffer layer provides electrical and mechanical matching between the photoconductive layer and the surface layer. Printing durability and moisture resistance due to the surface layer made of hydrogenated amorphous carbon.

耐保存性、感光体特性の安定性が確保できる。Storage resistance and stability of photoreceptor characteristics can be ensured.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の感光体について図を参照しながら詳細に
説明する。
Hereinafter, the photoreceptor of the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

本発明による感光体の一例は第1図の概念的断面図に示
した如く、導電性基体110上にブロッキング層121
.光導電層122.バッファ層123および表面層13
0が積層された構造である。
As shown in the conceptual cross-sectional view of FIG. 1, an example of the photoreceptor according to the present invention has a blocking layer 121 formed on a conductive substrate 110.
.. Photoconductive layer 122. Buffer layer 123 and surface layer 13
0 is a stacked structure.

ここで、導電性基体110は円筒状、シート状いずれで
も良く、材質的にはアルミニウム、ステンレスなどの金
属、あるいはガラス、樹脂上に導電処理をほどこしたも
のでも良い。
Here, the conductive substrate 110 may be either cylindrical or sheet-like, and its material may be metal such as aluminum or stainless steel, or glass or resin subjected to conductive treatment.

ブロッキング層121の目的は、導電性基体110から
の電荷の注入を阻止することである。材料的には、 A
l2O3、AIN 、 SiO、510g 、 a−8
i1−zox(F、H)(0<x〈l ) 、 a−8
iNx(H)(0<X<4/3 ) 、a  0(H)
The purpose of blocking layer 121 is to prevent charge injection from conductive substrate 110. In terms of materials, A
l2O3, AIN, SiO, 510g, a-8
i1-zox(F,H)(0<x<l), a-8
iNx(H) (0<X<4/3), a 0(H)
.

弗素化アモルファス炭素(a−c(F))1周期律表■
族、V族の元素などをドープしたa −0(H) 。
Fluorinated amorphous carbon (ac(F)) 1 periodic table ■
a-0(H) doped with group V and group V elements.

a −0(F) 、 ll族、■族の元素などをドープ
したa −81(H) 、などを使用できる。膜厚は、
1μm以下と薄い方が良い。
A-0(F), a-81(H) doped with elements of group II, group II, etc. can be used. The film thickness is
The thinner it is, 1 μm or less, the better.

光導電層122は対象とする光の吸収能に優れかつ光導
電率の大きい材料が好ましく、a −8i(H) 。
The photoconductive layer 122 is preferably made of a material that has excellent absorption ability for target light and high photoconductivity, and is a -8i(H).

a−81(F 、 H)+ a −S土t−xcx(H
) (0<X<OlS )、a−sntx@ (o<x
くo、2)、a−stor@(o<x<o、1)。
a-81 (F, H) + a-S t-xcx (H
) (0<X<OlS), a-sntx@ (o<x
kuo, 2), a-stor@(o<x<o, 1).

a −5t1−xaex (mなどや、これらに周期律
表■族。
a -5t1-xaex (m, etc., and these are group II of the periodic table.

V族の元素などをドープした材料が好ましい。膜厚は3
μm以上60μm以下が実用上好ましい。バツフア層1
23の目的はより基体側の層、例えば光導電層122と
表面層130との材料的異質性を緩和することである。
A material doped with a group V element or the like is preferred. Film thickness is 3
Practically preferred range is from μm to 60 μm. buffer layer 1
The purpose of 23 is to alleviate material heterogeneity between layers closer to the substrate, such as the photoconductive layer 122 and the surface layer 130.

材料的には、a −sl、−xcx (H) (o<x
<1 ) 、 a−8i1−xcx(F 、 H) (
o<x<1 ) 、 a  5iNz(H)(0(X(
4/3) 、 a−8iOx(H) (0<x<2) 
、 a  5iOz(F、H)(0<X<2)などを使
用できる。バッファ層123の膜厚は、分光感度、残留
電位、隣接する層との電気的整合性などの兼ね合いで決
まるが、1μm以下が望ましい。
In terms of materials, a -sl, -xcx (H) (o<x
<1), a-8i1-xcx(F,H) (
o<x<1), a5iNz(H)(0(X(
4/3), a-8iOx(H) (0<x<2)
, a 5iOz(F,H) (0<X<2), etc. can be used. The thickness of the buffer layer 123 is determined based on spectral sensitivity, residual potential, electrical consistency with adjacent layers, etc., and is preferably 1 μm or less.

次に表面層は、水素と炭素を含むアモルファス層(a 
−C(H) )であって、基本的にX線あるいは電子線
による回折像が明確でない膜であり、例え一部に結晶部
を含んだとしてもその比率は低いものである。
Next, the surface layer is an amorphous layer (a
-C(H) ), and is basically a film whose diffraction image by X-rays or electron beams is not clear, and even if it contains some crystal parts, the proportion thereof is low.

a −C(■)表面層中の水素濃度は成膜条件に依存し
て1〜60原子チと変化するが、この成膜条件、すなわ
ち原料ガス、放電パワー、ガス流量、ガス圧、基体温度
などを適切に選定して、水素濃度を10〜40原子チ、
好適には15〜36原子%に制御することが望ましい。
The hydrogen concentration in the a-C(■) surface layer varies from 1 to 60 atoms depending on the film-forming conditions, including the raw material gas, discharge power, gas flow rate, gas pressure, and substrate temperature. By appropriately selecting hydrogen concentration such as 10 to 40 atoms,
It is desirable to control the content to preferably 15 to 36 at.%.

さらにまた、a −C(H)表面層の光学的エネルギー
ギャップFligは2.2eV以上3.28V以下が好
ましく、その屈折率は1.5以上2.6以下が好ましく
、比抵抗は10’〜1015Ωmが好ましく、密度は1
.3 g/ cm3以上が好適である。
Furthermore, the optical energy gap Flig of the a-C(H) surface layer is preferably 2.2 eV or more and 3.28 V or less, the refractive index is preferably 1.5 or more and 2.6 or less, and the specific resistance is 10' to 1015 Ωm is preferable, and the density is 1
.. 3 g/cm3 or more is suitable.

本発明者等の知見によれば、a−C(H)表面層中に含
有される水素原子と炭素原子との結合形態は炭素原子同
志の結合状態を反映しておシ、形成されたa−C@層が
電子写真感光体の表面層として適用され得るか否かを左
右する大きな要因の一つであって重要であることが判明
している。炭素原子同志の結合状態としてはダイアモン
ド結合(四配位)、グラファイト結合(三配位)などが
ある。
According to the findings of the present inventors, the bonding form between hydrogen atoms and carbon atoms contained in the a-C(H) surface layer reflects the bonding state between carbon atoms, and the formed a It has been found that the -C@ layer is one of the major factors that determines whether or not it can be applied as a surface layer of an electrophotographic photoreceptor and is important. Bonding states between carbon atoms include diamond bonds (tetracoordinated) and graphite bonds (tricoordinated).

グラファイト結合や炭素と水素からなるポリマー状結合
(−CHx)nを主体とするa−C(H)$は耐薬品性
に劣シ、また機械的強度にも劣ることが知られておシ、
他方、ダイアモンド結合を主体とするa −C(H)膜
は耐薬品性及び機械的強度に著しくすぐれていることが
知られている。
It is known that a-C(H)$, which is mainly composed of graphite bonds and polymeric bonds (-CHx)n made of carbon and hydrogen, has poor chemical resistance and mechanical strength.
On the other hand, it is known that an a-C(H) film mainly composed of diamond bonds has excellent chemical resistance and mechanical strength.

本発明者等はこの点に鑑みa −0(H)膜の赤外線吸
収スペクトルとその耐薬品性及び機械的強度について鋭
意検討を重ねた結果、a −C! αυ膜の赤外線吸収
スペクトルの中、特定の吸収係数の比とa−O(H)膜
の耐薬品性及び機械的強度との間に特有の関係の存在す
ることを見出した。
In view of this, the present inventors have conducted extensive studies on the infrared absorption spectrum of the a-0(H) film, its chemical resistance, and mechanical strength, and have found that the a-C! It has been found that there is a unique relationship between the ratio of specific absorption coefficients in the infrared absorption spectrum of the αυ film and the chemical resistance and mechanical strength of the aO(H) film.

本発F!Aにおいて、形成される− −0(H)表面層
が電子写真感光体の表面保護層として十分適用させ得る
ためには、a −0(H)表面層の赤外線吸収スペクト
ルの2920 tri’における吸収係数α1と296
0 cm−”における吸収係数α2の比αa/alが0
.8以上とされるのが望ましい。a −C(9)層の吸
収スペクトルの比が上記の数値範囲に限定される理由の
理論的裏付は今のところ明確にされておらず推論の域を
出ないが、次のように考える。
Original F! In order for the -0(H) surface layer formed in A to be sufficiently applied as a surface protective layer of an electrophotographic photoreceptor, the absorption at 2920 tri' of the infrared absorption spectrum of the a-0(H) surface layer is required. Coefficient α1 and 296
The ratio αa/al of the absorption coefficient α2 at 0 cm-” is 0
.. It is desirable that it be 8 or more. The theoretical basis for why the ratio of the absorption spectrum of the a-C(9) layer is limited to the above numerical range has not been clarified at the moment and remains in the realm of speculation, but we think as follows. .

すなわち同じ四配位の結合であっても、2960cti
”に吸収をもつCH3型は機械的、化学的に安定である
が、2920 cm  近辺に吸収をもつOH,型はポ
リマー的に成シ易い可能性がある。数多ぐの実験結果か
ら、上記数値範囲外の吸収係数比では耐薬品性。
In other words, even for the same four-coordinate bond, 2960cti
The CH3 type, which has an absorption at 2920 cm, is mechanically and chemically stable, but the OH type, which has an absorption at around 2920 cm, may be easier to form as a polymer.From numerous experimental results, the above Chemical resistance at absorption coefficient ratios outside the numerical range.

機械的強度に劣ることが認められておシ、該吸収係数比
が上記範囲内にあることが必要条件であることが裏付け
られている。
Although it is recognized that the mechanical strength is inferior, it is confirmed that it is a necessary condition that the absorption coefficient ratio is within the above range.

炭素未結合手の安定化の手段としては水素のみでなく、
弗素、酸素、窒素によっても可能である。
Hydrogen is not the only means of stabilizing carbon dangling bonds.
This is also possible with fluorine, oxygen, and nitrogen.

次に本感光体の製造方法について第2図に概念的系統図
として例示するような製造装置によシ説明する。真空@
210の中にアルミニウム円筒からなる4電性基体22
0を基体保持部221に装着し、る。基体220の温度
全所定温度、例えば50〜350℃になるように保持部
221内のヒータ230および対向電極252のヒータ
231によシ加熱する。保持部221と導電性基体22
0は周方向の膜均一性を出すために回転する。
Next, a method for manufacturing the present photoreceptor will be explained using a manufacturing apparatus as exemplified as a conceptual system diagram in FIG. vacuum@
A tetraelectric substrate 22 made of an aluminum cylinder is placed inside 210.
0 to the base body holder 221. The base body 220 is heated by the heater 230 in the holding part 221 and the heater 231 of the counter electrode 252 so that the total temperature of the base body 220 reaches a predetermined temperature, for example, 50 to 350°C. Holding part 221 and conductive base 22
0 is rotated to achieve uniformity of the film in the circumferential direction.

次に前述のような各層を成膜するに必要な各種の原料ガ
スの圧力容器291〜295の中から成膜に必要なガス
の圧力容器パルプ、例えば281を開け、流jjk調節
計271を通し、ストップパルプ261を開けて、真空
槽210の中に供給する。他のガスについても同様であ
る。次に、槽内圧力(f−所定の圧力、例えば0.00
1〜5 Torr  Ic調整後、高周波(RF) i
lE源250から高周波(x3.56MI(Z )電力
を絶縁材251を介して対向電極252に供給し、25
2と基体220の間にグロー放電を発生させて成膜を行
う。
Next, from among the pressure vessels 291 to 295 containing the various raw material gases necessary for forming each layer as described above, a pressure vessel pulp, e.g. , the stop pulp 261 is opened and fed into the vacuum chamber 210. The same applies to other gases. Next, the tank internal pressure (f - predetermined pressure, for example 0.00
1 to 5 Torr After Ic adjustment, radio frequency (RF) i
High frequency (x3.56MI(Z)) power is supplied from the lE source 250 to the counter electrode 252 via the insulating material 251.
Film formation is performed by generating glow discharge between the substrate 220 and the substrate 220.

第2図には圧力容器およびそれに附属する装置は5セツ
ト示されているが、このセット数は使用するガスの種類
に応じて適宜増減されてよい。
Although five sets of pressure vessels and equipment attached thereto are shown in FIG. 2, the number of sets may be increased or decreased as appropriate depending on the type of gas used.

a−Q (H)表面層の作製条件としては、基体温度は
0〜200℃好適には50〜150℃が望ましく、単位
ガス量当たりのガスの分解に要するエネルギーは300
J / cc 〜20000 J / ccが望ましい
。ガス圧はo、ooユ〜0.5Torr +好適には0
.001〜0.2Torr が望ましい。
a-Q (H) As for the preparation conditions of the surface layer, the substrate temperature is preferably 0 to 200°C, preferably 50 to 150°C, and the energy required to decompose the gas per unit amount of gas is 300°C.
J/cc ~ 20000 J/cc is desirable. Gas pressure is o, oo~0.5 Torr + preferably 0
.. 001 to 0.2 Torr is desirable.

成膜時には、外部からバイアス電圧を加えることも膜質
の制御上有効である。またRF放電の場合は自然にバイ
アスが発生してくる。これを通常は自己バイアスと呼ん
でいるが、このようなバイアス電圧は+100〜500
V 、 −100〜−4500Vが適している。
During film formation, applying a bias voltage from the outside is also effective in controlling film quality. Further, in the case of RF discharge, a bias is naturally generated. This is usually called self-bias, but such a bias voltage is +100 to 500
V, -100 to -4500V is suitable.

以下具体的な実施例により本発明を説明する。The present invention will be explained below with reference to specific examples.

実施例1 トリクロルエチレンで脱脂洗浄したアルミニウμmのブ
ロッキング層121 ft形成した。
Example 1 A blocking layer of 121 ft of aluminum which had been degreased and washed with trichlorethylene was formed.

stH,(xoo%)      流量250cc /
分BgH6(5000ppm、H6−ス)流i  20
cc/分ガス圧       0.5 TorrRF電
力       50 W 基体温度      200℃ 成膜時間      10分 さらにこの上に、次の条件で光導’tLjm 1222
厚さ25μmに形成した。
stH, (xoo%) Flow rate 250cc/
min BgH6 (5000ppm, H6-su) flow i 20
cc/min Gas pressure 0.5 TorrRF power 50 W Substrate temperature 200°C Film forming time 10 minutes Furthermore, light guide was conducted under the following conditions.
It was formed to have a thickness of 25 μm.

SiH,(100チ)     流量200cc /分
BaHs (20ppm 、Haべ〜ス) 流i+t 
 1occ/分ガス圧       1.2 Torr
基体温度      200 C RF電力       300W 成膜時間      3時間 さらにこの上に、次の条件でバッファ層123 tl−
厚さ0.1μmに形成した。
SiH, (100 inches) Flow rate 200cc/min BaHs (20ppm, Habase) Flow rate i+t
1occ/min gas pressure 1.2 Torr
Substrate temperature: 200 C RF power: 300 W Film-forming time: 3 hours Furthermore, a buffer layer 123 tl- was formed on top of this under the following conditions.
It was formed to have a thickness of 0.1 μm.

SiH4(100チ)     流量100cc 7分
CH4(100%)       #、Jl  80c
c 7分BaH6(2000ppm 、 Hgベース)
流量 15cc 7分ガス圧       1.0To
rr RF電力       200W 基体温度      200℃ 成膜時間      2分 さらにこの上に、次の条件で表面層130ヲ厚さ0.1
μmK形成し丸。
SiH4 (100cm) Flow rate 100cc 7 minutes CH4 (100%) #, Jl 80c
c 7 minutes BaH6 (2000ppm, Hg base)
Flow rate 15cc 7 minutes Gas pressure 1.0To
rr RF power 200W Substrate temperature 200℃ Film formation time 2 minutes Furthermore, on top of this, a surface layer 130 with a thickness of 0.1 is applied under the following conditions.
μmK forms a circle.

csHa Doots)      a量 20cc 
7分ガス圧       0.1 TorrRJ電力 
      200 W 基体温度      100℃ 成膜時間      5分 基体温度は赤外線温度計と熱電対により測定した。
csHa Doots) a amount 20cc
7 minutes Gas pressure 0.1 Torr RJ power
200 W Substrate temperature 100° C. Film forming time 5 minutes The substrate temperature was measured with an infrared thermometer and a thermocouple.

以上のようにして形成した感光体を試料1とした。試料
1の光導電層122のエネルギーギャップは1.8sV
である。また、バッファ層123の組成はa  Sio
、yCo、5(H)で、そのエネルギーギャップは2.
1 eVである。さらに、表面層130のエネルギーギ
ャップは2.7θVであり、膜の密度は1.7g/cJ
 、屈折率は2.1. Knoop硬度は2000kg
f /−である。さらに。
The photoreceptor formed as described above was designated as Sample 1. The energy gap of the photoconductive layer 122 of sample 1 is 1.8 sV
It is. Further, the composition of the buffer layer 123 is a Sio
, yCo, 5(H), and its energy gap is 2.
1 eV. Furthermore, the energy gap of the surface layer 130 is 2.7θV, and the density of the film is 1.7g/cJ.
, the refractive index is 2.1. Knoop hardness is 2000kg
f/-. moreover.

熱放出から測定した水素濃度は35原子チであった。The hydrogen concentration determined from heat release was 35 atoms.

この試料1の感光体をカールソン方式の普通紙複写機に
装着し、5万枚のコピーを実施したが、解像度の良い極
めて鮮明な画像がえられた。また、5万枚コピー実施後
のコピーテストにおいて温度35℃、相対湿度85%の
雰囲気におけるコピーにおいても画像は鮮明であった。
The photoreceptor of sample 1 was installed in a Carlson type plain paper copying machine and 50,000 copies were made, and extremely clear images with good resolution were obtained. Furthermore, in a copy test after copying 50,000 copies, the images were clear even when copied in an atmosphere at a temperature of 35° C. and a relative humidity of 85%.

試料1の感光体の耐刷性、耐湿性は非常に良好であった
The printing durability and moisture resistance of the photoreceptor of Sample 1 were very good.

比較のために実施例1に準じて、ただ表面層だけがない
感光体を作製し、その感光体について同様に5万枚コピ
ー実施後コピーテストを行ったが温度35℃、相対湿度
60チの雰囲気におけるコピーですでに画像分解能が低
下し画像ぼけが生じた。
For comparison, a photoreceptor without only a surface layer was prepared according to Example 1, and a copy test was conducted on the photoreceptor after copying 50,000 copies. When copying in an atmosphere, image resolution has already decreased and image blur has occurred.

−−C(H)表面層を形成することにより耐湿性が大幅
に向上することが判る。
It can be seen that the moisture resistance is significantly improved by forming the --C(H) surface layer.

表面層130の形成のためには必ずしも03H,を用い
る必要はなく、各種の炭化水素、例えばCH4。
For forming the surface layer 130, it is not necessarily necessary to use 03H, but various hydrocarbons, such as CH4.

CmH6、04HIG + 02H4、Czlh 1C
6Hsなどのガス、およびこれらのガスと水素や酸素と
の混合ガスの使用が可能である。
CmH6, 04HIG + 02H4, Czlh 1C
Gases such as 6Hs and mixtures of these gases with hydrogen and oxygen can be used.

実施例2 実施例1に準じ死力法で光導電層122までを形成し、
その上に次の条件でバツフア層123を厚さ0.2μm
K形成した。
Example 2 Forming up to the photoconductive layer 122 by the dead force method according to Example 1,
On top of that, a buffer layer 123 with a thickness of 0.2 μm is formed under the following conditions.
K was formed.

stH,(100%)     流量120cc 7分
NH4(100%)      流量30cc /分B
IIH6(2000ppm 、 Hgベース) 流量 
10cc 7分ガス圧        1.0 Tor
rRFt力        200 W 基体温度       200℃ 成膜時間       5分 さらにこの上に、次の条件で表面層130ヲ厚さ0.1
0μmに形成した。
stH, (100%) Flow rate 120cc 7 minutes NH4 (100%) Flow rate 30cc/min B
IIH6 (2000ppm, Hg base) flow rate
10cc 7 minutes Gas pressure 1.0 Tor
rRFt power: 200 W Substrate temperature: 200°C Film-forming time: 5 minutes On top of this, a surface layer 130 with a thickness of 0.1 is applied under the following conditions.
It was formed to have a thickness of 0 μm.

CsHf1 (100%)     流量 20cc 
7分ガス圧        0.1TorrRF電力 
       200 W 基体温度       100℃ 成膜時間       5分 以上のように形成した感光体を試料lとする。
CsHf1 (100%) Flow rate 20cc
7 minutes gas pressure 0.1TorrRF power
Sample 1 is a photoreceptor formed at 200 W, substrate temperature: 100° C., and film formation time: 5 minutes or more.

試料1における光導電層122のエネルギーギャップK
gは1.8θVである。またバッファ層123の組成は
a −5iNO,4(H)であり、そのKgは2.2a
Vである。
Energy gap K of photoconductive layer 122 in sample 1
g is 1.8θV. The composition of the buffer layer 123 is a-5iNO,4(H), and its kg is 2.2a
It is V.

さらに表面層のKgは2.’i’ eVであり、膜密度
は1.3〜1−7g/cr! 、屈折率は1.9〜2.
1であり、Knoop硬度は2000kgf /−であ
る。さらに熱放出から測定した水素濃度は団原子チであ
った。試料1をカールソン方式の普通紙複写機に装着し
、5万枚のコピーを実施した後でも、温度35℃、相対
湿度85%の雰囲気におけるコピーにおいて画像は鮮明
であった。
Furthermore, the Kg of the surface layer is 2. 'i' eV, and the film density is 1.3 to 1-7 g/cr! , the refractive index is 1.9-2.
1, and the Knoop hardness is 2000 kgf/-. Furthermore, the hydrogen concentration measured from heat release was group atoms. Even after 50,000 copies were made by installing Sample 1 in a Carlson-type plain paper copying machine, the images remained clear when copied in an atmosphere at a temperature of 35° C. and a relative humidity of 85%.

バツフア層の材料がa −81NX (H) (0<x
<1 )の性が飛躍的に向上することが判る。
The buffer layer material is a −81NX (H) (0<x
It can be seen that the performance of <1) is dramatically improved.

表面層130の形成のためには必ずしもcsasを用い
る必要はなく、実施例1と同様に各種の炭化水素および
これらのガスと水素、酸素、窒素の混合ガスも使用する
ことができる。
In order to form the surface layer 130, it is not necessary to use csas, and as in the first embodiment, various hydrocarbons and mixed gases of these gases with hydrogen, oxygen, and nitrogen can also be used.

実施例3 実施例1に準じた方法で、光導電層122までを形成し
、その上に、以下の条件でバッファ層123を厚さ0.
05μmに形成した。
Example 3 A method similar to Example 1 was used to form up to the photoconductive layer 122, and thereon, a buffer layer 123 was formed to a thickness of 0.5 mm under the following conditions.
It was formed to have a thickness of 0.05 μm.

5iH4(1oo %)      流i  7Bcc
/分02 (Heベース、 10 %)   流量 5
0cc /分BAH@ (Ha ヘ−ス、 2000p
pm)  流1itlocc 7分ガス圧      
 0.7 TorrRF電力       200 W 基体温度      200 C 成膜時間      3分 このバッファ層はa −B1Ox (H)でありXは約
0.1であった。
5iH4 (1oo%) flow i 7Bcc
/min02 (He based, 10%) Flow rate 5
0cc/min BAH@(Ha, 2000p
pm) flow 1 itlocc 7 minutes gas pressure
0.7 TorrRF power 200 W Substrate temperature 200 C Film forming time 3 minutes This buffer layer was a-B1Ox (H) and X was about 0.1.

この上に、さらに以下の条件でa −C! (H)表面
層130を膜厚0.3μmK形成した。
On top of this, a - C! under the following conditions! (H) A surface layer 130 was formed with a thickness of 0.3 μmK.

C2H6(純度99.6 % )   流i  30c
c/分ガス圧       0.005 TOrrRF
’[力       500 W 基体温度      130 C 成膜時間      20分 この表面層のエネルギーギャップKgは3.OaVと大
きかったが、本実施例のa −B10x(ロ)のバッフ
ァ層は充分その機能を果しておシ、実施例1に準じて行
った画像複写テストにおいて、実施例1の試料1と同様
の鮮明な画像がえられた。
C2H6 (purity 99.6%) Stream i 30c
c/min gas pressure 0.005 TOrrRF
'[Force: 500 W Substrate temperature: 130 C Film-forming time: 20 minutes The energy gap Kg of this surface layer is 3. Although the OaV was large, the a-B10x (b) buffer layer of this example sufficiently performed its function. A clear image was obtained.

実施例4 実施例1に準じた方法で、光導電層122までを形成し
、その上に、以下の条件でバッファ層123を厚さ0.
15μmに形成した。
Example 4 A method similar to Example 1 was used to form up to the photoconductive layer 122, and thereon, a buffer layer 123 was formed to a thickness of 0.5 mm under the following conditions.
It was formed to have a thickness of 15 μm.

sta、(loo %)     流量50cc 7分
0H4(loo %)       流量 5occ/
分0i(Heベース、 10%)   流量 10cc
 7分BaH6()!gペース、 2000ppm)流
量  5cc/分ガス圧       0.7 Tor
rRF電力       150W 基体温度      200℃ ゛   成膜時間      4分 このバッファ層はa −810zOy (H)であi)
 x = 0.3 。
sta, (loo%) Flow rate 50cc 7 minutes 0H4 (loo%) Flow rate 5occ/
Min0i (He based, 10%) Flow rate 10cc
7 minutes BaH6 ()! g pace, 2000ppm) Flow rate 5cc/min Gas pressure 0.7 Tor
rRF power 150W Substrate temperature 200℃ ゛ Deposition time 4 minutes This buffer layer is a -810zOy (H) i)
x = 0.3.

y = 0.05であった。この上に、さらに実施例3
と同様の条件でa −C(H)表面層130を形成した
y = 0.05. In addition to this, Example 3
An a-C(H) surface layer 130 was formed under the same conditions as above.

この上うKして作製した感光体について、実施例1に準
じた画像複写テストを行ったが、中はり鮮明な画像かえ
られた。
An image copying test according to Example 1 was conducted on the photoreceptor prepared by the above process, and a clear image was obtained.

実施例5 a−C(H)表面層の炭素と水素の結合状態は感光体の
耐湿性、耐刷性に大きく影響する。この結合状態は赤外
線の吸収スペクトル、反射スペクトルにより判別できる
が、ここでは赤外線吸収スペクトルの例を牙3図に示す
。スペクトルにおいて、2900 cm  近傍で主に
観測されるピークは2saocIn12920譚、 2
960個 の3つであるが、2920備 と2960 
cm  のヒータが強度が強く、結合状態の判定に適し
ている。2920α における吸収係数a1と2960
 os  における吸収係数α2との比αa/α!と耐
湿性、耐刷性との関連を調べた。
Example 5 The bonding state of carbon and hydrogen in the a-C(H) surface layer greatly influences the moisture resistance and printing durability of the photoreceptor. This bonding state can be determined by the absorption spectrum and reflection spectrum of infrared rays, and here, an example of the infrared absorption spectrum is shown in Fig. 3. In the spectrum, the peaks mainly observed near 2900 cm are 2saocIn12920tan, 2
There are three of them, 2920 and 2960.
cm2 heater has high strength and is suitable for determining the bonding state. Absorption coefficient a1 at 2920α and 2960
The ratio αa/α to the absorption coefficient α2 at os! We investigated the relationship between this, moisture resistance, and printing durability.

実施例1の製法に準じてバッファ層123までを形成し
、その上へのa−C(H)表面層130の形成にあたっ
て、ガスの種類、ガス圧、基体温度を変えて6種類の感
光体を作製し、α2/α1の値と耐湿性、耐刷性との関
係を調べた。
Up to the buffer layer 123 was formed according to the manufacturing method of Example 1, and in forming the a-C(H) surface layer 130 thereon, six types of photoreceptors were fabricated by changing the type of gas, gas pressure, and substrate temperature. was prepared, and the relationship between the α2/α1 value, moisture resistance, and printing durability was investigated.

これら感光体のα2/α1の値は第1表に示すとおシO
,ツ2から1.5と変化していたが実施例1に準じて行
った5万枚のコピーにおいてはすべての感光体について
良好な画像がえられ、耐刷性は良好であった。耐湿性は
同じ〈実施例1と同様に、5万枚のコピー実施後、温度
35℃、相対湿度85チの雰囲気でコピーテストを行っ
たがその結果−を第1表に示す。
The α2/α1 values of these photoreceptors are shown in Table 1.
, 2 to 1.5, but in 50,000 copies made according to Example 1, good images were obtained on all photoreceptors, and the printing durability was good. Moisture resistance is the same (Similar to Example 1, after copying 50,000 sheets, a copy test was conducted in an atmosphere at a temperature of 35° C. and a relative humidity of 85° C. The results are shown in Table 1.

第1表 0印は良好な鮮明な画像がえられたことを示し、Δ印は
若干の画像不良が生じたことを示し、x印は極端な画像
不良が発生し九ことを示す。
The mark 0 in Table 1 indicates that a good clear image was obtained, the mark Δ indicates that a slight image defect occurred, and the mark x indicates that an extreme image defect occurred.

(IQ /a1の値が0.8以上であると良好な耐湿性
(If the value of IQ/a1 is 0.8 or more, good moisture resistance is achieved.

耐刷性の感光体がえられることが判る。It can be seen that a photoreceptor with printing durability can be obtained.

実施例6 感光体の感光層上に表面層を設ける構成の場合、密着性
が問題となる。また、感光体特性の面では露光しても表
面電位が消失しにくくて、残留電位が大きくなるという
欠陥が生じることがある。
Example 6 In the case of a structure in which a surface layer is provided on the photosensitive layer of a photoreceptor, adhesion becomes a problem. Furthermore, in terms of photoreceptor characteristics, the surface potential is difficult to disappear even when exposed to light, and a defect may occur in which the residual potential becomes large.

そこで1.−0 (H)表面層の水素濃度を変えてバッ
ファ層との密着性を調べた。さらに残留電位との関係も
調査した。
So 1. -0 (H) Adhesion to the buffer layer was examined by changing the hydrogen concentration of the surface layer. Furthermore, the relationship with residual potential was also investigated.

実施例1の製法に準じてバッファ)−12Sまでを形成
し、その上へのa −0(6)表面層130の形成にあ
たって、ガスの種類、ガス流量、ガス圧、RF電力、基
体温度などを変えてa −0(H)膜中の水素濃度の異
なる感光体を8株類作製した。
Buffer) up to -12S was formed according to the manufacturing method of Example 1, and in forming the a-0(6) surface layer 130 thereon, the type of gas, gas flow rate, gas pressure, RF power, substrate temperature, etc. Eight types of photoreceptors with different hydrogen concentrations in the a-0(H) film were prepared by changing the a-0(H) film.

これらの試料について、a−C(H)表面層とバッファ
層の密着性と表面層中の水素濃度との関係および残留電
位を調べた結果を第2表に示す。ここで○印は密着性に
優れていたことを示し、X印は劣ることを示す。
Table 2 shows the results of examining the relationship between the adhesion between the a-C(H) surface layer and the buffer layer and the hydrogen concentration in the surface layer and the residual potential for these samples. Here, the mark ○ indicates that the adhesion was excellent, and the mark X indicates that the adhesion was poor.

牙2表 水素濃度40原子−前後での膜の密着性の変化は極めて
急峻である。水素濃度が高いことは、密着性を増す結合
手が減少することと考えられるので好ましくない。
The change in film adhesion is extremely steep when the hydrogen concentration on the second surface of the film is around 40 atoms. A high hydrogen concentration is undesirable because it is considered to reduce the number of bonds that increase adhesion.

また、水素濃度が低いとダイヤモンド的な膜に近づくこ
とからエネルギーギャップKgが増加し残留電位が上昇
する。一方、水素濃度が高いときにはa −C(H)膜
はポリマー状になシ導電性が悪化し残留電位が増大し好
ましくない。
Furthermore, if the hydrogen concentration is low, the film approaches a diamond-like film, which increases the energy gap Kg and increases the residual potential. On the other hand, when the hydrogen concentration is high, the a-C(H) film becomes polymer-like, the conductivity deteriorates, and the residual potential increases, which is not preferable.

膜の密着性、感光体特性の残留電位の値からみて1.−
 C! @表面層中の水素濃度は10〜40原子−が好
ましく、さらに好適には15〜3611子チである。
From the viewpoint of film adhesion and residual potential value of photoreceptor characteristics, 1. −
C! The hydrogen concentration in the surface layer is preferably 10 to 40 atoms, more preferably 15 to 3611 atoms.

実施例フ 実施例1に準じた方法でバッファ層123までを形成し
、その上にa −0(匂表面層130を形成するにあえ
って、成膜時間を変えて膜厚の異なる表面層とした感光
体を6種類製作した。これらの試料について、感光体特
性、耐湿性を調べた結果を牙3表に示す。
EXAMPLE 5 Up to the buffer layer 123 was formed in the same manner as in Example 1, and then the a-0 (silver surface layer 130) was formed. Six types of photoreceptors were manufactured. Table 3 shows the results of examining the photoreceptor characteristics and moisture resistance of these samples.

第3表 残留電位は大きい程S/N比が低下するので小さい方が
好ましい。感度は半減衰露光量で示してあり、光i (
1ux−aθC)が小さい程感度は高くなり好ましい。
As for the residual potential in Table 3, the smaller the residual potential is, the lower the S/N ratio becomes. Sensitivity is shown in half-attenuated exposure, where light i (
The smaller the value (1ux-aθC), the higher the sensitivity, which is preferable.

耐湿性は温度35℃、相対湿度85fiのf囲気中での
画像複写によシ判定した結果であり、0印は良好な画像
がえられたことを示し、X印は画像不良が生じたことを
示す。
Humidity resistance is the result of image copying in an atmosphere with a temperature of 35°C and a relative humidity of 85fi. A 0 mark indicates that a good image was obtained, and an X mark indicates that a defective image occurred. shows.

以上の結果から1.− C! (H)表面層の膜厚は0
.005μm以上1μm以下が適している。
From the above results, 1. -C! (H) The thickness of the surface layer is 0
.. 0.005 μm or more and 1 μm or less is suitable.

実施例8 感光層の光面層として、a −5it−xOx (H)
 (0<x<ユンが知られている。そこでa −C(H
)表面層に81を添加した場合の感光体の耐湿性につい
て調べた。
Example 8 As the optical surface layer of the photosensitive layer, a-5it-xOx (H)
(0<x<Yun is known. Therefore, a −C(H
) The moisture resistance of the photoreceptor was investigated when 81 was added to the surface layer.

実施例1の試料1’iSi無添加の試料lとした。次に
バッファ層123までは実施例1の方法に準じて形成し
、Slを含むa −0(H)表面層を例えば次の様な条
件で形成する。
Sample 1' of Example 1 was designated as sample 1 without the addition of Si. Next, up to the buffer layer 123 are formed according to the method of Example 1, and an a-0(H) surface layer containing Sl is formed, for example, under the following conditions.

02H6(100%)     流it  20CQ/
分5iH4(100%)      流It2cc/分
ガニ圧       0.2 Torr1m力    
   300 W 基体温度      100℃ 成膜時間      10分 この条件で、Slの添加tを例えばSiH4の流量を変
えることによって制御し、a −C(H)表面層への8
1の添加量の異なる感光体試料2〜4を作製した。
02H6 (100%) flow it 20CQ/
Min.5iH4 (100%) Flow It2cc/min Crab pressure 0.2 Torr1m force
300 W Substrate temperature: 100°C Film-forming time: 10 minutes Under these conditions, the addition of Sl to the a-C(H) surface layer is controlled by changing the flow rate of SiH4.
Photoreceptor samples 2 to 4 containing different amounts of 1 were prepared.

これら4種の試料について組成比517cと耐湿性の関
係ケ調べた結果を第4表に示す。耐湿性の評価は実施例
7に準じ、温度35℃、相対湿度85%の雰囲気におけ
る画像複写で行った。Δ印は若干の第4表 感光体の耐湿性上最表面膚に81を含有することは好ま
しくなく、純粋なCが望ましいが若干の不純物の存在は
さしつかえない。考えられる不純物としてはB 、 A
t 、 Si 、 P 、 As + C1* F +
 Fe 、 Ni !Ti 、 Mn 、 Mgなどで
ある。
Table 4 shows the results of investigating the relationship between composition ratio 517c and moisture resistance for these four types of samples. Moisture resistance was evaluated in accordance with Example 7 by copying images in an atmosphere at a temperature of 35° C. and a relative humidity of 85%. The Δ symbol indicates that it is not preferable to contain 81 on the outermost surface in view of the moisture resistance of the photoreceptor in Table 4, and pure C is desirable, but the presence of some impurities is not a problem. Possible impurities include B and A
t, Si, P, As + C1*F +
Fe, Ni! These include Ti, Mn, Mg, etc.

実施例9 実施例1に準じた方法で、ただバッファ層123成膜時
のみ成膜時間を変え、a −5i1−xcz(H)バッ
ファ層の膜厚の異なる感光体を7種類作製した。
Example 9 Seven types of photoreceptors with different thicknesses of a-5i1-xcz(H) buffer layers were fabricated using a method similar to Example 1, except that the film-forming time was changed only when forming the buffer layer 123.

これらの試料について感光体特性を調べ、また画像テス
トを行った。画像テストはカールノン方式の普通紙複写
機で行ない、O印は良好な鮮明な画像が見られたことを
示し、Δ印は若干の画像不良が生じたことを示し、x印
は極端な画像不良が発生したことを示す。
Photoreceptor characteristics of these samples were investigated and image tests were conducted. The image test was conducted using a Carlnon plain paper copying machine. An O mark indicates a good clear image, a Δ mark indicates a slight image defect, and an x mark indicates an extreme image defect. Indicates that a has occurred.

調査結果を第5表に示す。The survey results are shown in Table 5.

牙5表 バツフア層が厚すぎると、残留電位が犬きくなシ、感度
も悪くなるので好ましくない。またバッファ層が薄すぎ
ると表面層130と光導電層122との間の異質性緩和
の役割をはたす効果がなくなり、画像テストで不良が生
じる。適切な膜厚は0.03〜1.0μmである。
If the buffer layer on the front surface of tooth 5 is too thick, the residual potential will become too strong and the sensitivity will deteriorate, which is not preferable. Furthermore, if the buffer layer is too thin, it will not be effective in alleviating heterogeneity between the surface layer 130 and the photoconductive layer 122, resulting in defects in image tests. A suitable film thickness is 0.03 to 1.0 μm.

実施例10 実施例9では、バッファ層123の膜厚方向の炭素濃度
ははy均一であったが、必ずしもその必要はない。むし
ろ、感光体特性を向上する上では膜厚方向の炭素濃度に
勾配を持たせることが有効である。例えば、バッファ層
123の膜厚を1.0μmとして、牙4図のように光導
tm側からa −C(H)表面I−側に向けて炭素濃度
を増加させることもできる。ただし、牙4図では炭素濃
厩の分イ(iだけを表示して必9、他、の元素は省略し
である。
Example 10 In Example 9, the carbon concentration in the thickness direction of the buffer layer 123 was uniform, but this is not necessarily necessary. Rather, it is effective to provide a gradient in the carbon concentration in the film thickness direction in improving the photoreceptor characteristics. For example, by setting the thickness of the buffer layer 123 to 1.0 μm, the carbon concentration can be increased from the light guide tm side toward the a-C(H) surface I- side as shown in FIG. However, in Figure 4, only the carbon-rich element (i) is shown, and the other elements are omitted.

このような感光体においては、その残留電位は50v、
感贋は0.81ux−sθCであシ、かつ画像テストに
おいても不良は見られない。実施例9のバッファ層の膜
厚を1.0とじ九場合と比較すれば、その有効性は明白
である。
In such a photoreceptor, its residual potential is 50V,
The defect was 0.81ux-sθC, and no defects were observed in the image test. When compared with Example 9, in which the thickness of the buffer layer was 1.0, its effectiveness is clear.

実施例11 第4図に示すようなバッファ層123の炭素濃度を選ぶ
ことが最善で逐い場合もある。
Embodiment 11 In some cases, it may be best to select the carbon concentration of the buffer layer 123 as shown in FIG.

第5図は02H4と5iJI4の混合系から形成したa
 −5i1−xcx (H)膜のエネルギーギャップK
gと組成の関係全示し丸ものであるニオ5図の横軸には
a −Elil−xOx (H)の炭素量をXの値で示
[7である。
Figure 5 shows a made from a mixed system of 02H4 and 5iJI4.
-5i1-xcx (H) Energy gap K of film
Relationship between g and composition The horizontal axis of the Nio 5 diagram, which is a circle, shows the carbon content of a -Elil-xOx (H) as the value of X [7].

このように炭素濃度を増すことが単純にEgの増加には
結びついていない場合に、第4図の如き炭素濃度分布は
必ずしも最善とはいえない。むしろその場合は、第5図
のEgが極大を示す組成よシも低い炭素濃度でa −0
(9)表面層との電気的整合をとる方が好ましい。a 
−Sil xOx(9)の炭素量を示すIの値とKgの
極大の関係は、製造条件、すなわちガスの檻類、ガス圧
、 RF電力、流量などに依存してくるが、X (0,
9、好適にはx (0,8であれば、a −0(6)表
面層との整合性が良い。
If increasing the carbon concentration does not simply lead to an increase in Eg, the carbon concentration distribution as shown in FIG. 4 cannot necessarily be said to be optimal. Rather, in that case, a −0
(9) It is preferable to achieve electrical matching with the surface layer. a
The relationship between the maximum value of I, which indicates the amount of carbon in -Sil
9. Preferably, if x (0.8), there is good consistency with the a -0(6) surface layer.

実施例12 実施例2に準じた方法で、ただバッファ層ユ23成膜時
のみ成膜時間を変え、& −Bi、Nx(2)バッファ
層の膜厚の異なる感光体を甲種類作製した。これらの試
料について、実施例9と同様に感光体特性を調べ、画像
テストを行った。その結果を第6表に示す。
Example 12 Photoreceptors of Type A were prepared in the same manner as in Example 2, except that the film formation time was changed only when forming the buffer layer 23, and the thicknesses of the &-Bi, Nx (2) buffer layers were different. Regarding these samples, the photoreceptor characteristics were investigated in the same manner as in Example 9, and an image test was performed. The results are shown in Table 6.

第6表 実施例9のa −Bil xox(H)バック7層の場
合と同じく、a −51yx (H)バッファ層の場合
も、膜厚について好ましい範囲があり、適切な膜厚は0
.05〜1.0μmである。
As in the case of the seven a-Bil xox (H) back layers in Table 6, Example 9, there is a preferred range of film thickness for the a-51yx (H) buffer layer, and the appropriate film thickness is 0.
.. 05 to 1.0 μm.

実施例13 a −81i xcx(H)バッファ層の場合と同じく
、a −81H!(H)バック7層の場合に4膜厚方向
の窒素濃度は均一である必要はなく、むしろ感光体特性
の面では膜厚方向の窒素濃度に勾配をもたせる方が好ま
しい。
Example 13 a -81i xcx (H) As in the case of the buffer layer, a -81H! (H) In the case of seven back layers, the nitrogen concentration in the four film thickness directions does not need to be uniform; rather, from the viewpoint of photoreceptor characteristics, it is preferable that the nitrogen concentration in the film thickness direction has a gradient.

例えば、バッファ層123の膜厚t−、0μmとし、第
6図のように光導電層側からa −c (H)表面層に
向けて窒素濃度を単調に増加させた感光体では、その残
留電位は50v、感度0.71ux・secであり、か
つ画像テストにおいても異常は見られない。実施例12
でバッファ層膜厚を1.0μmとした場合と比較すれば
その有効性は明白である。牙6図の縦軸は81Ngの窒
素濃度を100チとし九ときのa −5sxx (功中
の窒素濃度比率であシ、また窒素濃度の分布だけを示し
て他の元素は省略しである。
For example, in a photoreceptor in which the buffer layer 123 has a thickness t- of 0 μm and the nitrogen concentration increases monotonically from the photoconductive layer side toward the a-c (H) surface layer as shown in FIG. The potential is 50 V, the sensitivity is 0.71 ux·sec, and no abnormality is seen in the image test. Example 12
Its effectiveness is obvious when compared with the case where the buffer layer thickness is 1.0 μm. The vertical axis of Fig. 6 is the nitrogen concentration ratio of 81Ng as 100ch, and the nitrogen concentration ratio in the case of 9 is a-5sxx. Also, only the distribution of nitrogen concentration is shown and other elements are omitted.

実施例14 a −BINx (lからなるバッファ層の場合には、
バッファ層最表面の窒素量をあtυ多くすることは好ま
しくない。炭素と窒素の結合力が弱いために、表面層が
バツフア層よシ剥離しやすくなるからである。
Example 14 In the case of a buffer layer consisting of a -BINx (l,
It is not preferable to increase the amount of nitrogen at the outermost surface of the buffer layer by at. This is because the bonding force between carbon and nitrogen is weak, so the surface layer is more likely to peel off than the buffer layer.

オフ表はバッファ層最表面の組成と表面層の密着性を調
べた結果である。表中、組成の欄の数値はa −SiM
x (H)のXの値である。
The off table is the result of examining the composition of the outermost surface of the buffer layer and the adhesion of the surface layer. In the table, the values in the composition column are a-SiM
x is the value of X in (H).

また、表中、O印は良好な密着性を、X印は密着性の良
くないことを示す。
Further, in the table, the O mark indicates good adhesion, and the X mark indicates poor adhesion.

オフ表 バッファ層の組成はIs CAにょシ測定した。off table The composition of the buffer layer was measured using IsCA.

窒素m度はXの値で1以下、すなわち5iNiの場合の
50%以下が好ましい。
The m degree of nitrogen is preferably 1 or less in terms of the value of X, that is, 50% or less in the case of 5iNi.

以上の実施例においては、水*t−含有するa−8i系
のバッファ層について述べたが、さらに酸素を含有して
も良い。すなわちa −811−xox (H+ O)
 +a−8iNX(H,O) も本発明のバッファ層の
材料として有効である。
In the above embodiments, an a-8i buffer layer containing water*t- was described, but it may further contain oxygen. i.e. a −811-xox (H+ O)
+a-8iNX(H,O) is also effective as a material for the buffer layer of the present invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、a−8i系先光導電の上にa −8i
系のバッファ層を設け、該バッファ層の上に水素を10
〜40原子チ、より好適には15〜36原子%含有する
a −0(ロ)からなる表面層を形成することによシ、
感光体特性の良好な、環境汚染を受けにくい、耐湿性、
耐刷性の格段に優れた電子写真感光体をえることができ
る。すなわち、a −8i系先光導電とa−c(a)f
i面層との間に、適切な組成のa−Eli系バックァ層
を設けることによシ、光導電層と表面層との間の異質性
が緩和され、両層間の機械的、電気的整合が良くなる。
According to the present invention, on top of the a-8i-based photoconductive
A system buffer layer is provided, and 10% of hydrogen is added on the buffer layer.
By forming a surface layer consisting of a-0 (b) containing ~40 atoms, more preferably 15 to 36 at%,
Good photoreceptor characteristics, less susceptible to environmental pollution, moisture resistance,
An electrophotographic photoreceptor with extremely excellent printing durability can be obtained. That is, the a-8i-based photoconductivity and the a-c(a)f
By providing an a-Eli backer layer with an appropriate composition between the i-plane layer, heterogeneity between the photoconductive layer and the surface layer is alleviated, and mechanical and electrical matching between the two layers is achieved. gets better.

その結果、a −8i系光導電性材料め優れた特性−高
光感度、可視光全域にわ九る高い分光感度、低疲労、低
い残留電位など−を良好に保持しながら、表面に設けら
れた高純度(特に81を含まない)で、炭素と合目的的
に結合した適当量の水素を含有したa −C(H)膜の
保護膜としての機能−オシン、窒素酸化物。
As a result, while maintaining the excellent properties of the a-8i photoconductive material, such as high light sensitivity, high spectral sensitivity over the entire visible light range, low fatigue, and low residual potential, the Function as a protective film of a-C(H) film of high purity (particularly free of 81) and containing appropriate amounts of hydrogen purposely combined with carbon - osine, nitrogen oxides.

発生期の酸素など対する耐性、特に優れた耐湿性。Resistance to oxygen etc. during the nascent period, especially excellent moisture resistance.

耐刷性−により長期保存および繰り返し使用に際しても
劣化現象を起こさず、高温雰囲気中でも1偉不良などの
特性の低下がほとんどみられない、感光体としての特性
が常時安定していてほとんど使用環境に制約を受けない
、耐久性、耐刷性、耐湿性に優れ良電子写真感光体をえ
ることができる。
Due to printing durability, there is no deterioration phenomenon even during long-term storage and repeated use, and there is almost no deterioration in characteristics such as 1-1 defects even in high-temperature atmospheres.The characteristics as a photoreceptor are always stable and can be used in almost any usage environment. It is possible to obtain a good electrophotographic photoreceptor that is not subject to any restrictions and has excellent durability, printing durability, and moisture resistance.

これにより、いわゆる感光体の寿命が大幅にのびること
になり、それを装着し九複写機のメンテナンスが容易に
なプ、見られる効果は入5い。
As a result, the life of the so-called photoreceptor is greatly extended, and the maintenance of the copying machine equipped with it is made easier, which has many benefits.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の感光体の概念的断面図、第2図は本発
明の感光体を製造可能な装置の一例の概念的系統図、第
3図iよ本発明の表面層〒形成するa −C(H)膜の
一例の赤外線吸収スペクトル図、牙4図は1μmの膜厚
のa −811−xcx<)υバッファ層内の膜厚方向
の炭fIc濃度勾配の一例を示す線図、第5図はa −
811−xcjxH膜のエネルギーギャップと組成の関
係の一例を示す線図、第6図は1μmの膜厚のa −8
1Nx (H)バッファ層内の膜厚方向の窒素濃度勾配
の一例を示す線図である。 1へ0・・・専11ic性基坏、121・・・ブIJツ
キング層、122・・・光導電層、123・・・バッノ
ァ層、130・・・表面層。 鴇2図 波数(cm−リ 0             0.5        
     1に(素 1    (L41A) 第5図 第6 図
FIG. 1 is a conceptual cross-sectional view of the photoreceptor of the present invention, FIG. 2 is a conceptual system diagram of an example of an apparatus capable of manufacturing the photoreceptor of the present invention, and FIG. 3 i shows the formation of the surface layer of the present invention. a - Infrared absorption spectrum diagram of an example of C(H) film, Figure 4 is a diagram showing an example of the carbon fIc concentration gradient in the film thickness direction in the a -811-xcx<)υ buffer layer with a film thickness of 1 μm. , Figure 5 is a −
A diagram showing an example of the relationship between energy gap and composition of 811-xcjxH film, Figure 6 is a-8 with a film thickness of 1 μm.
FIG. 2 is a diagram showing an example of a nitrogen concentration gradient in the film thickness direction within a 1Nx (H) buffer layer. 1 to 0... exclusive 11ic base layer, 121... printing layer, 122... photoconductive layer, 123... bagno layer, 130... surface layer. Toki 2 wave number (cm-ri0 0.5
1 (element 1 (L41A) Fig. 5 Fig. 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)導電性基体上に、アモルフアスシリコン系の光導電
層と、アモルフアスシリコン系のバツフア層と、水素を
10〜40原子%含有する水素化アモルフアス炭素(a
−C(H))からなる表面層との少なくとも3つの層を
順次積層してなることを特徴とする電子写真感光体。 2)特許請求の範囲第1項記載の感光体において、表面
層が水素を15〜36原子%含有する水素化アモルフア
ス炭素(a−C(H)からなることを特徴とする電子写
真感光体。 3)特許請求の範囲第1項記載の感光体において、バツ
フア層が水素化アモルフアス炭化シリコン(a−Si_
1_−_xCx(H)、0<x<1)または水素化酸素
化アモルフアス炭化シリコン(a−Si_1_−_xC
x(H、O)、0<x<1)からなることを特徴とする
電子写真感光体。 4)特許請求の範囲第3項記載の感光体において、バツ
フア層の炭素濃度が光導電層側から表面層側に向つて高
くなることを特徴とする電子写真感光体。 5)特許請求の範囲第3項記載の感光体において、バツ
フア層の膜厚が0.03μm以上1μm以下であること
を特徴とする電子写真感光体。 6)特許請求の範囲第1項記載の感光体において、バツ
フア層が水素化アモルフアス窒化シリコン(a−SiN
x(H)、0<x<1)または水素化酸素化アモルフア
ス窒化シリコン(a−SiNx(H、O)、0<x<1
)からなることを特徴とする電子写真感光体。 7)特許請求の範囲第6項記載の感光体において、バツ
フア層の窒素濃度が光導電層側から表面層側に向つて高
くなることを特徴とする電子写真感光体。 8)特許請求の範囲第6項記載の感光体において、バツ
フア層の膜厚が0.05μm以上1.0μm以下である
ことを特徴とする電子写真感光体。 9)特許請求の範囲第1項記載の感光体において、バツ
フア層が水素化アモルフアス酸化シリコン(a−SiO
x(H)、0<x<1)からなることを特徴とする電子
写真感光体。 10)特許請求の範囲第1項記載の感光体において、バ
ツフア層が水素化アモルフアス酸化炭化シリコン(a−
SiCxOy(H)、0<x<1、0<y<1)からな
ることを特徴とする電子写真感光体。
[Scope of Claims] 1) On a conductive substrate, an amorphous silicon-based photoconductive layer, an amorphous silicon-based buffer layer, and a hydrogenated amorphous carbon (a
An electrophotographic photoreceptor characterized in that it is formed by sequentially laminating at least three layers including a surface layer consisting of -C(H)). 2) An electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the surface layer is made of hydrogenated amorphous carbon (a-C(H)) containing 15 to 36 atom % of hydrogen. 3) In the photoreceptor according to claim 1, the buffer layer is made of hydrogenated amorphous silicon carbide (a-Si_
1_-_xCx (H), 0<x<1) or hydrogenated oxygenated amorphous silicon carbide (a-Si_1_-_xC
An electrophotographic photoreceptor comprising: x (H, O), 0<x<1. 4) An electrophotographic photoreceptor according to claim 3, wherein the carbon concentration of the buffer layer increases from the photoconductive layer side toward the surface layer side. 5) The electrophotographic photoreceptor according to claim 3, wherein the buffer layer has a thickness of 0.03 μm or more and 1 μm or less. 6) In the photoreceptor according to claim 1, the buffer layer is made of hydrogenated amorphous silicon nitride (a-SiN
x(H), 0<x<1) or hydrogenated oxygenated amorphous silicon nitride (a-SiNx(H,O), 0<x<1
) An electrophotographic photoreceptor comprising: 7) An electrophotographic photoreceptor according to claim 6, wherein the nitrogen concentration of the buffer layer increases from the photoconductive layer side toward the surface layer side. 8) The electrophotographic photoreceptor according to claim 6, wherein the buffer layer has a thickness of 0.05 μm or more and 1.0 μm or less. 9) In the photoreceptor according to claim 1, the buffer layer is made of hydrogenated amorphous silicon oxide (a-SiO
An electrophotographic photoreceptor characterized in that x(H), 0<x<1. 10) In the photoreceptor according to claim 1, the buffer layer is made of hydrogenated amorphous oxidized silicon carbide (a-
An electrophotographic photoreceptor comprising SiCxOy (H), 0<x<1, 0<y<1.
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