JPS61205847A - 光度計 - Google Patents
光度計Info
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- JPS61205847A JPS61205847A JP61045525A JP4552586A JPS61205847A JP S61205847 A JPS61205847 A JP S61205847A JP 61045525 A JP61045525 A JP 61045525A JP 4552586 A JP4552586 A JP 4552586A JP S61205847 A JPS61205847 A JP S61205847A
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- JP
- Japan
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Links
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- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 claims description 8
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
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- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
- G01J2001/1652—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared one detector being transparent before the other one
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/34—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using capacitors, e.g. pyroelectric capacitors
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野：
本発明は、エミッターから来る変調された赤外線が測定
ガスを貫流させるキュベツトを通過し、かつ出口受光器
によって受容されるような光度計に関する。
ガスを貫流させるキュベツトを通過し、かつ出口受光器
によって受容されるような光度計に関する。
従来技術：
ガス含量を量的に測定するために光度計の種々の変型が
存在する。該光度計は、赤外線の範囲内で分散的にも非
分散的にも仕事する。申分のない運転は、例えば１９８
６年５月付けのハＡ／）マン・ラント・ブラウン社（Ｈ
ａｒｔｍａｎｎ ＆Ｂｒａｕｎ ＡＧ ）の仕様書に記
載されている赤外−ガス分析装置クラス（Ｕｒａｓ ）
２ Ｔの場合と同様に連続的に測定値とともに参照値
を同時に生じ、かつ双方の値が相互関係にあることを保
証する。エミッターから来る赤外線は、絞り板によって
変調され、２分割されたキュベツトを通過し、次に２分
割された受光器の部屋に衝突する。このような装置の場
合には、変調は、光源を間歇的に操作することによって
実施してもよい。
存在する。該光度計は、赤外線の範囲内で分散的にも非
分散的にも仕事する。申分のない運転は、例えば１９８
６年５月付けのハＡ／）マン・ラント・ブラウン社（Ｈ
ａｒｔｍａｎｎ ＆Ｂｒａｕｎ ＡＧ ）の仕様書に記
載されている赤外−ガス分析装置クラス（Ｕｒａｓ ）
２ Ｔの場合と同様に連続的に測定値とともに参照値
を同時に生じ、かつ双方の値が相互関係にあることを保
証する。エミッターから来る赤外線は、絞り板によって
変調され、２分割されたキュベツトを通過し、次に２分
割された受光器の部屋に衝突する。このような装置の場
合には、変調は、光源を間歇的に操作することによって
実施してもよい。
発明を達成するための手段：
本発明によれば、首記した種類の光度計が得られ、この
場合には、測定光線ないしは参照光線を形成するために
１対の中ユペットないしは２分割されたキュベツトは配
置されていない。
場合には、測定光線ないしは参照光線を形成するために
１対の中ユペットないしは２分割されたキュベツトは配
置されていない。
本発明の特徴は、光路２内でキュベツトＴの前方にポリ
ビニリデンフルオリドからなる入口受光器１３が配置さ
れており、この入口受光器が赤外線に対して部分的に透
過性であることにある。
ビニリデンフルオリドからなる入口受光器１３が配置さ
れており、この入口受光器が赤外線に対して部分的に透
過性であることにある。
本発明による光度計の他の形成によれば、出口受光器１
２もポリビニリデンフルオリＰからなる。
２もポリビニリデンフルオリＰからなる。
入口受光器および出口受光器を構成することは、該受光
器をそれらがキュベツトの全部の窓を覆う程度の大きさ
に寸法法めすることができるという利点を有する。
器をそれらがキュベツトの全部の窓を覆う程度の大きさ
に寸法法めすることができるという利点を有する。
変調された赤外線が直接に入口受光器に衝突するような
光度計は、申分なく仕事する。しかし、衝突する光線が
入口受光器に、該入口受光器が加熱されるような多量の
エネルギーを供給する場合には、入口受光器の前方に、
赤外線スペクトルを一定のパンＰ＠に制限する干渉フィ
ルターが配置される。ｉた、該干渉フィルターは、選択
を課することを保証することもできる。
光度計は、申分なく仕事する。しかし、衝突する光線が
入口受光器に、該入口受光器が加熱されるような多量の
エネルギーを供給する場合には、入口受光器の前方に、
赤外線スペクトルを一定のパンＰ＠に制限する干渉フィ
ルターが配置される。ｉた、該干渉フィルターは、選択
を課することを保証することもできる。
入口受光器は参照信号を供給し、出口受光器は測定信号
を供給する。参照信号と測定信号との間の比率・は、一
般に入口受光器または出口受光器の吸収容量を拡大させ
ることによって変えることかできる。簡単な手段として
は、黒色染料を受光器上に施こすことが提供される。
を供給する。参照信号と測定信号との間の比率・は、一
般に入口受光器または出口受光器の吸収容量を拡大させ
ることによって変えることかできる。簡単な手段として
は、黒色染料を受光器上に施こすことが提供される。
実施例
本発明によ多構成された光度計の実施例を図面につき詳
説する。
説する。
第１図による光度計の場合、エミッター１から来る赤外
線２は、絞シ板３によって変調され；該絞シ板は、２つ
の７パーテユア４及び５を装備している。絞シ板による
変調の代シに、変調は、エミッター１を間歇的に操作す
ることによって行なうこともできる。変調された光線拡
、干渉フィルター６を貫通し、かつ赤外線に対して透過
性の窓８および９が設けられているキュペラ）７を通過
する。中ユベットＴは、単一であシ；該キュベツトは、
分析すべきガス含量を含有するガス混合物によって買流
される。そのために、ガス接続管１０および１１が設け
られている。キュベツト７を去る光線は、出口受光器１
２によって受容される。本発明によれば、光路２内にキ
ュベツト７の前方でポリビニリデンフルオリド（ＰＶＤ
Ｆ ）からなる第２の受光器、入口受光器１３が配置さ
れており、該入口受光器は、赤外範囲内の光線に対して
部分的に透過性である。
線２は、絞シ板３によって変調され；該絞シ板は、２つ
の７パーテユア４及び５を装備している。絞シ板による
変調の代シに、変調は、エミッター１を間歇的に操作す
ることによって行なうこともできる。変調された光線拡
、干渉フィルター６を貫通し、かつ赤外線に対して透過
性の窓８および９が設けられているキュペラ）７を通過
する。中ユベットＴは、単一であシ；該キュベツトは、
分析すべきガス含量を含有するガス混合物によって買流
される。そのために、ガス接続管１０および１１が設け
られている。キュベツト７を去る光線は、出口受光器１
２によって受容される。本発明によれば、光路２内にキ
ュベツト７の前方でポリビニリデンフルオリド（ＰＶＤ
Ｆ ）からなる第２の受光器、入口受光器１３が配置さ
れており、該入口受光器は、赤外範囲内の光線に対して
部分的に透過性である。
入口受光器１３上には、干渉フィルター゛６を貫通する
全部の光線が衝突し、この光線の一部は、接触部１４で
参照信号としてさらに導かれ、他の部分は、キュベツト
Ｔ中にさらに導かれ、かつ出口受光器１２上に衝突し、
該出口受光器は、測定信号を発生させる。
全部の光線が衝突し、この光線の一部は、接触部１４で
参照信号としてさらに導かれ、他の部分は、キュベツト
Ｔ中にさらに導かれ、かつ出口受光器１２上に衝突し、
該出口受光器は、測定信号を発生させる。
出口受光器１２は、同様にＰＶＤＦから完成されている
のが好ましく、該出口受光器の接触部１５で測定信号は
、パイロ電気効果の結果として取シ入れることができる
。
のが好ましく、該出口受光器の接触部１５で測定信号は
、パイロ電気効果の結果として取シ入れることができる
。
干渉フィルター６は、赤外線２の一部のみを入口受光器
１３の方向に通過させる。赤外線全体では、場合により
入口受光器の不利な加熱をまねくであろう。また、干渉
フィルター６は、選択を諌することを保証することもで
きる。
１３の方向に通過させる。赤外線全体では、場合により
入口受光器の不利な加熱をまねくであろう。また、干渉
フィルター６は、選択を諌することを保証することもで
きる。
ＰＶＤＦ−受光器１２および１３の吸収力は、受光器１
２および１３を黒色化することによって調節することが
できる。従って、黒色染料を施こすことによって、−・
般に参照信号と測定信号との比率も確定することができ
る。
２および１３を黒色化することによって調節することが
できる。従って、黒色染料を施こすことによって、−・
般に参照信号と測定信号との比率も確定することができ
る。
第２図からは、パイロ電気効果のためにＰＶＤＦ−受光
器で発生する信号を認めることができる。
器で発生する信号を認めることができる。
第２図の線図は、時間の軸上に同じ尺度で示しである。
第２図の上部には、入口受光器１３で発生する参照信号
ＩＲ６ｆ＝ ｆ（ｔ）が示され；下部には、出口受光器
１２で発生する測定信号ＩＭ＝ ｆ（ｔ、）が示されて
いる。測定信号ＩＭは、キュベツトＴ中での吸収に相当
して信号工Ｒｅｆよシも小さい。これら双方の信号は、
数学的に相互に結合される。例えば、最終的な信号ＡＩ
Ｋは、次の関係式： ％式％ 第３図には、第１図による光度計との類似性を有する、
本発明により構成された光度計が図示されている。これ
ら双方の図面中での同じ参照符号は、同じ構成部材を示
す。第１図による光度計とは異なシ、第３図による光度
計は、付加的に選択キュベツト１６を装備しておシ、該
選択キュベツトは、分析すべきガス成分で充填されてい
る。ＣＯ□の濃度を測定すべき場合には、選択キュベツ
ト１６は、所定の濃度でＣｏ２または類似の吸収バンド
のガスで充填される。該選択キュベツトは、両方向きの
矢印１７の方向に往復運動し、したがってそれは、一定
の律動で赤外線２の光路内に接続することができる。こ
の律動は、受光器１２および１３の接触部１４および１
５での信号の取入れによって規定されている。
ＩＲ６ｆ＝ ｆ（ｔ）が示され；下部には、出口受光器
１２で発生する測定信号ＩＭ＝ ｆ（ｔ、）が示されて
いる。測定信号ＩＭは、キュベツトＴ中での吸収に相当
して信号工Ｒｅｆよシも小さい。これら双方の信号は、
数学的に相互に結合される。例えば、最終的な信号ＡＩ
Ｋは、次の関係式： ％式％ 第３図には、第１図による光度計との類似性を有する、
本発明により構成された光度計が図示されている。これ
ら双方の図面中での同じ参照符号は、同じ構成部材を示
す。第１図による光度計とは異なシ、第３図による光度
計は、付加的に選択キュベツト１６を装備しておシ、該
選択キュベツトは、分析すべきガス成分で充填されてい
る。ＣＯ□の濃度を測定すべき場合には、選択キュベツ
ト１６は、所定の濃度でＣｏ２または類似の吸収バンド
のガスで充填される。該選択キュベツトは、両方向きの
矢印１７の方向に往復運動し、したがってそれは、一定
の律動で赤外線２の光路内に接続することができる。こ
の律動は、受光器１２および１３の接触部１４および１
５での信号の取入れによって規定されている。
選択キュベツト１６を有する光度計を動作させることに
よって出口受光器１２で信号列は発生し、例えば該信号
列は、第４図の下の線図に認めることができる。入口受
光器１２で信号列は発生し、例えば該信号列は、第４図
の上の線図に認めることができる。最終的な信号Ａ３は
、例えば次の数学的な結合によって得られる：Ａ３＝ １工Ｒａｆ ２工Ｒｅｆ 上記式による信号の結合の場合、例えばキュベツトの温
度もしくは汚染または不所望のエミッター放出の変化の
ように光度計の安定度ないしは精度を損なう全ての影響
は、殆んど除去される。
よって出口受光器１２で信号列は発生し、例えば該信号
列は、第４図の下の線図に認めることができる。入口受
光器１２で信号列は発生し、例えば該信号列は、第４図
の上の線図に認めることができる。最終的な信号Ａ３は
、例えば次の数学的な結合によって得られる：Ａ３＝ １工Ｒａｆ ２工Ｒｅｆ 上記式による信号の結合の場合、例えばキュベツトの温
度もしくは汚染または不所望のエミッター放出の変化の
ように光度計の安定度ないしは精度を損なう全ての影響
は、殆んど除去される。
第１図は、簡単な光度計を示す略図、第２図は、第１図
による光度計を用いて得られた信号を記載した線図、第
３図は、拡張した光度計を示す略図、かつ第４図は、第
３図による光度計を用いて得られた信号を記載した線図
である。 ２・・・光路、７・・・キュベツト、１２由出口受光器
、１３・・・入口受光器、１６・・・選択キュベツト、
１７・・・両方向きの矢印。
による光度計を用いて得られた信号を記載した線図、第
３図は、拡張した光度計を示す略図、かつ第４図は、第
３図による光度計を用いて得られた信号を記載した線図
である。 ２・・・光路、７・・・キュベツト、１２由出口受光器
、１３・・・入口受光器、１６・・・選択キュベツト、
１７・・・両方向きの矢印。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、エミッターから来る変調された赤外線は測定ガスを
貫流させるキュベットを通過し、かつ出口受光器によつ
て受容されるような光度計において、光路（２）内でキ
ュベット（７）の前方にポリビニリデンフルオリドから
なる第２受光器（入口受光器１３）が配置されており、
この第２受光器が赤外線に対して部分的に透過性である
ことを特徴とする光度計。 ２、出口受光器（１２）がポリビニリデンフルオリドか
らなる、特許請求の範囲第１項記載の光度計。 ６、受光器（１２、１３）がキュベット（７）の横断面
と同じ広がりを有する、特許請求の範囲第２項記載の光
度計。 ４、受光器（１２、１３）が光線エネルギーの受容を増
大させるために黒色化されている、特許請求の範囲第２
項または第３項に記載の光度計。 ５、入口受光器（１３）の前方に選択キュベット（１６
）が配置されており、この選択キュベットが出口受光器
（１２）での信号の取入れによつて規定される一定の律
動（両方向きの矢印１７）で光路内に運動する、特許請
求の範囲第１項から第４項までのいずれか１項に記載の
光度計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19853507572 DE3507572A1 (de) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | Fotometer |
| DE3507572.4 | 1985-03-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61205847A true JPS61205847A (ja) | 1986-09-12 |
Family
ID=6264135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61045525A Pending JPS61205847A (ja) | 1985-03-04 | 1986-03-04 | 光度計 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4700073A (ja) |
| EP (1) | EP0196428B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61205847A (ja) |
| CN (1) | CN86101338A (ja) |
| DE (2) | DE3507572A1 (ja) |
| IN (1) | IN165935B (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3561487B1 (de) * | 2018-04-25 | 2023-01-18 | ABB Schweiz AG | Messvorrichtung zur analyse einer zusammensetzung eines brenngases mit einer vor einem detektor angeordneten filterkammer |
| KR20230097023A (ko) | 2020-10-26 | 2023-06-30 | 트리나미엑스 게엠베하 | 적어도 하나의 물질의 적어도 하나의 특성을 결정하는 광학 검출기 및 방법 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1057794A (en) * | 1964-04-07 | 1967-02-08 | Ustav Pro Vyzkum A Vyuziti Tuh | Improvements in and relating to non-dispersive infra-red analysers |
| DD112174A1 (ja) * | 1974-05-16 | 1975-03-20 | ||
| DE2524430A1 (de) * | 1975-06-03 | 1976-12-16 | Heinz Dr Rer Nat Hummel | Betriebsphotometer mit zwei empfaengerschichten |
| US4027972A (en) * | 1976-03-31 | 1977-06-07 | Andros Incorporated | Gas analyzer method and apparatus |
| DE2646580A1 (de) * | 1976-10-15 | 1978-04-20 | Hartmann & Braun Ag | Photometer fuer die stoffanalyse |
| US4425503A (en) * | 1980-08-05 | 1984-01-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method for detecting the presence of a gas in an atmosphere |
| US4491730A (en) * | 1980-08-14 | 1985-01-01 | Panametrics, Inc. | Method and apparatus for feedback stabilized photometric detection in fluids |
| US4467435A (en) * | 1981-10-05 | 1984-08-21 | Beckman Instruments, Inc. | Infrared gas analyzer having detector elements of differing types |
| DE3426472A1 (de) * | 1984-07-18 | 1986-01-30 | Hartmann & Braun Ag, 6000 Frankfurt | Fotometer |
| DE3576566D1 (de) * | 1984-07-18 | 1990-04-19 | Hartmann & Braun Ag | Fotometer. |
| US4605313A (en) * | 1985-04-10 | 1986-08-12 | Environmental Research & Technology, Inc. | Infrared detector for NDIR gas analysis |
-
1985
- 1985-03-04 DE DE19853507572 patent/DE3507572A1/de active Granted
-
1986
- 1986-02-13 DE DE8686101843T patent/DE3662471D1/de not_active Expired
- 1986-02-13 EP EP86101843A patent/EP0196428B1/de not_active Expired
- 1986-03-03 CN CN198686101338A patent/CN86101338A/zh active Pending
- 1986-03-04 US US06/836,102 patent/US4700073A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-03-04 JP JP61045525A patent/JPS61205847A/ja active Pending
- 1986-03-18 IN IN251/DEL/86A patent/IN165935B/en unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0196428B1 (de) | 1989-03-15 |
| DE3507572A1 (de) | 1986-09-04 |
| CN86101338A (zh) | 1986-12-03 |
| DE3662471D1 (en) | 1989-04-20 |
| IN165935B (ja) | 1990-02-10 |
| US4700073A (en) | 1987-10-13 |
| DE3507572C2 (ja) | 1987-05-14 |
| EP0196428A1 (de) | 1986-10-08 |
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